JP2990621B2 - 積層セラミック電子部品の製造方法 - Google Patents
積層セラミック電子部品の製造方法Info
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- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims description 54
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 108
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 108
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 21
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 claims description 10
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 7
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 6
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 5
- 239000002002 slurry Substances 0.000 claims description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 description 88
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 66
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 33
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 30
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 28
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 25
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 25
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 25
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 19
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 description 14
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 13
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 6
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 5
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 3
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 3
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N Hydrazine Chemical compound NN OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 1
- 238000004925 denaturation Methods 0.000 description 1
- 230000036425 denaturation Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- LNOPIUAQISRISI-UHFFFAOYSA-N n'-hydroxy-2-propan-2-ylsulfonylethanimidamide Chemical compound CC(C)S(=O)(=O)CC(N)=NO LNOPIUAQISRISI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 238000010405 reoxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 1
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/005—Electrodes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C28/00—Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
- C23C28/02—Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material
- C23C28/023—Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material only coatings of metal elements only
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/30—Stacked capacitors
- H01G4/308—Stacked capacitors made by transfer techniques
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/20—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by affixing prefabricated conductor pattern
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/20—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by affixing prefabricated conductor pattern
- H05K3/205—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by affixing prefabricated conductor pattern using a pattern electroplated or electroformed on a metallic carrier
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/03—Conductive materials
- H05K2201/0302—Properties and characteristics in general
- H05K2201/0317—Thin film conductor layer; Thin film passive component
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/03—Conductive materials
- H05K2201/0332—Structure of the conductor
- H05K2201/0335—Layered conductors or foils
- H05K2201/0347—Overplating, e.g. for reinforcing conductors or bumps; Plating over filled vias
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/01—Tools for processing; Objects used during processing
- H05K2203/0147—Carriers and holders
- H05K2203/0156—Temporary polymeric carrier or foil, e.g. for processing or transferring
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
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- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
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Description
品の製造方法に関するものである。
には積層セラミックコンデンサの内部電極を形成するた
め、転写技術を用いることが、特開平1−42809号
公報に記載されている。この転写技術は、薄い内部電極
を形成するために有効な技術として評価される。
属薄膜を形成する方法として、蒸着またはスパッタリン
グのような薄膜形成法が知られている。積層セラミック
コンデンサを製造する場合、焼成前の複数のセラミック
グリーンシートを積層することが行われるが、内部電極
は、隣合うセラミックグリーンシート間に形成されるも
のであるので、積層される前の段階において、セラミッ
クグリーンシート上に形成されなければならない。しか
しながら、機械的に軟弱であり、取扱いが困難なセラミ
ックグリーンシート上に、直接、前述したような薄膜形
成法を用いて、金属薄膜を形成することは困難である。
そのため、内部電極となる金属薄膜が、セラミックグリ
ーンシート上ではなく、取扱いが容易な別のフィルム上
にまず形成され、このようなフィルム上に形成された金
属薄膜を、セラミックグリーンシート上に、転写するこ
とによって、セラミックグリーンシート上に金属薄膜を
形成することが容易または可能とされる。
て金属薄膜によって形成することにより、得られた積層
セラミックコンデンサを小型化、特に薄型化することが
可能になるばかりでなく、セラミックグリーンシートを
積層したとき、積層状態での厚みを、セラミックグリー
ンシートの延びる方向において、より均一にすることが
できる。この後者の特徴は、また、積層されたセラミッ
クグリーンシートを焼成した後で、デラミネーションな
どの不都合を招く可能性を減じることにもつながる。
ミックコンデンサにおいて、いくつかの利点を与える金
属薄膜からなる内部電極の形成が、転写技術により可能
にされたわけであるが、転写技術を実施するためには、
転写すべき金属薄膜が、たとえ一部においても欠けるこ
となく、転写されるべき面に完全に転写されること、す
なわち転写性に優れていることが望まれる。たとえば、
積層セラミックコンデンサの内部電極を形成するため、
転写技術を用いたとき、金属薄膜が所望のパターンを以
て完全に転写されないとすると、当然に、得られた積層
セラミックコンデンサは不良品となるからである。
せず、容量低下などの電気的特性の劣化のない、セラミ
ックグリーンシートと金属薄膜を用いた積層セラミック
電子部品を提供することである。
トと、セラミックグリーンシートの表面に形成された電
極とを含んでなる積層セラミック電子部品の製造方法は
(a)蒸着によりフィルム上に第1の金属層を形成する
ステップと、(b)湿式めっきにより第1の金属層の上
に第2の金属層を形成するステップと、(c)第1およ
び第2の金属層をパターニングするステップと、(d)
金属層を覆うように、前記フィルム上にセラミックのス
ラリーをコーティングしてセラミックグリーンシートを
形成するステップと、(e)フィルムに支持された金属
一体化グリーンシートをセラミックグリーンシートまた
は他の金属一体化グリーンシート上に圧着し積層するス
テップと、(f)フィルムを剥離するステップと、
(g)積層したセラミックグリーンシートを焼成するス
テップとを備えることを特徴とする。
る。 この発明の他の局面では湿式めっきは無電解めっき
である。
は、互いに異種の金属からなるものであっても、互いに
同種の金属からなるものであってもよい。
ば、ニッケル、銅、銀などがある。また、第2の金属層
としては、たとえば、ニッケル、銅などがある。
フィルムとしては、可撓性、耐熱性を有し、蒸着、湿式
めっきおよびフォトリソグラフィ等によるパターン化に
対しても十分に耐え得るものが必要とされ、ポリエチレ
ンテレフタレートなどの樹脂フィルムや、ニッケル、
銅、アルミニウムなどの金属箔などがある。
たものとして準備されたものであるが、対象となる被転
写物としては、セラミックグリーンシート、セラミッ
ク、樹脂、金属などがある。また、転写の条件として
は、この金属薄膜を被転写物に接する状態としておき、
いわゆるホットスタンピングにより、たとえば、圧力1
0〜500kg/cm2、温度60〜95℃の範囲内で
実施される。
成された金属薄膜は、一般に、フィルムに対する付着力
が比較的小さい、すなわち転写性に優れている、という
本発明者の知見に基づいている。
製造方法においては、セラミックグリーンシートの表面
には二層の金属層からなる電極が形成され、これらの金
属層は蒸着および湿式めっきによって形成される。
合、金属の種類によって、蒸着しやすいものと、そうで
ないものとがある。また、同じ蒸着技術を用いて金属薄
膜を形成しても、金属の種類によって、転写性に優れた
ものと、そうでないものとがある。したがって、この発
明の目的を達成するためには、まず、蒸着しやすく、転
写性に優れた金属を、蒸着によりフィルム上に形成され
る薄膜を構成する金属として用いなければならない。し
かしながら、上述のような蒸着の容易性および転写の容
易性を考慮して選ばれた金属は、必ずしも、目的とする
電子部品の電極材料等として適しているとは限らない。
また、金属層の全厚みを蒸着のみで形成しようとする
と、次のような問題が発生する。つまり、蒸着過程でフ
ィルムの剥離面側に熱変性が生じることに起因して、剥
離のための力が大きくなるか、剥離しにくくなる。ま
た、蒸着して得られた金属層の残留応力によりフィルム
が反ってしまうことになる。さらには、蒸着レートが低
いため、金属層の形成に時間を要し、製造コストが高く
なる。それゆえに、この発明においては、上述したよう
な蒸着の容易性および転写の容易性を考慮して選ばれた
金属によって第1の金属層を形成しながら、その上方に
第2の金属層を形成し、第1の金属層に用いられる金属
に欠けている性質を補おうとしている。第2の金属層
は、蒸着の容易性および転写の容易性を考慮する必要が
ないため、目的とする電子部品の電極等に要求される性
質を考慮して、最適の金属を以て構成することができ
る。また、第2の金属層は、第1の金属層に欠けていた
性質を補うという観点からだけでなく、蒸着により形成
される第1の金属層の厚みを補って、転写に供される金
属薄膜全体としての必要な厚みを達成することを容易に
するという意義をも有している。したがって、第1の金
属層と第2の金属層とは、互いに異種の金属からなる場
合に限らず、互いに同種の金属から構成されていてもよ
い。
の製造方法においては、蒸着によりフィルム上に第1の
金属層を形成し、その上に湿式めっきによって第2の金
属層を形成し、これら金属層をパターニングしてそこに
セラミックのスラリーをコーティングしてセラミックグ
リーンシートを成形する。その後この金属層一体化セラ
ミックグリーンシートをセラミックグリーンシートまた
は他の金属一体化グリーンシート上に圧着して積層し、
それを焼成して積層セラミック電子部品を製造する。金
属薄膜の剥離力を小さくできるため、グリーンシートの
厚みを均一にする ことができる。フィルムからの金属薄
膜の剥離力が小さく、楽に転写できるため、金属薄膜や
グリーンシートが歪むことがない。
ラミック電子部品の製造方法を提供できる。
た。
意した。フィルム1としては、100℃程度の温度では
変形しないポリエチレンテレフタレートからなるものを
用い、後で形成する金属薄膜の転写性をより高めるた
め、そのようなフィルム1に、シリコン・コートを施し
た。
に、ニッケル蒸着膜2を形成した。このニッケル蒸着膜
2の形成には、加速電圧10kVのエレクトロン・ビー
ム加熱を用い、雰囲気圧力を5×10−4Torr以下
とした。得られたニッケル蒸着膜2の厚みは、0.1μ
mであった(比較例1)。
2上に、電気めっきにより、ニッケルめっき膜3を形成
した。このとき、電気めっきは、電流密度を1A/dm
2とし、めっき浴をスルファミン酸浴とし、ニッケル蒸
着膜2を(−)、ニッケル板を(+)として実施され
た。このようなめっき処理を3分間行ない、厚み1μm
のニッケルめっき膜3を得た(参考例1)。
に示すように、ニッケル蒸着膜2上に、無電解めっきに
より、ニッケルめっき膜3を形成した。このとき、無電
解めっきは、アルカリ性ヒドラジン浴を用い、液温80
℃で実施した。このようなめっき処理を4分間行ない、
厚み1μmのニッケルめっき膜3を得た(参考例2)。
2の各々について、転写性を評価するため、紙およびプ
ラスチック上への転写を試みた。まず、比較例1ならび
に参考例1および2の各々につき、金属薄膜の表面(す
なわち、比較例1ではニッケル蒸着膜2の表面、参考例
1および2ではニッケルめっき膜3の表面)に接着剤を
コーティングした。次いで、これら比較例1ならびに参
考例1および2の各々につき、ホットスタンピング法に
より、紙およびプラスチックの各々に金属薄膜の転写を
試みた。ホットスタンピング処理において、100kg
/cm2の圧力を10秒間加えた。
理の温度を100℃にしたとき、金属薄膜(ニッケル蒸
着膜2)が紙およびプラスチックに転写することができ
たのに対し、参考例1および2の各々では、80℃の温
度であっても、紙およびプラスチックに金属薄膜(ニッ
ケル蒸着膜2およびニッケルめっき膜3)を転写するこ
とができた。
りに、金、銀、銅の各々を用いた場合についても、同様
の結果が得られた。また、これらの金属を用いて2層以
上としても同様の結果が得られた。
のフィルム4は、実験例1で用いたフィルム1と同じも
のとした。
0.1μmの銅蒸着膜5を形成した(比較例2)。な
お、蒸着条件は、実験例1と同様とした。
り、厚み1μmのニッケルめっき膜6を形成した(実施
例1)。この電気めっき条件についても、実験例1と同
様とした。
着膜5上に、無電解めっきにより、厚み1μmのニッケ
ルめっき膜6を形成した(実施例2)。この無電解めっ
き条件についても、実験例1と同様とした。
の各々の転写性を評価するため、次のような実験を行な
った。
誘電体セラミックのスラリーを用意した。このスラリー
を、金属薄膜(比較例2では銅蒸着膜5、実施例1およ
び2ではニッケルめっき膜6)の表面にコーティング
し、乾燥した後、セラミックグリーンシート7の剥離を
行なった。比較例2では、セラミックグリーンシート7
の剥離にもかかわらず、銅蒸着膜5はフィルム4からま
ったく剥がれなかった。他方、実施例1および2では、
セラミックグリーンシート7の剥離に伴われて、銅蒸着
膜5およびニッケルめっき膜6がフィルム4から剥離さ
れた。
っき膜6上にフォトレジストをコーティングした後、フ
ォトエッチング法により、積層セラミックコンデンサの
内部電極を形成するように、金属薄膜(銅蒸着膜5およ
びニッケルめっき膜6)のパターニングを行なった。
れた側の面上に、ドクターブレード法により、厚み10
〜15μmのセラミックグリーンシート7を成形した。
このセラミックグリーンシート7の成形には、前述した
非還元性誘電体セラミックのスラリーを用いた。
7を積重ね、積重ねごとに、熱圧着を行ない、それぞれ
の熱圧着の後で、フィルム4を剥離した。このとき、金
属薄膜がフィルム4側に残ることはなかった。
積層セラミックコンデンサを与える寸法にカットした
後、焼成し、次いで外部電極を形成し、積層セラミック
コンデンサを作製した。
部電極を金属ペーストのスクリーン印刷により形成した
従来の典型的な積層セラミックコンデンサに比べて、そ
の厚みが薄く、また、その厚みがセラミックシートの延
びる方向においてより均一であった。また、内部電極に
ポアなどの欠陥がないため、容量低下など、電気的特性
の劣化もみられなかった。
に、蒸着により、厚み1μmの銅蒸着膜2を形成した
(比較例3)。なお、蒸着条件は実験例1と同様とし
た。
に、蒸着により、厚み0.1μmの銅蒸着膜2を形成
し、さらに、銅蒸着膜2の上に、電気めっきにより、厚
み1μmの銅めっき膜3を形成した(参考例3)。な
お、電気めっき条件は、実験例1と同様とした。
着膜2の上に、無電解めっきにより、厚み1μmの銅め
っき膜3を形成した(参考例4)。なお、無電解めっき
条件は、実験例1と同様とした。
の各々の転写性を評価するため、次のような実験を行な
った。
びに参考例3および4の各々のものを2枚の板の間に挟
み、比較例3ならびに参考例3および4の各々と板とを
その接触面で接着剤により固定した。この状態で、板を
外方に向って引張り、フィルム1から銅蒸着膜2の剥離
力を調べたところ、比較例3では3000gであったの
に対し、参考例3および4の各々のものは2000gで
剥離した。
りが大きく、平面状のものが得られにくいため、フォト
エッチング法によるパターニングが困難であった。
に、蒸着により、厚み1μmのニッケル蒸着膜2を形成
した(比較例4)。なお、蒸着条件は実験例1と同様と
した。
に、蒸着により、厚み0.1μmのニッケル蒸着膜2を
形成し、さらに、ニッケル蒸着膜2の上に、電気めっき
により、厚み1μmのニッケルめっき膜3を形成した
(参考例5)。なお、電気めっき条件は、実験例1と同
様とした。
ケル蒸着膜2の上に、無電解めっきにより、厚み1μm
のニッケルめっき膜3を形成した(参考例6)。なお、
無電解めっき条件は、実験例1と同様とした。
の各々の転写性を評価するため、実験例1と同様に行な
ったところ、比較例4では、ホットスタンピング処理の
温度を100℃にしても転写できず、またニッケル蒸着
膜のひび割れが著しく、さらには反りも大きく、平面状
のものが得られにくいため、フォトエッチング法による
パターニングが困難であった。一方、参考例5および6
の各々のものは、80℃の温度で、紙およびプラスチッ
クに金属薄膜(ニッケル蒸着膜2およびニッケルめっき
膜3)を転写することができた。
連して説明したが、第1の金属層および第2の金属層の
各々に用いられる金属は、任意である。
金属層に接触して設けられる必要はない。たとえば、第
1の金属層と第2の金属層との間に、少なくとも1つの
第3の金属層が形成されていてもよい。この場合、第3
の金属層は、スパッタリング、電気めっき、無電解めっ
き、などの方法で形成されてもよい。
ルムは、たとえば樹脂から構成されるが、前述したよう
に、シリコン・コートのような転写性を向上させるため
の処理が施されていることを必須とするものではない。
フィルム自身を構成する材料として、本来的に金属との
付着力が小さいものを用いれば、敢えて転写性を向上さ
せるための表面処理を施す必要はない。
第2の金属層の材質を選択することにより、以下に説明
するようなものを構成することができる。
層としてニッケルを選択し、これを半導体磁器コンデン
サ用のセラミックグリーンシートの上に転写し、こうし
て準備したものを複数枚積み重ねたのち、焼成すること
により、セラミックグリーンシートの磁器化が行われる
とともに、その後の再酸化処理により、銅がセラミック
に拡散し、半導体磁器の粒界の絶縁体化が行われ、粒界
絶縁型の積層セラミックコンデンサが得られる。
ム、第2の金属層として銅、第3の金属層としてアルミ
ニウムを選択し、これをセラミックグリーンシートの上
に転写し、こうして準備したものを複数枚積み重ねたの
ち、焼成すると、アルミニウムがAl2O3になり、銅
の拡散防止層となる。これを積層セラミックコンデンサ
の製造に適用すれば、内部電極となる銅がセラミック層
に拡散するのが防止されるため、特性、特に容量ばらつ
きの少ない積層セラミックコンデンサが製造できる。こ
の場合、銅の代わりにニッケルで構成しても同様の効果
が得られる。
Claims (5)
- 【請求項1】 セラミックグリーンシートと、前記セラ
ミックグリーンシートの表面に形成された電極とを含ん
でなる積層セラミック電子部品の製造方法であって、 (a) 蒸着によりフィルム上に第1の金属層を形成す
るステップと、 (b) 湿式めっきにより前記第1の金属層の上に第2
の金属層を形成するステップと、 (c) 前記第1および第2の金属層をパターニングす
るステップと、 (d) 前記金属層を覆うように、前記フィルム上にセ
ラミックのスラリーをコーティングしてセラミックグリ
ーンシートを形成するステップと、 (e) 前記フィルムに支持された金属一体化グリーン
シートをセラミックグリーンシートまたは他の金属一体
化グリーンシート上に圧着し積層するステップと、 (f) 前記フィルムを剥離するステップと、 (g) 前記積層したセラミックグリーンシートを焼成
するステップとを備えることを特徴とする、積層セラミ
ック電子部品の製造方法。 - 【請求項2】 前記湿式めっきは電気めっきである、請
求項1に記載の積層セラミック電子部品の製造方法。 - 【請求項3】 前記湿式めっきは無電解めっきである、
請求項1に記載の積層セラミック電子部品の製造方法。 - 【請求項4】 前記第1および第2の金属層は異なった
金属で形成される、請求項1に記載の積層セラミック電
子部品の製造方法。 - 【請求項5】 前記第1および第2の金属層は同じ金属
で形成される、請求項1に記載の積層セラミック電子部
品の製造方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3144591A JP2990621B2 (ja) | 1990-11-05 | 1991-06-17 | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
SG1996001893A SG42991A1 (en) | 1990-11-05 | 1991-11-05 | Metal thin film having excellent transferability and method of preparing the same |
DE1991621842 DE69121842T2 (de) | 1990-11-05 | 1991-11-05 | Dünne Metallschicht mit ausgezeichneter Übertragungsfähigkeit und Verfahren zu ihrer Herstellung |
EP19910310229 EP0485176B1 (en) | 1990-11-05 | 1991-11-05 | Metal thin film having excellent transferability and method of preparing the same |
US08/026,208 US6007652A (en) | 1990-11-05 | 1993-03-02 | Method of preparing metal thin film having excellent transferability |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30034790 | 1990-11-05 | ||
JP2-300347 | 1990-11-05 | ||
JP3144591A JP2990621B2 (ja) | 1990-11-05 | 1991-06-17 | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04314876A JPH04314876A (ja) | 1992-11-06 |
JP2990621B2 true JP2990621B2 (ja) | 1999-12-13 |
Family
ID=26475961
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3144591A Expired - Lifetime JP2990621B2 (ja) | 1990-11-05 | 1991-06-17 | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0485176B1 (ja) |
JP (1) | JP2990621B2 (ja) |
DE (1) | DE69121842T2 (ja) |
SG (1) | SG42991A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3252534B2 (ja) * | 1993-06-10 | 2002-02-04 | 株式会社村田製作所 | 基板への導電パターン形成方法 |
US5751256A (en) * | 1994-03-04 | 1998-05-12 | Flexcon Company Inc. | Resonant tag labels and method of making same |
JP3099640B2 (ja) * | 1994-06-14 | 2000-10-16 | 株式会社村田製作所 | 焼結体内蔵抵抗体の製造方法及び積層セラミック電子部品の製造方法 |
KR100231356B1 (ko) | 1994-09-12 | 1999-11-15 | 모리시타요이찌 | 적층형 세라믹칩 인덕터 및 그 제조방법 |
US6911887B1 (en) | 1994-09-12 | 2005-06-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Inductor and method for producing the same |
US5647966A (en) * | 1994-10-04 | 1997-07-15 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for producing a conductive pattern and method for producing a greensheet lamination body including the same |
DE69635566T2 (de) * | 1995-03-16 | 2006-06-14 | Murata Manufacturing Co | Monolithisches Keramikbauelement und seine Herstellung |
JP2002050519A (ja) * | 2000-08-04 | 2002-02-15 | Sony Corp | 高周波コイル装置及びその製造方法 |
JP4595183B2 (ja) * | 2000-09-11 | 2010-12-08 | 株式会社村田製作所 | セラミック電子部品およびその製造方法ならびに積層型セラミック電子部品およびその製造方法 |
JP3656612B2 (ja) * | 2001-06-08 | 2005-06-08 | 株式会社村田製作所 | 金属膜およびその製造方法ならびに積層セラミック電子部品およびその製造方法 |
JP4702711B2 (ja) * | 2001-07-24 | 2011-06-15 | 東レフィルム加工株式会社 | 金属化フィルム及び金属箔 |
JP2003145674A (ja) | 2001-11-08 | 2003-05-20 | Learonal Japan Inc | 樹脂複合材料の形成方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4357395A (en) * | 1980-08-22 | 1982-11-02 | General Electric Company | Transfer lamination of vapor deposited foils, method and product |
US4568413A (en) * | 1983-07-25 | 1986-02-04 | James J. Toth | Metallized and plated laminates |
JPH0754780B2 (ja) * | 1987-08-10 | 1995-06-07 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサの製造方法 |
-
1991
- 1991-06-17 JP JP3144591A patent/JP2990621B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1991-11-05 SG SG1996001893A patent/SG42991A1/en unknown
- 1991-11-05 DE DE1991621842 patent/DE69121842T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-11-05 EP EP19910310229 patent/EP0485176B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0485176A2 (en) | 1992-05-13 |
SG42991A1 (en) | 1997-10-17 |
JPH04314876A (ja) | 1992-11-06 |
DE69121842T2 (de) | 1997-02-20 |
EP0485176A3 (en) | 1992-07-08 |
EP0485176B1 (en) | 1996-09-04 |
DE69121842D1 (de) | 1996-10-10 |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071015 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081015 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091015 Year of fee payment: 10 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101015 Year of fee payment: 11 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101015 Year of fee payment: 11 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111015 Year of fee payment: 12 |