JPH0829374A - 水質検査装置 - Google Patents

水質検査装置

Info

Publication number
JPH0829374A
JPH0829374A JP6166429A JP16642994A JPH0829374A JP H0829374 A JPH0829374 A JP H0829374A JP 6166429 A JP6166429 A JP 6166429A JP 16642994 A JP16642994 A JP 16642994A JP H0829374 A JPH0829374 A JP H0829374A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
main
electrode
closed container
sub
container
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6166429A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3080841B2 (ja
Inventor
Noboru Yamaguchi
登 山口
Toru Adachi
徹 安達
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd
Kubota Corp
Original Assignee
Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd
Kubota Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd, Kubota Corp filed Critical Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd
Priority to JP06166429A priority Critical patent/JP3080841B2/ja
Publication of JPH0829374A publication Critical patent/JPH0829374A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3080841B2 publication Critical patent/JP3080841B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 水質検査精度を高度に維持すること。 【構成】 内部に主電極6を配設した主密閉容器1と内
部に副電極8を配設した副密閉容器2とが互いに連通さ
れることにより、前記主密閉容器1から副密閉容器2に
かけて被検査液Aが連続して流通されるように構成し、
前記主密閉容器1内に電極研磨用ビーズ状研磨材12が
充填されると共に、その主密閉容器1内にビーズ状研磨
材12を攪拌するためのの攪拌翼14が回転自在に配設
された残留塩素計において、前記主電極6が主密閉容器
1の底部の該主密閉容器1の軸心Oから偏心した位置に
配設されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばポーラロ式残留
塩素計などの水質検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の水質検査装置の一例とし
て図3に示すものがある。これは、ポーラロ式残留塩素
計であって、主密閉容器1と副密閉容器2とがその両容
器1,2を仕切る仕切壁3の下部に形成した連通孔4を
介して互いに連通され、主密閉容器1の底部に支持部材
5を介して主電極6が主密閉容器1の軸心Oと同心状に
配設され、副密閉容器2の天板部を貫通して該副密閉容
器2内に嵌挿された棒状支持部材7の下面に副電極8が
配設され、主密閉容器1の下部に導入口9が設けられ、
副密閉容器2の上部に排出口10が設けられており、被
検査液Aを導入口9から主密閉容器1及び副密閉容器2
に流通させて排出口10から外部に排出させると共に、
主副両電極6,8間に電流を流し、その電圧値に基づい
て被検査液A中の残留塩素の有無を検出するようになっ
ている。
【0003】上記構成において、被検査液Aに汚れ成分
が流入することにより、主電極6の表面が電気抵抗膜で
覆われて、電極感度が低下することがある。そこで、図
示するように、主密閉容器1内にセラミックビーズなど
からなるビーズ状研磨材12が充填されると共に、その
主密閉容器1上に配設した駆動装置13から主密閉容器
1内に垂設した駆動軸13aの下端部に攪拌翼14が固
着されており、前記駆動装置13を駆動することによ
り、図4に示すように、攪拌翼14を回転させて、ビー
ズ状研磨材12を攪拌し、これによって、そのビーズ状
研磨材12で主電極6の表面を研磨することが考えられ
ている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の構成では、
攪拌翼14を回転させることにより発生する遠心力でビ
ーズ状研磨材12が主密閉容器1の内壁面1a側に押し
付けられるため、主密閉容器1の軸心Oと同心状に配設
されている主電極6の表面研磨が充分に行なわれず、水
質検査精度が低下する虞れがあった。
【0005】本発明は、上記問題点に鑑み、水質検査精
度を高度に維持することができる水質検査装置を提供す
ることを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1記載の発明は、内部に主電極を配設した主
密閉容器と内部に副電極を配設した副密閉容器とが互い
に連通されることにより、前記主密閉容器から副密閉容
器にかけて被検査液が連続して流通されるように構成
し、前記主密閉容器内に電極研磨用ビーズ状研磨材が充
填されると共に、その主密閉容器内にビーズ状研磨材を
攪拌するためのの攪拌翼が回転自在に配設された水質検
査装置において、前記主電極が主密閉容器の底部の該主
密閉容器の軸心から偏心した位置に配設されていること
を特徴としている。
【0007】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、前記主電極と主密閉容器の内壁面との間の
間隔がビーズ用研磨材の半径よりも小さく設定されてい
ることを特徴としている。
【0008】
【作用】請求項1記載の発明において、被検査液を主密
閉容器及び副密閉容器に流通させると共に、主副両電極
間に電流を流し、その電圧値に基づいて被検査液中の残
留塩素などの有無を検出し、また、それと同時に、攪拌
翼を回転させて、ビーズ状研磨材を攪拌し、主電極の表
面を研磨する。
【0009】この場合、攪拌翼を回転させてビーズ状研
磨材を攪拌すると、そのビーズ状研磨材が遠心力により
主密閉容器の内壁面側に押し付けられるが、主電極が主
密閉容器の軸心から偏心した位置に配設されているた
め、その主電極の表面をビーズ状研磨材で確実に研磨す
ることができ、水質検査精度を高度に維持することがで
きる。
【0010】請求項2記載の発明によれば、前記主電極
と主密閉容器の内壁面との間の間隔がビーズ用研磨材の
半径よりも小さく設定されているため、主密閉容器の内
壁面に接して移動するビーズ状研磨材が主電極の表面上
を必ず通過し、その主電極の表面研磨を確実に行うこと
ができる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は本発明の一実施例であるポーラロ式残留塩
素計を示すものであって、主電極6が主密閉容器1の底
部の該主密閉容器1の軸心Oから偏心した位置に配設さ
れている。上記構成以外の構成は図3に示す従来例とほ
ぼ同じであるから、同一部分に同一符号を付してその説
明を省略する。
【0012】上記構成において、被検査液Aを主密閉容
器1及び副密閉容器2に流通させると共に、主副両電極
6,8間に電流を流し、その電圧値に基づいて被検査液
A中の残留塩素の有無を検出し、また、それと同時に、
攪拌翼14を回転させて、ビーズ状研磨材12を攪拌
し、主電極6の表面を研磨する。
【0013】この場合、攪拌翼14を回転させてビーズ
状研磨材12を攪拌すると、図2(a)に示すように、
そのビーズ状研磨材12が遠心力により主密閉容器1の
内壁面1a側に押し付けられるが、主電極6が主密閉容
器1の軸心Oから偏心した位置に配設されているため、
その主電極6の表面をビーズ状研磨材12で確実に研磨
することができ、水質検査精度を高度に維持することが
できる。また、断水後、水質検査を再開する場合でも、
短時間で検査可能状態にすることができる。
【0014】更に、図2(b)に示すように、前記主電
極6と主密閉容器1の内壁面1aとの間の間隔αをビー
ズ用研磨材12の半径rよりも小さく設定することが好
ましい。これによって、主密閉容器1の内壁面1aに接
して移動するビーズ状研磨材12が主電極6の表面上を
必ず通過するため、その主電極6の表面研磨を確実に行
うことができる。
【0015】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、主電極が
主密閉容器の軸心から偏心した位置に配設されているた
め、その主電極の表面を攪拌翼により攪拌されて遠心力
により主密閉容器の内壁面側に押し付けられたビーズ状
研磨材で確実に研磨することができ、水質検査精度を高
度に維持することができる。
【0016】請求項2記載の発明によれば、前記主電極
と主密閉容器の内壁面との間の間隔がビーズ用研磨材の
半径よりも小さく設定されているため、主密閉容器の内
壁面に接して移動するビーズ状研磨材が主電極の表面上
を必ず通過し、その主電極の表面研磨を確実に行うこと
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である残留塩素計の縦断面図
である。
【図2】(a)は同概略拡大平面図、(b)は同概略拡
大側面図である。
【図3】従来例を示す縦断面図である。
【図4】同概略拡大平面図である。
【符号の説明】
1 主密閉容器 2 副密閉容器 6 主電極 8 副電極 12 ビーズ状研磨材 14 攪拌翼 A 被検査液 O 主密閉容器の軸心 r ビーズ状研磨材の半径 α 主電極と主密閉容器の内壁面との間の間隔

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部に主電極を配設した主密閉容器と内
    部に副電極を配設した副密閉容器とが互いに連通される
    ことにより、前記主密閉容器から副密閉容器にかけて被
    検査液が連続して流通されるように構成し、前記主密閉
    容器内に電極研磨用ビーズ状研磨材が充填されると共
    に、その主密閉容器内にビーズ状研磨材を攪拌するため
    のの攪拌翼が回転自在に配設された水質検査装置におい
    て、前記主電極が主密閉容器の底部の該主密閉容器の軸
    心から偏心した位置に配設されていることを特徴とする
    水質検査装置。
  2. 【請求項2】 前記主電極と主密閉容器の内壁面との間
    の間隔がビーズ用研磨材の半径よりも小さく設定されて
    いることを特徴とする請求項1記載の水質検査装置。
JP06166429A 1994-07-19 1994-07-19 水質検査装置 Expired - Fee Related JP3080841B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06166429A JP3080841B2 (ja) 1994-07-19 1994-07-19 水質検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06166429A JP3080841B2 (ja) 1994-07-19 1994-07-19 水質検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0829374A true JPH0829374A (ja) 1996-02-02
JP3080841B2 JP3080841B2 (ja) 2000-08-28

Family

ID=15831258

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP06166429A Expired - Fee Related JP3080841B2 (ja) 1994-07-19 1994-07-19 水質検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3080841B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10185871A (ja) * 1996-12-26 1998-07-14 Kyoto Electron Mfg Co Ltd 残留塩素計の電極洗浄方法および残留塩素計
KR100767222B1 (ko) * 2003-07-09 2007-10-17 한국바이오시스템(주) 수질분석장치용 전극세정연마장치
JP2009168694A (ja) * 2008-01-18 2009-07-30 Yokogawa Electric Corp 塩素計
CN112525964A (zh) * 2020-12-04 2021-03-19 重庆昕晟环保科技有限公司 一种摆动式余氯传感器

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10185871A (ja) * 1996-12-26 1998-07-14 Kyoto Electron Mfg Co Ltd 残留塩素計の電極洗浄方法および残留塩素計
KR100767222B1 (ko) * 2003-07-09 2007-10-17 한국바이오시스템(주) 수질분석장치용 전극세정연마장치
JP2009168694A (ja) * 2008-01-18 2009-07-30 Yokogawa Electric Corp 塩素計
CN112525964A (zh) * 2020-12-04 2021-03-19 重庆昕晟环保科技有限公司 一种摆动式余氯传感器
CN112525964B (zh) * 2020-12-04 2021-05-25 重庆昕晟环保科技有限公司 一种摆动式余氯传感器

Also Published As

Publication number Publication date
JP3080841B2 (ja) 2000-08-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5492594A (en) Chemical-mechanical polishing tool with end point measurement station
JP2004515905A (ja) 半導体製造のための化学機械的研磨システム
JPH0829374A (ja) 水質検査装置
US20030198126A1 (en) Deep holder for dual asymmetric centrifugal mixing system
JP2535386Y2 (ja) 残留塩素計
JPH10185871A (ja) 残留塩素計の電極洗浄方法および残留塩素計
US4350430A (en) Motor drive design
JP3469962B2 (ja) 遊離塩素測定装置
JPH0318932Y2 (ja)
US11442009B2 (en) Flow cell assembly including a fluid swirl chamber and ultrasonic agitation device
US3867273A (en) Automatic electrometric analysis
JP2002250711A (ja) 残留塩素計及びこの残留塩素計を用いた液体殺菌装置
JPH08141380A (ja) 潤滑油中の異物を攪拌する装置
JP5636545B2 (ja) 超音波洗浄装置及び超音波洗浄システム
JP2821758B2 (ja) 攪拌装置
JPH09108558A (ja) 混練装置
JP2004309338A (ja) 化学分析装置
JPS6046658B2 (ja) 試料かくはん吸引装置
JPS62288559A (ja) 溶液の濃度測定法
JP3889218B2 (ja) 粒度分布測定装置
JPH0617895B2 (ja) 電量分析方法
JPH07294413A (ja) 粒度分布測定装置
JPS6338093B2 (ja)
JPH0985071A (ja) 試料撹拌装置
SU1230685A1 (ru) Лабораторна вибромельница

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080623

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090623

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees