JP3188471B2 - 超小型電子構造体に用いるノボラックポリマー系プレーナー化フィルム - Google Patents
超小型電子構造体に用いるノボラックポリマー系プレーナー化フィルムInfo
- Publication number
- JP3188471B2 JP3188471B2 JP50437296A JP50437296A JP3188471B2 JP 3188471 B2 JP3188471 B2 JP 3188471B2 JP 50437296 A JP50437296 A JP 50437296A JP 50437296 A JP50437296 A JP 50437296A JP 3188471 B2 JP3188471 B2 JP 3188471B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- film
- molecular weight
- novolak
- planarized
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 title claims abstract description 45
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 title claims description 41
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 title description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 59
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 claims abstract description 29
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 claims abstract description 22
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 claims abstract description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims abstract description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 13
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 10
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 10
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 abstract description 8
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 27
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 9
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N phenol group Chemical group C1(=CC=CC=C1)O ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 6
- 125000000853 cresyl group Chemical group C1(=CC=C(C=C1)C)* 0.000 description 6
- -1 i.e. Polymers 0.000 description 6
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 125000001570 methylene group Chemical group [H]C([H])([*:1])[*:2] 0.000 description 5
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 5
- ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 1-methoxypropan-2-ol Chemical compound COCC(C)O ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Chemical compound CC(C)CC(C)=O NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N butyl acetate Chemical compound CCCCOC(C)=O DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- SWXVUIWOUIDPGS-UHFFFAOYSA-N diacetone alcohol Chemical compound CC(=O)CC(C)(C)O SWXVUIWOUIDPGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 4
- LZCLXQDLBQLTDK-UHFFFAOYSA-N ethyl 2-hydroxypropanoate Chemical compound CCOC(=O)C(C)O LZCLXQDLBQLTDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- CATSNJVOTSVZJV-UHFFFAOYSA-N heptan-2-one Chemical compound CCCCCC(C)=O CATSNJVOTSVZJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RLSSMJSEOOYNOY-UHFFFAOYSA-N m-cresol Chemical compound CC1=CC=CC(O)=C1 RLSSMJSEOOYNOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QWVGKYWNOKOFNN-UHFFFAOYSA-N o-cresol Chemical compound CC1=CC=CC=C1O QWVGKYWNOKOFNN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- IWDCLRJOBJJRNH-UHFFFAOYSA-N p-cresol Chemical compound CC1=CC=C(O)C=C1 IWDCLRJOBJJRNH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000005076 polymer ester Substances 0.000 description 4
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N Formaldehyde Chemical compound O=C WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Natural products CCC(C)C(C)=O UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 3
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 3
- 125000001183 hydrocarbyl group Chemical group 0.000 description 3
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 238000009987 spinning Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- LIPRQQHINVWJCH-UHFFFAOYSA-N 1-ethoxypropan-2-yl acetate Chemical compound CCOCC(C)OC(C)=O LIPRQQHINVWJCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XXRCUYVCPSWGCC-UHFFFAOYSA-N Ethyl pyruvate Chemical compound CCOC(=O)C(C)=O XXRCUYVCPSWGCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-M Propionate Chemical compound CCC([O-])=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 2
- 229940072049 amyl acetate Drugs 0.000 description 2
- PGMYKACGEOXYJE-UHFFFAOYSA-N anhydrous amyl acetate Natural products CCCCCOC(C)=O PGMYKACGEOXYJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 2
- SBZXBUIDTXKZTM-UHFFFAOYSA-N diglyme Chemical compound COCCOCCOC SBZXBUIDTXKZTM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 2
- 229940116333 ethyl lactate Drugs 0.000 description 2
- 229940117360 ethyl pyruvate Drugs 0.000 description 2
- MNWFXJYAOYHMED-UHFFFAOYSA-M heptanoate Chemical compound CCCCCCC([O-])=O MNWFXJYAOYHMED-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- BDJSOPWXYLFTNW-UHFFFAOYSA-N methyl 3-methoxypropanoate Chemical compound COCCC(=O)OC BDJSOPWXYLFTNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 2
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 2
- 235000005985 organic acids Nutrition 0.000 description 2
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000013557 residual solvent Substances 0.000 description 2
- WYTZZXDRDKSJID-UHFFFAOYSA-N (3-aminopropyl)triethoxysilane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)CCCN WYTZZXDRDKSJID-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KZEVSDGEBAJOTK-UHFFFAOYSA-N 1-(2,4,6,7-tetrahydrotriazolo[4,5-c]pyridin-5-yl)-2-[5-[2-[[3-(trifluoromethoxy)phenyl]methylamino]pyrimidin-5-yl]-1,3,4-oxadiazol-2-yl]ethanone Chemical compound N1N=NC=2CN(CCC=21)C(CC=1OC(=NN=1)C=1C=NC(=NC=1)NCC1=CC(=CC=C1)OC(F)(F)F)=O KZEVSDGEBAJOTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SVONRAPFKPVNKG-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxyethyl acetate Chemical compound CCOCCOC(C)=O SVONRAPFKPVNKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 239000002318 adhesion promoter Substances 0.000 description 1
- 150000001338 aliphatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 125000005210 alkyl ammonium group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 125000004185 ester group Chemical group 0.000 description 1
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N ether Substances CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 150000002191 fatty alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 229920002313 fluoropolymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004811 fluoropolymer Substances 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004836 hexamethylene group Chemical group [H]C([H])([*:2])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[*:1] 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 238000010849 ion bombardment Methods 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 229940100630 metacresol Drugs 0.000 description 1
- 150000002825 nitriles Chemical class 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 125000006353 oxyethylene group Chemical group 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 150000002989 phenols Chemical class 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 239000010695 polyglycol Substances 0.000 description 1
- 229920000151 polyglycol Polymers 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 229920000307 polymer substrate Polymers 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 1
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- APSBXTVYXVQYAB-UHFFFAOYSA-M sodium docusate Chemical group [Na+].CCCCC(CC)COC(=O)CC(S([O-])(=O)=O)C(=O)OCC(CC)CCCC APSBXTVYXVQYAB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000000935 solvent evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- KDYFGRWQOYBRFD-UHFFFAOYSA-L succinate(2-) Chemical compound [O-]C(=O)CCC([O-])=O KDYFGRWQOYBRFD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 125000000020 sulfo group Chemical group O=S(=O)([*])O[H] 0.000 description 1
- 229940124530 sulfonamide Drugs 0.000 description 1
- 150000003456 sulfonamides Chemical class 0.000 description 1
- BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M sulfonate Chemical compound [O-]S(=O)=O BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 1
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/027—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02109—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
- H01L21/02112—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer
- H01L21/02118—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer carbon based polymeric organic or inorganic material, e.g. polyimides, poly cyclobutene or PVC
- H01L21/0212—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer carbon based polymeric organic or inorganic material, e.g. polyimides, poly cyclobutene or PVC the material being fluoro carbon compounds, e.g.(CFx) n, (CHxFy) n or polytetrafluoroethylene
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08L—COMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
- C08L61/00—Compositions of condensation polymers of aldehydes or ketones; Compositions of derivatives of such polymers
- C08L61/04—Condensation polymers of aldehydes or ketones with phenols only
- C08L61/06—Condensation polymers of aldehydes or ketones with phenols only of aldehydes with phenols
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02225—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
- H01L21/0226—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process
- H01L21/02282—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process liquid deposition, e.g. spin-coating, sol-gel techniques, spray coating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/31—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
- H01L21/312—Organic layers, e.g. photoresist
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/31504—Composite [nonstructural laminate]
- Y10T428/31652—Of asbestos
- Y10T428/31667—Next to addition polymer from unsaturated monomers, or aldehyde or ketone condensation product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Polymers & Plastics (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
- Paints Or Removers (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
- Phenolic Resins Or Amino Resins (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
Description
ノボラックポリマー系プレーナー化フィルム(planariz
ation film)に関する。より詳細には、本発明は熱に暴
露した際に基板に付着した状態を維持するプレーナー化
フィルムの製造における改良法に関する。
ジュール、プリント回路基板、集積回路その他の超小型
電子デバイスの製造に広範囲に用いられている。たとえ
ばサーキットリーのマイクロリソグラフィーパターン形
成に用いるフォトレジストは、しばしばノボラック成分
を含有する。たとえばWolfら,Silicon Processing for
the VLSI Era,1 Process Technology"418(1986)を参
照されたい。
加工に際して用いられるプレーナー化フィルムにも含有
される。本明細書中で用いる用語“プレーナー化フィル
ム”とは、基板の表面形状を平滑化する目的でパターン
形成基板上にコーティングされるフィルムを意味する。
加工に際して必須である。たとえばいっそう細かい造作
を形成するために光学リソグラフィーが採用されるの
で、露光器具の焦点の深さは浅くなるであろう。したが
って、複雑化する集積回路のパターンを適正に形成する
ためには、超小型電子デバイスの表面形状を平滑化、す
なわち“平坦化”するプレーナー化フィルムを用いる必
要がある。たとえばStillwagonら,Evaluation of Sever
al Organic Materials as Planarizing Layers for Lit
hographic and Etchback Processing,412 Polymers in
Micrography,ACS Symp.Series,252〜265(1989)を参照
されたい。
コンウェハーなどの基板に約20〜約300℃の温度、真空
圧、およびエッチング、たとえば湿式化学エッチングま
たはプラズマエッチングなどの処理を施す際に、基板を
連続的かつ完全に覆わなければならない。本明細書にお
いて用いる“連続的”とは、フィルムに基板表面が露出
する“むきだしの地点”がないことを意味する。
200〜約2000原子質量単位(“amu")のものは、より高
い分子量をもつ他のポリマーより流れやすいので、プレ
ーナー化フィルムの形成に特に有用である。特に明記し
ない限り、本明細書中で“分子量”につき述べる場合は
すべて数平均分子量と解釈すべきである。低粘度、すな
わち約120〜約150℃の温度で約10〜約2000センチポアズ
をもつポリマーが好ましい。これらは乾燥すると、パタ
ーン形成基板上にローカル、リージョナルまたはグロー
バルプレーナー化フィルムを形成するからである。
は、フィルムが0〜約5線μmの距離にわたって平面的
または平坦である状態を意味する。“リージョナルプレ
ーナー化”とは、基板表面でフィルムが約5〜約50線μ
mの距離にわたって平面的または平坦である状態を意味
する。“グローバルプレーナー化”とは、より大きな基
板表面にわたって、すなわち約50〜約1000線μmの距離
にわたってこれと同じ状況であることを意味する。
ち、基板上のフィルムの粘度をさらに低下させかつフィ
ルムの平坦化を促進するために、このポリマー−基板の
組合わせを加熱してフィルム材料内に存在する残留溶剤
を蒸発させる。目的とするプレーナー化を達成する際の
難題の1つは、この加熱プロセスでフィルムが基板から
剥離することにより起こる。他の難題は、溶液を基板表
面全体にスピニングしたのちに起こるポリマー溶液から
の溶剤蒸発によりプレーナー化材料の全容量が減少し、
このため不均一なコーティングが得られることである。
た1方法は、基板表面の改質法を採用し、これにより基
板を付着促進剤、たとえば3−アミノプロピルトリエト
キシシランの薄層でコーティングするものである。しか
しこの方法は、フィルム形成プロセスに余分な工程およ
び経費を付加するので望ましくない。
マによる表面洗浄処理、または表面粗面化処理、すなわ
ちイオン衝撃法が、基板とフィルムの接触面積を増大さ
せることにより基板へのフィルムの付着性を改良する目
的で用いられる。しかしこれらの方法はより経費がかか
りかつ時間を消費するだけでなく、基板がしばしばプラ
ズマ源により放射損傷を受ける。
リマー溶液中に界面活性剤を使用することが知られてい
る。しかしこれらの界面活性剤含有溶液は高分子量のノ
ボラックポリマー、すなわち10,000amuより大きいノボ
ラックを含み、プレーナー化フィルムの形成ではなく、
フォトレジストの形成に有用であるにすぎない。これら
の溶液は少量の界面活性剤を、主としてノボラックまた
はフォトレジストフィルムの縦じわおよび厚さの不規則
さを防止する目的で用いられる。
ナルまたはグローバルプレーナー化に有用であるだけで
なく、熱に暴露した際にも剥離しない、連続、均一なプ
レーナー化フィルムを形成するための改良法を提供する
ことが望ましいであろう。そのようなプレーナー化フィ
ルムの形成に使用できる組成物を提供することも望まし
いであろう。
付着した状態を保持するように基板上に連続プレーナー
化フィルムを形成する方法の改良法であって: (a)基板の表面に、低分子量ノボラック樹脂、ならび
に非フッ素化炭化水素、フッ素化炭化水素、およびその
組合わせよりなる群から選ばれる界面活性剤を含むポリ
マー溶液を付与し;そして (b)溶液および基板を加熱して表面に連続プレーナー
化フィルムを形成する ことを含む方法が提供される。
脂、ならびに非フッ素化炭化水素、フッ素化炭化水素、
およびそのブレンドよりなる群から選ばれる界面活性剤
を含む連続プレーナー化フィルムを付与した基板であっ
て、熱に暴露した際にフィルムが基板から剥離しない基
板が提供される。
ナー化フィルムをコーティングする際に使用し、これに
より熱に暴露した際にフィルムが基板から剥離しない新
規な組成物であって、低分子量ノボラック樹脂、ならび
に非フッ素化炭化水素、フッ素化炭化水素、およびその
ブレンドよりなる群から選ばれる界面活性剤、ならびに
所望により有機溶剤を含む組成物が提供される。
フィルムが付着した状態を保持するように基板上に連続
プレーナー化フィルムを形成する方法の改良法であっ
て: (a)基板の中央に、低分子量ノボラック樹脂、ならび
に非フッ素化炭化水素、フッ素化炭化水素、およびその
ブレンドよりなる群から選ばれる界面活性剤を含むポリ
マー溶液を付与し; (b)基板を1500〜4000rpmの速度で、溶液が基板の表
面全体に均一に広がるのに十分な時間スピニングし;そ
して (c)溶液および基板を加熱して基板上に連続プレーナ
ー化フィルムを形成する ことを含む方法が提供される。
した(不規則な)表面形状をもつ基板、たとえば集積回
路構造体上に、連続した均一かつ平滑な表面を有利に形
成するだけでなく、熱に暴露した際にも、すなわち残留
溶剤を除去しかつ基板のプレーナー化のためにフィルム
のながれを誘発するのに用いられる温度でも、基板から
剥離しない。一般にその温度は約25〜約300℃である。
本発明により提供される、基板上のフィルム形成法によ
れば、基板上に付着層を形成する余分な初期工程が不必
要であることによって、このようなコーティング基板の
製造サイクル時間も有利に短縮される。
重量により記載される。
クポリマーと界面活性剤を、好ましくは室内の温度およ
び圧力で混合した組成物から製造される。
されているか、またはフェノール類もしくはその誘導
体、たとえばオルト−、メタ−およびパラ−クレゾール
をホルムアルデヒドと反応させることにより誘導でき
る。そのようなノボラックの一般式を下記に式Iで表
す: 式中、Rはそれぞれ独立して水素、または最高20個の炭
素原子を含む炭化水素基であり、nは2〜200である。
Rはいずれも、いずれの芳香族炭素原子、すなわちC2〜
C6に結合していてもよい。CH2(メチレン)基もいずれ
の芳香族炭素原子、すなわちC2〜C6、またはいずれの芳
香環に結合していてもよい。ポリマー中のメチレン基と
芳香環の平均比率は約0.5〜約1.5であってよい。所望に
より、ノボラックポリマーは架橋基、たとえばヘキサメ
チレントリアミンから誘導されるものを含んでもよい。
ましくは約200〜約2000、より好ましくは約200〜約1200
amuの分子量を有する低分子量ノボラックである。その
ような好ましいノボラックポリマーには、フェノールか
ら誘導され、水素原子、メチレン基およびヒドロキシル
基に結合した芳香環をもつフェノール系ノボラックが含
まれる。同様に好ましいものは、複数のヒドロキシル基
に対してオルト、メタもしくはパラのいずれかの位置で
1個のメチレン基に結合した芳香環、ならびに複数のメ
チレン基および1個のヒドロキシル基に結合した芳香環
を含むオルト−、メタ−およびパラ−クレゾールから誘
導されたクレジル系ノボラックポリマーである。種々の
組合わせのオルト−、メタ−およびパラ−クレゾールか
ら誘導されたコポリマー型クレジル系ノボラック、なら
びに種々の組合わせのフェノールとオルト−、パラ−お
よびメタ−クレゾールから誘導されたコポリマーおよび
ブレンドも好ましい。フェノール系ノボラック樹脂が最
も好ましい。
ばナトリウムまたはカリウムの含量が約500ppb以下、好
ましくは200ppb以下であることが好ましい。
ッ素化炭化水素系有機化合物ならびにそのブレンドが含
まれる。好適な非フッ素化炭化水素系界面活性剤は、約
5〜約50個の炭素、好ましくは約10〜約30個の炭素を有
する有機酸のアルキル化誘導体およびそのエステルから
なるものであってもよい。より詳細には、具体的な非フ
ッ素化炭化水素系界面活性剤には、スルホンコハク酸ジ
オクチルおよびスルホコハク酸脂肪アルコールポリグリ
コール−−これらは両方ともオハイオ州ダブリンのシェ
レックス・ケミカル・カンパニー社から商品名バースル
フ(Versulf)で市販される−−、ならびにその組合わ
せが含まれる。好適なフッ素化炭化水素系界面活性剤
は、約5〜約50個の炭素、好ましくは約10〜約30個の炭
素および少なくとも1個の炭素−フッ素結合を有する有
機酸のアルキル化誘導体およびそのエステル、ならびに
その組合わせからなるものであってもよい。より詳細に
は、具体的なフッ素化炭化水素系界面活性剤には、約5
〜約20個の炭素原子を有するフルオロ脂肪族オキシエチ
レン付加物、フッ素化アルキルアルコキシレートおよび
スルホンアミド、約5〜約20個の炭素原子を有する部分
フッ素炭化水素鎖からなるモノマーより誘導され、それ
に末端エステル基が結合したフルオロ脂肪族ポリマーエ
ステル、約5〜約20個の炭素原子を有する部分フッ素化
炭化水素鎖からなるモノマーより誘導され、それにエス
テルおよび酸から選ばれる末端官能基が結合したフルオ
ロ脂肪族コポリマーなど、ならびにその組合わせが含ま
れる。これらのフッ素化界面活性剤はスリーエムから市
販されている。
個の炭素原子を有するフルオロアルキルスルネートアル
キルアンモニウム塩、より詳細には約5〜約60個の炭素
原子を有するフルオロアルキルスルネートテトラアルキ
ルアンモニウム塩が含まれる。これらのフルオロアルキ
ルスルネートアルキルアンモニウム塩系界面活性剤の製
造方法は当該技術分野で知られている。
〜約20、z=約1〜約20、a=約2〜約6、b=約0〜
約1)を有する、分子量約5500〜8500amuのフルオロ脂
肪族ポリマーエステルが好ましい。上記実験式において
x=約8、y=約13、z=約1、a=約4、b=約0で
あり、かつ分子量約7000amuのフルオロ脂肪族ポリマー
エステルが好ましい。
以下、好ましくは2ppm以下のものである。
て含有されてもよい。本発明に好適な溶剤には、脂肪族
および芳香族の炭化水素、アルコール類、ケトン類、エ
ステル、エーテル類、エーテルアルコール、エーテルエ
ステル、アルコールエステル、ケトンエステル、ケトン
エーテル、ケトンアルコール、アミド、ニトリル、およ
びその組合わせが含まれる。より詳細には、具体的な溶
剤にはエタノール、イソプロピルアルコール、n−プロ
ピルアルコール、n−ブチルアルコール、アセトン、メ
チルエチルケトン、メチルイソブチルケトン(“MIB
K")、酢酸エチル、乳酸エチル、酢酸n−ブチル、プロ
ピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、酢酸
2−エトキシエチル、2−メトキシエチルエーテル(ジ
グライム)、プロピオン酸メチルメトキシ、ピルビン酸
エチル、2−ヘプタノン、プロピオン酸3−エチルエト
キシ、4−ヒドロキシ−4−メチル−2−ペンタノン、
シクロヘキサノン、酢酸アミル、およびその組合わせが
含まれる。
ルイソブチルケトン、乳酸エチル、酢酸n−ブチル、プ
ロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、プ
ロピオン酸メチルメトキシ、ピルビン酸エチル、2−ヘ
プタノン、プロピオン酸3−エチルエトキシ、4−ヒド
ロキシ−4−メチル−2−ペンタノン、シクロヘキサノ
ン、酢酸アミル、およびその組合わせである。
しくは約1〜約90%、より好ましくは約10〜約50%、最
も好ましくは約20〜約40%のノボラックポリマー、およ
びポリマー溶液の全重量に対して好ましくは約.01〜約
5%、より好ましくは約0.1〜約1%、最も好ましくは
約0.3〜約0.7%の界面活性剤を含有する。任意である溶
剤は、ポリマー溶液の全重量に対して約10〜約90%、好
ましくは約50〜約90%、最も好ましくは約60〜約80%の
量で存在できる。
ばスピンコーティングにより付与できる。好ましくは溶
液を基板の中央に付与し、次いで溶液を基板表面全体に
均一に広げるために、これを約500〜約6000rpm、好まし
くは約1500〜約4000rpmの速度で、約5〜約60秒間、好
ましくは約10〜約30秒間、スピニングする。
子デバイスに加工されるウェハー基板、たとえば回路パ
ターンをその表面に有するシリコンウェハー上に付与さ
れる。
れているいずれかの常法により加熱する。好ましくはこ
の組合わせをホットプレートに乗せることにより加熱す
る。一般にこれは商業的には通常の集積スピンコーター
/ホットプレートシステムによって行われる。この様式
の加熱は溶液から溶剤を迅速、直接に排除し、かつフィ
ルムの流れを起こさせるだけでなく、連続加工操作にも
容易に利用できる。コーティングした基板を一般に約.5
〜約5.0分間、約50〜約300℃、より好ましくは約100〜
約200℃の温度に加熱する。複数のホットプレート、す
なわち約2〜約5個を同時に、一定範囲の温度を付与し
ながら使用してもよいが、1個のホットプレートのみに
よる加熱が好ましい。
さは約0.2〜約3.0μm、好ましくは約0.5〜約2.5μm、
最も好ましくは約0.7〜約2.0μmである。本発明方法に
より製造されたフィルムは一般に、平均フィルム厚の2
%以下、好ましくは1%以下の厚さ標準偏差を示す。
続プレーナー化フィルムを形成するために基板をノボラ
ックポリマー溶液でコーティングする効果を説明する。
リマーを、周囲条件下で29.78gのn−ブチルアルコール
および29.78gの1−メトキシ−2−プロパノールに溶解
して、99.26gのクレジル系ノボラックポリマー溶液を得
た。実験式CxHyFzOaNb(式中、x=約5〜約10、y=約
9〜約16、z=約1〜約2、a=約2〜約6、b=約0
〜約1)、および分子量約5500〜8500amuの界面活性剤1
0%、ならびにn−ブチルアルコール90%を含有するフ
ルオロ脂肪族ポリマーエステル系界面活性剤溶液1.74g
を周囲条件下で34.8gのクレジル系ノボラックポリマー
溶液に添加した。次いで得られたポリマー溶液をピペッ
トで、パターン形成していないシリコンウェハー上に分
注し、これを約3000rpmで約20秒間スピニングしてポリ
マー溶液をウェハー表面全体に均一に広げ、約1〜約4
μmの厚さのコーティングを得た。次いでウェハーを12
0℃のホットレートに約2分間乗せ、次いで210℃のホッ
トプレートに約2分間乗せた。
ト(dewet)せず、ビーズ形成(bead−up)せず、また
はそこから剥離しなかった。本明細書において用いる用
語“ディウェット”または“ビーズ形成”は、フィルム
が部分液状段階で基板の表面からはがれて、フィルム上
に連続フィルムではなく“ビーズ”を形成する状態を意
味する。測定した平均フィルム厚は2.08μm、標準偏差
20nm(平均厚の0.96%)であった。得られたコーティン
グウェハーは、実質的に均一なプレーナー表面を備えて
いた。
ジル系ノボラック溶液2gを、パターン形成していないシ
リコンウェハー上に例1に記載した方法で付与し、スピ
ニングし、次いで加熱した。ウェハーを120℃に2分間
加熱する間にフィルムはディウェットし、広範囲に剥離
した。加熱処理の終了時には約20%のウェハーがフィル
ムで覆われていなかった。
樹脂を、室内の温度および圧力で29.79gのn−ブチルア
ルコールおよび29.79gの1−メトキシ−2−プロパノー
ルに溶解して、99.32gのノボラックポリマー溶液を得
た。例1の界面活性剤溶液0.50gを周囲条件下で10.28g
のノボラックポリマー溶液に添加した。得られたポリマ
ー溶液をパターン形成していないシリコンウェハーに例
1に記載したと同じ方法で付与し、スピニングした。次
いでウェハーを150℃のホットプレートに約1分間乗
せ、次いで250℃のホットプレートに約2分間乗せた。
せず、またはウェハーから剥離しなかった。測定した平
均フィルム厚は1.74μm、標準偏差15.1nm(平均厚の0.
87%)であった。得られたコーティングウェハーは、同
様に実質的に均一なプレーナー表面を備えていた。
ラック溶液を、パターン形成していないシリコンウェハ
ー上へ実施例1に記載した方法でスピニングした。ウェ
ハーを150℃に1分間加熱する間にフィルムは基板から
広範囲にディウェットした。次いでウェハーを250℃に
2分間加熱したのち、約70%のウェハー表面がフィルム
で覆われていなかった。
度および圧力で600gのメチルイソブチルケトンに溶解し
た。この溶液に例1の界面活性剤溶液24.47gおよびさら
にMIBK25.76gを添加して、1050.23gのノボラックポリマ
ー溶液を得た。このノボラックポリマー溶液2gをパター
ン形成していないシリコンウェハーにピペットで付与
し、約2100rpmで約20秒間スピニングした。次いでウェ
ハーを200℃のホットプレートに2分間乗せた。
トせず、ビーズ形成せず、またはそこから剥離しなかっ
た。測定した平均フィルム厚は2.04μm、厚さ標準偏差
3.6nm(平均厚の0.18%)であった。得られたコーティ
ングウェハーは、実質的に均一なプレーナー表面を備え
ていた。
ポリマー溶液2gを、パターン形成したシリコンウェハー
にピペットで付与し、約1000rpmで約20秒間スピニング
した。次いでウェハーを200℃のホットプレートに約2
分間乗せた。
トせず、ビーズ形成せず、またはそこから剥離しなかっ
た。測定した平均フィルム厚は2.04μm、厚さ標準偏差
5.0nm(平均厚の0.25%)であった。得られたコーティ
ングウェハーは、実質的にグローバルにプレーナー化さ
れていた。
分子量ノボラック溶液(例2および4)が熱に暴露した
際に急速に剥離する傾向があることを示す。これに対し
界面活性剤を含有する溶液は熱に暴露したのちも基板か
ら剥離せず、かつ基板表面を連続的に覆う平滑なプレー
ナー化フィルムを形成した。
Claims (3)
- 【請求項1】熱に曝露した際にフィルムが基板に付着し
た状態を保持するように該基板上に連続プレーナー化フ
ィルムを形成する方法であって、その改良点が次の: (a)基板の表面に、分子量が約200〜約20,000amuの範
囲内である低分子量ノボラック樹脂、ならびに非フッ素
化炭化水素、フッ素化炭化水素および両者の組み合わせ
よりなる群から選ばれる界面活性剤を含むポリマー溶液
を適用し、そして (b)該溶液と基板とを加熱して該基板表面に連続プレ
ーナー化フィルムを形成する 工程を含むことからなる上記の方法。 - 【請求項2】分子量が約200〜約20,000amuの範囲内であ
る低分子量ノボラック樹脂、ならびに非フッ素化炭化水
素、フッ素化炭化水素および両者の組み合わせよりなる
群から選ばれる界面活性剤を含む連続プレーナー化フィ
ルムが適用された基板であって、熱に曝露した際に該フ
ィルムがその基板から剥離しない上記の基板。 - 【請求項3】組成物の全重量に対して: 約1〜約90重量%の、分子量が約200〜約20,000amuの範
囲内である低分子量ノボラック樹脂;および 約0.01〜約5重量%の、フッ素化炭化水素、非フッ素化
炭化水素および両者の組み合わせよりなる群から選ばれ
る界面活性剤 を含み、そして有機溶剤を最大約90重量%までの量で含
むか、または有機溶媒を含まない組成物よりなるフィル
ムを使用して、基板に、熱に曝露した際に該基板から剥
離しない連続プレーナー化フィルムを形成する方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/271,291 | 1994-07-06 | ||
US271,291 | 1994-07-06 | ||
US08/271,291 US5858547A (en) | 1994-07-06 | 1994-07-06 | Novolac polymer planarization films for microelectronic structures |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09507966A JPH09507966A (ja) | 1997-08-12 |
JP3188471B2 true JP3188471B2 (ja) | 2001-07-16 |
Family
ID=23034966
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP50437296A Expired - Lifetime JP3188471B2 (ja) | 1994-07-06 | 1995-07-05 | 超小型電子構造体に用いるノボラックポリマー系プレーナー化フィルム |
Country Status (12)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5858547A (ja) |
EP (1) | EP0769204B1 (ja) |
JP (1) | JP3188471B2 (ja) |
KR (1) | KR100252579B1 (ja) |
CN (1) | CN1125690C (ja) |
AT (1) | ATE212475T1 (ja) |
AU (1) | AU3093495A (ja) |
CA (1) | CA2194376A1 (ja) |
DE (1) | DE69525157T2 (ja) |
IL (1) | IL114336A (ja) |
TW (1) | TW494278B (ja) |
WO (1) | WO1996002066A2 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6506831B2 (en) * | 1998-12-20 | 2003-01-14 | Honeywell International Inc. | Novolac polymer planarization films with high temperature stability |
US6461717B1 (en) | 2000-04-24 | 2002-10-08 | Shipley Company, L.L.C. | Aperture fill |
JP4654544B2 (ja) * | 2000-07-12 | 2011-03-23 | 日産化学工業株式会社 | リソグラフィー用ギャップフィル材形成組成物 |
DE10146146B4 (de) * | 2001-09-19 | 2004-02-05 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zur elektrischen Isolation nebeneinander liegender metallischer Leiterbahnen und Halbleiterbauelement mit voneinander isolierten metallischen Leiterbahnen |
US20040192876A1 (en) * | 2002-11-18 | 2004-09-30 | Nigel Hacker | Novolac polymer planarization films with high temparature stability |
CN1802603A (zh) * | 2003-07-17 | 2006-07-12 | 霍尼韦尔国际公司 | 用于高级微电子应用的平面化薄膜及其生产装置和方法 |
US8901268B2 (en) * | 2004-08-03 | 2014-12-02 | Ahila Krishnamoorthy | Compositions, layers and films for optoelectronic devices, methods of production and uses thereof |
KR101232137B1 (ko) * | 2005-11-21 | 2013-02-12 | 엘지디스플레이 주식회사 | 인쇄판, 인쇄판의 제조방법 및 그를 이용한 액정표시소자제조방법 |
WO2009108574A2 (en) * | 2008-02-25 | 2009-09-03 | Honeywell International Inc. | Processable inorganic and organic polymer formulations, methods of production and uses thereof |
US8557877B2 (en) | 2009-06-10 | 2013-10-15 | Honeywell International Inc. | Anti-reflective coatings for optically transparent substrates |
KR101860170B1 (ko) * | 2011-02-28 | 2018-05-21 | 제이에스알 가부시끼가이샤 | 레지스트 하층막 형성용 조성물, 패턴 형성 방법 및 레지스트 하층막 |
US8864898B2 (en) | 2011-05-31 | 2014-10-21 | Honeywell International Inc. | Coating formulations for optical elements |
US8828489B2 (en) | 2011-08-19 | 2014-09-09 | International Business Machines Corporation | Homogeneous modification of porous films |
WO2016167892A1 (en) | 2015-04-13 | 2016-10-20 | Honeywell International Inc. | Polysiloxane formulations and coatings for optoelectronic applications |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS535705B2 (ja) * | 1973-07-28 | 1978-03-01 | ||
US4167500A (en) * | 1976-06-14 | 1979-09-11 | Lord Corporation | Aqueous compositions comprising phenolic resin and crosslinking agent |
DE2943725C2 (de) * | 1979-10-30 | 1984-07-19 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Verfahren zur Prüfung einer Fehlerstromschutzeinrichtung mit einem Summenstromwandler und Einrichtungen zur Durchführung des Verfahrens |
US4515828A (en) * | 1981-01-02 | 1985-05-07 | International Business Machines Corporation | Planarization method |
JPS5982746A (ja) * | 1982-11-04 | 1984-05-12 | Toshiba Corp | 半導体装置の電極配線方法 |
US4427713A (en) * | 1983-01-17 | 1984-01-24 | Rca Corporation | Planarization technique |
US4604162A (en) * | 1983-06-13 | 1986-08-05 | Ncr Corporation | Formation and planarization of silicon-on-insulator structures |
US4511430A (en) * | 1984-01-30 | 1985-04-16 | International Business Machines Corporation | Control of etch rate ratio of SiO2 /photoresist for quartz planarization etch back process |
US4532005A (en) * | 1984-05-21 | 1985-07-30 | At&T Bell Laboratories | Device lithography using multi-level resist systems |
US4619837A (en) * | 1985-02-01 | 1986-10-28 | Advanced Micro Devices, Inc. | Polymerizable planarization layer for integrated circuit structures |
US4621045A (en) * | 1985-06-03 | 1986-11-04 | Motorola, Inc. | Pillar via process |
US4621042A (en) * | 1985-08-16 | 1986-11-04 | Rca Corporation | Absorptive planarizing layer for optical lithography |
US4701390A (en) * | 1985-11-27 | 1987-10-20 | Macdermid, Incorporated | Thermally stabilized photoresist images |
US4762768A (en) * | 1986-01-29 | 1988-08-09 | Macdermid, Incorporated | Thermally stabilized photoresist images |
DE3780387T2 (de) * | 1986-09-18 | 1993-01-28 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | Herstellungsverfahren einer integrierten schaltung. |
JPH0770527B2 (ja) * | 1987-02-27 | 1995-07-31 | アメリカン テレフォン アンド テレグラフ カムパニー | デバイス作製方法 |
US4904516A (en) * | 1988-01-12 | 1990-02-27 | Certain Teed Corp | Phenol-formaldehyde resin solution containing water soluble alkaline earth metal salt |
US5178988A (en) * | 1988-09-13 | 1993-01-12 | Amp-Akzo Corporation | Photoimageable permanent resist |
US5276126A (en) * | 1991-11-04 | 1994-01-04 | Ocg Microelectronic Materials, Inc. | Selected novolak resin planarization layer for lithographic applications |
-
1994
- 1994-07-06 US US08/271,291 patent/US5858547A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-06-26 IL IL11433695A patent/IL114336A/xx not_active IP Right Cessation
- 1995-07-05 DE DE69525157T patent/DE69525157T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-07-05 WO PCT/US1995/008417 patent/WO1996002066A2/en active IP Right Grant
- 1995-07-05 CN CN95194786A patent/CN1125690C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1995-07-05 JP JP50437296A patent/JP3188471B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1995-07-05 AU AU30934/95A patent/AU3093495A/en not_active Abandoned
- 1995-07-05 EP EP95926623A patent/EP0769204B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-07-05 KR KR1019970700031A patent/KR100252579B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-07-05 AT AT95926623T patent/ATE212475T1/de active
- 1995-07-05 CA CA 2194376 patent/CA2194376A1/en not_active Abandoned
- 1995-07-06 TW TW84106973A patent/TW494278B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0769204B1 (en) | 2002-01-23 |
US5858547A (en) | 1999-01-12 |
IL114336A0 (en) | 1995-10-31 |
IL114336A (en) | 1999-12-22 |
WO1996002066A2 (en) | 1996-01-25 |
KR100252579B1 (ko) | 2000-06-01 |
TW494278B (en) | 2002-07-11 |
CN1125690C (zh) | 2003-10-29 |
EP0769204A2 (en) | 1997-04-23 |
DE69525157D1 (de) | 2002-03-14 |
ATE212475T1 (de) | 2002-02-15 |
CA2194376A1 (en) | 1996-01-25 |
JPH09507966A (ja) | 1997-08-12 |
CN1156421A (zh) | 1997-08-06 |
WO1996002066A3 (en) | 1996-05-02 |
KR970705168A (ko) | 1997-09-06 |
AU3093495A (en) | 1996-02-09 |
DE69525157T2 (de) | 2002-08-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3188471B2 (ja) | 超小型電子構造体に用いるノボラックポリマー系プレーナー化フィルム | |
TWI504630B (zh) | 下層膜材料及圖案形成方法 | |
TWI498361B (zh) | 下層膜材料及圖案形成方法 | |
JPH073579B2 (ja) | ポジテイブフオトレジストおよびこれを利用した像の形成方法 | |
TW201502709A (zh) | 下層膜材料及圖案形成方法 | |
WO2002005035A1 (fr) | Composition de remplissage d'espaces lithographiques | |
KR101720967B1 (ko) | 기판 처리액 및 이것을 사용한 레지스트 기판 처리 방법 | |
JPH01128062A (ja) | 網状化低抗性フォトレジスト被覆 | |
TW200421037A (en) | Alkali-soluble gap filling material forming composition for lithography | |
TWI248138B (en) | Electronic device manufacture | |
US5302490A (en) | Radiation sensitive compositions comprising blends of an aliphatic novolak resin and an aromatic novolak resin | |
JPH06204162A (ja) | 半導体装置の製造方法および該方法に用いられるレジスト組成物 | |
JP4990966B2 (ja) | 金属電極の製造方法 | |
JPS608360A (ja) | 金属パターン形成法 | |
CN112684661A (zh) | 一种光刻胶组合物及其制备方法 | |
JP4336200B2 (ja) | 高耐熱性フォトレジスト組成物 | |
JP2000181055A (ja) | 液晶素子製造用ポジ型ホトレジスト塗布液及びそれを用いた基材 | |
CA1123683A (en) | Image hardening process | |
CN109212905B (zh) | 硬掩模用组合物 | |
CN112650025A (zh) | 一种正性光刻胶组合物及其制备方法 | |
US5795700A (en) | Method for forming resist pattern with enhanced contrast film | |
US6461785B1 (en) | Composition for positive photoresist | |
JPH02265932A (ja) | 有機重合体材料のエッチング方法 | |
JP3214175B2 (ja) | 保護膜材料溶液 | |
US6447975B1 (en) | Composition for positive type photoresist |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090511 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100511 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110511 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110511 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120511 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130511 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130511 Year of fee payment: 12 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |