JP3218767B2 - 感光性導電ペースト - Google Patents

感光性導電ペースト

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JP3218767B2
JP3218767B2 JP00927093A JP927093A JP3218767B2 JP 3218767 B2 JP3218767 B2 JP 3218767B2 JP 00927093 A JP00927093 A JP 00927093A JP 927093 A JP927093 A JP 927093A JP 3218767 B2 JP3218767 B2 JP 3218767B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はセラミックス回路基板上
に導体パターンを形成するための感光性導電ペーストに
関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、高集積化したLSIや各種の電子
部品を多数搭載するための多層基板においては、小型化
や高密度化、高精細化、高信頼性の要求が高まってい
る。とくに導体回路パターン(信号層、電源層を含
む。)の微細化は小型化、高密度化には不可欠な要求と
して各種の方法が提案されている。
【0003】代表的な方法としては、薄膜法、メッキ法
および厚膜法がある。薄膜法はスパッター、蒸着などで
成膜し、ホトリソグラフィ技術を適用することによって
解像度20μmまでの高精細化が可能であるが、この方
法による導体皮膜は膜厚を厚くするには長時間を必要と
するなどの限界があるため薄い膜しか得られず、その結
果回路としてのインピーダンスが高くなるという欠点が
ある。また、メッキ法では焼成工程において抵抗体など
の厚膜受動素子の形成が困難であるという問題がある。
【0004】一方、厚膜法ではスクリーン印刷法で成膜
される。しかしながら印刷法ではスクリーン性能、スク
イーズ硬さ、印刷速度、分散性などの最適化を図っても
導体パターンの幅を100μm程度までしか細くするこ
とができず、ファインパターン化には限界があった。
【0005】こうした中で印刷法の欠点を改良するた
め、特開昭63−292504号、特開平2−2688
70号、特開平3−171690号および特開平3−1
80092号公報に記載されているように、導体ペース
トの組成を検討したもの、感光性樹脂を添加し、フォト
リソグラフィー法によりファインパターン化を図ったも
のおよび金属粉末の粒子径の最適化を検討したものが提
案されているが、微細パターンの形成と低抵抗化とを同
時に満足するには充分でなかった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、微細
パターンの形成が可能で、かつ低抵抗な回路パターンを
与える感光性導電ペーストを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】かかる本発明の目的は、
(a)Au,Ag,PdおよびPtの群から選ばれる少
なくとも1種を含み、比表面積が0.1〜3m 2 /gで
ある導電性粉末、(b)側鎖にカルボキシル基とエチレ
ン性不飽和基を有するアクリル系共重合体、(c)光反
応性化合物、および(d)光重合開始剤を含有し、フォ
トリソグラフィー法によるパターン形成が可能でかつア
ルカリ現像が可能であることを特徴とする焼成用感光性
導電ペースト、または該感光性導電ペーストに必要に応
じて添加されるガラスフリットを含む感光性導電ペース
トにより達成される。
【0008】すなわち、本発明は導電ペーストに感光性
を付与したものであり、これを使用すると、ホトリソグ
ラフィ技術を用いて厚膜導体回路パターンが微細に、し
かも低抵抗な導体膜を効率よく形成できるものである。
【0009】本発明において使用される導電性粉末はA
u,Ag,PdおよびPtの群から選ばれる少なくとも
1種を含むもので、高周波での伝達損失を低減するため
低抵抗の導体粉末が使用される。Au,Ag,Pdおよ
びPtはそれぞれ単独または混合粉末として用いること
ができる。例えばAg(30−80)−Pd(70−2
0),Ag(40−70)−Pd(60−10)−Pt
(5−20),Ag(30−80)−Pd(60−1
0)−Cr(5−15),Pt(20−40)−Au
(60−40)−Pd(20),Au(75−80)−
Pt(25−20),Au(60−80)−Pd(40
−20)、Ag(40−95)−Pt(60−5)、P
t(60−90)−Rh(40−10)(以上( )内
は重量%を表す)などの2元系あるいは3元系の混合貴
金属粉末が用いられる。上記の中でCrやRhを添加し
たものは高温特性を向上できる点で好ましい。
【0010】これらの貴金属導電性粉末の平均粒子径は
0.5〜5μmが好ましい。粒子径が0.5m未満と小
さくなると紫外線の露光時に光が印刷後の膜中をスムー
ズに透過せず、導体の線幅60μm以下の微細パターン
の形成が困難となる。また粒子径が5μmを越えて大き
くなると印刷後の回路パターンの表面が粗くなり、パタ
ーン精度が低下し、ノイズ発生の原因になる。また、比
表面積が0.1〜3m2/gの導電性粉末が用いられ
る。比表面積が0.1m2/g未満の場合は、回路パタ
ーンの精度が低下する。また、3m2/gを越えると粉
末の表面積が大きくなり過ぎて紫外線が散乱され、露光
が充分行われずパターン精度が低下する。
【0011】貴金属導電性粉末の形状としては、フレー
ク(板、円錐、棒)状や球状のものが使用できるが、凝
集がない点から球状であることが好ましい。球状である
と露光時に紫外線の散乱が少ないので高精度のパターン
が得られ、照射エネルギーが少なくて済む。
【0012】微細パターンの形成や低抵抗化を満足する
のにより好ましい導電性粉末の範囲がある。すなわち導
体パターンを印刷後、紫外線露光時に光が散乱せずに充
分に透過し、有効に作用して現像後10〜40μmの微
細回路パターンを得るためには、導電性粉末の粒子径が
1〜4μmであり、かつ比表面積が0.1〜1.5m2
/gであることが好ましい。より好ましくは粒子径が
0.8〜4μm,比表面積が0.15〜0.8m2 /g
である。この範囲にあると現像時において未露光部分に
おける導体膜の残膜の発生が全くなくなり、高精度な回
路パターンが得られる。
【0013】本発明において使用される側鎖にカルボキ
シル基とエチレン性不飽和基を有するアクリル系共重合
体は、ポリマーバインダー成分(感光性ポリマー)であ
り、不飽和カルボン酸とエチレン性不飽和化合物を共重
合させて形成したアクリル系共重合体にエチレン性不飽
和基を側鎖に付加させることによって製造することがで
きる。
【0014】不飽和カルボン酸の具体的な例としては、
アクリル酸、メタアクリル酸、イタコン酸、クロトン
酸、マレイン酸、フマル酸、ビニル酢酸、またはこれら
の酸無水物などがあげられる。一方、エチレン性不飽和
化合物の具体的な例としては、メチルアクリート、メ
チルメタアクリート、エチルアクリート、エチルメ
タクリート、n−プロピルアクリート、イソプロピ
ルアクリート、n−ブチルアクリート、n−ブチル
メタクリート、sec−ブチルアクリート、sec
−ブチルメタクリート、イソ−ブチルアクリート、
イソブチルメタクリート、tert−ブチルアクリ
ート、tert−ブチルメタクリート、n−ペンチル
アクリート、n−ペンチルメタクリート、スチレ
ン、p−メチルスチレン、o−メチルスチレン、m−メ
チルスチレンなどが挙げられるが、これらに限定されな
い。これらのアクリル系主鎖ポリマの主重合成分として
前記のエチレン性不飽和化合物の中から少なくともメタ
クリル酸メチルを含むことによって熱分解性の良好な共
重合体を得ることができる。
【0015】側鎖のエチレン不飽和基としてはビニル
基、アリル基、アクリル基、メタクリル基などがあげら
れる。このような側鎖を該アクリル系共重合体に付加さ
せる方法としては、アクリル系共重合体中のカルボキシ
ル基にグリシジル基を有するエチレン性不飽和化合物や
クロライドアクリート化合物を付加反応させて作る方
法がある。
【0016】グリシジル基を有するエチレン性不飽和化
合物としては、グリシジルアクリート、グリシジルメ
タクリレート、アリルグリシジルエーテル、α−グリシ
ジルエチルアクリート、クロトニルグリシジルエーテ
ル、クロトン酸グリシジルエーテル、イソクロトン酸グ
リシジルエーテルが挙げられる。また、クロライドアク
ート化合物としては、クロライドアクリート、ク
ロライドメタアクリート、アリルクロライドなどが挙
げられる。また、これらのエチレン性不飽和化合物ある
いはクロライドアクリート化合物の付加量としては、
アクリル系共重合体中のカルボキシル基に対して0.0
5〜0.8モル当量が望ましく、さらに好ましくは0.
1〜0.6モル当量である。付加量が0.05モル当量
未満では現像許容幅が狭いうえ、パターンエッジの切れ
が悪くなりやすく、また付加量が0.8モル当量より大
きい場合は、未露光部の現像液溶解性が低下したり、塗
布膜の硬度が低くなる。
【0017】このような側鎖にカルボキシル基とエチレ
ン性不飽和基を有するアクリル系共重合体の酸価(A
V)は40〜200が好ましく、より好ましくは60〜
160である。さらに好ましくは80〜140の範囲で
ある。酸価が40未満であるとエチレン性不飽和基の量
が増加し、感光性を有するカルボキシル基の割合が低下
するので、未露光部の現像液に対する溶解性が低下した
り、塗布膜の硬度が低下する。また、酸価が200をこ
えると現像許容幅が狭い上、パターンエッジの切れが悪
くなる。
【0018】本発明における感光性導電ペースト中に
は、ポリマーバインダー成分として上記のアクリル系共
重合体以外の感光性ポリマーや非感光性のポリマーを含
有することができる。感光性ポリマーとしては、光不溶
化型のものと光可溶化型のものがあり、光不溶化型のも
のとして、1分子に不飽和基などを1つ以上有する官能
性のモノマーやオリゴマーを適当なポリマーバインダー
と混合したもの、芳香族ジアゾ化合物、芳香族アジド化
合物、有機ハロゲン化合物などの感光性化合物を適当な
ポリマーバインダーと混合したもの、既存の高分子に感
光性の基をペンダントさせることにより得られる感光性
高分子あるいはそれを改質したもの、ジゾ系アミンと
ホルムアルデヒドとの縮合物などいわゆるジアゾ樹脂と
いわれるものなど、光可溶化型のものとして、ジアゾ化
合物の無機塩や有機酸とのコンプレックス、キノンジア
ジド類などを適当なポリマーバインダーと混合したも
の、キノンジアゾ類を適当なポリマーバインダーと結合
させた、例えばフェノール、ノボラック樹脂のナフトキ
ノン−1,2−ジアジド−5−スルフォン酸エステルな
どがあげられる。感光性ポリマーバインダー成分中に含
まれる側鎖にカルボキシル基とエチレン性不飽和基を有
するアクリル系共重合体の割合は少なくとも5重量%以
上が好ましく、さらに好ましくは20重量%以上であ
る。該アクリル系共重合体の含有量が5重量%未満では
現像許容幅の拡大効果が小さいうえ、現像性が低下しや
すくエッジ部の尖鋭なパターンを作り難いため好ましく
ない。
【0019】非感光性ポリマーとしては、ポリビニルア
ルコール、ポリビニルブチラール、メタクリル酸エステ
ル重合体、アクリル酸エステル重合体、アクリル酸エス
テル−メタクリル酸エステル共重合体、α−メチルスチ
レン重合体、ブチルメタクリレート樹脂などあげられ
る。
【0020】本発明で使用される光反応性化合物として
は、光反応性を有する炭素−炭素不飽和結合を含有する
化合物を用いることができ、その具体的な例としてアリ
ルアクリート、ベンジルアクリート、ブトキシエチ
ルアクリート、ブトキシトリエチレングリコールアク
ート、シクロヘキシルアクリート、ジシクロペン
タニルアクリート、ジシクロペンテニルアクリ
ト、2−エチルヘキシルアクリート、グリセロールア
クリート、グリシジルアクリート、ヘプタデカフロ
ロデシルアクリート、2−ヒドロキシエチルアクリ
ート、イソボニルアクリート、2−ヒドロキシプロピ
ルアクリート、イソデルアクリート、イソオクチ
ルアクリート、ラウリルアクリート、2−メトキシ
エチルアクリート、メトキシエチレングリコールアク
ート、メトキシジエチレングリコールアクリ
ト、オクタフロロペンチルアクリート、フェノキシエ
チルアクリート、ステアリルアクリート、トリフロ
ロエチルアクリート、アリルシクロヘキシルジアク
ート、ビスフェノールAジアクリート、1,4−
ブタンジオールジアクリート、1,3−ブチレングリ
コールジアクリート、エチレングリコールジアクリ
ート、ジエチレングリコールジアクリート、トリエチ
レングリコールジアクリート、ポリエチレングリコー
ルジアクリート、ジペンタエリスリトールヘキサアク
ート、ジペンタエリスリトールモノヒドロキシペン
タアクリート、ジトリメチロールプロパンテトラアク
ート、グリセロールジアクリート、メトキシシク
ロヘキシルジアクリート、ネオペンチルグリコールジ
アクリート、プロピレングリコールジアクリート、
ポリプロピレングリコールジアクリート、トリグリセ
ロールジアクリート、トリメチロールプロパントリア
クリートおよび上記のアクリートをメタクリート
に変えたもの、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキ
シシラン、1−ビニル−2−ピロリドンなどが挙げられ
る。本発明ではこれらを1種または2種以上の混合物、
またはその他の化合物との混合物などを使用することが
できる。
【0021】本発明で使用する光重合開始剤の具体的な
例として、ベンゾフェノン、o−ベンゾイル安息香酸メ
チル、4,4−ビス(ジメチルアミン)ベンゾフェノ
ン、4,4−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、
α−アミノ・アセトフェノン、4,4−ジクロロベンゾ
フェノン、4−ベンゾイル−4−メチルジフェニルケト
ン、ジベンジルケトン、フルオレノン、2,2−ジエト
キシアセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニ
ル−2−フェニルアセトフェノン、2−ヒドロキシ−2
−メチルプロピオフェノン、p−t−ブチルジクロロア
セトフェノン、チオキサントン、2−メチルチオキサン
トン、2−クロロチオキサントン、2−イソプロピルチ
オキサントン、ジエチルチオキサントン、ベンジル、ベ
ンジルジメチルケタノール、ベンジル−メトキシエチル
アセタール、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、
ベンゾインブチルエーテル、アントラキノン、2−t−
ブチルアントラキノン、2−アミルアントラキノン、β
−クロルアントラキノン、アントロン、ベンズアントロ
ン、ジベンゾスベロン、メチレンアントロン、4−アジ
ドベンザルアセトフェノン、2,6−ビス(p−アジド
ベンジリデン)シクロヘキサノン、2,6−ビス(p−
アジドベンジリデン)−4−メチルシクロヘキサノン、
2−フェニル−1,2−ブタジオン−2−(o−メトキ
シカルボニル)オキシム、1−フェニル−プロパンジオ
ン−2−(o−エトキシカルボニル)オキシム、1,3
−ジフェニル−プロパントリオン−2−(o−エトキシ
カルボニル)オキシム、1−フェニル−3−エトキシ−
プロパントリオン−2−(o−ベンゾイル)オキシム、
ミヒラーケトン、2−メチル−[4−(メチルチオ)フ
ェニル]−2−モルフォリノ−1−プロパノン、ナフタ
レンスルホニルクロライド、キノリンスルホニルクロラ
イド、N−フェニルチオアクリドン、4、4−アゾビス
イソブチロニトリル、ジフェニルジスルフィド、ベンズ
チアゾールジスルフィド、トリフェニルホフィン、カ
ンファーキノン、四臭素化炭素、トリブロモフェニルス
ルホン、過酸化ベンゾイン、エオシン、メチレンブルー
などの光還元性の色素とアスコルビン酸、トリエタノー
ルアミンなどの還元剤の組合せなどが挙げられる。本発
明ではこれらの光重合開始剤を1種または2種以上使用
することができる。
【0022】側鎖にカルボキシル基とエチレン性不飽和
基を有するアクリル系共重合体は、光反応性化合物に対
して、重量比で0.1〜5倍量の範囲で用いることが好
ましい。より好ましくは、0.3〜3倍量である。該ア
クリル系共重合体の量が少なすぎると、ペーストの粘度
が小さくなり、ペースト中での分散の均一性が低下する
おそれがある。一方、アクリル系共重合体の量が多すぎ
れば、未露光部の現像液への溶解性が不良となる。
【0023】さらに、光重合開始剤は、側鎖にカルボキ
シル基とエチレン性不飽和基を有するアクリル系共重合
体と光反応性化合物の和に対して、通常0.1〜30重
量%、より好ましくは、2〜25重量%用いられる。光
重合開始剤の量が少なすぎると、光感度が不良となり、
光重合開始剤の量が多すぎれば、露光部の残存率が小さ
くなりすぎるおそれがある。
【0024】本発明においては、感光性導電ペースト中
に、さらにガラスフリットを含有することが好ましい。
ガラスフリットは導電性粉末を焼結するための焼結助剤
としての働きや導体抵抗を下げる効果を有する。ガラス
フリットのガラス転移温度(Tg)およびガラス軟化点
(Ts)は低いほうが好ましく、それぞれ300〜50
0℃、350〜450℃であるのがよい。より好ましく
はTgが350〜450℃にあるのがよい。Tgが低す
ぎるとポリマーバインダーやモノマーなどの有機成分が
蒸発する前に焼結が始まるので好ましくない。Tgが5
00℃を超えるガラスフリットでは800℃以下の温度
で焼結を行なったときにセラミックス基板との接着性が
劣る結果となるので好ましくない。
【0025】ガラスフリットとしては、ガラス系のもの
や結晶化ガラスが使用できるが、フリットの組成がSi
2 ,ZrO2 ,B2 3 およびLiO2 をそれぞれ1
〜50重量%含有し、これら以外にAl2 3 ,Ca
O,K2 O,MgO,Na2 O,BaO,TiO2 ある
いはZnOなどを0.5〜3重量%の範囲で加減したも
のが、熱膨張係数や融点の調整をより容易にすることが
できるので好ましい。さらに好ましいのはSiO2 を1
0〜40重量%、ZrO2 を2〜25重量%、B2 3
を20〜40重量%、BaOを1〜40重量%およびL
2 Oを1〜10重量%含有するものであり、この組成
をとることにより、熱膨張係数や融点の調整をより容易
に行なうことができる。また、ガラス相には、0.2重
量%以上のPbOやCdOを含まないことが好ましい。
ガラスフリットの粒子径としては、微粒子であればある
ほど低温で融解するので好ましい。特に、50%径が
0.6〜3μmの範囲、90%径が1〜4μmの範囲に
あるものは、低温で融解しセラミックス基板上に強固に
接着するので好ましい。
【0026】感光性導電ペースト中のガラスフリットの
含有量としては、導電性粉末、ポリマバインダーおよび
モノマの和に対して5重量%以下であることが好まし
い。より好ましくは3.5重量%以下である。とくに高
周波の伝達損失を低減するために導体膜の低抵抗化を図
るにはガラスフリットの量を下げる必要がある。すなわ
ち、ガラスフリットは電気絶縁性であるので含有量が5
重量%を越えると導体膜の抵抗が増大するので好ましく
ない。
【0027】またセラミックス多層基板に用いるセラミ
ックス・グリーンシートに印刷して内層導体回路や電源
層に用いる場合は、特に低抵抗を得る目的でガラスフリ
ットの量が2重量%以下であることが好ましい。またセ
ラミックス基板の表層部の導体膜として強固な接着力が
必要な場合は、ガラスフリットを1〜5重量%添加する
と好ましい。1重量%未満ではガラスフリット添加の効
果が少なく強固な接着強度が得られにくい。
【0028】本発明において上記のガラスフリットに加
えて、金属酸化物を添加することも好ましく行われる。
金属酸化物は導電性粉末が焼結時に異常粒子成長するの
を回避したり、焼結を遅らせるなど、いわゆる焼結助剤
として有効に作用し、その結果、導体膜とセラミックス
基板との接着力をあげるという効果を有する。具体的に
は、Cu,Cr,Mo,AlまたはNiなどの金属の金
属酸化物などが使用できる。金属酸化物は電気的に絶縁
物として作用するので添加量は少ない方がよく、導電性
粉末、ポリマバインダー、モノマ、ガラスフリットおよ
び金属酸化物(両者を含めて無機バインダーという)の
総和に対して3重量%以下であることが好ましい。3重
量%を越えると導体膜の電気抵抗が増加するのでよくな
い。また、金属酸化物と金属を併用することも好ましく
行われる。
【0029】本発明において使用可能な増感剤として
は、例えば、2,3−ビス(4−ジエチルアミノベンザ
ル)シクロペンタノン、2,6−ビス(4−ジメチルア
ベンザル)シクロヘキサノン、2,6−ビス(4−
ジメチルアミノベンザル)−4−メチルシクロヘキサノ
ン、ミヒラーケトン、4,4−ビス(ジエチルアミノ)
−ベンゾフェノン、4,4−ビス(ジメチルアミノ)カ
ルコン、4,4−ビス(ジエチルアミノ)カルコン、p
−ジメチルアミノシンナミリデンインダノン、p−ジメ
チルアミノベンジリデンインダノン、2−(p−ジメチ
ルアミノフェニルビニレン)−イソナフトチアゾール、
1,3−ビス(4−ジメチルアミノベンザル)アセト
ン、1,3−カルボニル−ビス(4−ジエチルアミノベ
ンザル)アセトン、3,3−カルボニル−ビス(7−ジ
エチルアミノクマリン)、N−フェニル−N−エチルエ
タノールアミン、N−フェニルエタノールアミン、N−
トリルジエタノールアミン、N−フェニルエタノールア
ミン、ジメチルアミノ安息香酸イソアミル、ジエチルア
ミノ安息香酸イソアミル、3−フェニル−5−ベンゾイ
ルチオトラール、1−フェニル−5−エトキシカル
ボニルチオトラゾールなどが挙げられる。本発明では
これらを1種または2種以上使用することができる。な
お、増感剤の中には光重合開始剤としても使用できるも
のがある。
【0030】増感剤を本発明の導電性ペーストに添加す
る場合、その添加量は側鎖にカルボキシル基とエチレン
性不飽和基を有するアクリル系共重合体と光反応性化合
物の総和に対して通常0.1〜20重量%、より好まし
くは0.5〜10重量%である。増感剤の量が少なすぎ
れば光感度を向上させる効果が発揮されず、増感剤の量
が多すぎれば露光部の残存率が小さくなりすぎるおそれ
がある。
【0031】本発明の導電性ペーストにおいて保存時の
熱安定性を向上させるため、熱重合禁止剤を添加すると
良い。熱重合禁止剤の具体的な例としては、ヒドロキノ
ン、N−ニトロソジフェニルアミン、フェノチアジン、
p−t−ブチルカテコール、N−フェニルナフチルアミ
ン、2,6−ジ−t−ブチル−p−メチルフェノール、
クロラニール、ピロガロールなどが挙げられる。熱重合
禁止剤を添加する場合、その添加量は、側鎖にカルボキ
シル基とエチレン性不飽和基を有するアクリル系共重合
体と光反応性重合性化合物の和に対し、通常、0.1〜
20重量%、より好ましくは、0.5〜10重量%であ
る。熱重合禁止剤の量が少なすぎる場合は、保存時の熱
的な安定性を向上させる効果が発揮されず、熱重合禁止
剤の量が多すぎれば、露光部の残存率が小さくなりすぎ
るおそれがある。
【0032】可塑剤としては、例えばジチルフタレー
ト,ジオクチルフタレート,ポリエチレングリコールお
よびグリセリンなどが用いられる。
【0033】また本発明の導電性ペーストには保存時に
おけるアクリル系共重合体の酸化を防ぐために酸化防止
剤を添加できる。酸化防止剤の具体的な例として2,6
−ジ−t−ブチル−p−クレゾール、ブチル化ヒドロキ
シアニソール、2,6−ジ−t−4−エチルフェノー
ル、2,2−メチレン−ビス−(4−メチル−6−t−
ブチルフェノール)、2,2−メチレン−ビス−(4−
エチル−6−t−ブチルフェノール)、4,4−ス−
(3−メチル−6−t−ブチルフェノール)、1,1,
3−トリス−(2−メチル−6−t−ブチルフェノー
ル)、1,1,3−トリス−(2−メチル−4−ヒドロ
キシ−t−ブチルフェニル)ブタン、ビス[3,3−ビ
ス−(4−ヒドロキシ−3−t−ブチルフェニル)ブチ
リックアッド]グリコールエステル、ジラウリルチオ
ジプロピオナート、トリフェニルホスファイトなどが挙
げられる。酸化防止剤を添加する場合、その添加量は通
常、導電性粉末、側鎖にカルボキシル基とエチレン性不
飽和基を有するアクリル系共重合体、光反応重合性化合
物、ガラスフリットおよび光重合開始剤の総和に対して
0.01〜5重量%、より好ましくは0.1〜1重量%
である。酸化防止剤の量が少なければ保存時のアクリル
系共重合体の酸化を防ぐ効果が得られず、酸化防止剤の
量が多すぎれば露光部の残存率が小さくなりすぎるおそ
れがある。
【0034】感光性導電ペーストの組成としては、次の
範囲で選択するのが好ましい。
【0035】 (A)導電性粉末 ;75〜92重量% (B)側鎖にカルボキシル基とエチレン性不飽和基を有
するアクリル系共重合体と光反応性化合物 ;25〜
8重量% (C)光重合開始剤 ;上記(B)成分の総和に対
して2〜25重量%(D)ガラスフリットと金属酸化
物;(A)〜(D)の総和に対して0〜5重量% 上記においてより好ましくは導電性粉末と上記(B)成
分の組成はそれぞれ80〜89重量%および20〜11
重量%である。この範囲にあると露光時において紫外線
が良く透過し、光硬化の機能が十分発揮され、現像時に
おける露光部の膜強度が高くなる。この結果、回路パタ
ーンの信頼性が一段と向上する。またポリマ、モノマー
の量がこの範囲にあると焼成後の導体膜の比抵抗が低く
なり、高周波の伝達損失が低下するという問題もなくな
る。また膜が緻密になり、高強度の膜が得られる。
【0036】本発明の導電ペーストは、側鎖にカルボキ
シル基とエチレン性不飽和基を有するアクリル系共重合
体と光重合開始剤を光反応性化合物に溶解し、この溶液
に導電性粉末を分散させることによって製造することが
できる。アクリル系共重合体と光重合開始剤が光反応性
化合物に溶解しない場合、あるいは溶液の粘度を調整し
たい場合には、該アクリル系共重合体、光重合開始剤及
び光反応性化合物の混合溶液を溶解可能な有機溶媒を加
えてもよい。このとき使用される有機溶媒としては、た
とえばメチルセソルブ、エチルセロソルブ、ブチルセ
ロソルブ、メチルエチルケトン、ジオキサン、アセト
ン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、イソブチル
アルコール、イソプロピルアルコール、テトラヒドロフ
ラン、ジメチルスルフォキシド、γ−ブチロラクトンな
どがあげられる。これらの有機溶媒は、単独であるいは
二種以上併用して用いられる。
【0037】さらに必要に応じて増感剤、熱重合禁止
剤、可塑剤、酸化防止剤、分散剤、安定化剤、有機ある
いは無機の沈殿防止剤を添加し、混合物のスラリーとす
る。所定の組成となるように調合されたスラリーを3本
ローラや混練機で均質に分散し、ペーストを作製する。
【0038】ペーストの粘度は導電性粉末、有機溶媒お
よびガラスフリットの組成、可塑剤、沈殿防止剤などの
添加割合によって適宜調整されるが、その範囲は、通
常、2000〜20万cps(センチ・ポイズ)であ
る。例えば基板への塗布をスピンコート法で行なう場合
は、2000〜5000cpsが好ましい。焼結したセ
ラミックス基板にスクリーン印刷法で1回塗布して膜厚
10〜40μmを得るには、2万〜20万cpsが好ま
しい。またグリーンシートに塗布する場合は、粘度は5
万〜20万cpsが好ましい。これは低粘度であるとペ
ーストをグリーンシートに印刷・露光後、現像時にグリ
ーンシートの内部に、導電性粉末が浸透するため本発明
の微細なパターンを得るのが難しくなるからである。
【0039】次に、感光性導電ペーストを用いて回路パ
ターンを形成する方法について説明する。
【0040】まず、感光性導電ペーストをセラミックス
・グリーンシート、600℃以上の耐熱性ガラスあるい
は焼結後のセラミック基板にスクリーン印刷法で塗布す
る。印刷厚みはスクリーンのメッシュ、ペーストの粘度
を調製することによって任意に制御できるが、通常、5
〜150μmである。5μm未満の膜厚を均質に作製す
ることは困難であり、また150μmを越えると紫外線
露光において透過が難しくなるのでパターン精度が低下
する。本発明の感光性導電ペーストの場合、露光・現像
が微細にできる好ましい厚みの範囲は8〜40μmであ
る。8μm未満になると印刷法では均質な厚みを得るこ
とが難しくなる。また40μmを越えると回路パターン
精度が低下し、線幅/線間隔が60μm/60μm以下
のパターンが得られにくくなる。
【0041】なお、導電性ペーストをガラスやセラミッ
クスの基板上に塗布する場合、基板と塗布膜との密着性
を高めるために基板の表面処理を行うとよい。表面処理
は、表面処理液をスピナーなどで基板上に均一に塗布し
た後に80〜140℃で10〜60分間乾燥することに
よって容易に行なうことができる。表面処理液としては
シランカップリング剤、例えばビニルトリクロロシラ
ン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシ
ラン、トリス−(2−メトキシエトキシ)ビニルシラ
ン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ
−(メタクリロキシプロピル)トリメトキシシラン、γ
(2−アミノエチル)アミノプロピルトリメトキシシラ
ン、γ−クロロプロピルトリメトキシシラン、γ−メル
カプトプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピ
ルトリエトキシシランなど、あるいは有機金属、例えば
有機チタン、有機アルミニウム、有機ジルコニウムなど
を有機溶媒、例えばエチレングリコールモノメチルエー
テル、エチレングリコールモノエチルエーテル、メチル
アルコール、エチルアルコール、プロピルアルコール、
ブチルアルコールなどで0.1〜5重量%の濃度に希釈
したものを用いることができる。
【0042】次に、基板上に塗布したペーストの膜を乾
燥する。通常、70〜120℃で、数分から1時間加熱
して溶媒類を蒸発させることにより行なう。
【0043】乾燥後、フォトリソグラフィー法により、
回路パターンを有するフィルムあるいはクロムマスクな
どのマスクを用いて紫外線を照射して露光し、感光性ペ
ーストを硬化する。露光条件は導体膜の厚みなどによっ
て異なるが、通常、5〜100mW/cm2 の出力の超
高圧水銀灯を用いて1〜30分間露光を行なう。この際
使用される活性光源はたとえば紫外線、電子線、X線な
どが挙げられるが、これらの中で紫外線が好ましく、そ
の光源としてはたとえば低圧水銀灯、高圧水銀灯、ハロ
ゲンランプ、殺菌灯などが使用できる。なかでも超高圧
水銀灯が好適である。
【0044】次に現像液を用いて露光によって硬化して
いない部分を除去し、いわゆるネガ型の回路パターンを
形成する。現像は浸漬法やスプレー法で行なう。現像液
としては前記の側鎖にエチレン性不飽和基を有するアク
リル系共重合体、光反応性化合物及び光重合開始剤の混
合物を溶解可能な有機溶媒を使用できる。また該有機溶
媒にその溶解力が失われない範囲で水を添加してもよ
い。またアクリル系共重合体の側鎖にカルボキシル基が
存在する場合、アルカリ水溶液で現像できる。アルカリ
水溶液として水酸化ナトリウムや水酸化カルシウム水溶
液などのような金属アルカリ水溶液を使用できるが、有
機アルカリ水溶液を用いた方が焼成時にアルカリ成分を
除去しやすいので好ましい。有機アルカリ水溶液の具体
例としては、テトラメチルアンモニウムヒドロキサイ
ド、トリメチルベンジルアンモニウムヒドロキサイド、
モノエタノールアミン、ジエタノールアミンなどが挙げ
られる。アルカリ水溶液の濃度は通常0.5〜10重量
%、より好ましくは0.1〜5重量%である。アルカリ
濃度が低すぎれば未露光部が除去されずに、アルカリ濃
度が高すぎれば、露光部を腐食させるおそれがあり良く
ない。
【0045】本発明の感光性導電ペーストの調合、印
刷、露光、現像工程では紫外線を遮断できるところで行
う必要がある。紫外線を遮断しない場合、ペーストや塗
布膜が紫外線によって光硬化してしまい、本発明の効果
を発揮できる導体膜が得られない。
【0046】現像後、塗布膜を空気中で焼成する。焼成
条件としては特に限定されないが、側鎖にカルボキシル
基とエチレン性不飽和基を有するアクリル系共重合体、
光反応性化合物あるいは溶媒などの有機物が完全に酸
化、蒸発する好ましい条件として400〜550℃で1
〜3時間保持後、600〜1000℃で焼成し、セラミ
ックス基板上に焼き付けることが好ましい。
【0047】本発明の感光性導電ペーストを用いて回路
パターンを形成した場合、例えば導体膜の厚みが5〜6
0μmにおいて導体の線幅が10〜60μm、導体間の
線間隔10〜60μmのものが得られる。
【0048】
【実施例】以下、実施例により本発明を具体的に説明す
るが、本発明はこれらに限定されない。なお、下記の実
施例において濃度はとくに断らない限りすべて重量部で
表わす。
【0049】実施例1〜20 A.導電性粉末 導電性粉末1(Ag粉末) 球状,平均粒子径1.5μm,比表面積0.15m2 /g 導電性粉末2(Ag粉末) 球状,平均粒子径3.0μm,比表面積0.32m2 /g 導電性粉末3(Ag粉末) 球状,平均粒子径4.0μm,比表面積0.20m2 /g 導電性粉末4(Ag粉末) 球状,平均粒子径1.5μm,比表面積0.28m2 /g 導電性粉末5(Ag(80)−Pd(20)粉末) 球状,平均粒子径2.0μm,比表面積1.40m2 /g 導電性粉末6(Pd粉末) 球状,平均粒子径1.0μm,比表面積1.60m2 /g 導電性粉末7(Au(75)−Pd(25)粉末) 球状,平均粒子径0.8μm,比表面積3.50m2 /g 導電性粉末8(Au(80)−Pt(20)粉末) 球状,平均粒子径1.0μm,比表面積3.00m2 /g 導電性粉末9(Pt(40)−Pd(20)−Au(40)粉末) 球状,平均粒子径0.9μm,比表面積2.5m2 /g B.側鎖にカルボキシル基とエチレン性不飽和基を有す
るアクリル系共重合体 (以下、ポリマーバインダーと略す) ポリマーバインダー1; 40%のメタアクリル酸、30%のメチルメタアクリ
ートおよび30%のスチレンの共重合体に対して0.4
当量(40%に相当する)のグリシジルアクリレートを
付加反応させたポリマー ポリマーバインダー2; 30%のメタアクリル酸、35%のエチルメタクリレー
トおよび35%のスチレンの共重合体に対して0.3当
量のクロライドアクリートを付加反応させたポリマー C.光反応性化合物(以下、モノマーと略す) モノマー1;トリメチロール・プロパン・トリアクリ
ート モノマー2;2−ヒドロキシエチルアクリート:プロ
ピレングリコールジアクリートを1:2の割合で混ぜ
たもの。
【0050】D.ガラスフリット ガラスフリット1(成分モル%);酸化カルシウム
(5.0),酸化亜鉛(28.1),酸化ホウ素(2
5.0),二酸化ケイ素(22.8),酸化ナトリウム
(8.8),酸化ジルコニウム(4.5),アルミナ
(5.8) ガラスフリット2(成分重量%);酸化ジルコニウム
(42),酸化ホウ素(24),二酸化ケイ素(2
1),酸化リチウム(7),アルミナ(4)およびその
他の酸化物(2) E.金属酸化物 金属酸化物1;CuO 金属酸化物2;NiO F.溶媒 γ−ブチロラクトンとエチルセロソルブとの混合溶液 G.光重合開始剤 α−アミノ・アセトフェノン H.感光性導電性ペーストの製造 a.有機ビヒクルの作製 溶媒およびポリマーバインダーを混合し、攪拌しながら
80℃まで加熱しすべてのポリマーバインダーを均質に
溶解させた。ついで溶液を室温まで冷却し、光重合開始
剤を加えて溶解させた。その後溶液を400メッシュの
フィルターを通過し、濾過した。このときの溶媒の量と
しては、得られるペーストの粘度が2万〜5万cpsの
範囲になるようした。
【0051】b.ペースト作製 上記の有機ビヒクルに導電性粉末、モノマー、金属酸化
物粉末およびガラスフリットを所定の組成となるように
添加し、3本ローラで混合・分散してしペーストを作製
した。ペーストの組成を表1〜表3に示す。
【0052】c.アルミナ基板の表面処理 表面処理液として(2−アミノエチル)アミノプロピル
トリメトキシシランのイソプロピルアルコールの1重量
%溶液を用いる。次にこの溶液1.5mlをアルミナ基
板上に落とし、スピナーで回転数3000rpmで10
秒で塗布した後、100℃で30分間保持し、乾燥して
表面処理を行った。
【0053】d.印刷 上記のペーストを250メッシュスクリーンを用いて、
表面処理を施したアルミナ基板(100mm角、厚み
0.5mm)上に70mm角の大きさにベタに印刷し、
80℃で40分間乾燥した。乾燥後の塗布膜の厚みは導
電性粉末、ポリマーバインダー、モノマーの種類によっ
て異なるが、12〜20μmであった。
【0054】e.露光、現像 上記で作製した塗布膜を10〜60μmの範囲で5μm
間隔のファインパターンを形成したクロムマスクを用い
て、上面から50mW/cm2 の出力の超高圧水銀灯で
紫外線露光した。次に25℃に保持したモノエタノール
アミンの1重量%の水溶液に浸漬して現像し、その後ス
プレーを用いて光硬化していないヴィアホールを水洗浄
した。
【0055】f.焼成 アルミナ基板上に印刷した塗布膜を空気中、500℃で
1時間の脱バインダー焼成を行い、ポリマーバインダ
ー、モノマー、光重合開始剤および溶媒を蒸発させた
後、850〜1000℃にて0.5時間焼結させ、導体
膜を作製した。焼成温度を表1〜3に示す。
【0056】g.評価 焼成後の導体膜について膜厚、解像度、比抵抗を測定
し、評価した。膜厚はマイクロメータで測定した。解像
度は導体膜を顕微鏡観察し、10〜60μmのラインが
直線で重なりなくかつ再現性が得られるライン間隔を最
も微細なライン間隔として決定した。比抵抗は4端子法
で30mAの電流下で起電力を測定して抵抗を求めた。
これらの測定値を表1〜3に示す。
【0057】
【表1】
【表2】
【表3】 このように光硬化性の樹脂を含む導電性ペーストを用い
てフォトリソグラフィー法により線幅/線間隔が60μ
m/60μm以下の微細パターンでかつ低抵抗を有する
回路パターンが得られるのでとくにセラミックス多層基
板やハイブリッドICの小型化、高密度化に有利であ
る。
【0058】
【発明の効果】本発明は上述のごとく構成したので微細
パターンが確実に形成できるうえ、配線パターンのかす
れや線幅の上下差、および線幅のだれなども確実に防止
することができる。また配線抵抗を低くできるため通信
機などの高周波での伝達損失を低減することができる。
この結果、高い信頼性を得ることができ、高密度なセラ
ミックス多層配線基板やハイブリッドICの小型化、高
密度化を可能にするものである。
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI G03F 7/004 501 G03F 7/004 501 511 511 7/027 7/027 7/028 7/028 7/038 7/038 H01B 1/16 H01B 1/16 Z 1/22 1/22 A H01L 23/12 H05K 1/09 D H05K 1/09 Z H01L 23/12 Q (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C09D 5/24

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】(a)Au,Ag,PdおよびPtの群か
    ら選ばれる少なくとも1種を含み、比表面積が0.1〜
    3m 2 /gである導電性粉末、(b)側鎖にカルボキシ
    ル基とエチレン性不飽和基を有するアクリル系共重合
    体、(c)光反応性化合物、および(d)光重合開始剤
    を含有し、フォトリソグラフィー法によるパターン形成
    が可能でかつアルカリ現像が可能であることを特徴とす
    焼成用感光性導電ペースト。
  2. 【請求項2】ガラスフリットを含有することを特徴とす
    る請求項1記載の感光性導電ペースト。
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