JP3372544B2 - 自動化学分析方法および装置 - Google Patents
自動化学分析方法および装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】
発明の分野
本発明は診断分野で使用されるような自動化学分析方
法および装置に関係する。特に，本発明はサンプルによ
る分析試験で効果的なスケジューリング，実施用の装置
ならびに方法を与える。
法および装置に関係する。特に，本発明はサンプルによ
る分析試験で効果的なスケジューリング，実施用の装置
ならびに方法を与える。
発明の背景
自動化学分析器は化学研究所の設備として有効な道具
であるこを実証してきた。定量化学分析は反応時間，温
度および試薬濃度などの要素に精密な管理を必要とす
る。手で実施する試験はこれらパラメータの管理に精密
さを欠き，不正確な結果を生じ，また，その結果を再現
し得ない。さらに手動試験は処理速度を限定し，多数サ
ンプルの処理を困難にし，サンプルの誤識別などの人間
による間違いを導入する。
であるこを実証してきた。定量化学分析は反応時間，温
度および試薬濃度などの要素に精密な管理を必要とす
る。手で実施する試験はこれらパラメータの管理に精密
さを欠き，不正確な結果を生じ，また，その結果を再現
し得ない。さらに手動試験は処理速度を限定し，多数サ
ンプルの処理を困難にし，サンプルの誤識別などの人間
による間違いを導入する。
完全自動化の化学分析器は自動的に一定量の特定被検
体を含む疑いのある患者サンプルを得，サンプルに試薬
を加え，時間，温度などの反応パラメータを管理する。
そのような分析器は通常，各操作ステーションへサンプ
ルおよび試薬の反応混合物を送るように設計された輸送
またはコンベヤー・システムを有している。サンプル中
の被検体と試薬間の反応は計器により自動的に測定可能
な検出可能信号となる。測定数値は次に，一般的に計器
中に記憶される校正曲線と比較され，最終試験結果：患
者サンプルの被検体濃度を調査する。
体を含む疑いのある患者サンプルを得，サンプルに試薬
を加え，時間，温度などの反応パラメータを管理する。
そのような分析器は通常，各操作ステーションへサンプ
ルおよび試薬の反応混合物を送るように設計された輸送
またはコンベヤー・システムを有している。サンプル中
の被検体と試薬間の反応は計器により自動的に測定可能
な検出可能信号となる。測定数値は次に，一般的に計器
中に記憶される校正曲線と比較され，最終試験結果：患
者サンプルの被検体濃度を調査する。
多数の自動化学分析器が現在では市場で入手できる。
これらの分析器は一旦操作員が分析器にサンプルと反応
混合物を投入後，それらが処理される方法に幾らかの違
いがある。臨床免疫検定法の第14巻（1991,夏）は“J.C
li.Immu."），その指導事項が参照として本文に記載さ
れているが，それはそのような自動化学分析器の幾つか
の記事を提供している。
これらの分析器は一旦操作員が分析器にサンプルと反応
混合物を投入後，それらが処理される方法に幾らかの違
いがある。臨床免疫検定法の第14巻（1991,夏）は“J.C
li.Immu."），その指導事項が参照として本文に記載さ
れているが，それはそのような自動化学分析器の幾つか
の記事を提供している。
既知の分析器は分析のために分析器に導入可能の新し
いサンプルまたは試験の頻度が異なる。“バッチ・アク
セス”を持つ機器では,1セットとして複数のサンプルが
分析器に導入され，新しいサンプル・セットは，前のす
べてのサンプル・セットが完了した時のみ分析器に導入
できる。“連続アクセス”を持つ機器では，新規サンプ
ルは何時でも，分析器がすでに運転モードにある時でさ
え，分析器に導入可能である。臨床試験所では，そのこ
とが特定患者サンプルについて即座実施すべき検定に必
要な事がある。そのような検定はSTAT検定法と呼ばれ
る。
いサンプルまたは試験の頻度が異なる。“バッチ・アク
セス”を持つ機器では,1セットとして複数のサンプルが
分析器に導入され，新しいサンプル・セットは，前のす
べてのサンプル・セットが完了した時のみ分析器に導入
できる。“連続アクセス”を持つ機器では，新規サンプ
ルは何時でも，分析器がすでに運転モードにある時でさ
え，分析器に導入可能である。臨床試験所では，そのこ
とが特定患者サンプルについて即座実施すべき検定に必
要な事がある。そのような検定はSTAT検定法と呼ばれ
る。
バッチ・アクセスを持つ機器の例はアボット研究所製
のIMx選定システムに，また，ボーリンジャ・マンハイ
ム製のES300免疫検定システムに含まれる。使用に当た
って，サンプル液を入れた容器がこれら機器の輸送回路
にバッチ（処理単位）で置かれ，容器は連続した順番で
各種の操作ステーションを各容器が通過して行くように
一定のサイクルで移動する。これらの機器では，すべて
のサンプル容器は新規サンプルが加えられる前に処理さ
れねばならない。しかし，そのようなシステムでは,STA
Tサンプル導入および処理は，すでに検定工程にあるサ
ンプルが，すべて処理されるまで遅延する。
のIMx選定システムに，また，ボーリンジャ・マンハイ
ム製のES300免疫検定システムに含まれる。使用に当た
って，サンプル液を入れた容器がこれら機器の輸送回路
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各種の操作ステーションを各容器が通過して行くように
一定のサイクルで移動する。これらの機器では，すべて
のサンプル容器は新規サンプルが加えられる前に処理さ
れねばならない。しかし，そのようなシステムでは,STA
Tサンプル導入および処理は，すでに検定工程にあるサ
ンプルが，すべて処理されるまで遅延する。
本文に定義するサンプルの連続アクセスを持つ機器は
サーラス製のIMMULITETM自動免疫検定システム，ベクト
ンディキンソン製のAffinityTM免疫検定システム,TOHSO
製のALA−1200/AIS−600自動免疫検定システム，テクニ
コン製イムノ１自動免疫検定システム，バイオトロール
製システム7000およびPBダイアグノスティックス製のOP
US−免疫検定システムを含む。
サーラス製のIMMULITETM自動免疫検定システム，ベクト
ンディキンソン製のAffinityTM免疫検定システム,TOHSO
製のALA−1200/AIS−600自動免疫検定システム，テクニ
コン製イムノ１自動免疫検定システム，バイオトロール
製システム7000およびPBダイアグノスティックス製のOP
US−免疫検定システムを含む。
現在入手可能の自動分析器間での異なる別の特徴は，
ある操作期間中に多重被検体に対し１つのサンプルを分
析する分析器の能力である。同時に機器により実施され
る２つの分析法を持つ,2ないし３の被検体に対してサン
プルを分析できる分析器は，“統合モード操作”を持つ
ものとして本文に記載される。現在入手可能の大方の自
動分析器は，多重被検体の検定が行われる方法はかなり
異なるけれども，この特徴を持っている。
ある操作期間中に多重被検体に対し１つのサンプルを分
析する分析器の能力である。同時に機器により実施され
る２つの分析法を持つ,2ないし３の被検体に対してサン
プルを分析できる分析器は，“統合モード操作”を持つ
ものとして本文に記載される。現在入手可能の大方の自
動分析器は，多重被検体の検定が行われる方法はかなり
異なるけれども，この特徴を持っている。
診断業界では，用語“ランダム・アクセス”は時に
は，ある時，あるサンプルに対し検定する機器の能力を
言うのに使用されることがある。一時に１機器で実施さ
れることはサンプルに必要なあらゆる試験に望ましいこ
とである。統合モード操作を持つ多くの機器は，ある被
検体が機器の操作モードの制限のために，ある機器で実
施不能であるとしても，“ランダム・アクセス”機器で
あることには違いない。
は，ある時，あるサンプルに対し検定する機器の能力を
言うのに使用されることがある。一時に１機器で実施さ
れることはサンプルに必要なあらゆる試験に望ましいこ
とである。統合モード操作を持つ多くの機器は，ある被
検体が機器の操作モードの制限のために，ある機器で実
施不能であるとしても，“ランダム・アクセス”機器で
あることには違いない。
統合操作モードを持つ機器は，さらに，各種被検体の
検定フォーマット条件の処理で，機器の融通性に基づい
て細区分される。幾つかの機器は基本プロトコルを用い
てすべての試験を処理する。サンプルと混合される試薬
の量および形式は各種被検体の試験時に異なるが，反応
温置時間または処理順序は一定である。ある単一プロト
コル分析器では，検定フォーマットに対する温置時間は
異なるが，前もって決められた温置時間の倍数の場合の
みである。
検定フォーマット条件の処理で，機器の融通性に基づい
て細区分される。幾つかの機器は基本プロトコルを用い
てすべての試験を処理する。サンプルと混合される試薬
の量および形式は各種被検体の試験時に異なるが，反応
温置時間または処理順序は一定である。ある単一プロト
コル分析器では，検定フォーマットに対する温置時間は
異なるが，前もって決められた温置時間の倍数の場合の
みである。
IMMULITETM自動免疫検定システムは，ある被検体がダ
ブルことがあっても統合操作モードを持つが，単一プロ
トコルを用いる機器の１例である。そのような単一プロ
トコル機器は幅広い被検体メニューに対して検定可能で
あるが，普通は，利用できる検定プロトコルの融通性が
ないために，ある被検体には，処理量が減じるか，感度
が悪くなる。
ブルことがあっても統合操作モードを持つが，単一プロ
トコルを用いる機器の１例である。そのような単一プロ
トコル機器は幅広い被検体メニューに対して検定可能で
あるが，普通は，利用できる検定プロトコルの融通性が
ないために，ある被検体には，処理量が減じるか，感度
が悪くなる。
統合操作モードを持つ他の自動分析器は温置時間につ
いて，また多分，洗浄段階で上記の単一プロトコル機器
よりも検定プロトコルに大きい変化がある。この説明目
的で，そのような分析器は“多重プロトコル”分析器と
呼ばれる。
いて，また多分，洗浄段階で上記の単一プロトコル機器
よりも検定プロトコルに大きい変化がある。この説明目
的で，そのような分析器は“多重プロトコル”分析器と
呼ばれる。
通常，多重プロトコル分析器では，プロトコル・ステ
ップの順序が異なる。例えば，ある検定プロトコルは検
定成分ピペッティング・ステーションにサンプルの露出
を要し，次いで温置ステップが続き，それから読み取り
ステーションでラベル付き試薬の検出が来ることがあ
る。もう１つの検定プロトコルは試薬ピペッティング・
ステーションにサンプル露出が必要で，次に温置ステッ
プ，次いで試薬ステーションへの第２回露出，第２回温
置，そして最後に，読み取りステーションでのラベル付
き試薬の検出が来ることがある。，本文では“多重配
列”機器と呼ばれるこの形式の機器では,2つの検定プロ
トコルが同時に処理できる。
ップの順序が異なる。例えば，ある検定プロトコルは検
定成分ピペッティング・ステーションにサンプルの露出
を要し，次いで温置ステップが続き，それから読み取り
ステーションでラベル付き試薬の検出が来ることがあ
る。もう１つの検定プロトコルは試薬ピペッティング・
ステーションにサンプル露出が必要で，次に温置ステッ
プ，次いで試薬ステーションへの第２回露出，第２回温
置，そして最後に，読み取りステーションでのラベル付
き試薬の検出が来ることがある。，本文では“多重配
列”機器と呼ばれるこの形式の機器では,2つの検定プロ
トコルが同時に処理できる。
AffinityTM免疫検定システムは両方の多重プロトコル
である機器の例であり，多重配列処理を有している。米
国特許4,678,752はこの機器に基づく操作法を詳細に述
べている。Affinity免疫検定システムは特定の被検体の
検定プロトコルに得られる，どんな順序，また，どんな
方向に対する試薬パックの輸送の方法も含んでいる。
である機器の例であり，多重配列処理を有している。米
国特許4,678,752はこの機器に基づく操作法を詳細に述
べている。Affinity免疫検定システムは特定の被検体の
検定プロトコルに得られる，どんな順序，また，どんな
方向に対する試薬パックの輸送の方法も含んでいる。
既知の自動分析器の中で異なるもう１つの特徴は，機
器の検定リソースのタイミングのスケジューリングに使
用される方法である。検定リソースはサンプル・ピペッ
ティング，試薬ピペッティング，恒温器輸送ステーショ
ン，洗浄ステーション，読み出しステーション等々を含
む。ある自動分析器では，なんらかの手段で検定成分，
すなわち，試薬，およびサンプルの，ある操作ステーシ
ョンから次のステーションへの輸送を管理し，そのよう
なステーションで行われる操作タイミングを制御しなけ
ればならない。
器の検定リソースのタイミングのスケジューリングに使
用される方法である。検定リソースはサンプル・ピペッ
ティング，試薬ピペッティング，恒温器輸送ステーショ
ン，洗浄ステーション，読み出しステーション等々を含
む。ある自動分析器では，なんらかの手段で検定成分，
すなわち，試薬，およびサンプルの，ある操作ステーシ
ョンから次のステーションへの輸送を管理し，そのよう
なステーションで行われる操作タイミングを制御しなけ
ればならない。
検定リソースのスケジュールを作成する一般的な方法
の１つは，前もって決定した一定サイクルの使用に基づ
くものである。本文に用いる“前もって決定した一定サ
イクル”とは，機器のすべての検定リソースが一定の長
さの前もって決定されたサイクル内で働くように，検定
リソースのタイミングをスケジュールする，なんらかの
方法を意味する。このスケジュール方法を持つシステム
は，各サイクルの終わりに前もって決めた位置に戻る各
検定リソースを持つ。
の１つは，前もって決定した一定サイクルの使用に基づ
くものである。本文に用いる“前もって決定した一定サ
イクル”とは，機器のすべての検定リソースが一定の長
さの前もって決定されたサイクル内で働くように，検定
リソースのタイミングをスケジュールする，なんらかの
方法を意味する。このスケジュール方法を持つシステム
は，各サイクルの終わりに前もって決めた位置に戻る各
検定リソースを持つ。
リソース・タイミングのスケジューリングに事前決定
一定サイクル法を持つ既知の自動分析器は，また単一配
列操作を有する。例えば上記のIMMULITETM自動免疫検定
システムとACS:180TM自動免疫検定システムの両者は，
リソース・スケジューリングの事前決定一定サイクルを
持つ。上記のように，サンプルの容器は同じ順序で上記
分析器の操作ステーションのそれぞれを通過する。Dade
/Stra−tus II免疫検定システムは別のそのような自動
免疫検定システムであり，臨床免疫検定ジャーナル誌の
第14巻に記載されている。Stratus分析器では，反応タ
ブが一般的に円形ホイールの周りにあり，ホイールの周
辺に配列さる。温置段階で，洗浄段階と読み取り段階は
ホイール周辺位置を取る。ホイールはシステムのサイク
ルごとに一定距離だけ前進し，これらの段階を通じて時
計方向に順番に割り出して行く。
一定サイクル法を持つ既知の自動分析器は，また単一配
列操作を有する。例えば上記のIMMULITETM自動免疫検定
システムとACS:180TM自動免疫検定システムの両者は，
リソース・スケジューリングの事前決定一定サイクルを
持つ。上記のように，サンプルの容器は同じ順序で上記
分析器の操作ステーションのそれぞれを通過する。Dade
/Stra−tus II免疫検定システムは別のそのような自動
免疫検定システムであり，臨床免疫検定ジャーナル誌の
第14巻に記載されている。Stratus分析器では，反応タ
ブが一般的に円形ホイールの周りにあり，ホイールの周
辺に配列さる。温置段階で，洗浄段階と読み取り段階は
ホイール周辺位置を取る。ホイールはシステムのサイク
ルごとに一定距離だけ前進し，これらの段階を通じて時
計方向に順番に割り出して行く。
通常の単一段階検定では，サンプルと必要試薬はピペ
ッティング箇所で添加され，ホイールは温置時間を通じ
て前方に割り出して行く。ホイールは一定期間の各サイ
クルの一定距離を割り出して行くので，サンプルの温置
時間はすべてのサンプルに対して事前決定される。反応
容器は次に一定時間スケジュールに準じて洗浄，読み取
り段階に進み，使用された反応容器は捨てられる。
ッティング箇所で添加され，ホイールは温置時間を通じ
て前方に割り出して行く。ホイールは一定期間の各サイ
クルの一定距離を割り出して行くので，サンプルの温置
時間はすべてのサンプルに対して事前決定される。反応
容器は次に一定時間スケジュールに準じて洗浄，読み取
り段階に進み，使用された反応容器は捨てられる。
特定検定プロトコルがより長い温置時間を必要とする
場合は，サンプルを洗浄，読み出しステーションを通過
して進ませ，捨てられないでピペッティング箇所に戻す
オプションのみが認められる。このサンプルは，それが
読み取り可能前にホイールの周りに全体トリップ・バッ
クを行わねばならない。これはシステムの融通性を相当
に制限するのみならず，それはまた，たとえ，サンプル
がそれらのリソースを，ある機能の実施に必要としなく
ても，検定リソース（すなわち，洗浄，読み出しステー
ションおよびピペッティング箇所）はサンプルに専属さ
せる必要がある。
場合は，サンプルを洗浄，読み出しステーションを通過
して進ませ，捨てられないでピペッティング箇所に戻す
オプションのみが認められる。このサンプルは，それが
読み取り可能前にホイールの周りに全体トリップ・バッ
クを行わねばならない。これはシステムの融通性を相当
に制限するのみならず，それはまた，たとえ，サンプル
がそれらのリソースを，ある機能の実施に必要としなく
ても，検定リソース（すなわち，洗浄，読み出しステー
ションおよびピペッティング箇所）はサンプルに専属さ
せる必要がある。
上記に論じるように，ある検定フォーマットは２つの
処理段階を必要とし，その各段階は試薬，温置，および
洗浄を必要とし,2次段階の後に限り，サンプルは読み出
しステップに進むのである。事前決定一定サイクル管理
法を持つ既知の分析器では，検定成分は方向の逆転が不
能で，読み出し実施前に，追加の試薬，温置，および洗
浄ステップの実施が可能な容器に輸送される。現在入手
可能の事前決定一定サイクル・スケジューリング管理を
持つ自動分析器は，検定フォーマット間の温置時間の融
通性を認めない。検定プロトコルは各被検体に対して変
わることがあるけれども，すべての温置時間は一般的に
同じである。温置時間が異ならない時は，それは常に，
より長い温置時間であり，分析器に対する“正常の”温
置時間の倍数である。例えば,ACS:180では自動免疫検定
システムでは，温置時間はある被検体には２倍となる。
この特性が分析器への検定プロトコルの利用性を制限す
る。
処理段階を必要とし，その各段階は試薬，温置，および
洗浄を必要とし,2次段階の後に限り，サンプルは読み出
しステップに進むのである。事前決定一定サイクル管理
法を持つ既知の分析器では，検定成分は方向の逆転が不
能で，読み出し実施前に，追加の試薬，温置，および洗
浄ステップの実施が可能な容器に輸送される。現在入手
可能の事前決定一定サイクル・スケジューリング管理を
持つ自動分析器は，検定フォーマット間の温置時間の融
通性を認めない。検定プロトコルは各被検体に対して変
わることがあるけれども，すべての温置時間は一般的に
同じである。温置時間が異ならない時は，それは常に，
より長い温置時間であり，分析器に対する“正常の”温
置時間の倍数である。例えば,ACS:180では自動免疫検定
システムでは，温置時間はある被検体には２倍となる。
この特性が分析器への検定プロトコルの利用性を制限す
る。
自動分析器に使用される別の形式のスケジューリング
方法は一定サイクルを用いない。この形式のスケジュー
リング法は“適応タイミング”と呼ばれる。本文に用い
られる適応タイミングは，検定リソースがスケジュール
され，タイミングが工程の分析状況によって変化する可
能性があるような方法で制御されることを意味する。例
えば，タイミングは測定される反応パラメータ，例え
ば，事前決定されたシキイ値，または事前決定された信
号率への到達に基づいて変化することがある。
方法は一定サイクルを用いない。この形式のスケジュー
リング法は“適応タイミング”と呼ばれる。本文に用い
られる適応タイミングは，検定リソースがスケジュール
され，タイミングが工程の分析状況によって変化する可
能性があるような方法で制御されることを意味する。例
えば，タイミングは測定される反応パラメータ，例え
ば，事前決定されたシキイ値，または事前決定された信
号率への到達に基づいて変化することがある。
多重プロトコル，多重配列処理フォーマットを持つ既
知の自動分析器は，すべて検定リソースの適応タイミン
グ制御を持つ。上述のように，そのような分析器は単一
配列処理，事前決定一定サイクル分析器とは異なり，そ
れらの操作は時間依存の厳密性は遙かに少ない。適応タ
イミング分析器では，各種試薬の添加，温置時間，その
他の時間依存機能は各検定に対し個々に異なる。これは
分析器の融通性を大いに増強する。しかし，分析器によ
り処理される個々の検定に対し正確に記録され，探知さ
れねばならない情報は大いに制御の複雑性を増す。与え
られた時間で，そのような分析器で処理される検定が多
ければ多いほど，試験実施のためのシステム制御の正確
さは益々，困難となる。さらに，分析器で行われるすべ
ての試験はそれ自体の特定の試薬と処理時間を必要とす
る。より広い試験能力を追加することにより，分析器制
御器により処理される必要のある情報量は益々大きい複
雑性を加える。そのような適応タイミング分析器の制御
の複雑性は，制御システムの複雑性を増し分析器が与え
られた時間内に処理できるサンプル数を減らすので，シ
ステムの処理能力に大きく影響することがある。さら
に，特定プロトコルに必要な検定リソース数の増加につ
れて，適応タイミング制御分析における制御の困難性は
増大する。
知の自動分析器は，すべて検定リソースの適応タイミン
グ制御を持つ。上述のように，そのような分析器は単一
配列処理，事前決定一定サイクル分析器とは異なり，そ
れらの操作は時間依存の厳密性は遙かに少ない。適応タ
イミング分析器では，各種試薬の添加，温置時間，その
他の時間依存機能は各検定に対し個々に異なる。これは
分析器の融通性を大いに増強する。しかし，分析器によ
り処理される個々の検定に対し正確に記録され，探知さ
れねばならない情報は大いに制御の複雑性を増す。与え
られた時間で，そのような分析器で処理される検定が多
ければ多いほど，試験実施のためのシステム制御の正確
さは益々，困難となる。さらに，分析器で行われるすべ
ての試験はそれ自体の特定の試薬と処理時間を必要とす
る。より広い試験能力を追加することにより，分析器制
御器により処理される必要のある情報量は益々大きい複
雑性を加える。そのような適応タイミング分析器の制御
の複雑性は，制御システムの複雑性を増し分析器が与え
られた時間内に処理できるサンプル数を減らすので，シ
ステムの処理能力に大きく影響することがある。さら
に，特定プロトコルに必要な検定リソース数の増加につ
れて，適応タイミング制御分析における制御の困難性は
増大する。
Affinity免疫検定システムなどの自動分析器は適応タ
イミングを持ち，多重プロトコルの処理に複雑なスケジ
ュール・プログラムを使用する。米国特許4,678,752に
述べるように，そこに請求される機器のプログラミング
は現に機器にあるサンプル処理に必要なすべての作用を
調査し，次に，効率的に装置能力の使用を意図する順序
にそれらを配列する。先ず，スケジュールはサンプルが
分析器に導入されているかどうか，どの処理が予定され
るべきかを決定する。スケジュール作成者はこれらのサ
ンプルで試薬パッケージの処理の優先順を決め，スケジ
ュール計画が作られ，スケジューリング順が調整され
る。分析器に加えられる新規サンプルのそれぞれは，そ
れ自体のスケジュールを有し，それは次にスケジュール
順位に合わされる。
イミングを持ち，多重プロトコルの処理に複雑なスケジ
ュール・プログラムを使用する。米国特許4,678,752に
述べるように，そこに請求される機器のプログラミング
は現に機器にあるサンプル処理に必要なすべての作用を
調査し，次に，効率的に装置能力の使用を意図する順序
にそれらを配列する。先ず，スケジュールはサンプルが
分析器に導入されているかどうか，どの処理が予定され
るべきかを決定する。スケジュール作成者はこれらのサ
ンプルで試薬パッケージの処理の優先順を決め，スケジ
ュール計画が作られ，スケジューリング順が調整され
る。分析器に加えられる新規サンプルのそれぞれは，そ
れ自体のスケジュールを有し，それは次にスケジュール
順位に合わされる。
多重プロトコル，多重配列処理，および，それにより
検定リソースをスケジュールする事前決定一定サイクル
方法の単純性を有する融通性具備の自動化学分析器を持
つことが望ましい。
検定リソースをスケジュールする事前決定一定サイクル
方法の単純性を有する融通性具備の自動化学分析器を持
つことが望ましい。
発明の要約
本発明はタイミング制御については事前決定一定長さ
サイクル操作される一方，多重配列の各種検定プロトコ
ルを持つ多重被検体に関するサンプルの臨床分析を可能
にする方法および装置を提供する。
サイクル操作される一方，多重配列の各種検定プロトコ
ルを持つ多重被検体に関するサンプルの臨床分析を可能
にする方法および装置を提供する。
発明の１つの方法では，分析器制御手段はスケジュー
リング手段と輸送制御手段とより成る。一定サイクル長
さは検定リソース・ステーションにある，ある検定リソ
ースの制御に対し事前決定され，その情報はスケジュー
リング手段に供給される。これらの検定リソースは一般
的に検定成分搬送手段，恒温器ベルト，洗浄手段および
信号検出手段である。検定手段のそれぞれは一定操作順
序を指定され，それは検定リソースがサンプル収納反応
容器で事前決定された操作実施に利用できる一定時間期
間であり，それは事前決定された長さの時間サイクル内
に開始，終了する。できれば，最初の割り出し時間を持
つ最初の割り出しサイクルである操作順序は，恒温器の
ような検定リソースの１つに指定される事が望ましい
い。
リング手段と輸送制御手段とより成る。一定サイクル長
さは検定リソース・ステーションにある，ある検定リソ
ースの制御に対し事前決定され，その情報はスケジュー
リング手段に供給される。これらの検定リソースは一般
的に検定成分搬送手段，恒温器ベルト，洗浄手段および
信号検出手段である。検定手段のそれぞれは一定操作順
序を指定され，それは検定リソースがサンプル収納反応
容器で事前決定された操作実施に利用できる一定時間期
間であり，それは事前決定された長さの時間サイクル内
に開始，終了する。できれば，最初の割り出し時間を持
つ最初の割り出しサイクルである操作順序は，恒温器の
ような検定リソースの１つに指定される事が望ましい
い。
提起具体化例としては，その割り出し時間は検定のス
ケジューリング管理用に事前決定される一定長さサイク
ルに等しい。他の検定リソースのそれぞれも，また，一
定操作順位が指定され，そこでは最初の割り出し時間
は，できれば，恒温器その他の検定リソースが他のそれ
ぞれと同調して操作されるように，それぞれのそのよう
な操作順序の整数倍となるのがよい。整数倍数は１であ
ることがあるが，最初の割り出し時間は他の検定リソー
スの一定シーケンスと同等となることもあるので,2つの
サイクル時間は，できれば互いに異なることが望まし
い。提起される具体化例では，整数倍数は3,すなわち，
恒温ベルトの最初の割り出し時間は他の検定リソースの
操作シーケンス時間の３倍となる。
ケジューリング管理用に事前決定される一定長さサイク
ルに等しい。他の検定リソースのそれぞれも，また，一
定操作順位が指定され，そこでは最初の割り出し時間
は，できれば，恒温器その他の検定リソースが他のそれ
ぞれと同調して操作されるように，それぞれのそのよう
な操作順序の整数倍となるのがよい。整数倍数は１であ
ることがあるが，最初の割り出し時間は他の検定リソー
スの一定シーケンスと同等となることもあるので,2つの
サイクル時間は，できれば互いに異なることが望まし
い。提起される具体化例では，整数倍数は3,すなわち，
恒温ベルトの最初の割り出し時間は他の検定リソースの
操作シーケンス時間の３倍となる。
上記のように，多重配列を用いて多重プロトコルを処
理可能な既知の自動分析器は非常に複雑な処理管理方法
を持っている。それぞれ，すべてのサンプルおよび反応
容器の精密スケジューリングが記憶され，制御器は調剤
用ピペットなどの特定の検定リソースが，それが必要と
する精密な時間で利用可能なこと保証しなければならな
い。
理可能な既知の自動分析器は非常に複雑な処理管理方法
を持っている。それぞれ，すべてのサンプルおよび反応
容器の精密スケジューリングが記憶され，制御器は調剤
用ピペットなどの特定の検定リソースが，それが必要と
する精密な時間で利用可能なこと保証しなければならな
い。
本発明の方法で，各検定リソースは一定処理サイクル
内で事前決定された一定の操作ウインドウを持ってい
る。その結果として,1つの検定リソースの制御ロジック
は他の依存，または独立検定リソースの事前決定タイミ
ングに依存することができる。それ故，可変プロトコル
を持ち，異なる配列の移動反応容器により処理される被
検体試験は，それらの検定リソース条件が相容れない場
合に挿入できる。すなわち，より短い処理時間を持つ被
検体試験はより長い処理時間を持つものの後に入れるこ
とが可能で，短い方の被検体試験が最初に終了される。
これは，検定成分を入れている反応容器の輸送手段が，
どんな順序が要求されようとも，入れた順序に関係な
く，必要な検定リソースへ反応容器を持って行くことが
できるので可能となる。提起具体化例では，最適化ルー
チンが性能および処理量の増強のために分析器制御手段
により使用される。
内で事前決定された一定の操作ウインドウを持ってい
る。その結果として,1つの検定リソースの制御ロジック
は他の依存，または独立検定リソースの事前決定タイミ
ングに依存することができる。それ故，可変プロトコル
を持ち，異なる配列の移動反応容器により処理される被
検体試験は，それらの検定リソース条件が相容れない場
合に挿入できる。すなわち，より短い処理時間を持つ被
検体試験はより長い処理時間を持つものの後に入れるこ
とが可能で，短い方の被検体試験が最初に終了される。
これは，検定成分を入れている反応容器の輸送手段が，
どんな順序が要求されようとも，入れた順序に関係な
く，必要な検定リソースへ反応容器を持って行くことが
できるので可能となる。提起具体化例では，最適化ルー
チンが性能および処理量の増強のために分析器制御手段
により使用される。
発明の具体化例で，検定リソース・ステーションの可
変ドウェル時間は，独立の内部記憶の使用により，ま
た，過剰容量を持つ反応容器移送手段の付与により，各
種の被検体試験プロトコルに対して達成できる。
変ドウェル時間は，独立の内部記憶の使用により，ま
た，過剰容量を持つ反応容器移送手段の付与により，各
種の被検体試験プロトコルに対して達成できる。
本発明の方法はスケジューリングを大いに単純化し，
一方，最大程度のシステムの融通性を維持する。既知の
多重プロトコル，多重配列分析器アナログ式電気処理に
類似の様式で真正時間ラインで操作されるにもかかわら
ず，本発明の方法は個別時間スロットによりスケジュー
ルし，電気信号のディジタル処理に類似性が大である。
全体としての分析器の各時間スロットは恒温器ベルトの
最初の割り出し時間に等しいことが望ましい。このよう
にして，反応容器は恒温器の割り出しサイクルの始めに
限り洗浄ホイールに移送できる。処理サイクルは提起具
体化例では固定されるので，恒温器の割り出しサイクル
は固定され，スケジュール手段はそのようなサイクル内
の被検体試験および検定リソースに合致し，大いにスケ
ジューリングを簡略化する。
一方，最大程度のシステムの融通性を維持する。既知の
多重プロトコル，多重配列分析器アナログ式電気処理に
類似の様式で真正時間ラインで操作されるにもかかわら
ず，本発明の方法は個別時間スロットによりスケジュー
ルし，電気信号のディジタル処理に類似性が大である。
全体としての分析器の各時間スロットは恒温器ベルトの
最初の割り出し時間に等しいことが望ましい。このよう
にして，反応容器は恒温器の割り出しサイクルの始めに
限り洗浄ホイールに移送できる。処理サイクルは提起具
体化例では固定されるので，恒温器の割り出しサイクル
は固定され，スケジュール手段はそのようなサイクル内
の被検体試験および検定リソースに合致し，大いにスケ
ジューリングを簡略化する。
工程管理も，また，発明の方法では，さらに簡単であ
る。適応タイミング分析器では，リソースは，その作用
の以後のタイミングの決定のために，常時，他の依存リ
ソースを監視しなければならない。本文に述べるように
制御される分析器は，各検定リソースが他のリソースの
状況を絶えずポーリングすることなく，前以て決められ
た時間内の，その操作の完了保証のために，スケジュー
ル手段により信頼可能な一定期間の時間サイクルを持
つ。
る。適応タイミング分析器では，リソースは，その作用
の以後のタイミングの決定のために，常時，他の依存リ
ソースを監視しなければならない。本文に述べるように
制御される分析器は，各検定リソースが他のリソースの
状況を絶えずポーリングすることなく，前以て決められ
た時間内の，その操作の完了保証のために，スケジュー
ル手段により信頼可能な一定期間の時間サイクルを持
つ。
異なるプロトコルを持つ被検体試験の挿入は既知の適
応タイミング分析器では不可能である。そのような分析
器制御手段は試験の着手，処理について先入れ−先出し
のパタンに従わねばならず，試験エントリーの中断は検
定リソースを占有する“ホール”を生じ，ワークリスト
の処理に必要な全体時間を増す。発明の方法では，被検
体試験を挿入する能力は“ホール”を両立できる検定リ
ソース条件を持つ他の被検体試験での充足を可能にす
る。その結果は中断ワークリストに対し，あるいは，断
続的被検体試験エントリーを受けるシステムに対して，
全体処理時間がより短くなる。
応タイミング分析器では不可能である。そのような分析
器制御手段は試験の着手，処理について先入れ−先出し
のパタンに従わねばならず，試験エントリーの中断は検
定リソースを占有する“ホール”を生じ，ワークリスト
の処理に必要な全体時間を増す。発明の方法では，被検
体試験を挿入する能力は“ホール”を両立できる検定リ
ソース条件を持つ他の被検体試験での充足を可能にす
る。その結果は中断ワークリストに対し，あるいは，断
続的被検体試験エントリーを受けるシステムに対して，
全体処理時間がより短くなる。
発明の分析器では，恒温ベルトに検定成分を入れてい
る反応容器のドウェル時間はその最初の割り出し時間の
整数倍にほぼ等しい時間に限定される。実際には，容器
が恒温器ベルト上で費やす実時間は，最初の割り出し時
間の完全整数倍よりは若干少ないことがある。それは，
恒温器が新規容器を恒温器に加えるために恒温器移送ス
テーションに移動する前に，最初の洗浄移送ステーショ
ンで洗浄ホイールに反応容器が移送された後に短時間を
取るからである。事前決定長さの固定サイクルの使用は
恒温器の容器のドウェル時間の制御で達成される“クロ
ノロジカル・リソリューション”（すなわち，それによ
り与えられた時間が変化可能となる精度）を制限する。
特に，被検体試験は恒温時間が最初の割り出し時間の２
分の１以内の恒温時間範囲内にくるプロトコルに基づか
ねばならない。例えば，最初の割り出し時間が36秒なら
ばプロトコルの恒温時間は±18秒以内で可変となるだろ
う）。しかし，恒温時間のこの僅かの変化可能性は精度
の喪失とならず，従って試験結果の再現性を保証する。
る反応容器のドウェル時間はその最初の割り出し時間の
整数倍にほぼ等しい時間に限定される。実際には，容器
が恒温器ベルト上で費やす実時間は，最初の割り出し時
間の完全整数倍よりは若干少ないことがある。それは，
恒温器が新規容器を恒温器に加えるために恒温器移送ス
テーションに移動する前に，最初の洗浄移送ステーショ
ンで洗浄ホイールに反応容器が移送された後に短時間を
取るからである。事前決定長さの固定サイクルの使用は
恒温器の容器のドウェル時間の制御で達成される“クロ
ノロジカル・リソリューション”（すなわち，それによ
り与えられた時間が変化可能となる精度）を制限する。
特に，被検体試験は恒温時間が最初の割り出し時間の２
分の１以内の恒温時間範囲内にくるプロトコルに基づか
ねばならない。例えば，最初の割り出し時間が36秒なら
ばプロトコルの恒温時間は±18秒以内で可変となるだろ
う）。しかし，恒温時間のこの僅かの変化可能性は精度
の喪失とならず，従って試験結果の再現性を保証する。
使用に当たって，発明の装置は特定検定試験用の検定
成分を入れた反応容器を各種の検定リソース・ステーシ
ョンに移送し，そこで，ステーションに関係する検定リ
ソースは，そのような検定リソースに指定される利用性
の固定時間スロット期間中，反応容器で１もしくは，そ
れ以上の事前決定操作を行うことができる。例えば，検
定成分搬送手段はサンプルと試薬の事前決定量を容器に
運ぶ。恒温器ベルトは恒温器の事前決定通路沿いに反応
容器を移送できる。洗浄ステーションでは，検定リソー
スは容器を装置の１ないし，それ以上の位置に移送する
ことにより反応容器に作用し，そこで，固体相に向けら
れるラベル付きの試薬は束縛なしの試薬から分離され，
バッファーが配分され，反応容器から吸い出される。読
み出しステーションでは，検定リソースは先ず，検出可
能信号の付与に必要な試薬が添加される装置のある位置
に，次いで信号が装置により検出，記録される，信号検
出手段，本発明の提起具体化例のルミノメーターに，容
器を運ぶことにより反応容器に作用する。
成分を入れた反応容器を各種の検定リソース・ステーシ
ョンに移送し，そこで，ステーションに関係する検定リ
ソースは，そのような検定リソースに指定される利用性
の固定時間スロット期間中，反応容器で１もしくは，そ
れ以上の事前決定操作を行うことができる。例えば，検
定成分搬送手段はサンプルと試薬の事前決定量を容器に
運ぶ。恒温器ベルトは恒温器の事前決定通路沿いに反応
容器を移送できる。洗浄ステーションでは，検定リソー
スは容器を装置の１ないし，それ以上の位置に移送する
ことにより反応容器に作用し，そこで，固体相に向けら
れるラベル付きの試薬は束縛なしの試薬から分離され，
バッファーが配分され，反応容器から吸い出される。読
み出しステーションでは，検定リソースは先ず，検出可
能信号の付与に必要な試薬が添加される装置のある位置
に，次いで信号が装置により検出，記録される，信号検
出手段，本発明の提起具体化例のルミノメーターに，容
器を運ぶことにより反応容器に作用する。
本発明の装置の具体化例の１つは以下の事前決定検定
リソースを含む：検定成分搬送手段，恒温器ベルト，分
離・洗浄手段，および信号検出手段。装置はまた，反応
容器を１つのリソースから他のリソースに運ぶ手段およ
び上記の分析器制御手段を含む。ある提起具体化例は検
定リソースとして，他の反応容器のトランスポートは搬
送工程中，遅延しないように，容器が別の検定リソース
への移送前，容器の搬送中に検定成分が反応容器に搬送
できるように装置に位置する容器トランスポートを含
む。
リソースを含む：検定成分搬送手段，恒温器ベルト，分
離・洗浄手段，および信号検出手段。装置はまた，反応
容器を１つのリソースから他のリソースに運ぶ手段およ
び上記の分析器制御手段を含む。ある提起具体化例は検
定リソースとして，他の反応容器のトランスポートは搬
送工程中，遅延しないように，容器が別の検定リソース
への移送前，容器の搬送中に検定成分が反応容器に搬送
できるように装置に位置する容器トランスポートを含
む。
容器トランスポートは１次,2次可動容器搬送プレート
を含む容器シャトルより成ることがあり，各プレートは
容器を受ける凹所を限定する複数のフィンガーを持ち，
プレートは直線通路沿いに容器を１段ずつ移送するため
に互いに関して協調的に移動するように採択される。こ
の形式の容器トランスポートは自動分析器内に容器移動
用の新しい独特の方法と装置を与える。通常は，自動化
学分析器では，容器は閉経路沿いにチェーンを用いるか
移動フロア移送され，そこでは，容器搬送機構は容器と
ともに経路沿いに移動する。提起される本発明の容器シ
ャトルは開放端経路沿いに１段ずつ分析器を通って容器
を移動可能にする。発明の容器シャトルは容器搬送プレ
ートのネット運動なしに経路沿いに容器を移動させるた
めに，互いに関して協調的に移動するための１次,2次容
器搬送プレートを含む。
を含む容器シャトルより成ることがあり，各プレートは
容器を受ける凹所を限定する複数のフィンガーを持ち，
プレートは直線通路沿いに容器を１段ずつ移送するため
に互いに関して協調的に移動するように採択される。こ
の形式の容器トランスポートは自動分析器内に容器移動
用の新しい独特の方法と装置を与える。通常は，自動化
学分析器では，容器は閉経路沿いにチェーンを用いるか
移動フロア移送され，そこでは，容器搬送機構は容器と
ともに経路沿いに移動する。提起される本発明の容器シ
ャトルは開放端経路沿いに１段ずつ分析器を通って容器
を移動可能にする。発明の容器シャトルは容器搬送プレ
ートのネット運動なしに経路沿いに容器を移動させるた
めに，互いに関して協調的に移動するための１次,2次容
器搬送プレートを含む。
洗浄ステーションは，できれば，洗浄ホイール上の連
続したエンドレスの経路沿いに読み出しステーションと
物理的に統合するのが良い。２つのステーションの，こ
の物理的統合は，移送ステーションの機械的単純性と組
み合わされて，本技術で知られる他の分析器を超えて，
本発明の分析器の機械的複雑性を減じる。そのようなシ
ステムは一般に処理の１つの段階から他段階への容器移
送に分離したモーターや類似品を持つ複雑な移送機構を
必要とするか，あるいは，容器は唯一の経路を取るよう
にさせられ，各操作ステーションを通って連続的に進ま
ねばならない。機械的単純性は分析器の可動部品数と複
雑性を減じることにより本発明の分析器の信頼性を増
す。読み出し，および洗浄ステーションの統合による，
もう１つの利点は，分析器全体を非常にコンパクトにで
きるということである。提起の具体化例では，洗浄ホイ
ール恒温器ベルトおよび検定成分供給ホイールは，すべ
て互いに関し，また，分析器の電子部品および流体部品
に関連して配置され，そのために各検定リソースは分析
器正面の単一静止位置から操作者は接近できる。
続したエンドレスの経路沿いに読み出しステーションと
物理的に統合するのが良い。２つのステーションの，こ
の物理的統合は，移送ステーションの機械的単純性と組
み合わされて，本技術で知られる他の分析器を超えて，
本発明の分析器の機械的複雑性を減じる。そのようなシ
ステムは一般に処理の１つの段階から他段階への容器移
送に分離したモーターや類似品を持つ複雑な移送機構を
必要とするか，あるいは，容器は唯一の経路を取るよう
にさせられ，各操作ステーションを通って連続的に進ま
ねばならない。機械的単純性は分析器の可動部品数と複
雑性を減じることにより本発明の分析器の信頼性を増
す。読み出し，および洗浄ステーションの統合による，
もう１つの利点は，分析器全体を非常にコンパクトにで
きるということである。提起の具体化例では，洗浄ホイ
ール恒温器ベルトおよび検定成分供給ホイールは，すべ
て互いに関し，また，分析器の電子部品および流体部品
に関連して配置され，そのために各検定リソースは分析
器正面の単一静止位置から操作者は接近できる。
洗浄および読み出しステーションは物理的に統合され
ているけれども，それらは論理的には分離している：す
なわち，分析器の制御手段により別々に制御可能であ
る。
ているけれども，それらは論理的には分離している：す
なわち，分析器の制御手段により別々に制御可能であ
る。
図面の簡単な説明
図１は発明の分析器の１つの具体例の概略表示であ
る； 図２は図１の分析器のある部分の透視隔離図で，容器
トランスポート部分と恒温器ベルト部分および，それら
の間の相互作用を示している； 図３は図１の分析器の部分の透視隔離図で，恒温器ベ
ルトおよび洗浄ホイールの両方部分と，それらの間の相
互作用を示している； 図４−８は図１の分析器のある部分の概略透視図で，
恒温器ベルト，洗浄ホイールおよび読み出しステーショ
ン間の移送位置を示している； 図９および10はそれぞれ,1段階および２段階検定に対
する，発明の具体化例のスケジューリング・ロジックを
描いたフロー・チャートである； 図11は発明の分析器で実施される一連の検定に関する
時間依存検定リソース利用度スケジュールの概略表示で
ある； 図12A−12Fは図１の分析器で起こる操作のタイミング
線図である； 図13は発明の分析器の代わりの具体化例の図１に類似
の概略表示である； 図14は図13の分析器に使用される容器トランスポート
の代わりの具体化の分解透視図である； 図15A−Ｃは図14の容器トランスポートを駆動するの
に使用されるカムの上部隔離図である； 図16−19は容器トランスポートの操作を概略図解する
図14の容器トランスポートの透視隔離図である； 図20は図13の分析器に使用する廃物通路ドア手段の上
部図である； 図21は図20の廃物通路ドア手段の透視隔離図である；
また， 図22は図13の分析器に起こる図12に類似の操作のタイ
ミング線図である。
る； 図２は図１の分析器のある部分の透視隔離図で，容器
トランスポート部分と恒温器ベルト部分および，それら
の間の相互作用を示している； 図３は図１の分析器の部分の透視隔離図で，恒温器ベ
ルトおよび洗浄ホイールの両方部分と，それらの間の相
互作用を示している； 図４−８は図１の分析器のある部分の概略透視図で，
恒温器ベルト，洗浄ホイールおよび読み出しステーショ
ン間の移送位置を示している； 図９および10はそれぞれ,1段階および２段階検定に対
する，発明の具体化例のスケジューリング・ロジックを
描いたフロー・チャートである； 図11は発明の分析器で実施される一連の検定に関する
時間依存検定リソース利用度スケジュールの概略表示で
ある； 図12A−12Fは図１の分析器で起こる操作のタイミング
線図である； 図13は発明の分析器の代わりの具体化例の図１に類似
の概略表示である； 図14は図13の分析器に使用される容器トランスポート
の代わりの具体化の分解透視図である； 図15A−Ｃは図14の容器トランスポートを駆動するの
に使用されるカムの上部隔離図である； 図16−19は容器トランスポートの操作を概略図解する
図14の容器トランスポートの透視隔離図である； 図20は図13の分析器に使用する廃物通路ドア手段の上
部図である； 図21は図20の廃物通路ドア手段の透視隔離図である；
また， 図22は図13の分析器に起こる図12に類似の操作のタイ
ミング線図である。
提起具体例の詳細説明
図１は発明の分析器10を概略的に示している。示され
る分析器は検定成分供給ホイール20,検定成分搬送手段4
0,恒温器50,洗浄ステーション100に隣接して位置する洗
浄ホイール60,および読み出しステーション130,ならび
に，その他各種の以下に説明する要素を含んでいる。
る分析器は検定成分供給ホイール20,検定成分搬送手段4
0,恒温器50,洗浄ステーション100に隣接して位置する洗
浄ホイール60,および読み出しステーション130,ならび
に，その他各種の以下に説明する要素を含んでいる。
検定成分供給ホイール20は一般的に水平面で回転し，
一連のサンプル（サンプルは患者見本，制御器，または
測定器のこともある）を受けるための環状外部カラセル
22および複数の試薬パックを保存するための内部カラセ
ル30を含んでいる。各サンプルは出来れば，外部カラセ
ル22に安全，強固に受けられるように適用されるサンプ
ル・カップで供給されるのが望ましい。複数のこれらサ
ンプル・カップは，サンプルが操作員の便宜上，分析器
に置かれるように環状カラセルに具備される。
一連のサンプル（サンプルは患者見本，制御器，または
測定器のこともある）を受けるための環状外部カラセル
22および複数の試薬パックを保存するための内部カラセ
ル30を含んでいる。各サンプルは出来れば，外部カラセ
ル22に安全，強固に受けられるように適用されるサンプ
ル・カップで供給されるのが望ましい。複数のこれらサ
ンプル・カップは，サンプルが操作員の便宜上，分析器
に置かれるように環状カラセルに具備される。
図１は比較的に短い弧だけからできている外部カラセ
ル22を図示し，外部カラセルは，供給ホイール20の周囲
全体あたりに伸びるのが望ましい。１つの提起具体例
で，サンプル・カップ容器トレイが含まれることがあ
り，それは短い弧に設計され供給ホイールの外部カラセ
ルに適合するように適用される。容器トレイは複数のサ
ンプル・カップを受けるように設計されるのが良く，複
数のこれらトレイは供給ホイールの周辺に位置すること
がある。提起具体化例で，これらのトレイは別々に除去
可能でサンプル・カップのバッチを単一段階で分析器か
ら交換させることが出来る。サンプル・トレイは各種形
状の容器の使用を支援するように設計されるのが良い。
例えば，示される分析器のサンプル・トレイは，トレ
イ,13×75mm,または13×100mmの試験管，および13×75m
mまたは13×100mmの漿液（リンパ液）分離器試験管用に
設計されるサンプル・カップを支持する。
ル22を図示し，外部カラセルは，供給ホイール20の周囲
全体あたりに伸びるのが望ましい。１つの提起具体例
で，サンプル・カップ容器トレイが含まれることがあ
り，それは短い弧に設計され供給ホイールの外部カラセ
ルに適合するように適用される。容器トレイは複数のサ
ンプル・カップを受けるように設計されるのが良く，複
数のこれらトレイは供給ホイールの周辺に位置すること
がある。提起具体化例で，これらのトレイは別々に除去
可能でサンプル・カップのバッチを単一段階で分析器か
ら交換させることが出来る。サンプル・トレイは各種形
状の容器の使用を支援するように設計されるのが良い。
例えば，示される分析器のサンプル・トレイは，トレ
イ,13×75mm,または13×100mmの試験管，および13×75m
mまたは13×100mmの漿液（リンパ液）分離器試験管用に
設計されるサンプル・カップを支持する。
一旦，操作員が患者サンプルを分析器のサンプル・カ
ップに置くと，操作員はサンプルおよびサンプルに実施
される被検体試験を識別する情報を，分析器制御手段に
与えねばならない。この情報は装置上のサンプルの位置
を含まねばならない。操作員は手動でサンプルに関する
識別情報を入れることがあり，また，情報はバー・コー
ド・ラベルなどの分析器が読むことのできるラベルを持
つサンプル・カップで与えられねばならない。バー・コ
ード・リーダー26はこの目的で分析器に含まれることが
ある。
ップに置くと，操作員はサンプルおよびサンプルに実施
される被検体試験を識別する情報を，分析器制御手段に
与えねばならない。この情報は装置上のサンプルの位置
を含まねばならない。操作員は手動でサンプルに関する
識別情報を入れることがあり，また，情報はバー・コー
ド・ラベルなどの分析器が読むことのできるラベルを持
つサンプル・カップで与えられねばならない。バー・コ
ード・リーダー26はこの目的で分析器に含まれることが
ある。
試薬パック32は供給ホイールの内部カラセル30に位置
するように設計される。各パックは与えられる試薬の量
を保存できる複数の不連続のウエル（井戸）34を含むの
が良い。できれば，各試薬パックは被検体特定とし，少
なくとも,1被検体試験を処理するのに必要な十分な量の
各試薬を供給する。各パックは，できれば，異なる患者
サンプルで多くの被検体試験を実施するのに十分な各試
薬量を入れていることが望ましい。パックの試薬を使い
切ると，操作員はパックを外し，新しいそれと交換す
る。検定成分供給ホイールの内部カラセル30は，例え
ば,4゜から10゜の冷蔵温度で装置に保存される試薬の保
持のために冷蔵されることがあり，試薬の保存寿命と安
定性を増す。各試薬パック34の位置と内容物に関する情
報は分析器により読み取れるラベルを用いて分析器制御
手段に与えることができる。そのような情報は試薬パッ
ク，試験名称，ロット番号，終了日付，等々を含むこと
がある。サンプル・カップでは，ラベルはできれば，装
置に内蔵のリーダーで読み取り可能またはワンド．タイ
プのバー・コード・リーダーで読むことの出来るバー・
コード・ラベルが望ましい。ラベルの情報は，また手動
で入れることがある。
するように設計される。各パックは与えられる試薬の量
を保存できる複数の不連続のウエル（井戸）34を含むの
が良い。できれば，各試薬パックは被検体特定とし，少
なくとも,1被検体試験を処理するのに必要な十分な量の
各試薬を供給する。各パックは，できれば，異なる患者
サンプルで多くの被検体試験を実施するのに十分な各試
薬量を入れていることが望ましい。パックの試薬を使い
切ると，操作員はパックを外し，新しいそれと交換す
る。検定成分供給ホイールの内部カラセル30は，例え
ば,4゜から10゜の冷蔵温度で装置に保存される試薬の保
持のために冷蔵されることがあり，試薬の保存寿命と安
定性を増す。各試薬パック34の位置と内容物に関する情
報は分析器により読み取れるラベルを用いて分析器制御
手段に与えることができる。そのような情報は試薬パッ
ク，試験名称，ロット番号，終了日付，等々を含むこと
がある。サンプル・カップでは，ラベルはできれば，装
置に内蔵のリーダーで読み取り可能またはワンド．タイ
プのバー・コード・リーダーで読むことの出来るバー・
コード・ラベルが望ましい。ラベルの情報は，また手動
で入れることがある。
図１に示す分析器はサンプル・カップから事前決定の
患者サンプル量を引き出すために検定成分搬送手段40を
用いて被検体を処理し始め，装置のどこかに保持される
反応容器にそれを移送する。提起具体化例では，搬送手
段は超音波で作動可能なチップ（図示されない）とポン
プ（図示なし）を持つプローブ42を含んでいる。超音波
トランスデューサーにより発生する超音波振動が，吸い
込みの前後に反応容器，サンプル・カップまたは試薬パ
ックの流体を混合し，各使用後にプローブの掃除のため
に，また流体レベルの検出のためにプローブ・チップに
与えられることがある。検定成分搬送手段は自動分析器
で役立ち，超音波プローブは良く知られており，ここで
は詳しく述べない。そのようなプローブに対する有用な
具体化例が,1992年７月20日にマークT.ポールセンの名
で受理された米国特許出願S.N.917,205に説明されてお
り，その教示内容が本文に引用として組み込まている。
患者サンプル量を引き出すために検定成分搬送手段40を
用いて被検体を処理し始め，装置のどこかに保持される
反応容器にそれを移送する。提起具体化例では，搬送手
段は超音波で作動可能なチップ（図示されない）とポン
プ（図示なし）を持つプローブ42を含んでいる。超音波
トランスデューサーにより発生する超音波振動が，吸い
込みの前後に反応容器，サンプル・カップまたは試薬パ
ックの流体を混合し，各使用後にプローブの掃除のため
に，また流体レベルの検出のためにプローブ・チップに
与えられることがある。検定成分搬送手段は自動分析器
で役立ち，超音波プローブは良く知られており，ここで
は詳しく述べない。そのようなプローブに対する有用な
具体化例が,1992年７月20日にマークT.ポールセンの名
で受理された米国特許出願S.N.917,205に説明されてお
り，その教示内容が本文に引用として組み込まている。
プローブは容器から引き出される液体を加熱する手段
を含んでいる。この特徴が反応容器に分配される前に温
置温度まで液体を予熱させる。提起具体化例では，ポン
プは２重リソリューション・ディリューター・ポンプ
で，そのようなポンプは米国特許No.4,941,808に述べら
れている。このポンプは大小両方の流体容積を精密，正
確に送ることができる。ポンプは洗浄バッファーを洗浄
およびサンプル希釈のためにプローブに送る。それはま
た，サンプルと試薬を反応容器への搬送のためにプロー
ブ中に吸い込む。
を含んでいる。この特徴が反応容器に分配される前に温
置温度まで液体を予熱させる。提起具体化例では，ポン
プは２重リソリューション・ディリューター・ポンプ
で，そのようなポンプは米国特許No.4,941,808に述べら
れている。このポンプは大小両方の流体容積を精密，正
確に送ることができる。ポンプは洗浄バッファーを洗浄
およびサンプル希釈のためにプローブに送る。それはま
た，サンプルと試薬を反応容器への搬送のためにプロー
ブ中に吸い込む。
図１に概略的に示されるように，検定成分搬送手段40
は患者サンプルを入れるサンプル・カップ24,反応容器5
2,および選ばれた試薬パックのそれぞれのウエル34をア
クセスするために適用される。図１で，検定成分搬送手
段は単一プローブ42として示される。望むならば，複数
のプローブが用いられ，例えば,1つのプローブは患者サ
ンプル移送専用とし,1ないし，それ以上のプローブが試
薬の移送に用いられる。
は患者サンプルを入れるサンプル・カップ24,反応容器5
2,および選ばれた試薬パックのそれぞれのウエル34をア
クセスするために適用される。図１で，検定成分搬送手
段は単一プローブ42として示される。望むならば，複数
のプローブが用いられ，例えば,1つのプローブは患者サ
ンプル移送専用とし,1ないし，それ以上のプローブが試
薬の移送に用いられる。
図１に示される分析器で，プローブ42はトラック46に
乗っている。これによりプローブは吸い込み位置からサ
ンプル・カップまたは試薬ウエルを越えて（示される）
配分位置に横方向に移動可能にさせる。ここで，吸い込
まれた流体は反応容器に分配されることがある。供給ホ
イールの内外両方のカラセル（30おおび22）はそれぞれ
の軸の周りに別々に回転できるので，希望の患者サンプ
ルや希望の試薬パックがあればアクセスのために別個に
位置を取ることができる。
乗っている。これによりプローブは吸い込み位置からサ
ンプル・カップまたは試薬ウエルを越えて（示される）
配分位置に横方向に移動可能にさせる。ここで，吸い込
まれた流体は反応容器に分配されることがある。供給ホ
イールの内外両方のカラセル（30おおび22）はそれぞれ
の軸の周りに別々に回転できるので，希望の患者サンプ
ルや希望の試薬パックがあればアクセスのために別個に
位置を取ることができる。
提起の具体化例で，試薬パックはプローブ・チップで
貫通されることがあるが，本質的にはチップの引き下が
りにつれて再密封される再密封可能の材料で覆われる。
貫通されることがあるが，本質的にはチップの引き下が
りにつれて再密封される再密封可能の材料で覆われる。
一旦，患者サンプルの事前決定量が反応容器内に配分
されると，特定試験に必要な試薬または複数の試薬が反
応容器に加えられる。提起の具体化例で，磁性または常
磁性の粒子が固定サポートとして用いられる。勿論，そ
の代わりに，ビーズや管壁が被覆され，既知の手順を用
いて固体サポートとして使用されることがある。磁性粒
子が使用される時は，各試薬パック32は検定特定試薬で
被覆されることのある，あるいは，総称的試薬で被覆さ
れることのある磁性粒子を含む。その粒子はバッファー
溶液の試薬パックに保存される。出来れば，事前決定し
たバッファー溶液の量が試薬パックから引き出される前
に，その溶液はなんらかの手段で混合されるのが良い。
ある具体化例では，超音波プローブが粒子が均一に懸濁
するように流体を混合するために振動される。その代わ
りに，装置はウエルに流体を渦巻かせる手段，あるいは
撹拌用の棒を用いて流体をかき回す手段を含むことがあ
る。
されると，特定試験に必要な試薬または複数の試薬が反
応容器に加えられる。提起の具体化例で，磁性または常
磁性の粒子が固定サポートとして用いられる。勿論，そ
の代わりに，ビーズや管壁が被覆され，既知の手順を用
いて固体サポートとして使用されることがある。磁性粒
子が使用される時は，各試薬パック32は検定特定試薬で
被覆されることのある，あるいは，総称的試薬で被覆さ
れることのある磁性粒子を含む。その粒子はバッファー
溶液の試薬パックに保存される。出来れば，事前決定し
たバッファー溶液の量が試薬パックから引き出される前
に，その溶液はなんらかの手段で混合されるのが良い。
ある具体化例では，超音波プローブが粒子が均一に懸濁
するように流体を混合するために振動される。その代わ
りに，装置はウエルに流体を渦巻かせる手段，あるいは
撹拌用の棒を用いて流体をかき回す手段を含むことがあ
る。
図１に示す分析器はプローブ洗浄ステーション44を持
っている。患者サンプル，または患者サンプルと試薬供
給品間の相互汚染を避けるために，検定成分搬送手段の
プローブが，ある量の流体を配分し終わった後に，それ
を洗浄すべきである。提起の分析器で，プローブ洗浄ス
テーション44はバンド45の下に位置するドレン・カップ
46の内壁に乗っているトロイダル流体搬送バンド45を含
んでいる。流体搬送バンド45はプローブ・チップと同軸
になるように配置され，プローブ・チップはバンドを通
って挿入することが出来る。流体搬送バンドはプローブ
・チップに向けて一般に内方，半径方向に面するバンド
表面の周りに円周方向に間隔を開けたポートを持つ環状
要素より成る。バンドはプローブ・チップが挿入された
時に，プローブの外面がバンドの壁に接触しないように
十分な直径のものでなければならない。しかし，バンド
直径は流体がポートを通って流れ，プローブ外面を濯ぐ
ように濡らすほど十分小さくなければならない。プロー
ブ内面は一定量の洗浄，濯ぎ溶液を，それを通して流す
ことにより，できるだけ洗浄しなければならない。ドレ
ン・カップ46はプローブ濯ぎ溶液を受けるように配置さ
れ，その流体を廃物容器（図示なし）に導く。
っている。患者サンプル，または患者サンプルと試薬供
給品間の相互汚染を避けるために，検定成分搬送手段の
プローブが，ある量の流体を配分し終わった後に，それ
を洗浄すべきである。提起の分析器で，プローブ洗浄ス
テーション44はバンド45の下に位置するドレン・カップ
46の内壁に乗っているトロイダル流体搬送バンド45を含
んでいる。流体搬送バンド45はプローブ・チップと同軸
になるように配置され，プローブ・チップはバンドを通
って挿入することが出来る。流体搬送バンドはプローブ
・チップに向けて一般に内方，半径方向に面するバンド
表面の周りに円周方向に間隔を開けたポートを持つ環状
要素より成る。バンドはプローブ・チップが挿入された
時に，プローブの外面がバンドの壁に接触しないように
十分な直径のものでなければならない。しかし，バンド
直径は流体がポートを通って流れ，プローブ外面を濯ぐ
ように濡らすほど十分小さくなければならない。プロー
ブ内面は一定量の洗浄，濯ぎ溶液を，それを通して流す
ことにより，できるだけ洗浄しなければならない。ドレ
ン・カップ46はプローブ濯ぎ溶液を受けるように配置さ
れ，その流体を廃物容器（図示なし）に導く。
提起具体化例で，プローブ洗浄ステーションは，さら
に，プローブ表面から過剰液体を引くために，ドレン・
カップに，またプローブの外面の周りに，バンドを通っ
て空気と掃除用溶液を引く乾燥手段を含まねばならな
い。超音波プローブが用いられるときは，そのプローブ
は，できれば，プローブの乾燥を助けるためにプローブ
表面に流体を噴霧するのに十分な時間の間，超音波で作
動するのが望ましい。
に，プローブ表面から過剰液体を引くために，ドレン・
カップに，またプローブの外面の周りに，バンドを通っ
て空気と掃除用溶液を引く乾燥手段を含まねばならな
い。超音波プローブが用いられるときは，そのプローブ
は，できれば，プローブの乾燥を助けるためにプローブ
表面に流体を噴霧するのに十分な時間の間，超音波で作
動するのが望ましい。
サンプルと試薬の配分段階中，反応容器は恒温器50の
恒温器ベルト54に位置することがある。しかし，そのよ
うな具体化例では，恒温器ベルトは流体配分サイクル中
は本質的には静止を維持し，恒温器ベルトにより他の反
応容器の移送を遅延しなければならないだろう。この遅
延回避のために分析器の提起具体化例は恒温器ベルト54
を離れて位置する容器トランスポートを含む検定成分配
分ステーション55（図２）を含む。
恒温器ベルト54に位置することがある。しかし，そのよ
うな具体化例では，恒温器ベルトは流体配分サイクル中
は本質的には静止を維持し，恒温器ベルトにより他の反
応容器の移送を遅延しなければならないだろう。この遅
延回避のために分析器の提起具体化例は恒温器ベルト54
を離れて位置する容器トランスポートを含む検定成分配
分ステーション55（図２）を含む。
図１および２に図示される最初の具体化例で，容器ト
ランスポートは，できれば，複数容器をその長さに沿う
て運ぶように適用される容器チェーン70より成る。容器
チェーン70は，できれば，反応容器の底を支える床73,
容器の直径的に反対側を支える一連の平行で，間隔を開
けたフィンガーおよび一般的には垂直位置に容器を保持
するために容器の他の反対側を支持するための平行手段
を含む。平行手段は１つの側に支持壁74を，また，他の
側の新容器ローダー72（図１）から来る空容器を含むこ
とがある。新容器ローダー72は新容器を分析器に供給の
ために容器チェーン70に隣接して備えられる。新容器ロ
ーダーは，分析器が使用済みの反応容器を処分するとき
に，操作員が別の容器を供給物に加えられるように，操
作員に容易に接近できる。新容器ローダー72は，できれ
ば，チェーン70に対して一連の本質的に平行なラインを
示し，そのラインは各ラインの新容器が容器チェーンに
位置を持つ容器に直ぐに隣接する位置に間隔を取る。図
示の新ローダーは，一般的に垂直位置にある容器を支持
する間に，容器がそれらの間を滑れるように間隔を取っ
た一連の平行支持壁79を含む。空容器の各列は各列の床
に滑動可能に取り付けた本質的に垂直なフィンガー（図
示なし）により前進させられ，各列の最も外側の（図１
の底に最も近い）空容器を支持する。新容器ローダーの
列に空容器がない場合は，垂直フィンガーが容器チェー
ン70に反応容器を支える。
ランスポートは，できれば，複数容器をその長さに沿う
て運ぶように適用される容器チェーン70より成る。容器
チェーン70は，できれば，反応容器の底を支える床73,
容器の直径的に反対側を支える一連の平行で，間隔を開
けたフィンガーおよび一般的には垂直位置に容器を保持
するために容器の他の反対側を支持するための平行手段
を含む。平行手段は１つの側に支持壁74を，また，他の
側の新容器ローダー72（図１）から来る空容器を含むこ
とがある。新容器ローダー72は新容器を分析器に供給の
ために容器チェーン70に隣接して備えられる。新容器ロ
ーダーは，分析器が使用済みの反応容器を処分するとき
に，操作員が別の容器を供給物に加えられるように，操
作員に容易に接近できる。新容器ローダー72は，できれ
ば，チェーン70に対して一連の本質的に平行なラインを
示し，そのラインは各ラインの新容器が容器チェーンに
位置を持つ容器に直ぐに隣接する位置に間隔を取る。図
示の新ローダーは，一般的に垂直位置にある容器を支持
する間に，容器がそれらの間を滑れるように間隔を取っ
た一連の平行支持壁79を含む。空容器の各列は各列の床
に滑動可能に取り付けた本質的に垂直なフィンガー（図
示なし）により前進させられ，各列の最も外側の（図１
の底に最も近い）空容器を支持する。新容器ローダーの
列に空容器がない場合は，垂直フィンガーが容器チェー
ン70に反応容器を支える。
図１および２に示す提起具体化例で，容器チェーンは
温置移送ステーション160で恒温器ベルト54と交差し，
容器処分ステーション162に続く。温置移送ステーショ
ン160で反応容器は恒温器ベルトへ，または，そこか
ら，移送されることがあり，あるいは，それは容器処分
ステーションへ移送されることがある。提起の具体化例
で，分析器の操作サイクル中にプローブ42によりアクセ
スされる容器は温置移送ステーションから２位置空けら
れる。すべての必要流体が，その容器に加れられた時
に，容器チェーンは前方（図の左）に２位置移動され，
その容器を温置移送ステーションの所に位置決めする。
容器が容器チェーンから外された後に，以下に詳細に述
べるように，容器チェーンは後退し（図１の左に），新
容器をプローブによるアクセス用の位置に置く。大方の
分析器では，容器チェーンは１位置だけ引っ込められ
る。
温置移送ステーション160で恒温器ベルト54と交差し，
容器処分ステーション162に続く。温置移送ステーショ
ン160で反応容器は恒温器ベルトへ，または，そこか
ら，移送されることがあり，あるいは，それは容器処分
ステーションへ移送されることがある。提起の具体化例
で，分析器の操作サイクル中にプローブ42によりアクセ
スされる容器は温置移送ステーションから２位置空けら
れる。すべての必要流体が，その容器に加れられた時
に，容器チェーンは前方（図の左）に２位置移動され，
その容器を温置移送ステーションの所に位置決めする。
容器が容器チェーンから外された後に，以下に詳細に述
べるように，容器チェーンは後退し（図１の左に），新
容器をプローブによるアクセス用の位置に置く。大方の
分析器では，容器チェーンは１位置だけ引っ込められ
る。
あるプロトコルは“２段階処理”を要求し，そこでは
最初の温置および洗浄工程後に追加試薬を反応容器に添
加する必要がある。反応容器がそのような追加試薬添加
段階を必要とするときは，容器チェーンは１位置という
より２位置引っ込められることがある。先ず，サンプル
と試薬が空の反応容器に加えられ，その反応容器は温置
移送ステーション160へ２位置，前進移動し，その容器
は恒温器ベルトに移送される。容器チェーンが引っ込む
前に，追加試薬を必要とする反応容器は温置移送ステー
ションに位置される。チェーンは２位置引っ込められ，
容器をチェーン移送し，それをプローブの分配位置に位
置させる。追加試薬がその反応容器に添加されたのち
に，容器チェーンは容器をベルトへの移送のために２位
置，前方へ移動し，温置移送ステーションに戻す。
最初の温置および洗浄工程後に追加試薬を反応容器に添
加する必要がある。反応容器がそのような追加試薬添加
段階を必要とするときは，容器チェーンは１位置という
より２位置引っ込められることがある。先ず，サンプル
と試薬が空の反応容器に加えられ，その反応容器は温置
移送ステーション160へ２位置，前進移動し，その容器
は恒温器ベルトに移送される。容器チェーンが引っ込む
前に，追加試薬を必要とする反応容器は温置移送ステー
ションに位置される。チェーンは２位置引っ込められ，
容器をチェーン移送し，それをプローブの分配位置に位
置させる。追加試薬がその反応容器に添加されたのち
に，容器チェーンは容器をベルトへの移送のために２位
置，前方へ移動し，温置移送ステーションに戻す。
チェーンのすべての新容器が使用されるとき，チェー
ンは容器供給に隣接して位置し，新容器ローダー72のす
べてのラインの容器は，ほぼ１ラインの幅だけ前方のラ
インの容器を用いて１位置前方に割り出される。これは
１つの新容器を各ラインの容器からチェーンに加え，一
連の新容器を使用のためにチェーンに供給する。一旦，
これらの容器が使用されると，工程は繰り返される。
ンは容器供給に隣接して位置し，新容器ローダー72のす
べてのラインの容器は，ほぼ１ラインの幅だけ前方のラ
インの容器を用いて１位置前方に割り出される。これは
１つの新容器を各ラインの容器からチェーンに加え，一
連の新容器を使用のためにチェーンに供給する。一旦，
これらの容器が使用されると，工程は繰り返される。
容器チェーンは有用な形状のものとし，温置移送ステ
ーションはどんな形状のものでもよい。しかし，提起の
具体化例では，容器は容器チェーンから，以下に詳細に
述べられる洗浄ホイールへ，または，そこから，容器が
移送されるのと同様にして，恒温器ベルトに移送する。
ーションはどんな形状のものでもよい。しかし，提起の
具体化例では，容器は容器チェーンから，以下に詳細に
述べられる洗浄ホイールへ，または，そこから，容器が
移送されるのと同様にして，恒温器ベルトに移送する。
図13−20は発明の分析器の代わりの具体化例を図示し
ている。この具体化例の容器トランスポートは反応容器
を新容器ローダー72から温置移送ステーション160に，
あるいは，そこから，また，恒温器ベルトへ，または，
そこから運ぶ容器シャトル210より成る。容器シャトル
は図に示される分析器に関して述べられるけれども，容
器その他の材料が１つの位置から別の位置に移動する必
要のある，どの分析器での使用にも適用できる。
ている。この具体化例の容器トランスポートは反応容器
を新容器ローダー72から温置移送ステーション160に，
あるいは，そこから，また，恒温器ベルトへ，または，
そこから運ぶ容器シャトル210より成る。容器シャトル
は図に示される分析器に関して述べられるけれども，容
器その他の材料が１つの位置から別の位置に移動する必
要のある，どの分析器での使用にも適用できる。
図13−20に図示される容器シャトル210は上記の具体
化例の容器チェーン70で行われるものと本質的に同一の
機能を行う。図13で，容器シャトル210は新容器ローダ
ー72の前方端（図13の上方）に隣接して配置される。チ
ェーン70用の容器シャトル210の代替および下記の新し
い廃物シュート・ゲート350の追加は別として，図13に
概略説明する分析器の形状および操作特徴は本質的に図
に示される分析器のそれと同じである。
化例の容器チェーン70で行われるものと本質的に同一の
機能を行う。図13で，容器シャトル210は新容器ローダ
ー72の前方端（図13の上方）に隣接して配置される。チ
ェーン70用の容器シャトル210の代替および下記の新し
い廃物シュート・ゲート350の追加は別として，図13に
概略説明する分析器の形状および操作特徴は本質的に図
に示される分析器のそれと同じである。
図14は本発明の具体化例に準じて操作される容器シャ
トル210の分解透視図を示す。容器シャトルは一般に組
み込みプレートを作動に使用する一連のカムを含み，そ
の２つは一般的に直線のシャトル経路沿いに段階的な容
器のかみ合い，移動用のフィンガーを持っている。
トル210の分解透視図を示す。容器シャトルは一般に組
み込みプレートを作動に使用する一連のカムを含み，そ
の２つは一般的に直線のシャトル経路沿いに段階的な容
器のかみ合い，移動用のフィンガーを持っている。
さらに特定的には，容器シャトル210は，それととも
に回転する駆動シャフトに固定される一連のカム222,22
8および234を持つ駆動シャフト220を有するドライバー
を持っている。駆動シャフト220はシャフトに回転を与
えるモーターなど（図示なし）の駆動機構に運転上，接
続される。駆動機構は希望の形式のもので良いが，駆動
シャフトの運動全体にわたって比較的に精密な制御を可
能にするモーター，例えば，ステッパー電動機または同
等品，が好まれる。図15A−15Cに図示するように，カム
222,228および234のそれぞれは，できれば，一般に“フ
ェース・カム”と呼ばれる形式のものが良く，引っ込ん
だ軌道を持っている（224,230および236,それぞれ）。
下記にさらに詳細に説明するように，これらの軌道は容
器シャトルの組み込みプレートのカム・フォロアを受け
るように適用され，駆動シャフトが回転するときにプレ
ートを動かすのに役立つ。
に回転する駆動シャフトに固定される一連のカム222,22
8および234を持つ駆動シャフト220を有するドライバー
を持っている。駆動シャフト220はシャフトに回転を与
えるモーターなど（図示なし）の駆動機構に運転上，接
続される。駆動機構は希望の形式のもので良いが，駆動
シャフトの運動全体にわたって比較的に精密な制御を可
能にするモーター，例えば，ステッパー電動機または同
等品，が好まれる。図15A−15Cに図示するように，カム
222,228および234のそれぞれは，できれば，一般に“フ
ェース・カム”と呼ばれる形式のものが良く，引っ込ん
だ軌道を持っている（224,230および236,それぞれ）。
下記にさらに詳細に説明するように，これらの軌道は容
器シャトルの組み込みプレートのカム・フォロアを受け
るように適用され，駆動シャフトが回転するときにプレ
ートを動かすのに役立つ。
図15A−15Cに示すように，カム222,228および234のそ
れぞれは駆動シャフト220を受けるためにハブ（それぞ
れ226,232および236,）を持っている。ある提起具体例
では，これらポート226,232および234のそれぞれはキー
・ウエイ凹所（それぞれ,227,233および237）を持つ。
この凹所は駆動シャフト220の“キー”と呼ばれる相手
突出物（図示なし）を受けるために存在する。これは滑
りなく相手とともに回転することを保証するために駆動
シャフトにカムをスプライン結合するのに役立つ。
れぞれは駆動シャフト220を受けるためにハブ（それぞ
れ226,232および236,）を持っている。ある提起具体例
では，これらポート226,232および234のそれぞれはキー
・ウエイ凹所（それぞれ,227,233および237）を持つ。
この凹所は駆動シャフト220の“キー”と呼ばれる相手
突出物（図示なし）を受けるために存在する。これは滑
りなく相手とともに回転することを保証するために駆動
シャフトにカムをスプライン結合するのに役立つ。
図14に示すように，容器シャトル210はビームの最も
下のプレートとしてベース・プレート240を持つ。この
ベース・プレートはカム受け用のオリフィス242を持
ち，それを通して駆動シャフト220が通過することが出
来る。希望するならば，電動機その他の駆動手段（図示
なし）がベース・プレート240の下に位置し，駆動シャ
フトに直接取り付けることができる。その代わりに，モ
ーターは側面に配置され，オリフィス242に伸びること
のできるギヤ（図示なし）により駆動シャフトに取り付
けが可能である。
下のプレートとしてベース・プレート240を持つ。この
ベース・プレートはカム受け用のオリフィス242を持
ち，それを通して駆動シャフト220が通過することが出
来る。希望するならば，電動機その他の駆動手段（図示
なし）がベース・プレート240の下に位置し，駆動シャ
フトに直接取り付けることができる。その代わりに，モ
ーターは側面に配置され，オリフィス242に伸びること
のできるギヤ（図示なし）により駆動シャフトに取り付
けが可能である。
ベース・プレートはまた,1対の直立ロッド246,248を
持つ。以下にさらに詳細に説明するように，少なくと
も，これらロッドのうちの１つは選択的にすべてのプレ
ートを通過し，互いにプレートの配列に資し，プレート
の移動可能な方向の限定を助ける。これらのロッド246
および248は一般に，本質的に，水平方向に配置される
プレート240に垂直の方向性を持つことが望ましい，言
い換えれば，それらは図14に示すＺ軸の方向で上方に伸
びるのが望ましい。
持つ。以下にさらに詳細に説明するように，少なくと
も，これらロッドのうちの１つは選択的にすべてのプレ
ートを通過し，互いにプレートの配列に資し，プレート
の移動可能な方向の限定を助ける。これらのロッド246
および248は一般に，本質的に，水平方向に配置される
プレート240に垂直の方向性を持つことが望ましい，言
い換えれば，それらは図14に示すＺ軸の方向で上方に伸
びるのが望ましい。
図14に示す分解図で上方に移って，容器シャトル210
の次のプレートが１次ドライブ・プレート250である。
この１次ドライブ・プレートは一般的に形状が矩形とな
る比較的に薄い平板であることが望ましい。プレートは
そこを通るベース・プレートのロッド246,248を受ける
ために適用される１対のスロット252を持つことが望ま
しい。スロットはｙ軸方向の１次ドライブ・プレートの
移動を極めて少なく，または無くさせるようなサイズに
するが,x軸方向のプレートの横方向移動は可能にするの
が望ましい。
の次のプレートが１次ドライブ・プレート250である。
この１次ドライブ・プレートは一般的に形状が矩形とな
る比較的に薄い平板であることが望ましい。プレートは
そこを通るベース・プレートのロッド246,248を受ける
ために適用される１対のスロット252を持つことが望ま
しい。スロットはｙ軸方向の１次ドライブ・プレートの
移動を極めて少なく，または無くさせるようなサイズに
するが,x軸方向のプレートの横方向移動は可能にするの
が望ましい。
１次ドライブ・プレート250は，また，プレートの本
体から１次カム234に隣接する位置に伸びるアーム254を
含む。アーム254は１次カム234のトラック236内に滑動
可能に受けられるように取り付けられるカム・フォロア
256を含む。カム234が駆動シャフト220とともに回転す
るにつれて，カム・フォロア256はカムのトラック沿い
に滑る。
体から１次カム234に隣接する位置に伸びるアーム254を
含む。アーム254は１次カム234のトラック236内に滑動
可能に受けられるように取り付けられるカム・フォロア
256を含む。カム234が駆動シャフト220とともに回転す
るにつれて，カム・フォロア256はカムのトラック沿い
に滑る。
図15Cに最も良く見えるように，トラック236とカムの
ハブ238との間の距離は異なる角度で変化する。１次ド
ライブ・プレートのカム・フォロア256はトラック内で
受けられるので，カムが回転するにつれてカム・フォロ
アとカムのハブ間の距離はカムの回転につれて変化す
る。これはスロット252との組み合わせで１次ドライブ
・プレート250をカムの回転につれてｘ軸方向に前後に
動かす。
ハブ238との間の距離は異なる角度で変化する。１次ド
ライブ・プレートのカム・フォロア256はトラック内で
受けられるので，カムが回転するにつれてカム・フォロ
アとカムのハブ間の距離はカムの回転につれて変化す
る。これはスロット252との組み合わせで１次ドライブ
・プレート250をカムの回転につれてｘ軸方向に前後に
動かす。
１次駆動プレート250はその上面に付けたピン258を持
つ。以下にさらに詳細に説明するように，このピン258
は１次駆動プレートを作動的に１次容器搬送プレート26
0に接続し,1次容器搬送プレートをｘ軸方向に前後に移
動するのに役立つ。
つ。以下にさらに詳細に説明するように，このピン258
は１次駆動プレートを作動的に１次容器搬送プレート26
0に接続し,1次容器搬送プレートをｘ軸方向に前後に移
動するのに役立つ。
図14の分解図の次のプレートに移動して,1次容器搬送
プレート260は一般的に後方プレート部分162と前方向き
容器搬送ビーム270とより成る。後方プレート部分は１
次ドライブ・プレート250のドライブ・ピン258を受ける
ように位置される１次ドライブ・スロット264を含む。
１次スロット264はｙ軸方向に後ろ向きに伸ばし伸長さ
れねばならない。ｘ軸方向のスロット264の幅はドライ
ブ・ピン258の幅より少し大きくするだけにすべきであ
る。１次駆動プレート250は上記に説明のようにｘ軸方
向に前後に移動し，ドライブ・ピン258は１次ドライブ
・スロット264の壁に嵌合し,1次容器搬送プレート260を
前後にｘ軸沿いに移動する。しかし,1次ドライブ・スロ
ットはｙ軸方向伸ばされるので,1次容器搬送プレートは
ｙ軸方向に１次ドライブ・プレートに関して移動は自由
である。
プレート260は一般的に後方プレート部分162と前方向き
容器搬送ビーム270とより成る。後方プレート部分は１
次ドライブ・プレート250のドライブ・ピン258を受ける
ように位置される１次ドライブ・スロット264を含む。
１次スロット264はｙ軸方向に後ろ向きに伸ばし伸長さ
れねばならない。ｘ軸方向のスロット264の幅はドライ
ブ・ピン258の幅より少し大きくするだけにすべきであ
る。１次駆動プレート250は上記に説明のようにｘ軸方
向に前後に移動し，ドライブ・ピン258は１次ドライブ
・スロット264の壁に嵌合し,1次容器搬送プレート260を
前後にｘ軸沿いに移動する。しかし,1次ドライブ・スロ
ットはｙ軸方向伸ばされるので,1次容器搬送プレートは
ｙ軸方向に１次ドライブ・プレートに関して移動は自由
である。
１次容器搬送プレートの後方プレート部分262もまた,
1対の延長２次ドライブ・スロット266を持つ。これらの
２次ドラブ・スロットはｘ軸方向で横方向に伸びる。以
下にさらに詳細に説明するように，これらの２次ドライ
ブ・スロットはｙ軸方向で前後方向に１次容器搬送プレ
ート260を駆動するピン284を受けるように適用される。
1対の延長２次ドライブ・スロット266を持つ。これらの
２次ドラブ・スロットはｘ軸方向で横方向に伸びる。以
下にさらに詳細に説明するように，これらの２次ドライ
ブ・スロットはｙ軸方向で前後方向に１次容器搬送プレ
ート260を駆動するピン284を受けるように適用される。
１次容器搬送プレートの後方プレート部分262もま
た，ベース・プレート240の２次ロッドを受けるための
アイドラー・ポート268を持つ。このアイドラー・ポー
ト268は１次容器搬送プレートがｘ軸およびｙ軸の両方
向に自由に移動可能なように十分大きくなければならな
い。図16−19の概略図に関して以下にさらに明瞭にされ
るように，アイドラー・ポート268はこれらの図に関し
て概説するように,1次容器搬送プレート260を操作可能
ならしめるために一般的に方形である。
た，ベース・プレート240の２次ロッドを受けるための
アイドラー・ポート268を持つ。このアイドラー・ポー
ト268は１次容器搬送プレートがｘ軸およびｙ軸の両方
向に自由に移動可能なように十分大きくなければならな
い。図16−19の概略図に関して以下にさらに明瞭にされ
るように，アイドラー・ポート268はこれらの図に関し
て概説するように,1次容器搬送プレート260を操作可能
ならしめるために一般的に方形である。
後方プレート部分262はベース・プレートの１次ロッ
ド246との隣接接触を避けるのに十分狭くなければなら
ない。そうでないときは,2次アイドラー・ポート（図示
なし）が１次ロッド246を受けるために具備されること
がある。後方プレート部分262は１次,2次ロッド246,248
の間に適合し，単一アイドラー・ポート268すらも含む
必要性を避けるために十分狭く作られることがある。少
なくとも,1つのアイドラー・ポートが,1次容器搬送プレ
ートを容器シャトルの他のプレートと整列させるために
ロッド246,248の少なくとも１つを用いて容器シャトル2
10の組み立ての単純化に使用されることが望ましい。上
記のように,1次容器搬送プレート260は１次容器搬送ビ
ーム270を含んでいる。この容器搬送ビームは後方プレ
ート部分262の前方縁部沿いに配置されプレート262とビ
ーム270を溶接，または一体成形などの適当な手段によ
り，そこに固定されることがある。プレート部分262は
比較的に薄いことが望ましいが，ビーム270は以下に説
明するように，それが容器を支持できるように幾らか厚
くなければならない。
ド246との隣接接触を避けるのに十分狭くなければなら
ない。そうでないときは,2次アイドラー・ポート（図示
なし）が１次ロッド246を受けるために具備されること
がある。後方プレート部分262は１次,2次ロッド246,248
の間に適合し，単一アイドラー・ポート268すらも含む
必要性を避けるために十分狭く作られることがある。少
なくとも,1つのアイドラー・ポートが,1次容器搬送プレ
ートを容器シャトルの他のプレートと整列させるために
ロッド246,248の少なくとも１つを用いて容器シャトル2
10の組み立ての単純化に使用されることが望ましい。上
記のように,1次容器搬送プレート260は１次容器搬送ビ
ーム270を含んでいる。この容器搬送ビームは後方プレ
ート部分262の前方縁部沿いに配置されプレート262とビ
ーム270を溶接，または一体成形などの適当な手段によ
り，そこに固定されることがある。プレート部分262は
比較的に薄いことが望ましいが，ビーム270は以下に説
明するように，それが容器を支持できるように幾らか厚
くなければならない。
１次容器搬送ビーム270は一般的に，前方に伸びる一
連のフィンガー272を含んでいる。これらのフィンガー
は細長で，一般に平たい部材であることが望ましくｙ軸
方向に伸び，容器搬送ビームの長さ沿いにスペースが設
けられる。フィンガー間のスペースはビーム270の長さ
沿いに容器受入れ用の凹所を限定する。（図14では，図
面簡略化のためにフィンガーと，それに伴う凹所の幾つ
かが省略されているが，フィンガーおよび凹所はビーム
270の長さ全体に沿うて伸びることが望ましいことを理
解しなければならない。）図16−19に以下に説明するよ
うに，これらの容器受入れ凹所は恒温器に装備され，あ
るいは，それから引き出される容器の低い部分を支持す
るように受けるように適用される。
連のフィンガー272を含んでいる。これらのフィンガー
は細長で，一般に平たい部材であることが望ましくｙ軸
方向に伸び，容器搬送ビームの長さ沿いにスペースが設
けられる。フィンガー間のスペースはビーム270の長さ
沿いに容器受入れ用の凹所を限定する。（図14では，図
面簡略化のためにフィンガーと，それに伴う凹所の幾つ
かが省略されているが，フィンガーおよび凹所はビーム
270の長さ全体に沿うて伸びることが望ましいことを理
解しなければならない。）図16−19に以下に説明するよ
うに，これらの容器受入れ凹所は恒温器に装備され，あ
るいは，それから引き出される容器の低い部分を支持す
るように受けるように適用される。
図14で，上方に移動する次に隣接するプレートは移行
プレート280である。この移行プレートは１対のアッパ
ー・ピン282および１対のロアー・ピン284を含んでい
る。ロアー・ピン284は移行プレートの下面に運ばれ，
そのような１つのピンは１次容器搬送プレートの２次ド
ライブ・スロット266のそれぞれで受けられるように適
用される。２次ドライブ・スロットは細長でｘ軸方向に
伸びるので，ロアー・ピンはｘ軸の１次容器搬送プレー
トに関して動くのは自由であるが,y軸方向のロアー・ピ
ン284の移動は容器搬送プレート260を，その方向に同様
に移動させる。
プレート280である。この移行プレートは１対のアッパ
ー・ピン282および１対のロアー・ピン284を含んでい
る。ロアー・ピン284は移行プレートの下面に運ばれ，
そのような１つのピンは１次容器搬送プレートの２次ド
ライブ・スロット266のそれぞれで受けられるように適
用される。２次ドライブ・スロットは細長でｘ軸方向に
伸びるので，ロアー・ピンはｘ軸の１次容器搬送プレー
トに関して動くのは自由であるが,y軸方向のロアー・ピ
ン284の移動は容器搬送プレート260を，その方向に同様
に移動させる。
以下にさらに完全に説明するように，移行プレートの
アッパー・ピン282は２次ドライブ・プレート290の移行
スロット298内で受けられる。移行プレート280はベース
・プレートの直立ロッド246,248の１つを受けるように
適用される。示される具体化例で，移行プレートはロッ
ド246を滑動的に受けるように適用される１つのアイド
ラー・スロット286を含むが,2つのアイドラー・スロッ
トが具備されることがある。このアイドラー・スロット
はｙ軸方向に細長で，図14のｙ軸に本質的に対応する運
動に対して移行プレートの移動を制限することが望まし
い。
アッパー・ピン282は２次ドライブ・プレート290の移行
スロット298内で受けられる。移行プレート280はベース
・プレートの直立ロッド246,248の１つを受けるように
適用される。示される具体化例で，移行プレートはロッ
ド246を滑動的に受けるように適用される１つのアイド
ラー・スロット286を含むが,2つのアイドラー・スロッ
トが具備されることがある。このアイドラー・スロット
はｙ軸方向に細長で，図14のｙ軸に本質的に対応する運
動に対して移行プレートの移動を制限することが望まし
い。
図14に示される順序で，次のプレートは２次ドライブ
・プレート290である。この２次ドライブ・プレートは
ベース・プレートのロッド246,248を受け，容器シャト
ル210が一緒に置かれる時，組み立て品の残りと２次ド
ライブ・プレートとの整列を助けるように適用される１
対のアイドラー・スロットを含む。さらに，これらのア
イドラー・スロット292はｘ軸沿いに伸び,2次ドライブ
・プレートの移動をｘ軸と本質的に一致する移動に限定
する。
・プレート290である。この２次ドライブ・プレートは
ベース・プレートのロッド246,248を受け，容器シャト
ル210が一緒に置かれる時，組み立て品の残りと２次ド
ライブ・プレートとの整列を助けるように適用される１
対のアイドラー・スロットを含む。さらに，これらのア
イドラー・スロット292はｘ軸沿いに伸び,2次ドライブ
・プレートの移動をｘ軸と本質的に一致する移動に限定
する。
２次ドライブ・プレートはプレートの本体から２次カ
ム228に隣接する位置に伸びるアーム294を含んでいる。
上記に説明される１次ドライブ・プレート250と同様に,
2次ドライブ・プレートはアーム294にカム・フォロア29
6を持っている。このカム・フォロア296は２次カムのト
ラック230内に受けられるように適用される。
ム228に隣接する位置に伸びるアーム294を含んでいる。
上記に説明される１次ドライブ・プレート250と同様に,
2次ドライブ・プレートはアーム294にカム・フォロア29
6を持っている。このカム・フォロア296は２次カムのト
ラック230内に受けられるように適用される。
１次ドライブ・プレート250および１次カム234と殆ど
同様に,2次カム228が駆動シャフトにより回転されるに
つれてカム・フォロア296とカムのハブ232間の距離は変
動する。これは次に,2次ドライブ・プレートをｘ軸方向
に移動させる。このプレートの移動はアイドラー・スロ
ット292内で受けられるロッド246,248によりｘ軸方向の
移動のみに本質的に限定されるのが望ましい。
同様に,2次カム228が駆動シャフトにより回転されるに
つれてカム・フォロア296とカムのハブ232間の距離は変
動する。これは次に,2次ドライブ・プレートをｘ軸方向
に移動させる。このプレートの移動はアイドラー・スロ
ット292内で受けられるロッド246,248によりｘ軸方向の
移動のみに本質的に限定されるのが望ましい。
２次ドライブ・プレート290はまた１対の移行スロッ
ト298を含む。下記のように，これらのスロット298は移
行プレート280のアッパー・ピン282を受けるように適用
される。これらの移行スロット298は細長で,x軸および
ｙ軸の両方に角度を持つ。スロット298は移行プレート
のピン282より本質的に広くないことが望ましい。移行
プレートの移動はアイドラー・スロット296のロッド246
により制限され，それはｙ軸方向に細長で，移行プレー
トの移動を本質的にｙ軸と一致する移動に限定する。従
って２次ドライブ・プレート290がカム228によりｘ軸方
向に動かされるにつれて，移行スロット298の角度は移
行プレートを一般的にｙ軸沿いに前後に滑らせる。
ト298を含む。下記のように，これらのスロット298は移
行プレート280のアッパー・ピン282を受けるように適用
される。これらの移行スロット298は細長で,x軸および
ｙ軸の両方に角度を持つ。スロット298は移行プレート
のピン282より本質的に広くないことが望ましい。移行
プレートの移動はアイドラー・スロット296のロッド246
により制限され，それはｙ軸方向に細長で，移行プレー
トの移動を本質的にｙ軸と一致する移動に限定する。従
って２次ドライブ・プレート290がカム228によりｘ軸方
向に動かされるにつれて，移行スロット298の角度は移
行プレートを一般的にｙ軸沿いに前後に滑らせる。
それ故，これらの移行スロットは２次ドライブ・プレ
ートの移動を効果的に“移行する”のに役立ち，一般的
にｙ軸沿いの移行プレートの移動に対し，それはｘ軸に
限定する。移行プレート280の下面のロアー・ピン284は
一次容器搬送プレート260の２次ドライブ・スロット266
内で自由に滑るが，本質的にそのプレートに関してｙ軸
方向の移動を妨げられる。従って，移行スロット298と
移行プレート280は２次ドライブ・プレート290がカム22
8によりｘ軸沿いに前後に動かされるように,1次容器搬
送プレート260をｙ軸沿いに前後に動かすのに役立つ。
ートの移動を効果的に“移行する”のに役立ち，一般的
にｙ軸沿いの移行プレートの移動に対し，それはｘ軸に
限定する。移行プレート280の下面のロアー・ピン284は
一次容器搬送プレート260の２次ドライブ・スロット266
内で自由に滑るが，本質的にそのプレートに関してｙ軸
方向の移動を妨げられる。従って，移行スロット298と
移行プレート280は２次ドライブ・プレート290がカム22
8によりｘ軸沿いに前後に動かされるように,1次容器搬
送プレート260をｙ軸沿いに前後に動かすのに役立つ。
図14に示される具体化例で,2次ドライブ・プレートの
直ぐ上に配置されるプレートは３次ドライブ・プレート
300である。この３次ドライブ・プレート300はベース・
プレート240のロッド246,248を受けるためのアイドラー
・スロット302を持ち,3次ドライブ・プレートの移動を
本質的にｘ軸沿いの移動に限定する。３次ドライブ・プ
レートはアーム304および３次カム222のトラック224内
に乗るように適用されるアームにより取り付けられるカ
ム・フォロア306を含む。再度，カム222は駆動シャフト
220とともに回転し，カム・フォロア306とカムのハブ22
6間の距離は変化し,3次ドライブ・プレートをｘ軸方向
に前後するようにさせる。
直ぐ上に配置されるプレートは３次ドライブ・プレート
300である。この３次ドライブ・プレート300はベース・
プレート240のロッド246,248を受けるためのアイドラー
・スロット302を持ち,3次ドライブ・プレートの移動を
本質的にｘ軸沿いの移動に限定する。３次ドライブ・プ
レートはアーム304および３次カム222のトラック224内
に乗るように適用されるアームにより取り付けられるカ
ム・フォロア306を含む。再度，カム222は駆動シャフト
220とともに回転し，カム・フォロア306とカムのハブ22
6間の距離は変化し,3次ドライブ・プレートをｘ軸方向
に前後するようにさせる。
３次ドライブ・プレート300はまた１対の移行スロッ
ト308を含んでいる。２次ドライブ・プレート290の移行
スロット298と殆ど同じで,3次ドライブ・プレートのド
ライブ・スロット308はｘ軸およびｙ軸の両方に関して
ある角度を持つ。２次容器搬送プレート310の下面に取
りついたピン316はピン282が２次ドライブ・プレートの
移行スロット298内で受けられるのと全く同じように，
移行スロット308内で受けられる。
ト308を含んでいる。２次ドライブ・プレート290の移行
スロット298と殆ど同じで,3次ドライブ・プレートのド
ライブ・スロット308はｘ軸およびｙ軸の両方に関して
ある角度を持つ。２次容器搬送プレート310の下面に取
りついたピン316はピン282が２次ドライブ・プレートの
移行スロット298内で受けられるのと全く同じように，
移行スロット308内で受けられる。
移行スロット298と308の角度はｙ軸の希望の移動度を
達成するために，希望通りに変えることができる。示さ
れる具体化例では，移行スロット298,308の両対はｘ軸
に関して約30゜の角度を持ち，従ってｙ軸に関して約60
゜の角度を持つ。しかし，多少とも，この角度はｙ軸方
向のこれらのプレートの移動の達成に必要に応じて変化
する。
達成するために，希望通りに変えることができる。示さ
れる具体化例では，移行スロット298,308の両対はｘ軸
に関して約30゜の角度を持ち，従ってｙ軸に関して約60
゜の角度を持つ。しかし，多少とも，この角度はｙ軸方
向のこれらのプレートの移動の達成に必要に応じて変化
する。
図14で上方に動く次のプレートは２次容器搬送プレー
ト310である。この２次容器搬送プレートは後方プレー
ト部分312および二次容器搬送ビーム320を含んでいる。
後方プレート部分は一対の細長のアイドラー・スロット
314を持ち,1スロットはベース・プレート240に取り付け
られたロッド246,248のそれぞれを受けるように適用さ
れる。これらのアイドル・スロット314は２次容器搬送
プレート310を残りのプレートと整列させ，このプレー
トの移動を図14に示すｙ軸と本質的に一致する移動に限
定するのに役立つ。このようにして,3次ドライブ・プレ
ートが300がカム222の作用によりｘ軸沿いに前後に動く
につれて，後方プレート部分312の底面のピン316は２次
ドライブ・プレートの移行スロット308の長さ沿いに前
後に乗る。後方プレート部分312のアイドラー・スロッ
ト314と組み合わせて，この移動は２次容器搬送プレー
ト310を,3次ドライブ・プレート300がｘ軸方向で横方向
に移動するように,y軸方向沿いに前後に移動させる。
ト310である。この２次容器搬送プレートは後方プレー
ト部分312および二次容器搬送ビーム320を含んでいる。
後方プレート部分は一対の細長のアイドラー・スロット
314を持ち,1スロットはベース・プレート240に取り付け
られたロッド246,248のそれぞれを受けるように適用さ
れる。これらのアイドル・スロット314は２次容器搬送
プレート310を残りのプレートと整列させ，このプレー
トの移動を図14に示すｙ軸と本質的に一致する移動に限
定するのに役立つ。このようにして,3次ドライブ・プレ
ートが300がカム222の作用によりｘ軸沿いに前後に動く
につれて，後方プレート部分312の底面のピン316は２次
ドライブ・プレートの移行スロット308の長さ沿いに前
後に乗る。後方プレート部分312のアイドラー・スロッ
ト314と組み合わせて，この移動は２次容器搬送プレー
ト310を,3次ドライブ・プレート300がｘ軸方向で横方向
に移動するように,y軸方向沿いに前後に移動させる。
２次容器搬送ビーム320は１次容器搬送ビーム270と本
質的に同じ形状を持つ。特に２次容器搬送ビームは２次
容器搬送プレートの後方プレート部分312よりも本質的
に厚いことが望ましく，ビーム長さ320沿いにスペース
を持った一連の細長の，一般的に平坦なフィンガーを持
っている。これらのフィンガーは次にビーム長さ沿いに
スペースを持った一連の容器受け入れ凹所324を限定す
る。これらの凹所324は分析器に使用のため，容器の上
部分を支持的に受けるようなサイズと形にするのが望ま
しい。２つの容器搬送ビーム270,320は２次ビーム320の
底部縁が介入プレートの存在に関係なく１次ビーム270
の上面に直ぐに隣接するように十分厚いことが望まし
い。この関係は概略，図16−19に図示されている。
質的に同じ形状を持つ。特に２次容器搬送ビームは２次
容器搬送プレートの後方プレート部分312よりも本質的
に厚いことが望ましく，ビーム長さ320沿いにスペース
を持った一連の細長の，一般的に平坦なフィンガーを持
っている。これらのフィンガーは次にビーム長さ沿いに
スペースを持った一連の容器受け入れ凹所324を限定す
る。これらの凹所324は分析器に使用のため，容器の上
部分を支持的に受けるようなサイズと形にするのが望ま
しい。２つの容器搬送ビーム270,320は２次ビーム320の
底部縁が介入プレートの存在に関係なく１次ビーム270
の上面に直ぐに隣接するように十分厚いことが望まし
い。この関係は概略，図16−19に図示されている。
図14に示される容器シャトルの最上部のプレートはキ
ャップ・プレート330である。このキャップ・プレート
は１対の間隔を開けたロッド・ポート332を持つ。この
ロッド・ポートのそれぞれはベース・プレートに取り付
けられたロッド246,248のうちの１つの上部分を受ける
ように適用される。図14に示す具体化例で，ロッド・ポ
ート332はロッドの周りでポート332をクランプするのに
使用される固定用ネジ334により，そこに受けられるロ
ッドの周りに締めつけることができる。
ャップ・プレート330である。このキャップ・プレート
は１対の間隔を開けたロッド・ポート332を持つ。この
ロッド・ポートのそれぞれはベース・プレートに取り付
けられたロッド246,248のうちの１つの上部分を受ける
ように適用される。図14に示す具体化例で，ロッド・ポ
ート332はロッドの周りでポート332をクランプするのに
使用される固定用ネジ334により，そこに受けられるロ
ッドの周りに締めつけることができる。
キャップ・プレート332はまた，プレートの本体で横
方向に伸びるアームを持つ。このアーム336は駆動シャ
フト220の上部を受けるための孔338を備えている。駆動
シャフトはこの孔338の中で回転自由でなければなら
ず，孔は駆動シャフトが十分に回転自由であることを保
証のために，その内面にベアリングまたは同等品を持つ
ことがある。
方向に伸びるアームを持つ。このアーム336は駆動シャ
フト220の上部を受けるための孔338を備えている。駆動
シャフトはこの孔338の中で回転自由でなければなら
ず，孔は駆動シャフトが十分に回転自由であることを保
証のために，その内面にベアリングまたは同等品を持つ
ことがある。
発明の容器シャトル210が組み立てられる時，それぞ
れのプレートはベース・プレートに取り付けられたロッ
ド246,248を順次に通り過ぎ，互いに寄り掛かることが
できる。このようにして，それぞれのプレートは相手を
支持する。けれども，駆動シャフト220の回転に応じて
プレートが動くにつれて，これはプレート間に摩擦を生
じ易くなる。この摩擦とそこから発生す磨耗を減じるた
めに，プレートは耐摩性のある材料またはポリテラフル
オロエチレン（PTFE）のような幾らか潤滑性のある材料
で被覆する。ある特定的に提起される具体化例では，デ
ルリン（E.I.Dupon ＆ Companyにより製造されるアセタ
ル・レジン）または同類の重合材料の“ボタン”（図示
なし）が各プレートの上，下面に適用される。これらの
デルリン・ボタンはレート間の摩擦，磨耗減少とプレー
ト自体磨耗の減少に役立つ。比較的にコンパクトな設計
の維持のためにデルリン・ボタンは最適に，比較的薄く
する。
れのプレートはベース・プレートに取り付けられたロッ
ド246,248を順次に通り過ぎ，互いに寄り掛かることが
できる。このようにして，それぞれのプレートは相手を
支持する。けれども，駆動シャフト220の回転に応じて
プレートが動くにつれて，これはプレート間に摩擦を生
じ易くなる。この摩擦とそこから発生す磨耗を減じるた
めに，プレートは耐摩性のある材料またはポリテラフル
オロエチレン（PTFE）のような幾らか潤滑性のある材料
で被覆する。ある特定的に提起される具体化例では，デ
ルリン（E.I.Dupon ＆ Companyにより製造されるアセタ
ル・レジン）または同類の重合材料の“ボタン”（図示
なし）が各プレートの上，下面に適用される。これらの
デルリン・ボタンはレート間の摩擦，磨耗減少とプレー
ト自体磨耗の減少に役立つ。比較的にコンパクトな設計
の維持のためにデルリン・ボタンは最適に，比較的薄く
する。
図15A−15Cはカム234,228および222を示し，それは１
次,2次,3次ドライブ・プレート（250,290および300）
を，それぞれ駆動する。図16−19に関して下記に説明す
るように，これらカムそれぞれのトラックの形状は１
次,2次容器搬送プレート（それぞれ,260および310）の
希望の運動を達成するように設計されねばならない。図
15に示すように本質的に形成されるトラックはうまく作
動することが判明しているが，これらトラックの形状は
１次および２次容器搬送プレートの希望の運動を認める
ように幾らかの調整が可能である。しかし，プレートが
突然１方向その他に持ち上げられることのないように保
証しなければならない，というのは，そんなことになれ
ば，容器搬送ビーム270,320が支持する容器の内容物が
容器から飛散するからである。その代わりに，トラック
はカムのトラックとハブの間の半径に比較的になだらか
な変化率を持たせなければならない。そうすれば，容器
の加速における鋭い不連続性を回避し，その中の流体の
飛散を最少に抑えることができる。
次,2次,3次ドライブ・プレート（250,290および300）
を，それぞれ駆動する。図16−19に関して下記に説明す
るように，これらカムそれぞれのトラックの形状は１
次,2次容器搬送プレート（それぞれ,260および310）の
希望の運動を達成するように設計されねばならない。図
15に示すように本質的に形成されるトラックはうまく作
動することが判明しているが，これらトラックの形状は
１次および２次容器搬送プレートの希望の運動を認める
ように幾らかの調整が可能である。しかし，プレートが
突然１方向その他に持ち上げられることのないように保
証しなければならない，というのは，そんなことになれ
ば，容器搬送ビーム270,320が支持する容器の内容物が
容器から飛散するからである。その代わりに，トラック
はカムのトラックとハブの間の半径に比較的になだらか
な変化率を持たせなければならない。そうすれば，容器
の加速における鋭い不連続性を回避し，その中の流体の
飛散を最少に抑えることができる。
図14に示す形状で，発明の容器トランスポート210は
装置全体の分解を行うことなく，単一装置として外すこ
とが可能である。提起具体化例で，駆動シャフト220を
駆動するモーター（図示なし）は装置のレストに恒久的
に固定され，ギヤと相互作動する。これによりカム，駆
動シャフトを含む装置全体が単に容器シャフト全体を外
し，それを新品の容器シャトル組み立て品と交換するこ
とにより迅速，容易に交換可能となる。これは誤作動の
あるときに，装置の停止時間を制限する。
装置全体の分解を行うことなく，単一装置として外すこ
とが可能である。提起具体化例で，駆動シャフト220を
駆動するモーター（図示なし）は装置のレストに恒久的
に固定され，ギヤと相互作動する。これによりカム，駆
動シャフトを含む装置全体が単に容器シャフト全体を外
し，それを新品の容器シャトル組み立て品と交換するこ
とにより迅速，容易に交換可能となる。これは誤作動の
あるときに，装置の停止時間を制限する。
図16−19は上記に述べる容器シャトルの作動を概略的
に図示している。前に記載の通り，本発明の容器トラン
スポートは出来れば，本質的同じ位置にあり，容器チェ
ーン70または容器シャトル210の有無に関係なく，本質
的に同一経路沿いに移動することが望ましい。従って，
図16−19に示される容器シャトルは床73に置かれる複数
の容器52を支持し，それは最適に水平に恒温器の床と整
列され，容器が恒温器に移送されるときに，容器に不快
振動を生じて，その内容物を飛散させ，実施される試験
結果に影響を及ぼす可能性のある鋭い不連続性がないよ
うにしなければならない。提起具体化例で，容器シャト
ルの床73は恒温器の床と一体に形成されている。
に図示している。前に記載の通り，本発明の容器トラン
スポートは出来れば，本質的同じ位置にあり，容器チェ
ーン70または容器シャトル210の有無に関係なく，本質
的に同一経路沿いに移動することが望ましい。従って，
図16−19に示される容器シャトルは床73に置かれる複数
の容器52を支持し，それは最適に水平に恒温器の床と整
列され，容器が恒温器に移送されるときに，容器に不快
振動を生じて，その内容物を飛散させ，実施される試験
結果に影響を及ぼす可能性のある鋭い不連続性がないよ
うにしなければならない。提起具体化例で，容器シャト
ルの床73は恒温器の床と一体に形成されている。
常時，容器シャトル210の各容器の少なくとも１箇所
が，それぞれ,1次又２次容器搬送ビーム270または32の
容器受入れ凹所274または324により３側面内に受け入れ
られ，そこで支持される。容器はまだ負荷されていない
追加容器により他の側で支持され，新容器ローダーに保
管される（図13の72）。
が，それぞれ,1次又２次容器搬送ビーム270または32の
容器受入れ凹所274または324により３側面内に受け入れ
られ，そこで支持される。容器はまだ負荷されていない
追加容器により他の側で支持され，新容器ローダーに保
管される（図13の72）。
図16は容器シャトル210の“レスト”またはデフォル
ト位置を図示している。この位置では２つの容器搬送ビ
ームのフィンガーのすべては，他のビームのフィンガー
と本質的に垂直に整列される。特に,2次容器搬送ビーム
320の容器受入れ凹所324A−324Dは図16−19と同一の文
字記号を付されている１次容器搬送ビーム270の凹所274
A−274Dと整列される。この位置で，容器シャトル210に
積まれた容器のすべては１次,2次容器搬送ビームの両者
により支持される。この位置で,324Dおよび274Dのラベ
ル貼付の凹所は検定成分搬送手段によるアクセスの位置
にあり，試薬や患者サンプルなどの検定成分が容器に添
加可能である。
ト位置を図示している。この位置では２つの容器搬送ビ
ームのフィンガーのすべては，他のビームのフィンガー
と本質的に垂直に整列される。特に,2次容器搬送ビーム
320の容器受入れ凹所324A−324Dは図16−19と同一の文
字記号を付されている１次容器搬送ビーム270の凹所274
A−274Dと整列される。この位置で，容器シャトル210に
積まれた容器のすべては１次,2次容器搬送ビームの両者
により支持される。この位置で,324Dおよび274Dのラベ
ル貼付の凹所は検定成分搬送手段によるアクセスの位置
にあり，試薬や患者サンプルなどの検定成分が容器に添
加可能である。
図17は容器を容器シャトルから恒温器50に進めるのに
使用される２つの容器搬送ビームの１次および２次運動
を示している。先ず,2次容器搬送ビーム320が後方に向
け（図14のｙ軸沿いに）移動する。図14に関して上記に
説明するように，これは３次ドライブ・プレート300を
カム222を通じてｘ軸沿いに移動することにより実施さ
れる。２次容器搬送ビーム320はフィンガー322が１次容
器搬送ビームの容器受入れ凹所274の後方縁部の後ろに
引っ込められるように，十分に引っ込められねばならな
い。
使用される２つの容器搬送ビームの１次および２次運動
を示している。先ず,2次容器搬送ビーム320が後方に向
け（図14のｙ軸沿いに）移動する。図14に関して上記に
説明するように，これは３次ドライブ・プレート300を
カム222を通じてｘ軸沿いに移動することにより実施さ
れる。２次容器搬送ビーム320はフィンガー322が１次容
器搬送ビームの容器受入れ凹所274の後方縁部の後ろに
引っ込められるように，十分に引っ込められねばならな
い。
駆動シャフトが回転を継続するにつれ１次カム234は
１次ドライブ・プレート250をｘ軸沿いに右に移送し，
それにより１次容器搬送ビーム270を右に移動する。一
次容器搬送ビームは右に１“スペース",すなわち，図面
に図示されるように，ほぼ１容器受入れ凹所と１フィン
ガーの幅だけ移動される。容器シャトルのこの２次移動
の後,1次ビーム270は恒温器50の経路に伸び恒温器のキ
ャリヤー64のフィンガー68間の最も外側の容器受入れ，
凹所274Dにより運ばれる容器を処理する。
１次ドライブ・プレート250をｘ軸沿いに右に移送し，
それにより１次容器搬送ビーム270を右に移動する。一
次容器搬送ビームは右に１“スペース",すなわち，図面
に図示されるように，ほぼ１容器受入れ凹所と１フィン
ガーの幅だけ移動される。容器シャトルのこの２次移動
の後,1次ビーム270は恒温器50の経路に伸び恒温器のキ
ャリヤー64のフィンガー68間の最も外側の容器受入れ，
凹所274Dにより運ばれる容器を処理する。
図18に図示のように,2次容器搬送ビーム320は，各容
器の上部分がそのビームの凹所324内に受けられるよう
に次に再度（３次ドライブ・プレーートにより）前進す
るようにされる。容器はこの２次容器搬送ビーム沿いに
１位置前方向に割り出されているので，図16で凹所324D
に当初あった容器は，今度は恒温器のキャリヤー64内で
処理され，図18の凹所324Dに示される容器は元々，図16
の凹所324Cにあったことに注目しなさい。
器の上部分がそのビームの凹所324内に受けられるよう
に次に再度（３次ドライブ・プレーートにより）前進す
るようにされる。容器はこの２次容器搬送ビーム沿いに
１位置前方向に割り出されているので，図16で凹所324D
に当初あった容器は，今度は恒温器のキャリヤー64内で
処理され，図18の凹所324Dに示される容器は元々，図16
の凹所324Cにあったことに注目しなさい。
図19は容器の前方割り出しに使用される容器シャトル
210の４次および最終の移動を示している。この移動で,
1次容器搬送ビーム270は後方に（図14のｘ軸の方向に）
引っ込められ，容器を床73および２次容器搬送ビームの
フィンガー322により支持されたままにする。図14に関
して上記に説明したように,1次容器搬送プレート260の
そのような移動は２次ドライブ・プレート2990と移行プ
レート280との共同作用で実施される。１次ビーム270は
そのフィンガー272が容器の後ろで処理されるように引
っ込めねばならない。１次容器搬送ビームは次に横方向
に，すなわち，図19の左に（図14のｘ軸沿いに）引っ込
められる。この最後の移動の最終段階として１次容器搬
送ビーム270は前方に移動する（図14のｙ軸沿いに）。
210の４次および最終の移動を示している。この移動で,
1次容器搬送ビーム270は後方に（図14のｘ軸の方向に）
引っ込められ，容器を床73および２次容器搬送ビームの
フィンガー322により支持されたままにする。図14に関
して上記に説明したように,1次容器搬送プレート260の
そのような移動は２次ドライブ・プレート2990と移行プ
レート280との共同作用で実施される。１次ビーム270は
そのフィンガー272が容器の後ろで処理されるように引
っ込めねばならない。１次容器搬送ビームは次に横方向
に，すなわち，図19の左に（図14のｘ軸沿いに）引っ込
められる。この最後の移動の最終段階として１次容器搬
送ビーム270は前方に移動する（図14のｙ軸沿いに）。
これは１次,2次ビーム270,320を図16に図示されるそ
れらのレストまたはデフォルト位置に置く。図19に示さ
れるように，一旦，容器シャトルの４次移動が完了し,1
次ビーム270がその元の位置に戻ると，図16の容器シャ
トルの最も外側の容器（その図の凹所274Dと324Dで受け
られる容器）は恒温器のキャリヤー64に移送されてお
り，その内容物は処理を開始する。
れらのレストまたはデフォルト位置に置く。図19に示さ
れるように，一旦，容器シャトルの４次移動が完了し,1
次ビーム270がその元の位置に戻ると，図16の容器シャ
トルの最も外側の容器（その図の凹所274Dと324Dで受け
られる容器）は恒温器のキャリヤー64に移送されてお
り，その内容物は処理を開始する。
図16−19に概略的に示されるように,1次容器搬送プレ
ート260（その関連ビーム270を持つ）は一般に直線的
に，一般に共に平行に，また一般に垂直にシャトル経路
沿いに容器の行程方向に移動する。それ故,1次容器搬送
プレートは一般的に直線的経路を移動し，容器を恒温器
に進めるのに図16−19で一般的に反時計方向の直線的経
路に従う。
ート260（その関連ビーム270を持つ）は一般に直線的
に，一般に共に平行に，また一般に垂直にシャトル経路
沿いに容器の行程方向に移動する。それ故,1次容器搬送
プレートは一般的に直線的経路を移動し，容器を恒温器
に進めるのに図16−19で一般的に反時計方向の直線的経
路に従う。
上記に概説するように，容器シャトル210は容器を段
階的に，すなわち，不連続なステップで，直線経路に沿
って移動するように適用される事が判る。この経路は恒
温器の経路に隣接する終点を持つ。容器のこの段階的前
進は,1次，および２次容器搬送プレートとの協調的移動
により行われ，これら容器搬送プレートは一般的に互い
に平行な平面で移動する。さらに，それぞれのプレート
は，容器が支持的にその凹所に受けられる前方位置と，
容器がプレートの凹所にない後方位置との間を移動する
ように適用される。プレートは協調的に移動するので，
どの与えられる時間にも，少なくともプレートの１つは
その前方位置にあり，容器シャトルの経路に沿うて容器
を支持する。
階的に，すなわち，不連続なステップで，直線経路に沿
って移動するように適用される事が判る。この経路は恒
温器の経路に隣接する終点を持つ。容器のこの段階的前
進は,1次，および２次容器搬送プレートとの協調的移動
により行われ，これら容器搬送プレートは一般的に互い
に平行な平面で移動する。さらに，それぞれのプレート
は，容器が支持的にその凹所に受けられる前方位置と，
容器がプレートの凹所にない後方位置との間を移動する
ように適用される。プレートは協調的に移動するので，
どの与えられる時間にも，少なくともプレートの１つは
その前方位置にあり，容器シャトルの経路に沿うて容器
を支持する。
さらに，図16−19を参照することにより，容器シャト
ルの割り出し移動（上記に述べる移動の全サイクル）の
終わりに,1次および２次の容器搬送プレートは，それら
が移動の開始時にあったのと同一の位置に戻る。換言す
れば,1次および２次の容器搬送プレートは搬送プレート
のネット運動なく，シャトルの経路沿いに容器を移送す
るように，互いに関して協調的に移動する。これはチェ
ーンや移動床などの従来の技術システムと対比され，そ
れは閉じた経路に沿うて移動し，容器とともに経路に沿
うて移動する。
ルの割り出し移動（上記に述べる移動の全サイクル）の
終わりに,1次および２次の容器搬送プレートは，それら
が移動の開始時にあったのと同一の位置に戻る。換言す
れば,1次および２次の容器搬送プレートは搬送プレート
のネット運動なく，シャトルの経路沿いに容器を移送す
るように，互いに関して協調的に移動する。これはチェ
ーンや移動床などの従来の技術システムと対比され，そ
れは閉じた経路に沿うて移動し，容器とともに経路に沿
うて移動する。
容器シャトルは試薬その他の添加のために，検定成分
手段40によりアクセスする位置に容器を保持するように
適用され，反応容器を恒温器に移動，または，それから
離し，廃物容器を廃物シュートに捨てる（下記に説
明）。発明の容器シャトルの１つの特に有利な側面は，
容器シャトルは１つの移動で，検定成分搬送手段により
アクセスのために新容器を位置させ，容器を恒温器に乗
せ，恒温器の消費容器を捨てることができることであ
る。これは１つの装置に２ないし３の異なる機構によ
り，通常，実施される機能を組み合わせ，装置全体を単
純化し，システムの信頼性を増し，システム保全用の停
止時間を減じる。
手段40によりアクセスする位置に容器を保持するように
適用され，反応容器を恒温器に移動，または，それから
離し，廃物容器を廃物シュートに捨てる（下記に説
明）。発明の容器シャトルの１つの特に有利な側面は，
容器シャトルは１つの移動で，検定成分搬送手段により
アクセスのために新容器を位置させ，容器を恒温器に乗
せ，恒温器の消費容器を捨てることができることであ
る。これは１つの装置に２ないし３の異なる機構によ
り，通常，実施される機能を組み合わせ，装置全体を単
純化し，システムの信頼性を増し，システム保全用の停
止時間を減じる。
上記のように，ある検定プロトコルは“２段階”処理
を必要とし，それは最初の温置ならびに洗浄工程後に２
次の試薬セットの添加を必要とする。恒温器50からの容
器の除去，および,2次段階の試薬の添加のために，それ
を容器シャトル210に引っ込める工程は，本質的に，恒
温器に容器を移送するための上記に概説する工程の逆で
ある。特に，本質的に，図17−19に図示する同一移動が
行われるが，逆方向であり，逆の順序である。
を必要とし，それは最初の温置ならびに洗浄工程後に２
次の試薬セットの添加を必要とする。恒温器50からの容
器の除去，および,2次段階の試薬の添加のために，それ
を容器シャトル210に引っ込める工程は，本質的に，恒
温器に容器を移送するための上記に概説する工程の逆で
ある。特に，本質的に，図17−19に図示する同一移動が
行われるが，逆方向であり，逆の順序である。
従って，恒温器からの容器の除去で,1次容器搬送ビー
ム270は後方に引っ込められ，横方向に（図16−19では
右に）進められ，次に前方に移動される。これは１次容
器搬送ビームの最も外側の容器の受入れ凹所274D内の温
置移送ステーションの恒温器に容器を置く。２次容器搬
送ビーム320は次に，後方に（図18に示す運動の反対）
に引っ込められる。これは１次容器搬送ビーム270を横
方向に引っ込めさせ,2次容器搬送ビー320は図16に示さ
れる位置に前進させられる。
ム270は後方に引っ込められ，横方向に（図16−19では
右に）進められ，次に前方に移動される。これは１次容
器搬送ビームの最も外側の容器の受入れ凹所274D内の温
置移送ステーションの恒温器に容器を置く。２次容器搬
送ビーム320は次に，後方に（図18に示す運動の反対）
に引っ込められる。これは１次容器搬送ビーム270を横
方向に引っ込めさせ,2次容器搬送ビー320は図16に示さ
れる位置に前進させられる。
このように１次容器搬送ビーム320は図14のｘ軸沿う
て前方，後方にのみ移動し,1次容器搬送ビーム270は一
般的に直線経路に沿うて直線的に移動する。１次容器搬
送ビームは，上記のように，恒温器に容器を進めるには
反時計方向に移動し，容器の引っ込めには,1次容器搬送
ビームは一般的に，この同一直線経路に沿うて時計方向
に移動する。
て前方，後方にのみ移動し,1次容器搬送ビーム270は一
般的に直線経路に沿うて直線的に移動する。１次容器搬
送ビームは，上記のように，恒温器に容器を進めるには
反時計方向に移動し，容器の引っ込めには,1次容器搬送
ビームは一般的に，この同一直線経路に沿うて時計方向
に移動する。
恒温器50は恒温器ベルト54を有し，それは１以上の反
応容器を事前決定の経路58に沿い，ある方向へ移送する
ように設計されている。図１の概略説明は恒温器の円周
に沿った反応容器のみを示しており，恒温器は，その円
周全体にに沿って容器を運ぶように適用されるのが望ま
しい。反応容器は恒温器内で共に移動のために適用され
るが，それらは比較的に容易にベルトに置かれ，あるい
は，ベルトから除去される。図３−９に関する以下に述
べる１つの提起具体化例で，ベルト54は解除可能に受
け，それとの移動のために各容器と嵌合する。
応容器を事前決定の経路58に沿い，ある方向へ移送する
ように設計されている。図１の概略説明は恒温器の円周
に沿った反応容器のみを示しており，恒温器は，その円
周全体にに沿って容器を運ぶように適用されるのが望ま
しい。反応容器は恒温器内で共に移動のために適用され
るが，それらは比較的に容易にベルトに置かれ，あるい
は，ベルトから除去される。図３−９に関する以下に述
べる１つの提起具体化例で，ベルト54は解除可能に受
け，それとの移動のために各容器と嵌合する。
恒温器は恒温器経路58を限定するために互いに空間を
置いて離れている１対の平行壁56を含むハウジングを持
っている。恒温器はまた，反応用器52の底部を支持する
床57および温度制御用の手段をを含む。恒温器は試験結
果の再現を保証し，反応運動を最適にするために均一な
高温で保持されるのが望ましい。できれば，反応容器内
の反応混合物の温度は約37℃±１℃に維持する。提起の
具体化例では，恒温器の平行壁56は希望の温度に維持さ
れ，反応容器とその内容物を対流で加熱する。これらの
壁長さ沿いの温度の均一性の保証のため，迅速に熱を伝
導する材料で形成されねばならず，アルミニウムが特に
好まれる。サンプル液または試薬を反応容器に分配する
前に，検定成分搬送手段のプローブを用いて予熱すれ
ば，均一温度の反応容器内での維持を確認する助けとな
る。
置いて離れている１対の平行壁56を含むハウジングを持
っている。恒温器はまた，反応用器52の底部を支持する
床57および温度制御用の手段をを含む。恒温器は試験結
果の再現を保証し，反応運動を最適にするために均一な
高温で保持されるのが望ましい。できれば，反応容器内
の反応混合物の温度は約37℃±１℃に維持する。提起の
具体化例では，恒温器の平行壁56は希望の温度に維持さ
れ，反応容器とその内容物を対流で加熱する。これらの
壁長さ沿いの温度の均一性の保証のため，迅速に熱を伝
導する材料で形成されねばならず，アルミニウムが特に
好まれる。サンプル液または試薬を反応容器に分配する
前に，検定成分搬送手段のプローブを用いて予熱すれ
ば，均一温度の反応容器内での維持を確認する助けとな
る。
図２に54として示される恒温器ベルトは恒温器の床57
の上に一般的に配置される位置で，温置経路58の全長沿
いに伸びる細長いエンドレス・ベルト62より成る。この
テープはそれが温置経路の隅部の周りを走るようにフレ
キシブルでなければならない。テープはその長さ沿いに
一連の間隔を空けたキャリヤー64を持つように適用され
る。各キャリヤーはテープ62にキャリヤーを接続するた
めのコネクター66を持っている。キャリヤーは除去可能
にテープに取り付けできるので，恒温器ベルト54全体を
交換しないで容易に交換できる。
の上に一般的に配置される位置で，温置経路58の全長沿
いに伸びる細長いエンドレス・ベルト62より成る。この
テープはそれが温置経路の隅部の周りを走るようにフレ
キシブルでなければならない。テープはその長さ沿いに
一連の間隔を空けたキャリヤー64を持つように適用され
る。各キャリヤーはテープ62にキャリヤーを接続するた
めのコネクター66を持っている。キャリヤーは除去可能
にテープに取り付けできるので，恒温器ベルト54全体を
交換しないで容易に交換できる。
キャリヤー64はまた，コネクター66から下方にぶら下
がる１対の間隔を空けた平行のフィンガー68を持ってい
る。これらのフィンガーは互いに離れて空間を持ち，そ
の距離は反応容器52の幅より少しばかり大きく，不当な
抵抗なくフィンガー間を反応容器が通過することができ
る。しかし，フィンガー間のスペースは大き過ぎてはい
けない。と言うのは，フィンガーは一般に反応容器の垂
直支持を，図示のように，助けるように位置されるから
である。恒温器の平行壁56は反応容器に追加支持を与え
るために同様にスペースを空けるのが望ましい。各反応
容器52は恒温器の床57の上に置かれ，恒温器ベルト・キ
ャリアーの平行フィインガー68と平行壁56は，それが恒
温器経路沿いに移動するにつれて，一般に垂直位置に容
器を支持する。
がる１対の間隔を空けた平行のフィンガー68を持ってい
る。これらのフィンガーは互いに離れて空間を持ち，そ
の距離は反応容器52の幅より少しばかり大きく，不当な
抵抗なくフィンガー間を反応容器が通過することができ
る。しかし，フィンガー間のスペースは大き過ぎてはい
けない。と言うのは，フィンガーは一般に反応容器の垂
直支持を，図示のように，助けるように位置されるから
である。恒温器の平行壁56は反応容器に追加支持を与え
るために同様にスペースを空けるのが望ましい。各反応
容器52は恒温器の床57の上に置かれ，恒温器ベルト・キ
ャリアーの平行フィインガー68と平行壁56は，それが恒
温器経路沿いに移動するにつれて，一般に垂直位置に容
器を支持する。
恒温器ベルトのキャリヤー68は隣接キャリヤー66の隣
接フィンガー68間にスペース65を形成するように，テー
プ62の長さ沿いに互いに離してスペースを空けるのが望
ましい。このスペース65は反応容器がその進行を妨げら
れることなく，自由に通過できるように十分に広くなけ
ればならないが，キャリヤー・フィンガーが反応容器を
一般に垂直位置に支持できるように十分に狭くなければ
ならない。これらのスペース65は “空”位置と呼ばれベルト全長沿いのキャリヤー位置に
関して交互に位置することが望ましい。
接フィンガー68間にスペース65を形成するように，テー
プ62の長さ沿いに互いに離してスペースを空けるのが望
ましい。このスペース65は反応容器がその進行を妨げら
れることなく，自由に通過できるように十分に広くなけ
ればならないが，キャリヤー・フィンガーが反応容器を
一般に垂直位置に支持できるように十分に狭くなければ
ならない。これらのスペース65は “空”位置と呼ばれベルト全長沿いのキャリヤー位置に
関して交互に位置することが望ましい。
この発明の分析器のもう一つの検定リソースは，洗浄
ステーション100である。上記のように，提起具体化例
で，洗浄ステーションおよび読み出しステーションは，
それぞれ，反応容器が事前決定経路沿いに移送されるよ
うな方法で分析器内に位置され，事前決定位置で，その
経路沿いに，反応容器は洗浄ステーションおよび／また
は読み出しステーションにより影響を受ける。図４に示
すように，反応容器は回転要素102により，この事前決
定経路101沿いに移送され，それは洗浄ホイールと呼ば
れる。洗浄ホイール（図３）は反応容器の底部の支持用
床104,容器の直径的に反対側の支持用の空間を取ったフ
ィンガーおよび容器の他の反対側の支持用平行壁108を
含む。恒温器内のように，壁は，望むならば，本質的に
一定の高温に維持のために加熱される。
ステーション100である。上記のように，提起具体化例
で，洗浄ステーションおよび読み出しステーションは，
それぞれ，反応容器が事前決定経路沿いに移送されるよ
うな方法で分析器内に位置され，事前決定位置で，その
経路沿いに，反応容器は洗浄ステーションおよび／また
は読み出しステーションにより影響を受ける。図４に示
すように，反応容器は回転要素102により，この事前決
定経路101沿いに移送され，それは洗浄ホイールと呼ば
れる。洗浄ホイール（図３）は反応容器の底部の支持用
床104,容器の直径的に反対側の支持用の空間を取ったフ
ィンガーおよび容器の他の反対側の支持用平行壁108を
含む。恒温器内のように，壁は，望むならば，本質的に
一定の高温に維持のために加熱される。
ベルト沿いに交互位置でのみで受けるように適用され
る恒温器ベルトとは異なり，洗浄ホイールはその経路沿
いの各セットのフィンガー間に容器を受けるように適用
されるのが望ましい。これは恒温器ベルトの長さ沿いに
用いられるような不均一スペーシング・フォーマットを
用いるよりもむしろ，洗浄ホイール経路沿いにフィンガ
ー103間に等しいスペーシングを与えることにより行わ
れる。さらに，恒温器ベルトのフィンガー68は下方にぶ
ら下がるが，洗浄ホイールのフィンガー103は床104に取
り付けられ，一般的に下方に垂直に伸びる。床とフィン
ガーは洗浄ホイール経路沿いに容器を移動させるために
一緒に移動するように適用される。これはホイールの回
転につれフィンガーが動くようにホイール上の適所に固
定される床により行われる。その代わりに，床はホイー
ルとは別に動かすことが可能で，ホイールは適所に固定
するのが望ましく，フィンガーは，それが動くときに，
フィンガーにより運ばれる反応容器が経路沿いに移送さ
れるように,.床に取り付けることができる。床104はそ
れが複雑な経路に追従できるようにフレキシブルで，提
起の具体化例で，洗浄ホイールは円形で，床は丈夫な環
状リングである。そのように希望するなら，上方に伸び
るフィンガー103は床104と一体成形される。
る恒温器ベルトとは異なり，洗浄ホイールはその経路沿
いの各セットのフィンガー間に容器を受けるように適用
されるのが望ましい。これは恒温器ベルトの長さ沿いに
用いられるような不均一スペーシング・フォーマットを
用いるよりもむしろ，洗浄ホイール経路沿いにフィンガ
ー103間に等しいスペーシングを与えることにより行わ
れる。さらに，恒温器ベルトのフィンガー68は下方にぶ
ら下がるが，洗浄ホイールのフィンガー103は床104に取
り付けられ，一般的に下方に垂直に伸びる。床とフィン
ガーは洗浄ホイール経路沿いに容器を移動させるために
一緒に移動するように適用される。これはホイールの回
転につれフィンガーが動くようにホイール上の適所に固
定される床により行われる。その代わりに，床はホイー
ルとは別に動かすことが可能で，ホイールは適所に固定
するのが望ましく，フィンガーは，それが動くときに，
フィンガーにより運ばれる反応容器が経路沿いに移送さ
れるように,.床に取り付けることができる。床104はそ
れが複雑な経路に追従できるようにフレキシブルで，提
起の具体化例で，洗浄ホイールは円形で，床は丈夫な環
状リングである。そのように希望するなら，上方に伸び
るフィンガー103は床104と一体成形される。
発明の特定提起の具体化例で，発明の分析器は反応容
器を２つの移送機構間に動かす新しい方法を含んでい
る。この具体化例で，移送機構は洗浄ホイールおよび温
置経路沿いに反応容器を移動するのに適用される移送手
段である。できれば，洗浄ホイール経路と温置経路は２
つの移送ステーションで交差するのが良い。図３は１次
洗浄移送ステーション80の１部分をカットした図であ
る。この移送ステーションで，恒温器ベルト54と洗浄ホ
イール経路101は重なり，容器を恒温器から洗浄ホイー
ルへ移送させる。図３に示すように，容器が移送準備完
了のときは，洗浄ホイールは１対の洗浄ホイール・フィ
ンガー103が恒温器の床57の反対側に隣接して，一般的
には恒温器の１キャリヤー66の２つのフィンガー68の間
に，配置されるように恒温器ベルトに関して位置され
る。
器を２つの移送機構間に動かす新しい方法を含んでい
る。この具体化例で，移送機構は洗浄ホイールおよび温
置経路沿いに反応容器を移動するのに適用される移送手
段である。できれば，洗浄ホイール経路と温置経路は２
つの移送ステーションで交差するのが良い。図３は１次
洗浄移送ステーション80の１部分をカットした図であ
る。この移送ステーションで，恒温器ベルト54と洗浄ホ
イール経路101は重なり，容器を恒温器から洗浄ホイー
ルへ移送させる。図３に示すように，容器が移送準備完
了のときは，洗浄ホイールは１対の洗浄ホイール・フィ
ンガー103が恒温器の床57の反対側に隣接して，一般的
には恒温器の１キャリヤー66の２つのフィンガー68の間
に，配置されるように恒温器ベルトに関して位置され
る。
恒温器の壁56は洗浄ホイール経路と恒温器経路の重な
りを見せるために，この視図では切り取られていること
に気をつけねばならない。実際には，洗浄ホイール・フ
ィンガーが通る壁56の隙間は洗浄ホイールの床より僅か
に大きいだけである。これは恒温器の容器の反対側を，
それが温置経路沿いに洗浄ホイール床に移動するにつれ
て，恒温器の壁56または洗浄ホイールのフィンガー103
により連続的に支持させる。
りを見せるために，この視図では切り取られていること
に気をつけねばならない。実際には，洗浄ホイール・フ
ィンガーが通る壁56の隙間は洗浄ホイールの床より僅か
に大きいだけである。これは恒温器の容器の反対側を，
それが温置経路沿いに洗浄ホイール床に移動するにつれ
て，恒温器の壁56または洗浄ホイールのフィンガー103
により連続的に支持させる。
上記のように，示される具体化例では，読み出し，お
よび洗浄ステーションはともに洗浄ホイールのエンドレ
ス経路沿いに位置し，洗浄および読み出しステーション
は装置のどこかに，それぞれ位置する。例えば，洗浄ス
テーションは１つのホイールの隣に位置し，読み出しス
テーションは２次ホイールの隣に別個に位置する。恒温
器ベルト54により移送される反応容器は洗浄および読み
出しステーションに，容器を１つのベルトから上げ，そ
れを別のベルトに置くような既知の手段で別個のホイー
ルで移送することが出来る。
よび洗浄ステーションはともに洗浄ホイールのエンドレ
ス経路沿いに位置し，洗浄および読み出しステーション
は装置のどこかに，それぞれ位置する。例えば，洗浄ス
テーションは１つのホイールの隣に位置し，読み出しス
テーションは２次ホイールの隣に別個に位置する。恒温
器ベルト54により移送される反応容器は洗浄および読み
出しステーションに，容器を１つのベルトから上げ，そ
れを別のベルトに置くような既知の手段で別個のホイー
ルで移送することが出来る。
示される提起具体化例で，両ステーションは１つの経
路およびホイール上に位置し，従って，検定中に必要な
移送数を減じる。
路およびホイール上に位置し，従って，検定中に必要な
移送数を減じる。
図３および４を参照して，恒温器ベルトに検定成分を
入れている反応容器52がその温置を完了しているとき
に，容器は洗浄ホイールへの移送のために位置してい
る。恒温器ベルト54を移動すると１次洗浄移送ステーシ
ョン80に容器を搬送するキャリヤー64を位置付けする。
これは容器を洗浄ホイールの２つの平行フィンガー103
の間および洗浄ホイールの床104に配置する。洗浄ホイ
ールの床104は１次洗浄移送ステーションを通って容器
を円滑に通過させるために恒温器の床57と整列すること
が望ましい。
入れている反応容器52がその温置を完了しているとき
に，容器は洗浄ホイールへの移送のために位置してい
る。恒温器ベルト54を移動すると１次洗浄移送ステーシ
ョン80に容器を搬送するキャリヤー64を位置付けする。
これは容器を洗浄ホイールの２つの平行フィンガー103
の間および洗浄ホイールの床104に配置する。洗浄ホイ
ールの床104は１次洗浄移送ステーションを通って容器
を円滑に通過させるために恒温器の床57と整列すること
が望ましい。
洗浄ホイールは次いで図５に示される位置に，前方に
１位置だけ割り出される（図４−８に示すように時計方
向に動かされる）。洗浄ホイールのフィンガー103は一
般的に１次洗浄移送ステーションのキャリヤーのフィン
ガーに垂直方向を取り，容器はキャリヤーに残るより
も，むしろ洗浄ホイールとともに移動し，そのために恒
温器を出て洗浄ホイールに移送される。これは１次洗浄
移送ステーションのキャリヤーを空に残す。
１位置だけ割り出される（図４−８に示すように時計方
向に動かされる）。洗浄ホイールのフィンガー103は一
般的に１次洗浄移送ステーションのキャリヤーのフィン
ガーに垂直方向を取り，容器はキャリヤーに残るより
も，むしろ洗浄ホイールとともに移動し，そのために恒
温器を出て洗浄ホイールに移送される。これは１次洗浄
移送ステーションのキャリヤーを空に残す。
試験が完了するサンプルを入れている反応容器52'と
ステーション30で測定される検出可能な信号が分析器か
らの取り出し準備を行う。容器は図４に示すように１次
洗浄移送ステーションの直前の洗浄ホイールの位置に移
動される。洗浄ホイールが恒温器ベルトから反応容器52
を移動するように割り出しを行うとき，使用済み反応容
器52'は他の反応容器52により前もって占有された位置
に，また恒温器ベルトの空のキャリヤーに移動する。
ステーション30で測定される検出可能な信号が分析器か
らの取り出し準備を行う。容器は図４に示すように１次
洗浄移送ステーションの直前の洗浄ホイールの位置に移
動される。洗浄ホイールが恒温器ベルトから反応容器52
を移動するように割り出しを行うとき，使用済み反応容
器52'は他の反応容器52により前もって占有された位置
に，また恒温器ベルトの空のキャリヤーに移動する。
図６に示すように，恒温器ベルトは次にベルトの空位
置65が移送ステーションに位置するまで，前方に割り出
される。使用済み反応容器が恒温器ベルトに移送された
後，それは恒温器ベルトにより容器トランスポートへの
移送のために，恒温器移送ステーションに運ばれる。容
器トランスポートは次いで廃物シュートを経て容器を処
分する。
置65が移送ステーションに位置するまで，前方に割り出
される。使用済み反応容器が恒温器ベルトに移送された
後，それは恒温器ベルトにより容器トランスポートへの
移送のために，恒温器移送ステーションに運ばれる。容
器トランスポートは次いで廃物シュートを経て容器を処
分する。
上記に説明の通り，発明の最初の具体化例は，容器を
恒温器に乗せ降ろしするのにチェーン70を使用してい
る。容器チェーン70は新容器を恒温器ベルトに乗せるた
めに前方に２位置動かし，使用済み容器52'は容器チェ
ーンに移送される。容器チェーンは前後に動かされ，使
用済み反応容器は廃物シュート162に隣接する位置に移
送される。この廃物シュートは廃物収集コンテナー164
に導き，そこで多数の使用済み容器は以後の処分のため
に積まれる。この廃物収集コンテナーは希望の形として
良いが，医薬廃棄物用に一般に使用される形式にするこ
とが望まれる。できれは，容器は消費反応容器をコンテ
ナーに入れさせ，一方では偶発的な容器の引っ込み，外
れを防止する手段を有するのが望ましい。使用済み容器
は容器チェーンからシュート162に図１に示す回転式木
戸166などの別の機構により放出される。
恒温器に乗せ降ろしするのにチェーン70を使用してい
る。容器チェーン70は新容器を恒温器ベルトに乗せるた
めに前方に２位置動かし，使用済み容器52'は容器チェ
ーンに移送される。容器チェーンは前後に動かされ，使
用済み反応容器は廃物シュート162に隣接する位置に移
送される。この廃物シュートは廃物収集コンテナー164
に導き，そこで多数の使用済み容器は以後の処分のため
に積まれる。この廃物収集コンテナーは希望の形として
良いが，医薬廃棄物用に一般に使用される形式にするこ
とが望まれる。できれは，容器は消費反応容器をコンテ
ナーに入れさせ，一方では偶発的な容器の引っ込み，外
れを防止する手段を有するのが望ましい。使用済み容器
は容器チェーンからシュート162に図１に示す回転式木
戸166などの別の機構により放出される。
図13−20に示す別の具体化例で，容器トランスポート
は上記に詳述するように，容器シュート210から成る。
前の具体化例の容器チェーン70が使用されるとき，チェ
ーンは温置経路のどちらかの側に配置されるフィンガー
71を持つことにより恒温器の両側の壁として役立つ。こ
の具体化例の廃物シュートは容器シャトル210の反対位
置の恒温器の経路に隣接して位置する。けれども，容器
シャトルは恒温器ベルト54が移動中のときは，恒温器ベ
ルトの反対側に伸びるフィンガーを持たない。ある構造
が容器シャトルの反対側に具備されねば，容器は正常運
転中に恒温器から落ち，廃物シュート162に落下するこ
とがある。
は上記に詳述するように，容器シュート210から成る。
前の具体化例の容器チェーン70が使用されるとき，チェ
ーンは温置経路のどちらかの側に配置されるフィンガー
71を持つことにより恒温器の両側の壁として役立つ。こ
の具体化例の廃物シュートは容器シャトル210の反対位
置の恒温器の経路に隣接して位置する。けれども，容器
シャトルは恒温器ベルト54が移動中のときは，恒温器ベ
ルトの反対側に伸びるフィンガーを持たない。ある構造
が容器シャトルの反対側に具備されねば，容器は正常運
転中に恒温器から落ち，廃物シュート162に落下するこ
とがある。
それ故，この具体化例の容器トランスポートはまた，
図13,20および21に示される廃物シュート・ゲート350を
含んでいる。ここに述べる廃物シュート・ゲート350は
分析器のどこかのゲート機構としての使用のために適用
される。廃物シュート・ゲートは細長い作動アーム370
によりヒンジ手段360に取り付けられるドア352を持って
いる。図13および20に最も良く見えるように，ドア352
がその正常位置にあるとき，それは温置経路に隣接した
位置にある。廃物シュート162の開放は恒温器の壁56の
隙間を限定し，ドア352は普通，この隙間にブリッジす
る位置にバイアスされ，十分に充実した壁を示し，恒温
器の容器52が恒温器から落下するのを防止する。
図13,20および21に示される廃物シュート・ゲート350を
含んでいる。ここに述べる廃物シュート・ゲート350は
分析器のどこかのゲート機構としての使用のために適用
される。廃物シュート・ゲートは細長い作動アーム370
によりヒンジ手段360に取り付けられるドア352を持って
いる。図13および20に最も良く見えるように，ドア352
がその正常位置にあるとき，それは温置経路に隣接した
位置にある。廃物シュート162の開放は恒温器の壁56の
隙間を限定し，ドア352は普通，この隙間にブリッジす
る位置にバイアスされ，十分に充実した壁を示し，恒温
器の容器52が恒温器から落下するのを防止する。
消費容器52'が処分のために恒温器から廃物シュート1
62に放出されようとするとき，それは恒温器移送ステー
ション160に位置する。この移送ステーション60は容器
シャトルの経路端の容器シャトル210のすぐ隣に，廃物
シュートのすぐ隣の恒温器経路に沿うて存在する。１次
容器搬送ビーム270は新容器装填のために恒温器経路に
移動され，そのビームの最も外側のフィンガー272はビ
ームのリーディング・エッジを限定し，恒温器移送ステ
ーション160を通過する。その実施に当たって,1次容器
搬送ビームは図17および18に示されるように，キャリヤ
ー64のフィンガー68の下を通過し，容器ビームと恒温器
ベルトのキャリヤーとの接触を回避する。１次ビーム27
0がそのように動くときフィンガーは恒温器移送ステー
ション160の容器に対して接触し，それを廃物シュート
・ゲートのドア352に対して押しやる。
62に放出されようとするとき，それは恒温器移送ステー
ション160に位置する。この移送ステーション60は容器
シャトルの経路端の容器シャトル210のすぐ隣に，廃物
シュートのすぐ隣の恒温器経路に沿うて存在する。１次
容器搬送ビーム270は新容器装填のために恒温器経路に
移動され，そのビームの最も外側のフィンガー272はビ
ームのリーディング・エッジを限定し，恒温器移送ステ
ーション160を通過する。その実施に当たって,1次容器
搬送ビームは図17および18に示されるように，キャリヤ
ー64のフィンガー68の下を通過し，容器ビームと恒温器
ベルトのキャリヤーとの接触を回避する。１次ビーム27
0がそのように動くときフィンガーは恒温器移送ステー
ション160の容器に対して接触し，それを廃物シュート
・ゲートのドア352に対して押しやる。
図21に示すように，廃物シュート・ゲート350はピボ
ット・ピン362およびバイアシング・スプリング364を持
つヒンジ360の周りに回転する。バイアシング・スプリ
ング364はまた，ゲートのアーム370のストップ・ピン37
2に対して働き，ゲートをその閉位置に押しやり，そこ
で，それはゲート・ストップ3??に接触する（図13およ
び20に図示）。１次容器搬送ビーム270が容器を恒温器
移送ステーション160をドア252に対して押しやる時，こ
の容器は，容器により掛かる力がヒンジ手段360から外
向き半径方向にスペースを作るので，ドアを開かせる。
ゲート250が消費容器の押しに応じて回転するとき（図2
0で時計方向），ドアは図13および20に示す位置に回転
し容器を廃物シュートに通す。
ット・ピン362およびバイアシング・スプリング364を持
つヒンジ360の周りに回転する。バイアシング・スプリ
ング364はまた，ゲートのアーム370のストップ・ピン37
2に対して働き，ゲートをその閉位置に押しやり，そこ
で，それはゲート・ストップ3??に接触する（図13およ
び20に図示）。１次容器搬送ビーム270が容器を恒温器
移送ステーション160をドア252に対して押しやる時，こ
の容器は，容器により掛かる力がヒンジ手段360から外
向き半径方向にスペースを作るので，ドアを開かせる。
ゲート250が消費容器の押しに応じて回転するとき（図2
0で時計方向），ドアは図13および20に示す位置に回転
し容器を廃物シュートに通す。
これはドアを廃物シュートに内向きに振るというより
恒温器の経路に一般的に平行な方向に移動する。ドアが
廃物シュートの入口の恒温器移送ステーション160のす
ぐ隣りある点の周りに回転する場合のように，ドアが廃
物シュートに内向きに振る必要があれば，消費容器はド
アがもう一度振って閉まる隙間を作るために十分離れて
廃物シュート沿いに移動しなければならない。一般的
に，恒温器経路に平行に，すなわち，一般的に，廃物シ
ュートに垂直に，ドアを移動させることにより，ドアが
その正常の閉位置に回って戻らせる前に，容器はドアの
厚さをクリアすればよいだけである。
恒温器の経路に一般的に平行な方向に移動する。ドアが
廃物シュートの入口の恒温器移送ステーション160のす
ぐ隣りある点の周りに回転する場合のように，ドアが廃
物シュートに内向きに振る必要があれば，消費容器はド
アがもう一度振って閉まる隙間を作るために十分離れて
廃物シュート沿いに移動しなければならない。一般的
に，恒温器経路に平行に，すなわち，一般的に，廃物シ
ュートに垂直に，ドアを移動させることにより，ドアが
その正常の閉位置に回って戻らせる前に，容器はドアの
厚さをクリアすればよいだけである。
発明のこの具体化例に準拠するドア352の移動によ
り，単一の消費容器52'が廃物シュートを通過するのに
十分なだけドアを開くことができる。ドアの隙間を作る
ために容器がシュートのずっと下方に移動する必要があ
れば，消費容器はドアを閉めるのに十分なようにシュー
トの下方を移動して，恒温器50の作動を妨げることはな
い。
り，単一の消費容器52'が廃物シュートを通過するのに
十分なだけドアを開くことができる。ドアの隙間を作る
ために容器がシュートのずっと下方に移動する必要があ
れば，消費容器はドアを閉めるのに十分なようにシュー
トの下方を移動して，恒温器50の作動を妨げることはな
い。
新たに追加される消費容器は，次いで，容器の列を廃
物シュート162沿いに押し，最後の容器を廃棄物コンテ
ナーに処理のために放出する。提起の具体化例で，容器
が廃物シュート沿いに，廃棄物コンテナーに強制投棄さ
れるまで，保持されるように廃棄物コンテナーに隣接の
端部に，廃物シュートは弾性タブまたは同等品（図示な
し）などの抑制手段を含む。これは容器に廃物シュート
沿いに互いに支持させ，容器が突発的に分析器上に落下
したり，内容物をこぼしたりすることを防止する。一
旦，消費容器が廃物シュート162に加えられると，廃物
シュート・ゲートはヒンジ手段のスプリング364のバイ
アス（かたより）力に応じて再度閉じる（図13および20
に示す位置に戻る）。
物シュート162沿いに押し，最後の容器を廃棄物コンテ
ナーに処理のために放出する。提起の具体化例で，容器
が廃物シュート沿いに，廃棄物コンテナーに強制投棄さ
れるまで，保持されるように廃棄物コンテナーに隣接の
端部に，廃物シュートは弾性タブまたは同等品（図示な
し）などの抑制手段を含む。これは容器に廃物シュート
沿いに互いに支持させ，容器が突発的に分析器上に落下
したり，内容物をこぼしたりすることを防止する。一
旦，消費容器が廃物シュート162に加えられると，廃物
シュート・ゲートはヒンジ手段のスプリング364のバイ
アス（かたより）力に応じて再度閉じる（図13および20
に示す位置に戻る）。
廃棄物コンテナー164が一杯になると，容器は廃物シ
ュート沿いにバックアップされる。廃物シュート・ゲー
ト350が定位置にないときは，容器は廃物シュート沿い
に押し戻され，恒温器上の容器を追い出すことがある。
しかし，廃物シュート・ゲートの存在は，このことの発
生を防止する。さらに，容器がバックアップとなり，互
いに廃物シュート沿いに押し戻そうとする時は，シュー
トの最初の容器はゲートのドア352の後方に対して押し
やられる。この力が容器シュート210の操作によりシュ
ートに加えられている新容器により起こる力の反対方向
となるので，シュート沿いの余分容器の力は実際上，廃
物シュート・ドアを閉めるのを助け，恒温器沿いに，そ
れらから消費容器を隔離する助けとなる。
ュート沿いにバックアップされる。廃物シュート・ゲー
ト350が定位置にないときは，容器は廃物シュート沿い
に押し戻され，恒温器上の容器を追い出すことがある。
しかし，廃物シュート・ゲートの存在は，このことの発
生を防止する。さらに，容器がバックアップとなり，互
いに廃物シュート沿いに押し戻そうとする時は，シュー
トの最初の容器はゲートのドア352の後方に対して押し
やられる。この力が容器シュート210の操作によりシュ
ートに加えられている新容器により起こる力の反対方向
となるので，シュート沿いの余分容器の力は実際上，廃
物シュート・ドアを閉めるのを助け，恒温器沿いに，そ
れらから消費容器を隔離する助けとなる。
そのように希望するときは，ドア352は本質的に一体
板または同等品となることがある。しかし，その代わり
に１対のフランジを使用するのがよい。１次容器搬送ビ
ーム270が新容器を恒温器に置く位置に移動するとき
は，ビームは恒温器経路を越えて伸びる。ビームのリー
ディング・エッジは，従って，ドア352により占められ
ている位置に伸びる。ドアがビームの途上にあれば，ビ
ーム自体はドアに接触し，それを開こうとする。ドアは
新容器を廃物シュートに追加の必要がある時に，開かね
ばならないので，このことは望ましくない。
板または同等品となることがある。しかし，その代わり
に１対のフランジを使用するのがよい。１次容器搬送ビ
ーム270が新容器を恒温器に置く位置に移動するとき
は，ビームは恒温器経路を越えて伸びる。ビームのリー
ディング・エッジは，従って，ドア352により占められ
ている位置に伸びる。ドアがビームの途上にあれば，ビ
ーム自体はドアに接触し，それを開こうとする。ドアは
新容器を廃物シュートに追加の必要がある時に，開かね
ばならないので，このことは望ましくない。
ドアがいつでも開かれようとする場合，その位置に移
動するビーム270は図17および18に示めされる第２段階
試薬の添加のために恒温器ベルトから容器が引っ込めら
れる時ドアは開き，消費容器が突発的に恒温器に加えら
れたり，恒温器に落下したり，その内容物がこぼれたり
することがある。
動するビーム270は図17および18に示めされる第２段階
試薬の添加のために恒温器ベルトから容器が引っ込めら
れる時ドアは開き，消費容器が突発的に恒温器に加えら
れたり，恒温器に落下したり，その内容物がこぼれたり
することがある。
提起具体化例で，ドアは１次容器搬送ビーム270がド
アに直接に接触することなく自由に移動できるような形
状にする。図14に示される具体化例で，ドアのフランジ
354は共に１次容器搬送ビーム270の最上部の高さの上に
ある。これによりビーム270はドア下を簡単に通過で
き，ドアは容器が恒温器移送ステーションにあるときに
かぎり開き，ビーム270により廃物シュート162の方に押
しやられる。もしそのように希望するときは，ドアはそ
の代わりに，容器搬送ビーム270をそれらの間を通過さ
せるように十分に離してスペースを取ったフランジ付き
の形状にし，ドアとビーム間の直接接触を避けるように
してもよい。
アに直接に接触することなく自由に移動できるような形
状にする。図14に示される具体化例で，ドアのフランジ
354は共に１次容器搬送ビーム270の最上部の高さの上に
ある。これによりビーム270はドア下を簡単に通過で
き，ドアは容器が恒温器移送ステーションにあるときに
かぎり開き，ビーム270により廃物シュート162の方に押
しやられる。もしそのように希望するときは，ドアはそ
の代わりに，容器搬送ビーム270をそれらの間を通過さ
せるように十分に離してスペースを取ったフランジ付き
の形状にし，ドアとビーム間の直接接触を避けるように
してもよい。
再度，図４−８を参照して，洗浄サイクル経路101は
１次洗浄移送ステーション80から２次洗浄移送ステーシ
ヨン120に伸びる。洗浄ステーションは経路101に隣接し
て位置するのが良い。この具体化例の洗浄ステーション
は，反応容器が作用する可能性のある６つの箇所を割り
出す。容器が１次洗浄ステーション80の洗浄ホイールに
移送されると，それはこの具体化例で容器が作用す複数
の位置を含む洗浄サイクルを通じて前方に割り出され
る。提起の具体化例で，洗浄および分離ステップが特定
検定に必要とされるようなことがあれば，反応容器が洗
浄ホイールのすべてのサイクルの中１位置が前方向に割
り出されるにつれて，以下のことが発生する。１次洗浄
移送ステーション80の次の最初の位置で，流体配分手段
（図示なし）が反応容器と容器の内容物に洗浄溶液の事
前決定した量を加える。反応容器は次に，磁性粒子を溶
液から引き出させる洗浄サイクル経路の反対側の壁に取
り付けた１対の磁石（図示なし）を持つ洗浄サイクルの
位置に前方向に割り出される。洗浄サイクルの経路沿い
のこの位置の吸い込み手段（図示なし）は次に反応容器
から流体を引き出す。ここに述べる発明の具体化例で，
反応容器は６位置，洗浄溶液が添加される３位置の合計
を通じて前方に割り出され，混合が３つの磁気分離吸入
位置で交互に起こる。
１次洗浄移送ステーション80から２次洗浄移送ステーシ
ヨン120に伸びる。洗浄ステーションは経路101に隣接し
て位置するのが良い。この具体化例の洗浄ステーション
は，反応容器が作用する可能性のある６つの箇所を割り
出す。容器が１次洗浄ステーション80の洗浄ホイールに
移送されると，それはこの具体化例で容器が作用す複数
の位置を含む洗浄サイクルを通じて前方に割り出され
る。提起の具体化例で，洗浄および分離ステップが特定
検定に必要とされるようなことがあれば，反応容器が洗
浄ホイールのすべてのサイクルの中１位置が前方向に割
り出されるにつれて，以下のことが発生する。１次洗浄
移送ステーション80の次の最初の位置で，流体配分手段
（図示なし）が反応容器と容器の内容物に洗浄溶液の事
前決定した量を加える。反応容器は次に，磁性粒子を溶
液から引き出させる洗浄サイクル経路の反対側の壁に取
り付けた１対の磁石（図示なし）を持つ洗浄サイクルの
位置に前方向に割り出される。洗浄サイクルの経路沿い
のこの位置の吸い込み手段（図示なし）は次に反応容器
から流体を引き出す。ここに述べる発明の具体化例で，
反応容器は６位置，洗浄溶液が添加される３位置の合計
を通じて前方に割り出され，混合が３つの磁気分離吸入
位置で交互に起こる。
この発明で役立つ液体配分手段はその技術で既知のプ
ローブまたピペッティング手段を含んでいる。この具体
化例で，液体配分手段は３つのプローブと管状ピースを
含み，各プローブは液体の事前決定量がそこに配分され
るように，反応容器に下方に向け移動可能である。プロ
ーブは洗浄溶液の出所に取り付けられ，提起具体化例で
は３つのプローブがプローブを下方に同時に動かすキャ
リヤーに取り付けられる。このように，提起の具体化例
では３つの反応容器が同時に洗浄される。この具体化例
の吸入手段は同じように作られている。
ローブまたピペッティング手段を含んでいる。この具体
化例で，液体配分手段は３つのプローブと管状ピースを
含み，各プローブは液体の事前決定量がそこに配分され
るように，反応容器に下方に向け移動可能である。プロ
ーブは洗浄溶液の出所に取り付けられ，提起具体化例で
は３つのプローブがプローブを下方に同時に動かすキャ
リヤーに取り付けられる。このように，提起の具体化例
では３つの反応容器が同時に洗浄される。この具体化例
の吸入手段は同じように作られている。
洗浄溶液が容器に加えられる間に容器の内容物が混合
されるのが望ましい。ここに述べる発明の具体化例で，
混合は容器に降下し，容器の最上部の開口部に開放可能
に取り付けられる回転手段（図示なし）として行われ
る。回転手段は容器を一方向に，次いで他方向に回転
し，洗浄溶液の粒子を懸濁する。他の混合手段は技術界
で良く知られている。例えば，混合器が液体配分手段に
取り付けられ，容器内容物の混合のために回転され，ま
たは液体配分手段は上記のそれのように超音波プローブ
となることがある。
されるのが望ましい。ここに述べる発明の具体化例で，
混合は容器に降下し，容器の最上部の開口部に開放可能
に取り付けられる回転手段（図示なし）として行われ
る。回転手段は容器を一方向に，次いで他方向に回転
し，洗浄溶液の粒子を懸濁する。他の混合手段は技術界
で良く知られている。例えば，混合器が液体配分手段に
取り付けられ，容器内容物の混合のために回転され，ま
たは液体配分手段は上記のそれのように超音波プローブ
となることがある。
図６に示すように，空の位置65が１次洗浄移送ステー
ションにある時は，キャリヤー64が２次洗浄移送ステー
ション120にある。次のサイクル中，洗浄ホイールは１
位置だけ前方（時計方向）に割り出されるので，洗浄さ
れた反応容器52'は２次洗浄移送ステーションの恒温器
ベルト・キャリヤー64に位置する。２次洗浄移送ステー
ションの形状は本質的には１次洗浄移送ステーションに
関して図３に示すものと同じである。従って，容器は洗
浄ホイールを次サイクル中に恒温器ベルトを前方に割り
出すことにより,2次洗浄移送ステーションの恒温器に洗
浄ホイールから戻すことができる。洗浄ホイールの割り
出しと恒温器ベルトは以下に詳細説明される発明の方法
に準じて制御される。
ションにある時は，キャリヤー64が２次洗浄移送ステー
ション120にある。次のサイクル中，洗浄ホイールは１
位置だけ前方（時計方向）に割り出されるので，洗浄さ
れた反応容器52'は２次洗浄移送ステーションの恒温器
ベルト・キャリヤー64に位置する。２次洗浄移送ステー
ションの形状は本質的には１次洗浄移送ステーションに
関して図３に示すものと同じである。従って，容器は洗
浄ホイールを次サイクル中に恒温器ベルトを前方に割り
出すことにより,2次洗浄移送ステーションの恒温器に洗
浄ホイールから戻すことができる。洗浄ホイールの割り
出しと恒温器ベルトは以下に詳細説明される発明の方法
に準じて制御される。
読み出しステーションが物理的に洗浄ステーションか
ら分離される時は，容器は常に２次洗浄移送ステーショ
ンから恒温器ベルトへ，あるいは，反応容器を読み出し
ステーションに移送するベルトまたは搬送装置に，直
接，移送する。本発明の提起具体化例で，読み出しステ
ーションは洗浄ホイール経路沿いに位置され，物理的に
洗浄ホイールと以下説明の通りに統合される。従って，
検定成分を入れている反応容器がすべての必要な温置と
洗浄ステップを完了するときは，図８に示すように，そ
れは洗浄ホイールに残され,2次洗浄移送ステーションを
通って読み出しステーションに進む。これは恒温器ベル
トをホイールが別の割り出しサイクルに行き，もう１位
置だけ進むまで静止状態に保持することにより行われ
る。容器は次に単に洗浄ホイールを離れることなく，移
送ステーションの静止キャリヤーを通るだけである。た
とえ恒温器ベルトが，他の操作の実施のような，洗浄ホ
イールの移動間に移動の必要があっても，洗浄された反
応容器52'を洗浄ホイールが，もう一度割り出しを行う
前に２次洗浄移送ステーションに戻し，再位置決めする
ことにより同一の結果が達成される。
ら分離される時は，容器は常に２次洗浄移送ステーショ
ンから恒温器ベルトへ，あるいは，反応容器を読み出し
ステーションに移送するベルトまたは搬送装置に，直
接，移送する。本発明の提起具体化例で，読み出しステ
ーションは洗浄ホイール経路沿いに位置され，物理的に
洗浄ホイールと以下説明の通りに統合される。従って，
検定成分を入れている反応容器がすべての必要な温置と
洗浄ステップを完了するときは，図８に示すように，そ
れは洗浄ホイールに残され,2次洗浄移送ステーションを
通って読み出しステーションに進む。これは恒温器ベル
トをホイールが別の割り出しサイクルに行き，もう１位
置だけ進むまで静止状態に保持することにより行われ
る。容器は次に単に洗浄ホイールを離れることなく，移
送ステーションの静止キャリヤーを通るだけである。た
とえ恒温器ベルトが，他の操作の実施のような，洗浄ホ
イールの移動間に移動の必要があっても，洗浄された反
応容器52'を洗浄ホイールが，もう一度割り出しを行う
前に２次洗浄移送ステーションに戻し，再位置決めする
ことにより同一の結果が達成される。
前述の通り，ある分析試験では，プロトコルは洗浄段
階を，次に，処理の２次段階前に試薬の添加または希釈
ステップの追加を必要とする。そのような場合に，恒温
器ベルト54は，システムが図７に示される位置にあると
き，洗浄容器52'を恒温器ベルトに移送のために移動さ
れることがある。恒温器ベルトは容器52'を恒温器移送
ステーション160に位置させるために移動されねばなら
ないので，それは容器トランスポート，例えばチェーン
70に，各種試薬の添加のために移送することができる。
空のキャリヤー64は次に，容器が読み出しステーション
に時期尚早に移送されないことを保証のため，洗浄ホイ
ールが前方に割り出しされる前に２次洗浄移送ステーシ
ョンに位置されねばならない。２次洗浄移送ステーショ
ンの恒温器に洗浄して戻されている反応容器を移送する
のが望ましい時期の他の１つの例は，サンプルが洗浄ス
テップ後に洗浄サイクル経路101に沿うて容認されるも
のより長い温置期間を必要とする時である。前に説明の
ように，洗浄ホイールはロック−ステップ状態で移動
し，洗浄または読み出し機能の時間パラメータのかなり
の変動を防止する。
階を，次に，処理の２次段階前に試薬の添加または希釈
ステップの追加を必要とする。そのような場合に，恒温
器ベルト54は，システムが図７に示される位置にあると
き，洗浄容器52'を恒温器ベルトに移送のために移動さ
れることがある。恒温器ベルトは容器52'を恒温器移送
ステーション160に位置させるために移動されねばなら
ないので，それは容器トランスポート，例えばチェーン
70に，各種試薬の添加のために移送することができる。
空のキャリヤー64は次に，容器が読み出しステーション
に時期尚早に移送されないことを保証のため，洗浄ホイ
ールが前方に割り出しされる前に２次洗浄移送ステーシ
ョンに位置されねばならない。２次洗浄移送ステーショ
ンの恒温器に洗浄して戻されている反応容器を移送する
のが望ましい時期の他の１つの例は，サンプルが洗浄ス
テップ後に洗浄サイクル経路101に沿うて容認されるも
のより長い温置期間を必要とする時である。前に説明の
ように，洗浄ホイールはロック−ステップ状態で移動
し，洗浄または読み出し機能の時間パラメータのかなり
の変動を防止する。
反応容器が２次洗浄移送ステーションを通って読み出
しステーションに運ばれる時に，基質添加ステーション
は経路沿いに位置されるので，検定成分に検出可能信号
を与えさせるのに必要な基質が加えられる。検出可能信
号のある形式は基質の添加を必要としない。例えば，分
析器は蛍光または放射能ラベルを検出するように適用さ
れる。提起の分析器では，検出可能信号は化学発光に基
づいている。従って，酵素検定での発光信号の生成用の
基質が添加されねばならない。図１示す提起の分析器で
は，基質が基質ポンプ（図示なし）により反応容器に添
加される。適当な基質がポンプに供給され，ポンプは事
前決定量の基質を反応容器に配分するように適用され
る。
しステーションに運ばれる時に，基質添加ステーション
は経路沿いに位置されるので，検定成分に検出可能信号
を与えさせるのに必要な基質が加えられる。検出可能信
号のある形式は基質の添加を必要としない。例えば，分
析器は蛍光または放射能ラベルを検出するように適用さ
れる。提起の分析器では，検出可能信号は化学発光に基
づいている。従って，酵素検定での発光信号の生成用の
基質が添加されねばならない。図１示す提起の分析器で
は，基質が基質ポンプ（図示なし）により反応容器に添
加される。適当な基質がポンプに供給され，ポンプは事
前決定量の基質を反応容器に配分するように適用され
る。
化学発光信号を作るために基質は，一般に，基質と検
定成分が比較的一定の高温に維持されることを必要とす
る。それ故，読み出しステーションに隣接する洗浄ホイ
ールの部分の壁136が一定高温に維持される事が望まし
い。基質添加ステーションは容器に添加され基質が適温
に加熱されるように，加熱されるプローブなどの基質配
分手段を含むことが望ましい。
定成分が比較的一定の高温に維持されることを必要とす
る。それ故，読み出しステーションに隣接する洗浄ホイ
ールの部分の壁136が一定高温に維持される事が望まし
い。基質添加ステーションは容器に添加され基質が適温
に加熱されるように，加熱されるプローブなどの基質配
分手段を含むことが望ましい。
図に示すように，読み出しステーション130は光線検
出手段140,例えば,1次洗浄移送ステーション80に隣接す
る位置で洗浄ホイール経路沿いに位置する光電子倍増管
より成る。
出手段140,例えば,1次洗浄移送ステーション80に隣接す
る位置で洗浄ホイール経路沿いに位置する光電子倍増管
より成る。
光線検出器は光の特定希望波長を検出するように設計
された光電子倍増管である。検定成分を入れている容器
が光電子倍増管の直ぐ隣の洗浄ホイールにあるときは，
管は発光する光の特定波長を検出するために事前決定期
間，検定成分の発光を監視することが出来る。光電子倍
増管により検出される信号はユーザーにプリント・アウ
トするため，または，さらにコントローラーにより処理
のために，コントローラー200に運ぶのがよい。コント
ローラーは患者サンプルの被検体の当初数量に対する検
定成分の測定発光の相関に関する一連の被検体特定校正
曲線を持つことが望ましい。この信号は次に最終試験結
果として操作員に運ばれる。希望の場合，コントローラ
ーはサンプルにより生成される信号が，検出信号が校正
曲線尺度を外れているときのような，信頼性のある試験
結果を得るには余りに大き過ぎる場合には，患者サンプ
ルを希釈することにより，特定サンプルに希望の試験を
再実施するようにプログラムすることができる。
された光電子倍増管である。検定成分を入れている容器
が光電子倍増管の直ぐ隣の洗浄ホイールにあるときは，
管は発光する光の特定波長を検出するために事前決定期
間，検定成分の発光を監視することが出来る。光電子倍
増管により検出される信号はユーザーにプリント・アウ
トするため，または，さらにコントローラーにより処理
のために，コントローラー200に運ぶのがよい。コント
ローラーは患者サンプルの被検体の当初数量に対する検
定成分の測定発光の相関に関する一連の被検体特定校正
曲線を持つことが望ましい。この信号は次に最終試験結
果として操作員に運ばれる。希望の場合，コントローラ
ーはサンプルにより生成される信号が，検出信号が校正
曲線尺度を外れているときのような，信頼性のある試験
結果を得るには余りに大き過ぎる場合には，患者サンプ
ルを希釈することにより，特定サンプルに希望の試験を
再実施するようにプログラムすることができる。
一旦，反応容器の検定成分が読み出しステーションを
通って移動したら，容器は１次洗浄移送ステーションに
前向きに割り出される。上記に説明するように，容器は
次に恒温ベルトに送られ，それが処分のために容器チェ
ーンに送られる場合は恒温器移送ステーションに移動さ
れる。洗浄ホイールが図８に示すように前向きに３回割
り出されるとその温置を完了した恒温器ベルト上の反応
容器は図４に示すように１次洗浄移送ステーションに位
置される。恒温器ベルトのこの最終移動は恒温器の１つ
の全割り出しサイクルを完了する。これと同じ時間期間
中に，洗浄ホイールは３回前向きに割り出され，すなわ
ち,3つの割り出しサイクルを完了する。
通って移動したら，容器は１次洗浄移送ステーションに
前向きに割り出される。上記に説明するように，容器は
次に恒温ベルトに送られ，それが処分のために容器チェ
ーンに送られる場合は恒温器移送ステーションに移動さ
れる。洗浄ホイールが図８に示すように前向きに３回割
り出されるとその温置を完了した恒温器ベルト上の反応
容器は図４に示すように１次洗浄移送ステーションに位
置される。恒温器ベルトのこの最終移動は恒温器の１つ
の全割り出しサイクルを完了する。これと同じ時間期間
中に，洗浄ホイールは３回前向きに割り出され，すなわ
ち,3つの割り出しサイクルを完了する。
この発明の自動的に分析されるサンプルの新しい方法
では，検定成分を入れている唯一の反応容器が恒温器の
割り出しサイクル中に恒温器から洗浄ホイールに移送さ
れる。従って,1つの反応容器は洗浄ホイールの３番目ご
との位置に置かれ，介入ホイール位置は出来れば空のま
まにするのがよい。次に，これは分析器の，ある幾何学
的空間条件を指図する。
では，検定成分を入れている唯一の反応容器が恒温器の
割り出しサイクル中に恒温器から洗浄ホイールに移送さ
れる。従って,1つの反応容器は洗浄ホイールの３番目ご
との位置に置かれ，介入ホイール位置は出来れば空のま
まにするのがよい。次に，これは分析器の，ある幾何学
的空間条件を指図する。
恒温器は１次および２次の洗浄移送ステーション間の
温置経路沿いの距離が恒温器ベルト沿いの奇数の位置に
等しくなるような形状にしなければならない。別言すれ
ば，恒温器ベルトの１ピッチが１つのキャリヤーと次の
隣接キャリヤー間の距離と定義される場合は,1次および
２次移送ステーション間の距離はｍ＋1/2ピッチとなら
ねばならない。ここにｍは整数である。これは，空の位
置65が１次洗浄移送シテーションにある時はいつでも，
キャリヤーは２次洗浄移送ステーションに位置すること
を保証する。このが逆も真である。これは洗浄ホイール
が，上記に述べるように，容器を恒温器から洗浄ホイー
ル経路へ時期尚早に運ぶことなく，また，偶発的に容器
を恒温器から読み出しステーションへ導く洗浄ホイール
経路へ移送することなく，移動することを可能にする。
スペーシングが異なる場合は，洗浄ホイールまたは恒温
器ベルトは適正時間に洗浄移送ステーションで適正に整
列不能となり,1または，その他の移動を妨げる。代案と
して，装置はキャリヤー64を機械的に，同一時間で両方
の移送ステーションに位置させることが可能であるが，
それは，すべてのキャリヤーが温置のために容器を運ぶ
ときに得られる資源利用の最大化を妨げる。
温置経路沿いの距離が恒温器ベルト沿いの奇数の位置に
等しくなるような形状にしなければならない。別言すれ
ば，恒温器ベルトの１ピッチが１つのキャリヤーと次の
隣接キャリヤー間の距離と定義される場合は,1次および
２次移送ステーション間の距離はｍ＋1/2ピッチとなら
ねばならない。ここにｍは整数である。これは，空の位
置65が１次洗浄移送シテーションにある時はいつでも，
キャリヤーは２次洗浄移送ステーションに位置すること
を保証する。このが逆も真である。これは洗浄ホイール
が，上記に述べるように，容器を恒温器から洗浄ホイー
ル経路へ時期尚早に運ぶことなく，また，偶発的に容器
を恒温器から読み出しステーションへ導く洗浄ホイール
経路へ移送することなく，移動することを可能にする。
スペーシングが異なる場合は，洗浄ホイールまたは恒温
器ベルトは適正時間に洗浄移送ステーションで適正に整
列不能となり,1または，その他の移動を妨げる。代案と
して，装置はキャリヤー64を機械的に，同一時間で両方
の移送ステーションに位置させることが可能であるが，
それは，すべてのキャリヤーが温置のために容器を運ぶ
ときに得られる資源利用の最大化を妨げる。
洗浄ホイールの位置の数および洗浄ステーションを通
る洗浄ホイール経路の部分沿いにある，これらの位置の
数は全く広範囲に異なることがある。位置の数は読み出
しステーションを通過する経路の部分沿いに移動する容
器に必要なドウェル時間とともに，経路部分沿いの反応
容器に実施される予定の機能の数に掛かっている。経路
の洗浄部分と経路の読み出し部分の関連比率は図４−８
に示されるものである必要はない。
る洗浄ホイール経路の部分沿いにある，これらの位置の
数は全く広範囲に異なることがある。位置の数は読み出
しステーションを通過する経路の部分沿いに移動する容
器に必要なドウェル時間とともに，経路部分沿いの反応
容器に実施される予定の機能の数に掛かっている。経路
の洗浄部分と経路の読み出し部分の関連比率は図４−８
に示されるものである必要はない。
もし，本文のように，恒温器ベルトの割り出し回数が
洗浄ホイールの割り出し回数の３倍であれば，洗浄ホイ
ールの位置の全体数および，経路の洗浄部分ならびに読
み出し部分にあるこれらの位置の数に関係なく，洗浄ホ
イール上および経路の洗浄部分沿いの位置の合計数は,3
の倍数プラス１追加位置（3n＋１）でなければならな
い。けれども，恒温器ベルトの割り出し回数が洗浄ホイ
ールのそれの4,5,もしくは，それ以上の倍数に増加する
こと，洗浄ホイール上の位置数の決定に使用される倍数
は同様に変えられねばならないことを理解しなければな
らない。例えば，恒温器ベルトの割り出し回数が洗浄ホ
イールの割り出し回数の４倍の場合は，位置数決定の公
式は（4n＋１）となるはずである。図４−８に示される
分析器で，洗浄ホイールの長さ沿いに55［（18×３）＋
１］の位置があり,19［（６×３）＋１］位置が１次お
よび２次洗浄移送ステーションの間に配置されている。
本文に述べる発明の具体化例は洗浄ホイール輸送手段と
恒温器ベルト輸送手段間の関係を示すが２つの輸送機構
間の容器のこの移送方法は，材料がそのような機構間で
移送される必要のある時は，他の具体化で使用可能であ
る。
洗浄ホイールの割り出し回数の３倍であれば，洗浄ホイ
ールの位置の全体数および，経路の洗浄部分ならびに読
み出し部分にあるこれらの位置の数に関係なく，洗浄ホ
イール上および経路の洗浄部分沿いの位置の合計数は,3
の倍数プラス１追加位置（3n＋１）でなければならな
い。けれども，恒温器ベルトの割り出し回数が洗浄ホイ
ールのそれの4,5,もしくは，それ以上の倍数に増加する
こと，洗浄ホイール上の位置数の決定に使用される倍数
は同様に変えられねばならないことを理解しなければな
らない。例えば，恒温器ベルトの割り出し回数が洗浄ホ
イールの割り出し回数の４倍の場合は，位置数決定の公
式は（4n＋１）となるはずである。図４−８に示される
分析器で，洗浄ホイールの長さ沿いに55［（18×３）＋
１］の位置があり,19［（６×３）＋１］位置が１次お
よび２次洗浄移送ステーションの間に配置されている。
本文に述べる発明の具体化例は洗浄ホイール輸送手段と
恒温器ベルト輸送手段間の関係を示すが２つの輸送機構
間の容器のこの移送方法は，材料がそのような機構間で
移送される必要のある時は，他の具体化で使用可能であ
る。
１次および２次の洗浄移送ステーションの恒温器ベル
トと洗浄ホイールに希望の相互作用が起こるために，洗
浄ホイールの位置数は３位置の倍数より１位置大きくな
ければならない（恒温器ベルトの割り出し回数は洗浄ホ
イールの割り出し回数の３倍と仮定する）。図５を参照
して，使用済みの反応容器52'は恒温器ベルトへ戻すた
めの位置を取る。この移送が起こるためには，恒温器ベ
ルトは移動自由でなければならない。箇所数が３の整数
倍であれば，洗浄済み反応容器52″は２次洗浄移送箇所
にあり，恒温器ベルトの空の位置65に配置される。使用
済み反応容器52'を取り除くために移動される場合は，
洗浄済み反応容器52″は空の位置65の恒温器経路に移送
される。洗浄ホイールに１追加位置を加えることにより
恒温器は図６に示される位置に自由に移動可能になり，
洗浄ホイールは次に図７に示すように，恒温器ベルトに
洗浄済み反応容器52″を移送するために割り出すことが
できる。
トと洗浄ホイールに希望の相互作用が起こるために，洗
浄ホイールの位置数は３位置の倍数より１位置大きくな
ければならない（恒温器ベルトの割り出し回数は洗浄ホ
イールの割り出し回数の３倍と仮定する）。図５を参照
して，使用済みの反応容器52'は恒温器ベルトへ戻すた
めの位置を取る。この移送が起こるためには，恒温器ベ
ルトは移動自由でなければならない。箇所数が３の整数
倍であれば，洗浄済み反応容器52″は２次洗浄移送箇所
にあり，恒温器ベルトの空の位置65に配置される。使用
済み反応容器52'を取り除くために移動される場合は，
洗浄済み反応容器52″は空の位置65の恒温器経路に移送
される。洗浄ホイールに１追加位置を加えることにより
恒温器は図６に示される位置に自由に移動可能になり，
洗浄ホイールは次に図７に示すように，恒温器ベルトに
洗浄済み反応容器52″を移送するために割り出すことが
できる。
上記のように，発明の分析器と方法は分析器制御手段
により実施される独特のスケジューリングおよびタイミ
ング方法に基づいている。使用に当たって，一旦，反応
容器が検定成分で満たされると，反応容器は恒温器に移
送し，そこで，それは事前決定した割り出しサイクル数
の間保持される。サイクル数は被検体試験特定のもので
あり,1つの試験プロトコルから他のものに容易に変更す
ることができる。提起の具体化例で，各割り出しサイク
ルは割り出し時間中継続され，試験プロトコルの希望の
温置時間はその時間の倍数として表される。一旦，検定
成分を入れた反応容器が特定時間，温置されると，分析
器制御手段は洗浄ホイール100へ移送のために１次洗浄
移送ステーション80にそれを移動させる。分析器制御手
段は次に洗浄ステーションを，それが洗浄サイクル経路
沿いに移動されるにつれて，反応容器に作用させ，その
場合，機能はサイクル−バイ−サイクル・ベースでタイ
ム・オンされる。
により実施される独特のスケジューリングおよびタイミ
ング方法に基づいている。使用に当たって，一旦，反応
容器が検定成分で満たされると，反応容器は恒温器に移
送し，そこで，それは事前決定した割り出しサイクル数
の間保持される。サイクル数は被検体試験特定のもので
あり,1つの試験プロトコルから他のものに容易に変更す
ることができる。提起の具体化例で，各割り出しサイク
ルは割り出し時間中継続され，試験プロトコルの希望の
温置時間はその時間の倍数として表される。一旦，検定
成分を入れた反応容器が特定時間，温置されると，分析
器制御手段は洗浄ホイール100へ移送のために１次洗浄
移送ステーション80にそれを移動させる。分析器制御手
段は次に洗浄ステーションを，それが洗浄サイクル経路
沿いに移動されるにつれて，反応容器に作用させ，その
場合，機能はサイクル−バイ−サイクル・ベースでタイ
ム・オンされる。
分析器制御手段は移送制御手段，および，その各々が
コンピュータ・プログラムまたはコンピュータプログラ
ムのサブルーチンより成るスケジューリング手段，関連
電子部品，および分析作動要素を制御手段に接続する手
段より成る。コンピュータ・プログラムおよび関連コン
ピュータ機能は分析器電子部品に含まれ，一般にマイク
ロプロセッサー，ハード・ディスクおよびフロッピー・
ディスク・ドライブを含んでいる。分析器制御手段は，
それを通して，特定化学形式のサンプルの処理に必要な
操作を限定可能な，また，なんらかのクロノロジーに於
ける装置へのインターフェースを与える。記憶されるデ
ータは電気機械式装置の制御，これら装置のタイミング
条件，試薬パッケージの所在，その他のそのような条件
などの機械的検定条件を含む。記憶データの他に，その
他のデータ（校正値，標準値，デフォルト制御等）がコ
ンピュータ・プログラムとのインターフェース用に分析
器に組み込まれたキーボードを経て入れられる。フロッ
ピイー・ディスク・ドライブはハード・ディスクに新情
報を加えるのに使用される。分析器制御手段の電子部品
は，普通，モーター・ドライバー，超音波トランスデュ
ーサー，ヒーター，温度センサー，およびルミノメータ
ーなどの要素を制御するプリント回路板を含んでいる。
コンピュータ・プログラムまたはコンピュータプログラ
ムのサブルーチンより成るスケジューリング手段，関連
電子部品，および分析作動要素を制御手段に接続する手
段より成る。コンピュータ・プログラムおよび関連コン
ピュータ機能は分析器電子部品に含まれ，一般にマイク
ロプロセッサー，ハード・ディスクおよびフロッピー・
ディスク・ドライブを含んでいる。分析器制御手段は，
それを通して，特定化学形式のサンプルの処理に必要な
操作を限定可能な，また，なんらかのクロノロジーに於
ける装置へのインターフェースを与える。記憶されるデ
ータは電気機械式装置の制御，これら装置のタイミング
条件，試薬パッケージの所在，その他のそのような条件
などの機械的検定条件を含む。記憶データの他に，その
他のデータ（校正値，標準値，デフォルト制御等）がコ
ンピュータ・プログラムとのインターフェース用に分析
器に組み込まれたキーボードを経て入れられる。フロッ
ピイー・ディスク・ドライブはハード・ディスクに新情
報を加えるのに使用される。分析器制御手段の電子部品
は，普通，モーター・ドライバー，超音波トランスデュ
ーサー，ヒーター，温度センサー，およびルミノメータ
ーなどの要素を制御するプリント回路板を含んでいる。
発明の分析器はコンピューター・プログラムが操作員
への情報および入力サンプル識別情報で操作員を指導す
る情報を表示するディスプレイ・スクリーンを持つコン
ピュータ・モニターを含んでいる。サンプル識別情報お
よび被検体要請事項のコンピュータへの供給に加えて，
操作員はコンピューターに特定サンプル優先順序を与え
て指令することが出来る。
への情報および入力サンプル識別情報で操作員を指導す
る情報を表示するディスプレイ・スクリーンを持つコン
ピュータ・モニターを含んでいる。サンプル識別情報お
よび被検体要請事項のコンピュータへの供給に加えて，
操作員はコンピューターに特定サンプル優先順序を与え
て指令することが出来る。
試薬パッケージのトレイまたはサンプル・カップが分
析器に置かれると，バー・コード・ラベル情報が読み出
されて，コンピュータ・プログラムによる処理のために
電子部品に送られる。図1,6に示す分析器で，それぞれ1
0サンプルを入れているサンプル・トレイが一時に処理
可能である。各サンプルは分析器に置かれるトレイ位置
が指定され，サンプル識別情報およびサンプルに実施す
る試験が操作員により入れられる。新規に入れられたそ
れぞれの試験要請は本文でワークリストと呼ばれるコン
ピュータ・ファイルに，その他すべての進行中または懸
案中の試験要請事項とともに記憶される。試験要請事項
は以下に説明する分析器制御手段により処理される。
析器に置かれると，バー・コード・ラベル情報が読み出
されて，コンピュータ・プログラムによる処理のために
電子部品に送られる。図1,6に示す分析器で，それぞれ1
0サンプルを入れているサンプル・トレイが一時に処理
可能である。各サンプルは分析器に置かれるトレイ位置
が指定され，サンプル識別情報およびサンプルに実施す
る試験が操作員により入れられる。新規に入れられたそ
れぞれの試験要請は本文でワークリストと呼ばれるコン
ピュータ・ファイルに，その他すべての進行中または懸
案中の試験要請事項とともに記憶される。試験要請事項
は以下に説明する分析器制御手段により処理される。
図９および10は提起分析器の分析器制御手段200のス
ケジューリング・ロジックのフロー・チャヤートを示
し，図11は実際の６サンプル用のスケジューリング・シ
ーケンスを示している。最初から図９までを参照して，
このフロー・チャートは１ステージ検定プロトコル，す
なわち，反応容器の検定成分が順序を追って温置，洗
浄，読み出しされるプロトコル，を持つ試験用のスケジ
ューリング・ロジックを示している。先ず，制御手段
が，希望の試験の開始に必要な検定リソースが分析器の
次サイクルの開始時に入手可能か否かを決定する。この
具体化例では，それは次の恒温器サイクルの開始であ
る。本文に述べる提起の分析器では，入手を必要とする
最初の検定リソースは検定成分搬送手段である。２段階
プロトコル試験の検定成分を入れる反応容器への試薬の
搬送のような，その時点で別の機能を実施するように搬
送手段が計画される場合は，制御手段は検定成分搬送手
段が利用可能のときに最初の利用可能サイクルを決定す
るために連続サイクルを点検する。
ケジューリング・ロジックのフロー・チャヤートを示
し，図11は実際の６サンプル用のスケジューリング・シ
ーケンスを示している。最初から図９までを参照して，
このフロー・チャートは１ステージ検定プロトコル，す
なわち，反応容器の検定成分が順序を追って温置，洗
浄，読み出しされるプロトコル，を持つ試験用のスケジ
ューリング・ロジックを示している。先ず，制御手段
が，希望の試験の開始に必要な検定リソースが分析器の
次サイクルの開始時に入手可能か否かを決定する。この
具体化例では，それは次の恒温器サイクルの開始であ
る。本文に述べる提起の分析器では，入手を必要とする
最初の検定リソースは検定成分搬送手段である。２段階
プロトコル試験の検定成分を入れる反応容器への試薬の
搬送のような，その時点で別の機能を実施するように搬
送手段が計画される場合は，制御手段は検定成分搬送手
段が利用可能のときに最初の利用可能サイクルを決定す
るために連続サイクルを点検する。
操作する搬送手段に利用できるサイクルが識別される
と，コントローラーは洗浄ステーションに移送するか，
どうかを決定し，洗浄ステーション作業は，搬送手段が
その操作を最初の利用可能サイクル中に開始するなら
ば，反応容器に作用する適当な時期に利用可能となる。
上記のように，この具体化例では，恒温器の容器のドウ
ェル時間は恒温器の割り出し時間の倍数，すなわち，シ
ステムの割り出しサイクルの整数として表される。図９
で，この数は“x"で表され，制御手段は検定成分が容器
に加えられた後に，“ｎ＋x"割り出しサイクル，または
ｘ割り出しサイクルで，洗浄ステーションを通じて反応
容器を取る洗浄ホイールで位置が得られるか，どうかを
決定する。反応容器が“ｎ＋x"時間スロットで，すで
に，洗浄ホイールに入れる予定をしているならば，制御
手段は搬送手段に対して次の利用可能サイクルを決定
し，搬送手段が利用できる時に検定成分がサイクル中反
応容器に加えられるならば，それが，“ｎ＋x"時間スロ
ットが洗浄ホイールで利用できることを決定するまで，
毎回“n"で割り出す。
と，コントローラーは洗浄ステーションに移送するか，
どうかを決定し，洗浄ステーション作業は，搬送手段が
その操作を最初の利用可能サイクル中に開始するなら
ば，反応容器に作用する適当な時期に利用可能となる。
上記のように，この具体化例では，恒温器の容器のドウ
ェル時間は恒温器の割り出し時間の倍数，すなわち，シ
ステムの割り出しサイクルの整数として表される。図９
で，この数は“x"で表され，制御手段は検定成分が容器
に加えられた後に，“ｎ＋x"割り出しサイクル，または
ｘ割り出しサイクルで，洗浄ステーションを通じて反応
容器を取る洗浄ホイールで位置が得られるか，どうかを
決定する。反応容器が“ｎ＋x"時間スロットで，すで
に，洗浄ホイールに入れる予定をしているならば，制御
手段は搬送手段に対して次の利用可能サイクルを決定
し，搬送手段が利用できる時に検定成分がサイクル中反
応容器に加えられるならば，それが，“ｎ＋x"時間スロ
ットが洗浄ホイールで利用できることを決定するまで，
毎回“n"で割り出す。
試験処理の開始前に，制御手段は，またサイクル−バ
イ−サイクル・ベースで反応容器が何時読み出しステー
ションへ輸送されるかを決定しなければならない。この
具体化例で，容器は,1次洗浄移送ステーションで洗浄ホ
イールに容器が移送された後に，整数“y"の恒温器の割
り出しサイクルで読み出しステーションに到達する。
“x"は試験プロトコル間で変わるが，洗浄ホイールは固
定サイクルで移動するので“y"はすべてのプロトコルに
対して一定である。読み出しステーションが時間スロッ
ト“ｎ＋ｘ＋y"で利用できない場合は，制御手段は，時
間スロット“n"での処理開始で，すべての必要な検定リ
ソースが適当時間に利用できるその時まで，サイクル−
バイ−サイクル・ベースで，すべての検定リソースの利
用度を点検する。
イ−サイクル・ベースで反応容器が何時読み出しステー
ションへ輸送されるかを決定しなければならない。この
具体化例で，容器は,1次洗浄移送ステーションで洗浄ホ
イールに容器が移送された後に，整数“y"の恒温器の割
り出しサイクルで読み出しステーションに到達する。
“x"は試験プロトコル間で変わるが，洗浄ホイールは固
定サイクルで移動するので“y"はすべてのプロトコルに
対して一定である。読み出しステーションが時間スロッ
ト“ｎ＋ｘ＋y"で利用できない場合は，制御手段は，時
間スロット“n"での処理開始で，すべての必要な検定リ
ソースが適当時間に利用できるその時まで，サイクル−
バイ−サイクル・ベースで，すべての検定リソースの利
用度を点検する。
一旦，制御手段が試験に対して適当な開始時間スロッ
ト“n"を決定すると，時間“n"に処理を開始する試験を
計画し，それは，それぞれの必要な検定リソースの時間
ベースの条件により，その試験にリソースを割り当て
る。このようにして，それは時間スロット“ｎ＋x"で洗
浄ホイールを入れる，その試験用に指定された反応容器
を計画し，時間スロット“ｎ＋ｘ＋y"で読み出しステー
ションに移動する。制御手段が適当な開始時間スロット
“n"を２次試験に対して決定するとき，それは以前のど
の試験に対しても，検定リソースの割当に対する２次試
験の時間ベースの検定リソース条件の利用度を点検しな
ければならない。
ト“n"を決定すると，時間“n"に処理を開始する試験を
計画し，それは，それぞれの必要な検定リソースの時間
ベースの条件により，その試験にリソースを割り当て
る。このようにして，それは時間スロット“ｎ＋x"で洗
浄ホイールを入れる，その試験用に指定された反応容器
を計画し，時間スロット“ｎ＋ｘ＋y"で読み出しステー
ションに移動する。制御手段が適当な開始時間スロット
“n"を２次試験に対して決定するとき，それは以前のど
の試験に対しても，検定リソースの割当に対する２次試
験の時間ベースの検定リソース条件の利用度を点検しな
ければならない。
図10は２段階プロトコルを持つ試験に対する制御手段
のスケジューリング・ロジックを示す類似フロー・チャ
ートである。図９と10を比較して，最初の２つのスケジ
ューリング・ステップは１段階プロトコルと２段階プロ
トコルに対して同じである。反応容器が洗浄ステーショ
ンにより作用した後に，それは追加試薬の添加の可能性
のある恒温器ベルトに戻さねばならない。従って，次ス
テップのスケジューリング・ロジックとして，制御手段
は検定成分搬送手段が，むしろ読み出しステーションよ
りも時間“ｎ＋ｘ＋y"に利用可能であるか，どうかを決
定しなければならない。成分搬送手段が利用できれば，
制御手段は洗浄ホイール上の位置が２次温置時間“z"後
に利用できるか，どうかを見るために点検しなければな
らない。最後に，洗浄ホイールの位置が利用可能である
ときは，制御手段は，反応容器が読み出しステーション
に到達するときに，そのステーションが，反応容器に作
用できるかどうかを決定しなければならない。上記に論
じるように，洗浄ホイール上の位置が利用可能であれ
ば，一般的に，読み出しステーションは利用可能であ
る。適当な開始時間スロットが制御手段により決定され
ているときは，それは必要なリソースをその試験に割当
て，これらの時間スロットでの検定成分に対する以後の
試験のスケジューリングを妨げる。
のスケジューリング・ロジックを示す類似フロー・チャ
ートである。図９と10を比較して，最初の２つのスケジ
ューリング・ステップは１段階プロトコルと２段階プロ
トコルに対して同じである。反応容器が洗浄ステーショ
ンにより作用した後に，それは追加試薬の添加の可能性
のある恒温器ベルトに戻さねばならない。従って，次ス
テップのスケジューリング・ロジックとして，制御手段
は検定成分搬送手段が，むしろ読み出しステーションよ
りも時間“ｎ＋ｘ＋y"に利用可能であるか，どうかを決
定しなければならない。成分搬送手段が利用できれば，
制御手段は洗浄ホイール上の位置が２次温置時間“z"後
に利用できるか，どうかを見るために点検しなければな
らない。最後に，洗浄ホイールの位置が利用可能である
ときは，制御手段は，反応容器が読み出しステーション
に到達するときに，そのステーションが，反応容器に作
用できるかどうかを決定しなければならない。上記に論
じるように，洗浄ホイール上の位置が利用可能であれ
ば，一般的に，読み出しステーションは利用可能であ
る。適当な開始時間スロットが制御手段により決定され
ているときは，それは必要なリソースをその試験に割当
て，これらの時間スロットでの検定成分に対する以後の
試験のスケジューリングを妨げる。
図11は一連の６個の患者試験の模範的スケジューリン
グである。試験1,2および６は，それぞれ,5つの割り出
しサイクルの１次および２次の温置時間を持つ２段階検
定である。提起される具体化例で，恒温器の割り出し時
間36秒でほぼ３分の温置時間となる。試験3,4,および５
は，すべて８つの割り出しサイクルの温置時間，提起具
体化例では４分48秒の温置時間を持つ１段階検定であ
る。
グである。試験1,2および６は，それぞれ,5つの割り出
しサイクルの１次および２次の温置時間を持つ２段階検
定である。提起される具体化例で，恒温器の割り出し時
間36秒でほぼ３分の温置時間となる。試験3,4,および５
は，すべて８つの割り出しサイクルの温置時間，提起具
体化例では４分48秒の温置時間を持つ１段階検定であ
る。
この仮説スケジューリングで，試験がこれらのサンプ
ル番号の順序で実施される。他の試験はその前に予定さ
れていないので，サンプル１の試験は即時に開始され，
その処理に必要な時間ベースの検定リソースはサイクル
−バイ−サイクル・ベースで，それに割り当てられ，そ
の処理を割り出しサイクル“0"で開始する。試験プロト
コルは５つの割り出しサイクル温置を必要とするのでｘ
は５に等しい。それ故，検定成分を入れている反応容器
は１次洗浄移送ステーションの恒温器ベルトから移送さ
れるように計画され５番目の割り出しサイクルの洗浄ホ
イールに入る。この具体化例で，反応容器は洗浄ステー
ションを通って１次洗浄移送ステーションから２次洗浄
ステーションに約３分で移送される。
ル番号の順序で実施される。他の試験はその前に予定さ
れていないので，サンプル１の試験は即時に開始され，
その処理に必要な時間ベースの検定リソースはサイクル
−バイ−サイクル・ベースで，それに割り当てられ，そ
の処理を割り出しサイクル“0"で開始する。試験プロト
コルは５つの割り出しサイクル温置を必要とするのでｘ
は５に等しい。それ故，検定成分を入れている反応容器
は１次洗浄移送ステーションの恒温器ベルトから移送さ
れるように計画され５番目の割り出しサイクルの洗浄ホ
イールに入る。この具体化例で，反応容器は洗浄ステー
ションを通って１次洗浄移送ステーションから２次洗浄
ステーションに約３分で移送される。
提起具体化例で，恒温器割り出しサイクルは洗浄ホイ
ール割り出しサイクルの３倍である。それ故,15洗浄ホ
イール・サイクルまたは５システム割り出しサイクルで
は反応容器は36秒の割り出しサイクルで,2次洗浄移送ス
テーションに隣接して位置し約３分の時間を与え，その
間容器に洗浄サイクル経路沿いに移動される。制御手段
は反応容器に追加の試薬を配分するために，時間スロッ
ト10で検定成分搬送手段を計画している。上記に説明す
るように，容器は容器トランスポート（例えば，容器チ
ェーン70）に位置し，次いで恒温器上の位置に戻され
る。反応容器は次に割り出しサイクル数15で洗浄ホイー
ルに戻される。反応容器は洗浄ステーションを通り，読
み出しステーションに“y"割り出しサイクル遅く，また
は割り出しサイクル数20で移動する。
ール割り出しサイクルの３倍である。それ故,15洗浄ホ
イール・サイクルまたは５システム割り出しサイクルで
は反応容器は36秒の割り出しサイクルで,2次洗浄移送ス
テーションに隣接して位置し約３分の時間を与え，その
間容器に洗浄サイクル経路沿いに移動される。制御手段
は反応容器に追加の試薬を配分するために，時間スロッ
ト10で検定成分搬送手段を計画している。上記に説明す
るように，容器は容器トランスポート（例えば，容器チ
ェーン70）に位置し，次いで恒温器上の位置に戻され
る。反応容器は次に割り出しサイクル数15で洗浄ホイー
ルに戻される。反応容器は洗浄ステーションを通り，読
み出しステーションに“y"割り出しサイクル遅く，また
は割り出しサイクル数20で移動する。
２次試験は１次試験と同じ検定プロトコルを持つの
で，制御手段は容器を分析器を通じて移送し,1次試験に
割り当てた割り出しサイクルの１割り出しサイクル後，
それに，それぞれの必要検定リソースを割り当てる。こ
のようにして,2次試験用の検定成分は割り出しサイクル
１で検定成分搬送手段により反応容器に運ばれ，反応容
器は割り出しサイクル６で洗浄ホイールに移送するよう
に位置され，また，容器は温置移送ステーションに，ま
た，割り出しサイクル11で検定成分の追加のために容器
チェーンに移送される。反応容器は割り出しサイクル16
で２回目は移送され，それは読み出しステーションに割
り出しサイクル21で移送される。
で，制御手段は容器を分析器を通じて移送し,1次試験に
割り当てた割り出しサイクルの１割り出しサイクル後，
それに，それぞれの必要検定リソースを割り当てる。こ
のようにして,2次試験用の検定成分は割り出しサイクル
１で検定成分搬送手段により反応容器に運ばれ，反応容
器は割り出しサイクル６で洗浄ホイールに移送するよう
に位置され，また，容器は温置移送ステーションに，ま
た，割り出しサイクル11で検定成分の追加のために容器
チェーンに移送される。反応容器は割り出しサイクル16
で２回目は移送され，それは読み出しステーションに割
り出しサイクル21で移送される。
試験３は１段階検定プロトコルを持つ。この例では，
この試験の温置時間は８割り出しサイクルである。従っ
て，制御手段は最初にどの時間ベース成分リソースが試
験処理に必要であるかを決定し，次に，それは試験１お
よび２の処理に対するリソースの割当てに対するサイク
ル−バイ−サイクル・ベースでの，これら検定リソース
の利用可能性を点検する。温置時間は８割り出しサイク
ルであるので，反応容器は割り出しサイクル10で洗浄ウ
エルへ移送準備され，それが割り出しサイクル２で開始
されるのであれば，試験開始後８割り出しサイクルで移
送される。試験１または２の反応容器のいずれも割り出
しサイクル10で洗浄ホイールに移送される計画はないの
で，試験３の処理は，読み出しステーションが割り出し
サイクル15で利用できれば，割り出しサイクル２で開始
できる。提起具体化例で，これが常にそのケースとなる
だろう。それ故，検定リソースの割当てで，なんら矛盾
がないならば，試験４および５の反応容器の処理はそれ
ぞれ１または２の割り出しサイクルにより試験３の反応
容器に連続的に続く。図11から見られるように，この例
の試験４および５のいずれについてもスケジューリング
の矛盾は存在しない。
この試験の温置時間は８割り出しサイクルである。従っ
て，制御手段は最初にどの時間ベース成分リソースが試
験処理に必要であるかを決定し，次に，それは試験１お
よび２の処理に対するリソースの割当てに対するサイク
ル−バイ−サイクル・ベースでの，これら検定リソース
の利用可能性を点検する。温置時間は８割り出しサイク
ルであるので，反応容器は割り出しサイクル10で洗浄ウ
エルへ移送準備され，それが割り出しサイクル２で開始
されるのであれば，試験開始後８割り出しサイクルで移
送される。試験１または２の反応容器のいずれも割り出
しサイクル10で洗浄ホイールに移送される計画はないの
で，試験３の処理は，読み出しステーションが割り出し
サイクル15で利用できれば，割り出しサイクル２で開始
できる。提起具体化例で，これが常にそのケースとなる
だろう。それ故，検定リソースの割当てで，なんら矛盾
がないならば，試験４および５の反応容器の処理はそれ
ぞれ１または２の割り出しサイクルにより試験３の反応
容器に連続的に続く。図11から見られるように，この例
の試験４および５のいずれについてもスケジューリング
の矛盾は存在しない。
この例で，試験６は２段階検定プロトコルである。制
御手段は先ず，サイクル−バイ−サイクル・ベースでこ
の試験に必要な時間ベースの検定リソースを決定する。
制御手段は次に試験６に，それぞれの必要なリソースの
を決定のため，工程中の試験に対する検定リソースの割
当てを点検し，制御手段は試験６が割り出しサイクル５
で開始されるときは矛盾を識別する。図11に示すよう
に，試験３の反応容器は割り出しサイクル10で洗浄ホイ
ールに移送されるように計画され，それは試験６に対す
る反応容器が割り出しサイクル５で開始されるときは洗
浄ホイールへの移送に計画されるのと同サイクルであ
る。制御手段は洗浄ステーション・リソースを既にその
時間スロットで試験３に割り当てているので，制御手段
は処理が割り出しサイクル６で開始されるなばら試験６
へのリソースの利用性を点検する。この例で，試験６の
開始は，すべての必要検定リソースが適当な時間で処理
試験６に対して利用可能となる時，割り出しサイクル８
まで遅延される。
御手段は先ず，サイクル−バイ−サイクル・ベースでこ
の試験に必要な時間ベースの検定リソースを決定する。
制御手段は次に試験６に，それぞれの必要なリソースの
を決定のため，工程中の試験に対する検定リソースの割
当てを点検し，制御手段は試験６が割り出しサイクル５
で開始されるときは矛盾を識別する。図11に示すよう
に，試験３の反応容器は割り出しサイクル10で洗浄ホイ
ールに移送されるように計画され，それは試験６に対す
る反応容器が割り出しサイクル５で開始されるときは洗
浄ホイールへの移送に計画されるのと同サイクルであ
る。制御手段は洗浄ステーション・リソースを既にその
時間スロットで試験３に割り当てているので，制御手段
は処理が割り出しサイクル６で開始されるなばら試験６
へのリソースの利用性を点検する。この例で，試験６の
開始は，すべての必要検定リソースが適当な時間で処理
試験６に対して利用可能となる時，割り出しサイクル８
まで遅延される。
図11に示される例では，試験は操作により分析器に置
かれる順で処理された。使用時に，分析器の制御手段
は，必要識別情報がそれに対して供給されている患者サ
ンプルの複数の被検体試験を好都合になるように最適化
する。上例で，試験のスケジューリングは試験６が試験
２のすぐ後で開始され，次いで，試験3,4および５が各
後続割り出しサイクルで開始されるように再調整でき
る。制御手段による，そのようなスケジューリングはす
べての試験の処理の完了に必要な割り出しサイクルの全
体数を減じ，従って，合計処理時間を減らし処理量を増
やす。制御手段は最適ルーチンを用いて処理量を最大に
するように試験を計画する。
かれる順で処理された。使用時に，分析器の制御手段
は，必要識別情報がそれに対して供給されている患者サ
ンプルの複数の被検体試験を好都合になるように最適化
する。上例で，試験のスケジューリングは試験６が試験
２のすぐ後で開始され，次いで，試験3,4および５が各
後続割り出しサイクルで開始されるように再調整でき
る。制御手段による，そのようなスケジューリングはす
べての試験の処理の完了に必要な割り出しサイクルの全
体数を減じ，従って，合計処理時間を減らし処理量を増
やす。制御手段は最適ルーチンを用いて処理量を最大に
するように試験を計画する。
発明の方法はさらに図12のタイミング線図に関して述
べる。図12で，図11B−12Fは時間T0（図12B）か時間T14
（図12F）まで水平方向に伸びる単一シリーズの平行な
時間線として読まれる。図12Aの概略図は図12B−12Fの
図面間のこの関係を解明するために与えられているに過
ぎない。
べる。図12で，図11B−12Fは時間T0（図12B）か時間T14
（図12F）まで水平方向に伸びる単一シリーズの平行な
時間線として読まれる。図12Aの概略図は図12B−12Fの
図面間のこの関係を解明するために与えられているに過
ぎない。
図12に示すように，時間線は各分析器要素の右に伸
び，時間線の幅の広い帯は要素作動中期間を示し，要素
の遊休中は狭い水平線表示となる。ある時間線沿いの開
放ボックス（例えば，傾度）は必要時に要素が作動する
ときの時間スロットを示すが，必ずしもそうならない。
分析器の１サイクルが図12B−12FにT0からT0まで示され
る。この具体化例では１時間分割は約2500nsに等しい
が，固定サイクルはある長さのものとなる。
び，時間線の幅の広い帯は要素作動中期間を示し，要素
の遊休中は狭い水平線表示となる。ある時間線沿いの開
放ボックス（例えば，傾度）は必要時に要素が作動する
ときの時間スロットを示すが，必ずしもそうならない。
分析器の１サイクルが図12B−12FにT0からT0まで示され
る。この具体化例では１時間分割は約2500nsに等しい
が，固定サイクルはある長さのものとなる。
上記のように，サンプルの事前決定量および試薬の事
前決定量は検定処理の開始のために反応容器に移送され
ねばならない。提起具体化例では，これらの検定成分は
検定成分搬送手段により反応容器に移送され，その手段
はピペット用プローブ42を含んでいる。このプローブの
横方向および縦方向移動はPIP X−CMPTおよびPIP Zと，
それぞれラベルを貼った図12B−12Fの時間線により示さ
れる。プローブ42は，普通，その下げられた位置にあ
り，そこで，それは試薬パック，反応容器，サンプル・
カップ等のウエル内に置かれる。示すように，プローブ
は横方向に移動するにつれて，その高位置に上げられる
ので，プローブは試薬パックまたは反応容器の壁を打た
ない。
前決定量は検定処理の開始のために反応容器に移送され
ねばならない。提起具体化例では，これらの検定成分は
検定成分搬送手段により反応容器に移送され，その手段
はピペット用プローブ42を含んでいる。このプローブの
横方向および縦方向移動はPIP X−CMPTおよびPIP Zと，
それぞれラベルを貼った図12B−12Fの時間線により示さ
れる。プローブ42は，普通，その下げられた位置にあ
り，そこで，それは試薬パック，反応容器，サンプル・
カップ等のウエル内に置かれる。示すように，プローブ
は横方向に移動するにつれて，その高位置に上げられる
ので，プローブは試薬パックまたは反応容器の壁を打た
ない。
一旦．操作員がサンプルとサンプルについて実施され
る試験を識別する情報を入れると，分析器制御手段は検
定成分供給ホイールの内，外カラセル22,23（それぞ
れ，“試薬カラセル”および“サンプル・カラセル”と
呼ばれる）を位置決めし，プローブでアクセスするため
に希望の試薬パックとサンプル・カップを位置決めする
ように移動させる。ほぼT0でスタートし，プローブはサ
ンプルと必要な試薬の量を反応容器に吸い込み，および
配分を開始する。各サンプルおよび試薬が反応容器に配
分された後，プローブは持ち上げられプローブ洗浄ステ
ーション44へ横方向に移動され，そのステーションに下
ろされる。図12でバッファーとして示される洗浄液はプ
ローブを通じてドレン・カップに配分される。
る試験を識別する情報を入れると，分析器制御手段は検
定成分供給ホイールの内，外カラセル22,23（それぞ
れ，“試薬カラセル”および“サンプル・カラセル”と
呼ばれる）を位置決めし，プローブでアクセスするため
に希望の試薬パックとサンプル・カップを位置決めする
ように移動させる。ほぼT0でスタートし，プローブはサ
ンプルと必要な試薬の量を反応容器に吸い込み，および
配分を開始する。各サンプルおよび試薬が反応容器に配
分された後，プローブは持ち上げられプローブ洗浄ステ
ーション44へ横方向に移動され，そのステーションに下
ろされる。図12でバッファーとして示される洗浄液はプ
ローブを通じてドレン・カップに配分される。
ある被検体試験は特に相互汚染に敏感である。これら
の試験では，より完全な洗浄手順が２番目のサンプルが
反応容器に移送される前に開始される。この特殊洗浄は
図12に特殊洗浄ポンプ（SPEC WASH PUMP）および対応す
る特殊洗浄バルブ（SPEC WASHVLV）の作動により示され
る。特殊洗浄後，ピペット用プローブが上げられ，本具
体化例では，磁性粒子が内蔵されている試薬ウエルに移
動される。
の試験では，より完全な洗浄手順が２番目のサンプルが
反応容器に移送される前に開始される。この特殊洗浄は
図12に特殊洗浄ポンプ（SPEC WASH PUMP）および対応す
る特殊洗浄バルブ（SPEC WASHVLV）の作動により示され
る。特殊洗浄後，ピペット用プローブが上げられ，本具
体化例では，磁性粒子が内蔵されている試薬ウエルに移
動される。
上記のように，プローブは流体の混合を行うのに超音
波により作動し，レベル検出を行い，プローブを洗浄す
る。これらの作業は“LVL SENSE"および“URTRASONIC−
MIXING"とラベル貼付された時間線に反映している。図1
2に示すように，ピペット用プローブ・チップは各洗浄
の終わりに超音波で作動しプローブの洗浄，乾燥を助け
る。プローブはまた，それが粒子の吸い込み前に，磁性
粒子を入れている試薬ウエルに挿入されるときも作動す
る。
波により作動し，レベル検出を行い，プローブを洗浄す
る。これらの作業は“LVL SENSE"および“URTRASONIC−
MIXING"とラベル貼付された時間線に反映している。図1
2に示すように，ピペット用プローブ・チップは各洗浄
の終わりに超音波で作動しプローブの洗浄，乾燥を助け
る。プローブはまた，それが粒子の吸い込み前に，磁性
粒子を入れている試薬ウエルに挿入されるときも作動す
る。
“PRB WASH VAC VAL"は上記の具体化例でプローブ洗
浄ステーションと関連する真空をオン，オフするバルブ
の操作に関係するプローブ洗浄真空バルブを言う。
浄ステーションと関連する真空をオン，オフするバルブ
の操作に関係するプローブ洗浄真空バルブを言う。
“DRD PUMP"および“DRD VALVE"とラベル貼付の時間
線は，ここで使用される２重リソリューション・ポンプ
などのポンプがピペット用プローブの吸い込み，分配作
動を行うとき分析器操作における時間を示す。
線は，ここで使用される２重リソリューション・ポンプ
などのポンプがピペット用プローブの吸い込み，分配作
動を行うとき分析器操作における時間を示す。
“SHUTTLE"時間線は容器トランスポートが検定成分搬
送手段が検定成分を配分できるような位置に反応容器を
位置させる時を示す。前に説明するように，検定成分を
受ける反応容器は，プローブのピペット操作中に恒温器
ベルトが移動可能なように，恒温器ベルト54よりも，む
しろ容器トランスポート（例えば，容器チェーン70）に
位置されるのがよい。容器チェーンを用いる具体化例
で，容器チェーンは新容器を搬送のため適正に位置させ
るために，ほぼT2で１位置，引っ込められる。プローブ
は選ばれる被検定試験に必要なサンプルと，すべての試
薬を分析器の１サイクル中，反応容器に移送する。検定
成分を入れている容器は次に次サイクル中に恒温器ベル
トに移送される準備を行う。
送手段が検定成分を配分できるような位置に反応容器を
位置させる時を示す。前に説明するように，検定成分を
受ける反応容器は，プローブのピペット操作中に恒温器
ベルトが移動可能なように，恒温器ベルト54よりも，む
しろ容器トランスポート（例えば，容器チェーン70）に
位置されるのがよい。容器チェーンを用いる具体化例
で，容器チェーンは新容器を搬送のため適正に位置させ
るために，ほぼT2で１位置，引っ込められる。プローブ
は選ばれる被検定試験に必要なサンプルと，すべての試
薬を分析器の１サイクル中，反応容器に移送する。検定
成分を入れている容器は次に次サイクル中に恒温器ベル
トに移送される準備を行う。
反応容器を恒温器ベルトに移送するために，チェーン
は２位置進められ（ADV2），恒温器ベルトは前方に１位
置割り出され，容器のベルトへの移送を可能にする。恒
温器ベルトのこの移動は，ほぼT1とほぼT2との間に“IN
CUBATION BELT"とラベル貼付された時間線沿いに示され
る。“SHUTTKE XFER"とは温置移送ステーションを言
う。上記に説明するように，洗浄済み容器が洗浄ホイー
ルから“WASHOUT XFER"（２次洗浄移送ステーション）
の恒温器ベルトに，また，シャトル（容器チェーン）が
２位置前進しながら“SHUTTLE XFER"に移動する時は，
洗浄済みの容器は廃物バッグに処分のために位置され
る。
は２位置進められ（ADV2），恒温器ベルトは前方に１位
置割り出され，容器のベルトへの移送を可能にする。恒
温器ベルトのこの移動は，ほぼT1とほぼT2との間に“IN
CUBATION BELT"とラベル貼付された時間線沿いに示され
る。“SHUTTKE XFER"とは温置移送ステーションを言
う。上記に説明するように，洗浄済み容器が洗浄ホイー
ルから“WASHOUT XFER"（２次洗浄移送ステーション）
の恒温器ベルトに，また，シャトル（容器チェーン）が
２位置前進しながら“SHUTTLE XFER"に移動する時は，
洗浄済みの容器は廃物バッグに処分のために位置され
る。
“RAKE"時間線は新容器ローダー72の複数のフィンガ
ーの移動を言う。容器の新しい列は必要な時だけ移動す
る。
ーの移動を言う。容器の新しい列は必要な時だけ移動す
る。
発明の方法の重要な特徴は，恒温器ベルトと洗浄ホイ
ールの時間線と移動を比較することにより見られる。洗
浄ホイールはその固定期間時間サイクルのそれぞれの内
に一定距離を進められる。洗浄ホイール時間線に示され
るよう，提起具体化例では，分析器の固定各サイクル中
に前進は３回起こり，この具体化例では，恒温器ベルト
の１割り出しサイクルがある。示される具体化例の洗浄
ホイールは図12の５時間目盛ごとに進められ，最初の前
進はほぼT3・４で起こり２回目の移動は，ほぼT8・４
で,3回目の移動は，ほぼT13・４で起こる。示される具
体化例で１分析器サイクルは約15時間目盛（T0−T9）に
等しく，洗浄ホイールの３次割り出しと次サイクルのT3
・４でのその次の割り出しは，従って，約５時間目盛と
なる。。
ールの時間線と移動を比較することにより見られる。洗
浄ホイールはその固定期間時間サイクルのそれぞれの内
に一定距離を進められる。洗浄ホイール時間線に示され
るよう，提起具体化例では，分析器の固定各サイクル中
に前進は３回起こり，この具体化例では，恒温器ベルト
の１割り出しサイクルがある。示される具体化例の洗浄
ホイールは図12の５時間目盛ごとに進められ，最初の前
進はほぼT3・４で起こり２回目の移動は，ほぼT8・４
で,3回目の移動は，ほぼT13・４で起こる。示される具
体化例で１分析器サイクルは約15時間目盛（T0−T9）に
等しく，洗浄ホイールの３次割り出しと次サイクルのT3
・４でのその次の割り出しは，従って，約５時間目盛と
なる。。
恒温器ベルトと洗浄ホイール時間線を比較すれば,2つ
の検定リソースは決して同時に移送するように計画され
ないことが示される。洗浄ホイールが動くと恒温器ベル
トは静止を維持する。同様のことが容器トランスポート
と恒温ベルトの間で真である−それらは決して同時に移
動するようには計画されない。分析器の固定サイクル中
の他の時期には恒温器は移動自由である。これにより望
みの容器が恒温器ベルトに運ばれる経路沿いに，他の検
定リソースの操作に干渉されないで希望の移送箇所に移
動できる。
の検定リソースは決して同時に移送するように計画され
ないことが示される。洗浄ホイールが動くと恒温器ベル
トは静止を維持する。同様のことが容器トランスポート
と恒温ベルトの間で真である−それらは決して同時に移
動するようには計画されない。分析器の固定サイクル中
の他の時期には恒温器は移動自由である。これにより望
みの容器が恒温器ベルトに運ばれる経路沿いに，他の検
定リソースの操作に干渉されないで希望の移送箇所に移
動できる。
図12に示す６つの時間線は洗浄サイクルに組み込まれ
る要素の作動タイミングを反映している。配分洗浄溶液
に関係するピペットの移動と組み込みポンプおよびバル
ブがそれぞれ，“WASH PIP Z",“WASH PUMP"および“WA
SH VALVE"とラベル貼付される時間線に示される。同様
に，“WASTE PUMP"および“WASTE VALV"とラベル貼付さ
れる時間線は共に流体の吸い込みに関係している。“MI
XER MOTOR"とラベルされる時間線は提起具体化例に述べ
る上記に説明した混合手段を示している。本文に述べる
混合手段形式を使用のときは，モーターは，除去可能に
反応容器の最上部に取り付けれられる回転手段を，先ず
前進方向，時計方向に回転し，次に，反時計方向に，次
いで，もう一度時計方向に回転させる。
る要素の作動タイミングを反映している。配分洗浄溶液
に関係するピペットの移動と組み込みポンプおよびバル
ブがそれぞれ，“WASH PIP Z",“WASH PUMP"および“WA
SH VALVE"とラベル貼付される時間線に示される。同様
に，“WASTE PUMP"および“WASTE VALV"とラベル貼付さ
れる時間線は共に流体の吸い込みに関係している。“MI
XER MOTOR"とラベルされる時間線は提起具体化例に述べ
る上記に説明した混合手段を示している。本文に述べる
混合手段形式を使用のときは，モーターは，除去可能に
反応容器の最上部に取り付けれられる回転手段を，先ず
前進方向，時計方向に回転し，次に，反時計方向に，次
いで，もう一度時計方向に回転させる。
基質バルブの時間線および基質ポンプ，（“SUBST VL
V"および“SUBST PUMP"）基質搬送手段の要素が図12に
示されている。
V"および“SUBST PUMP"）基質搬送手段の要素が図12に
示されている。
“VAC PUMP"時間線は真空を必要とする分析器のこれ
ら要素に真空を供給する真空ポンプの連続作動を示して
いる。これらの要素に関する真空の作動はそれぞれのバ
ルブの開閉により制御される。
ら要素に真空を供給する真空ポンプの連続作動を示して
いる。これらの要素に関する真空の作動はそれぞれのバ
ルブの開閉により制御される。
信号検出手段の作動は図12に“READ LUMIN"とラベル
された時間線に示されている。ルミノメーターは反応用
器がルミノメーターに隣接して位置せず，一連のベース
・ライン測定値（“ダーク・カウント”）が行われると
きに，洗浄ホイールの２次割り出しサイクル中に作動す
る。（詳細に説明するように，分析器の提起具体化例の
洗浄ステーションおよび読み出しステーションは物理的
に洗浄ホイールに統合されている）。洗浄ホイールは次
に前方に割り出し，サンプルを入れている反応容器をル
ミノメーターの隣に置く。ルミノメーターは次に一連の
読みを取り，発生される信号を測定する。発生信号の量
はサンプルおよび，得られる最終試験結果に存在する被
検体の量と相関することがある。
された時間線に示されている。ルミノメーターは反応用
器がルミノメーターに隣接して位置せず，一連のベース
・ライン測定値（“ダーク・カウント”）が行われると
きに，洗浄ホイールの２次割り出しサイクル中に作動す
る。（詳細に説明するように，分析器の提起具体化例の
洗浄ステーションおよび読み出しステーションは物理的
に洗浄ホイールに統合されている）。洗浄ホイールは次
に前方に割り出し，サンプルを入れている反応容器をル
ミノメーターの隣に置く。ルミノメーターは次に一連の
読みを取り，発生される信号を測定する。発生信号の量
はサンプルおよび，得られる最終試験結果に存在する被
検体の量と相関することがある。
図22は図12に図解するものと類似のタイミング線図で
あるが，図13に図解する具体化例の作動を示している。
分析器の作動の大部分は容器トランスポート機能から離
れて，本質的には図１に示す分析器のそれと同じであ
る。従って，図22は一般的に大部分の機能に関して図12
と同じであり，図22に概略的に示される図13の分析器の
作動は，すぐ上に記述する図12の論議に関して容易に理
解できる。けれども，図13の具体化例で，図１の分析器
のチェーン70は図13−19に示される容器シャトルと交換
される。従って，図22A−22Fのタイミング線図は，容器
シャトルの駆動シャフト220の作動に対応して“SHUTTL
E"とラベルされた時間線を含む（図14に最も良く見られ
る）。図22に示されるように，駆動シャフトを回転させ
るモーターは恒温器ベルトの動いている間は作動するよ
うに適用されていない。容器シャトルが恒温器ベルトが
動いている間に動かされようとすると１次容器搬送プレ
ート260は恒温器の経路に伸び，恒温器ベルトの移動を
遮断することがある。容器シャトルのドライバー，それ
はモーターと駆動シャフト220を含むことがあるが，恒
温器ベルトがまだ静止している時，ほぼ時間T0.5とほぼ
時間T3.5の間の運動を制限される。容器シャトルは“PI
PPETOR Z MOTION"時間線が，検定成分搬送手段が容器シ
ャトルの経路の搬送手段のアクセス箇所の容器内にある
ことを示す時，移動するように適用されていることに注
目すべきである。プローブが容器シャトル経路沿いに容
器に挿入される間に，容器シャトルが容器を進めさせれ
ば，プローブはシャトルの作動と干渉するだろう。
あるが，図13に図解する具体化例の作動を示している。
分析器の作動の大部分は容器トランスポート機能から離
れて，本質的には図１に示す分析器のそれと同じであ
る。従って，図22は一般的に大部分の機能に関して図12
と同じであり，図22に概略的に示される図13の分析器の
作動は，すぐ上に記述する図12の論議に関して容易に理
解できる。けれども，図13の具体化例で，図１の分析器
のチェーン70は図13−19に示される容器シャトルと交換
される。従って，図22A−22Fのタイミング線図は，容器
シャトルの駆動シャフト220の作動に対応して“SHUTTL
E"とラベルされた時間線を含む（図14に最も良く見られ
る）。図22に示されるように，駆動シャフトを回転させ
るモーターは恒温器ベルトの動いている間は作動するよ
うに適用されていない。容器シャトルが恒温器ベルトが
動いている間に動かされようとすると１次容器搬送プレ
ート260は恒温器の経路に伸び，恒温器ベルトの移動を
遮断することがある。容器シャトルのドライバー，それ
はモーターと駆動シャフト220を含むことがあるが，恒
温器ベルトがまだ静止している時，ほぼ時間T0.5とほぼ
時間T3.5の間の運動を制限される。容器シャトルは“PI
PPETOR Z MOTION"時間線が，検定成分搬送手段が容器シ
ャトルの経路の搬送手段のアクセス箇所の容器内にある
ことを示す時，移動するように適用されていることに注
目すべきである。プローブが容器シャトル経路沿いに容
器に挿入される間に，容器シャトルが容器を進めさせれ
ば，プローブはシャトルの作動と干渉するだろう。
本発明の提起具体化例が述べられている間に，発明の
精神および添付の請求事項から離れることなく，そこに
各種の変更，適用および修正が行われることがある。
精神および添付の請求事項から離れることなく，そこに
各種の変更，適用および修正が行われることがある。
フロントページの続き
(72)発明者 クロフ、ロス
アメリカ合衆国 55411 ミネソタ、ミ
ネアポリス、モーガン・アヴェニュー・
ノース 1219番
(72)発明者 プラサド、ヴェンカテッシュ
アメリカ合衆国 55344 ミネソタ、イ
ーデン・プレイリー、ナンバー 316、
チェスナット・ドライブ 13875番
(72)発明者 ジター、ガーション
アメリカ合衆国 55116 ミネソタ、セ
ント・ポール、ハンプシャー・アヴェニ
ュー 1765番
(72)発明者 ウィルビスキー、アラン
アメリカ合衆国 55347 ミネソタ、イ
ーデン・プレイリー、ウィリアムスバー
グ・コート 14998番
(72)発明者 ブリーザー、デイビッド
アメリカ合衆国 55112 ミネソタ、セ
ント・ポール、ナンバー ９、ウェス
ト・アイダホ・アヴェニュー 429番
(56)参考文献 特開 平４−208864（ＪＰ，Ａ)
米国特許4058367（ＵＳ，Ａ)
米国特許3644095（ＵＳ，Ａ)
国際公開92／5448（ＷＯ，Ａ１)
国際公開93／3347（ＷＯ，Ａ１)
Ｔ．Ｍ．Ｆｉｅｌｄ，Ｈ．Ｎ．Ｒｏｓ
ｓ ａｎｄ Ｄ．Ｅ．Ｓｔａｂｅｌ
ｌ，”Ｏｖｅｒｌａｐｐｅｄ ｐｒｏｃ
ｅｓｓｉｎｇ ｉｎ ｗｅｔ ｃｈｅｍ
ｉｃａｌ ａｎａｌｙｚｅｒ”，ＩＢＭ
Ｔｅｃｈｎｉｃａｌ Ｄｉｓｃｌｏｓ
ｕｒｅ Ｂｕｌｌｅｔｉｎ，米国，1976
年 ８月，第19巻、第３号，ｐ．1022−
1024
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 35/00 - 35/10
ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (24)
- 【請求項１】複数のサンプルを自動的に分析する自動分
析化学方法であって、 ａ）それぞれが、一定期間の時間サイクルを限定する最
初の割り出し時間内に、サンプルを含む反応容器に事前
に決定された操作を行うことができる複数の検定リソー
ス・ステーション、および、前記時間サイクルの整数倍
数の関数として反応容器の１つへ検定リソースを割り当
てるスケジュール手段と、複数の事前に決定された複数
の異なるプロトコルから選ばれたプロトコルにより、１
つの検定リソース・ステーションから別の検定リソース
・ステーションへの反応容器の移送を制御する移送制御
手段とよりなる分析器制御手段を用意する工程と、 ｂ）第１サンプルに伴うプロトコルと第２サンプルに伴
うプロトコルとは異なるようにして、第１サンプルと第
２サンプルおよびそれぞれにおいて調査すべき被検体を
識別するため分析器制御手段へ情報を供給する工程と、 ｃ）前記時間サイクルの整数倍数の関数として第１検定
のための検定リソース条件を決定し、第１検定のリソー
ス条件に従って第１検定のため、必要な検定リソース・
ステーションのそれぞれの時間サイクルを割当てる工程
と、 ｄ）前記時間サイクルの整数倍数の関数として第２検定
のための検定リソース条件を決定し、第２検定に必要な
検定リソース・ステーションのそれぞれの時間サイクル
を第２検定のリソース条件および検定リソース・ステー
ションの利用性に従って割当てる工程と、 ｅ）１つの必要な検定リソース・ステーションから次の
必要な検定リソース・ステーションへ、各反応容器を自
動的に移送することにより前記第１検定および第２検定
を処理する工程と からなる自動化学分析方法。 - 【請求項２】請求の範囲第１項に記載の方法において、
各検定リソース・ステーションは、事前に決定された作
業シーケンスを持ち、その作業シーケンスは、その検定
リソース・ステーションのいずれかの検定リソースが事
前に決定された作業を行うために利用できる作業シーケ
ンスであり、作業シーケンスの各々は第１の割り出し時
間に等しい期間の間に始まりかつ終了する期間であるこ
とを特徴とする自動化学分析方法。 - 【請求項３】請求の範囲第２項に記載の方法において、
第１と第２の前記検定リソース・ステーションが、それ
ぞれ反応容器の移動経路を限定し、サンプルを入れてい
る反応容器を移動経路沿いに輸送することを特徴とする
自動化学分析方法。 - 【請求項４】請求の範囲第３項に記載の方法において、
１つの反応容器を、各時間サイクル中に第１の検定リソ
ース・ステーションの経路沿いに一定距離、移動し、別
の反応容器を、各時間サイクル中に第２の検定リソース
・ステーションの経路沿いに可変距離、輸送する工程を
さらに含むことを特徴とする自動化学分析方法。 - 【請求項５】少なくとも２つの異なる被検体に関する複
数のサンプルを自動的に分析する自動化学分析装置であ
って、 それぞれが、一定期間の時間サイクルを限定する最初の
割り出し時間内に、サンプルを入れている反応容器に事
前に決定された操作を行うことができる複数の検定リソ
ース・ステーションと、 前記時間サイクルの整数倍数の関数として反応容器の１
つへ検定リソースを割り当てるスケジュール手段と、 事前に決定された複数の異なるプロトコルから選ばれた
プロトコルにより、１つの検定リソース・ステーション
から別の検定リソース・ステーションへの直接の反応容
器の移送を制御する移送制御手段と を備える自動化学分析装置。 - 【請求項６】請求の範囲第５項に記載の装置において、
各検定リソース・ステーションが、事前に決定された作
業シーケンスを持ち、その作業シーケンスは、その検定
リソース・ステーションのいずれかの検定リソースが事
前に決定された作業を行うために利用できる作業シーケ
ンスであり、作業シーケンスのそれぞれは第１割り出し
時間に等しい期間の間に始まり、終了する期間であるこ
とを特徴とする自動化学分析装置。 - 【請求項７】請求の範囲第６項に記載の装置において、
第１と第２の前記検定リソース・ステーションがそれぞ
れ反応容器の移動経路を限定し、さらに、サンプルを入
れている反応容器を移動経路沿いに移動する輸送手段よ
りなることを特徴とする自動化学分析装置。 - 【請求項８】請求の範囲第７項に記載の装置において、
さらに第１と第２の移送ステーションを備え、第１と第
２の検定リソース・ステーションにより限定される移動
経路が互いに交差し、第１と第２の移送ステーションは
第１検定リソース・ステーションから第２検定リソース
・ステーションに反応容器を移送する移送手段を備える
ことを特徴とする自動化学分析装置。 - 【請求項９】請求の範囲第８項に記載の装置において、
第１検定リソース・ステーションが実質的に一定の昇温
温度に維持されることを特徴とする自動化学分析装置。 - 【請求項１０】請求の範囲第７項に記載の装置におい
て、第２検定リソース・ステーション輸送手段が第２割
り出し時間を持つ第２割り出しサイクルを持ち、各々の
第２割り出しサイクル中に一定距離、移動経路沿いに反
応容器を移送することを特徴とする自動化学分析装置。 - 【請求項１１】請求の範囲第10項に記載の装置におい
て、第１割り出し時間が第２割り出し時間の整数倍数で
あることを特徴とする自動化学分析装置。 - 【請求項１２】請求の範囲第11項に記載の装置におい
て、第１割り出し時間が第２割り出し時間に等しくない
ことを特徴とする自動化学分析装置。 - 【請求項１３】少なくとも２つの異なる被検体に関する
複数のサンプルを自動的に分析する自動化学分析装置で
あって、 ａ）それぞれが、一定期間の時間サイクルを限定する最
初の割り出し時間内に、サンプルを含む反応容器に事前
に決定された操作を行うことができる複数の検定リソー
ス・ステーションであって、温置経路沿いに複数の反応
容器を運ぶ細長い可動移送手段を備える温置ステーショ
ン、間隔をあけた第１と第２の端部を持つ洗浄サイクル
経路沿いに複数の反応容器を受け取り、運ぶ可動移送手
段を備える洗浄ステーション、及び、読み出しステーシ
ョン経路を限定する信号検出手段を備える読み出しステ
ーションを含む複数の検定リソース・ステーションと、 ｂ）温置経路から洗浄サイクル経路へ反応容器を移送す
る洗浄サイクル経路の第１端部に隣接して位置する第１
移送ステーション手段と、 ｃ）洗浄サイクルの第２端部と読み出し経路の第１端部
とに隣接して位置して、洗浄サイクル経路から温置経路
または読み出し経路へ選択的に反応容器を移送する第２
移送ステーション手段と、 ｄ）前記時間サイクルの整数倍数の関数として反応容器
の１つに検定リソースを割り当てるスケジュール手段
と、前記の被検体に関するサンプルを分析するため、事
前に決定された複数の異なるプロトコルから選ばれたプ
ロトコルにより、１つの検定リソース・ステーションか
ら他の検定リソース・ステーションへの反応容器の移送
を制御する移送制御手段と を備える自動化学分析装置。 - 【請求項１４】請求の範囲第13項に記載の装置におい
て、温置ステーションが第１割り出し時間に等しい割り
出し時間を持つ恒温器ベルトを備えることを特徴とする
自動化学分析装置。 - 【請求項１５】請求の範囲第13項に記載の装置におい
て、洗浄ステーションが、第１割り出し時間を持つ第２
割り出しサイクルを有し、洗浄移送手段が、各々の第２
割り出しサイクル中に一定の距離だけ洗浄サイクル経路
沿いに反応容器を移動することを特徴とする自動化学分
析装置。 - 【請求項１６】請求の範囲第15項に記載の装置におい
て、第１割り出し時間が第２割り出し時間の整数倍数で
あることを特徴とする自動化学分析装置。 - 【請求項１７】請求の範囲第13項に記載の装置におい
て、温置ステーションの移送手段が、対になったフィン
ガーとほぼ平行な１対の壁とを備える可動トラックを備
え、温置経路沿いに前記複数の反応容器をほぼ垂直に支
持することを特徴とする自動化学分析装置。 - 【請求項１８】請求の範囲第17項に記載の装置におい
て、洗浄ステーションの移送手段が、対になっているフ
ィンガーとほぼ平行な１対の壁とを含む可動トラックを
備え、洗浄サイクル経路沿いに前記複数の反応容器をほ
ぼ垂直に支持し、温置手段は第１移送ステーション手段
に隣接する洗浄手段のフィンガーにほぼ垂直な方向を持
つことを特徴とする自動化学分析装置。 - 【請求項１９】請求の範囲第13項に記載の装置におい
て、温置ステーション移送手段と洗浄ステーション移送
手段のそれぞれが割り出し位置を持ち、温置移送手段
は、移送される物体を支持しない割り出し位置と、移送
される物体を支持する割り出し位置を交互に備え、温置
経路と洗浄サイクル経路は互いに２つの間隔をあけた交
差位置で交差し、温置経路沿いの２つの交差位置間の距
離は温置ステーション移送手段の奇数の割り出し位置に
等しく、洗浄サイクル経路沿いの２つの交差位置間の距
離は洗浄ステーション手段のxn＋１の割り出し位置に等
しく、ここで、ｘとｎは整数でありｘは２より大きいこ
とを特徴とする自動化学分析装置。 - 【請求項２０】請求の範囲第19項に記載の装置におい
て、温置ステーション移送手段が、第１割り出し時間に
等しい割り出し時間において可変数の割り出し位置を移
動し、洗浄ステーション移送手段が、前記割り出し時間
において一方向にｘ割り出し位置だけ移動することを特
徴とする自動化学分析装置。 - 【請求項２１】請求の範囲第20項に記載の装置におい
て、ｘが３であることを特徴とする自動化学分析装置。 - 【請求項２２】請求の範囲第21項に記載の装置におい
て、洗浄ステーション移送手段がエンドレス移送機構で
あり、かつ洗浄ステーション移送手段はその長さ沿いに
合計（xn＋１）の割り出し位置を持つことを特徴とする
自動化学分析装置。 - 【請求項２３】請求の範囲第22項に記載の装置におい
て、温置ステーション移送手段がエンドレス移送機構で
あり、かつ温置ステーション移送手段はその長さ沿いに
奇数の割り出し位置を持つことを特徴とする自動化学分
析装置。 - 【請求項２４】少なくとも２つの異なる被検体に対する
複数のサンプルを自動的に分析する方法であって、 ａ）複数の検定リソース・ステーションと分析器制御手
段とを用意する工程であって、ここに、前記複数の検定
リソース・ステーションは、それぞれ、一定期間の時間
サイクルを限定する最初の割り出し時間内に、サンプル
を含む反応容器に事前に決定された操作を行うことがで
き、複数の検定リソース・ステーションの中の第１と第
２の検定リソース・ステーションはそれぞれ反応容器の
移動経路を限定し、前記分析器制御手段は、前記時間サ
イクルの整数倍数の関数として反応容器の１つに検定リ
ソースを割り当てるスケジュール手段と、事前に決定さ
れた複数の異なるプロトコルから選ばれたプロトコルに
より、１つの検定リソース・ステーションから他の検定
リソース・ステーションへの反応容器の移送を制御する
移送制御手段とを備える工程と、 ｂ）第１のサンプルに用いるプロトコルと第２のサンプ
ルに用いるプロトコルとを異なるようにして、第１サン
プルと第２サンプルおよびそれぞれにおいて調査すべき
被検体を識別する情報を前記分析器制御手段へ供給する
工程と、 ｃ）前記時間サイクルの整数倍数の関数として第１検定
のための検定リソース条件を決定し、第１検定のリソー
ス条件により、必要な各検定リソース・ステーションの
時間サイクルを割り当てる工程と、 ｄ）前記時間サイクルの整数倍数の関数として第２検定
のための検定リソース条件を決定し、第２検定のリソー
ス条件および検定リソース・ステーションの利用性によ
り、必要な各検定リソース・ステーションの時間サイク
ルを割り当てる工程と、 ｅ）前記時間サイクルの各々において第１の検定リソー
ス・ステーションの経路に沿って一定距離だけ反応容器
を移動し、前記時間サイクルの各々において第２の検定
リソース・ステーションの経路に沿って可変距離だけ別
の反応容器を移動することにより、第１および第２の検
定リソース・ステーションの移送経路に沿って第１また
は第２のサンプルを含む反応容器を輸送することによ
り、前記第１検定および第２検定を処理する工程と からなる自動化学分析方法。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/878,956 | 1992-05-05 | ||
| US07/878,956 US5380487A (en) | 1992-05-05 | 1992-05-05 | Device for automatic chemical analysis |
| PCT/US1993/004209 WO1993022686A2 (en) | 1992-05-05 | 1993-05-04 | Method and device for automatic chemical analysis |
Related Child Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2001341843A Division JP3553540B2 (ja) | 1992-05-05 | 2001-11-07 | 自動化学分析方法および装置 |
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|---|---|
| JPH07500420A JPH07500420A (ja) | 1995-01-12 |
| JP3372544B2 true JP3372544B2 (ja) | 2003-02-04 |
Family
ID=25373157
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51960093A Expired - Lifetime JP3372544B2 (ja) | 1992-05-05 | 1993-05-04 | 自動化学分析方法および装置 |
| JP2001341843A Expired - Lifetime JP3553540B2 (ja) | 1992-05-05 | 2001-11-07 | 自動化学分析方法および装置 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001341843A Expired - Lifetime JP3553540B2 (ja) | 1992-05-05 | 2001-11-07 | 自動化学分析方法および装置 |
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| JP (2) | JP3372544B2 (ja) |
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| AU (1) | AU667110B2 (ja) |
| CA (1) | CA2112587A1 (ja) |
| DE (3) | DE69332894T2 (ja) |
| DK (1) | DK0593735T3 (ja) |
| ES (1) | ES2112420T3 (ja) |
| GR (1) | GR3026112T3 (ja) |
| NZ (2) | NZ299717A (ja) |
| WO (1) | WO1993022686A2 (ja) |
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