JP3024180B2 - チップ型電子部品の挟持装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、コンデンサ等のチップ形状の電子部品の特
性測定時に、チップ型電子部品の両端の端子部をコンタ
クトプローブで挟むチップ型電子部品の挟持装置に関す
る。

従来の技術 以下、第３図および第４図に基づいて、従来のチップ
型電子部品の挟持装置について説明する。

第３図において、１はチップ型電子部品（以下素子と
いう）、２は素子１に形成された端子部、３は素子１を
保持する樹脂製の素子保持ブロック、４は素子保持ブロ
ック３を固定し移動するテーブル、５は端子部２を介し
て素子１を押圧するためのコンタクトプローブ、６はコ
ンタクトプローブ５のケーブル、７はコンタクトプロー
ブ５を固定している樹脂製のホルダー、８はホルダー７
をスライドさせるためのスライドブロック、９はスライ
ドブロック８の案内のスライドシャフト、10は左右のコ
ンタクトプローブ５を均等に同時に動かすための連結ア
ームで、スライドブロック８に軸11により回転自在に取
付けられている。12は連結アーム10の関節を案内する案
内溝13を有し、スライドシャフト９を保持する治具本
体、14は連結アーム10を動かすためのプッシャーであ
り、プッシャー14が素子１の両端の端子部２の対向する
方向に動くことでコンタクトプローブ５が素子１を挟持
または開放する。15はアーム10の関節部の支点ピンで、
治具本体12の案内溝13に沿って上下に動く。16は圧縮ば
ね17の先端に取付けられた素子押えで、挟持動作時の素
子の飛び出しを防止する。18は素子押え16および圧縮ば
ね17を案内する筒、19は治具本体12を固定しているテー
ブルであり、テーブル４が移動する時にはテーブル19は
上昇する。

なお、挟持装置は第４図のように、複数個の素子１を
ブロック３の溝巾Ａに挿入可能な位置に配列された複数
のコンタクトプローブ５によって同時に挟持するような
構成になっている。

発明が解決しようとする課題 しかしながら上記の構成では、素子を複数個挟持する
にはコンタクトプローブ５が素子保持ブロック３の溝巾
Ａの中に正確に挿入されなければならず、高速で挟持動
作を行う時は、コンタクトプローブ５は振動等によって
溝巾Ａに入らない場合も発生し、コンタクトプローブが
破損するなどの動作不良が起こるという課題と、挟持動
作時に素子が飛び出さないようにするために設けられて
いる素子押え16があるために、コンタクトプローブ５の
挟持状態が上からよく見えずメンテナンス時の確認が困
難であるという課題があった。

本発明は上記従来の課題を解決するもので、高速で挟
持動作可能な、しかも挟持状態を監視できる挟持装置を
提供することを目的とする。

課題を解決するための手段 上記目的を達成するために本発明では、素子との当り
面が素子の端子部より広くかつ前記素子の方へ延出した
延出部を有する中間電極を板ばねの一端に取付け、中間
電極取付け板ばねの他端を固定し素子の長手方向の位置
規制を省略した素子を保持する樹脂製の素子保持ブロッ
クと、前記中間電極を押圧するコンタクトプローブと、
前記コンタクトプローブを前記素子に対して対称に運動
させるようにした連結アームとにより構成するものであ
る。

作用 本発明は上記した構成において、コンタクトプローブ
と素子の端子部との間に、チップ型電子部品の端子部よ
り広い当り面を持つ中間電極を使用することから、コン
タクトプローブによる挟持動作の狙い精度は大まかでよ
く挟持動作を高速化することができ、中間電極に電子部
品の方へ延出した延出部を設けることで挟持動作時の素
子の飛び出しを防止し、さらに上からの素子押えがない
ことから、挟持状態の目視確認が容易にできる。

実施例 以下本発明の一実施例について第１図および第２図の
図面を参照しながら説明する。

第１図は本発明の実施例のチップ型電子部品の挟持装
置の正面図、第２図はその要部拡大正面図である。これ
らの図において、第３図および第４図における部分と同
一部分については同じ番号を付して説明を省略し、その
他の部分について以下説明する。

20は素子１の長手方向の規制のない樹脂製の素子ブロ
ック、21は板ばね、22は板ばね21に装着されている軟鋼
製の素子浮上り防止の突起22aを有する中間電極であ
り、中間電極22はコンタクトプローブ５と素子１の間に
位置するように取付けられている。

以上のように構成された挟持装置について、以下その
動作を説明する。

第２図は開放状態の中間電極近傍の状態図である。コ
ンタクトプローブ５が中間電極22から離れた時は、板ば
ね21の作用によって中間電極22は素子１の長手寸法Ｌよ
り広がった状態になり、素子１の挿入取り出しが上方よ
り可能となる。第１図において、スライドブロック８
は、連結アーム10で結合されているため、コンタクトプ
ローブ５の素子１の両端の端子部２の対向する方向の動
きは均等でかつ同時に相反する方向に動く。したがっ
て、プッシャー14を押すことでコンタクトプローブ５は
挟持動作を行い、コンタクトプローブ５は中間電極22を
押し、中間電極22は素子の端子部２を押圧し素子１を挟
む。中間電極22は素子１の方へ延出した延出部である素
子浮上り防止の突起22aを有しており、素子の端子部２
に圧接した時に素子１が上方に飛び出さないように上か
らの押えとなる。

以上のように素子保持ブロック20に板ばね21に装着さ
れた、素子１の方へ延出した延出部である素子浮上り防
止の突起22aを有する間接電極22を設けることにより、
素子保持ブロック20の素子１の長手方向の規制を省略
し、素子１の長手方向は中間電極22で規制するため、素
子の端子部２全面を中間電極22で押圧することができ
る。コンタクトプローブ５は素子１の端子部２より大き
い中間電極22を押圧することになり、コンタクトプロー
ブ５の狙いずれの影響を受けることがなくなり、挟持不
良の恐れがないので、その分挟持動作の高速化が可能と
なる。さらに中間電極22に素子浮上り防止の突起22aを
設けたことから、第３図における16〜18に相当する上方
からの素子押え機構が不要となり、上部から素子１の挟
持状態に目視確認が容易にできる。

発明の効果 以上の説明から明らかなように、本発明のチップ型電
子部品の挟持装置を特性測定装置に採用すると、素子を
保持する素子保持ブロックに素子端子部より大きな中間
電極を有する板ばねを設けることで、コンタクトプロー
ブの狙いずれの影響を受けることなく高速運転が可能と
なり、生産性を向上することができる。また中間電極に
素子の方へ延出した延出部である素子浮上り防止の突起
を設けることで、素子の飛び出しを防ぐことができ、素
子の挟持部上方から挟持状態の目視確認が容易になるな
どメンテナンス性を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の実施例におけるチップ型電子部品の挟
持装置の正面図、第２図はコンタクトプローブ開放状態
における中間電極近傍の拡大正面図、第３図は従来の挟
持装置の一部断面正面図、第４図は同装置における挟持
部分の平面図である。 １……チップ型電子部品、２……端子部、５……コンタ
クトプローブ、10……連結アーム、20……素子ブロッ
ク、21……板ばね、22……中間電極、22a……素子浮上
り防止突起。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】チップ型電子部品の両端の端子部の対向す
   る方向と直角方向にこの電子部分を規制し保持する素子
   保持ブロックと、この素子保持ブロックに一端を固定さ
   れた板ばねと、この板ばねの他端に取付けられ、前記電
   子部品の両端の端子部の外側に設置された一対の中間電
   極と、この一対の中間電極の外側に配置され、中間電極
   を介してチップ型電子部品を押圧挟持する一対のコンタ
   クトプローブと、この一対のコンタクトプローブを前記
   電子部品の中心に対して対称に運動させる連結アームと
   からなり、前記中間電極は、電子部品との当り面が前記
   端子部より広くかつ前記電子部品の方へ延出した延出部
   を有したことを特徴とするチップ型電子部品の挟持装
   置。