JP3306997B2 - 穀物検査装置 - Google Patents
穀物検査装置Info
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- JP3306997B2 JP3306997B2 JP13566493A JP13566493A JP3306997B2 JP 3306997 B2 JP3306997 B2 JP 3306997B2 JP 13566493 A JP13566493 A JP 13566493A JP 13566493 A JP13566493 A JP 13566493A JP 3306997 B2 JP3306997 B2 JP 3306997B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、穀物検査装置に関す
るもので、共同穀物調製施設等に利用しうる。
るもので、共同穀物調製施設等に利用しうる。
【０００２】
【従来技術及び発明が解決しようとする課題】荷受時に
サンプル抽出して、まず整粒と屑粒とに選別して各計量
し、そのデータを穀物調製の歩留まりとして記憶し、次
いで袋詰めする過程で２次サンプルを抽出して光学的手
段等を用いて穀粒の胴割れ状態、未熟程度、着色度合い
等を総合判定する品位判定する形態としている。
サンプル抽出して、まず整粒と屑粒とに選別して各計量
し、そのデータを穀物調製の歩留まりとして記憶し、次
いで袋詰めする過程で２次サンプルを抽出して光学的手
段等を用いて穀粒の胴割れ状態、未熟程度、着色度合い
等を総合判定する品位判定する形態としている。
【０００３】従って、所謂自主検定作業を終了して後で
なければ、品位判定に移行出来ず、１サンプルに要する
時間が長期化する。
なければ、品位判定に移行出来ず、１サンプルに要する
時間が長期化する。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の欠点を
解消しようとし、次の技術的手段を講じた。すなわち、
自主検定用１次サンプルを受けて脱ぷ処理する脱ぷ手段
と、脱ぷ粒を受けて粒選別処理を行ないながら整粒と屑
粒とに分離選別する粒選別手段と、計量手段等からなる
自主検定装置において、上記自主検定用籾乃至それの脱
ぷ粒の一部を受けて取り出す２次サンプル取出手段、及
び該取出手段から適宜選出する整粒を受けて品位判定す
る品位判定手段を設け、１次サンプルの粒選別処理と並
行して品位判定を実行すべく構成したものである。
解消しようとし、次の技術的手段を講じた。すなわち、
自主検定用１次サンプルを受けて脱ぷ処理する脱ぷ手段
と、脱ぷ粒を受けて粒選別処理を行ないながら整粒と屑
粒とに分離選別する粒選別手段と、計量手段等からなる
自主検定装置において、上記自主検定用籾乃至それの脱
ぷ粒の一部を受けて取り出す２次サンプル取出手段、及
び該取出手段から適宜選出する整粒を受けて品位判定す
る品位判定手段を設け、１次サンプルの粒選別処理と並
行して品位判定を実行すべく構成したものである。
【０００５】
【発明の作用及び効果】１次サンプルは、脱ぷ処理を受
けて粒選別行程に移行するが、その途中から２次サンプ
ルが抽出され、そのうち整粒が品位判定される構成とす
るが、その判定作業は、上記１次サンプルの少なくとも
粒選別行程と並行して実行されるから、運転所要時間の
短縮がはかれ、大量のサンプル処理を行う際にも遅れが
少ない。
けて粒選別行程に移行するが、その途中から２次サンプ
ルが抽出され、そのうち整粒が品位判定される構成とす
るが、その判定作業は、上記１次サンプルの少なくとも
粒選別行程と並行して実行されるから、運転所要時間の
短縮がはかれ、大量のサンプル処理を行う際にも遅れが
少ない。
【０００６】
【実施例】この発明の一実施例を図面に基づいて説明す
る。サンプル脱ぷ選別装置Ａの背面側には図外テスト乾
燥機によって乾燥処理された籾を受けて所定に配分し、
その一方を装置内籾計量部２に供給し他を同じく装置Ａ
内に設ける排出スロワ３に供給すべく分配機構を備えた
供給部４を設け、装置Ａ内部には上部側から供給スロワ
５排出口にのぞむホッパ６、該ホッパ６直下にあって一
対の脱ぷロール７，７を有する脱ぷ部８、左右２連に設
けられ脱ぷ粒の供給を受けて整粒と屑粒とに分離する粒
選別筒９，９、これら整粒と屑粒の混合未選別粒の各々
を計量する計量器１０等からなる。尚、左右粒選別筒
９，９はいずれも同じ目合いＧに構成され、脱ぷ部８か
ら切替シュート１１を介して何れか一方に案内される構
成で、２荷口に対応できる構成である。各粒選別筒９，
９下方には集合ホッパに形成しシャッタ１２，１２を配
設し筒から漏下する上記屑粒を受けて一旦集合させるこ
とができる。又粒選別筒９，９は逆転可能に構成され筒
の外周部長手方向に沿わせて形成する開閉間隙部から残
留する整粒を排出できる構成としている。上記切替シュ
ート１１は供給スロワ５への還元通路１３への供給を可
能に構成され、途中に開閉シャッタ１４を有して、２回
籾摺り後に上記切替シュート１１が適宜の粒選別筒９に
粒供給すべく切り替わりこれを粒選別すべく構成してい
る。
る。サンプル脱ぷ選別装置Ａの背面側には図外テスト乾
燥機によって乾燥処理された籾を受けて所定に配分し、
その一方を装置内籾計量部２に供給し他を同じく装置Ａ
内に設ける排出スロワ３に供給すべく分配機構を備えた
供給部４を設け、装置Ａ内部には上部側から供給スロワ
５排出口にのぞむホッパ６、該ホッパ６直下にあって一
対の脱ぷロール７，７を有する脱ぷ部８、左右２連に設
けられ脱ぷ粒の供給を受けて整粒と屑粒とに分離する粒
選別筒９，９、これら整粒と屑粒の混合未選別粒の各々
を計量する計量器１０等からなる。尚、左右粒選別筒
９，９はいずれも同じ目合いＧに構成され、脱ぷ部８か
ら切替シュート１１を介して何れか一方に案内される構
成で、２荷口に対応できる構成である。各粒選別筒９，
９下方には集合ホッパに形成しシャッタ１２，１２を配
設し筒から漏下する上記屑粒を受けて一旦集合させるこ
とができる。又粒選別筒９，９は逆転可能に構成され筒
の外周部長手方向に沿わせて形成する開閉間隙部から残
留する整粒を排出できる構成としている。上記切替シュ
ート１１は供給スロワ５への還元通路１３への供給を可
能に構成され、途中に開閉シャッタ１４を有して、２回
籾摺り後に上記切替シュート１１が適宜の粒選別筒９に
粒供給すべく切り替わりこれを粒選別すべく構成してい
る。
【０００７】上記還元通路１３について更に詳細に説明
すると、開閉シャッタ１４の上部側において、傾斜案内
通路１５を篩い選別網形態となし、上手側適宜範囲イは
屑粒選別可能の目合ｇ1とし、下手側ロは整粒選別可能
の目合ｇ2としている。この整粒選別目合の網の下方に
は、整粒を受けて所定量に溜めることのできる整粒受け
部１６を形成する。尚、目合ｇ1，ｇ2を通過できない
籾、及び目合イを漏下する屑粒，整粒受け部１６からの
オーバーフロー部分は、いずれも上記開閉シャッタ１４
上に滞留する構成である。
すると、開閉シャッタ１４の上部側において、傾斜案内
通路１５を篩い選別網形態となし、上手側適宜範囲イは
屑粒選別可能の目合ｇ1とし、下手側ロは整粒選別可能
の目合ｇ2としている。この整粒選別目合の網の下方に
は、整粒を受けて所定量に溜めることのできる整粒受け
部１６を形成する。尚、目合ｇ1，ｇ2を通過できない
籾、及び目合イを漏下する屑粒，整粒受け部１６からの
オーバーフロー部分は、いずれも上記開閉シャッタ１４
上に滞留する構成である。
【０００８】１７は上記整粒受け部１６の下方側に設け
る開閉シャッタで、該シャッタ１７の開動作により、溜
り部の整粒は全部流下し、再循環して還元通路１３に戻
り、第２サンプル用案内通路１８の入り口に配設する開
閉シャッタ１９の開操作によって当該案内通路１８に向
け供給される構成としている。該案内通路１８は品位計
Ｂに通じる。品位計Ｂは排出スロワ３近傍の空間部に配
設される。この品位計Ｂは例えば光学的手段によって整
粒の一粒毎に透過光乃至反射光量を得て胴割れ状況、着
色度、あるいは未熟粒等を判定するもので、所定粒中の
これらの各割合を求めて別途定められた検査基準の等級
のいずれに属するかを判定される構成である。
る開閉シャッタで、該シャッタ１７の開動作により、溜
り部の整粒は全部流下し、再循環して還元通路１３に戻
り、第２サンプル用案内通路１８の入り口に配設する開
閉シャッタ１９の開操作によって当該案内通路１８に向
け供給される構成としている。該案内通路１８は品位計
Ｂに通じる。品位計Ｂは排出スロワ３近傍の空間部に配
設される。この品位計Ｂは例えば光学的手段によって整
粒の一粒毎に透過光乃至反射光量を得て胴割れ状況、着
色度、あるいは未熟粒等を判定するもので、所定粒中の
これらの各割合を求めて別途定められた検査基準の等級
のいずれに属するかを判定される構成である。
【０００９】尚、品位測定される整粒の重量は品位計Ｂ
に組み込む計量器１９によって行う。前記サンプル脱ぷ
選別装置Ａの機枠には制御盤Ｃを設け、荷受人コードや
品種，受入れ年月日等を予め設定入力できる構成とする
ほか、該脱ぷ選別装置Ａ，品位計Ｂの駆動各部を一連に
運転制御すべくモータ等に駆動指令信号を出力できる構
成としている。更に脱ぷ選別装置Ａの籾重量及び整粒選
別結果重量値と歩留率、及び品位による等級判定内容か
ら算出される粒径評価値は、上記荷受人コード，品種，
受入れ年月日等と共に図外プリンタにて伝票に出力印字
され、所定の整粒内に同時パックされる構成としてい
る。
に組み込む計量器１９によって行う。前記サンプル脱ぷ
選別装置Ａの機枠には制御盤Ｃを設け、荷受人コードや
品種，受入れ年月日等を予め設定入力できる構成とする
ほか、該脱ぷ選別装置Ａ，品位計Ｂの駆動各部を一連に
運転制御すべくモータ等に駆動指令信号を出力できる構
成としている。更に脱ぷ選別装置Ａの籾重量及び整粒選
別結果重量値と歩留率、及び品位による等級判定内容か
ら算出される粒径評価値は、上記荷受人コード，品種，
受入れ年月日等と共に図外プリンタにて伝票に出力印字
され、所定の整粒内に同時パックされる構成としてい
る。
【００１０】上例の作用について説明する。荷受籾を一
部サンプリングして図外テスト乾燥機で乾燥処理され、
サンプル脱ぷ選別装置Ａの供給部４に送られる。ここで
所定量のサンプル籾（１次サンプル）は供給スロワ５に
送られ、残りは分配機構部に一時貯留される。供給スロ
ワ５内の籾は計量後脱ぷ部８に至り脱ぷ処理される。切
替シュート１１は還元通路１３にのぞみ、開閉シャッタ
１４は閉じている。１回目脱ぷ処理されたサンプル粒は
還元通路１３を流下するうち、目合ｇ1で屑粒が除去さ
れ次いで目合ｇ2で整粒が漏下する。該漏下整粒は整粒
受け部１６に滞留する。主として籾は開閉シャッタ１４
上に溜り適宜に開閉シャッタ１４が開いてスロワ５で再
度脱ぷ部に送られ２回摺りが行なわれる。切替シュート
１１はいずれか空いている粒選別筒９に供給すべく切り
替わっており、脱ぷ粒は当該粒選別筒９内に供給される
こととなる。
部サンプリングして図外テスト乾燥機で乾燥処理され、
サンプル脱ぷ選別装置Ａの供給部４に送られる。ここで
所定量のサンプル籾（１次サンプル）は供給スロワ５に
送られ、残りは分配機構部に一時貯留される。供給スロ
ワ５内の籾は計量後脱ぷ部８に至り脱ぷ処理される。切
替シュート１１は還元通路１３にのぞみ、開閉シャッタ
１４は閉じている。１回目脱ぷ処理されたサンプル粒は
還元通路１３を流下するうち、目合ｇ1で屑粒が除去さ
れ次いで目合ｇ2で整粒が漏下する。該漏下整粒は整粒
受け部１６に滞留する。主として籾は開閉シャッタ１４
上に溜り適宜に開閉シャッタ１４が開いてスロワ５で再
度脱ぷ部に送られ２回摺りが行なわれる。切替シュート
１１はいずれか空いている粒選別筒９に供給すべく切り
替わっており、脱ぷ粒は当該粒選別筒９内に供給される
こととなる。
【００１１】この後粒選別筒９の正回転で整粒と屑粒と
を分離選別することとなるが、並行して品位判定も行う
ことができる。すなわち、切替シュート１１は脱ぷ粒の
粒選別筒９への供給時間を見計らい中立位置に復帰し、
同時に開閉シャッタ１７及び１９はそれぞれ切り替わっ
て整粒受け部１６内の整粒は流下して供給スロワ５，切
替シュート１１，還元通路１３を経て入り口の開放した
第２サンプル案内通路１８に２次サンプルとして供給さ
れる。該２次サンプルはまず計量され、次いで光学手段
によって一粒毎品位判定される。
を分離選別することとなるが、並行して品位判定も行う
ことができる。すなわち、切替シュート１１は脱ぷ粒の
粒選別筒９への供給時間を見計らい中立位置に復帰し、
同時に開閉シャッタ１７及び１９はそれぞれ切り替わっ
て整粒受け部１６内の整粒は流下して供給スロワ５，切
替シュート１１，還元通路１３を経て入り口の開放した
第２サンプル案内通路１８に２次サンプルとして供給さ
れる。該２次サンプルはまず計量され、次いで光学手段
によって一粒毎品位判定される。
【００１２】尚、上記粒選別筒９の正転目合いから整粒
が漏下しシャッタ１２上に集合される。予め設定した選
別時間が経過すると粒選別筒９は逆転連動される。その
間シャッタ１２は開いており整粒及び屑粒の未選別物の
排出と計量が行なわれる。粒選別筒９の逆転で内部残留
の大粒が間隙部から漏下しシャッタ１２上に堆積され
る。屑粒が計量器１０から排出スロワ３に移行する頃を
見計らいシャッタ１２が開かれる。
が漏下しシャッタ１２上に集合される。予め設定した選
別時間が経過すると粒選別筒９は逆転連動される。その
間シャッタ１２は開いており整粒及び屑粒の未選別物の
排出と計量が行なわれる。粒選別筒９の逆転で内部残留
の大粒が間隙部から漏下しシャッタ１２上に堆積され
る。屑粒が計量器１０から排出スロワ３に移行する頃を
見計らいシャッタ１２が開かれる。
【００１３】制御部Ｃはこれら各計量値及び籾の計量値
とから歩留率を算出し記憶する。すなわち、例えば籾計
量部２の籾重量Ｗ，計量器１０による整粒計量値を
Ｗ1，品位計Ｂの整粒重量Ｗ2とすると、 歩留率＝（Ｗ1＋Ｗ2）／Ｗ によって求められる。
とから歩留率を算出し記憶する。すなわち、例えば籾計
量部２の籾重量Ｗ，計量器１０による整粒計量値を
Ｗ1，品位計Ｂの整粒重量Ｗ2とすると、 歩留率＝（Ｗ1＋Ｗ2）／Ｗ によって求められる。
【００１４】尚、上記サンプル脱ぷ処理、つまり自主検
定動作に入る前には制御部Ｃの入力部から荷受人コー
ド、品種、荷受年月日等が入力される。上記のように、
自主検定における粒選別と品位測定とを並行して行わせ
るべく２次サンプルを抽出可能に設けたから時間短縮が
はかれる。上記実施例では、品位計Ｂをサンプル脱ぷ選
別装置Ａの機枠内に設けたから設置スペースの縮小に寄
与できる。
定動作に入る前には制御部Ｃの入力部から荷受人コー
ド、品種、荷受年月日等が入力される。上記のように、
自主検定における粒選別と品位測定とを並行して行わせ
るべく２次サンプルを抽出可能に設けたから時間短縮が
はかれる。上記実施例では、品位計Ｂをサンプル脱ぷ選
別装置Ａの機枠内に設けたから設置スペースの縮小に寄
与できる。
【００１５】尚、本実施例では１度脱ぷ処理したサンプ
ル粒から２次サンプルを抽出したが、図３に示すよう
に、１次サンプルが籾の状態時に供給スロワ５から通路
２０入口の開閉弁２１を開かせて２次サンプル粒として
取り込み、２次サンプル用脱ぷ装置２２・粒選別処理装
置２３を設けて個別に玄米を選別して処理し、早い時期
から自主検定動作と並行して品位計Ｂに供給し品位判定
を行う形態でもよい。
ル粒から２次サンプルを抽出したが、図３に示すよう
に、１次サンプルが籾の状態時に供給スロワ５から通路
２０入口の開閉弁２１を開かせて２次サンプル粒として
取り込み、２次サンプル用脱ぷ装置２２・粒選別処理装
置２３を設けて個別に玄米を選別して処理し、早い時期
から自主検定動作と並行して品位計Ｂに供給し品位判定
を行う形態でもよい。
【図１】全体正面図である。
【図２】その一部の拡大断面図である。
【図３】別実施例の全体正面図である。
Ａ サンプル脱ぷ選別装置 Ｂ 品位計 Ｃ 制御盤 ２ 籾計量部 ３ 排出スロワ ４ 供給部 ５ 供給スロワ ６ ホッパ ７，７ 脱ぷロール ８ 脱ぷ部 ９，９ 粒選別筒９，
９ １０ 計量器 １１ 切替シュート １２，１２ シャッタ １３ 還元通路 １４ 開閉シャッタ １５ 傾斜案内通路 １６ 整粒受け部 １７ 開閉シャッタ １８ 第２サンプル用案内通路 １９ 計量器
９ １０ 計量器 １１ 切替シュート １２，１２ シャッタ １３ 還元通路 １４ 開閉シャッタ １５ 傾斜案内通路 １６ 整粒受け部 １７ 開閉シャッタ １８ 第２サンプル用案内通路 １９ 計量器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 福永 大三公 愛媛県伊予郡砥部町八倉１番地 井関農 機株式会社 技術部内 (72)発明者 中村 和博 愛媛県伊予郡砥部町八倉１番地 井関農 機株式会社 技術部内 (72)発明者 垣添 国博 愛媛県伊予郡砥部町八倉１番地 井関農 機株式会社 技術部内 審査官 川口 薫 (56)参考文献 特開 昭58−180277（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−244343（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−284855（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) B02B 7/00 G01N 1/04
Claims (1)
- 【請求項１】 自主検定用１次サンプルを受けて脱ぷ処
理する脱ぷ手段と、脱ぷ粒を受けて粒選別処理を行ない
ながら整粒と屑粒とに分離選別する粒選別手段と、計量
手段等からなる自主検定装置において、上記自主検定用
籾乃至それの脱ぷ粒の一部を受けて取り出す２次サンプ
ル取出手段、及び該取出手段から適宜選出する整粒を受
けて品位判定する品位判定手段を設け、１次サンプルの
粒選別処理と並行して品位判定を実行すべく構成してあ
ることを特徴とする穀物検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13566493A JP3306997B2 (ja) | 1993-06-07 | 1993-06-07 | 穀物検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13566493A JP3306997B2 (ja) | 1993-06-07 | 1993-06-07 | 穀物検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06343883A JPH06343883A (ja) | 1994-12-20 |
| JP3306997B2 true JP3306997B2 (ja) | 2002-07-24 |
Family
ID=15157059
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13566493A Expired - Fee Related JP3306997B2 (ja) | 1993-06-07 | 1993-06-07 | 穀物検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3306997B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100300202B1 (ko) * | 1999-06-19 | 2001-09-22 | 장철 | 벼의 제현율의 측정시스템 |
-
1993
- 1993-06-07 JP JP13566493A patent/JP3306997B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06343883A (ja) | 1994-12-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090517 Year of fee payment: 7 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100517 Year of fee payment: 8 |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |