JP2000187076A - 距離測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】測定器の前縁から少なくとも３０ｍまでの全測
定範囲にわたって自然な粗い表面にたいする距離測定を
可能にし、しかも測定精度がミリメートルの範囲にある
ような距離測定装置を提供する。 【解決手段】半導体レーザー１０によって生じる可視測
定光束１１と、測定光束１１を光軸１３の方向へ視準す
るためのコリメーター対物レンズ１２と、測定光線を変
調するための回路装置と、遠方にある対象物１６で反射
した測定光束１１を受光装置に受光させて結像させるた
めの受光対物レンズ１５と、半導体レーザー１０と受光
装置との間に内部参照経路を生じさせるための切換え可
能な光線転向装置２８と、対象物１６にたいして測定さ
れた距離を検出し表示するための電子評価回路２５とを
備える。測定光線は、２ナノセカンド以下のパルス幅の
励起パルスによりパルス変調されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明が属する技術分野】本発明は、半導体レーザーに
よって生じる可視測定光束と、測定光束を光軸の方向へ
視準するためのコリメーター対物レンズと、測定光線を
変調するための回路装置と、遠方にある対象物で反射し
た測定光束を受光装置に受光させて結像させるための受
光対物レンズと、半導体レーザーと前記受光装置との間
に内部参照経路を生じさせるための切換え可能な光線転
向装置と、対象物にたいして測定された距離を検出し表
示するための電子評価回路とを備えた距離測定装置に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】この種の装置は、Wild Heerbrugg AG, S
chweiz の刊行物 Ｖ．８６，「測地学的精度の、作動
時間測定方式による距離測定」から知られている。この
距離測定方法は、自然の粗い表面を持った対象物までの
距離を測定するためにも用いられる。例えば数百メート
ル以下の距離を測定しなければならないような採石場、
横穴式地下施設の壁、トンネルの側壁等のように接近し
がたい表面を測量するために、放射性の大きな表面を持
ったパルス式赤外線半導体レーザーダイオードを放射源
として用いる装置が使用される。パルス長さは１２ｎｓ
ｅｃのものが使用される。この放射源の利点は、数ワッ
トのオーダーの高いピーク出力の放射パルスを発生させ
ることができ、その結果、必要とされる数百メートルの
測定距離が達成される点である。精度は５ないし１０ｍ
ｍである。一方欠点は、前記レーザーの放射表面のサイ
ズが３００／ｕのオーダーの比較的大きい場合である。
というのも、この装置の放射ローブ( Keule )は約２ｍ
ｒａｄのダイバージェンスを有し、よって５０ｍの場合
には光束横断面が０．１ｍになるからである。距離が非
常に短い場合にもこの装置の光束横断面は数センチの径
を有している。なぜなら、２ｍｒａｄの光束ダイバージ
ェンスで数ワットのパルス出力を放出するために、数セ
ンチの径の対物レンズを必要とするからである。

【０００３】送光対物レンズと受光対物レンズが別個に
切り離して配置されているので、１０ないし１５ｍ以下
の近接範囲にたいしては、送光光束と受光光束とを重ね
るために補助レンズを装着しなければならない。他の欠
点は、赤外線測定光線を使用しているので、実際に測定
された対象物の位置を確認できないことである。目標物
の位置を視認させるために、可視光線を放出する付加的
なレーザーが設けられるが、その光軸を送光光軸にたい
して慎重に位置決めしなければならない。この装置は電
子評価装置及び表示装置を備えており、キーボードを介
して追加値を入力して、演算を行なうこともできる。

【０００４】ドイツ特許第４００２３５６号公報からも
同様に、送光対物レンズと受光対物レンズとを別個に配
置した距離測定装置が知られている。送光装置は、電子
的に相補的に切換え可能な二つのレーザーダイオードを
有している。そのうち一方のレーザーダイオードは光波
列を測定区間に送り、他方のレーザーダイオードは光波
列を参照区間に送る。両波列は、評価電子装置に接続さ
れている同一の受光体によって交互に受光される。この
公報からは、両レーザーダイオードが可視光を放射する
のかどうかを読み取ることができない。測定される距離
範囲は２ないし１０ｍと記載されており、測定精度を数
ｍｍの範囲にすることを目的としている。

【０００５】雑誌 “Industrie” １１／９２，第６頁
から第８頁までには、Sick GmbH 社の距離測定器ＤＭＥ
２０００が記載されている。この距離測定器は、作動時
間測定をベースにした光学的距離測定方式に依拠してお
り、可視光を放出する二つの半導体レーザーダイオード
で作動する。コリメーター光学系を備えた一方のレーザ
ーダイオードが必要な送光光線を発生させ、第２のレー
ザーダイオードが必要な参照信号を直接受光体に送る。
送光光束と受光光束とは互いに同軸に配置されており、
その結果比較的大きな径を備えた１個の対物レンズだけ
が使用される。自然な粗い表面にたいする測定距離は
０．１ないし２ｍであり、光点の径は約３ｍｍである。
１３０ｍ以下の比較的遠い対象物にたいしては、測定さ
れる対象物に反射フォイルを取り付けねばならない。こ
の距離の場合光点の径は約２５０ｍｍである。同軸の送
光光学系と受光光学系に関連して、受光体として、比較
的大きな面積のピンフォトダイオードが使用される。こ
れにより、強く発散する受光光線ローブと送光光束との
オーバーラップが与えられ、その結果０．１ｍ以下の距
離は測定できるが、前述のように検出器の面積が大きい
ことにより、付加的な反射体なしでは大きな測定距離を
得ることはできない。 建設業、特に内装業及び配管業
では、３０ｍ以下の距離にある粗い表面を、付加的な準
備なしに反射体により測定する必要がある。要求される
測定精度が１ないし２ｍｍの場合、受光光束の発散がで
きるだけ小さくなければならない。なぜなら、発散が大
きいと、周囲光成分を受光することにより、非常に大き
な雑音信号が受光体に発生するからである。しかしなが
ら、２ｍｒａｄ程度の小さい受光光束の発散は、送光光
学系と受光光学系が別個に配置されている場合、受光光
束と送光光束とのオーバーラップは１ないし２ｍにすぎ
ず、よって付加的な処置をしなければこの距離以上の距
離測定は不可能である。

【発明が解決すべき課題】従って本発明の課題は、十分
に照準された可視測定光束にして、近接範囲では０．５
ｃｍ以下の径を有し、遠方の境界範囲では１ないし２ｃ
ｍ以下の径を有する可視測定光束を用いて、測定器の前
縁から少なくとも３０ｍまでの全測定範囲にわたって自
然な粗い表面にたいする距離測定を可能にし、しかも測
定精度がミリメートルの範囲にあるような距離測定装置
を提供することである。

【課題を解決するための手段】この課題は、冒頭で述べ
た種類の装置において、測定光線が、２ナノセカンド以
下のパルス幅の励起パルスによりパルス変調されている
ことによって解決される。

【０００６】本発明による距離測定装置では、コリメー
ター対物レンズは、強く結束された測定光線を光軸に沿
って生じさせる。その横に配置されている受光対物レン
ズの光軸は、コリメーター対物レンズの光軸にたいして
少なくともほぼ平行に延びており、コリメーター対物レ
ンズの光軸と共通の面内にある。避けがたい測定光束の
発散と、比較的密に並んでいる光学結像系と、これらの
光学結像系の焦点距離とにより、ほぼ２ｍ以内の近傍に
ある対象物で反射した測定光線は、ほぼ受光対物レンズ
の焦点において結像する。受光光線が狭い面に集中する
ことにより、遠く離れた測定距離に至るまでの信号評価
上の強度問題は生じない。

【０００７】しかしながら、近い測定距離にたいして
は、対象物で反射した光点の結像位置が、焦点から縦方
向に且つ受光対物レンズの光軸にたいして横方向に次第
に離れていくことが観察される。この場合、焦点に配置
されている光導体入射面には光線が入射せず、これによ
り測定下限が達成される。本発明の第１実施形態によれ
ば、光導体入射面は、光点の結像位置のずれに追従す
る。しかも、受光対物レンズの光軸にたいして横方向に
だけ追従する。光軸に沿った追従の必要はない。なぜな
ら、近傍の対象物で反射した測定光線に関しては強度上
の問題はないからである。しかも、正確な結像位置への
追従は評価電子装置のオーバーライドを生じさせること
が明らかになった。光導体入射面の移動を制御可能なこ
とにより、すべての測定距離にたいして、最適な信号レ
ベルに適合させることが可能になる。これにたいして別
の解決法によれば、光導体入射面を位置固定して配置
し、光学的転向手段により、対象物までの距離が短い場
合に徐々に斜めになって受光対物レンズに入射する測定
光線を光導体入射面のほうへ方向転換させることもでき
る。この場合も、結像光学的に正確な方向転換の必要は
ないという認識が活用される。なぜなら、対象物までの
距離が短い場合の強度上の問題がないからである。この
解決法の利点は、受光経路内に移動要素がなくてもよい
ことである。

【０００８】本発明による装置の測定精度を制限する作
用は、測定される粗い表面との協働で生じる、変調され
たレーザー光線の物理学的特性に由来する。半導体レー
ザーダイオードの可視光線は、等距離スペクトル線（モ
ード）のスペクトルとして放射される。変調電流が作用
しているあいだ、モードの波長も光線密度（強度）も変
化する。従って、波長に応じて、電気変調パルスにたい
するレーザーパルスの種々の変調位相遅れが生じる。こ
の場合、変調位相は、一つの変調パルスの作用時間内に
おけるレーザーパルスの放射継続時間ｔにわたる強度変
分Ｉ（ｔ）の時間的重心ｔＳに関係している。数学的に
は時間的重心ｔＳは、Ｉ(ｔ)ｔｄｔの積分値をＩ（ｔ）
ｄｔの積分値で割った値に等しい。この場合、積分範囲
はレーザーパルス全継続時間に等しい。

【０００９】波長に応じて変化する変調位相遅れは、変
調の種類及び変調パルス幅に応じて、１．３ｎｓ以下の
時間的レーザーパルス遅れに対応することができる。対
応する見かけの距離差は、２００ｍｍ以下である。

【００１０】測定される粗い表面で反射した光は、レー
ザー光線のコヒーレンスのために班点状の強度分布を持
っている。この強度分布はスペックルの名で知られてい
る。粗い表面がミラーであるときにレーザー光線が反射
する方向でのみ、スペックルはレーザー光線の種々のモ
ードに合致する。モードの波長が種々あるため、他のす
べての方向にたいしてはこの限りではない。従って、空
間的に種々の変調位相を持つ放射場が存在する。

【００１１】受光対物レンズに当たってフォトディテク
タに送られる光線は、代表的な変調位相を有している。
この変調位相は、受光対物レンズに入射する放射場のす
べての変調位相にわたって適当な強度で決定された平均
値によって生じる。この平均値は、放射場を介してスペ
ックレス構造に応じて変動する。即ち粗い表面の構造に
応じて変動する。巨視的には同形に見える表面を持った
対象物を測定方向にたいして垂直に移動させることによ
り、前記変調位相変動に対応する距離誤差が２０ｍｍ以
下であることが判明した。

【００１２】また、レーザーダイオードの変調を、パル
ス幅が２ｎｓ以下の励起パルスで発生させるだけで、物
理学的条件を決定的に改善できることが明らかになっ
た。この場合、変調位相差は波長に応じて小さくなり、
これに対応する距離変動は２ｍｍ以下になる。

【００１３】距離測定装置内に光導体を使用することは
知られている。本発明による距離測定装置にこの光導体
を適用すると、光電変換器に至るまでの光導体を何度も
湾曲させることができるという特別な利点が生じる。こ
れにより、すべての変調位相にわたって決定される前記
平均値の算出が補助される。

【００１４】電子系及び光電変換器におけるドリフト効
果を補正するため、外部距離測定の前後に、既知の長さ
の内部参照距離を測定することは知られている。このた
め、本発明による距離測定装置では、光線が外部光路を
介して到達しないように、光放散要素が視準された測定
光束の中に入れられる。この光放散要素の放散特性は、
光導体入射面が位置調整される空間範囲に適合せしめら
れる。これにより、本発明による装置の機能にとって重
要な二つの利点が得られる。その一つは、光線が測定光
束の各部分から光導体入射面に達し、これにより測定光
束の横断面を介して変調位相の差が距離測定に影響しな
いことである。光導体入射面が移動する空間の全範囲に
おいて光放散要素から光線が放散されるので、光導体入
射面の各位値での参照測定を即座に、しかも位置を新た
に調整することなく行なうことができ、よって測定時間
が短縮される。単位面積あたりの放散強度は、評価装置
のオーバーライドが確実に避けられるように調整するこ
とができる。従ってこの処置は、位置調整可能な光導体
入射面を持った構成にたいしてばかりでなく、位置固定
の光導体入射面と付加的な放射方向転換手段とを備えた
構成にたいしても同等に効果的である。

【発明の実施の形態】次に、本発明による装置を、添付
の図面に図示した実施形態に関して詳細に説明する。こ
の場合、上記以外の利点についても説明する。

【００１５】図１において、半導体レーザー１０は可視
測定光束１１を発生させる。測定光束１１は、コリメー
ター対物レンズ１２によって光軸１３の方向へ平行光束
として送られ、ほぼ４ｍｍの径を有している。受光対物
レンズ１４の光軸１４はコリメーター対物レンズ１２の
光軸１３にたいして少なくともほぼ平行に延びており、
光軸１３と同一平面内にある。受光対物レンズ１５の径
はほぼ３０ｍｍであり、受光角はほぼ１２０°である。
その結果、光束横断面は遠方にある対象物１６で反射し
た光線強度にとって十分な大きさであり、他方近くの対
象物から大きな入射角で反射してきた光線も受光するこ
とができる。 遠方にある対象物１６は受光系１５にと
っては無限遠にあるように見え、その結果、対象物によ
って生じた測定スポットの光軸１４上での結像位置は受
光対物レンズ１５の焦点に位置している。この場合、光
導体入射面１７はその基本位置に配置されている。光導
体端部は、板ばね１９に固定されている保持部材１８に
より把持されている。板ばね１９の他端は、距離測定装
置のケーシング２０に固定されており、従って弾性枢着
部を形成している。板ばね１９は、予じめ緊張させた状
態で偏心体２１に接している。偏心体２１は、モータに
より軸２２の回りを回転可能である。偏心体２１が回転
すると、保持部材１８は光軸１４にたいして横方向に例
えば位置１８’に移動する。調整距離は、１実施形態で
はほぼ３ｍｍである。位置１８’において、近くにある
対象物の光線が受光される。このことを図面では破線で
示した受光光束によって示した。光導体入射面の位置調
整は、ほぼ受光対物レンズ１５の焦点面内で行なわれ
る。近くにある測定スポットの正確な結像位置が光線方
向において焦点面の後方にあることは明らかである。

【００１６】本実施形態で選定された、弾性枢着部及び
偏心体を備えた位置調整装置の代わりに、例えばスライ
ダ要素またはマルチリンク要素のような他の構成も可能
である。光導体１７’はその前部部分が自由に運動可能
であり、その結果光導体１７’は保持部材１８の位置調
整に追従することができる。光導体１７’の後部部分２
３は何度も湾曲して固定されている。後部部分２３の端
部には、光電変換器２４が光導体射出面の後に接続され
ている。受光信号は評価装置２５に供給される。

【００１７】装置のケーシング２０から射出する測定光
束の領域には、鏡面加工された反射性に乏しい密閉円板
２６が取り付けられている。密閉円板２６は、反射を抑
制するために光線にたいして斜めに設置してもよい。さ
らに、残留拡散光が光導体入射面に達しないようにする
ため、管状の絞り２７が設けられている。この絞り２７
の光入射口の前方には、切換え可能な光線方向転換装置
２８が配置されている。光線方向転換装置２８はモータ
により軸２９の回りを回動可能である。測定光束１１の
作用を受ける光線方向転換装置２８の表面は拡散性があ
り、この場合、発散性の拡散円錐３０が発生する。光導
体入射面１７の領域における拡散円錐３０の開口は、こ
のようにして発生した参照光経路からの光線がすべての
位置で受光されるほど大きい。

【００１８】評価装置２５は、半導体レーザー１０を変
調するための電子回路も含んでいる。コリメーター対物
レンズ１２の光軸１３上で半導体レーザー１０の放射方
向を調整するため、半導体レーザー１０のケーシングは
軸３１の回り、またはこれにたいして垂直な軸の回りに
回動可能に支持されていてもよい。この調整は、選定さ
れた受光信号に依存してモータにより評価装置２５を介
して制御することができる。光軸１３，１４の、共通の
面にたいするわずかな誤調整を補正するため、光導体入
射面を光軸１３，１４の共通の面内においてばかりでな
く、この面にたいして垂直に位置調整することも有利で
ある。受光対物レンズ１５の焦点面内で適宜に操作運動
することにより、最適な信号レベルを持った位置を検出
することができ、この光導体入射面１７の位置で信号評
価を行なうことができる。

【００１９】評価装置２５は、表示装置３２とキーボー
ド３３とを有している。このキーボード３３を介して例
えば修正値、または実際に距離測定を行なうための補助
的な情報を入力することができる。一つの重要な補助情
報は、両光軸１３，１４によって決定される面の水平位
置、または対象物にたいして事実上垂直に測定できるよ
うに鉛直位置を考慮したものである。このため距離測定
装置に、例えば２軸の電子傾斜計３４を付設してもよ
い。傾斜計３４の水平軸線は光軸１３，１４の面内にあ
り、且つこれらの光軸にたいして垂直に指向されてい
る。傾斜計３４の出力信号は評価装置２５に送られ、距
離測定に際して自動的に考慮される。一方この出力信号
を半導体レーザー１０或いは送光経路内の図示していな
い実際の光学的要素の機械的位置調整に使用して、視準
された光束を自動的に水平化させてもよい。

【００２０】方位を考慮すると、即ち測定光束が水平面
内で被測定対象物面にぶつかる角度を考慮すると、空間
内での距離測定装置の傾斜についての情報ばかりでな
く、距離の測定の可能性も拡大する。即ち、測定値の正
反対の(polar)記録が可能になる。このため、距離測定
装置にデジタル磁気コンパス３５を付設していてもよ
い。この磁気コンパス３５の方位参照方向は、コリメー
ター対物レンズ１２の光軸１３に平行に方向づけられて
いる。測定光束の傾斜及び方位を考慮したた距離測定を
複数回行なうことにより、公知の態様で空間内の点及び
平面の決定ばかりでなく、一つの測定位置の個々の平面
相互の位置も決定することができる。また、機械的軸及
び電子タキメーターを備えた測定システムにおいてのみ
可能であるような、水平距離の演算的検出も可能であ
る。

【００２１】測定のゼロ点として、距離測定装置のケー
シング２０の前面、背面または中心も定義され、選択的
に例えばキーボード３３を介して評価装置２５に入力さ
れ、評価装置２５により距離測定時に自動的に考慮され
る。

【００２２】図２は、近くにある対象物の面によって反
射された光束を位置固定の光導体入射面１７へ方向転換
させるための第１の解決手段を示している。このため、
この解決手段では、光軸１４の外側にあって光軸１４に
たいして斜めに配置されるミラー３６が用いられる。ミ
ラー３６は、わずかに湾曲して拡散性であってもよい。
合目的な形状、配置、構成は、当業者の種々の試みによ
って簡単に決定することができる。光軸１３と１４の間
に傾斜状態が存在する場合にこれを補正するため、ミラ
ーを光軸１４の回りにトーラス状に構成することが特に
有利である。上に述べた構成の利点は、遠方にある対象
物によって受け止められた光線が方向転換手段の影響を
受けないことである。

【００２３】図３には、斜めに入射した測定光線を方向
転換させるための別の解決手段として、屈折要素として
のプリズム３７が設けられている。この場合も種々の試
みによってプリズム３７の合目的な配置を調べることが
でき、即ち強度上の問題が生じるほどには、遠方の対象
物によって受け止められた光線が転向せず、他方斜めに
入射した測定光線の十分な量が光導体入射面１７の方向
へ転向するような配置を調べることができる。特に、屈
折面を光軸１４にたいして環対称に(ringsymmetrisch)
配置し、中心部の一部分を影響させないようにすること
が特に有利である。プリズム３７は切換え可能であって
もよく、その結果プリズム３７は対象物の距離が近い場
合にだけ作用する。

【００２４】図４は、回折要素３８を用いて、光線を方
向に依存して方向転換させるための別の解決手段を示し
ている。この種の回折要素は、ホトグラフィー要素、同
心円回折板、二元光学系にたいする微細構造技術をさら
に改良することによりその重要性を増す。この種の要素
の構成及び応用に関する概要は、回折光学要素(Diffrak
tive OpticalElements DOE )に関する Centre Suisse
d'Electronique et de MicrotechniqueS.A の刊行物、
１９９１年６月発行から読み取れる。この要素の利点
は、回折構造を個々の結像特性に適合させることができ
る点にある。この場合、複雑な光学的変換関数も比較的
簡単に実現することができる。特に、種々の方向から入
射して来る光線を同一の方向へ誘導する回折構造を演算
して、写真石版術により発生させることができる。従っ
て、送光線の方向における対物レンズ１５の受光角度が
著しく大きくなる。

【００２５】視準された射出する測定光束内に回転可能
な二光線プリズムを挿入することにより、本発明による
距離測定装置の応用範囲が拡大される。このため、図５
に示すように、密閉円板２６の代わりに鏡筒３９が管状
の絞り２７に挿着される。鏡筒３９には、光線を分割す
る接合面４１を備えたプリズム４０が挿着されている。
このようにして、鏡筒３９内の開口４２により、測定光
束の光軸１３にたいして垂直に付加的な可視光線を発生
させることができる。この可視光線は例えば、これを一
つの平面に当ててこの面にたいして垂直な距離を測定す
るために使用できる。距離測定装置が測定対象物にたい
して垂直に向けられている場合には、この付加的な可視
光線を用いて距離値を他の面へ伝送することもできる。

【００２６】測定光線にたいして垂直な指向光線を発生
させるための、図５に図示したアタッチメントを、公知
の態様で変形して、例えばペンタプリズムの場合のよう
に複数の分割面または他の光線方向転換部材を備えたプ
リズムを使用してもよい。

【００２７】前記アタッチメントの別の課題は、測定光
線の光軸１３を受光対物レンズ１５の光軸１４の方向へ
転向させることにある。このような構成を図６に示す。
この構成の利点は、ケーシング２０の前縁２０’に接し
ている対象物が光線を受光光路内へ反射させることであ
る。この場合、対物レンズ１５の保持部の構造上の理由
から、受光対物レンズ１５の位置をいくぶんケーシング
２０の内側へ設定するのが有利である。光線を方向転換
させるために設けられているプリズム４３は、スライダ
４４上に配置されている。スライダ４４は、非常に短い
距離を測定する場合に手で光路内へ挿入することができ
る。

【００２８】本発明による距離測定装置のための機能要
素は少なく、装置を小型にするのに適している。従っ
て、本発明による距離測定装置は非常にコンパクトであ
り、特に携帯器として構成することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】位置調整可能な光導体入射面を備えた本発明に
よる装置全体の平面図である。

【図２】光線方向転換用のミラーを備えた受光部分を示
す図である。

【図３】屈折性光線方向転換部を備えた受光部分を示す
図である。

【図４】回折性光線方向転換部を備えた受光部分を示す
図である。

【図５】送光光線束の中に入れられたビームスプリッタ
ーを示す図である。

【図６】送光光線束の中に挿入可能な転向プリズムを示
す図である。

【符号の説明】

１０ 半導体レーザー １１ 測定光束 １２ コリメーター対物レンズ １３ 光軸 １５ 受光対物レンズ １６ 対物レンズ １７’ 光導体 ２４ 光電変換器 ２５ 電子評価回路 ２８ 光線転向装置 ３４ 電子傾斜計 ３５ デジタル磁気コンパス ４０，４３ プリズム

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ギーガー クルト スイス ツェーハー・9464 リューティ シュポルトプラッツシュトラーセ 1097 (72)発明者 ヒンダーリング ユルク スイス ツェーハー・9435 ヘールブルッ グ フェルトシュトラーセ ５

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】半導体レーザー（１０）によって生じる可
   視測定光束（１１）と、測定光束（１１）を光軸（１
   ３）の方向へ視準するためのコリメーター対物レンズ
   （１２）と、測定光線を変調するための回路装置と、遠
   方にある対象物（１６）で反射した測定光束（１１）を
   受光装置に受光させて結像させるための受光対物レンズ
   （１５）と、半導体レーザー（１０）と前記受光装置と
   の間に内部参照経路を生じさせるための切換え可能な光
   線転向装置（２８）と、対象物（１６）にたいして測定
   された距離を検出し表示するための電子評価回路（２
   ５）とを備えた距離測定装置において、測定光線が、２
   ナノセカンド以下のパルス幅の励起パルスによりパルス
   変調されていることを特徴とする距離測定装置。
2. 【請求項２】受光装置が、光電変換器（２４）を接続し
   た光導体（１７’）を有し、光導体（１７’）が、その
   延在態様に関し複数回湾曲している（２３）ことを特徴
   とする、請求項１に記載の距離測定装置。
3. 【請求項３】電子傾斜計（３４）が設けられ、その測定
   軸線が、コリメーター対物レンズ（１２）の光軸（１
   ３）に平行に指向されていることを特徴とする、請求項
   １または２に記載の距離測定装置。
4. 【請求項４】２軸の電子傾斜計（３４）が設けられ、そ
   の一方の軸線はコリメーター対物レンズ（１２）の光軸
   （１３）に平行に指向され、他の軸線はこれにたいして
   垂直で、且つコリメーター対物レンズ（１２）及び受光
   対物レンズ（１５）の光軸（１３，１４）によって形成
   される面にたいして平行に指向されていることを特徴と
   する、請求項１から３までのいずれか１つに記載の距離
   測定装置。
5. 【請求項５】デジタル磁気コンパス（３５）が設けら
   れ、その方位参照方向は、コリメーター対物レンズ（１
   ２）の光軸（１３）に平行に指向されていることを特徴
   とする、請求項１から４までのいずれか１つに記載の距
   離測定装置。
6. 【請求項６】傾斜計（３４）及び（または）コンパス
   （３５）の出力信号が、付加的な入力信号として評価装
   置（２５）に送られることを特徴とする、請求項３から
   ５までのいずれか１つに記載の距離測定装置。
7. 【請求項７】傾斜計（３４）の出力信号が、視準された
   測定光束（１１）を水平化するために能動的な光学的ま
   たは機械的調整要素に送られることを特徴とする、請求
   項３または４に記載の距離測定装置。
8. 【請求項８】射出する測定光束（１１）に差し込み可能
   なプリズム（４０，４１，４３）が設けられていること
   を特徴とする、請求項１から７までのいずれか１つに記
   載の距離測定装置。