JP3504698B2 - 測距装置 - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は測距装置に関し、特に
被写体に対して測距用光を投射し、被写体までの距離を
求めるカメラの測距装置に関するものである。 【０００２】 【従来の技術】従来より、写真画面中央部以外に存在す
る被写体にも、ワンタッチでピントを合わせようという
試みが多くなされている。例えば、特開昭５８−２０１
０５号公報には、複数の投光素子を用意し、これを順次
投光することによって画面内の対応するポイントを測距
可能とした技術が開示されている。 【０００３】しかしながら、この方法では画面内の測距
ポイントを増加させればさせる程、多くの投光素子が必
要となり、その結果コストが上昇してしまう。そこで、
１個の投光素子を走査することにより、画面内の各ポイ
ントを測距しようということが試みられている。例え
ば、古くは米国特許第４，４７０，６８１号には、投光
レンズと投光素子の相対位置を変位させる技術があり、
最近では特開昭６４−５７２４６号公報に類似の提案が
なされている。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】ところが、上述したよ
うに投受光レンズと投受光素子の相対位置を変化させる
と、がたつきが生じ、誤測距となりやすいという課題を
有していた。そこで、特開昭５９−１０７３３２号公報
では、投受光素子及びレンズをユニット状態として走査
することにより、こうした誤測距を改善しようとした技
術が開示されている。 【０００５】 しかしながら、投受光素子及びレンズを
含むユニット全体を可動するには、アクチュエータが大
型化し、機構が複雑になるばかりではなく、走査速度が
遅くなり、測距のタイムラグが長くなるという重大な問
題を生じてしまうものであった。そこで本発明は、被写
体距離に関係なく広範囲の被写体に対して、精度良く、
且つ高速に測距することのできる測距装置を提供するこ
とを目的とする。 【０００６】 【課題を解決するための手段】すなわちこの発明は、測
距用光の被写体からの反射信号光位置を検出する、所定
の基線長隔てて配置された一対の受光手段と、被写体に
対し上記測距用光を投射する、上記一対の受光手段の間
に配置された投光手段と、被写体までの距離に応じて、
上記一対の受光手段の出力信号に基いて被写体までの距
離を検出する第一演算処理と、上記一対の受光手段のう
ち一方の受光手段の出力信号に基いて被写体までの距離
を検出する第二演算処理を実行する演算手段と、を具備
し、上記投光手段は、投光レンズの光軸を中心として上
記基線長方向にシフト可能となっており、上記演算手段
は、上記投光手段のシフト範囲が所定範囲内のときは上
記一対の受光手段の出力信号に基いて被写体までの距離
を検出し、上記投光手段のシフト範囲が所定範囲を越え
るときは上記一対の受光手段のうち一方の受光手段の出
力信号に基いて被写体までの距離を検出するものである
ことを特徴とする。 このような構成により、それぞれ
の測距原理の特徴を無駄なく最大限生かし、被写体距離
に関係なく広範囲の被写体の正確な測距が可能となる。 【０００７】 【０００８】 【０００９】 【００１０】 【００１１】 【００１２】 【実施例】以下、図面を参照してこの発明の実施例を説
明する。図１はこの発明の第１の実施例で、測距装置の
概念を示したブロック図である。同図に於いて、ＣＰＵ
１は、被写体に対し、測距用光を投光する手段である投
光部２及びこの投光部２を走査する走査部３を制御す
る。また、受光レンズ４の後方には光位置検出素子（Ｐ
ＳＤ）５が位置され、同様に受光レンズ６の後方にはＰ
ＳＤ７が位置されている。そして、これらＰＳＤ５及び
７の出力は、光位置検出回路８及び９を介して、それぞ
れＣＰＵ１に入力される。 【００１３】このような構成に於いて、投光部２から、
図示されない被写体に対し、測距用光が投光される。こ
のとき、投光部２は、走査部３を介してＣＰＵ１によっ
てその投光方向が変化されるように制御されて走査され
るようになっている。これにより、画面内の各ポイント
の測距が可能となる。 【００１４】上記投光部２によって投射された測距用光
は、図示されない被写体上で反射され、２つの受光レン
ズ４及び６を介して、各々ＰＳＤ５及び７上に光点を結
ぶ。これら２つのＰＳＤ５及び７の出力信号に基いて、
光位置検出回路８及び９にて上記光点の入射位置が演算
される。そして、光位置検出回路８及び９の出力によ
り、ＣＰＵ１で被写体距離が演算される。 【００１５】図２は、この発明の測距装置の測距原理を
示したものである。同図に於いて、１０は被写体上に投
光された測距用光スポットであり、この測距用光スポッ
ト１０から距離Ｌだけ離れた位置に受光レンズ４、６が
配置されている。そして、これら受光レンズ４、６の後
方にＰＳＤ５、７が配置されている。また、受光レンズ
４、６とＰＳＤ５、７間の距離をｆJ とし、ＰＳＤ５、
７上の光点位置を各々のレンズの光軸基準で図示の如く
ｘ1 、ｘ2 とすると、次の関係式が成立する。 【００１６】 Ｌ：ｆJ ＝Ｓ1 ：ｘ1 Ｌ：ｆJ ＝Ｓ2 ：ｘ2 Ｓ1 ＝Ｌ・ｘ1 ／ｆJ …（１） Ｓ2 ＝Ｌ・ｘ2 ／ｆJ …（２） Ｓ＝Ｓ1 ＋Ｓ2 ＝（Ｌ／ｆJ ）（ｘ1 ＋ｘ2 ） …（３） Ｌ＝（Ｓ・ｆJ ）／（ｘ1 ＋ｘ2 ） …（４） したがって、ＰＳＤ５、７によってｘ1 、ｘ2 を検出す
れば、Ｓ、ｆJ は固定値となるので、距離Ｌを求めるこ
とができる。 【００１７】故に、測距用光スポット１０の位置に関係
なく、正確な測距が可能となる。次に、この発明の測距
装置をカメラに適用した第２の実施例を説明する。図３
は、この発明の第２の実施例の構成を示すブロック図で
ある。上述した第１の実施例では、ＰＳＤ５、７として
１次元位置検出型のものを用いたが、この第２の実施例
では、ＩＲＥＤを２次元的にスキャンするタイプの機構
を採用し、ＰＳＤも２次元の位置検出が可能なものを用
いている。したがって、同実施例によれば、カメラ画面
内に投光ポイント（測距用光ポイント）を配送すること
が可能となる。 【００１８】先ず、この２次元的にＩＲＥＤをスキャン
する機構について説明する。ＩＲＥＤ１１はＩＲＥＤド
ライバ１２を介してＣＰＵ１により駆動制御されるもの
で、その前方には投光レンズ１３が配置されている。上
記ＩＲＥＤ１１はＩＲＥＤ保持部１４に取付けられてい
るもので、モータ（Ｍ）ドライバ１５により駆動される
モータ１６及び送りねじ１７によって、ガイドレール１
８に沿って図示ｘ方向にスライドする。また、ＩＲＥＤ
１１及びＩＲＥＤ保持部１４は、モータ（Ｍ）ドライバ
１９により駆動されるモータ２０及び送りねじ２１によ
って、支持部２２と共にガイドレール２３に沿って図示
ｙ方向にスライドする。 【００１９】一方、基線長Ｓだけ離れて配置された受光
レンズ４及び６の後方には、それぞれ２次元の位置検出
が可能なＰＳＤ５及び７が配置されている。そして、Ｐ
ＳＤ５の出力は光位置検出回路８ａ及び８ｂを、ＰＳＤ
７の出力は光位置検出回路９ａ及び９ｂを介して、それ
ぞれＣＰＵ１に供給される。尚、２４は測距の開始タイ
ミングを入力するためのスイッチであり、一般にレリー
ズスイッチと兼用される。 【００２０】また、図４（ａ）は図３に示した測距装置
をカメラに組込んだ配置を示す外観図である。図４
（ａ）に於いて、カメラボディ２５の上面にはレリーズ
スイッチ２４が設けられている。このカメラの前面で、
その略中央部には撮影レンズ２６が、そして、その周辺
にはファインダ２７の窓、及び測距装置の投光レンズ１
３、受光レンズ４、６が、図示の如く配置されている。 【００２１】このような構成に於いて、Ｍドライバ１５
によってモータ１６が回転すると、ＩＲＥＤ保持部１４
がガイドレール１８に沿って、送りねじ１７によってｘ
方向にスライドする。また、支持部２２はガイドレール
２３に沿って可動となっており、Ｍドライバ１９によっ
て駆動されるモータ２０が送りねじ２１を回転させるこ
とにより、ＩＲＥＤ１１がｙ方向にスキャンされる。Ｃ
ＰＵ１は、Ｍドライバ１５及び１９を所定のシーケンス
に従って制御しながら、ＩＲＥＤドライバ１２を介して
ＩＲＥＤ１１を発光させる。 【００２２】ＩＲＥＤ１１からの測距用光は、投光レン
ズ１３によって図示されない被写体に投光される。この
測距用光は、ＩＲＥＤ１１の位置と、投光レンズ１３の
主点を結ぶ方向に投射されるので、ＩＲＥＤ１１の位置
がｘ、ｙ方向に移動する度に、図４（ｂ）に示されるよ
うに、写真画面（ファインダ）上の測距ポイント２８が
２次元的に変化する。 【００２３】一方、ＩＲＥＤ１１の発光に同期して、２
つのＰＳＤ５、７の出力から、受光レンズ４、６を介し
てＰＳＤ５、７に入射した被写体から反射信号光の位置
が、光位置検出回路８ａ、８ｂ、９ａ、９ｂによって検
出される。ＣＰＵ１は、これら光位置検出回路８ａ、８
ｂ、９ａ、９ｂの出力より、画面内の各ポイントの被写
体までの距離を演算する。 【００２４】ここで、図３の光位置検出回路について、
図５を用いて説明する。ＰＳＤ３０の両端からは出力電
流ｉ1 、ｉ2 が出力され、それぞれプリアンプ３１、３
２、圧縮ダイオード３３、３４、バッファ３５、３６を
介して、定電流源３７と共に差動演算回路を構成するＮ
ＰＮトランジスタ３８、３９のベースに供給される。上
記トランジスタ３８、３９はエミッタが共通接続されて
定電流源３７と接続している。また、トランジスタ３９
のコレクタは、積分用コンデンサ４０を介して電源に接
続されると共に、スイッチ４１、端子４２を介してＣＰ
Ｕ１に接続される。尚、ＰＳＤ３０の出力には、背景光
の電流を除去する背景光除去回路４３が接続されてい
る。 【００２５】いま、長さｔのＰＳＤ３０に、図５に示さ
れるようにｘの位置に信号光が入射しているとする。２
つの出力電流ｉ1 、ｉ2 は、この光位置ｘとｔに依存
し、 ｉ1 ／（ｉ1 ＋ｉ2 ）＝ｘ／ｔ …（５） の関係を満たす。 【００２６】ところが、ＰＳＤ３０には、信号光以外に
も入射する背景光があり、これを取り除かなければ上記
（５）式のｉ1 、ｉ2 を得ることはできない。したがっ
て、ＰＳＤ３０の出力に、背景光電流除去回路４３が接
続されている。 【００２７】信号光電流ｉ1 、ｉ2 は、プリアンプ３
１、３２によってβ倍に増幅され、図５に示されるよう
に、圧縮ダイオード３３、３４に流れる。この圧縮ダイ
オード３３、３４に生じた電圧を、バッファ３５、３６
によって差動演算回路に入力される。ＣＰＵ１により制
御される定電流源３０は、ＩＲＥＤの発光、つまり信号
光の入射に同期してＩ0 の電流を流す。一方、積分用コ
ンデンサ４０は、ＩＲＥＤの発光前はスイッチ４１によ
って両端の電位を等しくＶccに初期化されている。この
スイッチ４１は、ＩＲＥＤの発光に同期してオフする。 【００２８】このように構成された回路により、ＰＳＤ
３０の出力電流ｉ1 、ｉ2 とＩINTの関係は、 ＩINT ＝（ｉ1 ／（ｉ1 ＋ｉ2 ））×Ｉ0 ＝（ｘ／ｔ）Ｉ0 …（６） となる。この電流ＩINT は、積分コンデンサ４０に所定
時間積分されるので、端子４２の電圧を検出することに
より、ＣＰＵ１は上記（６）式により ｘ＝ｔ・ＩINT ／Ｉ0 …（６）′ として信号光入射位置ｘを演算することができる。 【００２９】図３に示された光位置検出回路８ａ、８
ｂ、９ａ、９ｂは、このような原理により光の位置を検
出する。次に、図６（ａ）を用いて、これらのＰＳＤ上
の信号光位置から被写体距離Ｌを求める方法について説
明する。 【００３０】上述した図２の例では、ｘ方向の１次元投
光スキャンについて測距原理の説明をしたが、ここでは
更に測距ポイントのｙ方向の変化についても考慮した、
２次元の投光スキャンに対応するＡＦの実施例となって
いる。つまり、図６（ａ）の受光レンズ４、６の光軸と
測距ポイントのなす角度θがθ＝０の時、図２で説明し
た上記（４）式が成立する。 【００３１】図６（ａ）に於いて、上記（４）式より Ｌ1 ＝Ｓ・ｆJ ／（ｘ1 ＋ｘ2 ） …（７） となるから、 Ｌ＝Ｌ1 ｃｏｓθ …（８） であり、θを検出すれば上記（７）式と合わせて、ｘ
1 、ｘ2 より被写体距離Ｌが求められることが明らかで
ある。 【００３２】投光レンズ１３より被写体４４に向けて投
光された測距用光は、図４（ａ）に示されるように受光
レンズ４、６を配置し、更に２次元ＰＳＤ５、７につい
ては、２つの受光レンズ４、６の主点を結ぶ方向（ｘ）
と、それと垂直な図中ｙ方向を検出できるようにｙ方向
を揃えて配置したとき、図６（ｂ）に示されるように、
２つのＰＳＤ５、７上に光点を結ぶ。 【００３３】２組の受光レンズとＰＳＤ間の距離を共に
ｆJ とすると、レンズ光軸のＰＳＤ上の位置４５、４６
を基準とした光点のｙ方向の位置ｙ1 は、上述したθと
の間に次の関係式が成立させる。 ｔａｎθ＝ｙ1 ／ｆJ …（９） この関係より、被写体距離Ｌは、次のように、ｘ、ｙ方
向の光点位置、ｘ1 、ｘ2 、ｙ1 より演算することが可
能となる。 Ｌ＝（Ｓ・ｆJ ／（ｘ1 ＋ｘ2 ))・ cos（arctan（ｙ1 ／ｆJ )) …（１０） したがって、図３に示されるように、２次元ＰＳＤ５、
７の出力からＣＰＵ１と光位置検出回路８ａ、８ｂ、９
ａ、９ｂとがｘ1 、ｘ2 、ｙ1 を演算することにより、
ＣＰＵ１は上記（１０）式に従って被写体距離を求める
ことができる。 【００３４】尚、光位置検出回路については、図５で説
明したものを用いている。ｙ1 は、いずれのＰＳＤでも
検出できるが、ここでは後述する図７（ｂ）のようなフ
ローチャートを想定して、ｙ1 の検出精度を上げてい
る。 【００３５】次に、図７及び図８のフローチャートを参
照して、この測距装置のスキャンＡＦ動作について説明
する。図７に於いて、ステップＳ１は、図３のモータ１
９、２０を逆転させて、ＩＲＥＤ１１の位置を初期化す
るステップである。同時に、この位置をＭ＝０、Ｎ＝０
とする。次いで、ステップＳ２にて、ｙ方向の最初の測
距座標を決定する。そして、ステップＳ３に於いて、ス
キャン測距されたポイント数がＭ1 を超えたか否かを判
定する。 【００３６】ここで、まだ上記測距されたポイント数が
Ｍ1 を超えていなければ、ステップＳ４に進んでｘ方向
へＩＲＥＤ１１を所定量スキャンする。そして、ステッ
プＳ５にてＭをインクリメントして、ステップＳ６で測
距を行い、ステップＳ３に戻る。このように、ステップ
Ｓ３〜Ｓ６にて、図４（ｂ）に参照されるように、ｘ方
向のＭ1 ヶ所の測距が順次行われる。 【００３７】こうして、ステップＳ３でｘ方向のスキャ
ンが一通り行われたことが判定されると、次にステップ
Ｓ７へ分岐するが、これは次の測距ｙ座標を決定するた
めである。そして、ステップＳ８でＮのインクリメント
がなされた後、ステップＳ９に於いて、スキャン測距さ
れたポイント数がＮ1 となるのを判定する。 【００３８】ここで、スキャン測距されたポイント数が
Ｎ1 を超えなければ、ステップＳ１０に進んで、ｘ方向
の位置をリセットする。次いで、ステップＳ１１にて、
Ｍの値も初期化してステップＳ４へ戻り、先に説明した
ｘ方向Ｍ1 ヶ所の測距を行う。これは、ステップＳ９に
てｙ方向Ｎ1 ヶ所の測距が終了するまで繰返される。そ
して、ステップＳ１２にて、得られた測距結果Ｌ11〜Ｌ
M1N1より最も近い測距結果にピント合わせするようにす
る。 【００３９】このフローチャートにより、図４（ｂ）に
示されるように、写真画面内にＭ１×Ｎ１ の数の測距
ポイントを配置することができる。ところで、２次元Ｐ
ＳＤで同時にｘ方向、ｙ方向の光位置を検出するのは困
難である。したがって、同実施例では、２回ＩＲＥＤを
発光させて、その都度ｘ方向の光位置座標、ｙ方向の光
位置座標を検出するようにしている。但し、異なるＰＳ
Ｄに接続された位置検出回路は、同時に作動させること
ができる。 【００４０】故に、図７のステップＳ６に於ける測距の
サブルーチンでは、ステップＳ２２とＳ２３、ステップ
Ｓ２８とＳ２９のように、同時のタイミングでＰＳＤ
５、７それぞれからの光位置検出が行われていることを
明示している。 【００４１】図８に於いて、先ずステップＳ２１にてＩ
ＲＥＤ１１を発光開始させ、光位置検出回路８ａ、８
ｂ、９ａ、９ｂを用いて、ステップＳ２２及びＳ２３の
ように同一タイミングでｘ方向の信号光入射位置ｘ1 、
ｘ2 を求める。具体的には、各光位置検出回路８ａ、８
ｂ、９ａ、９ｂの積分コンデンサ（図５の４０）に、上
記（６）式に依存した電圧が発生し、ホールドされる。
そして、ステップＳ２４に於いて、所定時間の積分コン
デンサへの積分終了を判定する。ここで、積分が終了し
た後、ステップＳ２５にてＩＲＥＤ１１の発光を終了す
る。 【００４２】次に、再度ＩＲＥＤ１１を発光させるが、
連続発光によるＩＲＥＤ１１のチップ温度上昇による光
量劣化を防ぐため、ステップＳ２６にてタイマで所定時
間のインターバルをおく。このステップＳ２６に於いて
は、上述したステップＳ２２、Ｓ２３にて、積分コンデ
ンサによるホールドされた積分電圧を、ＣＰＵ１がＡ／
Ｄ変換して読込むようにする。 【００４３】次に、ステップＳ２７で再度ＩＲＥＤ１１
を発光させ、ステップＳ２８及びＳ２９でｙ方向の信号
光入射位置ｙ15、ｙ16を光位置検出回路８ｂ、９ｂによ
って検出させる。 【００４４】上述したｘ方向の検出と同様、ステップＳ
３０で所定時間の積分が終了すると、ステップＳ３１に
進んでＩＲＥＤ１１の発光を終了させる。そして、ステ
ップＳ３２で再度積分結果を読出し、上記（６）′式で
説明したようにして求められた信号光位置ｙ15とｙ
16を、ステップＳ３３のように平均化し、測定誤差を小
さくするようにする。このようにして得られたｙ1 、及
びｘ1 、ｘ2 から、ステップＳ３４にて、上記（１０）
式で説明したような演算式を用いて被写体距離を算出す
る。 【００４５】以上説明したフローチャートでは、図９
（ａ）に示されるように測距が行われるが、これに限ら
れず、例えば図９（ｂ）に示されるように測距ポイント
の変更を行ってもよい。この図９（ｂ）に示される例に
よれば、測距時間は更に短くできるというメリットがあ
る。 【００４６】こうした測距装置によって、図１０に示さ
れるように、画面２７の中央部４７のポイントに被写体
が存在しないシーンであっても、正しく主要被写体４４
にピント合わせが可能となる。 【００４７】以上のように、同実施例によれば、画面内
の複数のポイントを高精度、高速で測距し、正しいピン
トの写真を簡単に撮影できるカメラを単純な構成で提供
することができる。 【００４８】また、同実施例によれば、ＩＲＥＤの可動
部のがたつきとは全く関係なしに、（１０）式に従って
測距ができるので、厳密なスキャン位置検出用の手段が
不要である。すなわち、図７のフローチャートのステッ
プＳ１のようにＩＲＥＤを初期化する際、その位置を適
当に検出できればよく、続く所定量のスキャンもモータ
への通電時間等で制御すればよいので、投受光間を基線
長とする従来のアクティブ式三角測距方式で投光部をス
キャンする時のように厳密な位置決めを必要としない。 【００４９】尚、図１１に示されるように、画面内中央
部に主要被写体４４が存在し、単に最至近の被写体にピ
ント合わせしてしまうと、雑被写体４８にピントが合
い、主要被写体４４のピントが甘くなってしまうシーン
も多いので、画面中央部の測距結果だけは特別扱いとす
る主要被写体選択フローチャートも考えられる。例え
ば、画面中央に誰も存在せずに風景しかない時、画面中
央の測距結果は無限遠の値を示すので、この時のみ最至
近を選択するようなアルゴリズムが考えられる。 【００５０】上述したように、厳密な位置決め手段を有
していなくとも、この発明によれば、画面中央の測距結
果が選択できるので、これを第３の実施例として図１２
を参照して説明する。 【００５１】図１２（ａ）はこの発明の第３の実施例
で、測距装置をカメラに組込んだ配置を示す正面図であ
る。カメラボディ２５の上面にレリーズスイッチ２４が
設けられている。また、このカメラの前面には、その略
中央部に撮影レンズ２６が、そして、その周辺にはファ
インダ２７の窓、及び測距装置の投光レンズ１３、受光
レンズ４、６が、図示の如く配置されている。 【００５２】図１２（ｂ）は、同図（ａ）のカメラを上
方からみた概念図である。同図に於いて、ファインダ対
物レンズ２７に対し、２つの受光レンズ４、６が並んで
配置されている。ここで、ｘ座標のみ考えれば、カメラ
画面の中心は図中４７の位置だが、ｙ方向を考えなけれ
ば図示していない投光部から、このポイントに測距用光
を投射した時に得られる測距結果が画面中心の測距結果
といえる。 【００５３】したがって、ファインダ対物レンズ２７と
受光レンズ４の主点間距離のｘ方向をＳ2x（図４（ａ）
参照）とすると、受光レンズとＰＳＤ間の距離ｆJ よ
り、ＰＳＤ７上の信号光受光位置ｘ1 と距離Ｌには、次
の関係が成立する。 【００５４】 ｘ2 ＝（（Ｓ＋Ｓ2x）・ｆJ ）／Ｌ …（１１） ＰＳＤ５上の信号位置ｘ1 を用いてもよいが、一般に、
基線は長い方が良いので、ｘ2 を利用する。 【００５５】また、ｙ座標のみ考えれば、図１２（ｃ）
に示されるようになる。同図に於いて、１３を投光レン
ズ、１１をＩＲＥＤ、ファインダ対物レンズを２７とす
ると、画面中央の被写体から入射する反射信号光は、受
光レンズ４を介してＰＳＤ７のｙ1 の位置に光点を結
ぶ。この時、ＰＳＤ７上のｙ方向の信号受光位置ｙ1
は、距離Ｌとの間に、次の関係を成立させる。 【００５６】 ｙ1 ＝（Ｓ2y・ｆJ ）／Ｌ …（１２） ここでＳ2 は、図４（ａ）に示されるように、レンズ２
７と、レンズ４の主点間距離のｙ方向成分を示してい
る。 【００５７】Ｓ＋Ｓ2x＝３０ｍｍ、ｆJ ＝２０ｍｍ、Ｓ
2y＝３０ｍｍとすると、（１１）式及び（１２）式は、 ｘ2 ・Ｌ＝ｙ1 ・Ｌ＝６００ｍｍ2 …（１３） となる。 【００５８】図１３は、このような画面中央部の測距結
果ＬMNO を重視した第３の実施例の動作を説明するフロ
ーチャートである。この図１３のフローチャートに於い
て、ステップＳ１〜Ｓ１１は、上述した図７のステップ
Ｓ１〜Ｓ１１と同じであるので、説明は省略する。 【００５９】ステップＳ９にて、スキャン測距されたポ
イント数ＮがＮ1 を超えれたならば、ステップＳ１３に
進んで、上記（１１）式及び（１２）式で説明した原理
に従って、求められた距離ＬMNと、その時の光入射位置
ｘ2 、Ｌ1 から画面中央の測距結果を判断する。ここで
の判定用数値は上記（１３）式に基いている。尚、不等
式としたのは、光位置検出回路のばらつきや、ＩＲＥＤ
スキャン位置に誤差があるためである。 【００６０】次に、ステップＳ１４に於いて、こうして
求められた画面中央部の測距結果ＬMNO と所定距離Ｌ1
を比較する。ここで、例えば、Ｌ1 ＝５ｍより近い距離
の場合は、中央にいる被写体は主要被写体と考えられる
ので、ステップＳ１５へ分岐して、上記画面中央部の測
距結果ＬMNO にピント合わせを行う。一方、Ｌ1 ＝５ｍ
以上の遠距離の場合は、画面中央に主要被写体は存在し
ないとしてステップＳ１６に分岐する。そして、図７の
ステップＳ１２と同様に、ステップＳ１６にて、得られ
たＭ1 ×Ｎ1 の測距結果から最も近い距離を選び、ここ
にピント合わせをする。 【００６１】このような実施例では、図１１に示される
ようなシーンに於いても、正しく主要被写体である人物
にピント合わせが可能となる。ところで、図１４に示さ
れるように、一般的な従来のカメラのファインダレンズ
２７と、投光手段（ＩＲＥＤ１１、投光レンズ１３）の
位置関係は固定であり、２７ａで示される位置の画面に
対しては中央部の測距ができても、２７ｂで示される位
置の画面に対しては画面中央部の測距はできない。これ
を測距系とファインダ系のパララックス誤差と称する
が、上述した第３の実施例では、こうしたパララックス
の問題にも対策が可能である。 【００６２】また、以上の説明では測距用光スキャンの
例として、図３に示されるＩＲＥＤスキャン機構を前提
としていたが、これに限られるものではなく、例えば図
１５（ａ）及び（ｂ）に示されるような機構でも代用可
能である。すなわち、図１５（ａ）は、投光レンズ１３
及びＩＲＥＤ１１を一体的にして、支点４９を軸に回動
可能なユニット５０の構成を示している。また、図１５
（ｂ）は、投光レンズ１３を介して投光されたＩＲＥＤ
１１の測距用光を、支点５１を中心に回動可能とするミ
ラー５２によって反射させる機構を示している。 【００６３】尚、上述した実施例では、光位置検出素子
にＰＳＤを用いて説明したが、これに限られものではな
く、２分割ＳＰＤを用いてもよいものである。次に、図
１６乃至図１９を参照して、この発明の更なる実施例に
ついて説明する。 【００６４】図１６に於いて、ＩＲＥＤ５３は、長さ
ｔ、幅ｗで表される大きさのＰＳＤ５４と５５の縦方
向、すなわち図示ｙ方向の真中に配置されている。そし
て、これらＩＲＥＤ５３、ＰＳＤ５４及び５５の前方に
は、それぞれ投光レンズ５６、受光レンズ５７及び５８
が、縦方向に配置されている。ＩＲＥＤ５３から投光レ
ンズ５６を介して投射される測距用光５９は、スキャン
装置６０によって投光方向が変更可能（θx ）となって
いる。また、スキャン位置は、位置検出回路６１により
ＣＰＵ６２に入力される。 【００６５】上記受光レンズ５７及び５８を介して受光
された反射信号光は、ＰＳＤ５４及び５５により受光さ
れ、その受光位置がＡＦ回路６３により検出されるよう
になっている。このＡＦ回路６３には、後述する傾き調
整回路６４から測距結果を補正する値が得られるように
なっている。 【００６６】尚、上記ＣＰＵ６２には、装置の調整値を
記憶している電気的に書換え可能なメモリであるＥＥＰ
ＲＯＭ６５が接続されている。図１７は、このような構
成の測距装置が搭載されたカメラの外観図である。同図
に於いて、カメラボディ６６の上面にはレリーズスイッ
チ６７が設けられている。そして、このカメラの前面
で、その略中央部には撮影レンズ６８が、その上方には
ファインダ対物レンズ６９が配置されている。また、撮
影レンズ６８の周辺部でファインダ対物レンズ６９に隣
接して受光レンズ５７が配置され、更にこの受光レンズ
５７の下方には投光レンズ５６、受光レンズ５８が、そ
れぞれ図示の如く配置されている。尚、７０はストロボ
を表している。 【００６７】次に、このような構成の測距装置の２つの
ＰＳＤの動作を図１８を参照して説明する。ＰＳＤ５４
は、受光レンズ５７を介してθ57の範囲から入射する光
信号の位置を測定できる。一方、ＰＳＤ５５は、受光レ
ンズ５８を介してθ58の範囲からの光信号を測定でき
る。したがって、２つのＰＳＤが同時に測定できる光点
の位置は、図１８（ａ）の斜線部Ｅで示されるθy の範
囲となる。つまり、ＰＳＤ端部から受光レンズ光軸まで
の距離をａとし、焦点距離をｆJ とすると、θy は（１
４）式のように表される。 【００６８】 【数１】 ここで、ｆJ ＝１６ｍｍ、ａ＝０．３ｍｍとすると、θ
y は約２°しかないことになる。 【００６９】一方、図１６に示されるように、ＰＳＤ５
４、５５の幅ｗを考慮すると、図示ｘ方向の光点の検出
可能範囲θx は θx ＝ａｒｃｔａｎ（ｗ／ｆJ ） …（１５） となり、ｗ＝３ｍｍ、ｆJ ＝１６ｍｍとすると、θx は
１０．６°となる。ここでθy を広げようとするにはａ
を大きくすることが考えられるが、ａを大きくするとＰ
ＳＤの長さｔが大きくなり、ＡＦの分解能が劣化する。 【００７０】このように考えると、この測距装置にて写
真画面内の多くのポイントの測距を行おうとすると、ｙ
方向よりもｘ方向の方が広い範囲を補えることがわか
る。図１８（ｂ）は、測距用光５９が同一距離でｙ方向
に移動した時の各ＰＳＤ５４、５５に入射するｙ方向の
光点位置を示したものである。図１８（ａ）に示された
ように、両ＰＳＤに対称に光が入射する位置に於いて、
各ＰＳＤ５４、５５の出力によるＰＳＤ上の光点位置５
４ａ、５５ａは交差する。受光レンズ５７、５８とＰＳ
Ｄ５４、５５が対称性良く配置され、２つのＰＳＤの出
力を処理する回路が全く等しい特性を有していれば、５
４ａ、５５ａの結果を加算することにより、正しい測距
結果を得ることができる。 【００７１】ここで注意するべきことは、回路や各素子
の配置等がアンバランスになれば、直線５５ｂに示され
るように、各ＰＳＤの出力の傾きがアンバランスになっ
てしまい、上記加算によっても正しい測距結果が得られ
ないということである。これを電気的に補正するのが、
上述した傾き調整回路６４である。 【００７２】また、図１８（ｃ）は、測距用光５９が同
一距離でｘ方向に動いた時の各ＰＳＤ５４、５５上のｙ
方向の光点位置を示したものである。ｙ方向への変化が
ないので、理想的には図示されるように、一定の出力と
なる。 【００７３】したがって、図１６の構成の測距装置は、
先の定数の条件下に於いて、ｘ方向１０°、ｙ方向２°
の範囲から入射される測距用光に対して、２つのＰＳＤ
の出力に従った測距が可能となる。 【００７４】このような測距方式であれば、図１９に示
されるような、画面内２°×１０°の範囲Ｅ′の部分か
ら反射してくる測距用光に対して、正しいピント合わせ
が可能となる。したがって、測距用光が図１９に示され
るように広がって、被写体からはみ出すような場合で
も、反射光が返ってきさえすれば正しく測距できるとい
うメリットがある。 【００７５】特に、遠距離の被写体では、投光スポット
径φT が、（１６）式の関係で距離Ｌに比例して大きく
なる。故に、顔の大きさφF よりφT が大きくなりがち
である。 φT ＝（φLED ／ｆT ）・Ｌ …（１６） 但しｆT ：投光レンズ焦点距離 φLED ：ＩＲＥＤの発光径 一般のアクティブ式三角測距方式では、φF ＞φT の条
件でしか正しい測距はできないが、同実施例によれば、
上述したように被写体から測距用光の一部が反射して２
つのＰＳＤに入射すれば、正しい測距が可能となるとい
うメリットがある。 【００７６】次に、図２０を参照して、同実施例をより
詳細に説明する。ＩＲＥＤ５３は、ＩＲＥＤドライバ７
１を介してＣＰＵ６２により発光制御されるもので、可
動部材７２に取付けられている。このＩＲＥＤ５３は、
モータ７３と送りねじ７４によって図示ｘ方向に、また
モータ７５と送りねじ７６によってｙ方向に可動となっ
ている。そして、ＣＰＵ６２がモータ（Ｍ）ドライバ７
７、７８を介してモータ７３、７５の回転を制御するこ
とによって、ＩＲＥＤ５３と投光レンズ５６との相対位
置を制御することができる。 【００７７】初期位置スイッチ７９は、ＩＲＥＤ５３の
初期位置を検出するためのものであり、この初期位置か
ら各モータがどれだけ回転したかによって、ＣＰＵ６２
がＩＲＥＤ５３の位置を検出するようになっている。Ｉ
ＲＥＤ５３の位置によって投光レンズ５６を通る光線の
方向が変化するので、図１６に示されるように、測距用
光投ポイント５９を変化させることができる。ＣＰＵ６
２は、このようにＩＲＥＤ５３の位置を変更しながら、
ＩＲＥＤドライバ７１を制御して画面内の各部を測距す
る。 【００７８】このように投光された測距用光は、図示さ
れない被写体上で反射され、２つの受光レンズ５７、５
８を介して、ＰＳＤ５４、５５上に結像される。これら
ＰＳＤ５４、５５に入射された測距用光から、ＰＳＤの
機能によって光の入射位置に対応する出力の２つの電流
信号が出力される。これらの電流信号がプリアンプ８
０、８１、８２、８３にて低入力インピーダンスで吸取
られ、増幅されて圧縮ダイオード８４、８５、８６、８
７に入力される。 【００７９】圧縮ダイオード８４、８５、８６、８７に
生じた各圧縮電圧は、バッファ回路８８、８９、９０、
９１にて基準電圧Ｖref 基準で、各々ＮＰＮトランジス
タ９２、９３、９４、９５のベースに導かれる。ＮＰＮ
トランジスタ９２と９３、及び９４と９５は、それぞれ
エミッタが共通に接続された差動回路を構成している。
そして、これらＮＰＮトランジスタのエミッタには、Ｉ
ＲＥＤ５３の発光に同期して所定の電流値を流したり止
めたりすることのできる電流源９６、９７が接続されて
いる。また、ＮＰＮトランジスタ９３、９４のコレクタ
はＶccに接続されており、ＮＰＮトランジスタ９２、９
５のコレクタは、積分用コンデンサ９８を介してＶccに
接続されている。この積分用コンデンサ９８の出力電圧
は、ＣＰＵ６２によって制御されるもので、スイッチ９
９によって初期化が可能である。 【００８０】このようにして、ＰＳＤ５４および５５の
２つの出力電流が圧縮され、差動回路に入力されるの
で、ＮＰＮトランジスタ９２、９５のコレクタ電流は、
各ＰＳＤの信号光入射位置に比例した出力となる。これ
らのコレクタ電流をＩ92、Ｉ95とする。 【００８１】ここで、図１８（ａ）に示された記号を用
いると、 Ｉ92＝Ａ92・（ａ＋ｙ54） Ｉ95＝Ａ95・（ａ＋ｙ55） …（１７） 但しＡ92、Ａ95：比例定数 となるので、Ａ92＝Ａ95とすると、スイッチ９９をオフ
し、ＩＲＥＤ５３を発光させた時、積分コンデンサ９８
に発生する電圧Ｖ98は、 Ｖ98＝Ａ92（２ａ＋ｙ54＋ｙ55）・Ｂ98 …（１８） 但しＢ98：比例定数 となる。つまり、（１９）式に表される関係となるの
で、ＣＰＵ６２がこのＶ98を内蔵のＡ／Ｄ変換器により
入力すると、Ｖ98からｙ54＋ｙ55が求められる。 【００８２】 【数２】 したがって、被写体距離Ｌは Ｌ＝Ｓ・ｆJ ／（ｙ54＋ｙ55） …（２０） として算出できる。 【００８３】風景等を測距すると、被写体からの反射信
号光がＰＳＤに入射しない場合がある。この場合、信号
光が少ないと圧縮ダイオードの出力電圧が小さくなり、
ノイズによる測距演算がなされてしまう。この演算結果
は、当然正しい被写体距離とは無関係なので、比較回路
１００、１０１によって上記圧縮ダイオード８５、８７
の出力電圧が判定される。この出力電圧が、所定レベル
よりも小さい時、この比較回路がＣＰＵ６２に対して判
定信号を出力する。したがって、ＣＰＵ６２は、この信
号を検知した時、積分コンデンサ９８の出力電圧は無視
して、被写体距離を例えば無限遠と判定する。 【００８４】尚、１０２は、図１８（ｂ）に於いて５５
ａ、５５ｂとして説明した傾きの調整回路である。図２
１は、この調整回路１０２を説明するためのものであ
る。例えば、図２１（ｃ）に示されるように、製造上、
各受光レンズ５７、５８と各ＰＳＤ５４、５５の位置関
係が正しく一致しない場合がある。つまり、ｆJ54 をｆ
J55 と完全に一致させるのも、またＰＳＤの組付け上、
傾きθ54とθ55を完全に一致させるのも困難である。 【００８５】こうした組立て上の誤差は、そのまま図１
８（ｂ）に示されるようなＡＦ結果の傾き誤差につなが
るが、これを機械的に調整して、傾き調整を行うには、
専用の調整用機構を用意する必要が生じるので、高価と
なりやすく、調整時間も長くなりがちである。そこで、
これを電気的に調整するために、調整回路１０２及びＥ
ＥＰＲＯＭ６５が用いられる。 【００８６】より具体的には、調整回路１０２は、図２
１（ａ）に示されるように構成されているもので、電流
源９６の電流値を切換えるようになっている。電流源９
６の電流値が変化すると、上述したＮＰＮトランジスタ
９２のコレクタ電流Ｉ92とＰＳＤ５４に入射された光位
置ｙ54の比例定数Ａ92を変化させることができる。した
がって、ＰＳＤの組付けによって、この比例定数Ａ92が
もう一方の受光系の比例定数Ａ95と一致しない時にも、
電気的にこれを調整し、正しい測距が可能となる。 【００８７】電流源９６は、図示されるようにＮＰＮト
ランジスタにより構成されており、ＮＰＮトランジスタ
１０３と共にカレントミラー回路を形成している。この
ＮＰＮトランジスタ１０３は、コレクタとベースが短絡
されており、このコレクタに５つの定電流源１０４、１
０５、１０６、１０７、１０８が接続されている。１０
４〜１０８のうち、１０５〜１０８の４つの電流源は、
フリップフロップ１０９、１１０、１１１、１１２から
成るカウンタ回路によって、オン、オフが制御される。 【００８８】ＣＰＵ６２は、このカウンタ回路にＣＫ
（クロック）信号とＲｅｓｅｔ（リセット）信号を入力
制御することにより、各電流源をオン、オフ制御するこ
とができる。このカウンタ回路のＣＫ端子にリセット信
号Ｌ（ローレベル）の状態で所定のクロックを入力する
と、図２１（ｂ）に示されるように、トランジスタ１０
３及び９６のコレクタに流れる電流値ＩINT が変化す
る。 【００８９】したがって、装置の組立て時に、ＰＳＤの
組付け誤差等に基くＡ92とＡ95の差を検出しておき、そ
れを打消すだけのＩINT の値を演算し、このクロック数
に相当する値を、電気的に書込み可能なＲＯＭ（ＥＥＰ
ＲＯＭ）６５に記憶させておけばよい。 【００９０】尚、図２１（ａ）のトランジスタ１１３
は、電流源９６をＩＲＥＤの発光に同期してオン、オフ
制御するためのスイッチである。また、ＰＳＤに図２１
（ｃ）のθ54、θ55に示されるような傾きがある場合、
ＩＲＥＤをｘ方向にスキャンした時、被写体距離が等し
くてもＡＦ結果が変化してしまう。そのため、図１８
（ｃ）に示されたようなｘに対して変化しないグラフを
得ることができなくなる。 【００９１】そこで、ＥＥＰＲＯＭ６５には、ＩＲＥＤ
のスキャン位置を、ｘに従ってこの誤差を打消すような
補正係数を入力しておくようにする。ＣＰＵ６２は、初
期位置スイッチ７９とモータ７３（図２０参照）の回転
数より、スキャン位置ｘを検出することができる。ｘの
位置を測距した時に得られた測距結果が、このＥＥＰＲ
ＯＭに入力されている。そのｘに対応する補正値で補正
した後、正しい測距結果として決定すれば、ＰＳＤの組
付け工程を簡単にすることができ、コストを低減するこ
とが可能である。 【００９２】次に、図２２を参照して、２つのＰＳＤ５
４、５５が同時に検出することができない範囲Ｅ以外の
部分を測距する方法について説明する。ＩＲＥＤ５３が
投光レンズ５６の光軸からｙLED だけシフトした位置か
ら投光を行うと、被写体距離Ｌの５９の部分の測距は、
上述してきた方法では不十分である。何故なら、５９の
部分からの反射信号光は、ＰＳＤ５４には入射してもＰ
ＳＤ５５には入射せず、ｙ55が検出できないからであ
る。 【００９３】しかしながら、もう一方のＰＳＤ５４のｙ
54に反射光は入射しているので、この情報に従って測距
は可能である。つまり、投受光レンズ５６、５７の主点
間距離をＳ1 、受光レンズ５７の焦点距離をｆJ とする
と、 Ｌ＝Ｓ1 ・ｆJ ／（ｙLED ＋ｙ54） …（２１） となる。 【００９４】図２３は、このような場合も測距を可能と
したこの測距装置の動作を説明するフローチャートであ
る。以下、このフローチャートに従って動作を説明す
る。先ず、ステップＳ４１にてＩＲＥＤ５３の位置ｙ
LED を、ＣＰＵ６２が初期位置スイッチ７９とモータ７
３の回転数から検出する。次いで、ステップＳ４２及び
Ｓ４３にて、ｙLED の値を判断する。ここで、ｙLED が
−ｙg ≦ｙLED ≦ｙgの条件を満足する時のみ、ステッ
プＳ４４以降のＰＳＤ５４、５５を用いた測距処理に進
む。尚、上記−ｙg 、ｙg は、図１８（ａ）の斜線領域
Ｅに測距用光５９が入るためのｙLED の位置の限界を表
している。 【００９５】ステップＳ４４では、ＩＲＥＤ５３の発光
を開始させ、続いてステップＳ４５及びＳ４６に於い
て、２つのＰＳＤ５４及び５５で各々信号光入射位置ｙ
54、ｙ55を検出するための積分動作を行うように、電流
源９６及び９７をオンさせる。そして、積分コンデンサ
９８に信号が積分され、ステップＳ４７にて、所定時間
の積分が終了判定される。このステップＳ４７で積分終
了と判定されると、次にステップＳ４８でＩＲＥＤ５３
の発光が終了する。その後、ステップＳ４９に於いて、
積分コンデンサ９８の充電電圧から、両受光レンズ間距
離Ｓとｙ54、ｙ55に従って、被写体距離Ｌの演算が行わ
れる。 【００９６】一方、上記ステップＳ４２に於いて、ｙ
LED が大きくなり、ＰＳＤ54に信号が入ってこないと考
えられる場合は、ステップＳ５０へと分岐する。そし
て、ステップＳ５０にてＩＲＥＤ５３の発光がなされた
後、ステップＳ５１にてＰＳＤ５５への信号光入射位置
ｙ55を検出するための積分動作用に、電流源９７がオン
される。次いで、ステップＳ５２で所定時間後の積分終
了検出がなされると、ステップＳ５３にてＩＲＥＤ５３
の発光終了が制御される。この後、ステップＳ５４で積
分結果よりｙ55が検出され、ｙLED 及び投光レンズ５６
と受光レンズ５８の間の距離から、被写体距離Ｌが演算
される。 【００９７】また、上記ステップＳ４３に於いて、ｙ
LED が−ｙg を越えると判定される場合は、まさに図２
２に示されたような状況である。したがって、ステップ
Ｓ５５にてＩＲＥＤ５３の発光がなされた後、ステップ
Ｓ５６にて電流源９７がオンされる。次いで、ステップ
Ｓ５７で所定時間後の積分終了検出がなされると、ステ
ップＳ５８にてＩＲＥＤ５３の発光終了が制御される。
その後、上記ステップＳ５４と同様にして、ステップＳ
５９でｙ54とｙLED とＳ1 （図２２参照）から、被写体
距離Ｌが演算される。 【００９８】このように、ＩＲＥＤのスキャン位置ｙ
LED と、投受光間の距離を加味した測距演算を併用する
ことにより、より広い画角を測距できる装置を提供する
ことができる。 【００９９】 【発明の効果】この発明は、被写体距離に関係なく広範
囲の被写体に対して、正確に測距することのできる測距
装置を提供することができる。
被写体に対して測距用光を投射し、被写体までの距離を
求めるカメラの測距装置に関するものである。 【０００２】 【従来の技術】従来より、写真画面中央部以外に存在す
る被写体にも、ワンタッチでピントを合わせようという
試みが多くなされている。例えば、特開昭５８−２０１
０５号公報には、複数の投光素子を用意し、これを順次
投光することによって画面内の対応するポイントを測距
可能とした技術が開示されている。 【０００３】しかしながら、この方法では画面内の測距
ポイントを増加させればさせる程、多くの投光素子が必
要となり、その結果コストが上昇してしまう。そこで、
１個の投光素子を走査することにより、画面内の各ポイ
ントを測距しようということが試みられている。例え
ば、古くは米国特許第４，４７０，６８１号には、投光
レンズと投光素子の相対位置を変位させる技術があり、
最近では特開昭６４−５７２４６号公報に類似の提案が
なされている。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】ところが、上述したよ
うに投受光レンズと投受光素子の相対位置を変化させる
と、がたつきが生じ、誤測距となりやすいという課題を
有していた。そこで、特開昭５９−１０７３３２号公報
では、投受光素子及びレンズをユニット状態として走査
することにより、こうした誤測距を改善しようとした技
術が開示されている。 【０００５】 しかしながら、投受光素子及びレンズを
含むユニット全体を可動するには、アクチュエータが大
型化し、機構が複雑になるばかりではなく、走査速度が
遅くなり、測距のタイムラグが長くなるという重大な問
題を生じてしまうものであった。そこで本発明は、被写
体距離に関係なく広範囲の被写体に対して、精度良く、
且つ高速に測距することのできる測距装置を提供するこ
とを目的とする。 【０００６】 【課題を解決するための手段】すなわちこの発明は、測
距用光の被写体からの反射信号光位置を検出する、所定
の基線長隔てて配置された一対の受光手段と、被写体に
対し上記測距用光を投射する、上記一対の受光手段の間
に配置された投光手段と、被写体までの距離に応じて、
上記一対の受光手段の出力信号に基いて被写体までの距
離を検出する第一演算処理と、上記一対の受光手段のう
ち一方の受光手段の出力信号に基いて被写体までの距離
を検出する第二演算処理を実行する演算手段と、を具備
し、上記投光手段は、投光レンズの光軸を中心として上
記基線長方向にシフト可能となっており、上記演算手段
は、上記投光手段のシフト範囲が所定範囲内のときは上
記一対の受光手段の出力信号に基いて被写体までの距離
を検出し、上記投光手段のシフト範囲が所定範囲を越え
るときは上記一対の受光手段のうち一方の受光手段の出
力信号に基いて被写体までの距離を検出するものである
ことを特徴とする。 このような構成により、それぞれ
の測距原理の特徴を無駄なく最大限生かし、被写体距離
に関係なく広範囲の被写体の正確な測距が可能となる。 【０００７】 【０００８】 【０００９】 【００１０】 【００１１】 【００１２】 【実施例】以下、図面を参照してこの発明の実施例を説
明する。図１はこの発明の第１の実施例で、測距装置の
概念を示したブロック図である。同図に於いて、ＣＰＵ
１は、被写体に対し、測距用光を投光する手段である投
光部２及びこの投光部２を走査する走査部３を制御す
る。また、受光レンズ４の後方には光位置検出素子（Ｐ
ＳＤ）５が位置され、同様に受光レンズ６の後方にはＰ
ＳＤ７が位置されている。そして、これらＰＳＤ５及び
７の出力は、光位置検出回路８及び９を介して、それぞ
れＣＰＵ１に入力される。 【００１３】このような構成に於いて、投光部２から、
図示されない被写体に対し、測距用光が投光される。こ
のとき、投光部２は、走査部３を介してＣＰＵ１によっ
てその投光方向が変化されるように制御されて走査され
るようになっている。これにより、画面内の各ポイント
の測距が可能となる。 【００１４】上記投光部２によって投射された測距用光
は、図示されない被写体上で反射され、２つの受光レン
ズ４及び６を介して、各々ＰＳＤ５及び７上に光点を結
ぶ。これら２つのＰＳＤ５及び７の出力信号に基いて、
光位置検出回路８及び９にて上記光点の入射位置が演算
される。そして、光位置検出回路８及び９の出力によ
り、ＣＰＵ１で被写体距離が演算される。 【００１５】図２は、この発明の測距装置の測距原理を
示したものである。同図に於いて、１０は被写体上に投
光された測距用光スポットであり、この測距用光スポッ
ト１０から距離Ｌだけ離れた位置に受光レンズ４、６が
配置されている。そして、これら受光レンズ４、６の後
方にＰＳＤ５、７が配置されている。また、受光レンズ
４、６とＰＳＤ５、７間の距離をｆJ とし、ＰＳＤ５、
７上の光点位置を各々のレンズの光軸基準で図示の如く
ｘ1 、ｘ2 とすると、次の関係式が成立する。 【００１６】 Ｌ：ｆJ ＝Ｓ1 ：ｘ1 Ｌ：ｆJ ＝Ｓ2 ：ｘ2 Ｓ1 ＝Ｌ・ｘ1 ／ｆJ …（１） Ｓ2 ＝Ｌ・ｘ2 ／ｆJ …（２） Ｓ＝Ｓ1 ＋Ｓ2 ＝（Ｌ／ｆJ ）（ｘ1 ＋ｘ2 ） …（３） Ｌ＝（Ｓ・ｆJ ）／（ｘ1 ＋ｘ2 ） …（４） したがって、ＰＳＤ５、７によってｘ1 、ｘ2 を検出す
れば、Ｓ、ｆJ は固定値となるので、距離Ｌを求めるこ
とができる。 【００１７】故に、測距用光スポット１０の位置に関係
なく、正確な測距が可能となる。次に、この発明の測距
装置をカメラに適用した第２の実施例を説明する。図３
は、この発明の第２の実施例の構成を示すブロック図で
ある。上述した第１の実施例では、ＰＳＤ５、７として
１次元位置検出型のものを用いたが、この第２の実施例
では、ＩＲＥＤを２次元的にスキャンするタイプの機構
を採用し、ＰＳＤも２次元の位置検出が可能なものを用
いている。したがって、同実施例によれば、カメラ画面
内に投光ポイント（測距用光ポイント）を配送すること
が可能となる。 【００１８】先ず、この２次元的にＩＲＥＤをスキャン
する機構について説明する。ＩＲＥＤ１１はＩＲＥＤド
ライバ１２を介してＣＰＵ１により駆動制御されるもの
で、その前方には投光レンズ１３が配置されている。上
記ＩＲＥＤ１１はＩＲＥＤ保持部１４に取付けられてい
るもので、モータ（Ｍ）ドライバ１５により駆動される
モータ１６及び送りねじ１７によって、ガイドレール１
８に沿って図示ｘ方向にスライドする。また、ＩＲＥＤ
１１及びＩＲＥＤ保持部１４は、モータ（Ｍ）ドライバ
１９により駆動されるモータ２０及び送りねじ２１によ
って、支持部２２と共にガイドレール２３に沿って図示
ｙ方向にスライドする。 【００１９】一方、基線長Ｓだけ離れて配置された受光
レンズ４及び６の後方には、それぞれ２次元の位置検出
が可能なＰＳＤ５及び７が配置されている。そして、Ｐ
ＳＤ５の出力は光位置検出回路８ａ及び８ｂを、ＰＳＤ
７の出力は光位置検出回路９ａ及び９ｂを介して、それ
ぞれＣＰＵ１に供給される。尚、２４は測距の開始タイ
ミングを入力するためのスイッチであり、一般にレリー
ズスイッチと兼用される。 【００２０】また、図４（ａ）は図３に示した測距装置
をカメラに組込んだ配置を示す外観図である。図４
（ａ）に於いて、カメラボディ２５の上面にはレリーズ
スイッチ２４が設けられている。このカメラの前面で、
その略中央部には撮影レンズ２６が、そして、その周辺
にはファインダ２７の窓、及び測距装置の投光レンズ１
３、受光レンズ４、６が、図示の如く配置されている。 【００２１】このような構成に於いて、Ｍドライバ１５
によってモータ１６が回転すると、ＩＲＥＤ保持部１４
がガイドレール１８に沿って、送りねじ１７によってｘ
方向にスライドする。また、支持部２２はガイドレール
２３に沿って可動となっており、Ｍドライバ１９によっ
て駆動されるモータ２０が送りねじ２１を回転させるこ
とにより、ＩＲＥＤ１１がｙ方向にスキャンされる。Ｃ
ＰＵ１は、Ｍドライバ１５及び１９を所定のシーケンス
に従って制御しながら、ＩＲＥＤドライバ１２を介して
ＩＲＥＤ１１を発光させる。 【００２２】ＩＲＥＤ１１からの測距用光は、投光レン
ズ１３によって図示されない被写体に投光される。この
測距用光は、ＩＲＥＤ１１の位置と、投光レンズ１３の
主点を結ぶ方向に投射されるので、ＩＲＥＤ１１の位置
がｘ、ｙ方向に移動する度に、図４（ｂ）に示されるよ
うに、写真画面（ファインダ）上の測距ポイント２８が
２次元的に変化する。 【００２３】一方、ＩＲＥＤ１１の発光に同期して、２
つのＰＳＤ５、７の出力から、受光レンズ４、６を介し
てＰＳＤ５、７に入射した被写体から反射信号光の位置
が、光位置検出回路８ａ、８ｂ、９ａ、９ｂによって検
出される。ＣＰＵ１は、これら光位置検出回路８ａ、８
ｂ、９ａ、９ｂの出力より、画面内の各ポイントの被写
体までの距離を演算する。 【００２４】ここで、図３の光位置検出回路について、
図５を用いて説明する。ＰＳＤ３０の両端からは出力電
流ｉ1 、ｉ2 が出力され、それぞれプリアンプ３１、３
２、圧縮ダイオード３３、３４、バッファ３５、３６を
介して、定電流源３７と共に差動演算回路を構成するＮ
ＰＮトランジスタ３８、３９のベースに供給される。上
記トランジスタ３８、３９はエミッタが共通接続されて
定電流源３７と接続している。また、トランジスタ３９
のコレクタは、積分用コンデンサ４０を介して電源に接
続されると共に、スイッチ４１、端子４２を介してＣＰ
Ｕ１に接続される。尚、ＰＳＤ３０の出力には、背景光
の電流を除去する背景光除去回路４３が接続されてい
る。 【００２５】いま、長さｔのＰＳＤ３０に、図５に示さ
れるようにｘの位置に信号光が入射しているとする。２
つの出力電流ｉ1 、ｉ2 は、この光位置ｘとｔに依存
し、 ｉ1 ／（ｉ1 ＋ｉ2 ）＝ｘ／ｔ …（５） の関係を満たす。 【００２６】ところが、ＰＳＤ３０には、信号光以外に
も入射する背景光があり、これを取り除かなければ上記
（５）式のｉ1 、ｉ2 を得ることはできない。したがっ
て、ＰＳＤ３０の出力に、背景光電流除去回路４３が接
続されている。 【００２７】信号光電流ｉ1 、ｉ2 は、プリアンプ３
１、３２によってβ倍に増幅され、図５に示されるよう
に、圧縮ダイオード３３、３４に流れる。この圧縮ダイ
オード３３、３４に生じた電圧を、バッファ３５、３６
によって差動演算回路に入力される。ＣＰＵ１により制
御される定電流源３０は、ＩＲＥＤの発光、つまり信号
光の入射に同期してＩ0 の電流を流す。一方、積分用コ
ンデンサ４０は、ＩＲＥＤの発光前はスイッチ４１によ
って両端の電位を等しくＶccに初期化されている。この
スイッチ４１は、ＩＲＥＤの発光に同期してオフする。 【００２８】このように構成された回路により、ＰＳＤ
３０の出力電流ｉ1 、ｉ2 とＩINTの関係は、 ＩINT ＝（ｉ1 ／（ｉ1 ＋ｉ2 ））×Ｉ0 ＝（ｘ／ｔ）Ｉ0 …（６） となる。この電流ＩINT は、積分コンデンサ４０に所定
時間積分されるので、端子４２の電圧を検出することに
より、ＣＰＵ１は上記（６）式により ｘ＝ｔ・ＩINT ／Ｉ0 …（６）′ として信号光入射位置ｘを演算することができる。 【００２９】図３に示された光位置検出回路８ａ、８
ｂ、９ａ、９ｂは、このような原理により光の位置を検
出する。次に、図６（ａ）を用いて、これらのＰＳＤ上
の信号光位置から被写体距離Ｌを求める方法について説
明する。 【００３０】上述した図２の例では、ｘ方向の１次元投
光スキャンについて測距原理の説明をしたが、ここでは
更に測距ポイントのｙ方向の変化についても考慮した、
２次元の投光スキャンに対応するＡＦの実施例となって
いる。つまり、図６（ａ）の受光レンズ４、６の光軸と
測距ポイントのなす角度θがθ＝０の時、図２で説明し
た上記（４）式が成立する。 【００３１】図６（ａ）に於いて、上記（４）式より Ｌ1 ＝Ｓ・ｆJ ／（ｘ1 ＋ｘ2 ） …（７） となるから、 Ｌ＝Ｌ1 ｃｏｓθ …（８） であり、θを検出すれば上記（７）式と合わせて、ｘ
1 、ｘ2 より被写体距離Ｌが求められることが明らかで
ある。 【００３２】投光レンズ１３より被写体４４に向けて投
光された測距用光は、図４（ａ）に示されるように受光
レンズ４、６を配置し、更に２次元ＰＳＤ５、７につい
ては、２つの受光レンズ４、６の主点を結ぶ方向（ｘ）
と、それと垂直な図中ｙ方向を検出できるようにｙ方向
を揃えて配置したとき、図６（ｂ）に示されるように、
２つのＰＳＤ５、７上に光点を結ぶ。 【００３３】２組の受光レンズとＰＳＤ間の距離を共に
ｆJ とすると、レンズ光軸のＰＳＤ上の位置４５、４６
を基準とした光点のｙ方向の位置ｙ1 は、上述したθと
の間に次の関係式が成立させる。 ｔａｎθ＝ｙ1 ／ｆJ …（９） この関係より、被写体距離Ｌは、次のように、ｘ、ｙ方
向の光点位置、ｘ1 、ｘ2 、ｙ1 より演算することが可
能となる。 Ｌ＝（Ｓ・ｆJ ／（ｘ1 ＋ｘ2 ))・ cos（arctan（ｙ1 ／ｆJ )) …（１０） したがって、図３に示されるように、２次元ＰＳＤ５、
７の出力からＣＰＵ１と光位置検出回路８ａ、８ｂ、９
ａ、９ｂとがｘ1 、ｘ2 、ｙ1 を演算することにより、
ＣＰＵ１は上記（１０）式に従って被写体距離を求める
ことができる。 【００３４】尚、光位置検出回路については、図５で説
明したものを用いている。ｙ1 は、いずれのＰＳＤでも
検出できるが、ここでは後述する図７（ｂ）のようなフ
ローチャートを想定して、ｙ1 の検出精度を上げてい
る。 【００３５】次に、図７及び図８のフローチャートを参
照して、この測距装置のスキャンＡＦ動作について説明
する。図７に於いて、ステップＳ１は、図３のモータ１
９、２０を逆転させて、ＩＲＥＤ１１の位置を初期化す
るステップである。同時に、この位置をＭ＝０、Ｎ＝０
とする。次いで、ステップＳ２にて、ｙ方向の最初の測
距座標を決定する。そして、ステップＳ３に於いて、ス
キャン測距されたポイント数がＭ1 を超えたか否かを判
定する。 【００３６】ここで、まだ上記測距されたポイント数が
Ｍ1 を超えていなければ、ステップＳ４に進んでｘ方向
へＩＲＥＤ１１を所定量スキャンする。そして、ステッ
プＳ５にてＭをインクリメントして、ステップＳ６で測
距を行い、ステップＳ３に戻る。このように、ステップ
Ｓ３〜Ｓ６にて、図４（ｂ）に参照されるように、ｘ方
向のＭ1 ヶ所の測距が順次行われる。 【００３７】こうして、ステップＳ３でｘ方向のスキャ
ンが一通り行われたことが判定されると、次にステップ
Ｓ７へ分岐するが、これは次の測距ｙ座標を決定するた
めである。そして、ステップＳ８でＮのインクリメント
がなされた後、ステップＳ９に於いて、スキャン測距さ
れたポイント数がＮ1 となるのを判定する。 【００３８】ここで、スキャン測距されたポイント数が
Ｎ1 を超えなければ、ステップＳ１０に進んで、ｘ方向
の位置をリセットする。次いで、ステップＳ１１にて、
Ｍの値も初期化してステップＳ４へ戻り、先に説明した
ｘ方向Ｍ1 ヶ所の測距を行う。これは、ステップＳ９に
てｙ方向Ｎ1 ヶ所の測距が終了するまで繰返される。そ
して、ステップＳ１２にて、得られた測距結果Ｌ11〜Ｌ
M1N1より最も近い測距結果にピント合わせするようにす
る。 【００３９】このフローチャートにより、図４（ｂ）に
示されるように、写真画面内にＭ１×Ｎ１ の数の測距
ポイントを配置することができる。ところで、２次元Ｐ
ＳＤで同時にｘ方向、ｙ方向の光位置を検出するのは困
難である。したがって、同実施例では、２回ＩＲＥＤを
発光させて、その都度ｘ方向の光位置座標、ｙ方向の光
位置座標を検出するようにしている。但し、異なるＰＳ
Ｄに接続された位置検出回路は、同時に作動させること
ができる。 【００４０】故に、図７のステップＳ６に於ける測距の
サブルーチンでは、ステップＳ２２とＳ２３、ステップ
Ｓ２８とＳ２９のように、同時のタイミングでＰＳＤ
５、７それぞれからの光位置検出が行われていることを
明示している。 【００４１】図８に於いて、先ずステップＳ２１にてＩ
ＲＥＤ１１を発光開始させ、光位置検出回路８ａ、８
ｂ、９ａ、９ｂを用いて、ステップＳ２２及びＳ２３の
ように同一タイミングでｘ方向の信号光入射位置ｘ1 、
ｘ2 を求める。具体的には、各光位置検出回路８ａ、８
ｂ、９ａ、９ｂの積分コンデンサ（図５の４０）に、上
記（６）式に依存した電圧が発生し、ホールドされる。
そして、ステップＳ２４に於いて、所定時間の積分コン
デンサへの積分終了を判定する。ここで、積分が終了し
た後、ステップＳ２５にてＩＲＥＤ１１の発光を終了す
る。 【００４２】次に、再度ＩＲＥＤ１１を発光させるが、
連続発光によるＩＲＥＤ１１のチップ温度上昇による光
量劣化を防ぐため、ステップＳ２６にてタイマで所定時
間のインターバルをおく。このステップＳ２６に於いて
は、上述したステップＳ２２、Ｓ２３にて、積分コンデ
ンサによるホールドされた積分電圧を、ＣＰＵ１がＡ／
Ｄ変換して読込むようにする。 【００４３】次に、ステップＳ２７で再度ＩＲＥＤ１１
を発光させ、ステップＳ２８及びＳ２９でｙ方向の信号
光入射位置ｙ15、ｙ16を光位置検出回路８ｂ、９ｂによ
って検出させる。 【００４４】上述したｘ方向の検出と同様、ステップＳ
３０で所定時間の積分が終了すると、ステップＳ３１に
進んでＩＲＥＤ１１の発光を終了させる。そして、ステ
ップＳ３２で再度積分結果を読出し、上記（６）′式で
説明したようにして求められた信号光位置ｙ15とｙ
16を、ステップＳ３３のように平均化し、測定誤差を小
さくするようにする。このようにして得られたｙ1 、及
びｘ1 、ｘ2 から、ステップＳ３４にて、上記（１０）
式で説明したような演算式を用いて被写体距離を算出す
る。 【００４５】以上説明したフローチャートでは、図９
（ａ）に示されるように測距が行われるが、これに限ら
れず、例えば図９（ｂ）に示されるように測距ポイント
の変更を行ってもよい。この図９（ｂ）に示される例に
よれば、測距時間は更に短くできるというメリットがあ
る。 【００４６】こうした測距装置によって、図１０に示さ
れるように、画面２７の中央部４７のポイントに被写体
が存在しないシーンであっても、正しく主要被写体４４
にピント合わせが可能となる。 【００４７】以上のように、同実施例によれば、画面内
の複数のポイントを高精度、高速で測距し、正しいピン
トの写真を簡単に撮影できるカメラを単純な構成で提供
することができる。 【００４８】また、同実施例によれば、ＩＲＥＤの可動
部のがたつきとは全く関係なしに、（１０）式に従って
測距ができるので、厳密なスキャン位置検出用の手段が
不要である。すなわち、図７のフローチャートのステッ
プＳ１のようにＩＲＥＤを初期化する際、その位置を適
当に検出できればよく、続く所定量のスキャンもモータ
への通電時間等で制御すればよいので、投受光間を基線
長とする従来のアクティブ式三角測距方式で投光部をス
キャンする時のように厳密な位置決めを必要としない。 【００４９】尚、図１１に示されるように、画面内中央
部に主要被写体４４が存在し、単に最至近の被写体にピ
ント合わせしてしまうと、雑被写体４８にピントが合
い、主要被写体４４のピントが甘くなってしまうシーン
も多いので、画面中央部の測距結果だけは特別扱いとす
る主要被写体選択フローチャートも考えられる。例え
ば、画面中央に誰も存在せずに風景しかない時、画面中
央の測距結果は無限遠の値を示すので、この時のみ最至
近を選択するようなアルゴリズムが考えられる。 【００５０】上述したように、厳密な位置決め手段を有
していなくとも、この発明によれば、画面中央の測距結
果が選択できるので、これを第３の実施例として図１２
を参照して説明する。 【００５１】図１２（ａ）はこの発明の第３の実施例
で、測距装置をカメラに組込んだ配置を示す正面図であ
る。カメラボディ２５の上面にレリーズスイッチ２４が
設けられている。また、このカメラの前面には、その略
中央部に撮影レンズ２６が、そして、その周辺にはファ
インダ２７の窓、及び測距装置の投光レンズ１３、受光
レンズ４、６が、図示の如く配置されている。 【００５２】図１２（ｂ）は、同図（ａ）のカメラを上
方からみた概念図である。同図に於いて、ファインダ対
物レンズ２７に対し、２つの受光レンズ４、６が並んで
配置されている。ここで、ｘ座標のみ考えれば、カメラ
画面の中心は図中４７の位置だが、ｙ方向を考えなけれ
ば図示していない投光部から、このポイントに測距用光
を投射した時に得られる測距結果が画面中心の測距結果
といえる。 【００５３】したがって、ファインダ対物レンズ２７と
受光レンズ４の主点間距離のｘ方向をＳ2x（図４（ａ）
参照）とすると、受光レンズとＰＳＤ間の距離ｆJ よ
り、ＰＳＤ７上の信号光受光位置ｘ1 と距離Ｌには、次
の関係が成立する。 【００５４】 ｘ2 ＝（（Ｓ＋Ｓ2x）・ｆJ ）／Ｌ …（１１） ＰＳＤ５上の信号位置ｘ1 を用いてもよいが、一般に、
基線は長い方が良いので、ｘ2 を利用する。 【００５５】また、ｙ座標のみ考えれば、図１２（ｃ）
に示されるようになる。同図に於いて、１３を投光レン
ズ、１１をＩＲＥＤ、ファインダ対物レンズを２７とす
ると、画面中央の被写体から入射する反射信号光は、受
光レンズ４を介してＰＳＤ７のｙ1 の位置に光点を結
ぶ。この時、ＰＳＤ７上のｙ方向の信号受光位置ｙ1
は、距離Ｌとの間に、次の関係を成立させる。 【００５６】 ｙ1 ＝（Ｓ2y・ｆJ ）／Ｌ …（１２） ここでＳ2 は、図４（ａ）に示されるように、レンズ２
７と、レンズ４の主点間距離のｙ方向成分を示してい
る。 【００５７】Ｓ＋Ｓ2x＝３０ｍｍ、ｆJ ＝２０ｍｍ、Ｓ
2y＝３０ｍｍとすると、（１１）式及び（１２）式は、 ｘ2 ・Ｌ＝ｙ1 ・Ｌ＝６００ｍｍ2 …（１３） となる。 【００５８】図１３は、このような画面中央部の測距結
果ＬMNO を重視した第３の実施例の動作を説明するフロ
ーチャートである。この図１３のフローチャートに於い
て、ステップＳ１〜Ｓ１１は、上述した図７のステップ
Ｓ１〜Ｓ１１と同じであるので、説明は省略する。 【００５９】ステップＳ９にて、スキャン測距されたポ
イント数ＮがＮ1 を超えれたならば、ステップＳ１３に
進んで、上記（１１）式及び（１２）式で説明した原理
に従って、求められた距離ＬMNと、その時の光入射位置
ｘ2 、Ｌ1 から画面中央の測距結果を判断する。ここで
の判定用数値は上記（１３）式に基いている。尚、不等
式としたのは、光位置検出回路のばらつきや、ＩＲＥＤ
スキャン位置に誤差があるためである。 【００６０】次に、ステップＳ１４に於いて、こうして
求められた画面中央部の測距結果ＬMNO と所定距離Ｌ1
を比較する。ここで、例えば、Ｌ1 ＝５ｍより近い距離
の場合は、中央にいる被写体は主要被写体と考えられる
ので、ステップＳ１５へ分岐して、上記画面中央部の測
距結果ＬMNO にピント合わせを行う。一方、Ｌ1 ＝５ｍ
以上の遠距離の場合は、画面中央に主要被写体は存在し
ないとしてステップＳ１６に分岐する。そして、図７の
ステップＳ１２と同様に、ステップＳ１６にて、得られ
たＭ1 ×Ｎ1 の測距結果から最も近い距離を選び、ここ
にピント合わせをする。 【００６１】このような実施例では、図１１に示される
ようなシーンに於いても、正しく主要被写体である人物
にピント合わせが可能となる。ところで、図１４に示さ
れるように、一般的な従来のカメラのファインダレンズ
２７と、投光手段（ＩＲＥＤ１１、投光レンズ１３）の
位置関係は固定であり、２７ａで示される位置の画面に
対しては中央部の測距ができても、２７ｂで示される位
置の画面に対しては画面中央部の測距はできない。これ
を測距系とファインダ系のパララックス誤差と称する
が、上述した第３の実施例では、こうしたパララックス
の問題にも対策が可能である。 【００６２】また、以上の説明では測距用光スキャンの
例として、図３に示されるＩＲＥＤスキャン機構を前提
としていたが、これに限られるものではなく、例えば図
１５（ａ）及び（ｂ）に示されるような機構でも代用可
能である。すなわち、図１５（ａ）は、投光レンズ１３
及びＩＲＥＤ１１を一体的にして、支点４９を軸に回動
可能なユニット５０の構成を示している。また、図１５
（ｂ）は、投光レンズ１３を介して投光されたＩＲＥＤ
１１の測距用光を、支点５１を中心に回動可能とするミ
ラー５２によって反射させる機構を示している。 【００６３】尚、上述した実施例では、光位置検出素子
にＰＳＤを用いて説明したが、これに限られものではな
く、２分割ＳＰＤを用いてもよいものである。次に、図
１６乃至図１９を参照して、この発明の更なる実施例に
ついて説明する。 【００６４】図１６に於いて、ＩＲＥＤ５３は、長さ
ｔ、幅ｗで表される大きさのＰＳＤ５４と５５の縦方
向、すなわち図示ｙ方向の真中に配置されている。そし
て、これらＩＲＥＤ５３、ＰＳＤ５４及び５５の前方に
は、それぞれ投光レンズ５６、受光レンズ５７及び５８
が、縦方向に配置されている。ＩＲＥＤ５３から投光レ
ンズ５６を介して投射される測距用光５９は、スキャン
装置６０によって投光方向が変更可能（θx ）となって
いる。また、スキャン位置は、位置検出回路６１により
ＣＰＵ６２に入力される。 【００６５】上記受光レンズ５７及び５８を介して受光
された反射信号光は、ＰＳＤ５４及び５５により受光さ
れ、その受光位置がＡＦ回路６３により検出されるよう
になっている。このＡＦ回路６３には、後述する傾き調
整回路６４から測距結果を補正する値が得られるように
なっている。 【００６６】尚、上記ＣＰＵ６２には、装置の調整値を
記憶している電気的に書換え可能なメモリであるＥＥＰ
ＲＯＭ６５が接続されている。図１７は、このような構
成の測距装置が搭載されたカメラの外観図である。同図
に於いて、カメラボディ６６の上面にはレリーズスイッ
チ６７が設けられている。そして、このカメラの前面
で、その略中央部には撮影レンズ６８が、その上方には
ファインダ対物レンズ６９が配置されている。また、撮
影レンズ６８の周辺部でファインダ対物レンズ６９に隣
接して受光レンズ５７が配置され、更にこの受光レンズ
５７の下方には投光レンズ５６、受光レンズ５８が、そ
れぞれ図示の如く配置されている。尚、７０はストロボ
を表している。 【００６７】次に、このような構成の測距装置の２つの
ＰＳＤの動作を図１８を参照して説明する。ＰＳＤ５４
は、受光レンズ５７を介してθ57の範囲から入射する光
信号の位置を測定できる。一方、ＰＳＤ５５は、受光レ
ンズ５８を介してθ58の範囲からの光信号を測定でき
る。したがって、２つのＰＳＤが同時に測定できる光点
の位置は、図１８（ａ）の斜線部Ｅで示されるθy の範
囲となる。つまり、ＰＳＤ端部から受光レンズ光軸まで
の距離をａとし、焦点距離をｆJ とすると、θy は（１
４）式のように表される。 【００６８】 【数１】 ここで、ｆJ ＝１６ｍｍ、ａ＝０．３ｍｍとすると、θ
y は約２°しかないことになる。 【００６９】一方、図１６に示されるように、ＰＳＤ５
４、５５の幅ｗを考慮すると、図示ｘ方向の光点の検出
可能範囲θx は θx ＝ａｒｃｔａｎ（ｗ／ｆJ ） …（１５） となり、ｗ＝３ｍｍ、ｆJ ＝１６ｍｍとすると、θx は
１０．６°となる。ここでθy を広げようとするにはａ
を大きくすることが考えられるが、ａを大きくするとＰ
ＳＤの長さｔが大きくなり、ＡＦの分解能が劣化する。 【００７０】このように考えると、この測距装置にて写
真画面内の多くのポイントの測距を行おうとすると、ｙ
方向よりもｘ方向の方が広い範囲を補えることがわか
る。図１８（ｂ）は、測距用光５９が同一距離でｙ方向
に移動した時の各ＰＳＤ５４、５５に入射するｙ方向の
光点位置を示したものである。図１８（ａ）に示された
ように、両ＰＳＤに対称に光が入射する位置に於いて、
各ＰＳＤ５４、５５の出力によるＰＳＤ上の光点位置５
４ａ、５５ａは交差する。受光レンズ５７、５８とＰＳ
Ｄ５４、５５が対称性良く配置され、２つのＰＳＤの出
力を処理する回路が全く等しい特性を有していれば、５
４ａ、５５ａの結果を加算することにより、正しい測距
結果を得ることができる。 【００７１】ここで注意するべきことは、回路や各素子
の配置等がアンバランスになれば、直線５５ｂに示され
るように、各ＰＳＤの出力の傾きがアンバランスになっ
てしまい、上記加算によっても正しい測距結果が得られ
ないということである。これを電気的に補正するのが、
上述した傾き調整回路６４である。 【００７２】また、図１８（ｃ）は、測距用光５９が同
一距離でｘ方向に動いた時の各ＰＳＤ５４、５５上のｙ
方向の光点位置を示したものである。ｙ方向への変化が
ないので、理想的には図示されるように、一定の出力と
なる。 【００７３】したがって、図１６の構成の測距装置は、
先の定数の条件下に於いて、ｘ方向１０°、ｙ方向２°
の範囲から入射される測距用光に対して、２つのＰＳＤ
の出力に従った測距が可能となる。 【００７４】このような測距方式であれば、図１９に示
されるような、画面内２°×１０°の範囲Ｅ′の部分か
ら反射してくる測距用光に対して、正しいピント合わせ
が可能となる。したがって、測距用光が図１９に示され
るように広がって、被写体からはみ出すような場合で
も、反射光が返ってきさえすれば正しく測距できるとい
うメリットがある。 【００７５】特に、遠距離の被写体では、投光スポット
径φT が、（１６）式の関係で距離Ｌに比例して大きく
なる。故に、顔の大きさφF よりφT が大きくなりがち
である。 φT ＝（φLED ／ｆT ）・Ｌ …（１６） 但しｆT ：投光レンズ焦点距離 φLED ：ＩＲＥＤの発光径 一般のアクティブ式三角測距方式では、φF ＞φT の条
件でしか正しい測距はできないが、同実施例によれば、
上述したように被写体から測距用光の一部が反射して２
つのＰＳＤに入射すれば、正しい測距が可能となるとい
うメリットがある。 【００７６】次に、図２０を参照して、同実施例をより
詳細に説明する。ＩＲＥＤ５３は、ＩＲＥＤドライバ７
１を介してＣＰＵ６２により発光制御されるもので、可
動部材７２に取付けられている。このＩＲＥＤ５３は、
モータ７３と送りねじ７４によって図示ｘ方向に、また
モータ７５と送りねじ７６によってｙ方向に可動となっ
ている。そして、ＣＰＵ６２がモータ（Ｍ）ドライバ７
７、７８を介してモータ７３、７５の回転を制御するこ
とによって、ＩＲＥＤ５３と投光レンズ５６との相対位
置を制御することができる。 【００７７】初期位置スイッチ７９は、ＩＲＥＤ５３の
初期位置を検出するためのものであり、この初期位置か
ら各モータがどれだけ回転したかによって、ＣＰＵ６２
がＩＲＥＤ５３の位置を検出するようになっている。Ｉ
ＲＥＤ５３の位置によって投光レンズ５６を通る光線の
方向が変化するので、図１６に示されるように、測距用
光投ポイント５９を変化させることができる。ＣＰＵ６
２は、このようにＩＲＥＤ５３の位置を変更しながら、
ＩＲＥＤドライバ７１を制御して画面内の各部を測距す
る。 【００７８】このように投光された測距用光は、図示さ
れない被写体上で反射され、２つの受光レンズ５７、５
８を介して、ＰＳＤ５４、５５上に結像される。これら
ＰＳＤ５４、５５に入射された測距用光から、ＰＳＤの
機能によって光の入射位置に対応する出力の２つの電流
信号が出力される。これらの電流信号がプリアンプ８
０、８１、８２、８３にて低入力インピーダンスで吸取
られ、増幅されて圧縮ダイオード８４、８５、８６、８
７に入力される。 【００７９】圧縮ダイオード８４、８５、８６、８７に
生じた各圧縮電圧は、バッファ回路８８、８９、９０、
９１にて基準電圧Ｖref 基準で、各々ＮＰＮトランジス
タ９２、９３、９４、９５のベースに導かれる。ＮＰＮ
トランジスタ９２と９３、及び９４と９５は、それぞれ
エミッタが共通に接続された差動回路を構成している。
そして、これらＮＰＮトランジスタのエミッタには、Ｉ
ＲＥＤ５３の発光に同期して所定の電流値を流したり止
めたりすることのできる電流源９６、９７が接続されて
いる。また、ＮＰＮトランジスタ９３、９４のコレクタ
はＶccに接続されており、ＮＰＮトランジスタ９２、９
５のコレクタは、積分用コンデンサ９８を介してＶccに
接続されている。この積分用コンデンサ９８の出力電圧
は、ＣＰＵ６２によって制御されるもので、スイッチ９
９によって初期化が可能である。 【００８０】このようにして、ＰＳＤ５４および５５の
２つの出力電流が圧縮され、差動回路に入力されるの
で、ＮＰＮトランジスタ９２、９５のコレクタ電流は、
各ＰＳＤの信号光入射位置に比例した出力となる。これ
らのコレクタ電流をＩ92、Ｉ95とする。 【００８１】ここで、図１８（ａ）に示された記号を用
いると、 Ｉ92＝Ａ92・（ａ＋ｙ54） Ｉ95＝Ａ95・（ａ＋ｙ55） …（１７） 但しＡ92、Ａ95：比例定数 となるので、Ａ92＝Ａ95とすると、スイッチ９９をオフ
し、ＩＲＥＤ５３を発光させた時、積分コンデンサ９８
に発生する電圧Ｖ98は、 Ｖ98＝Ａ92（２ａ＋ｙ54＋ｙ55）・Ｂ98 …（１８） 但しＢ98：比例定数 となる。つまり、（１９）式に表される関係となるの
で、ＣＰＵ６２がこのＶ98を内蔵のＡ／Ｄ変換器により
入力すると、Ｖ98からｙ54＋ｙ55が求められる。 【００８２】 【数２】 したがって、被写体距離Ｌは Ｌ＝Ｓ・ｆJ ／（ｙ54＋ｙ55） …（２０） として算出できる。 【００８３】風景等を測距すると、被写体からの反射信
号光がＰＳＤに入射しない場合がある。この場合、信号
光が少ないと圧縮ダイオードの出力電圧が小さくなり、
ノイズによる測距演算がなされてしまう。この演算結果
は、当然正しい被写体距離とは無関係なので、比較回路
１００、１０１によって上記圧縮ダイオード８５、８７
の出力電圧が判定される。この出力電圧が、所定レベル
よりも小さい時、この比較回路がＣＰＵ６２に対して判
定信号を出力する。したがって、ＣＰＵ６２は、この信
号を検知した時、積分コンデンサ９８の出力電圧は無視
して、被写体距離を例えば無限遠と判定する。 【００８４】尚、１０２は、図１８（ｂ）に於いて５５
ａ、５５ｂとして説明した傾きの調整回路である。図２
１は、この調整回路１０２を説明するためのものであ
る。例えば、図２１（ｃ）に示されるように、製造上、
各受光レンズ５７、５８と各ＰＳＤ５４、５５の位置関
係が正しく一致しない場合がある。つまり、ｆJ54 をｆ
J55 と完全に一致させるのも、またＰＳＤの組付け上、
傾きθ54とθ55を完全に一致させるのも困難である。 【００８５】こうした組立て上の誤差は、そのまま図１
８（ｂ）に示されるようなＡＦ結果の傾き誤差につなが
るが、これを機械的に調整して、傾き調整を行うには、
専用の調整用機構を用意する必要が生じるので、高価と
なりやすく、調整時間も長くなりがちである。そこで、
これを電気的に調整するために、調整回路１０２及びＥ
ＥＰＲＯＭ６５が用いられる。 【００８６】より具体的には、調整回路１０２は、図２
１（ａ）に示されるように構成されているもので、電流
源９６の電流値を切換えるようになっている。電流源９
６の電流値が変化すると、上述したＮＰＮトランジスタ
９２のコレクタ電流Ｉ92とＰＳＤ５４に入射された光位
置ｙ54の比例定数Ａ92を変化させることができる。した
がって、ＰＳＤの組付けによって、この比例定数Ａ92が
もう一方の受光系の比例定数Ａ95と一致しない時にも、
電気的にこれを調整し、正しい測距が可能となる。 【００８７】電流源９６は、図示されるようにＮＰＮト
ランジスタにより構成されており、ＮＰＮトランジスタ
１０３と共にカレントミラー回路を形成している。この
ＮＰＮトランジスタ１０３は、コレクタとベースが短絡
されており、このコレクタに５つの定電流源１０４、１
０５、１０６、１０７、１０８が接続されている。１０
４〜１０８のうち、１０５〜１０８の４つの電流源は、
フリップフロップ１０９、１１０、１１１、１１２から
成るカウンタ回路によって、オン、オフが制御される。 【００８８】ＣＰＵ６２は、このカウンタ回路にＣＫ
（クロック）信号とＲｅｓｅｔ（リセット）信号を入力
制御することにより、各電流源をオン、オフ制御するこ
とができる。このカウンタ回路のＣＫ端子にリセット信
号Ｌ（ローレベル）の状態で所定のクロックを入力する
と、図２１（ｂ）に示されるように、トランジスタ１０
３及び９６のコレクタに流れる電流値ＩINT が変化す
る。 【００８９】したがって、装置の組立て時に、ＰＳＤの
組付け誤差等に基くＡ92とＡ95の差を検出しておき、そ
れを打消すだけのＩINT の値を演算し、このクロック数
に相当する値を、電気的に書込み可能なＲＯＭ（ＥＥＰ
ＲＯＭ）６５に記憶させておけばよい。 【００９０】尚、図２１（ａ）のトランジスタ１１３
は、電流源９６をＩＲＥＤの発光に同期してオン、オフ
制御するためのスイッチである。また、ＰＳＤに図２１
（ｃ）のθ54、θ55に示されるような傾きがある場合、
ＩＲＥＤをｘ方向にスキャンした時、被写体距離が等し
くてもＡＦ結果が変化してしまう。そのため、図１８
（ｃ）に示されたようなｘに対して変化しないグラフを
得ることができなくなる。 【００９１】そこで、ＥＥＰＲＯＭ６５には、ＩＲＥＤ
のスキャン位置を、ｘに従ってこの誤差を打消すような
補正係数を入力しておくようにする。ＣＰＵ６２は、初
期位置スイッチ７９とモータ７３（図２０参照）の回転
数より、スキャン位置ｘを検出することができる。ｘの
位置を測距した時に得られた測距結果が、このＥＥＰＲ
ＯＭに入力されている。そのｘに対応する補正値で補正
した後、正しい測距結果として決定すれば、ＰＳＤの組
付け工程を簡単にすることができ、コストを低減するこ
とが可能である。 【００９２】次に、図２２を参照して、２つのＰＳＤ５
４、５５が同時に検出することができない範囲Ｅ以外の
部分を測距する方法について説明する。ＩＲＥＤ５３が
投光レンズ５６の光軸からｙLED だけシフトした位置か
ら投光を行うと、被写体距離Ｌの５９の部分の測距は、
上述してきた方法では不十分である。何故なら、５９の
部分からの反射信号光は、ＰＳＤ５４には入射してもＰ
ＳＤ５５には入射せず、ｙ55が検出できないからであ
る。 【００９３】しかしながら、もう一方のＰＳＤ５４のｙ
54に反射光は入射しているので、この情報に従って測距
は可能である。つまり、投受光レンズ５６、５７の主点
間距離をＳ1 、受光レンズ５７の焦点距離をｆJ とする
と、 Ｌ＝Ｓ1 ・ｆJ ／（ｙLED ＋ｙ54） …（２１） となる。 【００９４】図２３は、このような場合も測距を可能と
したこの測距装置の動作を説明するフローチャートであ
る。以下、このフローチャートに従って動作を説明す
る。先ず、ステップＳ４１にてＩＲＥＤ５３の位置ｙ
LED を、ＣＰＵ６２が初期位置スイッチ７９とモータ７
３の回転数から検出する。次いで、ステップＳ４２及び
Ｓ４３にて、ｙLED の値を判断する。ここで、ｙLED が
−ｙg ≦ｙLED ≦ｙgの条件を満足する時のみ、ステッ
プＳ４４以降のＰＳＤ５４、５５を用いた測距処理に進
む。尚、上記−ｙg 、ｙg は、図１８（ａ）の斜線領域
Ｅに測距用光５９が入るためのｙLED の位置の限界を表
している。 【００９５】ステップＳ４４では、ＩＲＥＤ５３の発光
を開始させ、続いてステップＳ４５及びＳ４６に於い
て、２つのＰＳＤ５４及び５５で各々信号光入射位置ｙ
54、ｙ55を検出するための積分動作を行うように、電流
源９６及び９７をオンさせる。そして、積分コンデンサ
９８に信号が積分され、ステップＳ４７にて、所定時間
の積分が終了判定される。このステップＳ４７で積分終
了と判定されると、次にステップＳ４８でＩＲＥＤ５３
の発光が終了する。その後、ステップＳ４９に於いて、
積分コンデンサ９８の充電電圧から、両受光レンズ間距
離Ｓとｙ54、ｙ55に従って、被写体距離Ｌの演算が行わ
れる。 【００９６】一方、上記ステップＳ４２に於いて、ｙ
LED が大きくなり、ＰＳＤ54に信号が入ってこないと考
えられる場合は、ステップＳ５０へと分岐する。そし
て、ステップＳ５０にてＩＲＥＤ５３の発光がなされた
後、ステップＳ５１にてＰＳＤ５５への信号光入射位置
ｙ55を検出するための積分動作用に、電流源９７がオン
される。次いで、ステップＳ５２で所定時間後の積分終
了検出がなされると、ステップＳ５３にてＩＲＥＤ５３
の発光終了が制御される。この後、ステップＳ５４で積
分結果よりｙ55が検出され、ｙLED 及び投光レンズ５６
と受光レンズ５８の間の距離から、被写体距離Ｌが演算
される。 【００９７】また、上記ステップＳ４３に於いて、ｙ
LED が−ｙg を越えると判定される場合は、まさに図２
２に示されたような状況である。したがって、ステップ
Ｓ５５にてＩＲＥＤ５３の発光がなされた後、ステップ
Ｓ５６にて電流源９７がオンされる。次いで、ステップ
Ｓ５７で所定時間後の積分終了検出がなされると、ステ
ップＳ５８にてＩＲＥＤ５３の発光終了が制御される。
その後、上記ステップＳ５４と同様にして、ステップＳ
５９でｙ54とｙLED とＳ1 （図２２参照）から、被写体
距離Ｌが演算される。 【００９８】このように、ＩＲＥＤのスキャン位置ｙ
LED と、投受光間の距離を加味した測距演算を併用する
ことにより、より広い画角を測距できる装置を提供する
ことができる。 【００９９】 【発明の効果】この発明は、被写体距離に関係なく広範
囲の被写体に対して、正確に測距することのできる測距
装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の第１の実施例で、測距装置の概念を
示したブロック図である。 【図２】この発明の測距装置の測距原理を示した図であ
る。 【図３】この発明の第２の実施例の構成を示すブロック
図である。 【図４】（ａ）は図３に示した測距装置をカメラに組込
んだ配置を示す外観図、（ｂ）は写真画面（ファイン
ダ）上で２次元的に変化する測距ポイントの例を示した
図である。 【図５】図３の光位置検出回路の詳細を示す回路構成図
である。 【図６】（ａ）は図３の光位置検出回路とＰＳＤ上の信
号光位置から被写体距離Ｌを求める方法を説明する図、
（ｂ）は同図（ａ）のＰＳＤ上に於ける受光レンズの主
点を結ぶ方向（ｘ）と、それと垂直方向（ｙ）の配置を
示した図である。 【図７】測距装置のスキャンＡＦ動作について説明する
フローチャートである。 【図８】図７のステップＳ６に於ける測距の動作を説明
するサブルーチンである。 【図９】測距ポイントのスキャンする例を示した図であ
る。 【図１０】画面の中央部のポイントに被写体が存在しな
いシーンの例を示した図である。 【図１１】画面中央部に雑被写体を含んで主要被写体が
存在するシーンの例を示した図である。 【図１２】（ａ）はこの発明の第３の実施例で、測距装
置をカメラに組込んだ配置を示す正面図、（ｂ）は同図
（ａ）のカメラを上方からみた概念図、（ｃ）は同図
（ａ）のカメラをのｙ座標についてのみ示した概念図で
ある。 【図１３】画面中央部の測距結果ＬMNO を重視した第３
の実施例の動作を説明するフローチャートである。 【図１４】一般的なカメラのファインダレンズと投光手
段の位置関係を示した図である。 【図１５】測距用光スキャンの他の構成例を示した図で
ある。 【図１６】この発明の更なる実施例で、測距装置の概念
を示したブロック図である。 【図１７】図１６の構成の測距装置が搭載されたカメラ
の外観図である。 【図１８】更なる実施例の測距装置に於ける２つのＰＳ
Ｄの動作を説明する図である。 【図１９】更なる実施例の測距装置に於けるＩＲＥＤと
測距用光との関係を示した図である。 【図２０】更なる実施例をより詳細に説明するための構
成を表すブロック図である。 【図２１】図２０の調整回路１０２の詳細を説明をする
もので、（ａ）は回路構成図、（ｂ）はカウンタ回路の
ＣＫ数とトランジスタ１０３及び９６のコレクタに流れ
る電流値ＩINT の関係を示した図、（ｃ）は受光レンズ
５７、５８とＰＳＤ５４、５５の位置関係を示した図で
ある。 【図２２】２つのＰＳＤ５４、５５が同時に検出するこ
とができない範囲Ｅ以外の部分を測距する方法について
説明する図である。 【図２３】図２０の測距装置の動作を説明するフローチ
ャートである。 【符号の説明】 １…ＣＰＵ、２…投光部、３…走査部、４、６…受光レ
ンズ、５、７…光位置検出素子（ＰＳＤ）、８、８ａ、
８ｂ、９、９ａ、９ｂ…光位置検出回路、１０…測距用
光スポット、１１…ＩＲＥＤ、１２…ＩＲＥＤドライ
バ、１３…投光レンズ、１４…ＩＲＥＤ保持部、１５、
１９…モータ（Ｍ）ドライバ、１６、２０…モータ、１
７、２１…送りねじ、１８、２３…ガイドレール、２２
…支持部、２４…スイッチ。
示したブロック図である。 【図２】この発明の測距装置の測距原理を示した図であ
る。 【図３】この発明の第２の実施例の構成を示すブロック
図である。 【図４】（ａ）は図３に示した測距装置をカメラに組込
んだ配置を示す外観図、（ｂ）は写真画面（ファイン
ダ）上で２次元的に変化する測距ポイントの例を示した
図である。 【図５】図３の光位置検出回路の詳細を示す回路構成図
である。 【図６】（ａ）は図３の光位置検出回路とＰＳＤ上の信
号光位置から被写体距離Ｌを求める方法を説明する図、
（ｂ）は同図（ａ）のＰＳＤ上に於ける受光レンズの主
点を結ぶ方向（ｘ）と、それと垂直方向（ｙ）の配置を
示した図である。 【図７】測距装置のスキャンＡＦ動作について説明する
フローチャートである。 【図８】図７のステップＳ６に於ける測距の動作を説明
するサブルーチンである。 【図９】測距ポイントのスキャンする例を示した図であ
る。 【図１０】画面の中央部のポイントに被写体が存在しな
いシーンの例を示した図である。 【図１１】画面中央部に雑被写体を含んで主要被写体が
存在するシーンの例を示した図である。 【図１２】（ａ）はこの発明の第３の実施例で、測距装
置をカメラに組込んだ配置を示す正面図、（ｂ）は同図
（ａ）のカメラを上方からみた概念図、（ｃ）は同図
（ａ）のカメラをのｙ座標についてのみ示した概念図で
ある。 【図１３】画面中央部の測距結果ＬMNO を重視した第３
の実施例の動作を説明するフローチャートである。 【図１４】一般的なカメラのファインダレンズと投光手
段の位置関係を示した図である。 【図１５】測距用光スキャンの他の構成例を示した図で
ある。 【図１６】この発明の更なる実施例で、測距装置の概念
を示したブロック図である。 【図１７】図１６の構成の測距装置が搭載されたカメラ
の外観図である。 【図１８】更なる実施例の測距装置に於ける２つのＰＳ
Ｄの動作を説明する図である。 【図１９】更なる実施例の測距装置に於けるＩＲＥＤと
測距用光との関係を示した図である。 【図２０】更なる実施例をより詳細に説明するための構
成を表すブロック図である。 【図２１】図２０の調整回路１０２の詳細を説明をする
もので、（ａ）は回路構成図、（ｂ）はカウンタ回路の
ＣＫ数とトランジスタ１０３及び９６のコレクタに流れ
る電流値ＩINT の関係を示した図、（ｃ）は受光レンズ
５７、５８とＰＳＤ５４、５５の位置関係を示した図で
ある。 【図２２】２つのＰＳＤ５４、５５が同時に検出するこ
とができない範囲Ｅ以外の部分を測距する方法について
説明する図である。 【図２３】図２０の測距装置の動作を説明するフローチ
ャートである。 【符号の説明】 １…ＣＰＵ、２…投光部、３…走査部、４、６…受光レ
ンズ、５、７…光位置検出素子（ＰＳＤ）、８、８ａ、
８ｂ、９、９ａ、９ｂ…光位置検出回路、１０…測距用
光スポット、１１…ＩＲＥＤ、１２…ＩＲＥＤドライ
バ、１３…投光レンズ、１４…ＩＲＥＤ保持部、１５、
１９…モータ（Ｍ）ドライバ、１６、２０…モータ、１
７、２１…送りねじ、１８、２３…ガイドレール、２２
…支持部、２４…スイッチ。
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01C 3/06
G02B 7/32
G03B 13/36
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 測距用光の被写体からの反射信号光位置
を検出する、所定の基線長隔てて配置された一対の受光
手段と、 被写体に対し上記測距用光を投射する、上記一対の受光
手段の間に配置された投光手段と、 被写体までの距離に応じて、上記一対の受光手段の出力
信号に基いて被写体までの距離を検出する第１演算処理
と、上記一対の受光手段のうち一方の受光手段の出力信
号に基いて被写体までの距離を検出する第２演算処理を
実行する演算手段と、 を具備し、 上記投光手段は、投光レンズの光軸を中心として上記基
線長方向にシフト可能となっており、上記演算手段は、
上記投光手段のシフト範囲が所定範囲内のときは上記一
対の受光手段の出力信号に基いて被写体までの距離を検
出し、上記投光手段のシフト範囲が所定範囲を越えると
きは上記一対の受光手段のうち一方の受光手段の出力信
号に基いて被写体までの距離を検出するものである こと
を特徴とする測距装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28520793A JP3504698B2 (ja) | 1993-07-09 | 1993-11-15 | 測距装置 |
| US08/338,250 US5680648A (en) | 1993-11-15 | 1994-11-14 | Light projection type distance measuring device for auto-focusing in camera |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5-170493 | 1993-07-09 | ||
| JP17049393 | 1993-07-09 | ||
| JP28520793A JP3504698B2 (ja) | 1993-07-09 | 1993-11-15 | 測距装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003377183A Division JP3639585B2 (ja) | 1993-07-09 | 2003-11-06 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0771955A JPH0771955A (ja) | 1995-03-17 |
| JP3504698B2 true JP3504698B2 (ja) | 2004-03-08 |
Family
ID=26493477
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28520793A Expired - Fee Related JP3504698B2 (ja) | 1993-07-09 | 1993-11-15 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3504698B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007198841A (ja) * | 2006-01-25 | 2007-08-09 | Soatec Inc | 光学式測定方法及び光学式測定装置 |
| JP5366724B2 (ja) * | 2009-09-10 | 2013-12-11 | キヤノン株式会社 | 焦点検出装置および撮像装置 |
-
1993
- 1993-11-15 JP JP28520793A patent/JP3504698B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0771955A (ja) | 1995-03-17 |
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