JP2988547B2 - 部分放電測定方法 - Google Patents
部分放電測定方法Info
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- JP2988547B2 JP2988547B2 JP3333059A JP33305991A JP2988547B2 JP 2988547 B2 JP2988547 B2 JP 2988547B2 JP 3333059 A JP3333059 A JP 3333059A JP 33305991 A JP33305991 A JP 33305991A JP 2988547 B2 JP2988547 B2 JP 2988547B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電力ケーブル線路の部分
放電測定において、高感度の測定と容易な放電電荷量の
校正を行うことができる部分放電測定方法に関する。
放電測定において、高感度の測定と容易な放電電荷量の
校正を行うことができる部分放電測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は従来の部分放電測定方法を示す図
である。同図において、１０１は電力ケーブル、１０２
は絶縁接続部、１０３はシース間を絶縁する絶縁筒、１
０４は校正パルス注入用箔電極、１０５は検出用箔電
極、１０６は校正パルス発生器、１０７は検出インピー
ダンス、１０８は部分放電測定器である。図４におい
て、電力ケーブル１０１は絶縁接続部１０２で接続され
ており、絶縁接続部１０２の中間部にはシース間を絶縁
する絶縁筒１０３が設けられている。
である。同図において、１０１は電力ケーブル、１０２
は絶縁接続部、１０３はシース間を絶縁する絶縁筒、１
０４は校正パルス注入用箔電極、１０５は検出用箔電
極、１０６は校正パルス発生器、１０７は検出インピー
ダンス、１０８は部分放電測定器である。図４におい
て、電力ケーブル１０１は絶縁接続部１０２で接続され
ており、絶縁接続部１０２の中間部にはシース間を絶縁
する絶縁筒１０３が設けられている。
【０００３】絶縁接続部１０２の金属シース上には検出
用箔電極１０５および校正パルス注入用箔電極１０４が
取り付けられており、検出用箔電極１０５には検出イン
ピーダンス１０７が、校正パルス注入用箔電極１０４に
は校正パルス発生器１０６が接続されている。また、検
出インピーダンス１０７には部分放電測定器１０８か接
続されている。
用箔電極１０５および校正パルス注入用箔電極１０４が
取り付けられており、検出用箔電極１０５には検出イン
ピーダンス１０７が、校正パルス注入用箔電極１０４に
は校正パルス発生器１０６が接続されている。また、検
出インピーダンス１０７には部分放電測定器１０８か接
続されている。
【０００４】電力ケーブル１０１に部分放電が起こる
と、部分放電により高周波パルスが発生し、検出インピ
ーダンス１０７の両端に電位差が発生する。部分放電測
定器１０８は検出インピーダンス１０７の両端に生じる
電位差を検出して、電力ケーブル１０１の部分放電を測
定する。また、部分放電測定器１０８の校正を行う場合
には、校正パルス発生器１０６により校正パルスを発生
させ、校正パルスにより生ずる検出インピーダンス１０
７の両端の電位差を部分放電測定器１０８により検出し
て校正を行う。
と、部分放電により高周波パルスが発生し、検出インピ
ーダンス１０７の両端に電位差が発生する。部分放電測
定器１０８は検出インピーダンス１０７の両端に生じる
電位差を検出して、電力ケーブル１０１の部分放電を測
定する。また、部分放電測定器１０８の校正を行う場合
には、校正パルス発生器１０６により校正パルスを発生
させ、校正パルスにより生ずる検出インピーダンス１０
７の両端の電位差を部分放電測定器１０８により検出し
て校正を行う。
【０００５】ところで、上記した従来の部分放電測定法
においては、検出用箔電極１０５および校正パルス注入
用箔電極１０４が共に絶縁接続部１０２の金属シース上
に取り付けられているため、校正パルスを感度よく測定
することが出来なかった。これは、絶縁接続部１０２の
構造上、発生した校正パルスが絶縁接続部内の数カ所で
反射し、校正パルスが弱められるためと考えられる。
においては、検出用箔電極１０５および校正パルス注入
用箔電極１０４が共に絶縁接続部１０２の金属シース上
に取り付けられているため、校正パルスを感度よく測定
することが出来なかった。これは、絶縁接続部１０２の
構造上、発生した校正パルスが絶縁接続部内の数カ所で
反射し、校正パルスが弱められるためと考えられる。
【０００６】図５は電力ケーブルの接続部の構造を示す
図である。同図において、１５１は電力ケーブル、１５
２は外部しゃへい層、１５３は金属シース、１５４は押
し出しモールド層、１５５は絶縁コンパウンド、１５６
は絶縁筒、１５７は外部しゃへい層絶縁部である。図５
に示すように、ケーブル１５１の外部しゃへい層１５２
は外部しゃへい層絶縁部１５７で絶縁されており、また
金属シース１５３は絶縁筒１５６で絶縁されており、外
部しゃへい層１５２を絶縁する位置と金属シース１５３
を絶縁する位置が異なっている。このため、発生した校
正パルスは最低２か所で反射し（実際にはこの区間でパ
ルスの反射が分布して起こっていると考えられる）、こ
の部分に電荷を注入しても上記したように充分な強度の
信号を得ることができないためと考えられる。
図である。同図において、１５１は電力ケーブル、１５
２は外部しゃへい層、１５３は金属シース、１５４は押
し出しモールド層、１５５は絶縁コンパウンド、１５６
は絶縁筒、１５７は外部しゃへい層絶縁部である。図５
に示すように、ケーブル１５１の外部しゃへい層１５２
は外部しゃへい層絶縁部１５７で絶縁されており、また
金属シース１５３は絶縁筒１５６で絶縁されており、外
部しゃへい層１５２を絶縁する位置と金属シース１５３
を絶縁する位置が異なっている。このため、発生した校
正パルスは最低２か所で反射し（実際にはこの区間でパ
ルスの反射が分布して起こっていると考えられる）、こ
の部分に電荷を注入しても上記したように充分な強度の
信号を得ることができないためと考えられる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記した従来
技術の欠点を改善するためになされたものであって、校
正用パルスを高感度に検出することができる部分放電測
定方法を提供することを目的とする。
技術の欠点を改善するためになされたものであって、校
正用パルスを高感度に検出することができる部分放電測
定方法を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために発明されたものであって、検出インピーダン
ス１７の両端を絶縁接続部１２の近傍のケーブルしゃへ
い部もしくは絶縁接続部１２のシースに接続し、検出イ
ンピーダンス１７の両端の電位を検出することにより部
分放電を測定する部分放電測定方法において、校正パル
ス発生器１６の出力の少なくとも一端を絶縁接続部１２
の近傍のケーブルしゃへい部に接続するとともに、その
他端を絶縁接続部１２の近傍のケーブルしゃへい部もし
くは絶縁接続部１２のシースに接続し、校正パルス発生
器１６から校正パルスを注入することにより、部分放電
電荷量を校正するようにしたものである。
するために発明されたものであって、検出インピーダン
ス１７の両端を絶縁接続部１２の近傍のケーブルしゃへ
い部もしくは絶縁接続部１２のシースに接続し、検出イ
ンピーダンス１７の両端の電位を検出することにより部
分放電を測定する部分放電測定方法において、校正パル
ス発生器１６の出力の少なくとも一端を絶縁接続部１２
の近傍のケーブルしゃへい部に接続するとともに、その
他端を絶縁接続部１２の近傍のケーブルしゃへい部もし
くは絶縁接続部１２のシースに接続し、校正パルス発生
器１６から校正パルスを注入することにより、部分放電
電荷量を校正するようにしたものである。
【０００９】
【作用】ケーブルの絶縁接続部１２はその構造上、外部
しゃへい層を絶縁する位置と金属シースを絶縁する位置
が異なっており、校正パルス発生器１６の出力を絶縁接
続部１２に接続し校正パルスを注入した場合、校正パル
スは最低２か所で反射する。このため、校正パルス発生
器１６から注入された電荷は反射により弱められ充分な
強度の信号を得ることができない。本発明においては、
校正パルス発生器１６の出力の少なくとも一端を絶縁接
続部１２の近傍のケーブルしゃへい部に接続しているの
で、絶縁接続部１２の上記した絶縁部における反射パル
スの影響を受けることがなく、充分に高い感度で部分放
電の校正を行うことができる。
しゃへい層を絶縁する位置と金属シースを絶縁する位置
が異なっており、校正パルス発生器１６の出力を絶縁接
続部１２に接続し校正パルスを注入した場合、校正パル
スは最低２か所で反射する。このため、校正パルス発生
器１６から注入された電荷は反射により弱められ充分な
強度の信号を得ることができない。本発明においては、
校正パルス発生器１６の出力の少なくとも一端を絶縁接
続部１２の近傍のケーブルしゃへい部に接続しているの
で、絶縁接続部１２の上記した絶縁部における反射パル
スの影響を受けることがなく、充分に高い感度で部分放
電の校正を行うことができる。
【００１０】
【実施例】図１は本発明の１実施例を示す図である。同
図において、１１は電力ケーブル、１２は絶縁接続部、
１３はシース間を絶縁する絶縁筒、１４は校正パルス注
入用箔電極、１５は検出用箔電極、１６は校正パルス発
生器、１７は検出インピーダンス、１８は部分放電測定
器である。図１において、電力ケーブル１１は絶縁接続
部１２で接続されており、絶縁接続部１２の中間部には
シース間を絶縁する絶縁筒１３が設けられている。
図において、１１は電力ケーブル、１２は絶縁接続部、
１３はシース間を絶縁する絶縁筒、１４は校正パルス注
入用箔電極、１５は検出用箔電極、１６は校正パルス発
生器、１７は検出インピーダンス、１８は部分放電測定
器である。図１において、電力ケーブル１１は絶縁接続
部１２で接続されており、絶縁接続部１２の中間部には
シース間を絶縁する絶縁筒１３が設けられている。
【００１１】電力ケーブル１１のケーブルしゃへい部上
には検出用箔電極１５および校正パルス注入用箔電極１
４が取り付けられており、検出用箔電極１５には検出イ
ンピーダンス１７が、校正パルス注入用箔電極１４には
校正パルス発生器１６が接続されている。また、検出イ
ンピーダンス１７には部分放電測定器１８が接続されて
いる。
には検出用箔電極１５および校正パルス注入用箔電極１
４が取り付けられており、検出用箔電極１５には検出イ
ンピーダンス１７が、校正パルス注入用箔電極１４には
校正パルス発生器１６が接続されている。また、検出イ
ンピーダンス１７には部分放電測定器１８が接続されて
いる。
【００１２】電力ケーブル１１に部分放電が起こると、
従来例において説明したのと同様、部分放電により高周
波パルスが発生し、検出インピーダンス１７の両端に電
位差が発生する。部分放電測定器１８は検出インピーダ
ンス１７の両端に生じる電位差を検出して、電力ケーブ
ル１１の部分放電を測定する。また、部分放電測定器１
８の校正を行う場合には、校正パルス発生器１６により
校正パルスを発生させ、校正パルスにより生ずる検出イ
ンピーダンス１７の両端の電位差を部分放電測定器１８
により検出して校正を行う。
従来例において説明したのと同様、部分放電により高周
波パルスが発生し、検出インピーダンス１７の両端に電
位差が発生する。部分放電測定器１８は検出インピーダ
ンス１７の両端に生じる電位差を検出して、電力ケーブ
ル１１の部分放電を測定する。また、部分放電測定器１
８の校正を行う場合には、校正パルス発生器１６により
校正パルスを発生させ、校正パルスにより生ずる検出イ
ンピーダンス１７の両端の電位差を部分放電測定器１８
により検出して校正を行う。
【００１３】上記実施例によれば、校正パルス注入用箔
電極１４が絶縁接続部１２上に設けられていないので、
校正パルス発生器１６が発生した校正パルスが絶縁接続
部内で反射され弱められることがなく、十分な検出感度
を得ることができる。
電極１４が絶縁接続部１２上に設けられていないので、
校正パルス発生器１６が発生した校正パルスが絶縁接続
部内で反射され弱められることがなく、十分な検出感度
を得ることができる。
【００１４】図２は本発明による測定法と従来例による
測定法の検出感度を比較するための構成を示す図であ
る。同図において、図１に示した実施例と同じ部材には
同一の符号が付されており、図２においては、図１の実
施例のものに加えて、校正パルス注入用箔電極１４’お
よび校正パルス発生器１６’が付加されている。
測定法の検出感度を比較するための構成を示す図であ
る。同図において、図１に示した実施例と同じ部材には
同一の符号が付されており、図２においては、図１の実
施例のものに加えて、校正パルス注入用箔電極１４’お
よび校正パルス発生器１６’が付加されている。
【００１５】本発明と従来例の検出感度を比較するた
め、２７５ｋＶ級ケーブル線路１００ｍの中央に図２に
示す構造の絶縁接続部を組み立て、検出用箔電極１５に
インダクタンスからなる検出インピーダンス１７を取り
付けた。そして、校正パルス注入用箔電極１４を本発明
に示した位置Ａに取り付けるとともに、校正パルス注入
用箔電極１４’を従来例で示した位置Ｂに取り付け、校
正パルス発生器１６および１６’より等しい電荷を注入
して、検出インピーダンス１７の両端電圧を部分放電測
定器１８で測定した。
め、２７５ｋＶ級ケーブル線路１００ｍの中央に図２に
示す構造の絶縁接続部を組み立て、検出用箔電極１５に
インダクタンスからなる検出インピーダンス１７を取り
付けた。そして、校正パルス注入用箔電極１４を本発明
に示した位置Ａに取り付けるとともに、校正パルス注入
用箔電極１４’を従来例で示した位置Ｂに取り付け、校
正パルス発生器１６および１６’より等しい電荷を注入
して、検出インピーダンス１７の両端電圧を部分放電測
定器１８で測定した。
【００１６】図３は上記のようにして測定した出力波形
を示す図であり、（ａ）は校正パルス注入用箔電極１４
を本発明による位置Ａに取り付けた場合の出力波形であ
り、（ｂ）は校正パルス注入用箔電極１４’を従来例の
位置Ｂに取り付けた場合の出力波形である。図３から明
らかなように、本発明と従来例では、出力電圧に格段の
差があり、本発明の方法により、従来例と較べて検出感
度の高い測定が可能であることがわかる。
を示す図であり、（ａ）は校正パルス注入用箔電極１４
を本発明による位置Ａに取り付けた場合の出力波形であ
り、（ｂ）は校正パルス注入用箔電極１４’を従来例の
位置Ｂに取り付けた場合の出力波形である。図３から明
らかなように、本発明と従来例では、出力電圧に格段の
差があり、本発明の方法により、従来例と較べて検出感
度の高い測定が可能であることがわかる。
【００１７】なお、上記実施例においては、校正パルス
注入用箔電極１４の両方を電力ケーブル上に取り付ける
例を示したが、校正パルス注入用箔電極１４の一方を絶
縁接続部１２上に設け、他方を電力ケーブル上に取り付
けても、従来例のものと較べて感度の高い測定が可能で
ある。
注入用箔電極１４の両方を電力ケーブル上に取り付ける
例を示したが、校正パルス注入用箔電極１４の一方を絶
縁接続部１２上に設け、他方を電力ケーブル上に取り付
けても、従来例のものと較べて感度の高い測定が可能で
ある。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明においては、校正パルス発生器の少なくとも一端
を電力ケーブル上に取り付けたので、絶縁接続部内での
反射パルス等の影響を受けることなく、充分に高い感度
で部分放電の校正を行うことができ、信頼度の高い部分
放電測定が可能となる。
本発明においては、校正パルス発生器の少なくとも一端
を電力ケーブル上に取り付けたので、絶縁接続部内での
反射パルス等の影響を受けることなく、充分に高い感度
で部分放電の校正を行うことができ、信頼度の高い部分
放電測定が可能となる。
【図１】本発明の実施例を示す図である。
【図２】本発明と従来例を比較するための構成を示す図
である。
である。
【図３】本発明と従来例の出力波形を示す図である。
【図４】従来例を示す図である。
【図５】ケーブル接続部の構造を示す図である。
１１ 電力ケーブル １２ 絶縁接続部 １３ シース間を絶縁する絶縁筒 １４ 校正パルス注入用箔電極 １５ 検出用箔電極 １６ 校正パルス発生器 １７ 検出インピーダンス １８ 部分放電測定器
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−279877（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−331381（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−191568（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−85771（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−167483（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−167484（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−170076（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01R 31/12 - 31/20
Claims (1)
- 【請求項１】 検出インピーダンス(17)の両端を絶縁接
続部(12)の近傍のケーブルしゃへい部もしくは絶縁接続
部(12)のシースに接続し、検出インピーダンス(17)の両
端の電位を検出することにより部分放電を測定する部分
放電測定方法において、 校正パルス発生器(16)の出力の少なくとも一端を絶縁接
続部(12)の近傍のケーブルしゃへい部に接続するととも
に、その他端を絶縁接続部(12)の近傍のケーブルしゃへ
い部もしくは絶縁接続部(12)のシースに接続し、 校正パルス発生器(16)から校正パルスを注入することに
より、部分放電電荷量を校正するようにしたことを特徴
とする部分放電測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3333059A JP2988547B2 (ja) | 1991-12-17 | 1991-12-17 | 部分放電測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3333059A JP2988547B2 (ja) | 1991-12-17 | 1991-12-17 | 部分放電測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05164810A JPH05164810A (ja) | 1993-06-29 |
| JP2988547B2 true JP2988547B2 (ja) | 1999-12-13 |
Family
ID=18261812
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3333059A Expired - Lifetime JP2988547B2 (ja) | 1991-12-17 | 1991-12-17 | 部分放電測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2988547B2 (ja) |
-
1991
- 1991-12-17 JP JP3333059A patent/JP2988547B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05164810A (ja) | 1993-06-29 |
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