JP2994452B2

JP2994452B2 - 測量機

Info

Publication number: JP2994452B2
Application number: JP2294142A
Authority: JP
Inventors: 祐司袋田
Original assignee: Topcon Corp
Current assignee: Topcon Corp
Priority date: 1990-10-30
Filing date: 1990-10-30
Publication date: 1999-12-27
Anticipated expiration: 2014-12-27
Also published as: JPH04166789A

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、走査光学系から測定光束を出射させて、第
一方向としての水平方向に走査するのを一走査として、
その方向と直角な第二方向としての垂直方向に測定光束
を偏向させながらその走査を所定回数行って反射部材と
してのコーナーキューブを二次元的に走査して、反射部
材の第一方向位置と第二方向位置とを求めることによ
り、反射部材に測量機本体を自動追尾させる測量機に関
し、更に詳しくは反射部材までの距離を測距するための
測距手段としての測距光学系を備えた光波測距装置に関
する。

（従来の技術）従来から、測量機として光波測距装置が知られている
が、この光波測距装置は船舶の甲板等に設置して用いら
れる場合がある。その光波測距装置は測距光学系を有し
ており、この光波測距装置から遠く離れた測点に設置の
反射部材としてのコーナーキューブに向かって光波を出
射し、そのコーナーキューブからの反射光波を受光し、
測点までの距離を測定するようになっている。

ところで、光波測距装置を船舶の甲板などに設置して
測距を行う場合、船舶の搖れ等によって反射部材として
のコーナキューブを見失うことがある。そこで、近時
は、そのコーナキューブを自動追尾できるようにした光
波測距装置が開発されつつある。

（発明が解決しようとする課題）この従来の光波測距装置は、測距光学系を内蔵する測
量機本体としての光波測距装置本体そのものを水平方
向、垂直方向に回動させてコーナーキューブを探索走査
し、そのコーナキューブに光波測距装置を自動追尾させ
る構成であり、機械的に探索する構造であるので探索走
査に時間がかかるという不具合がある。

そこで、走査光学系を用いて測定光束を第一方向に走
査するのを一走査として、その第一方向と直角な第二方
向に測定光束を偏向させながら、この走査を所定回数行
うことにより、測定光束を二次元的に走査し、第一方向
走査開始時点から第一方向に沿っての走査により反射光
束が受光系に入射するまでの走査時間に基づき反射部材
の第一方向位置を検出し、受光系に反射光束が入射する
までの走査回数により反射部材の第二方向位置を検出
し、これによって自動追尾を行う自動追尾型光波測距装
置が考えられている。

ところで、測点までの距離が非常に遠いと、第13図に
示すように、光波測距装置本体100に設けられた走査光
学系101から出射された測定光束Ｐが反射部材102により
反射されて反射光束Ｐ′として受光系103に戻った時点
では、測定光束Ｐの出射方向は、符号Ｐ′で示す方向を
向いている。従って、第14図に示すように、第一方向走
査開始時点t₀から第一方向Ｈに沿っての走査により反射
光束Ｐ′が受光系103に入射するまでの走査時間ｔ＝t₀
−t₁に基づき反射部材102の第一方向位置104を演算によ
り求めようとすると、光波測距装置本体100と反射部材1
02との距離に起因する測定光束Ｐの出射時点t₂から受光
時点t₃までの受光時間差（t₃−t₂）＝2L（距離）/C（光
束）、すなわち、測定光束Ｐを出射してからその測定光
束Ｐが反射部材102により反射され、その反射光束Ｐ′
が受光系103により受光されるまでの経過時間（t₃−
t₂）に基づき、反射部材102の実際の第一方向位置104と
反射部材102の見かけの第一方向位置105との間に位置検
出誤差Δが発生する。従って、反射部材102の第一方向
位置を正確に検出できず、ひいては自動追尾を正確に行
うことができないことになる。

本発明は、上記の事情に鑑みて為されたもので、その
目的とするところは、測量機本体と前記反射部材との距
離に起因する出射時点から受光時点までの受光時間差に
基づく反射部材の見かけの第一方向位置と反射部材の実
際の第一方向位置との位置検出誤差を補正して正確に反
射部材の第一方向位置を求めることのできる測量機を提
供することにある。

（課題を解決するための手段）本発明に係わる請求項１に記載の測量機は、上記の課
題を解決するため、測定光束を第一方向に走査するのを一走査として、そ
の方向と直角な第二方向に測定光束を偏向させながら前
記走査を所定回数行うことにより測定点に設けられた反
射部材を二次元的に走査する走査光学的の投光系と、該走査光学系の投光系により出射された測定光束のう
ち前記反射部材により反射された測定光束を受光する走
査光学系の受光系と、該受光系に前記反射光束が入射するまでの走査回数に
より前記反射部材の第二方向位置を検出するとともに、
前記第一方向の走査開始時点から第一方向に沿っての走
査により反射光束が前記受光系に入射するまでの走査時
間に基づき前記反射部材の第一方向位置を検出する演算
部と、該演算部からの信号により測量機本体を前記測定点に
向けて自動追尾させる制御手段と、前記反射部材までの距離を測定する距離測定手段とを
備え、前記演算部は、測量機本体と前記反射部材との距離に
起因する出射時点から受光時点までの時間差に基づく前
記反射部材の見かけの第一方向位置と反射部材の実際の
第一方向位置との位置検出誤差を、前記測距光学系によ
り求められた距離に基づいて補正する補正手段を有する
ことを特徴とする。

本発明に係わる請求項２に記載の測量機は、上記の課
題を解決するため、測定光束を第一方向に走査するのを一走査として、そ
の方向と直角な第二方向に測定光束を偏向させながら前
記走査を所定回数行うことにより測定点に設けられた反
射部材を二次元的に走査する走査光学系の投光系と、該走査光学系の投光系により出射された測定光束のう
ち反射部材により反射された測定光束を受光する走査光
学系の受光系と、該受光系に前記反射光束が入射するまでの走査回数に
より反射部材の前記第二方向位置を検出するとともに、
前記第一方向の走査開始時点から第一方向に沿っての走
査により反射光束が前記受光系に入射するまでの走査時
間により前記反射部材の第一方向位置を検出する演算部
と、該演算部からの信号により測量機本体を前記測定点に
向けて自動追尾させる制御手段とを備え、前記演算部は、測量機本体と前記反射部材との距離に
起因する出射時点から受光時点までの受光時間差に基づ
く反射部材の見かけの第一方向位置と反射部材の実際の
第一方向位置との位置検出誤差を、正方向と逆方向とに
前記第一方向の走査を行って、正方向の走査により得ら
れた反射部材の見かけの第一方向位置と逆方向の走査に
より得られた反射部材の見かけの第一方向位置とにより
相殺して、反射部材の実際の第一方向位置を求める補正
手段を有することを特徴とする。

（作用）本発明に係わる請求項１に記載の測量機によれば、走
査光学系の投光系は、測定光束を第一方向に走査するの
を一走査として、その方向と直角な第二方向に測定光束
を偏向させながらその走査を所定回数行うことにより測
定点に設けられた反射部材を二次元的に走査する。走査
光学系の受光系は、その走査光学系により出射された測
定光束のうち反射部材により反射された測定光束を受光
する。演算部は、その受光系に反射光束が入射するまで
の走査回数により反射部材の第二方向位置を検出すると
ともに、第一方向の走査開始時点から第一方向に沿って
の走査により反射光束が受光系に入射するまでの走査時
間に基づき反射部材の第一方向位置を検出する。

補正手段は、測量機本体と反射部材との距離に起因す
る出射時点から受光時点までの受光時間差に基づく反射
部材の見かけの第一方向位置と反射部材の実際の第一方
向位置との位置検出誤差を、測距光学系により求められ
た距離に基づいて補正する。制御手段は、位置検出誤差
を補正した上で演算部からの信号により測量機本体を測
定点に向けて自動追尾させる。

本発明に係わる請求項２に記載の測量機によれば、補
正手段は、測量機本体と反射部材との距離に起因する出
射時点から受光時点までの受光時間差に基づく反射部材
の見かけの第一方向位置と反射部材の実際の第一方向位
置との位置検出誤差を、正方向と逆方向とに第一方向の
走査を行って、正方向の走査により得られた反射部材の
見かけの第一方向位置と逆方向の走査により得られた反
射部材の見かけの第一方向位置とにより相殺して、反射
部材の実際の第一方向位置を求める。

（実施例）以下、本発明に係わる測量機を光波測距装置に適用し
た実施例を図面を参照しつつ説明する。

第１図において、１は測量台、２は測点に設置された
反射部材としてのコーナキューブである。測量台１はた
とえば船舶の甲板などに設置されている。この測量台１
には光波測距装置３が据え付けられている。この光波測
距装置３は固定台４と水平回動部５とを有する。水平回
動部５は、第２図に示すように固定台４に対して矢印Ａ
方向に回転され、支持部６を有する。支持部６には垂直
方向回動軸７が設けられ、垂直方向回動軸７には測量機
本体としての測距装置本体８が設けられている。測距装
置本体８は、水平回動部５の回転により第一方向に対応
する水平方向に回動されると共に垂直方向回動軸７の回
転により第１図に矢印Ｂで示すように第二方向に対応す
る垂直方向に回転される。

その測距装置本体８には測距手段としての測距光学系
９と走査光学系10とが設けられている。この測距光学系
９は第３図に概略示すように投光部11と受光部12とを有
する。投光部11は光源13を有する。受光部12は受光素子
14を有する。光源13は赤外レーザー光束を出射する。そ
の赤外レーザー光束はビームスプリッタ15のダイクロイ
ックミラー16により対物レンズ17に向けて反射され、カ
バーガラス18を介して測距装置本体８から平行光束とし
て出射される。

赤外レーザー光束はコーナキューブ２により反射さ
れ、カバーガラス18を介して対物レンズ17に戻り、ビー
ムスプリッタ15のダイクロイックミラー19により反射さ
れ、受光素子14に収束される。その受光素子14の受光出
力は、図示を略す公知の計測回路に入力され、コーナキ
ューブ２までの距離が測距される。

測距光学系９は結像レンズ20、レチクル板21を有して
おり、可視光は対物レンズ17、ダイクロイックミラー1
6、19を通過して、結像レンズ20に至り、レチクル板21
に収束され、測定者は接眼レンズ22を介してコーナキュ
ーブ２を含めて測点箇所を視認できる。

走査光学系10は第４図に示すようにレーザーダイオー
ド23、コリメータレンズ24、水平方向偏向素子25、垂直
方向偏向素子26、反射プリズム27、28、29、対物レンズ
30、カバーガラス31、反射プリズム32、ノイズ光除去用
フィルタ33、受光素子34を有する。レーザーダイオード
23、コリメータレンズ24、水平方向偏向素子25、垂直方
向偏向素子26、反射プリズム27、28、29は投光部を大略
構成している。対物レンズ30、反射プリズム32、ノイズ
光除去用フィルタ33、受光素子34は受光部を大略構成し
ている。水平方向偏向素子25、垂直方向偏向素子26はた
とえば音響光学素子から構成されている。

レーザーダイオード23は測距光学系９の測距光波の波
長とは異なる波長の赤外レーザー光を測定光束Ｐとして
出射する。その赤外レーザー光はコリメータレンズ24に
よって平行光束にされ、水平方向偏向素子25に導かれ
る。この水平方向偏向素子25は第５図に示すように赤外
レーザー光を水平方向（第一方向）Ｈに偏向させる機能
を有する。垂直方向偏向素子26は赤外レーザー光を垂直
方向（第一方向と直角な第二方向）Ｖに偏向させる機能
を有する。その水平方向偏向素子25、垂直方向偏向素子
26の制御については後述する。

その赤外レーザー光はその水平方向偏向素子25、垂直
方向偏向素子26により水平方向、垂直方向に偏向されて
反射プリズム27に導かれ、この反射プリズム27により反
射され、反射プリズム28、29を経由して対物レンズ30に
導かれる。対物レンズ30には貫通孔35が対物レンズ30の
光軸と同軸に形成されている。その反射プリズム29によ
り反射された赤外レーザービームはその貫通孔35を通っ
て測距装置本体８の外部に出射され、この赤外レーザー
ビームによってコーナーキューブ２の探索走査が行われ
る。探索範囲内にコーナキューブ２があると、赤外レー
ザービームがコーナーキューブ２により反射された対物
レンズ30に戻る。その赤外レーザービームはその対物レ
ンズ30により収束され、反射プリズム32により反射さ
れ、ノイズ光除去用フィルター33を通過して受光素子34
に結像される。ノイズ光除去用フィルター33は赤外レー
ザービームの波長と同一の波長の光を透過させる機能を
有する。

この走査光学系10によれば、投光部と受光部とが同軸
であるので、コーナキューブ２により反射された赤外レ
ーザービームを確実に受光できるメリットがある。ま
た、ノイズ光除去用フィルター33を設けてあるので、赤
外レーザービームの波長以外の波長の光をカットでき、
探索走査を確実に行うことができる。

第６図は制御手段のブロック回路図を示すもので、こ
の第６図において、36は制御手段の一部を構成するマイ
クロコンピュータ、37は水平方向・垂直方向（Ｈ−Ｖ）
スキャンコントローラ、38は基準パルス発生器、39はＨ
方向D/Aコンバータ、40はＶ方向D/Aコンバータ、41、42
はスイープオスシレータ、43は加算器、44、44′はドラ
イバ、45、45′はモータ、46、46′はエンコーダであ
る。モータ45の回転は歯車列などからなる減速機構（図
示を略す）を介して、水平回動部５又は垂直回動軸７に
伝達されるものである。エンコーダ46、46′はモータ4
5、45′の回転に基づき検出パルスをマイクロコンピュ
ータ36に向かって出力する。

レーザーダイオード23はマイクロコンピュータ36によ
って駆動制御される。マイクロコンピュータ36は水平方
向（Ｈ）、垂直方向（Ｖ）の探索走査のためのスタート
パルスTSを水平方向・垂直方向（Ｈ−Ｖ）スキャンコン
トローラ37に向かって出力する。水平方向・垂直方向
（Ｈ−Ｖ）スキャンコントローラ37はそのスタートパル
スTSに基づいて基準パルス発生器38のクロックパルスCL
をカウントし、そのカウント値HCTをＨ方向D/Aコンバー
タ39に出力する。Ｈ方向D/Aコンバータ39はそのカウン
ト値HCTに基づき第７図に示すように周期的に三角波電
圧TRを発生する。この三角波電圧TRの一周期は一水平探
索走査に対応している。この三角波電圧TRはスイープオ
スシレータ41に入力される。スイープオスシレータ41は
三角波電圧TRを周波数変換して、水平方向偏向素子25を
駆動する。その水平方向偏向素子25は三角波電圧TRの電
圧値に対応した水平方向角度に赤外レーザービームを偏
向させる。

水平方向・垂直方向（Ｈ−Ｖ）スキャンコントローラ
37は一水平走査が終了するたびにスキャン同期信号SCを
マイクロコンピュータ36に向かって出力する。Ｈ−Ｖス
キャンコントローラ37はスキャン同期信号SCをカウント
し、カウント値VCTをＶ方向D/Aコンバータ40に出力す
る。Ｖ方向D/Aコンバータ40はそのカウント値VCTに基づ
き一水平走査毎に電圧が高くなる階段波電圧WVを発生す
る。この階段波電圧WVはスイープオスシレータ42に入力
されている。スイープオスシレータ42は階段波電圧WVを
周波数変換して、垂直方向偏向素子26を駆動する。その
垂直方向偏向素子26はその階段波電圧WVに対応した垂直
方向角度に赤外レーザービームを偏向させる。

今、マイクロコンピュータ36によって指令された探索
範囲が第８図に符号Ｋで示すようなものであるとし、コ
ーナーキューブ２が走査線番号１から最終の走査線番号
ｒまでによって定義される一探索範囲内にあるものとす
る。走査線番号１の水平走査から走査線番号ｎ−２まで
の走査では、コーナーキューブ２がその走査範囲内にな
いので、赤外レーザービームはそのコーナーキューブ２
により反射されず、従って、受光素子34にはその赤外レ
ーザービームの反射光束が戻らない。走査線番号ｎ−１
から走査線番号ｎ＋１までの走査では、その走査範囲内
にコーナーキューブ２が存在する。従って、受光素子34
には、その赤外レーザービームの反射光束が戻る。従っ
て、受光素子34は走査線番号ｎ−１から走査線番号ｎ＋
１までの走査の間に第９図に示すような受光パルスRPを
発生する。

その受光パルスRPは加算器43に入力される。加算器43
には水平方向・垂直方向（Ｈ−Ｖ）スキャンコントロー
ラ37のクロックパルスCLが入力され、スタートパルスTs
を含めてスキャン同期信号SC発生時のカウント個数を
「０」として受光パルスRPの立ち上がり時のクロックパ
ルスCLのカウント個数と受光パルスRPの立ち下がり時の
クロックパルスCLのカウント個数とを一水平走査毎に加
算する。マイクロコンピュータ36はスキャン同期信号SC
が入力される都度、加算器43の出力値を読み取る。そし
て、一水平走査毎にその出力値を算術平均する。これに
よって、コーナーキューブ２の水平方向位置が求められ
る。

たとえば、走査線番号ｎ−１から走査線番号ｎ＋１ま
での走査において受光パルスRPの立ち上がり時のカウン
ト値HCTを、H_n-1、H_n、H_n+1、受光パルスRPの立ち下が
り時のカウント値HCTを、Ｈ′_n-1、Ｈ′_ｎ、Ｈ′_n+1と
すれば、走査線番号ｎ−１の走査によるコーナーキュー
ブ２の水平方向位置Hn_-1は、 Hn_-1＝（H_n-1＋Ｈ′_n-1）/2 同様に、走査線番号ｎ、走査線番号ｎ＋１の走査による
水平方向のコーナーキューブ２の水平方向位置Hn、Hn₊₁
は、それぞれ、 Hn＝（H_n＋Ｈ′_ｎ）/2 Hn₊₁＝（H_n+1＋Ｈ′_n+1）/2 として求められる。

従って、コーナーキューブ２の平均的な水平方向位置
Ｈは、これらを平均して求めればよい。

ところが、第10図に示すように、測定光束Ｐを第一方
向Ｈに走査するのを一走査として、第二方向に測定光束
を偏向させながらこの走査を所定回数行うことによって
二次元的にコーナーキューブ２を走査するに際して、第
一方向走査開始時点t₀から第一方向Ｈに沿っての走査に
より反射光束Ｐ′が走査光学系10の受光系に入射するま
での走査時間ｔ＝t₀−t₁に基づき反射部材２の第一方向
位置104を演算により求めようとすると、光波測距装置
本体８と反射部材２との距離に起因する測定光束Ｐの出
射時点t₂から受光時点t₃までの受光時間差（t₃−t₂）、
すなわち、測定光束Ｐを出射してからその測定光束Ｐが
反射部材２により反射され、その反射光束Ｐ′が走査光
学系10の受光系により受光されるまでの経過時間（t₃−
t₂）に基づき、反射部材２の実際の第一方向位置104と
反射部材２の見かけの第一方向位置105との間に位置検
出誤差Δが発生する。

そこで、第11図に示すように、第一方向の走査を逆方
向に行う。そして、見かけの第一方向位置105′を求め
る。すなわち、逆方向の第一方向走査により得られた走
査時間をｔ′＝t₀′−t₁′とし、第一方向の全走査時間
をＴ、正方向の真の走査時間をｑ、逆方向の真の走査時
間をｑ′とすると、ｔ＝ｑ＋Δ、ｔ′＝ｑ′＋Δ、ｑ＋
ｑ′＝Ｔだから、ｔ′−ｔ＝ｑ′−ｑ＝Ｚとして、真の
走査時間ｑは、ｑ＝（Ｔ−Ｚ）/2として求められ、位置検出誤差Δが
正方向の見かけの第一方向位置と逆方向の見かけの第一
方向位置とを求めることによって相殺される。

コーナーキューブ２の垂直方向位置Ｖは、受光素子34
が赤外レーザー光束を受光したときの走査線番号の総和
をその受光回数で除算して求める。

たとえば、第８図に示す例の場合には、走査線番号の
総和は3nであり、受光回数は３回であるので、コーナー
キューブ２の垂直方向位置Ｖは、ｎとして求めることが
できる。

すなわち、反射部材２の第二方向位置は走査光学系10
の受光系に反射光束が入射するまでの走査回数により検
出される。

その水平方向位置Ｈ、垂直方向位置Ｖは適宜処理さ
れ、測距装置本体８の追尾データが後述のようにして算
出され、マイクロコンピュータ36はこの追尾データに基
づいて、ドライバ44を制御する。すなわち、モータ45が
駆動されて、測距装置本体は８測距光学系９の光軸がコ
ーナーキューブ２の方向を向くように水平方向、垂直方
向に回動され、これによって、コーナーキューブ２に対
する自動追尾が行われる。

よって、マイクロコンピュータ36は、走査光学系10の
受光系に反射光束Ｐ′が入射するまでの走査回数により
反射部材２の第二方向位置を検出するとともに、第一方
向の走査開始時点から第一方向に沿っての走査により反
射光束が走査光学系の受光系に入射するまでの走査時間
により反射部材２の第一方向位置を検出する演算部とし
て機能すると共に、測量機本体を測定点に向けて自動追
尾させる制御手段として機能する他、測量機本体と反射
部材との距離に起因する出射時点から受光時点までの受
光時間差に基づく反射部材の見かけの第一方向位置と反
射部材の実際の第一方向位置との位置検出誤差を、正方
向と逆方向とに第一方向の走査を行って、正方向の走査
により得られた反射部材の見かけの第一方向位置と逆方
向の走査により得られた反射部材の見かけの第一方向位
置とにより相殺して、反射部材の実際の第一方向位置を
求める補正手段として機能する。

なお、受光時間差と反射部材２までの距離との間には
相関関係があるので、測距光学系９により得られた距離
に基づき位置検出誤差Δを補正してもよい。また、第12
図に示すように、第一方向の走査を第二方向Ｖへの偏向
に伴って正方向Ｈ、逆方向Ｈ′に交互に行って補正する
構成とすることもできる。

（効果）本発明に係わる測量機は、以上説明したように構成し
たので、測量機本体と前記反射部材との距離に起因する
出射時点から受光時点までの受光時間差に基づく反射部
材の見かけの第一方向位置と反射部材の実際の第一方向
位置との位置検出誤差を補正して正確に反射部材の第一
方向位置を求めることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係わる光波測距装置の概略構成を示す
側面図、第２図は本発明に係わる光波測距装置の概略構成を示す
平面図、第３図は第１図に示す測距光学系の概略構成を示す光学
図、第４図は第１図に示す走査光学系の概略構成を示す光学
図、第５図は第４図に示す走査光学系の偏向状態を模式的に
説明するための斜視図、第６図は本発明に係わる光波測距装置の制御手段のブロ
ック図、第７図は第６図に示す制御手段のタイミングチャート、第８図は本発明に係わる光波測距装置による探索範囲の
一例を示す図、第９図は第６図に示す受光素子の受光パルスの一例を示
す図、第10図は正方向の第一方向走査の説明図、第11図は逆方向の第一方向走査の説明図、第12図は正方向逆方向走査の他の例を示す説明図、第13図は測量機の走査の一例を示す平面図、第14図は正方向走査のみに基づく位置検出誤差の説明
図、である。２……コーナーキューブ（反射部材）３……光波測距装置８……測距装置本体（測量機本体）９……測距光学系（測距手段） 10……走査光学系 25……水平方向偏向素子 26……垂直方向偏向素子 36……マイクロコンピュータ 104……実際の第一方向位置 105……見かけの第一方向位置Ｈ……第一方向Ｖ……第二方向Ｐ……測定光束

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】測定光束を第一方向に走査するのを一走査
として、その方向と直角な第二方向に測定光束を偏向さ
せながら前記走査を所定回数行うことにより測定点に設
けられた反射部材を二次元的に走査する走査光学系の投
光系と、該走査光学系の投光系により出射された測定光束のうち
前記反射部材により反射された測定光束を受光する走査
光学系の受光系と、該受光系に前記反射光束が入射するまでの走査回数によ
り前記反射部材の第二方向位置を検出するとともに、前
記第一方向の走査開始時点から第一方向に沿っての走査
により反射光束が前記受光系に入射するまでの走査時間
に基づき前記反射部材の第一方向位置を検出する演算部
と、該演算部からの信号により測量機本体を前記測定点に向
けて自動追尾させる制御手段と、前記反射部材までの距離を測定する距離測定手段とを備
え、前記演算部は、測量機本体と前記反射部材との距離に起
因する出射時点から受光時点までの受光時間差に基づく
前記反射部材の見かけの第一方向位置と反射部材の実際
の第一方向位置との位置検出誤差を、前記測距光学系に
より求められた距離に基づいて補正する補正手段を有す
ることを特徴とする測量機。
【請求項２】測定光束を第一方向に走査するのを一走査
として、その方向と直角な第二方向に測定光束を偏向さ
せながら前記走査を所定回数行うことにより測定点に設
けられた反射部材を二次元的に走査する走査光学系の投
光系と、該走査光学系の投光系により出射された測定光束のうち
反射部材により反射された測定光束を受光する走査光学
系の受光系と、該受光系に前記反射光束が入射するまでの走査回数によ
り反射部材の前記第二方向位置を検出するとともに、前
記第一方向の走査開始時点から第一方向に沿っての走査
により反射光束が前記受光系に入射するまでの走査時間
により前記反射部材の第一方向位置を検出する演算部
と、該演算部からの信号により測量機本体を前記測定点に向
けて自動追尾させる制御手段とを備え、前記演算部は、測量機本体と前記反射部材との距離に起
因する出射時点から受光時点までの受光時間差に基づく
反射部材の見かけの第一方向位置と反射部材の実際の第
一方向位置との位置検出誤差を、正方向と逆方向とに前
記第一方向の走査を行って、正方向の走査により得られ
た反射部材の見かけの第一方向位置と逆方向の走査によ
り得られた反射部材の見かけの第一方向位置とにより相
殺して、反射部材の実際の第一方向位置を求める補正手
段を有することを特徴とする測量機。
【請求項３】前記第一方向の正方向・逆方向走査を第二
方向への偏向に伴って交互に行うことを特徴とする特許
請求の範囲第２項に記載の測量機。