JPH10185871A - 残留塩素計の電極洗浄方法および残留塩素計 - Google Patents

残留塩素計の電極洗浄方法および残留塩素計

Info

Publication number
JPH10185871A
JPH10185871A JP8346395A JP34639596A JPH10185871A JP H10185871 A JPH10185871 A JP H10185871A JP 8346395 A JP8346395 A JP 8346395A JP 34639596 A JP34639596 A JP 34639596A JP H10185871 A JPH10185871 A JP H10185871A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
electrode
residual chlorine
current
detection electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8346395A
Other languages
English (en)
Inventor
Nagatake Sedo
長武 瀬渡
Toshiyuki Shimizu
俊之 清水
Toshihiro Kubo
俊裕 久保
Kotaro Kawamoto
公太郎 河本
Kenjiro Namikawa
憲二郎 浪川
Toru Adachi
徹 安達
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd
Kubota Corp
Original Assignee
Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd
Kubota Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd, Kubota Corp filed Critical Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd
Priority to JP8346395A priority Critical patent/JPH10185871A/ja
Publication of JPH10185871A publication Critical patent/JPH10185871A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】残留塩素計において、残留塩素を検出する検出
電極の表面を、機械的手段を用いることなく容易に、か
つ効率的に洗浄する方法及びこれを実現する装置を提供
することを目的とする。 【解決手段】下部に被検査液Sの導入口2を形成し上部
に排出口3を形成した密閉容器4に、検出電極(金電
極)5を底部に配設するとともに、対極(銀/塩化銀電
極)6を容器4内の上部に配設しており、密閉容器4の
外部に、検出電極5と対極6との間に印加する電圧を、
還元電流測定電圧よりもプラス側の電圧、マイナス側の
電圧及び還元電流測定電圧にそれぞれ印加するように設
定する電位設定回路7Aおよび電流の大きさを計測する
電流読み取り回路8Aを設けてなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、残留塩素計の電極
洗浄方法および残留塩素計に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の残留塩素計として、例えば図6に
示したようなポーラログラフ法を採用したものがある。
【0003】残留塩素計1においては、下部に被検査液
Sの導入口2を形成し上部に排出口3を形成した密閉容
器4に、検出電極(金電極)5を底部に配設するととも
に、対極(銀/塩化銀電極)6を容器4内の上部に側面
より嵌挿した状態で配設しており、密閉容器4の外部
に、検出電極5と対極6との間に電圧を印加する電源
7、および電流の大きさを計測する電流計8を設けてい
る。そして、電流計8に接続して、電流計8により計測
された電流値を残留塩素濃度として認識し、表示する表
示装置9を設けている。
【0004】この構成において、導入口2から排出口3
に向けて被検査液Sを流通させ、密閉容器4内の被検査
液Sを攪拌翼11により攪拌しつつ、検出電極5と対極
6との間に電源7により一定電圧Vaを印加して、その
時の電流の大きさiaを電流計8により計測し、計測し
た電流値を表示装置9において残留塩素濃度として認識
し、表示するようにしている。
【0005】残留塩素濃度の測定原理は、次のようなも
のである。塩素を含んだ被検査液S中で検出電極5と対
極6との間に外部から電圧を印加すると、検出電極5上
で Cl2 +2e- → 2Cl- なる還元反応が起こり、図7に示したような、塩素濃度
に応じた電圧−電流曲線(ポーラログラム)が得られ
る。図7から明らかなように、電圧−電流曲線では、印
加電圧を変化させて対極に対する検出電極の電位を下げ
ていくと、反応速度が増して電流が大きくなっていき
(領域(1) )、さらに電位を下げていくと、電流値が全
く変化しなくなる(領域(2))。
【0006】これは、反応速度が十分速くなると(無限
大になると)、塩素が還元消費される検出電極に向けて
の塩素の拡散が反応に追いつけなくなって、拡散速度が
反応を支配するようになり、したがって、拡散速度を一
定にしておけば、検出電極上での塩素の還元反応は被検
査液中の塩素濃度に比例して起こることになり、還元反
応に応じた大きさの電流、すなわち塩素濃度に比例した
大きさの電流が流れるからである。
【0007】このため、残留塩素濃度を測定する際に
は、反応速度が十分速くなる(無限大になる)適当な大
きさの電圧を印加するとともに、拡散速度が一定となる
ように被検査液を一定速度で攪拌するようにしている。
【0008】ところで、上記検出電極は、残留塩素濃度
の検出素子となるものであるから、正確な測定値を得る
には、検出電極の表面状態が常時一定であることが必要
となる。
【0009】しかし、電極表面は被検査液中に含まれる
電解物質によって汚損されて感度が低下し易く、測定に
際しては電極の洗浄が必要となる。この洗浄手段とし
て、従来では密閉容器4の内部に、外部の駆動装置10
より垂設した駆動軸11の下端部に攪拌翼12を設け、
セラミックビーズなどのビーズ状研磨材13を充填して
攪拌させ、検出電極5の表面の研磨を行って感度低下を
防ぐことや、セラミック等のビーズを充填した中で検出
電極を回転又は振動させたり、さらには被検査液に水流
を起こさせ、その水流にのせてビーズ状研磨剤を電極表
面に当てて研磨することなどが行われていた。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような機械的研磨を行う場合、図6に示すようなビーズ
で電極表面を研磨する方法は、モータ、攪拌翼などの装
置が必要となりコストがかかる問題があり、また後二者
のうち電極を回転、振動させる場合は電極へのリード線
の接続に特別な工夫を必要とし、もう一つの水流でビー
ズ研磨する場合も測定槽に水流を発生させるために特別
な構造及び装置を要し、実現には制約があるなどの問題
があった。
【0011】この発明は上記問題点を解消することを目
的としてなされたものであって、機械的手段を用いるこ
となく容易に、かつ効率的に電極を洗浄する方法を得る
ことを目的としてなされたものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】即ち、この発明の残留塩
素計の電極洗浄方法は、内部に検出電極と対極とを設け
た容器に被検査液を流通させながら、検出電極と対極と
の間に一定電圧を印加し、その時の電流の大きさを電流
計により計測し、計測した電流値を残留塩素濃度として
認識するように構成しポーラログラフ式残留塩素計にお
いて、検出電極と対極との間に還元電流測定電圧を印加
する前に、還元電流測定電圧よりもプラス側の電圧とマ
イナス側の電圧を交互に印加し、検出電極に付着した汚
染物質を電気化学的に除去することを特徴とするもので
ある。
【0013】また、この発明の残留塩素計は、内部に検
出電極と対極とを設けた容器に被検査液を流通させなが
ら、検出電極と対極との間に一定電圧を印加し、その時
の電流の大きさを電流計により計測し、計測した電流値
を残留塩素濃度として認識するように構成しポーラログ
ラフ式残留塩素計において、前記検出電極と対極との間
に印加する電圧を、還元電流測定電圧よりもプラス側の
電圧、マイナス側の電圧及び還元電流測定電圧にそれぞ
れ印加するように設定する電位設定回路と、該電位設定
回路により印加された電位測定電圧下での電流値を読み
取る回路とを設けたことを特徴とするものである。
【0014】いま一つの発明の残留塩素計は、上記残留
塩素計において、ビーズ状研磨材による機械的研磨を併
用したことを特徴とするものである。なお、ここにビー
ズ状研磨材による機械的研磨とは、密閉容器の内部に、
セラミックビーズなどのビーズ状研磨材を充填し、攪拌
翼で攪拌させて検出電極の表面の研磨を行うこと、ある
いはセラミック等のビーズを充填した中で検出電極を回
転又は振動させたり、さらには被検査液に水流を起こさ
せ、その水流にのせてビーズ状研磨剤を電極表面に当て
て研磨することなどを意味する。
【0015】残留塩素計の被検査液中には既述のように
電解物質が含まれ、これらが被検査液中を流れる電流に
より検出電極表面に析出する。従って、これらが電極表
面の汚れとなり感度低下の原因となるのであるが、これ
らは電気化学的に付着したものであるから、還元電流の
測定電圧と逆の電圧を印加すれば、電極表面から乖離す
る。
【0016】従って、還元電流の測定電圧のプラス側と
マイナス側の電圧を検出電極と対極との間に交互に印加
すれば、これにより電極表面は電気化学的に洗浄され
る。そしてその直後に還元電流の測定電圧を印加すれ
ば、洗浄された電極での還元電流が測定できることとな
る。
【0017】また、上記交互に印加されるプラス側とマ
イナス側の電圧は、プラスマイナス一周期の他、複数周
期繰り返しても良く、さらにプラスマイナス間を連続的
に変化させ、その間に短時間の測定電圧印加期間を設け
た態様のいずれでも良い。
【0018】なお、攪拌、水流による研磨ビーズの研磨
方法を組み合わせることもでき、この場合は機械的研磨
と電気化学的洗浄とが相乗してさらに洗浄効果が高ま
る。
【0019】
【発明の実施の形態】次に、この発明の実施の形態を説
明する。図1はこの発明の一実施の形態を示す説明図で
ある。
【0020】図1において、残留塩素計1は、下部に被
検査液Sの導入口2を形成し上部に排出口3を形成した
密閉容器4に、検出電極(金電極)5を底部に配設する
とともに、対極(銀/塩化銀電極)6を容器4内の上部
に配設しており、密閉容器4の外部に、検出電極5と対
極6との間に印加する電圧を設定する電位設定回路7A
および電流の大きさを計測する電流読み取り回路8Aを
設けて構成されている。
【0021】なお、図中7Bはバッファ回路、8Bは電
流−電圧変換回路を示す。また、図中11はモータ10
により回転駆動される被検査液の攪拌翼であり、検出電
極5はこの攪拌翼11先端に取り付けられている。
【0022】上記において、電位設定回路7Aでは、図
2の右側のグラフ(a) に示すように還元電流測定電圧V
0 に対しプラス側V1 とマイナス側V2 の電圧を交互に
印加し、その後還元電流測定電圧V0 を印加するように
設定されており、この還元電流測定電圧の印加時に電流
読み取り回路8Aで電流が測定される。
【0023】なお、図2の左側のグラフ(b) は、印加電
圧と還元電流との関係を示すポーラログラムを示す。な
お、上記交互印加される電圧の態様としては、図3に示
すように複数回の交互印加の後還元電流印加する態様、
図4に示すように常時交互印加を行い、その過程で還元
電流に一致した時点VP …で還元電流を測定するような
態様とすることができる。
【0024】そして、還元電流印加時の電流測定値を次
回の還元電流測定電圧の印加時まで記憶する記憶回路を
電流読み取り回路8Aに設けても良い。次に、図1に示
した構成態様の装置で水道水を連続測定した場合、図5
に示すように、機械的研磨も電気化学的洗浄も行わない
条件(B)では、測定開始直後から急速に電流値が低下
したが、電位設定回路7Aを作動させ、交互電圧を印加
して電気化学的洗浄を行った条件(A)では機械的研磨
がなくても検出感度は良好に維持された。
【0025】なお、上記残留塩素計1に図6に示したよ
うな研磨ビーズによる機械的研磨装置あるいはその他の
研磨ビーズによる機械的研磨装置を組み合わせることも
できる。
【0026】この機械的研磨装置との組み合わせによっ
て電極は、電気的洗浄に加え機械的にも洗浄される。
【0027】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、検出電
極の表面が、常時電気化学的に洗浄されるため、従来電
極洗浄のために必要とされてきた研磨ビーズ、その攪拌
装置等が不要となり、装置が安価に製造できると同時
に、正確な残留塩素の測定値が得られる効果を有する。
【0028】なお、電気化学的洗浄に加え機械的洗浄を
も付加すれば、さらに洗浄効果が良くなり正確な権竜塩
素の測定ができる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態の残留塩素計の全体構成を
示した説明図である。
【図2】印加される交互電圧の態様を示すグラフであ
る。
【図3】他の交互電圧の態様を示すグラフである。
【図4】さらに他の交互電圧の態様を示すグラフであ
る。
【図5】この発明の実施例による洗浄効果を示すグラフ
である。
【図6】従来例の説明図である。
【図7】ポーラログラムを示すグラフである。
【符号の説明】
1…残留塩素計 2…導入口 3…排出口 4…密閉容器 5…検出電極 6…対極 7A…電位設定回路 8A…電流読み取り回路 S…被検査液
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 久保 俊裕 兵庫県尼崎市大浜町2丁目26番地 株式会 社クボタ武庫川製造所内 (72)発明者 河本 公太郎 兵庫県尼崎市大浜町2丁目26番地 株式会 社クボタ武庫川製造所内 (72)発明者 浪川 憲二郎 兵庫県尼崎市大浜町2丁目26番地 株式会 社クボタ武庫川製造所内 (72)発明者 安達 徹 兵庫県尼崎市大浜町2丁目26番地 株式会 社クボタ武庫川製造所内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部に検出電極と対極とを設けた容器に
    被検査液を流通させながら、検出電極と対極との間に一
    定電圧を印加し、その時の電流の大きさを電流計により
    計測し、計測した電流値を残留塩素濃度として認識する
    ように構成しポーラログラフ式残留塩素計において、検
    出電極と対極との間に還元電流測定電圧を印加する前
    に、還元電流測定電圧よりもプラス側の電圧とマイナス
    側の電圧を交互に印加し、検出電極に付着した汚染物質
    を電気化学的に除去することを特徴とする残留塩素計の
    電極洗浄方法。
  2. 【請求項2】 内部に検出電極と対極とを設けた容器に
    被検査液を流通させながら、検出電極と対極との間に一
    定電圧を印加し、その時の電流の大きさを電流計により
    計測し、計測した電流値を残留塩素濃度として認識する
    ように構成しポーラログラフ式残留塩素計において、前
    記検出電極と対極との間に印加する電圧を、還元電流測
    定電圧よりもプラス側の電圧、マイナス側の電圧及び還
    元電流測定電圧にそれぞれ印加するように設定する電位
    設定回路と、該電位設定回路により印加された電位測定
    電圧下での電流値を読み取る回路とを設けたことを特徴
    とする残留塩素計。
  3. 【請求項3】 ビーズ状研磨材による機械的研磨を併用
    したことを特徴とする請求項2に記載の残留塩素計。
JP8346395A 1996-12-26 1996-12-26 残留塩素計の電極洗浄方法および残留塩素計 Pending JPH10185871A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8346395A JPH10185871A (ja) 1996-12-26 1996-12-26 残留塩素計の電極洗浄方法および残留塩素計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8346395A JPH10185871A (ja) 1996-12-26 1996-12-26 残留塩素計の電極洗浄方法および残留塩素計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10185871A true JPH10185871A (ja) 1998-07-14

Family

ID=18383141

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8346395A Pending JPH10185871A (ja) 1996-12-26 1996-12-26 残留塩素計の電極洗浄方法および残留塩素計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10185871A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000298114A (ja) * 1999-04-13 2000-10-24 Merusu Giken:Kk 残留塩素測定装置
JP2006026214A (ja) * 2004-07-20 2006-02-02 Fado:Kk 空気の滅菌洗浄機
JP2007304081A (ja) * 2006-04-10 2007-11-22 Hokuto Denko Kk 溶液分析方法
JP2017053746A (ja) * 2015-09-10 2017-03-16 東亜ディーケーケー株式会社 残留塩素測定装置および残留塩素測定方法
KR20170052074A (ko) * 2015-11-03 2017-05-12 삼성전자주식회사 바이오 센서 및 그의 센싱 방법

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0519953U (ja) * 1991-03-27 1993-03-12 京都電子工業株式会社 残留塩素計
JPH0829374A (ja) * 1994-07-19 1996-02-02 Kyoto Electron Mfg Co Ltd 水質検査装置
JPH1082761A (ja) * 1996-09-05 1998-03-31 Merusu Giken:Kk 残留塩素測定方法及び装置並びに残留塩素検出プローブ

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0519953U (ja) * 1991-03-27 1993-03-12 京都電子工業株式会社 残留塩素計
JPH0829374A (ja) * 1994-07-19 1996-02-02 Kyoto Electron Mfg Co Ltd 水質検査装置
JPH1082761A (ja) * 1996-09-05 1998-03-31 Merusu Giken:Kk 残留塩素測定方法及び装置並びに残留塩素検出プローブ

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000298114A (ja) * 1999-04-13 2000-10-24 Merusu Giken:Kk 残留塩素測定装置
JP2006026214A (ja) * 2004-07-20 2006-02-02 Fado:Kk 空気の滅菌洗浄機
JP2007304081A (ja) * 2006-04-10 2007-11-22 Hokuto Denko Kk 溶液分析方法
JP2017053746A (ja) * 2015-09-10 2017-03-16 東亜ディーケーケー株式会社 残留塩素測定装置および残留塩素測定方法
US10473618B2 (en) 2015-09-10 2019-11-12 Kurita Water Industries Ltd. Residual chlorine measuring apparatus and method of measuring residual chlorine
KR20170052074A (ko) * 2015-11-03 2017-05-12 삼성전자주식회사 바이오 센서 및 그의 센싱 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6856867B2 (ja) 無試薬式遊離残留塩素測定装置および無試薬式遊離残留塩素測定方法
JPH06313760A (ja) 酵素電極による検体測定方法
JP6372302B2 (ja) 遊離残留塩素測定装置
JP2012127943A (ja) 重金属イオン測定方法及び重金属イオン測定装置
JPH10185871A (ja) 残留塩素計の電極洗浄方法および残留塩素計
GB1576984A (en) Monitoring of the concentration of heavy metals in aqueous liquors
KR100778237B1 (ko) 중금속 온라인 분석시스템
JP3390154B2 (ja) 残留塩素計およびこれを利用する浄水装置
JP4365086B2 (ja) 濃度測定装置及び濃度測定方法
JP4414277B2 (ja) 酸化還元電流測定装置および酸化還元電流測定装置の洗浄方法
JP3469962B2 (ja) 遊離塩素測定装置
JP2535386Y2 (ja) 残留塩素計
JP3080841B2 (ja) 水質検査装置
JP2002250711A (ja) 残留塩素計及びこの残留塩素計を用いた液体殺菌装置
JP3354054B2 (ja) 残留塩素計
JP4962796B2 (ja) 酸化還元電流測定装置
JP2001141692A (ja) 残留塩素濃度測定装置
JP2004144662A (ja) 酸化還元電流測定装置及び酸化還元電流測定方法
JP2575178Y2 (ja) 回転電極式分析計
JP3792981B2 (ja) 塩素濃度測定装置
KR100767222B1 (ko) 수질분석장치용 전극세정연마장치
JPH09288083A (ja) 残留塩素計の校正方法および残留塩素計
JPS62288559A (ja) 溶液の濃度測定法
JP2001228116A (ja) 残留塩素計及びこの残留塩素計を用いた液体殺菌装置
JPH0635959B2 (ja) 妨害成分の影響を受けない残留塩素測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050701

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20050719

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20051019

A602 Written permission of extension of time

Effective date: 20051024

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

A521 Written amendment

Effective date: 20060119

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A02 Decision of refusal

Effective date: 20060509

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02