JP3080841B2 - 水質検査装置 - Google Patents
水質検査装置Info
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- JP3080841B2 JP3080841B2 JP06166429A JP16642994A JP3080841B2 JP 3080841 B2 JP3080841 B2 JP 3080841B2 JP 06166429 A JP06166429 A JP 06166429A JP 16642994 A JP16642994 A JP 16642994A JP 3080841 B2 JP3080841 B2 JP 3080841B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばポーラロ式残留
塩素計などの水質検査装置に関する。
塩素計などの水質検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の水質検査装置の一例とし
て図３に示すものがある。これは、ポーラロ式残留塩素
計であって、主密閉容器１と副密閉容器２とがその両容
器１，２を仕切る仕切壁３の下部に形成した連通孔４を
介して互いに連通され、主密閉容器１の底部に支持部材
５を介して主電極６が主密閉容器１の軸心Ｏと同心状に
配設され、副密閉容器２の天板部を貫通して該副密閉容
器２内に嵌挿された棒状支持部材７の下面に副電極８が
配設され、主密閉容器１の下部に導入口９が設けられ、
副密閉容器２の上部に排出口１０が設けられており、被
検査液Ａを導入口９から主密閉容器１及び副密閉容器２
に流通させて排出口１０から外部に排出させると共に、
主副両電極６，８間に電流を流し、その電圧値に基づい
て被検査液Ａ中の残留塩素の有無を検出するようになっ
ている。
て図３に示すものがある。これは、ポーラロ式残留塩素
計であって、主密閉容器１と副密閉容器２とがその両容
器１，２を仕切る仕切壁３の下部に形成した連通孔４を
介して互いに連通され、主密閉容器１の底部に支持部材
５を介して主電極６が主密閉容器１の軸心Ｏと同心状に
配設され、副密閉容器２の天板部を貫通して該副密閉容
器２内に嵌挿された棒状支持部材７の下面に副電極８が
配設され、主密閉容器１の下部に導入口９が設けられ、
副密閉容器２の上部に排出口１０が設けられており、被
検査液Ａを導入口９から主密閉容器１及び副密閉容器２
に流通させて排出口１０から外部に排出させると共に、
主副両電極６，８間に電流を流し、その電圧値に基づい
て被検査液Ａ中の残留塩素の有無を検出するようになっ
ている。
【０００３】上記構成において、被検査液Ａに汚れ成分
が流入することにより、主電極６の表面が電気抵抗膜で
覆われて、電極感度が低下することがある。そこで、図
示するように、主密閉容器１内にセラミックビーズなど
からなるビーズ状研磨材１２が充填されると共に、その
主密閉容器１上に配設した駆動装置１３から主密閉容器
１内に垂設した駆動軸１３ａの下端部に攪拌翼１４が固
着されており、前記駆動装置１３を駆動することによ
り、図４に示すように、攪拌翼１４を回転させて、ビー
ズ状研磨材１２を攪拌し、これによって、そのビーズ状
研磨材１２で主電極６の表面を研磨することが考えられ
ている。
が流入することにより、主電極６の表面が電気抵抗膜で
覆われて、電極感度が低下することがある。そこで、図
示するように、主密閉容器１内にセラミックビーズなど
からなるビーズ状研磨材１２が充填されると共に、その
主密閉容器１上に配設した駆動装置１３から主密閉容器
１内に垂設した駆動軸１３ａの下端部に攪拌翼１４が固
着されており、前記駆動装置１３を駆動することによ
り、図４に示すように、攪拌翼１４を回転させて、ビー
ズ状研磨材１２を攪拌し、これによって、そのビーズ状
研磨材１２で主電極６の表面を研磨することが考えられ
ている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の構成では、
攪拌翼１４を回転させることにより発生する遠心力でビ
ーズ状研磨材１２が主密閉容器１の内壁面１ａ側に押し
付けられるため、主密閉容器１の軸心Ｏと同心状に配設
されている主電極６の表面研磨が充分に行なわれず、水
質検査精度が低下する虞れがあった。
攪拌翼１４を回転させることにより発生する遠心力でビ
ーズ状研磨材１２が主密閉容器１の内壁面１ａ側に押し
付けられるため、主密閉容器１の軸心Ｏと同心状に配設
されている主電極６の表面研磨が充分に行なわれず、水
質検査精度が低下する虞れがあった。
【０００５】本発明は、上記問題点に鑑み、水質検査精
度を高度に維持することができる水質検査装置を提供す
ることを目的としている。
度を高度に維持することができる水質検査装置を提供す
ることを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１記載の発明は、内部に主電極を配設した主
密閉容器と内部に副電極を配設した副密閉容器とが互い
に連通されることにより、前記主密閉容器から副密閉容
器にかけて被検査液が連続して流通されるように構成
し、前記主密閉容器内に電極研磨用ビーズ状研磨材が充
填されると共に、その主密閉容器内にビーズ状研磨材を
攪拌するためのの攪拌翼が回転自在に配設された水質検
査装置において、前記主電極が主密閉容器の底部の該主
密閉容器の軸心から偏心した位置に配設され、前記主電
極と主密閉容器の内壁面との相対する部位間の間隔がビ
ーズ用研磨材の半径よりも小さく設定され、主密閉容器
の内壁面に接して移動するビーズ状研磨材が主電極の表
面上を必ず通過する形状を有することを特徴としてい
る。
め、請求項１記載の発明は、内部に主電極を配設した主
密閉容器と内部に副電極を配設した副密閉容器とが互い
に連通されることにより、前記主密閉容器から副密閉容
器にかけて被検査液が連続して流通されるように構成
し、前記主密閉容器内に電極研磨用ビーズ状研磨材が充
填されると共に、その主密閉容器内にビーズ状研磨材を
攪拌するためのの攪拌翼が回転自在に配設された水質検
査装置において、前記主電極が主密閉容器の底部の該主
密閉容器の軸心から偏心した位置に配設され、前記主電
極と主密閉容器の内壁面との相対する部位間の間隔がビ
ーズ用研磨材の半径よりも小さく設定され、主密閉容器
の内壁面に接して移動するビーズ状研磨材が主電極の表
面上を必ず通過する形状を有することを特徴としてい
る。
【０００７】
【０００８】
【作用】請求項１記載の発明において、被検査液を主密
閉容器及び副密閉容器に流通させると共に、主副両電極
間に電流を流し、その電圧値に基づいて被検査液中の残
留塩素などの有無を検出し、また、それと同時に、攪拌
翼を回転させて、ビーズ状研磨材を攪拌し、主電極の表
面を研磨する。
閉容器及び副密閉容器に流通させると共に、主副両電極
間に電流を流し、その電圧値に基づいて被検査液中の残
留塩素などの有無を検出し、また、それと同時に、攪拌
翼を回転させて、ビーズ状研磨材を攪拌し、主電極の表
面を研磨する。
【０００９】この場合、攪拌翼を回転させてビーズ状研
磨材を攪拌すると、そのビーズ状研磨材が遠心力により
主密閉容器の内壁面側に押し付けられるが、主電極が主
密閉容器の軸心から偏心した位置に配設されているた
め、その主電極の表面をビーズ状研磨材で確実に研磨す
ることができ、水質検査精度を高度に維持することがで
きる。
磨材を攪拌すると、そのビーズ状研磨材が遠心力により
主密閉容器の内壁面側に押し付けられるが、主電極が主
密閉容器の軸心から偏心した位置に配設されているた
め、その主電極の表面をビーズ状研磨材で確実に研磨す
ることができ、水質検査精度を高度に維持することがで
きる。
【００１０】また、前記主電極と主密閉容器の内壁面と
の間の間隔がビーズ用研磨材の半径よりも小さく設定さ
れているため、主密閉容器の内壁面に接して移動するビ
ーズ状研磨材が主電極の表面上を必ず通過し、その主電
極の表面研磨を確実に行うことができる。
の間の間隔がビーズ用研磨材の半径よりも小さく設定さ
れているため、主密閉容器の内壁面に接して移動するビ
ーズ状研磨材が主電極の表面上を必ず通過し、その主電
極の表面研磨を確実に行うことができる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図１は本発明の一実施例であるポーラロ式残留塩
素計を示すものであって、主電極６が主密閉容器１の底
部の該主密閉容器１の軸心Ｏから偏心した位置に配設さ
れている。上記構成以外の構成は図３に示す従来例とほ
ぼ同じであるから、同一部分に同一符号を付してその説
明を省略する。
する。図１は本発明の一実施例であるポーラロ式残留塩
素計を示すものであって、主電極６が主密閉容器１の底
部の該主密閉容器１の軸心Ｏから偏心した位置に配設さ
れている。上記構成以外の構成は図３に示す従来例とほ
ぼ同じであるから、同一部分に同一符号を付してその説
明を省略する。
【００１２】上記構成において、被検査液Ａを主密閉容
器１及び副密閉容器２に流通させると共に、主副両電極
６，８間に電流を流し、その電圧値に基づいて被検査液
Ａ中の残留塩素の有無を検出し、また、それと同時に、
攪拌翼１４を回転させて、ビーズ状研磨材１２を攪拌
し、主電極６の表面を研磨する。
器１及び副密閉容器２に流通させると共に、主副両電極
６，８間に電流を流し、その電圧値に基づいて被検査液
Ａ中の残留塩素の有無を検出し、また、それと同時に、
攪拌翼１４を回転させて、ビーズ状研磨材１２を攪拌
し、主電極６の表面を研磨する。
【００１３】この場合、攪拌翼１４を回転させてビーズ
状研磨材１２を攪拌すると、図２（ａ）に示すように、
そのビーズ状研磨材１２が遠心力により主密閉容器１の
内壁面１ａ側に押し付けられるが、主電極６が主密閉容
器１の軸心Ｏから偏心した位置に配設されているため、
その主電極６の表面をビーズ状研磨材１２で確実に研磨
することができ、水質検査精度を高度に維持することが
できる。また、断水後、水質検査を再開する場合でも、
短時間で検査可能状態にすることができる。
状研磨材１２を攪拌すると、図２（ａ）に示すように、
そのビーズ状研磨材１２が遠心力により主密閉容器１の
内壁面１ａ側に押し付けられるが、主電極６が主密閉容
器１の軸心Ｏから偏心した位置に配設されているため、
その主電極６の表面をビーズ状研磨材１２で確実に研磨
することができ、水質検査精度を高度に維持することが
できる。また、断水後、水質検査を再開する場合でも、
短時間で検査可能状態にすることができる。
【００１４】更に、図２（ｂ）に示すように、前記主電
極６と主密閉容器１の内壁面１ａとの間の間隔αをビー
ズ用研磨材１２の半径ｒよりも小さく設定することが好
ましい。これによって、主密閉容器１の内壁面１ａに接
して移動するビーズ状研磨材１２が主電極６の表面上を
必ず通過するため、その主電極６の表面研磨を確実に行
うことができる。
極６と主密閉容器１の内壁面１ａとの間の間隔αをビー
ズ用研磨材１２の半径ｒよりも小さく設定することが好
ましい。これによって、主密閉容器１の内壁面１ａに接
して移動するビーズ状研磨材１２が主電極６の表面上を
必ず通過するため、その主電極６の表面研磨を確実に行
うことができる。
【００１５】
【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、主電極が
主密閉容器の軸心から偏心した位置に配設されているた
め、その主電極の表面を攪拌翼により攪拌されて遠心力
により主密閉容器の内壁面側に押し付けられたビーズ状
研磨材で確実に研磨することができ、水質検査精度を高
度に維持することができる。
主密閉容器の軸心から偏心した位置に配設されているた
め、その主電極の表面を攪拌翼により攪拌されて遠心力
により主密閉容器の内壁面側に押し付けられたビーズ状
研磨材で確実に研磨することができ、水質検査精度を高
度に維持することができる。
【００１６】また、前記主電極と主密閉容器の内壁面と
の間の間隔がビーズ用研磨材の半径よりも小さく設定さ
れているため、主密閉容器の内壁面に接して移動するビ
ーズ状研磨材が主電極の表面上を必ず通過し、その主電
極の表面研磨を確実に行うことができる。
の間の間隔がビーズ用研磨材の半径よりも小さく設定さ
れているため、主密閉容器の内壁面に接して移動するビ
ーズ状研磨材が主電極の表面上を必ず通過し、その主電
極の表面研磨を確実に行うことができる。
【図１】本発明の一実施例である残留塩素計の縦断面図
である。
である。
【図２】（ａ）は同概略拡大平面図、（ｂ）は同概略拡
大側面図である。
大側面図である。
【図３】従来例を示す縦断面図である。
【図４】同概略拡大平面図である。
１ 主密閉容器 ２ 副密閉容器 ６ 主電極 ８ 副電極 １２ ビーズ状研磨材 １４ 攪拌翼 Ａ 被検査液 Ｏ 主密閉容器の軸心 ｒ ビーズ状研磨材の半径 α 主電極と主密閉容器の内壁面との間の間隔
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−180799（ＪＰ，Ａ) 実開 平５−19953（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 27/26 - 27/56 G01N 33/18 G01N 21/00 - 21/66
Claims (1)
- 【請求項１】 内部に主電極を配設した主密閉容器と内
部に副電極を配設した副密閉容器とが互いに連通される
ことにより、前記主密閉容器から副密閉容器にかけて被
検査液が連続して流通されるように構成し、前記主密閉
容器内に電極研磨用ビーズ状研磨材が充填されると共
に、その主密閉容器内にビーズ状研磨材を攪拌するため
のの攪拌翼が回転自在に配設された水質検査装置におい
て、前記主電極が主密閉容器の底部の該主密閉容器の軸
心から偏心した位置に配設され、前記主電極と主密閉容
器の内壁面との相対する部位間の間隔がビーズ用研磨材
の半径よりも小さく設定され、主密閉容器の内壁面に接
して移動するビーズ状研磨材が主電極の表面上を必ず通
過する形状を有することを特徴とする水質検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06166429A JP3080841B2 (ja) | 1994-07-19 | 1994-07-19 | 水質検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06166429A JP3080841B2 (ja) | 1994-07-19 | 1994-07-19 | 水質検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0829374A JPH0829374A (ja) | 1996-02-02 |
| JP3080841B2 true JP3080841B2 (ja) | 2000-08-28 |
Family
ID=15831258
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06166429A Expired - Fee Related JP3080841B2 (ja) | 1994-07-19 | 1994-07-19 | 水質検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3080841B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10185871A (ja) * | 1996-12-26 | 1998-07-14 | Kyoto Electron Mfg Co Ltd | 残留塩素計の電極洗浄方法および残留塩素計 |
| KR100767222B1 (ko) * | 2003-07-09 | 2007-10-17 | 한국바이오시스템(주) | 수질분석장치용 전극세정연마장치 |
| JP2009168694A (ja) * | 2008-01-18 | 2009-07-30 | Yokogawa Electric Corp | 塩素計 |
| CN112525964B (zh) * | 2020-12-04 | 2021-05-25 | 重庆昕晟环保科技有限公司 | 一种摆动式余氯传感器 |
-
1994
- 1994-07-19 JP JP06166429A patent/JP3080841B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0829374A (ja) | 1996-02-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080623 Year of fee payment: 8 |
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