JP3169082B2 - 距離測定装置 - Google Patents

距離測定装置

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、請求項1,2の前提概念に記載の構成を持つ
距離測定装置に関するものである。
この種の装置は、Wild Heerbrugg AG,Schweizの刊行
物 V.86,「測地学的精度の、作動時間測定方式による
距離測定」から知られている。この距離測定方法は、自
然の粗い表面を持った対象物までの距離を測定するため
にも用いられる。例えば数百メートル以下の距離を測定
しなければならないような採石場、横穴式地下施設の
壁、トンネルの側壁等のように接近しがたい表面を測量
するために、放射性の大きな表面を持ったパルス式赤外
線半導体レーザーダイオードを放射源として用いる装置
が使用される。パルス長さは12nsecのものが使用され
る。この放射源の利点は、数ワットのオーダーの高いピ
ーク出力の放射パルスを発生させることができ、その結
果、必要とされる数百メートルの測定距離が達成される
点である。精度は５ないし10mmである。一方欠点は、前
記レーザーの放射表面のサイズが300/uのオーダーの比
較的大きい場合である。というのも、この装置の放射ロ
ープ（Keule）は約2mradのダイバージェンスを有し、よ
って50mの場合には光束横断面が0.1mになるからであ
る。距離が非常に短い場合にもこの装置の光束横断面は
数センチの径を有している。なぜなら、2mradの光束ダ
イバージェンスで数ワットのパルス出力を放出するため
に、数センチの径の対物レンズを必要とするからであ
る。
送光対物レンズと受光対物レンズが別個に切り離して
配置されているので、10ないし15m以下の近接範囲にた
いしては、送光光束と受光光束とを重ねるために補助レ
ンズを装着しなければならない。他の欠点は、赤外線測
定光線を使用しているので、実際に測定された対象物の
位置を確認できないことである。目標物の位置を視認さ
せるために、可視光線を放出する付加的なレーザーが設
けられるが、その光軸を送光光軸にたいして慎重に位置
決めしなければならない。この装置は電子評価装置及び
表示装置を備えており、キーボードを介して追加値を入
力して、演算を行なうこともできる。
ドイツ特許第4002356号公報からも同様に、送光対物
レンズと受光対物レンズとを別個に配置した距離測定装
置が知られている。送光装置は、電子的に相補的に切換
え可能な二つのレーザーダイオードを有している。その
うち一方のレーザーダイオードは光波列を測定区間に送
り、他方のレーザーダイオードは光波列を参照区間に送
る。両波列は、評価電子装置に接続されている同一の受
光体によって交互に受光される。この公報からは、両レ
ーザーダイオードが可視光を放射するのかどうかを読み
取ることができない。測定される距離範囲は２ないし10
mと記載されており、測定精度を数mmの範囲にすること
を目的としている。
雑誌“Industrie"11/92,第６頁から第８頁までには、
Sick GmbH社の距離測定器DME2000が記載されている。こ
の距離測定器は、作動時間測定をベースにした光学的距
離測定方式に依拠しており、可視光を放出する二つの半
導体レーザーダイオードで作動する。コリメーター光学
系を備えた一方のレーザーダイオードが必要な送光光線
を発生させ、第２のレーザーダイオードが必要な参照信
号を直接受光体に送る。送光光束と受光光束とは互いに
同軸に配置されており、その結果比較的大きな径を備え
た１個の対物レンズだけが使用される。自然な粗い表面
にたいする測定距離は0.1ないし2mであり、光点の径は
約3mmである。130m以下の比較的遠い対象物にたいして
は、測定される対象物に反射フォイルを取り付けねばな
らない。この距離の場合光点の径は約250mmである。同
軸の送光光学系と受光光学系に関連して、受光体とし
て、比較的大きな面積のピンフォトダイオードが使用さ
れる。これにより、強く発散する受光光線ローブと送光
光束とのオーバーラップが与えられ、その結果0.1m以下
の距離は測定できるが、前述のように検出器の面積が大
きいことにより、付加的な反射体なしでは大きな測定距
離を得ることはできない。建設業、特に内装業及び配管
業では、30m以下の距離にある粗い表面を、付加的な準
備なしに反射体により測定する必要がある。要求される
測定精度が１ないし2mmの場合、受光光束の発散ができ
るだけ小さくなければならない。なぜなら、発散が大き
いと、周囲光成分を受光することにより、非常に大きな
雑音信号が受光体に発生するからである。しかしなが
ら、2mrad程度の小さい受光光束の発散は、送光光学系
と受光光学系が別個に配置されている場合、受光光束と
送光光束とのオーバーラップは１ないし2mにすぎず、よ
って付加的な処置をしなければこの距離以上の距離測定
は不可能である。従って本発明の課題は、十分に照準さ
れた可視測定光束にして、近接範囲では0.5cm以下の径
を有し、遠方の境界範囲では１ないし2cm以下の径を有
する可視測定光束を用いて、測定器の前縁から少なくと
も30mまでの前測定範囲にわたって自然な粗い表面にた
いする距離測定を可能にし、しかも測定精度がミリメー
トルの範囲にあるような距離測定装置を提供することで
ある。
この課題は、冒頭で述べた種類の装置において、本発
明によれば請求項1,2の特徴部分によって解決される。
本発明による装置の有利な構成及び変形例は、従属項３
ないし16の特徴部分に記載されている。
本発明による距離測定装置では、コリメーター対物レ
ンズは、遠く結束された測定光線を光軸に沿って生じさ
せる。その横に配置されている受光対物レンズの光軸
は、コリメーター対物レンズの光軸にたいして少なくと
もほぼ平行に延びており、コリメーター対物レンズの光
軸と共通の面内にある。避けがたい測定光束の発散と、
比較的密に並んでいる光学結像系と、これらの光学結像
系の焦点距離とにより、ほぼ2m以内の近傍にある対象物
で反射した測定光線は、ほぼ受光対物レンズの焦点にお
いて結像する。受光光線が狭い面に集中することによ
り、遠く離れた測定距離に至るまでの信号評価上の強度
問題は生じない。
しかしながら、近い測定距離にたいしては、対象物で
反射した光点の結像位置が、焦点から縦方向に且つ受光
対物レンズの光軸にたいして横方向に次第に離れていく
ことが観察される。この場合、焦点に配置されている光
導体入射面には光線が入射せず、これにより測定下限が
達成される。本発明の第１実施例によれば、光導体入射
面は、光点の結像位置のずれに追従する。しかも、受光
対物レンズの光軸にたいして横方向にだけ追従する。光
軸に沿った追従の必要はない。なぜなら、近傍の対象物
で反射した測定光線に関しては強度上の問題はないから
である。しかも、正確な結像位置への追従は評価電子装
置のオーバーライドを生じさせることが明らかになっ
た。光導体入射面の移動を制御可能なことにより、すべ
ての測定距離にたいして、最適な信号レベルに適合させ
ることが可能になる。これにたいして別の解決法によれ
ば、光導体入射面を位置固定して配置し、光学的転向手
段により、対象物までの距離が短い場合に徐々に斜めに
なって受光対物レンズに入射する測定光線を光導体入射
面のほうへ方向転換させることもできる。この場合も、
結像光学的に正確な方向転換の必要はないという認識が
活用される。なぜなら、対象物までの距離が短い場合の
強度上の問題がないからである。この解決法の利点は、
受光経路内に移動要素がなくてもよいことである。
本発明による装置の測定精度を制限する作用は、測定
される粗い表面との協働で生じる、変調されたレーザー
光線の物理学的特性に由来する。
半導体レーザーダイオードの可視光線は、等距離スペ
クトル線（モード）のスペクトルとして放射される。変
調電流が作用しているあいだ、モードの波長も光線密度
（強度）も変化する。従って、波長に応じて、電気変調
パルスにたいするレーザーパルスの種々の変調位相遅れ
が生じる。この場合、変調位相は、一つの変調パルスの
作用時間内におけるレーザーパルスの放射継続時間ｔに
わたる強度変分Ｉ（ｔ）の時間的重心tSに関係してい
る。数学的には時間的重心tSは、Ｉ（ｔ）tdtの積分値
をＩ（ｔ）dtの積分値で割った値に等しい。この場合、
積分範囲はレーザーパルス全継続時間に等しい。
波長に応じて変化する変調位相遅れは、変調の種類及
び変調パルス幅に応じて、1.3ns以下の時間的レーザー
パルス遅れに対応することができる。対応する見かけの
距離差は、200mm以下である。
測定される粗い表面で反射した光は、レーザー光線の
コヒーレンスのために斑点状の強度分布を持っている。
この強度分布はスペックルの名で知られている。粗い表
面がミラーであるときにレーザー光線が反射する方向で
のみ、スペックルはレーザー光線の種々のモードに合致
する。モードの波長が種々あるため、他のすべての方向
にたいしてはこの限りではない。従って、空間的に種々
の変調位相を持つ放射場が存在する。
受光対物レンズに当たってフォトディテクタに送られ
る光線は、代表的な変調位相を有している。この変調位
相は、受光対物レンズに入射する放射場のすべての変調
位相にわたって適当な強度で決定された平均値によって
生じる。この平均値は、放射場を介してスペックレス構
造に応じて変動する。即ち粗い表面の構造に応じて変動
する。巨視的には同形に見える表面を持った対象物を測
定方向にたいして垂直に移動させることにより、前記返
答位相変動に対応する距離誤差が20mm以下であることが
判明した。
また、レーザーダイオードの変調を、パルス幅が2ns
以下の励起パルスで発生させるだけで、物理学的条件を
決定的に改善できることが明らかになった。この場合、
変調位相差は波長に応じて小さくなり、これに対応する
距離変動は2mm以下になる。
距離測定装置内に光導体を使用することは知られてい
る。本発明による距離測定装置にこの光導体を適用する
と、光電変換器に至るまでの光導体を何度も湾曲させる
ことができるという特別な利点が生じる。これにより、
すべての変調位相にわたって決定される前記平均値の算
出が補助される。
電子系及び光電変換器におけるドリフト効果を補正す
るため、外部距離測定の前後に、既知の長さの内部参照
距離を測定することは知られている。このため、本発明
による距離測定装置では、光線が外部光路を介して到達
しないように、光放散要素が視準された測定光束の中に
入れられる。この光放散要素の放散特性は、光導体入射
面が位置調整される空間範囲に適合せしめられる。これ
により、本発明による装置の機能にとって重要な二つの
利点が得られる。その一つは、光線が測定光束の各部分
から光導体入射面に達し、これにより測定光束の横断面
を介して変調位相の差が距離測定に影響しないことであ
る。光導体入射面が移動する空間の全範囲において光放
散要素から光線が放散されるので、光導体入射面の各位
置での参照測定を即座に、しかも位置を新たに調整する
ことなく行なうことができ、よって測定時間が短縮され
る。単位面積あたりの放散強度は、評価装置のオーバー
ライドが確実に避けられるように調整することができ
る。従ってこの処理は、位置調整可能な光導体入射面を
持った構成にたいしてばかりでなく、位置固定の光導体
入射面と付加的な放射方向転換手段とを備えた構成にた
いしても同等に効果的である。
次に、本発明による装置を、添付の図面に図示した実
施例に関して詳細に説明する。この場合、上記以外の利
点についても説明する。図面において、 図１は 位置調整可能な光導体入射面を備えた本発明
による装置全体の平面図、 図２は 光線方向転換用のミラーを備えた受光部分を
示す図、 図３は 屈折性光線方向転換部を備えた受光部分を示
す図、 図４は 回折性光線方向転換部を備えた受光部分を示
す図、 図５は 送光光線束の中に入れられたビームスプリッ
ターを示す図、 図６は 送光光線束の中に挿入可能な転向プリズムを
示す図、 である。
図１において、半導体レーザー10は可視測定光束11を
発生させる。測定光束11は、コリメーター対物レンズ12
によって光軸13の方向へ平行光束として送られ、ほぼ4m
mの径を有している。受光対物レンズ15の光軸14はコリ
メーター対物レンズ12の光軸13にたいして少なくともほ
ぼ平行に延びており、光軸13と同一平面内にある。受光
対物レンズ15の径はほぼ30mmであり、受光角はほぼ120
゜である。その結果、光束横断面は遠方にある対象物16
で反射した光線強度にとって十分な大きさであり、他方
近くの対象物から大きな入射角で反射してきた光線も受
光することができる。遠方にある対象物16は受光系15に
とっては無限遠にあるように見え、その結果、対象物に
よって生じた測定スポットの光軸14上での結像位置は受
光対物レンズ15の焦点に位置している。この場合、光導
体入射面17はその基本位置に配置されている。光導体端
部は、板ばね19に固定されている保持部材18により把持
されている。板ばね19の他端は、距離測定装置のケーシ
ング20に固定されており、従って弾性枢着部を形成して
いる。板ばね19は、予じめ緊張させた状態で偏心体21に
接している。偏心体21は、モータにより軸22の回りを回
転可能である。偏心体21が回転すると、保持部材18は光
軸14にたいして横方向に例えば位置18′に移動する。調
整距離は、１実施例ではほぼ3mmである。位置18′にお
いて、近くにある対象物の光線が受光される。このこと
を図面では破線で示した受光光束によって示した。光導
体入射面の位置調整は、ほぼ受光対物レンズ15の焦点面
内で行なわれる。近くにある測定スポットの正確な結像
位置が光線方向において焦点面の後方にあることは明ら
かである。
本実施例で選定された、弾性枢着部及び偏心体を備え
た位置調整装置の代わりに、例えばスライダ要素または
マルチリンク要素のような他の構成も可能である。
光導体17′はその前部部分が自由に運動可能であり、
その結果光導体17′は保持部材18の位置調整に追従する
ことができる。光導体17′の後部部分23は何度も湾曲し
て固定されている。後部部分23の端部には、光電変換器
24が光導体射出面の後に接続されている。受光信号は評
価装置25に供給される。
装置のケーシング20から射出する測定光束の領域に
は、鏡面加工された反射性に乏しい密閉円板26が取り付
けられている。密閉円板26は、反射を抑制するために光
線にたいして斜めに設置してもよい。さらに、残留拡散
光が光導体入射面に達しないようにするため、管状の絞
り27が設けられている。この絞り27の光入射口の前方に
は、切換え可能な光線方向転換装置28が配置されてい
る。光線方向転換装置28はモータにより軸29の回りを回
動可能である。測定光束11の作用を受ける光線方向転換
装置28の表面は拡散性であり、この場合、発散性の拡散
円錐30が発生する。光導体入射面17の領域における拡散
円錐30の開口は、このようにして発生した参照光経路か
らの光線がすべての位置で受光されるほど大きい。
評価装置25は、半導体レーザー10を変調するための電
子回路も含んでいる。コリメーター対物レンズ12の光軸
13上で半導体レーザー10の放射方向を調整するため、半
導体レーザー10のケーシングは軸31の回り、またはこれ
にたいして垂直な軸の回りに回動可能に支持されていて
もよい。この調整は、選定された受光信号に依存してモ
ータにより評価装置25を介して制御することができる。
光軸13,14の、共通の面にたいするわずかな誤調整を補
正するため、光導体入射面を光軸13,14の共通の面内に
おいてばかりでなく、この面にたいして垂直に位置調整
することも有利である。受光対物レンズ15の焦点面内で
適宜に操作運動することにより、最適な信号レベルを持
った位置を検出することができ、この光導体入射面17の
位置で信号評価を行なうことができる。
評価装置25は、表示装置32とキーボード33とを有して
いる。このキーボード33を介して例えば修正値、または
実際に距離測定を行なうための補助的な情報を入力する
ことができる。一つの重要な補助情報は、両光軸13,14
によって決定される面の水平位置、または対象物にたい
して事実上垂直に測定できるように鉛直位置を考慮した
ものである。このため距離測定装置に、例えば２軸の電
子傾斜計34を付設してもよい。傾斜計34の水平軸線は光
軸13,14の面内にあり、且つこれらの光軸にたいして垂
直に指向されている。傾斜計34の出力信号は評価装置25
に送られ、距離測定に際して自動的に考慮される。一方
この出力信号を半導体レーザー10或いは送光経路内の図
示していない実際の光学的要素の機械的位置調整に使用
して、視準された光束を自動的に水平化されてもよい。
方位を考慮すると、即ち測定光束が水平面内で被測定
対象物面にぶつかる角度を考慮すると、空間内での距離
測定装置の傾斜についての情報ばかりでなく。距離の測
定の可能性も拡大する。即ち、測定値の正反対の（pola
r）記録が可能になる。このため、距離測定装置にデジ
タル磁気コンパス35を付設していてもよい。この磁気コ
ンパス35の方位参照方向は、コリメーター対物レンズ12
の光軸13に平行に方向づけられている。測定光束の傾斜
及び方位を考慮したた距離測定を複数回行なうことによ
り、公知の態様で空間内の点及び平面の決定ばかりでな
く、一つの測定位置の個々の平面相互の位置も決定する
ことができる。また、機械的軸及び電子タキメーターを
備えた測定システムにおいてのみ可能であるような、水
平距離の演算的検出も可能である。
測定のゼロ点として、距離測定装置のケーシング20の
前面、背面または中心も定義され、選択的に例えばキー
ボード33を介して評価装置25に入力され、評価装置25に
より距離測定時に自動的に考慮される。
図２は、近くにある対象物の面によって反射された光
束を位置固定の光導体入射面17へ方向転換させるための
第１の解決手段を示している。このため、この解決手段
では、光軸14の外側にあって光軸14にたいして斜めに配
置されるミラー36が用いられる。ミラー36は、わずかに
湾曲して拡散性であってもよい。合目的な形状、配置、
構成は、当業者の種々の試みによって簡単に決定するこ
とができる。光軸13と14の間に傾斜状態が存在する場合
にこれを補正するため、ミラーを光軸14の回りにトーラ
ス状に構成することが特に有利である。上に述べた構成
の利点は、遠方にある対象物によって受け止められた光
線が方向転換手段の影響を受けないことである。
図３には、斜めに入射した測定光線を方向転換させる
ための別の解決手段として、屈折要素としてのプリズム
37が設けられている。この場合も種々の試みによってプ
リズム37の合目的な配置を調べることができ、即ち強度
上の問題が生じるほどには、遠方の対象物によって受け
止められた光線が転向せず、他方斜めに入射した測定光
線の十分な量が光導体入射面17の方向へ転向するような
配置を調べることができる。特に、屈折面を光軸14にた
いして環対称に（ringsymmetrisch）配置し、中心部の
一部分を影響させないようにすることが特に有利であ
る。プリズム37は切換え可能であってもよく、その結果
プリズム37は対象物の距離が近い場合にだけ作用する。
図４は、回折要素38を用いて、光線を方向に依存して
方向転換させるための別の解決手段を示している。この
種の回折要素は、ホトグラフィー要素、同心円回折板、
二元光学系にたいする微細構造技術をさらに改良するこ
とによりその重要性を増す。この種の要素の構成及び応
用に関する概要は、回折光学要素（Diffraktive Optica
l Elements DOE）に関するCentre Suisse d'Electroniq
ueet de Microtechnique S.A.の刊行物、1991年６月発
行から読み取れる。この要素の利点は、回折構造を個々
の結像特性に適合させることができる点にある。この場
合、複雑な光学的変換関数も比較的簡単に実現すること
ができる。特に、種々の方向から入射して来る光線を同
一の方向へ誘導する回折構造を演算して、写真石版術に
より発生させることができる。従って、送光線の方向に
おける対物レンズ15の受光角度が著しく大きくなる。
視準された射出する測定光束内に回転可能な二光線プ
リズムを挿入することにより、本発明による距離測定装
置の応用範囲が拡大される。このため、図５に示すよう
に、密閉円板26の代わりに鏡筒39が管状の絞り27に挿着
される。鏡筒39には、光線を分割する接合面41を備えた
プリズム40が挿着されている。このようにして、鏡筒39
内の開口42により、測定光束の光軸13にたいして垂直に
付加的な可視光線を発生させることができる。この可視
光線は例えば、これを一つの平面に当ててこの面にたい
して垂直な距離を測定するために使用できる。距離測定
装置が測定対象物にたいして垂直に向けられている場合
には、この付加的な可視光線を用いて距離値を他の面へ
伝送することもできる。
測定光線にたいして垂直な指向光線を発生させるため
の、図５に図示したアタッチメントを、公知の態様で変
形して、例えばペンタプリズムの場合のように複数の分
割面または他の光線方向転換部材を備えたプリズムを使
用してもよい。
前記アタッチメントの別の課題は、測定光線の光軸13
を受光対物レンズ15の光軸14の方向へ転向させることに
ある。このような構成を図６に示す。この構成の利点
は、ケーシング20の前縁20′に接している対象物が光線
を受光光路内へ反射させることである。この場合、対物
レンズ15の保持部の構造上の理由から、受光対物レンズ
15の位置をいくぶんケーシング20の内側へ設定するのが
有利である。光線を方向転換させるために設けられてい
るプリズム43は、スライダ44上に配置されている。スラ
イダ44は、非常に短い距離を測定する場合に手で光路内
へ挿入することができる。
本発明による距離測定装置のための機能要素は少な
く、装置を小型にするのに適している。従って、本発明
による距離測定装置は非常にコンパクトであり、特に携
帯器として構成することができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ギーガー クルト スイス ツェーハー・9464 リューティ シュポルトプラッツシュトラーセ 1097 (72)発明者 ヒンダーリング ユルク スイス ツェーハー・9435 ヘールブル ッグ フェルトシュトラーセ ５ (56)参考文献 特開 平３−264886（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−131578（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−28611（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−70710（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−274483（ＪＰ，Ａ) 実開 昭61−1183（ＪＰ，Ｕ) 実開 平３−25182（ＪＰ，Ｕ) 実開 平２−45413（ＪＰ，Ｕ) 実開 平５−28989（ＪＰ，Ｕ) 特表 平４−504755（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01S 7/48 - 7/51 G01S 17/00 - 17/95 G01B 11/00

Claims (18)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】半導体レーザー（10）によって生じる可視
    測定光束（11）と、 測定光束（11）を光軸（13）の方向へ視準するためのコ
    リメーター対物レンズ（12）と、 測定光線を変調するための回路装置と、 遠方にある対象物（16）で反射した測定光束（11）を受
    光装置に受光させて結像させるための受光対物レンズ
    （15）と、 半導体レーザー（10）と前記受光装置との間に内部参照
    経路を生じさせるための切換え可能な光線転向装置（2
    8）と、 対象物（16）にたいして測定された距離を検出し表示す
    るための電子評価回路（25）と、 を備えた距離測定装置において、 前記受光装置が、光電子変換器（24）を接続した光導体
    （17′）を有し、光導体入射面（17）が、遠方の対象物
    のための受光対物レンズ（15）の結像面内に配置され、
    且つこの位置（18）から受光対物レンズ（15）の光軸
    （14）にたいして横方向に移動可能であるように制御可
    能であることを特徴とする距離測定装置。
  2. 【請求項２】半導体レーザー（10）によって生じる可視
    測定光束（11）と、 測定光束（11）を光軸（13）の方向へ視準するためのコ
    リメーター対物レンズ（12）と、 測定光線を変調するための回路装置と、 遠方にある対象物（16）で反射した測定光束（11）を受
    光装置に受光させて結像させるための受光対物レンズ
    （15）と、 半導体レーザー（10）と前記受光装置との間に内部参照
    経路を生じさせるための切換え可能な光線転向装置（2
    8）と、 対象物（16）にたいして測定された距離を検出し表示す
    るための電子評価回路（25）と、 を備えた距離測定装置において、 前記受光装置が、光電子変換器（24）を接続した光導体
    （17′）を有し、光導体入射面（17）が、受光対物レン
    ズ（15）の光軸（14）上にして、遠方の対象物のための
    受光対物レンズ（15）の結像面内に配置され、受光対物
    レンズ（15）と光導体入射面（17）の間にして受光対物
    レンズ（15）の光軸（14）の外側に、対象物までの距離
    が短い場合に測定光束（11）の結像位置を受光対物レン
    ズ（15）の光軸（14）のほうへ転向させる光学的手段
    （36;37;38）が設けられていることを特徴とする距離測
    定装置。
  3. 【請求項３】測定光線が、２ナノセカンド以下のパルス
    幅の励起パルスによりパルス変調されていることを特徴
    とする、請求項１または２に記載の距離測定装置。
  4. 【請求項４】光導体（17′）が、その延在態様に関し複
    数回湾曲している（23）ことを特徴とする、請求項１ま
    たは２に記載の距離測定装置。
  5. 【請求項５】光導体（17′）の光入射端部（17）が、機
    械的な位置調整装置（18,19,21,22）によって保持さ
    れ、該位置調整装置（18,19,21,22）は、コリメーター
    対物レンズ（12）と受光対物レンズ（15）の光軸（13,1
    4）によって決定されている面内を位置調整可能である
    ことを特徴とする、請求項１に記載の距離測定装置。
  6. 【請求項６】位置調整装置が、光軸（13,14）によって
    決定されている前記面にたいして垂直に付加的に位置調
    整可能であることを特徴とする、請求項５に記載の距離
    測定装置。
  7. 【請求項７】制御装置を備えたモータ駆動装置が設けら
    れ、前記制御装置が、位置調整装置を基本位置（18）か
    ら所定の位置調整範囲（18′）にわたって移動させ、そ
    の際、受光された光強度が測定されて記憶され、その後
    信号の評価にたいして最適な光強度が受光されるような
    位置へ位置調整装置がもたらされることを特徴とする、
    請求項５または６に記載の距離測定装置。
  8. 【請求項８】位置調整装置が、モータ駆動される偏心体
    （21,22）を備えた弾性枢着部（19）から構成されてい
    ることを特徴とする、請求項７に記載の距離測定装置。
  9. 【請求項９】前記参照経路を生じさせるための切換え可
    能な光線転向装置として光拡散要素（28）が設けられ、
    その拡散特性（30）が光導体入射面（17）の位置調整範
    囲（18,18′）に適合していることを特徴とする、請求
    項１から８までのいずれか１つに記載の距離測定装置。
  10. 【請求項１０】結像位置を転向させるため、受光対物レ
    ンズ（15）の光軸（14）にたいして傾斜するように指向
    した反射体（36）が設けられていることを特徴とする、
    請求項２に記載の距離測定装置。
  11. 【請求項１１】結像位置を転向させるため、受光対物レ
    ンズ（15）の縁領域に配置される屈折光学要素（37）が
    設けられていることを特徴とする、請求項２に記載の距
    離測定装置。
  12. 【請求項１２】結像位置を転向させるため、受光対物レ
    ンズ（15）に回折光学要素38）が付設されていることを
    特徴とする、請求項２に記載の距離測定装置。
  13. 【請求項１３】電子傾斜計（34）が設けられ、その測定
    軸線が、コリメーター対物レンズ（12）の光軸（13）に
    平行に指向されていることを特徴とする、請求項１から
    12までのいずれか１つに記載の距離測定装置。
  14. 【請求項１４】２軸の電子傾斜計（34）が設けられ、そ
    の一方の軸線はコリメーター対物レンズ（12）の光軸
    （13）に平行に指向され、他の軸線はこれにたいして垂
    直で、且つコリメーター対物レンズ（12）及び受光対物
    レンズ（15）の光軸（13,14）によって形成される面に
    たいして平行に指向されていることを特徴とする、請求
    項１から13までのいずれか１つに記載の距離測定装置。
  15. 【請求項１５】デジタル磁気コンパス（35）が設けら
    れ、その方位参照方向は、コリメーター対物レンズ（1
    2）の光軸（13）に平行に指向されていることを特徴と
    する、請求項１から14までのいずれか１つに記載の距離
    測定装置。
  16. 【請求項１６】傾斜計（34）及び（または）コンパス
    （35）の出力信号が、付加的な入力信号として評価装置
    （25）に送られることを特徴とする、請求項13から15ま
    でのいずれか１つに記載の距離測定装置。
  17. 【請求項１７】傾斜計（34）の出力信号が、視準された
    測定光束（11）を水平化するために能動的な光学的また
    は機械的調整要素に送られることを特徴とする、請求項
    13または14に記載の距離測定装置。
  18. 【請求項１８】射出する測定光束（11）に差し込み可能
    なプリズム（40,41,43）が設けられていることを特徴と
    する、請求項１から17までのいずれか１つに記載の距離
    測定装置。
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