JP3369418B2 - 超音波振動子、超音波洗浄ノズル、超音波洗浄装置、基板洗浄装置、基板洗浄処理システムおよび超音波洗浄ノズル製造方法 - Google Patents

超音波振動子、超音波洗浄ノズル、超音波洗浄装置、基板洗浄装置、基板洗浄処理システムおよび超音波洗浄ノズル製造方法

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JP3369418B2
JP3369418B2 JP31376696A JP31376696A JP3369418B2 JP 3369418 B2 JP3369418 B2 JP 3369418B2 JP 31376696 A JP31376696 A JP 31376696A JP 31376696 A JP31376696 A JP 31376696A JP 3369418 B2 JP3369418 B2 JP 3369418B2
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chemical liquid
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、薬液に対して超音
波を付与する超音波振動子、当該超音波振動子を適用し
た超音波洗浄ノズルおよび超音波洗浄装置、当該超音波
洗浄ノズルを使用して半導体基板や液晶ガラス基板など
の薄板状基板(以下、「基板」と称する)に洗浄処理を
行う基板処理装置および基板処理システム、並びに前記
超音波振動子の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、被洗浄物の表面に付着した汚
染物を迅速かつ確実に除去する洗浄技術として超音波洗
浄が知られている。この超音波洗浄には多くの手法が存
在するが、例えば洗浄液を貯留した洗浄槽に超音波振動
子を設置し、当該洗浄液中に超音波を照射する超音波洗
浄装置などが一般的である。超音波洗浄の特長として
は、複雑な形状の被洗浄物であっても洗浄液に浸すだけ
で容易に短時間で洗浄できることである。
【0003】一方、上記のような基板は、種々の処理を
経て製品化されるが、その処理工程のなかでも基板面に
付着したパーティクルなどを除去する洗浄処理は重要な
工程の一つである。そして、基板に対する洗浄処理を行
う装置としては、複数の基板を同時に洗浄するバッチ式
洗浄装置と1枚の基板を順次洗浄する枚葉式洗浄装置と
が存在する。
【0004】これらの基板洗浄装置にも、超音波洗浄が
有効な洗浄技術として適用されている。バッチ式洗浄装
置に超音波洗浄を適用する場合には、上述の如く、洗浄
槽に超音波振動子が取り付けられ、また、枚葉式洗浄装
置に超音波洗浄を適用する場合には、超音波振動子を組
み込んだ超音波洗浄ノズルが使用される。この超音波洗
浄ノズルは、ノズル中を流れる洗浄液中に超音波を照射
し、当該洗浄液を基板に噴出するノズルである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
な基板の洗浄に用いる洗浄液としては、純水の他にも種
々の薬液が存在する。洗浄液として薬液を使用する場合
には、以下に示すような様々な問題が生じる。すなわ
ち、超音波洗浄ノズルは一般に金属材料と樹脂とを組み
合わせて作成されているが、これらのうち、金属材料は
超音波振動によって変形を受けにくく、十分な耐性は有
するものの、薬液に対する耐食性が乏しく、さらに、溶
出した金属が基板を汚染する。また、樹脂は、金属材料
と逆に、薬液に対する耐食性は優れているが、超音波振
動に対しては発熱したり、変形を受けたりする。
【0006】そこで、いわゆるセラミックスを選択した
場合には、薬液によって当該セラミックス中の不純物が
溶出し基板を汚染するため、いずれも適さない。
【0007】また、バッチ式洗浄装置においても、同様
の問題が生じるため、超音波振動子を設置する処理槽の
内側に薬液を満たす内槽を設けて処理を行う必要があ
り、当該内槽によって超音波が減衰するため洗浄処理の
効率が低下していた。
【0008】本発明は、上記課題に鑑み、処理液として
薬液を使用した場合であっても、超音波に対する耐性と
薬液に対する耐食性を有するとともに、洗浄中に被洗浄
物を汚染しない超音波振動子、超音波洗浄ノズルおよび
超音波洗浄装置を提供することを目的とする。
【0009】また、本発明は、洗浄中に基板を汚染する
懸念のない基板洗浄装置および基板処理システムを提供
することを目的とする。
【0010】さらに、本発明は、上記超音波洗浄ノズル
の製造方法を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明は、超音波発振器に接続され、所定
の薬液に接液する接液面より前記薬液に超音波を付与す
る超音波振動子であって、前記接液面に高純度SiC又
純度が99.980wt.%以上である高純度石英の
いずれかが形成されている。
【0012】また、請求項2の発明は、所定の薬液に超
音波を付与し、被洗浄物に前記薬液を噴出する超音波洗
浄ノズルであって、(a) 前記薬液が供給される供給口
と、(b) 前記供給された薬液に超音波を付与する請求項
1記載の超音波振動子と、(c)超音波を付与された前記
薬液を前記被洗浄物に噴出する噴出口とを備え、前記噴
出口のうち少なくとも前記薬液に付与された超音波が衝
突する接液部分に高純度SiCが形成されている。
【0013】また、請求項3の発明は、所定の薬液に浸
漬された被洗浄物に超音波を照射して前記被洗浄物を洗
浄する超音波洗浄装置であって、(a) 前記薬液を貯留す
る洗浄槽と、(b) 前記洗浄槽に設けられた請求項1記載
の超音波振動子とを備えている。
【0014】また、請求項4の発明は、基板に所定の薬
液を噴出して洗浄処理を行う基板洗浄装置であって、請
求項2記載の超音波洗浄ノズルを備えている。
【0015】また、請求項5の発明は、基板に所定の複
数洗浄処理を行う基板洗浄処理システムにおいて、請求
項4記載の基板洗浄装置を組み込んでいる。
【0016】また、請求項6の発明は、超音波を付与さ
れた所定の薬液を被洗浄物に噴出する超音波洗浄ノズル
の製造方法であって、(a) 前記薬液に超音波を付与する
超音波振動子の接液面に化学気相蒸着によって形成され
た高純度SiCを固着する工程と、(b) 前記薬液を噴出
する噴出口のうち、少なくとも前記薬液に付与された超
音波が衝突する接液部分に高純度SiCを化学気相蒸着
によって形成する工程とを備えている。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について詳細に説明する。
【0018】図1は、本発明に係る超音波洗浄ノズルU
Sの断面概略図である。この超音波洗浄ノズルUSは、
ノズルキャップ40と、ケースボディ30と、超音波振
動子10とを備えている。
【0019】超音波振動子10は、ノズル外部の超音波
発振器25に電気的に接続され、超音波洗浄ノズルUS
内を流れる薬液にメガヘルツ帯の超音波を照射する。す
なわち、超音波発振器25が電気信号を発生し、その電
気信号はケーブル21から導管20を経由して超音波振
動子10に伝達される。そして、超音波振動子10は、
当該電気信号に応じて薬液に超音波を照射する。また、
超音波振動子10は、オーリング15を挟み込んで、ケ
ースボディ30に固設されており、当該オーリング15
によって薬液が超音波振動子10よりも上方に漏れない
ように構成されている。
【0020】ノズルキャップ40は、すり鉢形状の部材
であり、ポリプロピレン製のケースボディ30の下部に
接続されている。このときに、ノズルキャップ40とケ
ースボディ30とは、着脱自在とされており、樹脂製の
接続部材50によって固定されている。なお、ノズルキ
ャップ40とケースボディ30とは、着脱可能であれば
よく、例えば、キャップ嵌合部40aおよびボディ嵌合
部30aをネジ機構によって接続してもよい。
【0021】また、ケースボディ30は、供給管60に
接続されており、当該供給管60からは洗浄用の薬液が
供給される。図1には、説明の便宜のため、超音波洗浄
ノズルUSにおける薬液の流れを実線矢印にて示した。
すなわち、供給管60から供給された薬液は、供給口6
5を経てケースボディ30内部に流入し、超音波振動子
10によってメガヘルツ帯の超音波を照射された後、ケ
ースボディ30の下方へ流れ、ノズルキャップ40の噴
出口45から基板Wに向けて噴出される。
【0022】ところで、超音波洗浄ノズルUSにおい
て、超音波振動子10から照射された超音波は、図1中
の点線矢印に示すように、薬液中を進行する。本実施形
態において照射される超音波はメガヘルツ帯の高周波で
あり、図示の如くほぼ直線方向に進行する。したがっ
て、超音波振動子10から照射された超音波は、ケース
ボディ30の内壁面とほぼ平行に進み、やがてノズルキ
ャップ40の内壁40bに衝突し、当該内壁40bにお
いて反射された後、噴出口45から薬液とともに放射さ
れる。
【0023】ノズルキャップ40の内壁40b、すなわ
ち薬液と接触し、かつ超音波と衝突する部分は、高純度
SiCにて形成されている。また、超音波振動子10の
超音波照射面10aも、薬液と超音波の双方から影響を
受ける部分であり、高純度SiCにて形成されている。
高純度SiCは、薬液によって腐食されることもなく、
不純物が溶出することもなく、さらに超音波によっても
発熱したり、変形を受けたりすることがない。このよう
な特性を備える高純度SiCの純度は96.0wt.%
以上が好ましく、98.5wt.%以上が最も好まし
い。
【0024】ノズルキャップ40の内壁40bを高純度
SiCで形成する方法としては、まず、ノズルキャップ
40の基体を焼結SiCによって成形する。焼結SiC
は、焼結時に粒子結合の目的で焼結助剤を添加するた
め、純度があまり高くなく、このままでは、薬液と接触
したときに不純物が溶出する。そこで、焼結SiCの基
体の表面に化学気相蒸着(以下、「CVD」とする)に
よって、高純度SiCをコーティングする。
【0025】一方、超音波振動子10の超音波照射面1
0aも、焼結SiCの基体の表面にCVDによって高純
度SiCをコーティングしたものを当該超音波振動子1
0に接着剤などによって貼り付けて固着したものであ
る。
【0026】以上のようにすれば、超音波洗浄ノズルU
Sにおいて、薬液と接触し、かつ超音波の影響を受ける
部分は、高純度SiCであるため、超音波に対する耐性
と薬液に対する耐食性を有するとともに、薬液を溶出不
純物によって汚染する懸念もない。
【0027】なお、上記においては、焼結SiCの基体
の表面にCVDによって高純度SiCをコーティングし
ていたが、薬液と接触し、かつ超音波の影響を受ける部
分が高純度SiCで形成されていれば、上記の方法に限
定されるものではない。例えば、高純度SiCのノズル
キャップ40および超音波照射面10aを一体成形する
ようにしてもよい。もっとも、上記のように焼結SiC
の基体の表面にCVDによって高純度SiCをコーティ
ングした方が強度的には優れている。また、上記におい
ては、焼結SiCの基体を使用していたが、これをグラ
ファイトの基体を作製し、当該グラファイト基体にCV
Dによって高純度SiCをコーティングしてもよい。
【0028】一方、ケースボディ30の材料には、ポリ
プロピレンが使用されているが、これに限定されるもの
ではなく、耐薬品性を備えた樹脂材料、例えばPVDF
(フッ化ビニリデン樹脂)やPTFE(四フッ化エチレ
ン樹脂)などであってもよい。さらに、ケースボディ3
0の材料は、樹脂に限定されず、上記の高純度SiCを
適用してもかまわない。
【0029】次に、上記の超音波洗浄ノズルUSを適用
した基板洗浄装置について説明する。図2は、超音波洗
浄ノズルUSを適用した基板洗浄装置100の構成を示
す模式図である。
【0030】基板洗浄装置100においては、回転台8
0の上面に設置された基板支持部材81に支持された基
板Wがモータ85によって回転駆動されつつ、当該基板
W上に超音波洗浄ノズルUSから超音波の照射された薬
液が噴出されて洗浄処理が行われる。この洗浄処理は、
外チャンバ101の中において行われる。また、外チャ
ンバ101の内部には、基板Wの外周縁部を覆うように
洗浄カップ70が配置されており、洗浄処理中に基板W
から飛散した薬液を回収する。そして、回収された薬液
は、外チャンバ101に設けられた排出管102によっ
て装置外部に排出される。
【0031】超音波洗浄ノズルUSに供給される薬液
は、薬液タンク66に貯留されている。ここで、基板洗
浄装置100において使用される薬液としては、NH4OH-
H2O2-H2O混合液(以下、「SC−1液」とする)やO3-H
2O液(以下、「オゾン水」とする)など種々の洗浄液が
適用可能である。洗浄処理中は、薬液がポンプ63によ
って送り出され、フィルタ62と、バルブ61を通過し
た後、供給管60より超音波洗浄ノズルUSのケースボ
ディ30に供給される。そして、ケースボディ30に供
給された薬液は、上述したように超音波振動子10から
超音波を照射され、ノズルキャップ40から基板Wに噴
出される。
【0032】また、超音波洗浄ノズルUSは支持アーム
31を介してパルスモータ35に接続されており、洗浄
処理中は、当該超音波洗浄ノズルUSが基板Wの全面を
洗浄するように揺動する。さらに、基板洗浄装置100
の外チャンバ101内部には、純水専用のノズルと回転
中心近傍に向けられた超音波を使用しない薬液ノズル
(図示省略)が設けられており、純水リンス洗浄と遠心
力の弱い基板Wの回転中心近傍の洗浄とが可能に構成さ
れている。
【0033】なお、図2には、薬液タンク66を1つし
か設けていないが、薬液タンクを2つ以上設け、異なる
薬液を混合して使用したり、あるいは順次使用するよう
にしてもよい。
【0034】上記基板洗浄装置100において洗浄処理
を行う際には、様々な処理工程の組み合わせが可能であ
り、例えば、基板Wに対して、まずSC−1液で超音波
洗浄を行った後、純水リンス洗浄を行い、次に、オゾン
水を使用して超音波洗浄を行った後、再び純水リンス洗
浄を行い、最後に、ノズルからの処理液噴出(薬液、純
水ともに)を停止して、基板Wの回転のみを行い、スピ
ン乾燥を行えばよい。
【0035】図3は、基板洗浄装置100における超音
波洗浄の効果を説明する図である。この図は、基板Wに
Si3N4の粒子を3000〜4000個付着させて、洗浄
したときの除去率を示す図である。図中において、黒丸
は薬液のみの洗浄であり、白丸は薬液洗浄と超音波洗浄
とを併用した場合である。図3から明らかなように、薬
液洗浄と超音波洗浄とを併用した場合の方が短時間で処
理が完了するため、処理効率が向上する。また、同一の
処理時間であれば、薬液洗浄と超音波洗浄とを併用した
場合の方が高い洗浄効果が得られる。さらに、薬液洗浄
と超音波洗浄とを併用して処理時間が短縮できれば薬液
消費量も低減することができる。
【0036】また、基板洗浄装置100の超音波洗浄ノ
ズルUSにおいて、薬液と接触し、かつ超音波の影響を
受ける部分は、高純度SiCであるため、薬液が溶出不
純物によって汚染されず、基板Wの清浄度を保つことが
できる。
【0037】次に、上記基板洗浄装置100を組み込ん
だ基板洗浄処理システムWSについて説明する。図4
は、基板洗浄装置100を組み込んだ基板洗浄処理シス
テムWSの構成を示す模式図である。
【0038】基板洗浄処理システムWSは、基板Wを搬
入するローダLDと、関節を有するアームを屈伸するこ
とによって基板Wを受け渡す基板搬送アームTR1、T
R2、TR3、TR4と、基板洗浄装置100、20
0、300と、基板Wを搬出するアンローダULDとを
備えている。
【0039】ローダLDから搬入された基板Wは、ま
ず、基板搬送アームTR1によって基板洗浄装置100
に渡される。基板洗浄装置100は、上述したように、
超音波洗浄ノズルUSと、純水洗浄ノズル110と、薬
液洗浄ノズル120とを備えている。なお、薬液洗浄ノ
ズル120は超音波を照射しないノズルであり、その薬
液着液地点が基板Wの回転中心近傍になるように設置さ
れている。
【0040】基板洗浄装置100において、基板Wは、
回転駆動されつつ超音波洗浄ノズルUSと薬液洗浄ノズ
ル120とによって薬液洗浄が施される。このときに、
薬液洗浄処理中は、超音波洗浄ノズルUSが支持アーム
31によって揺動される。やがて、薬液洗浄処理が終了
すると、純水洗浄ノズル110によって純水リンス洗浄
が行われる。なお、基板洗浄装置100で使用される薬
液は任意の基板洗浄用薬液(例えば、上述したSC−1
液やオゾン水など)が選択可能であるが、従来の基板洗
浄処理システムにおいて最も長い処理時間を要していた
薬液を使用するのが望ましい。
【0041】次に、基板洗浄装置100における洗浄処
理が終了した基板Wは、基板搬送アームTR2によって
当該基板洗浄装置100から基板洗浄装置200に受け
渡される。この基板洗浄装置200は、純水洗浄ノズル
210と、薬液洗浄ノズル220とを備えている。ただ
し、薬液洗浄ノズル220は薬液に超音波を照射しな
い。
【0042】基板洗浄装置200において、基板Wは、
薬液洗浄ノズル220から噴出された薬液によって薬液
洗浄が施され、続いて、純水洗浄ノズル210から噴出
された純水によって純水リンス洗浄が施される。なお、
基板洗浄装置200で使用される薬液は任意の基板洗浄
用薬液が選択可能であるが、基板洗浄装置100で使用
される薬液に比して処理時間が相対的に短いものの方が
好ましい。
【0043】次に、基板洗浄装置200における洗浄処
理が終了した基板Wは、基板搬送アームTR3によって
当該基板洗浄装置200から基板洗浄装置300に受け
渡される。基板洗浄装置300は、純水洗浄ノズル31
0を備えており、基板Wに最終仕上げの純水洗浄リンス
を施した後、純水洗浄ノズル310からの純水噴出を停
止して基板Wのスピン乾燥を行う。
【0044】最後に、基板洗浄装置300における洗浄
処理が終了した基板Wは、基板搬送アームTR4によっ
てアンローダULDに渡され、当該アンローダULDか
ら搬出される。
【0045】以上説明した基板洗浄処理システムWSに
おいて、従来長時間を要していた薬液処理を基板洗浄装
置100で行うことにより、当該薬液処理に超音波洗浄
を付加することができるため洗浄時間が短縮され、基板
洗浄処理システムWS全体としての処理時間も短縮さ
れ、処理効率が向上する。
【0046】本発明に係る超音波振動子10は、超音波
洗浄ノズルUSに適用可能であるのみならず、バッチ式
洗浄装置にも適用可能である。図5は、超音波振動子1
0を適用したバッチ式洗浄装置400を示す断面概略図
である。
【0047】バッチ式洗浄装置400は、薬液槽CB
と、超音波振動子10とを備えている。薬液槽CBは、
薬品に対する耐食性を備えた材料(例えば、樹脂など)
で作成されている。また、超音波振動子10は、図1で
説明した超音波洗浄ノズルUSに使用したものと同一で
あり、薬液槽CBの槽壁に設置されている。
【0048】バッチ式洗浄装置400においては、複数
の基板Wが薬液を満たした薬液槽CBに浸漬され、超音
波振動子10が当該基板Wに超音波を照射して、薬液に
よる洗浄を促進する。
【0049】上記バッチ式洗浄装置400によれば、超
音波に対する耐性と薬液に対する耐食性を有するととも
に、洗浄中に被洗浄物を汚染しない超音波振動子10を
備えているため、基板Wの清浄度を保つことができる。
また、薬液槽CB内に内槽を設ける必要がなくなるた
め、超音波が減衰することなく基板Wに作用し、処理時
間が短縮されるとともに、処理効率が向上する。
【0050】
【変形例】以上、本発明の実施形態について説明した
が、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。
例えば、図4で示した基板洗浄処理システムWSでは、
超音波洗浄ノズルUSを備えた基板洗浄装置100は1
つであったが、これを必要に応じて2つ以上にしてもよ
い。また、当該基板洗浄処理システムWSにおける基板
洗浄装置100、200、300の個数および組み合わ
せ順序は処理に応じたパターンが可能である。
【0051】また、図5におけるバッチ式洗浄装置40
0は、基板Wを洗浄する装置であったが、当該バッチ式
洗浄装置400を用いて、基板以外の被洗浄物を洗浄す
ることも可能である。
【0052】なお、本実施形態では超音波振動子におけ
る薬液に接液する接液面に高純度セラミックスである高
純度SiCを形成しているが、高純度SiCの代わりに
純度92wt.%以上の高純度Al23(アルミナ)を
用いても良い。なお、Al23を用いる場合は純度9
9.9wt.%以上のものを用いると最も好ましい。
【0053】また、薬液としてフッ酸以外の薬液を使用
する場合は高純度SiCの代わりに高純度石英を用いる
こともできる。この場合、石英の純度は99.980w
t.%以上であることが好ましく、99.995wt.
%以上であることが最も好ましい。
【0054】
【発明の効果】以上、説明したように、請求項1の発明
によれば、超音波振動子における薬液に接液する接液面
に高純度SiC又は純度が99.980wt.%以上で
ある高純度石英のいずれかが形成されているので、超音
波に対する耐性と薬液に対する耐食性を有するととも
に、薬液を溶出不純物によって汚染する懸念もない。
【0055】また、請求項2の発明によれば、超音波洗
浄ノズルに請求項1記載の超音波振動子を備えるととも
に、噴出口のうち少なくとも薬液に付与された超音波が
衝突する接液部分に高純度SiCが形成されているの
で、超音波に対する耐性と薬液に対する耐食性を有する
とともに、薬液を溶出不純物によって汚染する懸念もな
く、被洗浄物の清浄度を保つことができる。
【0056】また、請求項3の発明によれば、洗浄槽に
請求項1記載の超音波振動子を備えているため、洗浄中
に被洗浄物の清浄度を保つことができる。また、洗浄槽
内に内槽を設ける必要がなくなるため、超音波が減衰す
ることなく被洗浄物に作用し、処理時間が短縮されると
ともに、処理効率が向上する。
【0057】また、請求項4の発明によれば、基板洗浄
装置に請求項2記載の超音波洗浄ノズルを備えているた
め、洗浄中に基板の清浄度を保つことができるととも
に、短時間で処理が完了するため、処理効率が向上す
る。また、処理時間の短縮化にともなって、薬液消費量
が低減できる。
【0058】また、請求項5の発明によれば、基板処理
システムに請求項4記載の基板洗浄装置を組み込んでお
り、当該基板洗浄装置を従来最も洗浄時間の長かった処
理に適用することにより、基板洗浄処理システム全体と
しての処理時間も短縮され、処理効率が向上する。
【0059】また、請求項6の発明によれば、超音波振
動子の接液面および噴出口のうち少なくとも超音波が衝
突する接液部分に高純度SiCを化学気相蒸着によって
形成しているため、請求項2の発明と同様の効果が得ら
れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る超音波洗浄ノズルの断面概略図で
ある。
【図2】図1の超音波洗浄ノズルを適用した基板洗浄装
置の構成を示す模式図である。
【図3】図2の基板洗浄装置における超音波洗浄の効果
を説明する図である。
【図4】図2の基板洗浄装置を組み込んだ基板洗浄処理
システムの構成を示す模式図である。
【図5】本発明に係る超音波振動子を適用したバッチ式
洗浄装置を示す断面概略図である。
【符号の説明】
10 超音波振動子 10a 超音波照射面 40 ノズルキャップ 40b 内壁 45 噴出口 65 供給口 CB 薬液槽 US 超音波洗浄ノズル
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−124935(JP,A) 特開 平1−189382(JP,A) 特開 平6−304536(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B08B 3/12

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 超音波発振器に接続され、所定の薬液に
    接液する接液面より前記薬液に超音波を付与する超音波
    振動子であって、 前記接液面に高純度SiC又は純度が99.980w
    t.%以上である高純度石英のいずれかが形成されてい
    ることを特徴とする超音波振動子。
  2. 【請求項2】 所定の薬液に超音波を付与し、被洗浄物
    に前記薬液を噴出する超音波洗浄ノズルであって、 (a) 前記薬液が供給される供給口と、 (b) 前記供給された薬液に超音波を付与する請求項1記
    載の超音波振動子と、 (c) 超音波を付与された前記薬液を前記被洗浄物に噴出
    する噴出口と、 を備え、 前記噴出口のうち少なくとも前記薬液に付与された超音
    波が衝突する接液部分に高純度SiCが形成されている
    ことを特徴とする超音波洗浄ノズル。
  3. 【請求項3】 所定の薬液に浸漬された被洗浄物に超音
    波を照射して前記被洗浄物を洗浄する超音波洗浄装置で
    あって、 (a) 前記薬液を貯留する洗浄槽と、 (b) 前記洗浄槽に設けられた請求項1記載の超音波振動
    子と、 を備えたことを特徴とする超音波洗浄装置。
  4. 【請求項4】 基板に所定の薬液を噴出して洗浄処理を
    行う基板洗浄装置であって、 請求項2記載の超音波洗浄ノズルを備えたことを特徴と
    する基板洗浄装置。
  5. 【請求項5】 基板に所定の複数洗浄処理を行う基板洗
    浄処理システムにおいて、 請求項4記載の基板洗浄装置を組み込んだことを特徴と
    する基板洗浄処理システム。
  6. 【請求項6】 超音波を付与された所定の薬液を被洗浄
    物に噴出する超音波洗浄ノズルの製造方法であって、 (a) 前記薬液に超音波を付与する超音波振動子の接液面
    に化学気相蒸着によって形成された高純度SiCを固着
    する工程と、 (b) 前記薬液を噴出する噴出口のうち、少なくとも前記
    薬液に付与された超音波が衝突する接液部分に高純度S
    iCを化学気相蒸着によって形成する工程と、 を備えることを特徴とする超音波洗浄ノズル製造方法。
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