JP3046005B2 - アナログ/ディジタル変換回路 - Google Patents

アナログ/ディジタル変換回路

Info

Publication number
JP3046005B2
JP3046005B2 JP10255616A JP25561698A JP3046005B2 JP 3046005 B2 JP3046005 B2 JP 3046005B2 JP 10255616 A JP10255616 A JP 10255616A JP 25561698 A JP25561698 A JP 25561698A JP 3046005 B2 JP3046005 B2 JP 3046005B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bias voltage
switch
analog
transistors
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP10255616A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11145830A (ja
Inventor
棟 映 張
宰 ▲ゆぷ▼ 李
承 勳 李
庸 仁 朴
昇 雨 朴
Original Assignee
エルジー セミコン カンパニー リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エルジー セミコン カンパニー リミテッド filed Critical エルジー セミコン カンパニー リミテッド
Publication of JPH11145830A publication Critical patent/JPH11145830A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3046005B2 publication Critical patent/JP3046005B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/14Conversion in steps with each step involving the same or a different conversion means and delivering more than one bit
    • H03M1/16Conversion in steps with each step involving the same or a different conversion means and delivering more than one bit with scale factor modification, i.e. by changing the amplification between the steps
    • H03M1/162Conversion in steps with each step involving the same or a different conversion means and delivering more than one bit with scale factor modification, i.e. by changing the amplification between the steps the steps being performed sequentially in a single stage, i.e. recirculation type

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、アナログ/ディジ
タル変換技術に係るもので、詳しくは、既存の標準ディ
ジタルCMOS工程により構成された標準セルライブラ
リ(Cell Library)の特性変化を最小化し得るアナログ
/ディジタル変換回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、アルゴリズミック(Algorithmi
c)アナログ/ディジタル(以下、A/Dと称す)変換
器は、逐次近似レジスタ形式のA/D変換器及びΣ−Δ
A/D変換器と一緒にオーディオ応用分野で広用されて
いる回路である。
【0003】それらの変換器中、アルゴリズミックA/
D変換器は、電力の消耗、クロックの速度及び素子の個
数などを最も効率的に調節することができる。
【0004】特に、サイクリック又はリサーキュレーテ
ングA/D変換器と呼ばれているアルゴリズミックA/
D変換器は、多様な形態に具現することができるし、ア
ナログ及びディジタル回路ブロックの一部を修正する
と、ビデオ信号を処理するためのパイプライン構造に容
易に拡張し得るという利点がある。
【0005】一般のアルゴリズミックA/D変換器にお
いては、図8に示したように、入力信号Vi又はフィー
ドバック信号Vfを選択するスイッチ101と、該スイ
ッチ101から入力された信号をサンプル/ホールドす
るサンプル/ホールド増幅器102と、該サンプル/ホ
ールド102の出力信号をディジタル信号に変換するA
/D副変換器105と、該A/D副変換器105の出力
信号をアナログ信号に変換するディジタル/アナログ
(以下、D/Aと称す)副変換器106と、前記サンプ
ル/ホールド増幅器102の出力信号と前記D/A副変
換器106の出力信号とを比較し、その差値を算出する
減算器103と、該減算器103の出力信号を所定レベ
ルに増幅する残留電圧増幅器104と、前記A/D副変
換器105の出力信号をNビットまで、1ビットずつ重
畳してエラーを校正し、該校正されたNビットのディジ
タル信号を出力するディジタル校正部107と、を備え
て構成されていた。
【0006】以下、このように構成された従来アルゴリ
ズミックA/D変換器の動作に対し、説明する。
【0007】先ず、スイッチ101が、チャンネル1に
接続され、外部アナログ信号Viが入力されると、サン
プル/ホールド増幅器102は、該アナログ信号Viを
サンプル/ホールドする。
【0008】このとき、NビットA/D副変換器105
は、前記サンプル/ホールド増幅器102の出力信号を
ディジタル信号に変換し、NビットD/A副変換器10
6は、該変換されたディジタル信号をアナログ信号に変
換する。
【0009】次いで、減算器103は、前記サンプル/
ホールド増幅器102の出力信号とNビットD/A副変
換器106の出力信号との差である残留電圧を算出し、
残留電圧増幅器104は、算出された該残留電圧を増幅
する。
【0010】このとき、前記スイッチ101は、切換え
られ、前記残留電圧増幅器104の出力端子を前記サン
プル/ホールド増幅器102の入力端子に接続させ、該
サンプル/ホールド増幅器102は、前記残留電圧増幅
器104の出力信号をサンプル/ホールドする。従っ
て、NビットA/D副変換器105が、前記サンプル/
ホールド増幅器102からホールディングされた誤差値
をディジタル信号に変換すると、D/A副変換器106
が、該ディジタル信号をアナログ信号に変換して前記減
算器103に出力し、該減算器103は、前記サンプル
/ホールド増幅器102の出力信号から前記A/D副変
換器105の出力信号を減算して残留電圧増幅器104
を経て前記サンプル/ホールド増幅器102にフィード
バックさせる。
【0011】このとき、一度のデータが変換される1サ
イクル毎に、Nビットずつの出力信号が選択され、ディ
ジタル校正部107からNビットのディジタル信号が出
力されるまで、同様な過程が反復される。
【0012】且つ、前記ディジタル校正部107は、N
ビットのデータを1ビットずつ重畳して前記サンプル/
ホールド増幅器102、前記A/D変換器105及びD
/A変換器106から発生するオフセット又はフィード
スルー(Feed through)誤差を除去し、正常なディジタ
ルデータを出力することができる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】然るに、このような従
来のアルゴリズミックA/D変換器においては、ゲート
電極の抵抗を減らすため、タングステンシリサイドによ
りゲート電極を形成する場合、キャパシタの下部電極を
追加して形成すべきであるという不都合な点があった。
【0014】且つ、演算増幅器にて構成されたサンプル
/ホールド増幅器、減算器及び残留電圧増幅器のような
アナログ回路の消耗電力が多く、該回路のキャパシタン
スが大いに変化すると、回路動作が不安定になるという
不都合な点があった。
【0015】そこで、本発明は、このような従来の課題
に鑑みてなされたもので、寄生キャパシタンス値の最も
小さいメタルによりキャパシタを形成し、該キャパシタ
の性能低下を防止するキャパシタチューニング回路を構
成して、アナログ領域の消耗電力を減らし、回路動作の
安定化を図り得るアナログ/ディジタル変換回路を提供
することを目的とする。
【0016】即ち、本発明は、標準セルライブラリの特
性変化を最小化するため、各工程時、最小の寄生キャ
パシタンスを有するメタル電極のキャパシタを形成し、
キャパシタチューニング回路を用いて、上、下部メタ
ル電極のキャパシタ中、最適なキャパシタンスを有する
キャパシタを選択し、製造工程時に、各メタルの厚さの
変化に従いキャパシタンス値が変化して性能が低下する
ことを防止し、アナログ領域で消耗される電力を最小
化して演算増幅器の消耗電力を減らし得るA/D変換回
路を提供することを目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るため、本発明に係るA/D変換回路においては、外部
アナログ入力信号Viを受入れる第1サンプル/ホール
ド増幅器201と、第1サンプル/ホールド増幅器20
1の出力信号を選択した後、切換えてフィードバック信
号Vfを選択するスイッチ202と、該スイッチ202
を経て入力されたアナログ信号をディジタル信号に変換
するA/D副変換器206と、該A/D副変換器206
の出力信号をアナログ信号に変換するD/A副変換器2
07と、前記スイッチ202を経て入力したアナログ信
号と前記D/A副変換器207の出力信号との差を算出
する減算器203と、該減算器203の出力信号を増幅
する残留電圧増幅器204と、該残留電圧増幅器204
の出力信号をサンプル/ホールドして前記スイッチ20
2にフィードバックさせる第2サンプル/ホールド増幅
器205と、前記A/D副変換器206の出力信号を1
ビットずつ重畳してNビットのディジタル信号を出力す
るディジタル校正部208と、前記各部の動作を制御す
るためのタイミング制御部209と、を含んで構成さ
れ、前記スイッチ202は、最初のサイクルでのみ、第
1サンプル/ホールド増幅器201の出力信号を選択す
るようになっている。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態に対
し、図面を用いて説明する。
【0019】本発明に係るA/D変換回路おいては、図
1に示したように、外部アナログ入力信号Viをサンプ
ル/ホールドする第1サンプル/ホールド増幅器201
と、該第1サンプル/ホールド増幅器201の出力信号
を選択した後、切換してフィードバック信号Vfを選択
するスイッチ202と、該スイッチ202を経て入力さ
れたアナログ信号をディジタル信号に変換するA/D副
変換器206と、該A/D副変換器206の出力信号を
アナログ信号に変換するD/A副変換器207と、前記
スイッチ202を経て入力したアナログ信号と前記D/
A副変換器207の出力信号との差を算出する減算器2
03と、該減算器203の出力信号を増幅する残留電圧
増幅器204と、該残留電圧増幅器204の出力信号を
サンプル/ホールドして前記スイッチ202にフィード
バックさせる第2サンプル/ホールド増幅器205と、
前記A/D副変換器206の出力信号を1ビットずつ重
畳してNビットのディジタル信号を出力するディジタル
校正部208と、前記各部の動作を制御する制御信号及
びタイミングクロックを発生するタイミング制御部20
9と、を備えて構成されている。
【0020】そして、前記第1サンプル/ホールド増幅
器201においては、図2に示したように、各入力信号
Vin1+、Vin1−が夫々印加されたスイッチSW
11、SW12を各キャパシタC11、C12を通って
演算増幅器OP1の入力端子(−)(+)に夫々接続し
て前記スイッチSW11、SW12間にスイッチSW1
3を接続し、前記演算増幅器OP1の反転入力端子
(−)にバイアス(Bias)電流の印加されたスイッチS
W14を接続すると同時に非反転出力端子(Vout1
+)との間にキャパシタC13を接続し、前記演算増幅
器OP1の非反転入力端子(+)にバイアス電流の印加
されたスイッチSW15を接続すると同時に反転出力端
子(Vout1−)との間にキャパシタC14を接続
し、前記演算増幅器OP1の出力端子(Vout1+、
Vout1−)間に、スイッチSW16を接続して構成
されている。
【0021】且つ、前記第2サンプル/ホールド増幅器
205においては、各入力信号Vin2+、Vin2−
が夫々印加されたスイッチSW21、SW22を各キャ
パシタC21、C22を通って演算増幅器OP2の入力
端子(−)(+)に夫々接続させて該演算増幅器OP2
の反転入力端子の(−)にバイアス電圧の印加されたス
イッチSW23を接続すると同時に非反転出力端子
(+)極にバイアス電圧の印加されたスイッチSW24
を接続し、前記スイッチSW21と前記演算増幅器OP
2の非反転出力端子Vout2+間にスイッチSW25
を接続し、前記スイッチSW22と前記演算増幅器OP
2の反転出力端子Vout2−間にスイッチSW26を
接続し、前記各出力端子Vout2+、Vout2−間
に、スイッチSW27を接続して構成されている。
【0022】このとき、キャパシタC11〜C14、C
21、C22は、上下部電極がメタルにてなる金属キャ
パシタを用いる。
【0023】又、前記各演算増幅器OP1、OP2は、
図6に示したように、夫々一つの回路に構成され、MD
AC内の残留電圧増幅器204は、図4に示した回路
と、図6と同様な回路との、二つを直列連結して構成さ
れている。
【0024】更に、前記演算増幅器OP1、OP2に
は、バイアス電圧Bias1〜Bias6が印加され、
チューニング回路を包含していない。
【0025】且つ、MDAC内の残留電圧増幅器204
を構成している増幅器211、212は、回路の安定化
を図るため、周波数補償キャパシタC1〜Ckを備え、
キャパシタンスを可変し得るチューニング回路が備えら
れる。
【0026】又、前記周波数補償キャパシタC1〜Ck
は、金属電極キャパシタで、任意のキャパシタが選択さ
れると、その他のキャパシタは、上部電極と下部電極と
が連結される。
【0027】更に、前記各増幅器211、212は、増
幅器212のコンダクタンスgm2が、増幅器211の
コンダクタンスgm1よりも、恒常、大ききなるように
構成する。
【0028】そして、前記各増幅器211、212及び
演算増幅器OP1、OP2においては、図6に示したよ
うに、ソースに電圧Vddが印加されたPMOSトラン
ジスタPM4、PM5のゲートにバイアス電圧Bias
1を印加し、該PMOSトランジスタPM4、PM5の
ドレインを、ゲートに入力信号INC、INTが夫々印
加されたNMOSトランジスタNM2、NM1のドレイ
ンに接続し、且つ、前記PMOSトランジスタPM4、
PM5のドレインを、ゲートにバイアス電圧Bias2
が印加されたPMOSトランジスタPM6、PM7のソ
ースに夫々接続して前記NMOSトランジスタNM1、
NM2のソースを、ゲートにバイアス電圧Bias4が
印加されたNMOSトランジスタNM3のドレインに接
続し、バイアス電圧Bias5が印加されたフィードバ
ック回路CMFBの出力がゲートに印加されたNMOS
トランジスタNM10、NM11のドレインを、ゲート
にバイアス電圧Bias3が印加されたNMOSトラン
ジスタNM8、NM9のソースに夫々接続し、前記NM
OSトランジスタNM3、NM10、NM11のソース
を夫々接地し、前記PMOSトランジスタPM6、PM
7のドレインを前記NMOSトランジスタNM8、NM
9のドレインに夫々接続し、それら接続点を前記フィー
ドバック回路CMFBの入力端子に接続して出力端子O
UTC、OUTTになるように構成されている。
【0029】前記バイアス回路214においては、図7
に示したように、PMOSトランジスタPM1〜PM7
のソースに電圧Vddを印加し、各NMOSトランジス
タNM1〜NM6のソースを接地し、前記MOSトラン
ジスタPM1、NM1のドレインを共通接続し、該接続
点を前記NMOSトランジスタNM1のゲートに接続し
てバイアス電圧Bias6を発生し、前記MOSトラン
ジスタPM2、NM2のドレインを共通接続し、該接続
点を前記NMOSトランジスタNM2のゲートに接続し
てバイアス電圧Bias4を発生し、前記MOSトラン
ジスタPM3、NM3のドレインを共通接続し、該接続
点を前記PMOSトランジスタPM2、PM3のゲート
に接続してバイアス電圧Bias1を発生し、前記MO
SトランジスタPM4、NM4のドレインを共通接続
し、該接続点を前記PMOSトランジスタPM4のゲー
トに接続してバイアス電圧Bias2を発生し、前記P
MOSトランジスタPM5のドレインに接続されたスイ
ッチSW1を前記NMOSトランジスタNM5のドレイ
ン及び前記NMOSトランジスタNM3〜NM5のゲー
トに接続してバイアス電圧Bias5を発生し、前記M
OSトランジスタPM6、NM6のドレインを共通接続
し、該接続点を前記NMOSトランジスタNM6のゲー
トに接続してバイアス電圧Bias3を発生し、前記P
MOSトランジスタPM7のドレインに電流源Is1を
接続し、該接続点が前記PMOSトランジスタPM1、
PM5〜PM7のゲートに共通接続して夫々構成されて
いる。
【0030】以下、このように構成された本発明に係る
A/D変換回路の動作を説明する。
【0031】先ず、スイッチ202がチャンネル1に接
続された状態で、サンプル/ホールド増幅器201によ
りアナログ入力信号Viがサンプル/ホールドされる
と、第1サンプル/ホールドの出力信号は、減算器20
3及びA/D副変換器206に出力される。
【0032】このとき、第1サンプル/ホールド201
の出力信号は、前記減算器203を経て残留電圧増幅器
204に入力され、該残留電圧増幅器204で所定レベ
ルに増幅された後、第2サンプル/ホールド増幅器20
5に入力される。
【0033】そして、前記第2サンプル/ホールド増幅
器205の出力信号は、前記A/D副変換器206でデ
ィジタル信号に変換されてディジタル校正部208に出
力され、該ディジタル信号はD/A副変換器207でア
ナログ信号に変換されて前記減算器203に入力され
る。
【0034】このとき、前記スイッチ202が、チャン
ネル2に切換えられ、前記第2サンプル/ホールド増幅
器205の出力端子を前記減算器203及びA/D副変
換器206に接続させると、該減算器203は、前記第
2サンプル/ホールド増幅器205の出力信号からD/
A副変換器207の出力信号を減算して該差信号を残留
電圧増幅器204に出力すると、該残留電圧増幅器20
4で所定レベルに増幅され、前記第2サンプル/ホール
ド増幅器205により前記スイッチ202を経てA/D
副変換器206及び前記減算器203に入力される。
【0035】そして、前記A/D副変換器206は、前
記スイッチ202を経てフィードバック信号をディジタ
ル信号に変換してディジタル校正部108に出力し、該
ディジタル信号は、前記D/A副変換器207でアナロ
グ信号に変換され、前記減算器203に入力される。
【0036】次いで、前記減算器203は、第2サンプ
ル/ホールド増幅器205の出力信号からD/A副変換
器207の出力信号を減算して、該差信号を残留電圧増
幅器204に出力すると、該残留電圧増幅器204で前
記減算器203の出力信号を所定レベルに増幅して前記
第2サンプル/ホールド増幅器205に出力する。
【0037】一方、前記A/D副変換器206は、1サ
イクル毎に1ビットの信号をディジタル校正部208に
出力し、最終的に、Nビットのディジタル信号まで出力
する。
【0038】例えば、A/D副変換器206で、12ビ
ットのディジタル信号を出力する場合、11サイクルの
動作が終了された後、ディジタル校正部208に12ビ
ットのディジタル信号が入力される。
【0039】このとき、A/D副変換器206で、1サ
イクル当1ビットのディジタル信号を出力する理由は、
回路に用いられるメタル−メタルキャパシタ数を最小化
するためである。
【0040】従って、ディジタル校正部208は、A/
D副変換器20から入力されたNビットのデータを1ビ
ットずつ重畳して第1,第2サンプル/ホールド増幅器
201、205、A/D副変換器206及びD/A副変
換器207から発生するオフセット又はフィードスルー
誤差を除去する。
【0041】このような過程は、ディジタル校正部20
8からNビットのディジタル信号を出力するまで、反復
して行われ、タイミング回路209のタイミングクロッ
クにより制御される。
【0042】且つ、本発明で、二つの第1、第2サンプ
ル/ホールド増幅器201、205を用いる理由は、シ
ステム性能を向上するためである。
【0043】又、第1サンプル/ホールド増幅器201
は、信号の歪みを減少するため、四つのキャパシタを用
い、図2に示したように構成する。
【0044】更に、第2サンプル/ホールド増幅器20
5は、ほとんどのサイクルの間、信号処理するため、電
力の消耗を最小化する必要が生じ、二つのキャパシタを
用い、図3に示したように構成する。
【0045】そして、前記第1サンプル/ホールド増幅
器201は、二つの重畳されない疑似クロックΦ1、Φ2
により動作し、該動作がシステムの入力性能を決定し、
位相Φ1が活性化されている間、入力信号をサンプリン
グし、位相Φ2が活性化されている間は、二つの入力端
子を連結して差動増幅された信号を出力する。
【0046】ここで、前記疑似クロックΦ1は、前記A
/D副変換器206に印加されるクロック信号と同様で
あり、疑似クロックΦ2は、前記疑似クロックΦ2の反転
信号である。
【0047】このような方法を利用すると、第1サンプ
ル/ホールド増幅器201の演算増幅器OPの入力共通
モード電圧の変化を最小化して信号の歪みを減らすこと
ができるが、図3に示した二つのキャパシタを用いる第
2サンプル/ホールド増幅器205よりもフィードバッ
ク効果が2倍ほど増加するため、該第2サンプル/ホー
ルド205と同様な性能を得るためには、2倍の電力を
必要とする。
【0048】しかし、第1サンプル/ホールド増幅器2
01は、最初に入力信号をサンプリングした後、その以
後の動作サイクルの間は、動作されないため、電力を考
慮する必要はない。
【0049】一方、本発明は、スイッチ202、減算器
203、残留電圧増幅器204及びD/A副変換器20
7を一つの回路に集積してマルチプライングD/A変換
器(MDAC)を構成し、各回路に用いられるキャパシタン
スを一つのポリ層のみに用いるため、二つのメタルから
なるメタル−メタルキャパシタにて構成する。
【0050】即ち、本発明では、ダブルポリ(Double p
oly)キャパシタを使用し得ないため、ポリ及び二つの
メタルからなる構造中、下部極板(Bottom-plate)の寄
生成分が最も小さい二つのメタルを夫々下部極板及び上
部極板(Top-plate)に用いてキャパシタを構成する。
【0051】この場合、単位面積当りのキャパシタンス
値が、極めて小さくて一つのチップに集積しようとする
と、非常に大きい面積を必要とするという欠点がある。
【0052】従って、システムに必要な層キャパシタン
ス値を最小化するため、1サイクル当り1ビットの出力
信号を得るようにA/D副変換器206を構成する。
【0053】一般に、メタル−メタルキャパシタを使用
すると、製造工程中の変化要因により、演算増幅器など
に用いられるキャパシタンス値が±の30%以上も変化
することもあり、より深刻な場合は、位相余裕が悪化さ
れ、システムが発振するときもある。
【0054】このような不安定さは、従来混成モード回
路で頻繁に発生する問題点であったため、本発明では、
図5に示したように、キャパシタンスの正確度の低下を
防止するため、演算増幅器OP包含し、マルチプライン
グA/D変換器MDACの性能悪化の現像を減らし得る
チューニング回路213を備えて構成する。
【0055】該チューニング回路213は、ディジタル
信号DS1〜DSkによりスイッチS1〜Skを制御
し、各キャパシタC1〜Ck中、何れか一つを演算増幅
器OPの補償キャパシタとして選択して調節することが
できる。
【0056】その後、所望のキャパシタを選択し、使用
しないキャパシタは、上部極板と下部極板とを連結して
マルチプライングD/A変換器MDACの動作に影響を
与えないようにする。
【0057】本発明に係るマルチプライングD/A変換
器MDAC、第1、第2サンプル/ホールド増幅器20
1、205のような演算増幅器OPを包含するアナログ
回路ブロックでは、総消費電力のほとんどが消費され
る。
【0058】従来技術では、クロックを使用しない最初
の半周期の間は、電力供給を中断し、その後の半周期の
間は、増幅動作のため、電力を再供給するが、周期的な
ターンオン、ターンオフ動作を行うようになって、演算
増幅器OPは、与えられた時間内に、正確で安定的な信
号を出力することが難しかった。
【0059】従って、本発明では、図7に示したバイア
ス回路214を用い、バイアス電圧Bias1〜Bia
s6を一定のフロー(Flow)に従って、図4に示したフ
ォールデッドカスコード(Folded-Cascode)増幅器21
1、212に供給し、電力消耗を50%程に減らしなが
らも信号の安定性を維持するようになっている。
【0060】即ち、バイアス回路214で、スイッチS
W1がターンオンされるの半周期の間、フォールデッド
カスコード増幅器によりバイアス電圧をBias6−B
ias1(2)−Bias4の順に、適宜な遅延時間を
置いて供給するが、図4に示した2段増幅器211、2
12を用いて、増幅器212のトランスコンダクタンス
gm2が増幅器211のトランスコンダクタンスgm1
よりも恒常大きくなるように構成する。
【0061】且つ、単位利得周波数(Wu n i t y)及び二
番目のポル(Wp 2)間のポルスプリッティング(Pole S
plitting)現像を利用して、マルチプライングD/A変
換器MDACの演算増幅器OPampの位相が十分にな
るように調整して信号を安定化させる。
【0062】又、図6に示した2段増幅器211、21
2は、PMOSトランジスタの電子移動度が、NMOS
トランジスタの電子移動度よりも小さくなるため、PM
OSトランジスタはNMOSトランジスタよりも、通
常、2倍以上の大きさに構成すべきである。
【0063】更に、図7に示したバイアス回路214で
発生されるバイアス電圧Bias3、Bias5は、共
通モード電圧を調整するための電圧であって、電力の消
耗がほとんどないので、恒常、オン状態になるように構
成する。
【0064】従って、本発明は、アナログ領域で電力の
消耗を最小化させ、マルチプライングD/A変換器MD
AC及び第1、第2サンプル/ホールド増幅器201,
205のような演算増幅器OPを備えたA/D変換回路
の消費の電力を50%程減らすことができる。
【0065】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るA/
D変換回路においては、標準ディジタルCMOS工程の
変化無しに、上下部電極がメタルにてなるキャパシタを
構成し、単位面積当り最小のキャパシタンスを得るため
に、1サイクル当り1ビットのディジタル信号を生成さ
せ、キャパシタの使用数を減らして集積面積を最小化
し、システムの不安定な動作を防止し得るという効果が
ある。
【0066】且つ、アナログ領域で、電力の消耗を最小
化させ、アナログ回路ブロックは勿論で、システム全体
の性能をより向上し得るという効果がある。
【0067】又、既存のアナログ回路を用いるシステム
又はアナログ及びディジタル回路が併存する混成モード
回路の場合、大したシステムの校正又は変更無しにその
まま用いることができるという効果がある。
【0068】従って、大した追加工程又は設計費用なし
に既存の回路を使用し得るため、生産費を低廉化し得る
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るアナログ/ディジタル変換回路の
ブロック図である。
【図2】図1に示したサンプル/ホールド増幅器の等価
回路図である。
【図3】図1に示したサンプル/ホールド増幅器の等価
回路図である。
【図4】図1に示したMDCAの等価回路図である。
【図5】図4に示したチューニング回路の等価回路図で
ある。
【図6】図2〜図4に示した演算増幅器の回路図であ
る。
【図7】図4に示したバイアス回路図である。
【図8】従来のアナログ/ディジタル変換回路のブロッ
ク図である。
【符号の説明】
201 第1サンプル/ホールド増幅器 202 スイッチ 203 減算器 204 残留電圧増幅器 205 第2サンプル/ホールド増幅器 206 A/D副変換器 207 D/A副変換器 208 ディジタル校正部 209 タイミング制御部 211、212 フォールデッドカスコード増幅器 213 チューニング回路 214 バイアス回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 李 承 勳 大韓民国ソウル特別市龍山区東部二村洞 32 レックスアパート14−405 (72)発明者 朴 庸 仁 大韓民国ソウル特別市江南区大峙洞316 銀馬アパート29−606 (72)発明者 朴 昇 雨 大韓民国忠清北道清州市興徳区鳳鳴2洞 353−5 エルジーアパート エー−108 (56)参考文献 特開 平6−60689(JP,A) 実開 昭63−120426(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03M 1/14 H03M 1/40 H03M 3/02

Claims (14)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アナログ入力信号を受入れて、最初のサ
    イクルの間でのみ動作される第1サンプル/ホールド増
    幅器(201)と、該第1サンプル/ホールド増幅器
    (201)の出力信号及びフィードバック信号を切換す
    るスイッチ(202)と、該スイッチ(202)の出力
    信号をディジタル信号に変換するA/D副変換器(20
    6)と、該A/D副変換器(206)の出力信号をアナ
    ログ信号に変換するD/A副変換器(207)と、前記
    スイッチ(202)の出力信号と前記D/A副変換器
    (207)の出力信号との差を算出する減算器(20
    3)と、該減算器(203)の出力信号を増幅する残留
    電圧増幅器(204)と、該残留電圧増幅器(204)
    の出力信号をサンプリング/ホールドして、前記スイッ
    チ(202)にフィードバックさせる第2サンプル/ホ
    ールド増幅器(205)と、前記A/D副変換器(20
    6)の出力信号を1ビットずつ重畳してNビットのディ
    ジタル信号を出力するディジタル校正部(208)と、
    前記各部の動作を制御するためのタイミング制御部(2
    09)と、を構えたアナログ/ディジタル変換回路にお
    いて、 前記第1サンプル/ホールド増幅器(201)は、前記
    第2サンプル/ホールド増幅器(205)のフィードバ
    ック利得よりも相対的に大きいフィードバック利得を有
    するものであることを特徴とするアナログ/ディジタル
    変換回路。
  2. 【請求項2】 前記第1サンプル/ホールド増幅器(2
    01)は、4個のキャパシタを使用する構造にし、前記
    第2サンプル/ホールド増幅器(205)は、2個のキ
    ャパシタを使用する構造にしたことを特徴とする請求項
    1記載のアナログ/ディジタル変換回路。
  3. 【請求項3】 前記第1サンプル/ホールド増幅器は、
    各入力信号(Vin1+)、(Vin1−)が夫々印加
    された各スイッチ(SW11)、(SW12)を各キャ
    パシタ(C11)、(C12)を通って演算増幅器(O
    P1)の入力端子(−)(+)夫々接続させて前記各ス
    イッチ(SW11)、(SW12)間にスイッチ(SW
    13)を接続し、前記演算増幅器(OP1)の反転入力
    端子(−)にバイアス電流(BIAS)の印加されたス
    イッチ(SW14)を接続すると同時に非反転出力端子
    (Vout1+)との間にキャパシタ(C13)を接続
    し、前記演算増幅器(OP1)の非反転入力端子(+)
    にバイアス電流(BIAS)の印加されたスイッチ(S
    W15)を接続すると同時に反転出力端子(Vout1
    −)との間にキャパシタ(C14)を接続し、前記演算
    増幅器(OP1)の出力端子(Vout1+、Vout
    1−)間に、スイッチ(SW16)を接続して構成され
    たことを特徴とする請求項1記載のアナログ/ディジタ
    ル変換回路。
  4. 【請求項4】 前記各キャパシタ(C11〜C14)
    は、上下部電極がメタルにてなるメタル−メタル(Meta
    l-to-Metal)キャパシタであることを特徴とする請求項
    3記載のアナログ/ディジタル変換回路。
  5. 【請求項5】 前記各スイッチ(SW11、SW12、
    SW14〜SW16)と前記スイッチ(SW13)と
    は、相互重畳しない相異な位相のクロックにより動作さ
    れることを特徴とする請求項3記載のアナログ/ディジ
    タル変換回路。
  6. 【請求項6】 前記演算増幅器(OP1)は、ソースに
    電圧Vddの印加されたPMOSトランジスタ(PM
    4、PM5)のゲートにバイアス電圧(Bias1)を
    印加し、該PMOSトランジスタ(PM4、PM5)の
    ドレインを、ゲートに入力信号(INC)、(INT)
    が夫々印加されたNMOSトランジスタ(NM2、NM
    1)のドレインに接続し、且つ、前記PMOSトランジ
    スタ(PM4、PM5)のドレインを、ゲートにバイア
    ス電圧(Bias2)が印加されたPMOSトランジス
    タ(PM6、PM7)のソースに夫々接続して前記NM
    OSトランジスタ(NM1、NM2)のソースを、ゲー
    トにバイアス電圧(Bias4)が印加されたNMOS
    トランジスタ(NM3)のドレインに接続し、バイアス
    電圧(Bias5)が印加されたフィードバック回路
    (CMFB)の出力がゲートに印加されたNMOSトラ
    ンジスタ(NM10、NM11)のドレインを、ゲート
    にバイアス電圧(Bias3)が印加されたNMOSト
    ランジスタ(NM8、NM9)のソースに夫々接続し、
    前記NMOSトランジスタ(NM3、NM10、NM1
    1)のソースを夫々接地し、前記PMOSトランジスタ
    (PM6、PM7)のドレインを前記NMOSトランジ
    スタ(NM8、NM9)のドレインに夫々接続し、それ
    らの接続点を前記フィードバック回路(CMFB)の入
    力端子に接続して出力端子(OUTC)、(OUTT)
    になるように構成されたことを特徴とする請求項3記載
    のアナログ/ディジタル変換回路。
  7. 【請求項7】 前記第1サンプル/ホールド増幅器は、
    各PMOSトランジスタ(PM1〜PM7)のソースに
    電圧(Vdd)を印加し、各NMOSトランジスタ(N
    M1〜NM6)のソースを接地し、前記MOSトランジ
    スタ(PM1、NM1)のドレインを共通接続し、該接
    続点を前記NMOSトランジスタ(NM1)のゲートに
    接続してバイアス電圧(BIAS)を出力し、前記MO
    Sトランジスタ(PM2、NM2)のドレインを共通接
    続し、該接続点を前記NMOSトランジスタ(NM2)
    のゲートに接続してバイアス電圧(BIAS4)を出力
    し、前記MOSトランジスタ(PM3、NM3)のドレ
    インを共通接続し、該接続点を前記PMOSトランジス
    タ(PM2、PM3)のゲートに接続してバイアス電圧
    (BIAS1)を出力し、前記MOSトランジスタ(P
    M4、NM4)のドレインを共通接続し、該接続点を前
    記PMOSトランジスタ(PM4)のゲートに接続して
    バイアス電圧(BIAS2)を出力し、前記PMOSト
    ランジスタ(PM5)のドレインに接続されたスイッチ
    (SW1)を、前記NMOSトランジスタ(NM5)の
    ドレイン及び前記NMOSトランジスタ(NM3〜NM
    5)のゲートに接続してバイアス電圧(BIAS6)を
    出力し、前記MOSトランジスタ(PM6、NM6)の
    ドレインを共通接続し、該接続点を前記NMOSトラン
    ジスタ(NM6)のゲートに接続してバイアス電圧(B
    IAS3)を出力し、前記PMOSトランジスタ(PM
    7)のドレインに電流源(Is1)を接続し、該接続点
    が前記PMOSトランジスタ(PM1、PM5〜PM
    7)のゲートに共通接続して構成されたバイアス回路を
    備えて前記演算増幅器(OP1)にバイアス電圧を印加
    するように構成されたことを特徴とする請求項3記載の
    アナログ/ディジタル変換回路。
  8. 【請求項8】 前記第2サンプル/ホールド増幅器は、
    各入力信号(Vin2+)、(Vin2−)が夫々印加
    された各スイッチ(SW21)、(SW22)を各キャ
    パシタ(C21)、(C22)を通って演算増幅器(O
    P2)の入力端子(−)(+)に夫々接続させて該演算
    増幅器(OP2)の反転入力端子(−)にバイアス電圧
    の印加されたスイッチ(SW23)を接続すると共に非
    反転出力端子(+)にバイアス電圧の印加されたスイッ
    チ(SW24)を接続し、前記スイッチ(SW21)と
    前記演算増幅器(OP2)の非反転出力端子(Vout
    2+)間にスイッチ(SW25)を接続し、前記スイッ
    チ(SW22)と前記演算増幅器(OP2)の反転出力
    端子(Vout2−)間にスイッチ(SW26)を接続
    し、前記各出力端子(Vout2+)、(Vout2
    −)間に、スイッチ(SW27)を接続して構成された
    ことを特徴とする請求項1記載のアナログ/ディジタル
    変換回路。
  9. 【請求項9】 前記各キャパシタ(C21,C22)
    は、上下部電極がメタルにてなるメタルーメタルキャパ
    シタであることを特徴とする請求項8記載のアナログ/
    ディジタル変換回路。
  10. 【請求項10】 前記各スイッチ(SW21〜SW2
    4、SW27)と前記各スイッチ(SW25、SW2
    6)とは、相互重畳しない相異な位相のクロックにより
    動作されることを特徴とする請求項8記載のアナログ/
    ディジタル変換回路。
  11. 【請求項11】 前記演算増幅器(OP2)は、ソース
    に電圧(Vdd)が印加されたPMOSトランジスタ
    (PM4、PM5)のゲートにバイアス電圧(Bias
    1)を印加し、該PMOSトランジスタ(PM4、PM
    5)のドレインを、ゲートに入力信号(INC、IN
    T)が印加されたNMOSトランジスタ(NM2、NM
    1)のドレインに接続し、且つ、前記PMOSトランジ
    スタ(PM4、PM5)のドレインを、ゲートにバイア
    ス電圧(Bias2)が印加されたPMOSトランジス
    タ(PM6、PM7)のソースに接続して前記NMOS
    トランジスタ(NM2、NM1)のソースを、ゲートに
    バイアス電圧(Bias4)が印加されたNMOSトラ
    ンジスタ(NM3)のドレインに接続し、バイアス電圧
    (Bias5)が印加されたフィードバック回路(CM
    FB)の出力がゲートに印加されたNMOSトランジス
    タ(NM10、NM11)のドレインを、ゲートにバイ
    アス電圧(Bias3)が印加されたNMOSトランジ
    スタ(NM8、NM9)のソースに夫々接続し、前記N
    MOSトランジスタ(NM3、NM10、NM11)の
    ソースを夫々接地し、前記PMOSトランジスタ(PM
    6、PM7)のドレインを前記NMOSトランジスタ
    (NM8、NM9)のドレインに夫々接続し、それら接
    続点を前記フィードバック回路(CMFB)の入力端子
    に接続して出力端子(OUTC、OUTT)になるよう
    に構成されたことを特徴とする請求項8記載のアナログ
    /ディジタル変換回路。
  12. 【請求項12】 前記第2サンプル/ホールド増幅器
    は、各PMOSトランジスタ(PM1〜PM7)のソー
    スに電圧(Vdd)を印加し、各NMOSトランジスタ
    (NM1〜NM6)のソースを接地し、前記MOSトラ
    ンジスタ(PM1、NM1)のドレインを共通接続し、
    該接続点を前記NMOSトランジスタ(NM1)のゲー
    トに接続してバイアス電圧(BIAS5)を出力し、前
    記MOSトランジスタ(PM2、NM2)のドレインを
    共通接続し、該接続点を前記NMOSトランジスタ(N
    M2)のゲートに接続してバイアス電圧(BIAS4)
    を出力し、前記MOSトランジスタ(PM3、NM3)
    のドレインを共通接続し、該接続点を前記PMOSトラ
    ンジスタ(PM2、PM3)のゲートに接続してバイア
    ス電圧(BIAS1)を出力し、前記MOSトランジス
    タ(PM4、NM4)のドレインを共通接続し、該接続
    点を前記PMOSトランジスタ(PM4)のゲートに接
    続してバイアス電圧(BIAS2)を出力し、前記PM
    OSトランジスタ(PM5)のドレインに接続されたス
    イッチ(SW1)を前記NMOSトランジスタ(NM
    5)のドレイン及び前記NMOSトランジスタ(NM3
    〜NM5)のゲートに接続してバイアス電圧(BIAS
    6)を出力し、前記MOSトランジスタ(PM6、NM
    6)のドレインを共通接続し、該接続点を前記NMOS
    トランジスタ(NM6)のゲートに接続してバイアス電
    圧(BIAS3)を出力し、前記PMOSトランジスタ
    (PM7)のドレインに電流源(Is1)を接続し、該
    接続点が前記PMOSトランジスタ(PM1、PM5〜
    PM7)のゲートに共通接続して構成されたバイアス回
    路を備えて前記演算増幅器(OP2)にバイアス電圧を
    印加するように構成されたことを特徴とする請求項8記
    載のアナログ/ディジタル変換回路。
  13. 【請求項13】 前記第1、第2サンプル/ホールド増
    幅器(201)、(205)の出力端子間には、チュー
    ニング回路が追加して接続され、前記チューニング回路
    は、夫々直列接続された各スイッチ(S1、/S1)〜
    (Sk、/Sk)を並列接続して前記各スイッチ(/S
    1〜/Sk)に夫々キャパシタ(C1〜Ck)を並列接
    続し、前記スイッチ(S1、/S1)〜(Sk、/S
    k)がディジタル入力信号(DS1〜DSk)により制
    御されるように構成されたことを特徴とする請求項1記
    載のアナログ/ディジタル変換回路。
  14. 【請求項14】 前記各キャパシタ(Cl〜Ck)は、
    上下部電極がメタルにてなるメタル−メタルキャパシタ
    であり、前記各キャパシタ(Cl〜Ck)中、任意のキ
    ャパシタが選択されると、その他のキャパシタは、上部
    電極板と下部電極板とを接続させることを特徴とする請
    求項13記載のアナログ/ディジタル変換回路。
JP10255616A 1997-09-11 1998-09-09 アナログ/ディジタル変換回路 Expired - Fee Related JP3046005B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019970046670A KR100286322B1 (ko) 1997-09-11 1997-09-11 아날로그/디지털변환회로
KR46670/1997 1997-09-11

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11145830A JPH11145830A (ja) 1999-05-28
JP3046005B2 true JP3046005B2 (ja) 2000-05-29

Family

ID=19521135

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10255616A Expired - Fee Related JP3046005B2 (ja) 1997-09-11 1998-09-09 アナログ/ディジタル変換回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6127958A (ja)
JP (1) JP3046005B2 (ja)
KR (1) KR100286322B1 (ja)
DE (1) DE19830796C2 (ja)

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3458812B2 (ja) * 1999-06-01 2003-10-20 株式会社デンソー 巡回型a/d変換器
JP4489914B2 (ja) * 2000-07-27 2010-06-23 浜松ホトニクス株式会社 A/d変換装置および固体撮像装置
JP4560205B2 (ja) * 2000-12-18 2010-10-13 キヤノン株式会社 A/d変換器及びそれを用いた固体撮像装置
US6590512B2 (en) * 2001-04-23 2003-07-08 Intel Corporation Developing a desired output sampling rate for oversampled converters
KR100838402B1 (ko) * 2002-02-21 2008-06-13 삼성전자주식회사 부트스트래핑 기법을 이용하는 샘플-앤-홀드 증폭기 및이를 구비하는 cmos a/d 변환기
US6611222B1 (en) 2002-06-03 2003-08-26 Charles Douglas Murphy Low-complexity high-speed analog-to-digital converters
JP4083139B2 (ja) 2003-05-07 2008-04-30 三洋電機株式会社 アナログ−デジタル変換回路
JP4558032B2 (ja) * 2003-05-07 2010-10-06 三洋電機株式会社 アナログ−デジタル変換回路
US6909393B2 (en) * 2003-07-30 2005-06-21 Freescale Semiconductor, Inc. Space efficient low power cyclic A/D converter
US7002507B2 (en) 2003-09-25 2006-02-21 Sanyo Electric Co., Ltd. Pipelined and cyclic analog-to-digital converters
US7088277B2 (en) 2003-09-25 2006-08-08 Sanyo Electric Co., Ltd. Analog-to-digital converter having cyclic configuration
JP4014553B2 (ja) 2003-09-29 2007-11-28 三洋電機株式会社 アナログデジタル変換器
JP3962788B2 (ja) * 2003-10-29 2007-08-22 国立大学法人静岡大学 A/d変換アレイ及びイメージセンサ
US7068202B2 (en) * 2003-12-31 2006-06-27 Conexant Systems, Inc. Architecture for an algorithmic analog-to-digital converter
US7199737B2 (en) * 2004-06-02 2007-04-03 Broadcom Corporation Disconnecting a time discrete circuit from a track-and-hold circuit in track mode
US7385536B2 (en) * 2004-12-14 2008-06-10 Texas Instruments Incorporated Methods and circuits for output of sample-and-hold in pipelined ADC
US7310058B2 (en) * 2005-07-13 2007-12-18 Texas Instruments (India) Private Limited Texas Instruments Incorporated Reducing the time to convert an analog input sample to a digital code in an analog to digital converter (ADC)
JP4654998B2 (ja) * 2005-11-08 2011-03-23 株式会社デンソー サンプルホールド回路およびマルチプライングd/aコンバータ
EP1989781B1 (en) * 2006-02-27 2009-06-24 STMicroelectronics S.r.l. Multistage analog/digital converter and method for calibrating said converter
JP4853186B2 (ja) 2006-08-31 2012-01-11 ミツミ電機株式会社 アナログ−ディジタル変換装置
JP4811339B2 (ja) * 2006-09-21 2011-11-09 株式会社デンソー A/d変換器
JP4900065B2 (ja) * 2006-10-19 2012-03-21 株式会社デンソー マルチチャネルサンプルホールド回路およびマルチチャネルa/d変換器
JP4864740B2 (ja) * 2007-01-25 2012-02-01 株式会社東芝 アナログデジタル変換器
US7525381B2 (en) * 2007-03-09 2009-04-28 Analog Devices, Inc. Amplifier structures that enhance transient currents and signal swing
JP5117451B2 (ja) * 2009-06-30 2013-01-16 オンセミコンダクター・トレーディング・リミテッド スイッチトキャパシタ回路、およびアナログデジタル変換器
US8436760B1 (en) * 2009-09-25 2013-05-07 Marvell International Ltd. Low power current-voltage mixed ADC architecture
WO2014141350A1 (ja) * 2013-03-12 2014-09-18 パナソニック株式会社 Ad変換器
KR101583292B1 (ko) * 2014-01-23 2016-01-07 고려대학교 산학협력단 아날로그-디지털 변환기의 동적 레지듀 증폭기 및 그 증폭 방법
JP6124016B2 (ja) * 2014-03-07 2017-05-10 パナソニックIpマネジメント株式会社 Ad変換装置及びad変換方法
CN104168023B (zh) * 2014-08-27 2017-12-01 电子科技大学 一种高精度模数转换器
KR101706283B1 (ko) 2015-09-04 2017-02-13 주식회사 씨자인 다중 입력 신호를 위한 아날로그-디지털 변환 장치
US11038515B2 (en) * 2019-05-13 2021-06-15 Analog Devices, Inc. Noise shaping algorithmic analog-to-digital converter
CN111682877B (zh) * 2020-05-29 2023-04-28 成都华微电子科技股份有限公司 流水线模数转换器的模数转换方法、流水线模数转换器
CN112653434B (zh) * 2020-12-22 2024-05-24 北京百瑞互联技术股份有限公司 一种时序控制的低功耗共模反馈预放大电路与比较器
CN113572475A (zh) * 2021-09-23 2021-10-29 微龛(广州)半导体有限公司 循环转换sar adc电路、sar adc方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4894656A (en) * 1988-11-25 1990-01-16 General Electric Company Self-calibrating pipelined subranging analog-to-digital converter
US5017920A (en) * 1989-05-05 1991-05-21 Rockwell International Corporation High-speed modified successive approximation analog to digital converter
KR970005828B1 (ko) * 1993-12-31 1997-04-21 김정덕 파이프 라인 구조의 다단 아날로그/디지탈 변환기
US5710563A (en) * 1997-01-09 1998-01-20 National Semiconductor Corporation Pipeline analog to digital converter architecture with reduced mismatch error

Also Published As

Publication number Publication date
KR100286322B1 (ko) 2001-04-16
DE19830796A1 (de) 1999-03-18
DE19830796C2 (de) 2002-06-06
KR19990025156A (ko) 1999-04-06
JPH11145830A (ja) 1999-05-28
US6127958A (en) 2000-10-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3046005B2 (ja) アナログ/ディジタル変換回路
US7148832B2 (en) Analog digital converter having a function of dynamic adjustment corresponding to the state of the system
Cho et al. A 10 b, 20 Msample/s, 35 mW pipeline A/D converter
Ingino et al. A continuously calibrated 12-b, 10-MS/s, 3.3-VA/D converter
US6909391B2 (en) Fully differential reference driver for pipeline analog to digital converter
US6731155B2 (en) Track and hold with dual pump circuit
JP2009118049A (ja) 離散時間型増幅回路及びアナログ・ディジタル変換器
US20080218265A1 (en) Amplifier structures that enhance transient currents and signal swing
US7855671B2 (en) Pipelined analog-to-digital converter having a power optimized programmable data rate
Maloberti et al. Design considerations on low-voltage low-power data converters
US20050030081A1 (en) Offset correcting method, offset correcting circuit, and electronic volume
WO2006041085A1 (ja) サンプルホールド回路およびそれを用いたパイプラインad変換器
JP2008193743A (ja) 信号処理システム、および撮像装置
JPH0454407B2 (ja)
Liu et al. A 12-bit 100-MS/s pipelined-SAR ADC with PVT-insensitive and gain-folding dynamic amplifier
JP4368223B2 (ja) バイアス電圧生成回路および増幅回路
JP2006303601A (ja) 相関二重サンプリング回路およびこれを用いた固体撮像装置
Waltari et al. An 8-bit low-voltage pipelined ADC utilizing switched-opamp technique
JP4569027B2 (ja) サンプルホールド回路と該回路を用いたad変換器
US11381207B2 (en) Apparatus and method for an analog to digital converter
Lee et al. A 65nm CMOS 1.2 V 12b 30MS/s ADC with capacitive reference scaling
Xiang et al. Design of sample-and-hold circuit for a reconfigurable ADC
JP2003060504A (ja) A/d変換装置およびa/dコンバータ用誤差補正装置
US20230261670A1 (en) Input impedance boosting apparatus robust against parasitic components
Sin et al. Generalized circuit techniques for low-voltage high-speed reset-and switched-opamps

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S631 Written request for registration of reclamation of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313631

S633 Written request for registration of reclamation of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313633

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S631 Written request for registration of reclamation of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313631

S633 Written request for registration of reclamation of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313633

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080317

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090317

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100317

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110317

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110317

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120317

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120317

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130317

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140317

Year of fee payment: 14

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees