JP3450140B2 - チップインダクタ - Google Patents

チップインダクタ

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、各種電気回路等に
使用されているチップインダクタに関する。
【0002】
【従来の技術】携帯電話やパソコン等には、角型のチッ
プインダクタが多数使用されている。この構造は、図5
(a)に示すように、側面がコの字型をしたコア11の
柱状の胴部11aに導線12を巻回して巻線を施し、脚
部11bの端部に電極13を形成して、上記導線12の
両端を電極13に接続したものである。
【0003】上記コア11は2〜3mm角の大きさで、
アルミナ、フェライト、樹脂等から成り、導線12は直
径0.02〜0.1mm程度の銅線から成る。また、電
極13は、Ag,Ag−Pd等の厚膜ペーストや、Mo
−Mn、W等の金属をメタライズした後、Ni,Au,
Sn−Pb等をメッキして形成される。
【0004】そして、図5(b)に示すように、このチ
ップインダクタ10を基板20上に実装する際は、脚部
11bの電極13を半田21で接合することにより、電
気的、機械的に接続することができる。
【0005】また、図5(c)に示すように、側面がH
の字型をしたコア11を用いたチップインダクタ10も
使用されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、特に
携帯電話等に使用するチップインダクタは、信号のS/
N比を高くするために、各周波数域における損失を小さ
くし、Q値を高くすることが求められている。そこで、
コア11の材質としてQ値の高いフェライトが広く使用
されるようになってきた。
【0007】しかし、フェライト製のコア11は抵抗値
が1〜100MΩ程度と若干導電性があるため、磁束が
電極13側に流れて損失が発生し、Q値が低下してしま
うという問題があった。即ち、一般に電気、磁気は抵抗
値の低い方へ、また透磁率の低い方へ流れる傾向があ
り、上記フェライト製のコア11は導電性があるため
に、抵抗値の低い電極13側に磁束が流れて損失が発生
するのである。
【0008】そこで、図6に示すように、コア11の胴
部11aをフェライトで形成し、脚部11bを絶縁性の
高いアルミナセラミックスで形成して電極13側への磁
束の流れを防止し、両者を接着剤14で接合した構造の
チップインダクタ10が提案されている。
【0009】しかし、この図6の構造の場合は、製造工
程で胴部11aと脚部11bを接着する工程が必要とな
るだけでなく、テスト時や使用時に高温になると、接着
剤14の軟化や、胴部11aと脚部11bとの熱膨張差
のために、両者の接合が剥がれやすいという問題があっ
た。
【0010】そこで、本発明は、簡単な構造でQ値の高
いチップインダクタを提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、柱状
の胴部と、この胴部の両端よりほぼ直角方向にのびる脚
部とを有するコアに対し、上記胴部に導線を巻回すると
ともに、該導線の両端を導出する電極を上記脚部の端部
に形成してなるチップインダクタにおいて、上記コアを
フェライトで形成するとともに、脚部の根本部の断面積
をS、端面の断面積をSとしたとき、面積比S
が0.1〜0.6となるように、根本部を太くして
端部のみを細くした先細状としたことを特徴とする。
【0012】即ち、脚部を先細状とすることによって、
端部の電極も小さくなり、電極側に流れる磁束の量を減
らしてQ値を向上させることができるのである。
【0013】また請求項2の発明は、上記と同様のチッ
プインダクタにおいて、上記胴部を透磁率の高いフェラ
イトで形成するとともに、脚部を胴部をなすフェライト
より透磁率の低いフェライトで形成し、両者を同時焼成
して一体化したことを特徴とする。
【0014】即ち、コアの脚部として透磁率の低いフェ
ライトを用いることによって、磁束の電極側への流れを
遮断することができ、しかも胴部と脚部を共にフェライ
トで形成することによって、同時焼成により接着剤等を
用いずに接合できる。
【0015】さらに請求項3の発明では、上記と同様の
チップインダクタにおいて、脚部の端部側面における電
極の幅を0.2mm以下としたことを特徴とする。
【0016】即ち、電極の幅を狭くすることによって、
電極側に流れる磁束の量を少なくし、Q値を向上させる
ことができる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、請求項1の発明の実施形態
を図によって説明する。
【0018】図1(a)に側面図を示すように、このチ
ップインダクタ10は、柱状の胴部11aとこの両端よ
りほぼ直角方向に伸びる脚部11bを有し、全体がコの
字型をしたフェライト製のコア11に対し、胴部11a
に導線12を巻回して巻線を施し、脚部11bの端部に
電極13を形成して、上記導線12の両端を電極13に
接合したものである。
【0019】そして、上記コア11の脚部11bは先細
形状として、端部の電極13を小さくしてある。そのた
め、この電極13側に流れる磁束の量を少なくして損失
を減らし、Q値を向上させることができるのである。
【0020】また、一般に、チップインダクタ10のイ
ンダクタンスはコア11の体積で決定され、直流抵抗を
低減しQ値を向上するためには、コア11の体積を大き
くしてインダクタンスを高く維持することが好ましい。
この点から、本発明のコア11では、脚部11bの根本
部は太くして、端部のみ細くした先細状であるため、高
いインダクタンスを維持したまま、磁束の電極13への
流れを防止できるのである。
【0021】しかも、脚部11bを先細形状とすること
により、図1(b)のように基板20に接合する際に、
脚部11bの側面と基板20の成す角度が90°未満と
なり、半田21の密着性を向上させて接合強度を高める
こともできる。
【0022】なお、図1(c)は本発明のチップインダ
クタの参考例であり、図1(c)に示すように、脚部1
1bの先端を複数に分割して、段状に細くしてもよく、
このような形状とすれば、基板20上に安定して実装す
ることができる。また、その他に曲線状やその他の形状
で先細状となったものである。
【0023】いずれにしても、本発明における先細形状
とは、図1(a)に示すように脚部11bの根本部にお
ける断面積S0 に比べて脚部11bの端面の面積S1
小さくなっていることを言う。
【0024】そして、これらの面積の比S/S
0.1〜0.6となるようにする。これは、上記比が
0.1未満では電極13が小さくなり過ぎて接合強度が
低下してしまうためであり、一方0.6を超えると、本
発明の効果が乏しくなるためである。
【0025】また、図1(d)、(e)は本発明のチッ
プインダクタの参考例であり、図1(d)に示すように
脚部11bの一部を薄くして肉薄部11cを形成した
り、図1(e)に示すように脚部11bに貫通孔を形成
して肉薄部11cを形成し、この肉薄部11cによって
電極13側に流れる磁束の量を減らすこともできる。
【0026】なお、上記コア11は、2〜3mm角の大
きさで、初透磁率が1〜2000のフェライトで形成す
ることによりQ値を向上させることができる。具体的に
は、Fe−Mn−Zn又はFe−Ni−Zn等を主成分
とし、SiO2 、CuO、Bi2 3 、CoO等の一種
以上を含有するフェライトを用い、この原料をプレス成
形等で所定形状に成形した後、焼成することによってコ
ア11を得ることができる。
【0027】また、導線12は直径0.02〜0.1m
m程度の銅線からなり、コア11の胴部11aに巻回し
て両端を電極13に接合する。さらに、電極13は、A
g,Ag−Pd等の厚膜ペーストや、Mo−Mn,W等
の金属をメタライズした後、Ni,Au,Sn−Pd等
をメッキして形成される。
【0028】次に請求項2の発明の実施形態を説明す
る。
【0029】図2に示すチップインダクタ10は、基本
的に上述したものと同様であるが、コア11を成す胴部
11aを透磁率の高いフェライトで形成し、二つの脚部
11bを透磁率の低いフェライトで形成し、両者を同時
焼成して一体化したものである。
【0030】なお、図2(a)では二つの脚部11b
と、これらを繋ぐ胴部の一部を透磁率の低いフェライト
で形成し、また図2(b)では脚部11bのみを透磁率
の低いフェライトで形成したが、いずれの構造であって
も良い。
【0031】このチップインダクタ10は、脚部11b
が透磁率の低いフェライトからなるため、磁束の脚部1
1bへの流れを遮断し、損失を減らしてQ値を向上させ
ることができる。しかも、胴部11aと脚部11bがい
ずれもフェライトから成るため、接着剤等を用いること
なく同時焼成で一体化することができ、熱膨張差もない
ことから、テスト時や使用時等に高温になっても、両者
が剥離する恐れはない。
【0032】ここで、胴部11a及び脚部11bを成す
フェライトの材質としては、前述したMn−Zn系、N
i−Zn系等のフェライトを用いるが、副成分の種類や
各組成比によって種々の透磁率を有するフェライトを得
ることができる。そして、本発明では胴部11aよりも
脚部11bの方が透磁率が低くなるような組合せのフェ
ライトを用いれば良く、好ましくは、胴部11a側は透
磁率55〜150のフェライトを用い、脚部11b側は
透磁率1〜25のフェライトを用いる。
【0033】次に、図2(a)に示すコア11の製造方
法を説明する。
【0034】図3に示すように、ダイス31と下パンチ
32によって形成される凹部に、まず脚部11bを成す
透磁率の低いフェライト原料34を充填し、この上に胴
部11aを成す透磁率の高いフェライト原料35を続け
て充填する。その後、上パンチ33で加圧してプレス成
形することによって、二種類のフェライトが一体化され
た成形体を得る。次に、得られた成形体を同時焼成する
ことによって、図2に示すような二種類のフェライトを
一体化したコア11を得ることができる。この時、胴部
11aと脚部11bは同じフェライトであるため、焼成
条件がほぼ一致し、同時焼成によって完全に一体させる
ことができるのである。
【0035】このような製造方法によれば、特に工程が
煩雑となることはなく、容易に製造することができる。
【0036】次に請求項3の発明の実施形態を説明す
る。
【0037】図4に示すチップインダクタ10は、上述
したものと基本的に同様であるが、電極13は脚部11
bの端面と側面にわたって形成され、この側面の電極1
3の幅tを0.2mm以下としてある。
【0038】即ち、脚部11bの側面における電極13
の幅tを0.2mm以下と小さくすることによって、電
極13自体の面積を小さくし、電極13側へ流れる磁束
の量を少なくしてQ値を向上させることができるのであ
る。
【0039】なお、ここで、電極13の幅tを0.2m
m以下にするとは、脚部11bの側面全体にわたって、
電極13の幅tが0.2mm以下であることを言い、好
ましくは幅tを0.1mm以下とする。
【0040】また、電極13の幅tを決定する要因は、
電極13の塗布方法にある。従来は、予め平板上に電極
ペーストを塗布しておき、この上にコア11の脚部11
bを押し当てて電極ペーストを塗布していた(ディッピ
ング法)ため、脚部11bの側面にも電極ペーストが
0.2mm以上の範囲に塗布されることを避けられなか
った。そこで、本発明では、コア11の脚部11bの端
面にスクリーン印刷で電極ペーストを塗布することによ
って、側面の幅tを0.2mm以下とできるようにし
た。
【0041】さらに、電極13の材質としては前述した
通りであるが、Ag,Ag−Pd等を用いて上述したス
クリーン印刷により厚み10〜20μmに形成する。そ
の後、耐熱性を向上させるためにNiメッキを0.5〜
3μm施し、さらに酸化防止のためにAuメッキを0.
01〜0.1μm施すことが好ましい。
【0042】以上、請求項1〜3の発明を別々に説明し
たが、これらの発明の二種以上を組み合わせてチップイ
ンダクタを構成すればより好適である。また、各実施形
態では、側面がコの字型のコア11を用いたものを示し
たが、図5(c)に示すように側面がHの字型のコア1
1を用いたものでも同様に本発明を適用できる。
【0043】また、本発明のチップインダクタは携帯電
話やパソコン等における電気回路に使用することができ
るが、特に携帯電話に用いると、Q値が高いため信号の
S/N比を向上し、性能を向上させることができる。
【0044】
【実施例】実施例1 請求項1の発明の実施例として、図1に示すチップイン
ダクタ10を作製した。Ni−Zn系で初透磁率が50
のフェライトを用いてコア11を形成し、その寸法は
2.5×2.0mmとし、脚部11bの根本部の断面積
0 に対する端面の面積S1 の比S1 /S0 が0.4と
なるように先細状とした。
【0045】電極13としてAgペーストを約20μm
の厚みで塗布し、Ni及びSn−Pbメッキを1〜5μ
mの厚みで施した。また、直径0.02mmの導線12
を26ターン巻いて本発明のチップインダクタ10を作
製した。
【0046】一方、上記と同じ材質、寸法、構成で、コ
ア11の脚部11bが同一太さの先細状でないものを比
較例として作製した。
【0047】これらのチップインダクタ10について、
LCRメーターを用いて8MHzでのQ値を測定した。
それぞれ5個測定した平均値を表1に示すように、比較
例が22であったのに対し、本発明実施例は45と高く
できることがわかった。
【0048】
【表1】
【0049】実施例2 請求項3の発明の実施例として、図4に示すチップイン
ダクタ10を作製した。コア11の材質、寸法は実施例
1と同様にし、脚部11bは先細状ではなく、同じ太さ
とした。
【0050】脚部11bの端面にスクリーン印刷でAg
ペーストを厚み20μmで塗布し、この上にNiを1μ
m、Auを0.01μmでメッキして、側面の幅tが
0.2mm以下の電極13を形成した。
【0051】このようにして得られた本発明のチップイ
ンダクタ10を基板20上に実装する試験を行ったとこ
ろ、電極13への半田21の濡れ性は良好であった。ま
た、耐熱性の高いNiメッキを施してあるため、270
℃、30秒間の耐熱テストを行っても電極13の剥離は
生じなかった。
【0052】一方、比較例として電極13をディッピン
グ法で塗布したものを用意し、上記本発明実施例ととも
に、側面の電極13の幅tを測定し、また8MHzでの
Q値の値を測定した。
【0053】結果は表2に示す通り、比較例では側面の
電極13の幅tが0.3mmと大きいためQ値が16と
小さいのに対し、本発明実施例では側面の電極13の幅
tを0.2mm以下と小さくでき、Q値を向上できるこ
とがわかる。
【0054】
【表2】
【0055】
【発明の効果】以上のように請求項1の発明によれば、
柱状の胴部と、この胴部の両端よりほぼ直角方向にのび
る脚部とを有するコアに対し、上記胴部に導線を巻回す
るとともに、該導線の両端を導出する電極を上記脚部の
端部に形成してなるチップインダクタにおいて、上記コ
アをフェライトで形成するとともに、脚部の根本部の断
面積をS、端面の断面積をSとしたとき、面積比S
/Sが0.1〜0.6となるように、根本部を太く
して端部のみを細くした先細状としたことによって、端
部の電極も小さくなり、電極側に流れる磁束の量を減ら
してQ値を向上させることができる。
【0056】また請求項2の発明によれば、上記と同様
のチップインダクタにおいて、コアをフェライトで形成
するとともに、胴部よりも脚部の透磁率を低くしたこと
によって、磁束の電極側への流れを遮断することがで
き、しかも胴部と脚部を共にフェライトで形成するた
め、同時焼成により接着剤等を用いずに接合でき、テス
ト時や使用時に高温となっても剥離の恐れを防止でき
る。
【0057】さらに請求項3の発明によれば、上記と同
様のチップインダクタにおいて、脚部の端部側面におけ
る電極の幅を0.2mm以下としたことによって、電極
側に流れる磁束の量を少なくし、Q値を向上させること
ができる。
【0058】以上のように本発明によれば、簡単な構造
で、Q値の高いチップインダクタを得ることができ、携
帯電話等の用途に好適に使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は請求項1の発明に係るチップインダク
タを示す側面図、(b)はこのチップインダクタを基板
に実装した際の接合部の側面図である。(c)〜(e)
は脚部のさまざまな参考例を示す側面図である。
【図2】(a)(b)は請求項2の発明に係るチッップ
インダクタを示す側面図である。
【図3】図2のチップインダクタに用いるコアを成形す
る工程を示す断面図である。
【図4】請求項3の発明に係るチップインダクタを示す
側面図である。
【図5】(a)〜(c)は従来のチップインダクタンス
を示しており、(a)は斜視図、(b)(c)は側面図
である。
【図6】従来のチップインダクタンスを示す側面図であ
る。
【符号の説明】
10:チップインダクタ 11:コア 11a:胴部 11b:脚部 11c:肉薄部 12:導線 13:電極 20:基板 21:半田
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−124213(JP,A) 特開 昭63−300505(JP,A) 特開 平1−223710(JP,A) 実開 平5−62022(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01F 17/04 H01F 27/29

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】柱状の胴部と、この胴部の両端よりほぼ直
    角方向にのびる脚部とを有するコアに対し、上記胴部に
    導線を巻回するとともに、該導線の両端を導出する電極
    を上記脚部の端部に形成してなるチップインダクタにお
    いて、上記コアをフェライトで形成するとともに、脚部
    の根本部の断面積をS 、端面の断面積をS としたと
    き、面積比S /S が0.1〜0.6となるように、
    根本部を太くして端部のみを細くした先細状としたこと
    を特徴とするチップインダクタ。
  2. 【請求項2】柱状の胴部と、この胴部の両端よりほぼ直
    角方向にのびる脚部とを有するコアに対し、上記胴部に
    導線を巻回するとともに、該導線の両端を導出する電極
    を上記脚部の端部に形成してなるチップインダクタにお
    いて、上記胴部を透磁率の高いフェライトで形成すると
    ともに、脚部を胴部をなすフェライトより透磁率の低い
    フェライトで形成し、両者を同時焼成して一体化したこ
    とを特徴とするチップインダクタ。
  3. 【請求項3】柱状の胴部と、この胴部の両端よりほぼ直
    角方向にのびる脚部とを有するコアに対し、上記胴部に
    導線を巻回するとともに、該導線の両端を導出する電極
    を上記脚部の端部に形成してなるチップインダクタにお
    いて、上記脚部の端部側面における電極の幅を0.2m
    m以下としたことを特徴とする請求項1または2記載
    チップインダクタ。
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