JP3021884B2 - スキャンパス回路 - Google Patents

スキャンパス回路

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JP3021884B2 JP3329292A JP32929291A JP3021884B2 JP 3021884 B2 JP3021884 B2 JP 3021884B2 JP 3329292 A JP3329292 A JP 3329292A JP 32929291 A JP32929291 A JP 32929291A JP 3021884 B2 JP3021884 B2 JP 3021884B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はスキャンパス回路に関
し、特に情報処理装置に使用するスキャンパス回路に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来のスキャンパス回路は、スキャンパ
スの先頭のレジスタからスキャンアウトデータを出力
し、スキャンパスの末尾のレジスタにスキャンインデー
タを入力していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のスキャ
ンパス回路は、スキャンパス長(スキャンパスを構成す
るレジスタ数)が異なる複数のスキャンパスを持つ情報
処理装置に組み込まれた場合、組み込まれた複数のスキ
ャンパスを同時に動かし、スキャンアウトしてデータを
取り出し、取り出したデータをそのままスキャンインデ
ータとしてスキャンインすると、もとの状態に戻そうと
しても、スキャンパス長の短いスキャンパスでは、スキ
ャンインデータのあふれを生じるので、スキャンアウト
する前の状態に戻すことは、できなかった。
【0004】スキャンアウトする前の状態に戻すために
は、スキャンパス長の短いスキャンパスに供給されるク
ロックを途中で止めるか、スキャンインするデータを操
作し、スキャンパス長の短いスキャンパスのスキャンイ
ンデータにダミーのデータを付け加える必要があった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明のスキャンパス回
路は、レジスタ数i,スキャンする時に用いるシフトク
ロック数をj(ただしi≦j),j/iの余りをkとす
るスキャンパス回路において、k=0のとき、スキャン
パスの先頭のレジスタの出力(外部にスキャンアウトデ
ータとして出力されるデータ)とスキャンインデータ
(スキャンパスにセットしようとするデータ)とのいず
れかを選択し、スキャンパス末尾のレジスタのスキャン
入力にする手段と、k≠0のときは、スキャンパス先頭
のレジスタの出力をスキャンパス末尾のレジスタのスキ
ャン入力にする手段と、k番目のレジスタとk+1番目
のレジスタとの間にk+1番目のレジスタ出力と、スキ
ャンインデータのいずれかをk番目のレジスタのスキャ
ン入力とする手段とを備えて構成される。
【0006】
【実施例】図1は本発明の一実施例の構成を示すブロッ
ク図である。図1は、スキャンに関する部分のみ抜き出
しており、SP1はレジスタ数8,スキャンクロック数
8のスキャンパス、SP2はレジスタ数6,スキャンク
ロック数8のスキャンパス、R11〜R26はスキャン
機能付きレジスタ、SL1,SL2はデータセレクタ、
SCANはスキャン機能付きレジスタR11〜R26を
スキャンモードにする信号、IOはオフのときスキャン
インをオンのときスキャンアウトを示す信号、CLOC
Kはスキャン機能付きレジスタR11〜R26に供給す
るクロック信号、I1,I2はスキャンインデータを入
力する端子、U1,U2はスキャンアウトデータが出力
される端子である。
【0007】まず、スキャンアウトの動作について説明
する。スキャン開始前の各レジスタRmnの値をCmn
と定義しておく、スキャンパスSP1,SP2中のスキ
ャン機能付きレジスタR11〜R26は、SCAN信号
によりスキャンモードになり、データセレクタSL1,
SL2は、スキャンアウトを示す信号IOがONになっ
ているので、それぞれスキャン機能付きレジスタR11
の出力とスキャン機能付きレジスタR21の出力とを選
択する。この状態で端子U1にはスキャン機能付レジス
タR11の値C11が、端子U2にはスキャン機能レジ
スタR21の値C21が出力され、最初のスキャンデー
タが出力される。以後CLOCK毎に、スキャンアウト
動作が進んで行くが、クロック毎のレジスタの変化をテ
ーブルにしたのが図2である。図2によりスキャンパス
SP1,SP2のスキャンアウトデータは、レジスタR
mnの値はそれぞれ次のようになる。
【0008】 スキャンパスSP1のスキャンアウトデータ C11−C12−C13−C14−C15−C16−C
17−C18 スキャンパスSP2のスキャンアウトデータ C21−C22−C23−C24−C25−C26−C
21−C22 次にスキャンインであるがスキャンパスSP1,SP2
にそれぞれ次のような順番でセットするものとする。
【0009】 スキャンパスSP1にスキャンインするデータ C11−C12−C13−C14−C15−C16−C
17−C18 スキャンパスSP2にスキャンインするデータ C21a−C22a−C23−C24−C25−C26
−C21−C22 スキャンパスSP2にスキャンインするデータのうち、
始めの2つにaが付いているのは、これらのデータが無
効なデータとなるためで、スキャンイン時に有効なデー
タとなるのは、aの付いてないデータであることを明ら
かにするためである。このことから、C21とC21
a,C22とC22aとは、それぞれ同じ値でなくても
よいことがわかる。
【0010】スキャンインは、スキャン機能付きレジス
タをスキャンモードにする信号SCANによりスキャン
機能付レジスタR11〜R26をスキャンモードにし、
データセレクタSL1,SL2をそれぞれ、スキャンイ
ンデータの入力端子I1,I2を選択させてから行う。
先に説明したスキャンアウトと同様、CLOCK毎のス
キャンイン動作を表わす説明図を図3に示す。図2と図
3を比較すると本発明のスキャンパスは、スキャンアウ
トしたデータをそのままの順番でスキャンインすれば、
スキャンアウトする前の状態に戻ることがわかる。
【0011】図4は、本発明のスキャンパスSP1〜S
Pnを情報処理装置に組み込んだ時の使用例である。6
は本発明のスキャンパスSP1〜SPn、7はスキャン
データを格納するランダムアクセスメモリ(RAM)、
8はスキャンパスSP1〜SPn,RAMの制御,SC
Uとの通信などを行う診断制御部(DGC)、9はDG
Cにスキャンの実行やRAM中のデータ転送などの要求
をすることのできるシステム制御装置(SCU)であ
る。
【0012】次に、情報処理装置でエラー等が発生した
ときに、SCU9がどのようにしてエラー情報を収集す
るかを説明する。DGC8は、エラーが発生した旨を受
けると、まずスキャンパスSP1〜SPnのクロックを
止め、スキャンモードにして、スキャンアウト可能な状
態にするとともに、SCUにエラーが発生した旨を伝え
る。次にDGC8は、スキャンパスSP1〜SPnを同
時にスキャンアウトしながら、スキャンアウトデータを
メモリ(ここでは、RAM7)に書き込む。全て書き込
んだら、スキャンパスSP1〜SPnをスキャンイン可
能な状態にして、スキャンパスSP1〜SPnを同時に
動しながらメモリ中のスキャンアウトデータを順番にス
キャンインし、もとのスキャンアウトする前の状態に戻
す。もとの状態に戻ったなら、スキャンモードを解除
し、クロックの供給を開始し、情報処理装置にエラー処
理を始めさせる。さらにシステム制御装置(SCU)9
は、スキャンパスがもとに戻り、クロックが供給されは
じめたら、(診断制御部)DGC8に対してメモリに書
き込まれているスキャンデータを転送するよう要求しデ
ータの回収を行う。
【0013】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、スキャン
パス先頭のレジスタ出力かスキャンインデータをスキャ
ンパス末尾のスキャン入力にする手段を設けるか、又
は、スキャンパス先頭のレジスタ出力をスキャンパス末
尾のレジスタのスキャン入力にする手段とスキャンパス
中に前段のレジスタの出力かスキャンインデータのいず
れかを次段のレジスタのスキャン入力にする手段を設け
ることにより、スキャンパス中の実際のレジスタ数と、
スキャンに必要なクロック数を異なる値にすることがで
きる。
【0014】また本発明のスキャンパスを図4のように
用いれば、スキャンパスを同時に動かしながら、スキャ
ンアウトスキャンインできるので、スキャンパスを単独
でしか動かせない場合に比べ、全てのスキャンパスをス
キャンするのに必要なシフトクロック数が著しく減少す
るので、エラーで処理が中断してから、再び動き出すま
での時間を大幅に短縮できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図
【図2】スキャンアウト動作を表わす説明図
【図3】スキャンイン動作を表わす説明図
【図4】本発明のスキャンパスを情報処理装置に組み込
んだ時の使用例を示すブロック図
【符号の説明】
SP1〜SPn スキャンパス R11〜R26 スキャン機能付きレジスタ SL1,SL2 データセレクタ U1,U2 スキャンアウトデータの出力端子 I1,I2 スキャンインデータの入力端子 SCAN スキャン機能付きレジスタをスキャンモー
ドにする信号 IO オフのときスキャンインをオンのときスキャン
アウトを示す信号 CLOCK クロック信号 6 スキャンパス 7 ランダムアクセスメモリ(RAM) 8 診断制御部(DGC) 9 システム制御装置(SCU)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レジスタ数i,スキャンクロック数j,
    jをiで割った余りをkとするスキャンパス回路におい
    て、 k=0の場合、スキャンパスの先頭のレジスタの出力と
    スキャンインデータとのいずれかを選択し、スキャンパ
    ス末尾のレジスタのスキャン入力とする手段と、 k≠0の場合、スキャンパスの先頭レジスタの出力をス
    キャンパス末尾のレジスタのスキャン入力とする手段
    と、 k番目とk+1番目とのレジスタの間に、k+1番目の
    レジスタのスキャン出力とスキャンインデータとのいず
    れかを選択し、k番目のレジスタのスキャン入力にする
    手段とを備えて成ることを特徴とするスキャンパス回
    路。
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