JP3158418B2 - チップ型電子部品の挟持装置 - Google Patents
チップ型電子部品の挟持装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、コンデンサ等のチップ型の電子部品の特性
測定時に、チップ型電子部品の両端の端子部を中間電極
を用いて押圧保持するチップ型電子部品の挟持装置に関
する。
測定時に、チップ型電子部品の両端の端子部を中間電極
を用いて押圧保持するチップ型電子部品の挟持装置に関
する。
従来の技術 以下第３図および第４図に基づいて従来のチップ型電
子部品の挟持装置の一例について説明する。
子部品の挟持装置の一例について説明する。
第３図において、１はチップ型電子部品（以下素子と
いう）、２は素子１に形成された端子部、３は素子１を
保持する樹脂製の素子保持ブロック、４は素子保持ブロ
ック３を固定しているテーブルで、素子保持ブロック３
ごと素子１の搬送も行う。５は端子部２を介して素子１
を押圧するためのコンタクトプローブ、６はコンタクト
プローブ５の接続ケーブル、７はコンタクトプローブ５
を固定している樹脂製のホルダー、８はホルダー７を移
動させるためのスライドブロック、９はスライドブロッ
ク８の案内のスライドシャフト、10は左右のコンタクト
プローブ５を左右均等に同時に動かすための連結アーム
で、スライドブロック８に軸11により回転自在に取付ら
れている。12は連結アーム10の関節をガイドする案内溝
13を有し、スライドシャフト９を保持する治具本体、14
は連結アーム10を動かすためのプッシャーであり、プッ
シャー14が素子１の両端の端子部２の対向する方向に動
くことによりコンタクトプローブ５が素子１を挟持また
は開放する。15はアーム10の関節部の支点ピンで、治具
本体12の案内溝13にはめ込まれ、案内溝13に沿って上下
する。16は圧縮ばね17の先端に取付られた素子押えで挟
持動作時の素子の飛び出しを防止するもので、18は圧縮
ばね17と素子押え16を案内する筒である。19は治具本体
12を固定しているテーブルであり、テーブル４が移動す
る時にはテーブル19は上昇する。
いう）、２は素子１に形成された端子部、３は素子１を
保持する樹脂製の素子保持ブロック、４は素子保持ブロ
ック３を固定しているテーブルで、素子保持ブロック３
ごと素子１の搬送も行う。５は端子部２を介して素子１
を押圧するためのコンタクトプローブ、６はコンタクト
プローブ５の接続ケーブル、７はコンタクトプローブ５
を固定している樹脂製のホルダー、８はホルダー７を移
動させるためのスライドブロック、９はスライドブロッ
ク８の案内のスライドシャフト、10は左右のコンタクト
プローブ５を左右均等に同時に動かすための連結アーム
で、スライドブロック８に軸11により回転自在に取付ら
れている。12は連結アーム10の関節をガイドする案内溝
13を有し、スライドシャフト９を保持する治具本体、14
は連結アーム10を動かすためのプッシャーであり、プッ
シャー14が素子１の両端の端子部２の対向する方向に動
くことによりコンタクトプローブ５が素子１を挟持また
は開放する。15はアーム10の関節部の支点ピンで、治具
本体12の案内溝13にはめ込まれ、案内溝13に沿って上下
する。16は圧縮ばね17の先端に取付られた素子押えで挟
持動作時の素子の飛び出しを防止するもので、18は圧縮
ばね17と素子押え16を案内する筒である。19は治具本体
12を固定しているテーブルであり、テーブル４が移動す
る時にはテーブル19は上昇する。
なお、挟持部は第４図のように複数個の素子１を素子
保持ブロック３の溝巾Ａに挿入可能な位置に配列された
複数のコンタクトプローブ５によって同時に挟持するよ
うな構成となっている。
保持ブロック３の溝巾Ａに挿入可能な位置に配列された
複数のコンタクトプローブ５によって同時に挟持するよ
うな構成となっている。
発明が解決しようとする課題 しかしながら上記の構成では、同一素子の各特性値を
測定するために素子保持ブロック３は各測定位置間を移
動し、挟持動作の繰返しを行うため挟持状態の変動によ
り測定エラーが生じ易いという課題と、素子を複数個挟
持するにはコンタクトプローブ５が素子保持ブロック３
の溝巾Ａの中に正確に挿入されることが必要であり、高
速で挟持動作を行う場合にコンタクトプローブ５が振動
等により溝巾Ａに挿入されず、コンタクトプローブ５が
破損するというトラブルが起り易いという課題と、素子
の寸法が変ったとき素子保持ブロック３を必らず交換し
なければならないという課題と、上方より素子を押える
素子押え16があるため素子の挟持状態の上方からの監視
が困難であるというメンテナンス上の課題があった。
測定するために素子保持ブロック３は各測定位置間を移
動し、挟持動作の繰返しを行うため挟持状態の変動によ
り測定エラーが生じ易いという課題と、素子を複数個挟
持するにはコンタクトプローブ５が素子保持ブロック３
の溝巾Ａの中に正確に挿入されることが必要であり、高
速で挟持動作を行う場合にコンタクトプローブ５が振動
等により溝巾Ａに挿入されず、コンタクトプローブ５が
破損するというトラブルが起り易いという課題と、素子
の寸法が変ったとき素子保持ブロック３を必らず交換し
なければならないという課題と、上方より素子を押える
素子押え16があるため素子の挟持状態の上方からの監視
が困難であるというメンテナンス上の課題があった。
本発明は上記課題を解決するもので、素子保持ブロッ
クが各測定位置間を移動する度に挟持動作を繰返して行
う必要がなく、高速で挟持動作を行っても誤動作の恐れ
がなく、素子の幅方向の寸法が多少変っても素子保持ブ
ロックを交換する必要がなく、しかも挟持状態の監視が
容易なチップ型電子部品の挟持装置を提供することを目
的とする。
クが各測定位置間を移動する度に挟持動作を繰返して行
う必要がなく、高速で挟持動作を行っても誤動作の恐れ
がなく、素子の幅方向の寸法が多少変っても素子保持ブ
ロックを交換する必要がなく、しかも挟持状態の監視が
容易なチップ型電子部品の挟持装置を提供することを目
的とする。
課題を解決するための手段 上記目的を達成するために本発明では、中心が略一直
線上で、両端の端子部の対向する方向がそれぞれ略平行
に配列された複数個の素子を保持する素子保持ブロック
と、この電子部品の両端の端子部に対向する方向と直交
する方向であって、前記素子保持ブロックの外側に平行
リンク機構を設け、前記素子の両端の端子部の外側に対
向に設置され、かつ、前記平行リンク機構の動きに伴っ
て、前記両端の端子部の対向する方向に接近し、素子を
挟持する一対の中間電極とからなり、前記素子保持ブロ
ックと前記素子とは、素子の並ぶ方向の少なくとも片側
に隙間を有して保持され、前記電子部品は、前記中間電
極を介して、第１のスプリングのバネ力によって挟持さ
れ、素子との当り面が前記端子部より広くかつ前記素子
の方へ延出した延出部を有し、前記一対の中間電極の中
心が前記素子の中心と略一致し、前記平行リンク機構
は、前記素子が挟持された時の状態を保持するための第
２のスプリングを設けた構造としたものである。
線上で、両端の端子部の対向する方向がそれぞれ略平行
に配列された複数個の素子を保持する素子保持ブロック
と、この電子部品の両端の端子部に対向する方向と直交
する方向であって、前記素子保持ブロックの外側に平行
リンク機構を設け、前記素子の両端の端子部の外側に対
向に設置され、かつ、前記平行リンク機構の動きに伴っ
て、前記両端の端子部の対向する方向に接近し、素子を
挟持する一対の中間電極とからなり、前記素子保持ブロ
ックと前記素子とは、素子の並ぶ方向の少なくとも片側
に隙間を有して保持され、前記電子部品は、前記中間電
極を介して、第１のスプリングのバネ力によって挟持さ
れ、素子との当り面が前記端子部より広くかつ前記素子
の方へ延出した延出部を有し、前記一対の中間電極の中
心が前記素子の中心と略一致し、前記平行リンク機構
は、前記素子が挟持された時の状態を保持するための第
２のスプリングを設けた構造としたものである。
作用 上記の手段によれば、平行リンク機構の動きに伴っ
て、一対の中間電極が接近し第１のスプリングのバネ力
によって素子を両端の端子部の対向する方向に押圧し挟
持する。いったん挟持が行われると平行リンク機構を強
制的に拡開しない限りスプリングにより挟持状態が継続
し、複数位置における特性測定の度に挟持動作を繰返す
必要がなく、素子の端子部より大きな当り面を持つ中間
電極で挟持を行うので高速で挟持を行っても挟持を失敗
することはない。また素子位置決めブロックは素子を素
子の配列方向の少なくとも片側に隙間を有して位置決め
を行うようになっているので、素子の配列方向の寸法が
多少変っても素子保持ブロックを交換する必要がない。
さらに上部からの素子押え機構がないので挟持状態の監
視が容易でメンテナンス性がよく、しかも中間電極が素
子の方へ延出した延出部を有するので素子が浮上ること
はない。
て、一対の中間電極が接近し第１のスプリングのバネ力
によって素子を両端の端子部の対向する方向に押圧し挟
持する。いったん挟持が行われると平行リンク機構を強
制的に拡開しない限りスプリングにより挟持状態が継続
し、複数位置における特性測定の度に挟持動作を繰返す
必要がなく、素子の端子部より大きな当り面を持つ中間
電極で挟持を行うので高速で挟持を行っても挟持を失敗
することはない。また素子位置決めブロックは素子を素
子の配列方向の少なくとも片側に隙間を有して位置決め
を行うようになっているので、素子の配列方向の寸法が
多少変っても素子保持ブロックを交換する必要がない。
さらに上部からの素子押え機構がないので挟持状態の監
視が容易でメンテナンス性がよく、しかも中間電極が素
子の方へ延出した延出部を有するので素子が浮上ること
はない。
実施例 以下、本発明の一実施例について第１図と第２図を参
照して説明する。
照して説明する。
第１図はチップ型電子部品の挟持装置の正面図、第２
図は第１のスプリングによる押圧機構と中間電極および
スライド機構部の拡大断面図である。
図は第１のスプリングによる押圧機構と中間電極および
スライド機構部の拡大断面図である。
これらの図において、第３図および第４図における部
分と同一部分については同じ番号を付して説明を省略
し、その他の部分について以下説明する。
分と同一部分については同じ番号を付して説明を省略
し、その他の部分について以下説明する。
20は素子１を素子１の配列方向の少なくとも片側に隙
間を有して位置決めし保持する絶縁物の素子保持ブロッ
ク、21は素子１の両端の端子部の対向する方向と直交す
る方向であって、素子保持ブロック20の外側に設けられ
た平行リンク機構、21a〜21dは平行リンク機構21を構成
するアーム、22は平行リンク機構21のリンクの支点ピン
を兼ねたガイドピンで、素子１の中心と後述の一対の中
間電極の中心とを略一致させるためのものである。23は
ガイドピン22を案内する長孔、24は後述の素子押圧機構
に押圧力を与えると同時に平行リンク機構21を縮小した
状態に保持するため第２のスプリング、25はスライド機
構で、第２図にその周辺を含め詳細を示す。
間を有して位置決めし保持する絶縁物の素子保持ブロッ
ク、21は素子１の両端の端子部の対向する方向と直交す
る方向であって、素子保持ブロック20の外側に設けられ
た平行リンク機構、21a〜21dは平行リンク機構21を構成
するアーム、22は平行リンク機構21のリンクの支点ピン
を兼ねたガイドピンで、素子１の中心と後述の一対の中
間電極の中心とを略一致させるためのものである。23は
ガイドピン22を案内する長孔、24は後述の素子押圧機構
に押圧力を与えると同時に平行リンク機構21を縮小した
状態に保持するため第２のスプリング、25はスライド機
構で、第２図にその周辺を含め詳細を示す。
第２図において、26はスライド機構25のスライダで、
素子１の両端の端子部２の対向する方向に設けられた一
対のスライダが平行リンク機構21により連結されている
（第２図では図示せず）。27はスライダ26を案内するガ
イド軸、28は素子１の両端の端子部２の対向する方向の
ばらつきに関係なく第２のスプリング24の押圧力を後述
の中間電極に伝えるための第１のスプリング、29は押圧
軸、30は軟銅製で素子１の方へ延出した延出部である素
子浮上り防止の突起30aを有する中間電極、31は押圧軸2
9と中間電極30を絶縁する絶縁板である。
素子１の両端の端子部２の対向する方向に設けられた一
対のスライダが平行リンク機構21により連結されている
（第２図では図示せず）。27はスライダ26を案内するガ
イド軸、28は素子１の両端の端子部２の対向する方向の
ばらつきに関係なく第２のスプリング24の押圧力を後述
の中間電極に伝えるための第１のスプリング、29は押圧
軸、30は軟銅製で素子１の方へ延出した延出部である素
子浮上り防止の突起30aを有する中間電極、31は押圧軸2
9と中間電極30を絶縁する絶縁板である。
上記構成において、素子保持ブロック20は第４図に示
した従来例と同様に複数個（本実施例では16個）の素子
を保持可能で、この素子１の両端の端子部２の対向する
方向と直交する方向であって、素子保持ブロック20の外
側に平行リンク機構が設けられており、スライダ26は素
子保持ブロック20の素子１の両端の端子部２の対向する
方向の両側を、素子１の配列方向に貫通しており、平行
リンク機構21に係合している。押圧軸29は素子１の配列
方向に貫通したスライダに個々の素子に単独に対応し
て、その数だけ素子１の両端の端子部２の対向する方向
に対で設けられている。
した従来例と同様に複数個（本実施例では16個）の素子
を保持可能で、この素子１の両端の端子部２の対向する
方向と直交する方向であって、素子保持ブロック20の外
側に平行リンク機構が設けられており、スライダ26は素
子保持ブロック20の素子１の両端の端子部２の対向する
方向の両側を、素子１の配列方向に貫通しており、平行
リンク機構21に係合している。押圧軸29は素子１の配列
方向に貫通したスライダに個々の素子に単独に対応し
て、その数だけ素子１の両端の端子部２の対向する方向
に対で設けられている。
以下、上記構成の装置の動作について説明する。
第１図において素子保持ブロック20に素子１を並べて
保持させておき、平行リンク機構21を鉛直方向に開く
（平行リンク機構拡開機構は図示せず）と平行リンク機
構21は素子１の両端の端子部２の対向する方向には縮
み、一対のスライダ26が中央寄りに引き寄せられる。ス
ライダ26が中央寄りに前進すると、スライダ26に取付け
られ、第１のスプリング28で押されている押圧軸29と押
圧軸29の先端に取付けられた中間電極30が前進し、一対
の中間電極30が素子１の端子部２を第１のスプリング28
のバネ力によって押圧挟持する。平行リンク機構21は支
点ピンを兼ねたガイドピン22が長孔23によって素子１の
両端の端子部２の対向する方向には動きが拘束されてい
るので、素子１の中心と一対の中間電極30の中心とは常
に略一致している。したがって中間電極30によって挟持
された素子１の中心も素子保持ブロック20の中心と一致
する。
保持させておき、平行リンク機構21を鉛直方向に開く
（平行リンク機構拡開機構は図示せず）と平行リンク機
構21は素子１の両端の端子部２の対向する方向には縮
み、一対のスライダ26が中央寄りに引き寄せられる。ス
ライダ26が中央寄りに前進すると、スライダ26に取付け
られ、第１のスプリング28で押されている押圧軸29と押
圧軸29の先端に取付けられた中間電極30が前進し、一対
の中間電極30が素子１の端子部２を第１のスプリング28
のバネ力によって押圧挟持する。平行リンク機構21は支
点ピンを兼ねたガイドピン22が長孔23によって素子１の
両端の端子部２の対向する方向には動きが拘束されてい
るので、素子１の中心と一対の中間電極30の中心とは常
に略一致している。したがって中間電極30によって挟持
された素子１の中心も素子保持ブロック20の中心と一致
する。
この状態で治具本体12を固定しているテーブル19を鉛
直下方に移動させると、コンタクトプローブ５が中間電
極30に接触し間接的に素子１の端子部２に導通し測定が
行われる。測定が終了すると、テーブル19が上昇し、テ
ーブル４が移動して素子保持ブロック20が挟持された複
数個の素子１を載せたまゝ次の位置に移動する。
直下方に移動させると、コンタクトプローブ５が中間電
極30に接触し間接的に素子１の端子部２に導通し測定が
行われる。測定が終了すると、テーブル19が上昇し、テ
ーブル４が移動して素子保持ブロック20が挟持された複
数個の素子１を載せたまゝ次の位置に移動する。
挟持状態を解除するためには、平行リンク機構21の頂
点を鉛直下方に押せば平行リンク機構21が鉛直方向に縮
小し（リンク鉛直方向縮小装置は図示せず）、素子１の
両端の端子部２の対向する方向には拡開し、スライダ26
とそれに係合する中間電極30も素子１の両端の端子部２
の対向する方向に拡開し、素子１は素子保持ブロック20
の上で自由となる。
点を鉛直下方に押せば平行リンク機構21が鉛直方向に縮
小し（リンク鉛直方向縮小装置は図示せず）、素子１の
両端の端子部２の対向する方向には拡開し、スライダ26
とそれに係合する中間電極30も素子１の両端の端子部２
の対向する方向に拡開し、素子１は素子保持ブロック20
の上で自由となる。
発明の効果 以上の説明からも明らかなように本発明によれば、素
子は複数個の特性測定中、中間電極で挟持されたままで
あるから特性測定上挟持状態の影響を受けることがな
く、素子の端子部より大きな当り面を持つ中間電極で素
子の端子部を挟持するので挟持動作の失敗がなく、素子
の配列方向の少なくとも片側に隙間を設けてあるので、
素子の配列方向に多少の寸法差がある素子に対して素子
保持ブロックの交換の必要がなく、さらに上部からの押
え機構がないので挟持状態の監視が容易であり、素子の
方へ延出した延出部を有する浮上り防止の突起が中間電
極にあることから高速運動時にも素子の飛出しがなく、
高速運転が可能でメンテナンス性のよいチップ型電子部
品の挟持装置を実現できる。
子は複数個の特性測定中、中間電極で挟持されたままで
あるから特性測定上挟持状態の影響を受けることがな
く、素子の端子部より大きな当り面を持つ中間電極で素
子の端子部を挟持するので挟持動作の失敗がなく、素子
の配列方向の少なくとも片側に隙間を設けてあるので、
素子の配列方向に多少の寸法差がある素子に対して素子
保持ブロックの交換の必要がなく、さらに上部からの押
え機構がないので挟持状態の監視が容易であり、素子の
方へ延出した延出部を有する浮上り防止の突起が中間電
極にあることから高速運動時にも素子の飛出しがなく、
高速運転が可能でメンテナンス性のよいチップ型電子部
品の挟持装置を実現できる。
第１図は本発明の実施例におけるチップ型電子部品の挟
持装置の正面図、第２図は同装置の要部の拡大断面図、
第３図は従来の挟持装置の一部断面正面図、第４図は同
装置における挟持部分の平面図である。 １……チップ型電子部品、２……端子部、20……素子保
持ブロック、21……平行リンク、24、28……スプリン
グ、30……中間電極、30a……素子浮上り防止の突起。
持装置の正面図、第２図は同装置の要部の拡大断面図、
第３図は従来の挟持装置の一部断面正面図、第４図は同
装置における挟持部分の平面図である。 １……チップ型電子部品、２……端子部、20……素子保
持ブロック、21……平行リンク、24、28……スプリン
グ、30……中間電極、30a……素子浮上り防止の突起。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 実開 平１−167671（ＪＰ，Ｕ) 特許3024180（ＪＰ，Ｂ２) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/00 G01R 1/073 G01R 31/26 H01G 13/00
Claims (1)
- 【請求項１】中心が略一直線上で、両端の端子部の対向
する方向がそれぞれ略平行に配列された複数個のチップ
型電子部品を保持する素子保持ブロックと、この電子部
品の両端の端子部の対向する方向と直交する方向であっ
て、前記素子保持ブロックの外側に設けられた平行リン
ク機構と、前記電子部品の両端の端子部の外側に対向に
設置され、かつ、前記平行リンク機構の動きに伴って、
前記両端の端子部の対向する方向に接近し、チップ型電
子部品を挟持する一対の中間電極とからなり、前記素子
保持ブロックと前記電子部品とは、電子部品の並ぶ方向
の少なくとも片側に隙間を有して保持され、前記電子部
品は、前記中間電極を介して、第１のスプリングのバネ
力によって挟持され、電子部品との当り面が前記端子部
より広くかつ前記電子部品の方へ延出した延出部を有
し、前記一対の中間電極の中心が前記電子部品の中心と
略一致し、前記平行リンク機構は、前記電子部品が挟持
された時の状態を保持するための第２のスプリングを設
けたことを特徴とするチップ型電子部品の挟持装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20859690A JP3158418B2 (ja) | 1990-08-06 | 1990-08-06 | チップ型電子部品の挟持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20859690A JP3158418B2 (ja) | 1990-08-06 | 1990-08-06 | チップ型電子部品の挟持装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0495778A JPH0495778A (ja) | 1992-03-27 |
| JP3158418B2 true JP3158418B2 (ja) | 2001-04-23 |
Family
ID=16558824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20859690A Expired - Fee Related JP3158418B2 (ja) | 1990-08-06 | 1990-08-06 | チップ型電子部品の挟持装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3158418B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06275989A (ja) * | 1993-03-24 | 1994-09-30 | Murata Mfg Co Ltd | チップ部品測定用治具 |
| JPH0716118A (ja) * | 1993-06-24 | 1995-01-20 | Watt Kk | 衣服かけ及びこれに使用される三方継手 |
| JP3896186B2 (ja) * | 1997-03-17 | 2007-03-22 | 太陽誘電株式会社 | チップ状回路部品の計測装置 |
| JP5067894B2 (ja) * | 2009-03-26 | 2012-11-07 | アズビル株式会社 | 部材同士の位置合わせ装置 |
| JP6783062B2 (ja) * | 2015-04-08 | 2020-11-11 | 日置電機株式会社 | 測定用治具および補正値測定方法 |
| JP6675410B2 (ja) * | 2015-10-01 | 2020-04-01 | 株式会社Ｆｕｊｉ | 検査装置 |
| JP6666713B2 (ja) * | 2015-12-25 | 2020-03-18 | 株式会社アドバンテスト | デバイス測定用治具 |
-
1990
- 1990-08-06 JP JP20859690A patent/JP3158418B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0495778A (ja) | 1992-03-27 |
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