JP3634719B2 - Af機能を有する光波測距儀 - Google Patents

Af機能を有する光波測距儀 Download PDF

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Description

【0001】
【技術分野】
本発明は、視準望遠鏡のAF機能を有する光波測距儀に関する。
【0002】
【従来技術及びその問題点】
各種測量機における距離の測定は、一般に測定対象物に投光される送光と反射光の位相差及び内部参照光での初期位相、又は送光と反射光の時間差から距離を演算する光波距離計によって行われている。
【0003】
この光波距離計は一般に、視準望遠鏡の対物レンズの後方に光軸中心上に位置する送光ミラーを配置して、対物レンズの瞳中心から測距光を送光している。測定対象物からの反射光は、送光ミラーの周辺部を透過した反射光が波長選択フィルタ及び受光ミラーを介して捕捉される。
【0004】
この光波距離計では、測定対象物が近距離になるにつれて、該測定対象物からの反射光が送光ミラーによってけられる現象が生じ、受光素子への入射光量が低下するという問題がある。入射光量が低下すると、測距精度が低下する。従来、この近距離測定における受光素子への入射光量の低下及びそれに伴う測距精度の低下を防止するために、各種の提案がなされている。
【0005】
一方、測量機においても視準望遠鏡のAF化が進行している。AF装置として広く用いられている位相差方式のAF装置は、視準望遠鏡の対物レンズ上に設定された異なる一対の瞳範囲を通過した光束により結像された一対の像の相関関係(位相差)からピント位置を検出し、この検出結果に基づき視準望遠鏡を合焦させるものである。
【0006】
ところが、この位相差方式のAF装置を光波距離計に組み込むと、近距離測定における受光素子への入射光量の低下及びそれに伴う測距精度の低下の問題の解決が困難になる。
【0007】
【発明の目的】
本発明は、光波距離計を有する測量機をAF化するについての以上の問題意識に基づき、近距離測定における受光素子への入射光量及び測距精度の低下の問題を解決できるAF機能を有する光波測距儀を得ることを目的とする。
【0008】
【発明の概要】
本発明によるAF機能を有する光波測距儀は、測定対象物を視準する視準望遠鏡;この視準望遠鏡の対物レンズの後方の光軸上に位置する反射部材を介して測距光を送光する送光系と、測定対象物からの反射光のうち反射部材でけられない反射光を受光する受光系とを有する光波距離計;視準望遠鏡の対物レンズ上に設定された異なる一対の瞳範囲を通過した光束により結像された一対の像でピント位置を検出する位相差方式の焦点検出手段;及び測定対象物からの反射光を上記光波距離計の受光系の光軸側に屈曲させる、対物レンズ上の一対の瞳範囲以外に位置させた反射、屈折または回折の一以上の作用を有する光学部材;を備えたことを特徴としている。
【0009】
反射、屈折または回折の一以上の作用を有する光学部材は、対物レンズ上の一対の瞳範囲の間に配置することができる。
【0010】
光波測距儀では、対物レンズの後方に、測距光の測定対象物からの反射光を反射する波長選択ミラーを設けるのが普通に行われており、反射、屈折または回折の一以上の作用を有する光学部材は、例えばこの波長選択ミラー上の瞳範囲の間に設けることができる。
【0011】
【発明の実施の形態】
図1ないし図6は、本発明によるAF機能を有する光波測距儀を測量機に適用した一実施形態を示している。視準望遠鏡10は、図1に示すように、物体側(前方)から順に、対物レンズ11、焦点調節レンズ18、正立光学系(ポロプリズム)12、焦点板13、及び接眼レンズ14を備えている。焦点板13上には、その中心に、視準の際の目印となる十字線ヘアライン(視準線)15が描かれている。焦点調節レンズ18は光軸方向に可動であり、測定対象物16の距離に応じて位置調節することにより、その像を正しく焦点板13の対物レンズ11側の表面に結像させる。観察者は、この焦点板13上の像を接眼レンズ14を介して拡大観察する。
【0012】
視準望遠鏡10の対物レンズ11の後方には、光波距離計20の構成要素である送受光ミラー(反射部材)21と、測距光を反射し可視光を透過する波長選択ミラー(波長選択フィルター)22とが順に配置されている。送受光ミラー21は、対物レンズ11の光軸上に斜めに位置する平行平面ミラーからなり、その対物レンズ11側の面が送光ミラー21a、波長選択ミラー22側の面が受光ミラー21bを構成している。
【0013】
光波距離計20の発光素子(LD)23は、特定波長の測距光を発し、この測距光は、コリメータレンズ24及び固定ミラー25を介して、送光ミラー21aに入射する。送光ミラー21aに入射した測距光は、対物レンズ11の光軸上を進む。
【0014】
波長選択ミラー22は、測定対象物16で反射し対物レンズ11を透過した測距光をさらに反射させて受光ミラー21bに戻す作用をし、受光ミラー21bは、その反射光を受光ファイバ26の入射端面26aに入射させる。27は、受光ファイバ26を保持するホルダであり、送受光ミラー21とともに、図示しない固定手段によって、対物レンズ11の後方の空間に固定されている。
【0015】
発光素子23と固定ミラー25の間の測距光路上には、切換ミラー28と送光用NDフィルタ29が配置されている。切換ミラー28は、発光素子23からの測距光を固定ミラー25に与えるか、直接受光ファイバ26の入射端面26aに与えるかの切換を行うものである。送光用NDフィルタ29は、測定対象物16に投光する測距光の光量調節用である。
【0016】
受光ファイバ26の出射端面26bと受光素子31との間には、集光レンズ32、受光用NDフィルタ33及びバンドパスフィルタ34が順に配置されている。受光素子31は、演算制御回路40に接続され、演算制御回路40は、切換ミラー28のアクチュエータ41と測距結果表示器42に接続されている。
【0017】
以上の光波距離計20は、周知のように、演算制御回路40がアクチュエータ41を介して切換ミラー28を駆動し、発光素子23からの測距光を固定ミラー25に与える状態と、受光ファイバ26の入射端面26aに直接与える状態とを作り出す。固定ミラー25に与えられた測距光は、上述のように、送光ミラー21aと対物レンズ11を介して測定対象物16に投光され、その反射光が対物レンズ11、波長選択ミラー22及び受光ミラー21bを介して入射端面26aに入射する。そして、この測定対象物16で反射して受光ファイバ26の入射端面26aに入射する測距光と、切換ミラー28を介して入射端面26aに直接与えられた内部参照光とが受光素子31によって受光され、演算制御回路40が測距光と内部参照光の位相差または時間差を検出し、測定対象物16迄の距離を演算して、測距結果表示器42に表示する。測距光と内部参照光の位相差または時間差による測距演算は周知である。
【0018】
ポロプリズム12には、光路分割面が形成されていて、その分割光路上に、位相差方式のAF検出ユニット(焦点検出手段)50が配置されている。このAF検出ユニット50は、焦点板13と光学的に等価な焦点検出面51の焦点状態、すなわち、前ピン、後ピンなどのデフォーカス量を検出するもので、図2にその概念図を示す。焦点検出面51上に結像する対物レンズ11による物体像は、集光レンズ52及び基線長だけ離して配置した一対のセパレータレンズ(結像レンズ)53によって分割され、この分割された一対の像は一対のCCDラインセンサ54上に再結像する。ラインセンサ54は多数の光電変換素子を有し、各光電変換素子が、受光した物体像を光電変換して光電変換した電荷を積分(蓄積)し、積分した電荷をAFセンサデータとして出力し、演算制御回路40に入力する。演算制御回路40は、一対のAFセンサデータに基づいて、所定のデフォーカス演算によってデフォーカス量を算出し、レンズ駆動手段43を介して、対物レンズ11を合焦位置に移動させる。このようなデフォーカス演算は当業者周知である。演算制御回路40には、AF開始スイッチ44と測距開始スイッチ45が接続されている。
【0019】
以上のAF検出ユニット50は、各ラインセンサ54に結像する一対の像を基準に考えると、対物レンズ11上において異なる一対の瞳範囲11A、11Bを通過した光束によりラインセンサ54上に結像された一対の像でピント位置を検出することになる。瞳範囲11Aと11Bの瞳範囲の形状は、各セパレータレンズ53の近傍にそれぞれ配置するマスク55によって設定することができる。なお、図1ないし図4におけるハッチングは、この一対の瞳範囲に対応する部分(光路)を概念的に示している。
【0020】
図3は、対物レンズ11上のこの瞳範囲11Aと11Bの位置関係、及び光波距離計20の送受光ミラー21と受光ファイバ26(ファイバフォルダ27)の位置関係を示している。瞳範囲11Aと11Bの位置、形状及び方向は、AF検出ユニット50の集光レンズ52、セパレータレンズ53、マスク55、ラインセンサ54の多数の光電変換素子より、AF性能を満足する値に定められているが、方向(対物レンズ11の中心に対する瞳範囲の方向)は比較的自由に設定することができる。また、一対の瞳範囲11A、11Bは、送光ミラー21aを反射した測距光の光路と干渉しない位置に設けられている。別言すると、図3に示すように、一対の瞳範囲11A、11Bに干渉しない位置に送受光ミラー21が配設されている。
【0021】
本実施形態は、例えば以上の構成を有する測量機において、測定対象物16で反射した測距光、特に近距離の測定対象物16で反射した測距光を受光ファイバ26の入射端面26aに十分な光量で入射させるため、波長選択ミラー22に、測距光を光軸方向に反射屈曲させるフレネルミラー19を設けたものである。そして、このフレネルミラー19は、AF検出ユニット50によるAF精度に悪影響を及ぼさないように、図4に示すように、一対の瞳範囲11A’、11B’の間に位置させて、両瞳範囲に干渉しないように、光軸を挟んで2カ所設けられている。
【0022】
図5、図6は、このフレネルミラー19によって屈曲された測距光の進路を示している。図5では、測定対象物16で反射した測距光の受光ファイバ26への入射の様子を示すため、図1における波長選択ミラー22(フレネルレンズ19)及び受光ミラー21bを省略し(反射光路を直進光路として示し)、それらの位置だけをそれぞれ符号22’と19’で示している。また、図5、図6におけるハッチングは測定対象物16で反射した反射光の光路を示しており、波長選択ミラー22にフレネルレンズ19が存在しない場合の測距光の上光線をxで示している。この図から明らかなように、フレネルレンズ19が存在することにより、同測距光は光軸側に偏角θ°だけ屈曲され、その結果、測距光は、受光ファイバ26の入射端面26aに確実に入射する。
【0023】
フレネルミラー19の大きさとパワーは、一対の瞳範囲11A’、11B’に干渉しない範囲で、受光ファイバ26の入射端面26aに十分な光量で入射するように大きさを決定することが好ましい。
【0024】
上記構成の本AF機能を有する光波測距儀の動作例を説明すると次の通りである。
第1ステップ
視準望遠鏡10に付属した不図示の視準器から測定対象物16を覗き、視準望遠鏡10の光軸を概ね測定対象物16に合致させる。
第2ステップ
AF開始スイッチ44を押して上述のAF動作を実行し、焦点調節レンズ18を合焦位置に移動させる。
第3ステップ
合焦状態で、接眼レンズ14を覗き、焦点板13の十字線ヘアライン15を正確に測定対象物16に一致させる。このように十字線ヘアライン15を正確に測定対象物16に一致させることにより、光波距離計20の測距光を正しく測定対象物16に投光することができる。
第4ステップ
測距開始スイッチ45を押して光波距離計20による上述の測距動作を実行し、測距結果表示器42に測距結果を表示する。
【0025】
このような測距動作において、測定距離が近距離の場合であっても、測定対象物16で反射した測距光は、波長選択ミラー22で反射する際、フレネルミラー19によって受光ファイバ26の入射端面26aに入射するように光軸側に屈曲されるため受光素子31へ十分な光量で入射する。そのため測距精度の低下がない。なお測定距離が遠距離になるにつれて、測定対象物16での反射光はより緩い角度で対物レンズ11に入射するため、フレネルミラー19の有無に拘わらず、十分受光ファイバ26に入射するため、測距精度の低下の問題は生じない。また、フレネルミラー19は、一対の瞳範囲11A’、11B’の間に配設されているため、対応する一対の瞳範囲11A、11Bを通過した光束を利用するAF検出ユニット50に悪影響を及ぼすことはなく、AF動作に支障をきたさない。また、送受光ミラー21は、前述の通り、一対の瞳範囲11A、11Bに干渉しない位置に設けられているため、AF機能の性能を低下させることがない。
【0026】
図7、図8は本実施形態の比較例を示している。図7は、図5と同様に、波長選択ミラー22を省略し、その位置だけを22’で示している。本比較例では、対物レンズ11と波長選択ミラー22の間に補正プリズム60を配置して、近距離測定時における測定対象物16で反射した測距光の一部を該補正プリズム60によって光軸側に屈曲させている。この比較例では、該測距光を受光ファイバ26に確実に入射させることができるが、この光波測距儀に位相差方式のAF装置を組み込んだ場合、補正プリズム60は一対の瞳範囲11A、11Bと干渉してしまい、AF動作に支障をきたす。従って、この補正プリズムを用いた光波測距儀をAF化することは困難である。
【0027】
以上の実施形態では、波長選択ミラー22に設ける光学部材としてフレネルミラーを使用したが、他の反射部材でもよい。また、受光系の光軸方向への屈曲作用を有する光学部材であれば、反射以外の屈折または回折作用を有する光学部材を使用することができる。反射部材に代えて透光部材を用いることもできる。
【0028】
なお、正立光学系としてのポロプリズム12あるいはAF検出ユニット50への分岐光学系は、種々の変形例が知られており、本発明は以上の実施例に限定されない。
【0029】
【発明の効果】
以上のように本発明は、光波距離計を有する測量機をAF化するにつき、近距離測定における受光素子への入射光量及び測距精度の低下の問題を解決できるAF機能を有する光波測距儀を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるAF機能を有する光波測距儀を測量機に適用した一実施形態を示す系統接続図である。
【図2】図1のII矢視図であって、焦点検出手段(AFユニット、位相差方式焦点検出手段)の概念図である。
【図3】図1のIII‐III線から見た、焦点検出手段の対物レンズ上の一対の瞳範囲と、送受光ミラー及び受光ファイバとの位置関係を示す図である。
【図4】図1のIV−IV線から見た、波長選択フィルタ上の一対の瞳範囲とフレネルミラーとの位置関係を示す図である。
【図5】光波距離計の光学系の展開図である。
【図6】図5の受光ファイバの入射端面近傍を拡大して示す図である。
【図7】比較例を示す図5に対応する図である。
【図8】比較例における対物レンズ上の一対の瞳範囲と、補正プリズム、送受光ミラー及び受光ファイバとの位置関係を示す図である。
【符号の説明】
10 視準望遠鏡
11A 11B 瞳範囲
11C AF不感帯
12 ポロプリズム(正立光学系)
13 焦点板
14 接眼レンズ
15 十字線ヘアライン(視準線)
16 測定対象物
18 負のパワーの焦点調節レンズ
19 フレネルミラー(光学部材)
20 光波距離計
21 送受光ミラー(反射部材)
21a 送光ミラー
21b 受光ミラー
22 波長選択ミラー(波長選択フィルタ)
23 発光素子
24 コリメータレンズ
25 固定ミラー
26 受光ファイバ
26a 入射端面
26b 出射端面
27 ファイバフォルダ
28 切換ミラー
29 送光用NDフィルタ
31 受光素子
32 集光レンズ
33 受光用NDフィルタ
34 バンドパスフィルタ
40 演算制御回路
41 アクチュエータ
42 測距結果表示器
43 レンズ駆動手段
44 AF開始スイッチ
45 測距開始スイッチ
50 AF検出ユニット(位相差方式焦点検出手段)
51 焦点検出面
52 集光レンズ
53 セパレータレンズ
54 ラインセンサ
55 マスク

Claims (3)

  1. 測定対象物を視準する視準望遠鏡;
    この視準望遠鏡の対物レンズの後方の光軸上に位置する反射部材を介して測距光を送光する送光系と、測定対象物からの反射光のうち上記反射部材でけられない反射光を受光する受光系とを有する光波距離計;
    ラインセンサ、セパレータレンズ及びマスクを有し、該ラインセンサ、該セパレータレンズ及び該マスクによって設定された異なる一対の瞳範囲を通過した光束により結像された一対の像でピント位置を検出する位相差方式の焦点検出手段;及び
    上記一対の瞳範囲に干渉しない位置に設けられ、上記測定対象物からの反射光を上記光波距離計の受光系の光軸側に屈曲させる、反射、屈折または回折の一以上の作用を有する光学部材;
    を備えたことを特徴とするAF機能を有する光波測距儀。
  2. 請求項1記載のAF機能を有する光波測距儀において、上記反射、屈折または回折の一以上の作用を有する光学部材は、上記一対の瞳範囲の間に位置するAF機能を有する光波測距儀。
  3. 請求項1または請求項2記載のAF機能を有する光波測距儀において、対物レンズの後方に、測距光の測定対象物からの反射光を反射する波長選択ミラーが設けられており、この波長選択ミラー上の瞳範囲の間に上記反射、屈折または回折の一以上の作用を有する光学部材が設けられているAF機能を有する光波測距儀。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004023998A1 (de) * 2004-05-14 2005-12-08 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zur optischen Distanzmessung
DE102005037251A1 (de) * 2005-08-08 2007-02-15 Robert Bosch Gmbh Messgerät
US7446860B1 (en) * 2006-09-18 2008-11-04 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Laser fresnel distance measuring system and method
JP4928338B2 (ja) * 2007-04-26 2012-05-09 浜松ホトニクス株式会社 光波距離計
EP2944919B1 (de) 2014-05-13 2020-01-22 Leica Geosystems AG Geodätisches gerät mit diffraktiven optischen elementen
JP6548754B2 (ja) * 2018-01-09 2019-07-24 キヤノン株式会社 光学装置、それを備える車載システム及び移動装置
US11480664B2 (en) * 2019-06-05 2022-10-25 Pixart Imaging Inc. Optical detection device of detecting a distance relative to a target object

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH606991A5 (ja) * 1976-12-03 1978-11-30 Wild Heerbrugg Ag
DD200930A1 (de) * 1981-07-01 1983-06-22 Wieland Feist Optische anordnung fuer elektrooptische entfernungsmesser
CH674675A5 (ja) * 1987-10-23 1990-06-29 Kern & Co Ag
JPH03100535A (ja) * 1989-09-13 1991-04-25 Minolta Camera Co Ltd カメラのピント検出用光電変換装置
DE4316348A1 (de) 1993-05-15 1994-11-17 Wild Heerbrugg Ag Vorrichtung zur Distanzmessung
JP3523368B2 (ja) 1995-05-12 2004-04-26 ペンタックス株式会社 光波距離計
JP3151595B2 (ja) 1995-06-19 2001-04-03 株式会社ソキア 同軸型光波測距計
JPH09105625A (ja) 1995-10-13 1997-04-22 Topcon Corp 距離測定装置
JPH09243747A (ja) * 1996-03-11 1997-09-19 Nikon Corp 測距装置
DE19710722C2 (de) 1996-03-15 2003-06-05 Pentax Corp Automatische Fokussiereinrichtung für ein Fernrohr
US5923468A (en) 1996-07-01 1999-07-13 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Surveying instrument having an automatic focusing device
US5949548A (en) 1997-01-22 1999-09-07 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Height sensing measurement device
JP3569426B2 (ja) * 1997-12-05 2004-09-22 ペンタックス株式会社 測量用反射部材
JP3445491B2 (ja) 1998-04-10 2003-09-08 ペンタックス株式会社 測量機
JP3174551B2 (ja) 1998-06-11 2001-06-11 旭光学工業株式会社 焦点調節レンズ位置検出装置
JP2000329517A (ja) * 1999-05-21 2000-11-30 Topcon Corp 距離測定装置

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