JP3199974B2 - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、隣接して配置される複
数のセンサを有する受光手段を具備した、いわゆる多点
測距を可能とする測距装置の改良に関するものである。
数のセンサを有する受光手段を具備した、いわゆる多点
測距を可能とする測距装置の改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の一般的なアクティブ方式の測距装
置の構成を図６に示す。
置の構成を図６に示す。
【０００３】図６において、４１は投光素子であるとこ
ろのＩＲＥＤ（赤外発光ダイオード）、５１は前記ＩＲ
ＥＤ４１が発する光を集光し、測距対象物に向けて投射
する投光用レンズであり、これらによって投光手段を形
成している。６２は前記投射光の測距対象物での反射光
を受光するセンサであるところのＰＳＤ（半導体位置検
出器）、８１は前記測距対象物での反射光を前記ＰＳＤ
６１に集光する為の受光用レンズであり、これらによっ
て受光手段を形成している。
ろのＩＲＥＤ（赤外発光ダイオード）、５１は前記ＩＲ
ＥＤ４１が発する光を集光し、測距対象物に向けて投射
する投光用レンズであり、これらによって投光手段を形
成している。６２は前記投射光の測距対象物での反射光
を受光するセンサであるところのＰＳＤ（半導体位置検
出器）、８１は前記測距対象物での反射光を前記ＰＳＤ
６１に集光する為の受光用レンズであり、これらによっ
て受光手段を形成している。
【０００４】ここで、投光手段と受光手段は一定の基線
長Ｋだけ隔てて配置されている。また、投光手段と受光
手段のピントは通常比較的遠距離に合わせてある。
長Ｋだけ隔てて配置されている。また、投光手段と受光
手段のピントは通常比較的遠距離に合わせてある。
【０００５】１１１は前記ＩＲＥＤ４１を点灯駆動する
ＩＲＥＤ駆動手段であり、後述するＣＰＵによって制御
される。１１２は前記ＰＳＤ６２からの受光信号を増幅
する増幅手段である。１１３は前記増幅手段１１２から
の信号を基に距離を算出する距離算出手段であり、ここ
ではＰＳＤ６２からの出力であるＩF とＩN を増幅した
信号から「ＩF ／（ＩF ＋ＩN ）」を演算するものとす
る。１１４は前記距離算出手段１１３やＩＲＥＤ駆動手
段１１１の制御等を行い、一連の測距動作を行わせるＣ
ＰＵである。１１５（ＳＷ１）は測距動作の開始及び終
了を指示するスイッチであり、ここではオープンでＯＦ
Ｆ，ＧＮＤとショートでＯＮとする。
ＩＲＥＤ駆動手段であり、後述するＣＰＵによって制御
される。１１２は前記ＰＳＤ６２からの受光信号を増幅
する増幅手段である。１１３は前記増幅手段１１２から
の信号を基に距離を算出する距離算出手段であり、ここ
ではＰＳＤ６２からの出力であるＩF とＩN を増幅した
信号から「ＩF ／（ＩF ＋ＩN ）」を演算するものとす
る。１１４は前記距離算出手段１１３やＩＲＥＤ駆動手
段１１１の制御等を行い、一連の測距動作を行わせるＣ
ＰＵである。１１５（ＳＷ１）は測距動作の開始及び終
了を指示するスイッチであり、ここではオープンでＯＦ
Ｆ，ＧＮＤとショートでＯＮとする。
【０００６】次に、図６の構成における一般的な測距動
作を、図７のフローチャートを用いて説明する。
作を、図７のフローチャートを用いて説明する。
【０００７】まず、ステップ１０１において、スイッチ
ＳＷ１がＯＮかどうか判別し、ＯＦＦならばこのステッ
プ１０１を繰り返す。また、スイッチＳＷ１がＯＮなら
ば測距動作を開始する為にステップ１０２へ移行する。
ステップ１０２においては、ＩＲＥＤ駆動手段１１１を
介してＩＲＥＤ４１を点灯させ、測距対象物に対して光
を投射する。次のステップ１０３においては、ＰＳＤ６
２からの信号を増幅した信号より「ＩF ／（ＩF ＋Ｉ
N ）」を演算し、その結果を距離情報とする。このよう
にして測距情報が得られたらステップ１０４へ進み、前
記ＩＲＥＤ４１を消灯させ、続くステップ１０５におい
て、スイッチＳＷ１がＯＮかどうかを判別する。ここで
スイッチＳＷ１がＯＮならば、ステップ１０２へ戻り、
再びステップ１０２〜ステップ１０４の動作を繰り返
す。一方、スイッチＳＷ１がＯＦＦならばステップ１０
５からステップ１０６へ移行し、測距動作を終了する。
ＳＷ１がＯＮかどうか判別し、ＯＦＦならばこのステッ
プ１０１を繰り返す。また、スイッチＳＷ１がＯＮなら
ば測距動作を開始する為にステップ１０２へ移行する。
ステップ１０２においては、ＩＲＥＤ駆動手段１１１を
介してＩＲＥＤ４１を点灯させ、測距対象物に対して光
を投射する。次のステップ１０３においては、ＰＳＤ６
２からの信号を増幅した信号より「ＩF ／（ＩF ＋Ｉ
N ）」を演算し、その結果を距離情報とする。このよう
にして測距情報が得られたらステップ１０４へ進み、前
記ＩＲＥＤ４１を消灯させ、続くステップ１０５におい
て、スイッチＳＷ１がＯＮかどうかを判別する。ここで
スイッチＳＷ１がＯＮならば、ステップ１０２へ戻り、
再びステップ１０２〜ステップ１０４の動作を繰り返
す。一方、スイッチＳＷ１がＯＦＦならばステップ１０
５からステップ１０６へ移行し、測距動作を終了する。
【０００８】ここで、前記の様なアクティブ方式の測距
装置において、従来から一般的に用いられている測距セ
ンサ（ここではＰＳＤ６２）の形状を図８に示す。
装置において、従来から一般的に用いられている測距セ
ンサ（ここではＰＳＤ６２）の形状を図８に示す。
【０００９】図８において、７２ａは比較的遠距離に位
置する測距対象物からのＰＳＤ６２上の反射光像、７２
ｂは比較的近距離に位置する測距対象物からの反射光
像、７２ｃは比較的至近距離に位置する測距対象物から
の反射光像を示している。
置する測距対象物からのＰＳＤ６２上の反射光像、７２
ｂは比較的近距離に位置する測距対象物からの反射光
像、７２ｃは比較的至近距離に位置する測距対象物から
の反射光像を示している。
【００１０】前述した様に投光手段と受光手段のピント
は比較的遠距離に合わせてあるので、前記ＰＳＤ６２上
に受光される反射光像（以下、受光像と記す）は、近距
離ほどボケて大きな像となる。
は比較的遠距離に合わせてあるので、前記ＰＳＤ６２上
に受光される反射光像（以下、受光像と記す）は、近距
離ほどボケて大きな像となる。
【００１１】前記ＰＳＤ６２が図８に示すセンサ形状を
している場合、該ＰＳＤ６２の出力（以下、センサ出力
とも記す）の演算値である「ＩF ／（ＩF ＋ＩN ）」と
受光像中心位置の関係は、図９のようになる。同図によ
ると、Ｆ側端（測距対象が遠距離である程受光像中心が
近づく方の端）とＮ側端（測距対象が近距離である程受
光像中心が近づく方の端）では、ＰＳＤ６２上の受光像
中心位置が変化しても、センサ出力の演算値「ＩF ／
（ＩF ／ＩN ）」は殆ど変化しなくなる。これは、受光
像の一部がセンサからはみ出すことにより起こり、特に
Ｎ側においては、受光像のボケの影響の為、センサ出力
の演算値「ＩF ／（ＩF ＋ＩN ）」の変化の減少が顕著
に表れる。
している場合、該ＰＳＤ６２の出力（以下、センサ出力
とも記す）の演算値である「ＩF ／（ＩF ＋ＩN ）」と
受光像中心位置の関係は、図９のようになる。同図によ
ると、Ｆ側端（測距対象が遠距離である程受光像中心が
近づく方の端）とＮ側端（測距対象が近距離である程受
光像中心が近づく方の端）では、ＰＳＤ６２上の受光像
中心位置が変化しても、センサ出力の演算値「ＩF ／
（ＩF ／ＩN ）」は殆ど変化しなくなる。これは、受光
像の一部がセンサからはみ出すことにより起こり、特に
Ｎ側においては、受光像のボケの影響の為、センサ出力
の演算値「ＩF ／（ＩF ＋ＩN ）」の変化の減少が顕著
に表れる。
【００１２】この対策として、従来、図１０に示す様な
センサ形状の工夫がなされてきた。つまり、受光センサ
であるＰＳＤ６３のＮ側の基線長方向に延長した位置
に、別のセンサであるＳＰＣ６３ａを接続するようにし
ている。なお、前述と同様、７３ａは比較的遠距離に位
置する測距対象物からの受光像、７３ｂは比較的近距離
に位置する測距対象物からの受光像、７３ｃは比較的至
近距離に位置する測距対象物からの受光像である。
センサ形状の工夫がなされてきた。つまり、受光センサ
であるＰＳＤ６３のＮ側の基線長方向に延長した位置
に、別のセンサであるＳＰＣ６３ａを接続するようにし
ている。なお、前述と同様、７３ａは比較的遠距離に位
置する測距対象物からの受光像、７３ｂは比較的近距離
に位置する測距対象物からの受光像、７３ｃは比較的至
近距離に位置する測距対象物からの受光像である。
【００１３】図１０に示すセンサ形状をしている場合、
センサ出力の演算値である「ＩF ／（ＩF ＋ＩN ）」と
受光像中心位置の関係は、図１１に示す様になる。先の
図９との比較から明らかな様に、図１０に示す様にＳＰ
Ｃ６３ａを設けることにより、Ｎ側端でのＩF ／（ＩF
＋ＩN ）の変化量が改善されている。換言すれば、近距
離側の測距精度を向上させていると言える。
センサ出力の演算値である「ＩF ／（ＩF ＋ＩN ）」と
受光像中心位置の関係は、図１１に示す様になる。先の
図９との比較から明らかな様に、図１０に示す様にＳＰ
Ｃ６３ａを設けることにより、Ｎ側端でのＩF ／（ＩF
＋ＩN ）の変化量が改善されている。換言すれば、近距
離側の測距精度を向上させていると言える。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例においては、受光センサ（ＰＳＤ６３）のＮ側の基
線長方向に延長した位置に別のセンサ（ＳＰＣ６３ａ）
を接続しているので、近年多く用いられている多点測距
に応用しようとした場合、図１２に示す通り矛盾があ
る。
来例においては、受光センサ（ＰＳＤ６３）のＮ側の基
線長方向に延長した位置に別のセンサ（ＳＰＣ６３ａ）
を接続しているので、近年多く用いられている多点測距
に応用しようとした場合、図１２に示す通り矛盾があ
る。
【００１５】図１２は３点測距を可能とする装置におけ
るセンサの配置を示しており、９１は中心部を測距する
為のセンサ、９２は周辺部を測距する為のセンサ、９３
は他の周辺部を測距する為のセンサである。
るセンサの配置を示しており、９１は中心部を測距する
為のセンサ、９２は周辺部を測距する為のセンサ、９３
は他の周辺部を測距する為のセンサである。
【００１６】同図に示す通り、各測距点に対応するセン
サを隣接して配置する場合、図１０に示す従来の方式で
別センサを接続しようとしても、隣りのセンサがある為
に不可能である。この場合、センサレイアウトを変更す
れば良いが、それでは設計自由度が制限され、又センサ
全体の面積も大きくなる可能性もあり、結果的に高価な
測距装置となってしまう。
サを隣接して配置する場合、図１０に示す従来の方式で
別センサを接続しようとしても、隣りのセンサがある為
に不可能である。この場合、センサレイアウトを変更す
れば良いが、それでは設計自由度が制限され、又センサ
全体の面積も大きくなる可能性もあり、結果的に高価な
測距装置となってしまう。
【００１７】（発明の目的）本発明の目的は、センサ全
体の面積を大きくすることなく多点測距を可能とすると
共に、設計の自由度を増すことのできる測距装置を提供
することである。
体の面積を大きくすることなく多点測距を可能とすると
共に、設計の自由度を増すことのできる測距装置を提供
することである。
【００１８】
【課題を解決するための手段】 上記の目的を達成する
ために、請求項１記載の発明は、隣接して配置される複
数の、半導体位置検出器から成るセンサを有する受光手
段と、該受光手段と一定の基線長を隔てて配置された投
光手段とを備えた測距装置において、前記複数のセンサ
のうちの少なくとも１つのセンサの、前記投光手段とは
反対側を、隣接するセンサに対して基線長方向と垂直な
方向に一定間隔ずらして並設されるシリコンフォトセン
サから成る別センサに接続し、隣接する前記複数のセン
サそれぞれの配置を変えることなく、近距離側に位置す
る測距対象の反射受光像を拡大されたセンサエリアによ
り受光するようにした測距装置とするものである。
ために、請求項１記載の発明は、隣接して配置される複
数の、半導体位置検出器から成るセンサを有する受光手
段と、該受光手段と一定の基線長を隔てて配置された投
光手段とを備えた測距装置において、前記複数のセンサ
のうちの少なくとも１つのセンサの、前記投光手段とは
反対側を、隣接するセンサに対して基線長方向と垂直な
方向に一定間隔ずらして並設されるシリコンフォトセン
サから成る別センサに接続し、隣接する前記複数のセン
サそれぞれの配置を変えることなく、近距離側に位置す
る測距対象の反射受光像を拡大されたセンサエリアによ
り受光するようにした測距装置とするものである。
【００１９】
【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
に説明する。
【００２０】図１〜図３は本発明の第１の実施例に係る
図であり、図１は第１の実施例におけるセンサ形状の一
部を示す図である。
図であり、図１は第１の実施例におけるセンサ形状の一
部を示す図である。
【００２１】図１において、６１は受光センサであると
ころのＰＳＤであり、そのＮ側、すなわち投光手段側と
は反対側で且つ基線長方向と垂直な方向に一定間隔ずら
して別センサであるＳＰＣ（シリコンフォトセンサ）６
１ａが接続され、Ｎ側のセンサエリアが拡大されてい
る。７１ａは比較的遠距離に位置する測距対象物からの
受光像、７１ｂは比較的近距離に位置する測距対象物か
らの受光像、７１ｃは比較的至近距離に位置する測距対
象物からの受光像である。
ころのＰＳＤであり、そのＮ側、すなわち投光手段側と
は反対側で且つ基線長方向と垂直な方向に一定間隔ずら
して別センサであるＳＰＣ（シリコンフォトセンサ）６
１ａが接続され、Ｎ側のセンサエリアが拡大されてい
る。７１ａは比較的遠距離に位置する測距対象物からの
受光像、７１ｂは比較的近距離に位置する測距対象物か
らの受光像、７１ｃは比較的至近距離に位置する測距対
象物からの受光像である。
【００２２】図２は、本実施例におけるアクティブ測距
装置の構成図であり、前記従来例で示した図６と同じ部
分には同一符号を付してある。
装置の構成図であり、前記従来例で示した図６と同じ部
分には同一符号を付してある。
【００２３】図２において、６１は図１に示した受光セ
ンサであるところのＰＳＤである。図２の構成におい
て、前記図１のセンサ出力の演算値である「ＩF ／（Ｉ
F ＋ＩN ）」と受光像中心位置の関係は、前記従来例で
示した図１１とほぼ同一の関係となる。これは、前述し
た通り、測距対象が近距離に位置するほど受光像がボケ
る為、受光像がＰＳＤ６１からはみ出し始めると同時に
ＳＰＣ６１ａに受光され始め、結果的に前記従来例に示
した図１０と同じ効果が得られる為である。
ンサであるところのＰＳＤである。図２の構成におい
て、前記図１のセンサ出力の演算値である「ＩF ／（Ｉ
F ＋ＩN ）」と受光像中心位置の関係は、前記従来例で
示した図１１とほぼ同一の関係となる。これは、前述し
た通り、測距対象が近距離に位置するほど受光像がボケ
る為、受光像がＰＳＤ６１からはみ出し始めると同時に
ＳＰＣ６１ａに受光され始め、結果的に前記従来例に示
した図１０と同じ効果が得られる為である。
【００２４】前記図１に示したセンサ形状を利用して、
多点用測距装置に応用した例を示したのが図３である。
多点用測距装置に応用した例を示したのが図３である。
【００２５】図３は３点測距装置におけるセンサの配置
を示しており、１１は中心部を測距する為のセンサであ
るところのＰＳＤであり、そのＮ側、すなわち投光手段
側とは反対側で且つ基線長方向と垂直な方向に一定間隔
ずらして別センサであるＳＰＣ１１ａが接続されてい
る。１２は周辺部を測距する為のセンサであるところの
ＰＳＤであり、上記のＰＳＤ１１と同様に、そのＮ側、
すなわち投光手段側とは反対側で且つ基線長方向と垂直
な方向に一定間隔ずらして別センサであるＳＰＣ１２ａ
が接続されている。１３は他の周辺部を測距する為のセ
ンサであるところのＰＳＤであり、これも上記ＰＳＤ１
１と同様に、そのＮ側、すなわち投光手段側とは反対側
で且つ基線長方向と垂直な方向に一定間隔ずらして別セ
ンサであるＳＰＣ１３ａが接続されている。
を示しており、１１は中心部を測距する為のセンサであ
るところのＰＳＤであり、そのＮ側、すなわち投光手段
側とは反対側で且つ基線長方向と垂直な方向に一定間隔
ずらして別センサであるＳＰＣ１１ａが接続されてい
る。１２は周辺部を測距する為のセンサであるところの
ＰＳＤであり、上記のＰＳＤ１１と同様に、そのＮ側、
すなわち投光手段側とは反対側で且つ基線長方向と垂直
な方向に一定間隔ずらして別センサであるＳＰＣ１２ａ
が接続されている。１３は他の周辺部を測距する為のセ
ンサであるところのＰＳＤであり、これも上記ＰＳＤ１
１と同様に、そのＮ側、すなわち投光手段側とは反対側
で且つ基線長方向と垂直な方向に一定間隔ずらして別セ
ンサであるＳＰＣ１３ａが接続されている。
【００２６】この様に多点測距を可能とする装置におい
て、隣接してセンサを配置する場合においても、本実施
例によれば、近距離側の測距精度を上げることが可能と
なる。
て、隣接してセンサを配置する場合においても、本実施
例によれば、近距離側の測距精度を上げることが可能と
なる。
【００２７】
【００２８】前記構成における測距動作については、前
記従来例と重複するので省略している。さらに多点測距
時の測距動作についても、既に公知技術であるので説明
を省略する。
記従来例と重複するので省略している。さらに多点測距
時の測距動作についても、既に公知技術であるので説明
を省略する。
【００２９】（第２の実施例）図４は本発明の第２の実
施例に係る図であり、３点測距装置に具備される場合の
センサ形状及び配置を示す図である。
施例に係る図であり、３点測距装置に具備される場合の
センサ形状及び配置を示す図である。
【００３０】図４において、２１は中心部を測距する為
のセンサであるところのＰＳＤであり、そのＮ側、すな
わち投光手段と反対側で且つ基線長方向と垂直な方向に
一定間隔ずらして別センサであるＳＰＣ２１ａが接続さ
れ、さらに基線長方向と垂直なもう一方にも、一定間隔
ずらして別センサであるＳＰＣ２１ｂが接続されてい
る。２２は周辺部を測距する為のセンサであるところの
ＰＳＤであり、上記ＰＳＤ２１と同様に、ＰＳＤ２２ａ
とＰＳＤ２２ｂが接続されている。２３は他の周辺部を
測距する為のセンサであるところのＰＳＤであり、これ
も上記ＰＳＤ２１と同様に、ＰＳＤ２３ａとＰＳＤ２３
ｂが接続されている。
のセンサであるところのＰＳＤであり、そのＮ側、すな
わち投光手段と反対側で且つ基線長方向と垂直な方向に
一定間隔ずらして別センサであるＳＰＣ２１ａが接続さ
れ、さらに基線長方向と垂直なもう一方にも、一定間隔
ずらして別センサであるＳＰＣ２１ｂが接続されてい
る。２２は周辺部を測距する為のセンサであるところの
ＰＳＤであり、上記ＰＳＤ２１と同様に、ＰＳＤ２２ａ
とＰＳＤ２２ｂが接続されている。２３は他の周辺部を
測距する為のセンサであるところのＰＳＤであり、これ
も上記ＰＳＤ２１と同様に、ＰＳＤ２３ａとＰＳＤ２３
ｂが接続されている。
【００３１】同図の様なセンサ形状にしても、第１の実
施例の原理で多点測距において隣接してセンサを配置す
る場合、近距離側の測距精度を上げることが可能とな
る。
施例の原理で多点測距において隣接してセンサを配置す
る場合、近距離側の測距精度を上げることが可能とな
る。
【００３２】
【００３３】（第３の実施例）図５は本発明の第３の実
施例に係る図であり、３点測距装置に具備されるセンサ
形状及び配置を示す図である。
施例に係る図であり、３点測距装置に具備されるセンサ
形状及び配置を示す図である。
【００３４】図５において、３１は中心部を測距する為
のセンサであるところのＰＳＤであり、そのＮ側、すな
わち投光手段側とは反対側で且つ基線長方向と垂直な方
向に一定間隔ずらして別センサであるＳＰＣ３１ａが接
続されている。３２は周辺部を測距する為のセンサであ
るところのＰＳＤであり、上記のＰＳＤ３１の様に別セ
ンサは接続されていない。３３は他の周辺部を測距する
為のセンサであるところのＰＳＤであり、これも上記Ｐ
ＳＤ３１の様に別センサは接続されていない。
のセンサであるところのＰＳＤであり、そのＮ側、すな
わち投光手段側とは反対側で且つ基線長方向と垂直な方
向に一定間隔ずらして別センサであるＳＰＣ３１ａが接
続されている。３２は周辺部を測距する為のセンサであ
るところのＰＳＤであり、上記のＰＳＤ３１の様に別セ
ンサは接続されていない。３３は他の周辺部を測距する
為のセンサであるところのＰＳＤであり、これも上記Ｐ
ＳＤ３１の様に別センサは接続されていない。
【００３５】本実施例においては、中心部の受光センサ
のみ近距離側の測距精度を上げるようにしている。これ
により、トータルのセンサ面積をいたずらに拡大しなく
とも済む。
のみ近距離側の測距精度を上げるようにしている。これ
により、トータルのセンサ面積をいたずらに拡大しなく
とも済む。
【００３６】
【００３７】また、本実施例では、中心部の受光センサ
のみ近距離側の測距精度を上げる為、例えばＰＳＤ３１
のみ別センサを接続しているが、これは周辺部のセン
サ、例えばＰＳＤ３２に対し、実施しても良い。
のみ近距離側の測距精度を上げる為、例えばＰＳＤ３１
のみ別センサを接続しているが、これは周辺部のセン
サ、例えばＰＳＤ３２に対し、実施しても良い。
【００３８】以上の各実施例によれば、複数の受光セン
サを隣接して配置しているアクティブ方式の多点測距装
置において、少なくとも例えば中央部の測距用の受光セ
ンサの、投光手段側とは反対側で且つ基線長方向と垂直
な方向に一定間隔ずらして別のセンサを接続し、センサ
エリアを拡大するようにしている為、隣接したセンサの
配置をくずすことなく、近距離側の測距精度を向上させ
ることができる。
サを隣接して配置しているアクティブ方式の多点測距装
置において、少なくとも例えば中央部の測距用の受光セ
ンサの、投光手段側とは反対側で且つ基線長方向と垂直
な方向に一定間隔ずらして別のセンサを接続し、センサ
エリアを拡大するようにしている為、隣接したセンサの
配置をくずすことなく、近距離側の測距精度を向上させ
ることができる。
【００３９】これにより、測距装置設計時の自由度が増
し、さらにセンサ全体の面積もあまり大きくする必要が
ないので、結果的に安価な測距装置を提供することが可
能となる。
し、さらにセンサ全体の面積もあまり大きくする必要が
ないので、結果的に安価な測距装置を提供することが可
能となる。
【００４０】（変形例）本発明は、一眼レフカメラ，レ
ンズシャッタカメラ，ビデオカメラ等のカメラへの適用
のみならず、双眼鏡等の光学機器にも適用可能である。
ンズシャッタカメラ，ビデオカメラ等のカメラへの適用
のみならず、双眼鏡等の光学機器にも適用可能である。
【００４１】
【発明の効果】 以上説明したように、本発明によれ
ば、隣接する複数のセンサそれぞれの配置を従来と何ら
変えることなく、近距離側に位置する測距対象の反射受
光像を拡大されたセンサエリア部分に受光できるように
して、近距離側の高精度の測距を保持するようにしてい
る。
ば、隣接する複数のセンサそれぞれの配置を従来と何ら
変えることなく、近距離側に位置する測距対象の反射受
光像を拡大されたセンサエリア部分に受光できるように
して、近距離側の高精度の測距を保持するようにしてい
る。
【００４２】よって、該装置の設計の自由度が増し、し
かもセンサ全体の面積を大きくすることなく多点測距が
可能となるので該装置を安価なものにすることができ
る。
かもセンサ全体の面積を大きくすることなく多点測距が
可能となるので該装置を安価なものにすることができ
る。
【図１】本発明の第１の実施例に係る多点測距装置に具
備される一部のセンサの形状を示す図である。
備される一部のセンサの形状を示す図である。
【図２】図１のセンサを具備した測距装置の概略を示す
構成図である。
構成図である。
【図３】図１のセンサを多点測距装置に具備されるセン
サの配置を示す図である。
サの配置を示す図である。
【図４】本発明の第２の実施例に係る多点測距装置に具
備されるセンサ形状及びその配置を示す図である。
備されるセンサ形状及びその配置を示す図である。
【図５】本発明の第３の実施例に係る多点測距装置に具
備されるセンサ形状及びその配置を示す図である。
備されるセンサ形状及びその配置を示す図である。
【図６】一般的な測距装置の概略を示す構成図である。
【図７】図６の測距装置における測距動作を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図８】図６のＰＳＤ上での受光像の様子を示す図であ
る。
る。
【図９】図８のＰＳＤの出力によって得られる演算値と
該ＰＳＤ上の受光像中心位置との関係を示す図である。
該ＰＳＤ上の受光像中心位置との関係を示す図である。
【図１０】図８のＰＳＤの持つ欠点を解消する為に提案
されているセンサ形状を示す図である。
されているセンサ形状を示す図である。
【図１１】図１０のＰＳＤの出力によって得られる演算
値と該ＰＳＤ上の受光像中心位置との関係を示す図であ
る。
値と該ＰＳＤ上の受光像中心位置との関係を示す図であ
る。
【図１２】図１０のＰＳＤを多点測距装置に応用した場
合の問題点について説明する為の図である。
合の問題点について説明する為の図である。
４１ ＩＲＥＤ ５１ 投光用レンズ ６１ ＰＳＤ ６１ａ ＰＳＤ ８１ 受光用レンズ １１，１２，１３ ＰＳＤ １１ａ，１２ａ，１３ａ ＰＳＤ ２１，２２，２３ ＰＳＤ ２１ａ，２２ａ，２３ａ ＰＳＤ ２１ｂ，２２ｂ，２３ｂ ＰＳＤ ３１，３２，３３ ＰＳＤ ３１ａ ＰＳＤ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01C 3/06 G02B 7/32
Claims (1)
- 【請求項１】 隣接して配置される複数の、半導体位置
検出器から成るセンサを有する受光手段と、該受光手段
と一定の基線長を隔てて配置された投光手段とを備えた
測距装置において、前記複数のセンサのうちの少なくと
も１つのセンサの、前記投光手段とは反対側を、隣接す
るセンサに対して基線長方向と垂直な方向に一定間隔ず
らして並設されるシリコンフォトセンサから成る別セン
サに接続し、隣接する前記複数のセンサそれぞれの配置
を変えることなく、近距離側に位置する測距対象の反射
受光像を拡大されたセンサエリアにより受光するように
したことを特徴とする測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3588295A JP3199974B2 (ja) | 1995-02-02 | 1995-02-02 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3588295A JP3199974B2 (ja) | 1995-02-02 | 1995-02-02 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08210841A JPH08210841A (ja) | 1996-08-20 |
| JP3199974B2 true JP3199974B2 (ja) | 2001-08-20 |
Family
ID=12454385
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3588295A Expired - Fee Related JP3199974B2 (ja) | 1995-02-02 | 1995-02-02 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3199974B2 (ja) |
-
1995
- 1995-02-02 JP JP3588295A patent/JP3199974B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08210841A (ja) | 1996-08-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |