JP3139981B2 - チップサイズパッケージの樹脂封止方法及び樹脂封止装置 - Google Patents

チップサイズパッケージの樹脂封止方法及び樹脂封止装置

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JP3139981B2 JP19101097A JP19101097A JP3139981B2 JP 3139981 B2 JP3139981 B2 JP 3139981B2 JP 19101097 A JP19101097 A JP 19101097A JP 19101097 A JP19101097 A JP 19101097A JP 3139981 B2 JP3139981 B2 JP 3139981B2
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mold
resin sealing
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はチップサイズパッケ
ージの樹脂封止方法及び樹脂封止装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図9は半導体チップと略同サイズに形成
したいわゆるチップサイズパッケージ(CSP)の製品
例である。図9(a) に示す製品は半導体チップ10の表
面電極を設けた面に電気的絶縁層11を介して配線パタ
ーン12を設け、外部接続端子としてはんだボール14
を接合したものである。はんだボール14は配線パター
ン12の一端側に接続され、配線パターン12の他端側
は電気的絶縁層11の周縁から外側にリード状に延出
し、半導体チップ10の表面電極16にボンディングさ
れている。
【0003】18は半導体チップ10の表面電極16に
ボンディングされた配線パターン12の封止樹脂であ
る。この表面電極16にボンディングした部分の配線パ
ターン12の封止は従来はポッティングによって行って
いる。これは、チップサイズパッケージの場合は半導体
チップ10上に電気的絶縁層11を介して配線パターン
12が支持されているため、通常のトランスファモール
ド法で樹脂封止したのでは被成形品が確実に挟圧できず
不要部分に樹脂ばりが生じ、また樹脂封止後にランナー
を剥離したりゲートブレイクしたりした際に配線パター
ン12をいためることがあるためである。
【0004】図9(b) はチップサイズパッケージの他の
製品例として、半導体チップ10を矩形枠状に形成した
リング20の内側に収納して構成した例、図9(c) はカ
ン22に半導体チップ10を収納して構成した例であ
る。図9(d) はファンイン/ファンアウトタイプの製品
で半導体チップ10を収納する凹部を設けたパッケージ
基板24で半導体チップ10を支持し、半導体チップ1
0の内側領域と外側領域にそれぞれ配線パターン12を
設けて外部接続端子を接合したものである。これら図9
(b) 、(c) 、(d) に示すいずれの場合も、半導体チップ
10の表面電極16にボンディングされる部分の配線パ
ターン12の封止はポッティングによって行われてい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ようにポッティングによって樹脂封止する場合は樹脂が
硬化するまでに時間が長くかかり量産性が悪いという問
題がある。また、ポッティングによる場合は樹脂を注入
する際にエアを巻き込みやすく、ボイドが発生しやすい
という問題がある。また、樹脂成形時に成形圧をかける
ことができないことから、ボイドを小さくすることがで
きず、樹脂と半導体チップ10および樹脂と電気的絶縁
層11との接着は樹脂の親和性のみによっている。
【0006】ボイドがパッケージの内部に発生すると、
内部に閉じ込められていた水分がキュアの際の熱によっ
て膨張して破裂したりクラックが生じたりするという問
題がある。また、実装後、外部環境の温度上昇、温度降
下が繰り返し作用することによってパッケージが破壊さ
れたり、配線パターンが短絡するといった問題がおき
る。また、ポッティング成形ではパッケージの外形形状
にばらつきが生じるという問題があり、封止後の製品の
ハンドリングに悪影響を与えるという問題もあった。
【0007】本発明は、これらの問題点を解消すべくな
されたものであり、その目的とするところは、チップサ
イズパッケージをトランスファモールド法によって樹脂
封止することを可能にし、これによってパッケージの成
形精度を向上させ、パッケージの内部のボイドの発生を
防止し、これによって信頼性の高いチップサイズパッケ
ージを容易に製造することができるチップサイズパッケ
ージの樹脂封止方法及び樹脂封止装置を提供するにあ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため次の構成を備える。すなわち、半導体チップの
表面電極が形成された面に電気的絶縁層を介して配線パ
ターンが支持され、該配線パターンと前記表面電極とを
電気的に接続した後、前記表面電極の露出部を樹脂封止
するチップサイズパッケージの樹脂封止方法において、
前記半導体チップの表面電極と前記配線パターンとが電
気的に接続された被成形品を、耐熱性を有するリリース
フィルムを介して金型によりクランプし、キャビティに
樹脂を充填して樹脂封止することを特徴とする。また、
前記リリースフィルムを介して前記被成形品をクランプ
する際に、前記被成形品で前記電気的絶縁層が配置され
た面側の外面をリリースフィルムにより押接することを
特徴とする。また、前記被成形品をセットするキャビテ
ィ凹部が設けられた金型を用い、前記モールド金型に前
記被成形品をセットする際にはキャビティ凹部の平面領
域を被成形品の外形寸法よりも大きく設定し、該キャビ
ティ凹部を含む金型面に前記リリースフィルムを供給
し、キャビティ凹部に被成形品をセットした後、前記
成形品の外形寸法に合わせて前記キャビティ凹部の平面
領域を狭め、前記リリースフィルムを介して前記被成形
の側面をキャビティ凹部の内側面で押接して樹脂封止
することを特徴とする。また、前記被成形品が、前記配
線パターンが形成されたキャリアテープに複数個の半導
体チップが支持されたものであることを特徴とする。
【0009】また、半導体チップの表面電極が形成され
た面に電気的絶縁層を介して配線パターンが支持され、
該配線パターンと前記表面電極とが電気的に接続された
被成形品を上型と下型とでクランプし、前記表面電極の
露出部を樹脂封止するチップサイズパッケージの樹脂封
止装置において、前記上型および/または下型に、前記
被成形品をセットするキャビティ凹部を設け、キャビ
ティ凹部を含む金型面に所要の柔軟性、耐熱性および伸
縮性を有するリリースフィルムを吸着支持する吸着支持
手段を設けたことを特徴とする。また、吸着支持手段
が、金型のパーティング面で開口する吸着孔と、キャビ
ティ凹部の内底面で開口するキャビティ吸着孔と、これ
ら吸着孔およびキャビティ吸着孔に連絡するエア機構か
ら成ることを特徴とする。また、前記キャビティ凹部を
構成する金型に可動部を設け、前記金型に前記被成形品
をセットする際には前記キャビティ凹部の平面領域を
成形品の外形寸法よりも大きく設定し、前記被成形品
キャビティ凹部にセットした後は前記リリースフィルム
を介して被成形品の側面をキャビティ凹部の内側面で押
接すべく前記可動部を移動させる移動手段を設けたこと
を特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施形態に
ついて説明する。図1は本発明に係るチップサイズパッ
ケージの樹脂封止装置の一実施形態についてその主要構
成部分を示す断面図である。本実施形態の樹脂封止装置
はトランスファモールド方法によってチップサイズパッ
ケージを製造する装置であり、その特徴は被成形品をク
ランプする上型30と下型32の金型面をリリースフィ
ルム34で被覆して樹脂封止することにある。
【0011】図1で40はトランスファモールド方法に
よって樹脂封止する被成形品である。なお、図1では中
心線の左半部に被成形品40を上型30と下型32でク
ランプした状態を示し、中心線の右半部にキャビティに
樹脂を充填した状態を示す。50はモールド用の樹脂を
供給するポットで、52はプランジャである。被成形品
40をセットして樹脂封止するためのキャビティ凹部
は、下型32でこのポット50を挟む両側に配置され
る。
【0012】60はキャビティ凹部の内底面でスリット
状に開口するキャビティ吸着孔である。キャビティ吸着
孔60は図のように、背面側でベース36に形成したエ
ア流路に連絡し、エア流路が外部エア機構に連絡する。
62はリリースフィルム34を金型のクランプ面でエア
吸着して支持する吸着孔である。吸着孔62もベース3
6に設けたエア流路を経由して外部エア機構に連絡す
る。リリースフィルム34は、まず、吸着孔62により
金型のクランプ面でエア吸着した後、キャビティ吸着孔
60からエア吸引することによりキャビティ凹部の内面
にならって吸着支持される。
【0013】図1の左半部ではリリースフィルム34が
キャビティ凹部の内面に吸着支持され、被成形品40が
キャビティ凹部にセットされた状態を示す。なお、本実
施形態では上型30のクランプ面は平坦面に形成されて
いる。リリースフィルム34は上型30と下型32に対
して各々1枚ずつ供給されて、それぞれの金型面を被覆
する。上型30では吸着孔62とキャビティ吸着孔60
によってリリースフィルム34は平坦状に吸着支持され
る。
【0014】本実施形態の樹脂封止操作で使用するリリ
ースフィルム34はエア吸引によって容易にキャビティ
凹部の内面形状にならって吸着支持される柔軟性を有す
るとともに、金型の加熱温度に耐えられる耐熱性を有す
る。また、樹脂封止後に金型から容易に離型し、モール
ド樹脂と容易に剥離できるものである必要がある。この
ような特性を有するものとしては、FEPフィルム、フ
ッ素含浸ガラスクロス、PETフィルム、ETFEフィ
ルム、ポリ塩化ビニリジン等がある。
【0015】上記のようにリリースフィルム34を用い
て樹脂封止する一つの理由は、上型30と下型32の金
型面にじかにモールド樹脂を付着させずに樹脂封止でき
るようにするためである。なお、本実施形態ではポット
50に供給する樹脂についてもポット50の内面で樹脂
が付着しないようにするためラッピングフィルムで樹脂
を密封したラッピング樹脂54を使用している。
【0016】図4にラッピング樹脂54の外形形状を示
す。実施形態のラッピング樹脂54はスティック状に成
形した樹脂54aをラッピングフィルムで密封して成
る。樹脂54aの上端面からラッピングフィルム54b
が側方に延出し、端面形状がT形となる。この延出片は
ラッピングフィルムを2枚合わせにしてシールした部分
であるが、樹脂封止時の樹脂圧によって剥離可能に形成
されている。図1に示すように、ポット50にラッピン
グ樹脂54を供給した状態でラッピング樹脂54の延出
片が被成形品30の側に延出するようセットされ、ポッ
ト50からキャビティに向けて樹脂を充填した際に、樹
脂路部分でも樹脂が金型に付着しないようになってい
る。
【0017】図2はリリースフィルム34を介して上型
30と下型32とでチップサイズパッケージをクランプ
し、キャビティに樹脂を充填した状態を拡大して示す。
チップサイズパッケージは前述したように半導体チップ
10の上面に電気的絶縁層11を介して配線パターン1
2を設けたものである。したがって、チップサイズパッ
ケージを樹脂封止する際には、上型30と下型32の金
型面に各々リリースフィルム34をエア吸着して支持し
た後、個片状に形成された被成形品を下型32のキャビ
ティ凹部内にセットし、上型30と下型32で被成形品
をクランプして樹脂封止する。
【0018】下型32に設けるキャビティ凹部はその内
面にリリースフィルム34をエア吸着した状態でちょう
どチップサイズパッケージが収納される寸法に形成する
必要があり、また上型30と下型32とでクランプした
際に、半導体チップ10と電気的絶縁層11および配線
パターン12が確実に挟圧されて樹脂ばりが生じないよ
うに凹部の深さ寸法を設定する必要がある。
【0019】リリースフィルム34を用いる樹脂封止方
法の場合は、リリースフィルム34を介して被成形品4
0をクランプする際に被成形品40の外面を弾性的に押
圧して挟圧するから被成形品を傷めずに確実にクランプ
することができ、樹脂ばりを生じさせずに樹脂封止でき
る点で、チップサイズパッケージの樹脂封止方法として
きわめて有効に使用できる。
【0020】さらに、図9(a) に示すようなリング20
等で半導体チップ10を支持しないタイプの製品の場合
には、樹脂封止等の取扱い時に半導体チップ10を損傷
しないように注意する必要がある。このため、本実施形
態では半導体チップ10をキャビティ凹部にセットする
際にはキャビティ凹部の寸法を半導体チップ10の外形
寸法よりも若干大きくしておき、樹脂封止する際にキャ
ビティ凹部を所定の大きさに設定するようにした。
【0021】このため、実施形態の装置ではキャビティ
凹部を構成する下型32をキャビティ凹部の大きさを変
えられるように可動に取り付け、被成形品40をセット
するときにはキャビティ凹部の寸法を被成形品40の外
形寸法よりも大きく設定しておき、樹脂封止するときに
下型を動かしてキャビティ凹部を所定の大きさになるよ
うにしている。図3はキャビティ凹部36を構成する下
型の平面配置を示す。同図で32a、32b、32c、
32dはキャビティ凹部36の4つの側面を構成する分
割型で、32a、32bが固定型部、32c、32dが
可動型部である。
【0022】38がキャビティ内に樹脂を注入するため
のゲートである。ゲート38はキャビティ凹部の一つの
コーナー部に接続し、ポット50から圧送された樹脂は
キャビティ凹部のコーナー部分からキャビティ内に注入
される。固定型部32a、32bはゲート38を挟む2
辺を構成し、可動型部32c、32dはこれに対向する
2辺を構成する。図3(b) は被成形品40をセットする
状態で、可動型部32c、32dが樹脂封止時の位置よ
りも外側に開いた位置にある状態である。可動型部32
c、32dの開き量は適宜設定すればよいが、実施形態
では最終の樹脂封止位置よりも0.5mm程度開いてい
る。
【0023】実施形態ではこのように可動型部32c、
32dが開き位置にある状態でリリースフィルム34を
金型面に吸着し、その状態で被成形品40をキャビティ
凹部36内にセットする。キャビティ凹部36の平面領
域を被成形品40の大きさよりも大きくして被成形品4
0を供給する場合には、被成形品40が容易に供給でき
て被成形品40を傷つけることがない点で有効である。
【0024】キャビティ凹部36に被成形品40をセッ
トした後、可動型部32c、32dを被成形品40の外
形寸法に合致する位置まで進ませ、被成形品40の側面
を保持した状態で樹脂封止する。図3(a) が可動型部3
2c、32dを所定位置まで進ませた状態である。可動
型部32c、32dを開き位置から正規位置まで移動さ
せることにより被成形品40が位置決めされて保持され
る。リリースフィルム34は柔軟性を有するから可動型
部32c、32dにより被成形品40の側面が確実に保
持され、側面部分での樹脂漏れを防止し、確実な樹脂封
止が可能になる。
【0025】なお、可動型部32c、32dの移動動作
は、上型10と下型12の開閉操作に連動してカム機
構、アンギュラピン等の移動手段により可動型部32
c、32dをスライド移動させるようにすればよい。ま
た、本実施形態ではゲート38に対向する2辺を構成す
る下型部分を可動に形成したが、下型の構成は必ずしも
本実施形態の構成に限定されるものではなく、1辺を固
定し3辺を可動にするといった構成を採用することもで
きる。また、キャビティに樹脂を注入する場合、必ずし
もコーナー部からのみ樹脂を注入するとは限らず、辺の
中途部分から樹脂を注入することもできる。
【0026】このように、可動型部32c、32dによ
ってキャビティ凹部36で被成形品40をセットする部
位の平面寸法を可変にして樹脂封止する方法は、図9
(a) に示すようなチップサイズパッケージの他に、リン
グ20あるいはカン22等を用いたチップサイズパッケ
ージの樹脂封止に適用することももちろん可能である。
【0027】チップサイズパッケージの樹脂封止では半
導体チップ10の上面に設けた電気的絶縁層11の周囲
の配線パターン12を封止することが目的で、これら以
外に配線パターン12の表面等には樹脂が付着しないよ
うにしなければならない。本実施形態の樹脂封止装置の
場合は、リリースフィルム34を介して被成形品40の
底面および側面および上面を包むようにクランプして樹
脂封止するから、電気的絶縁層11の周囲の必要部分に
のみ樹脂を充填することができる。これにより、樹脂ば
りを生じさせずに高品質の樹脂封止を行うことが可能に
なる。
【0028】なお、リング22あるいはカン22を使用
したチップサイズパッケージの場合は、図9(b) 、(c)
に示すようにポット50とキャビティ凹部とを連絡する
ためリング22あるいはカン22にゲート口19を設け
ておくことで、上記実施形態とまったく同様な方法で樹
脂封止することができる。
【0029】上記実施形態は個片状の被成形品40をモ
ールド金型にセットして樹脂封止する方法である。チッ
プサイズパッケージを樹脂封止する方法には、上記のよ
うに個片状としたものを被成形品として樹脂封止する方
法の他に、キャリアテープに複数個の半導体チップを支
持した状態でモールド金型にセットして樹脂封止する方
法もある。キャリアテープに半導体チップを支持して取
り扱う方法は量産性の点で優れるという利点がある。
【0030】図5はキャリアテープ70に半導体チップ
10を支持した被成形品を示す。半導体チップ10はキ
ャリアテープ70の幅方向に2つずつ支持されている。
72はスプロケットホールである。個々のパッケージ部
分の構成は上述した実施形態と同様で、緩衝性を有する
電気的絶縁層11であるエラストマー層を介して配線パ
ターン12が設けられたキャリアテープ70に半導体チ
ップ10が支持されている。
【0031】図5では、説明上、左から順に配線パター
ン12のリード12aが表面電極16にボンディングさ
れ、樹脂封止される工程順を示す。12bは外部接続端
子のはんだボールを接合するランドである。A部分はリ
ード12aがキャリアテープ70と半導体チップ10と
の間にかけわたされている状態である。C部分はリード
12aの先端が切断され、D部分は半導体チップ10の
表面電極16にボンディングされた状態である。E部分
はリード12aを樹脂封止する状態である。
【0032】図6はキャリアテープ70に支持された半
導体チップ10にリード12aをボンディングするまで
の工程を断面図で示す。図6のA部分はキャリアテープ
70に電気的絶縁層11を介して半導体チップ10が接
着された状態である。リード12aはキャリアテープ7
0に設けた窓部分にかけ渡して支持されている。B部分
はリード12aを半導体チップ10の表面電極にボンデ
ィングするためボンディングツ−ル74をリード12a
の上方に下降させた状態である。C部分はボンディング
ツール74の端部がリード12aに当接し、リード12
aを切断する状態である。
【0033】リード12aのボンディングはボンディン
グツール74の先端でリード12aを切断するととも
に、そのままリード12aを突き降ろし表面電極にリー
ド12aの端部を押接して熱圧着することによる。D部
分はボンディングツール74でリード12aを曲げると
ともに半導体チップ10の表面電極にボンディングする
状態を示す。E部分はボンディングツール74を上昇さ
せた状態で、半導体チップ10の表面電極にリード12
aがボンディングされた状態である。
【0034】図7は上記のようにしてキャリアテープ7
0に半導体チップ10を支持してボンディングした後、
モールド金型を使用してリード12aを樹脂封止する方
法を示す。本実施形態では半導体チップ10を支持した
キャリアテープ70をキャリアテープごとモールド金型
にセットして樹脂封止する。モールド金型には半導体チ
ップ10の配置位置にあわせてキャビティ凹部が設けら
れている。半導体チップ10をクランプする際に上型3
0と下型32の金型面をリリースフィルム34で被覆し
て樹脂封止することは上記実施形態と同様である。
【0035】また、樹脂封止する際に、下型32に可動
型部を設けてキャビティ凹部を半導体チップ10の外形
寸法よりもやや大きくして被成形品のセットを容易に
し、被成形品をセットした後、可動型部を移動させ半導
体チップ10の側面をキャビティの内側面で押接して樹
脂封止する方法も上述した実施形態と同様である。図7
のF部分は被成形品をセットした状態で、半導体チップ
10の側面とキャビティ凹部の内側面との間に若干隙間
が形成されている状態である。G部分は可動型部を動か
して半導体チップ10の側面をキャビティ凹部の内側面
で押接した状態である。
【0036】76はモールド樹脂をキャビティに充填す
るための樹脂路を示す。本実施形態のようにキャリアテ
ープ70に半導体チップ10を支持したままモールド金
型にセットして樹脂封止する場合は、上型30と下型3
2で被成形品を挟圧した際にキャビティの周縁部分で、
リリースフィルム34の中間にキャリアテープ70が挟
まれた状態になる。したがって、樹脂封止した際にモー
ルド樹脂がリリースフィルム34に付着するとともに、
キャリアテープ70にも付着して樹脂モールドされる。
樹脂封止装置のポットから溶融樹脂を各々のキャビティ
に圧送して樹脂封止する方法は従来法と同様である。
【0037】モールド樹脂をキャリアテープ70に付着
させずに樹脂封止する方法としては、たとえば図8に示
すように、キャビティの周縁部に対応してキャリアテー
プ70に押さえ孔70aを設け、上型30にこの押さえ
孔70a内でクランプする押さえ突起30aを設けて、
被成形品をクランプする際にキャビティの周縁部で押さ
え突起30aと下型32とでクランプするようにすれば
よい。押さえ突起30aはキャリアテープ70の厚さを
考慮してその突起寸法を設計し、樹脂封止時に製品の外
面に樹脂ばりが生じたりしないようにする。
【0038】このように、キャリアテープ70に半導体
チップ10を支持したままモールド金型に被成形品をセ
ットして樹脂封止する場合も、リリースフィルム34を
用いる樹脂封止方法を適用することによって、樹脂ばり
を生じさせずに好適に樹脂封止することができる。な
お、上記実施形態では短冊状のキャリアテープ70を使
用したがフープ状のキャリアテープを使用して樹脂封止
することも可能である。また、上記実施形態ではキャビ
ティのコーナー部から樹脂を充填したが、キャビティの
辺部分から樹脂を注入することも可能である。
【0039】また、上記各実施形態で説明したように、
モールド金型を用いて樹脂封止する方法はポッティング
法とくらべて樹脂の硬化時間を時間を短縮することがで
き、量産性に優れるという利点がある。また、モールド
金型を用いることで製品の成形精度が一定し、寸法精度
のばらつきのない良品を得ることが可能になる。また、
ポッテイング法にくらべてボイドの発生を抑えることが
でき、成形圧がかかることによってボイドを小さくなる
ことから、製品の信頼性を向上させることができる。ま
た、リリースフィルムの柔軟性により被成形品を過大な
力でクランプせずに樹脂封止でき、被成形品をいためる
ことなく樹脂封止できるという利点がある。
【0040】
【発明の効果】本発明に係るチップサイズパッケージの
樹脂封止方法によれば、上述したように、モールド金型
を用いて樹脂封止することにより、信頼性の高いチップ
サイズパッケージを得ることができ、チップサイズパッ
ケージの良品を容易に量産することができる。また、本
発明に係るチップサイズパッケージの樹脂封止装置によ
れば、パッケージの外部接続端子の接合面や半導体チッ
プの外面に樹脂を回り込ませずに確実に樹脂封止するこ
とができ信頼性の高いチップサイズパッケージを製造す
ることができる等の著効を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】チップサイズパッケージの樹脂封止装置の主要
部の構成を示す断面図である。
【図2】チップサイズパッケージの樹脂封止装置のキャ
ビティ凹部近傍を拡大して示す断面図である。
【図3】下型の平面配置を示す説明図である。
【図4】樹脂封止装置で使用するラッピング樹脂の斜視
図である。
【図5】キャリアテープに半導体チップを支持した状態
の平面図である。
【図6】キャリアテープに半導体チップを支持した状態
でリードをボンディングする様子を示す断面図である。
【図7】キャリアテープに半導体チップを支持した被成
形品を樹脂封止する方法を示す断面図である。
【図8】キャリアテープに半導体チップを支持した被成
形品を樹脂封止する他の方法を示す断面図である。
【図9】チップサイズパッケージの構成を示す説明図で
ある。
【符号の説明】
10 半導体チップ 11 電気的絶縁層 12 配線パターン 12a リード 12b ランド 14 はんだボール 16 表面電極 18 封止樹脂 20 リング 22 カン 30 上型 32 下型 32a、32b 固定型部 32c、32d 可動型部 34 リリースフィルム 36 キャビティ凹部 38 ゲート 40 被成形品 50 ポット 52 プランジャ 54 ラッピング樹脂 60 キャビティ吸着孔 62 吸着孔 70 キャリアテープ 72 スプロケットホール 74 ボンディングツール

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップの表面電極が形成された面
    に電気的絶縁層を介して配線パターンが支持され、該配
    線パターンと前記表面電極とを電気的に接続した後、前
    記表面電極の露出部を樹脂封止するチップサイズパッケ
    ージの樹脂封止方法において、前記半導体チップの表面電極と前記配線パターンとが電
    気的に接続された被成形品を、耐熱性を有するリリース
    フィルムを介して金型によりクランプし、 キャビティに樹脂を充填して樹脂封止することを特徴と
    するチップサイズパッケージの樹脂封止方法。
  2. 【請求項2】 前記リリースフィルムを介して前記被成
    形品をクランプする際に、前記被成形品で前記電気的絶
    縁層が配置された面側の外面をリリースフィルムにより
    押接することを特徴とする請求項1記載のチップサイズ
    パッケージの樹脂封止方法。
  3. 【請求項3】 前記被成形品をセットするキャビティ凹
    部が設けられた金型を用い、前記モールド金型に前記被
    成形品をセットする際にはキャビティ凹部の平面領域を
    被成形品の外形寸法よりも大きく設定し、該キャビティ凹部を含む金型面に前記リリースフィルム
    を供給し、 キャビティ凹部に被成形品をセットした後、前記被成形
    の外形寸法に合わせて前記キャビティ凹部の平面領域
    を狭め、前記リリースフィルムを介して前記被成形品
    側面をキャビティ凹部の内側面で押接して樹脂封止する
    ことを特徴とする請求項1または2記載のチップサイズ
    パッケージの樹脂封止方法。
  4. 【請求項4】 前記被成形品が、前記配線パターンが形
    成されたキャリアテープに複数個の半導体チップが支持
    されたものであることを特徴とする請求項1、2または
    記載のチップサイズパッケージの樹脂封止方法。
  5. 【請求項5】 半導体チップの表面電極が形成された面
    に電気的絶縁層を介して配線パターンが支持され、該配
    線パターンと前記表面電極とが電気的に接続された被成
    形品を上型と下型とでクランプし、前記表面電極の露出
    部を樹脂封止するチップサイズパッケージの樹脂封止装
    置において、 前記上型および/または下型に、前記被成形品をセット
    するキャビティ凹部を設け、 キャビティ凹部を含む金型面に所要の柔軟性、耐熱性
    および伸縮性を有するリリースフィルムを吸着支持する
    吸着支持手段を設けたことを特徴とするチップサイズパ
    ッケージの樹脂封止装置。
  6. 【請求項6】 吸着支持手段が、金型のパーティング面
    で開口する吸着孔と、キャビティ凹部の内底面で開口す
    るキャビティ吸着孔と、これら吸着孔およびキャビティ
    吸着孔に連絡するエア機構から成ることを特徴とする請
    求項5記載のチップサイズパッケージの樹脂封止装置。
  7. 【請求項7】 前記キャビティ凹部を構成する金型に可
    動部を設け、前記金型に前記被成形品をセットする際に
    は前記キャビティ凹部の平面領域を被成形品の外形寸法
    よりも大きく設定し、前記被成形品をキャビティ凹部に
    セットした後は前記リリースフィルムを介して被成形品
    の側面をキャビティ凹部の内側面で押接すべく前記可動
    部を移動させる移動手段を設けたことを特徴とする請求
    項5または6記載のチップサイズパッケージの樹脂封止
    装置。
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SG92685A1 (en) * 1999-03-10 2002-11-19 Towa Corp Method of coating semiconductor wafer with resin and mold used therefor
JP4416218B2 (ja) * 1999-09-14 2010-02-17 アピックヤマダ株式会社 樹脂封止方法及び樹脂封止装置
JP2001168117A (ja) * 1999-12-06 2001-06-22 Idemitsu Petrochem Co Ltd 半導体素子の封止用離型フィルム及びそれを用いる半導体素子の封止方法
JP5119221B2 (ja) * 2009-08-31 2013-01-16 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路装置の製造方法
NL2011512C2 (en) * 2013-09-26 2015-03-30 Besi Netherlands B V Method for moulding and surface processing electronic components and electronic component produced with this method.
CN107399041B (zh) * 2017-06-05 2019-04-16 湖北久祥电子科技有限公司 一种铆合式封胶的led封装工艺

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