JP3072946B2 - 電力ケーブルの部分放電測定方法 - Google Patents
電力ケーブルの部分放電測定方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電力ケーブルおよびそ
の接続部の絶縁性能および劣化状態を評価するため、電
力ケーブルおよびその接続部に発生する部分放電を測定
する電力ケーブルの部分放電測定方法に関し、特に本発
明は、ケーブル布設後の高電圧印加による現地竣工試験
時、あるいは、活線状態での絶縁劣化監視システムに適
用するに好適な電力ケーブルの部分放電測定方法に関す
るものである。
の接続部の絶縁性能および劣化状態を評価するため、電
力ケーブルおよびその接続部に発生する部分放電を測定
する電力ケーブルの部分放電測定方法に関し、特に本発
明は、ケーブル布設後の高電圧印加による現地竣工試験
時、あるいは、活線状態での絶縁劣化監視システムに適
用するに好適な電力ケーブルの部分放電測定方法に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】図３は電力ケーブルの接続部において、
電力ケーブルおよびその接続部に発生する部分放電パル
ス測定する従来例を示す図である。同図は２７５ｋＶＣ
Ｖケーブルの中間絶縁接続部を示す図であり、同図にお
いて、１は電力ケーブル、２は中間絶縁接続部、２ａ，
２ａ’は保護用金属管、２ｂはシース絶縁部、３，３’
はシース絶縁部２ｂを挟んだ両側に取り付けられた部分
放電パルスを検出する検出用箔電極である。検出用箔電
極３，３’は保護用金属管２ａの防蝕層表面に取り付け
られており、部分放電発生時、シースを伝播する部分放
電パルスを検出する。４，４’は測定用リード線、５は
検出器、６は部分放電測定装置であり、測定用リード線
４，４’は、その一端が検出用箔電極３，３’に接続さ
れ、他端が検出器５に接続される。
電力ケーブルおよびその接続部に発生する部分放電パル
ス測定する従来例を示す図である。同図は２７５ｋＶＣ
Ｖケーブルの中間絶縁接続部を示す図であり、同図にお
いて、１は電力ケーブル、２は中間絶縁接続部、２ａ，
２ａ’は保護用金属管、２ｂはシース絶縁部、３，３’
はシース絶縁部２ｂを挟んだ両側に取り付けられた部分
放電パルスを検出する検出用箔電極である。検出用箔電
極３，３’は保護用金属管２ａの防蝕層表面に取り付け
られており、部分放電発生時、シースを伝播する部分放
電パルスを検出する。４，４’は測定用リード線、５は
検出器、６は部分放電測定装置であり、測定用リード線
４，４’は、その一端が検出用箔電極３，３’に接続さ
れ、他端が検出器５に接続される。
【０００３】７，７’はシース絶縁部２ｂを挟んだ両側
に取り付けられた校正パルス注入用箔電極であり、検出
用箔電極３，３’と同様、保護用金属管２ａ，２ａ’の
防蝕層表面に取り付けられている。８，８’は校正パル
ス注入用リード線、９は校正パルス発生器であり、校正
パルス注入用リード線８，８’はその一端が校正パルス
注入用箔電極７，７’に接続され、他端が校正パルス発
生器９に接続される。また、１０は防蝕層保護用アレス
タを接続するためのアレスタ端子、１１はクロスボンド
線を接続するためのクロスボンド端子である。
に取り付けられた校正パルス注入用箔電極であり、検出
用箔電極３，３’と同様、保護用金属管２ａ，２ａ’の
防蝕層表面に取り付けられている。８，８’は校正パル
ス注入用リード線、９は校正パルス発生器であり、校正
パルス注入用リード線８，８’はその一端が校正パルス
注入用箔電極７，７’に接続され、他端が校正パルス発
生器９に接続される。また、１０は防蝕層保護用アレス
タを接続するためのアレスタ端子、１１はクロスボンド
線を接続するためのクロスボンド端子である。
【０００４】同図において、電力ケーブルもしくはその
接続部に部分放電が発生すると、シースを伝播する部分
放電パルスの高周波成分は、中間絶縁接続部２と検出用
箔電極３，３’との間で形成される静電容量を介して検
出され、測定用リード線４，４’を介して検出器５に与
えられ部分放電パルスが検出される。検出器５により検
出された部分放電パルスは部分放電測定器６に送られて
周波数分析等の解析が行われ、部分放電パルスとノイズ
との識別、部分放電電荷量の測定等が行われる。
接続部に部分放電が発生すると、シースを伝播する部分
放電パルスの高周波成分は、中間絶縁接続部２と検出用
箔電極３，３’との間で形成される静電容量を介して検
出され、測定用リード線４，４’を介して検出器５に与
えられ部分放電パルスが検出される。検出器５により検
出された部分放電パルスは部分放電測定器６に送られて
周波数分析等の解析が行われ、部分放電パルスとノイズ
との識別、部分放電電荷量の測定等が行われる。
【０００５】また、電力ケーブルもしくはその接続部に
発生する部分放電電荷量を校正するには、校正パルス発
生器９が発生する校正パルスを、校正パルス注入用リー
ド線８，８’を介して校正パルス注入用箔電極７，７’
から注入し、その時の電荷量を検出用箔電極３，３’と
検出器５により検出して、部分放電電荷量を校正する。
発生する部分放電電荷量を校正するには、校正パルス発
生器９が発生する校正パルスを、校正パルス注入用リー
ド線８，８’を介して校正パルス注入用箔電極７，７’
から注入し、その時の電荷量を検出用箔電極３，３’と
検出器５により検出して、部分放電電荷量を校正する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記した従
来の部分放電測定方法においては、検出用箔電極３，
３’と検出器５の間を測定用リード線４，４’により接
続して部分放電を測定し、また、校正パルス注入用箔電
極７，７’と校正パルス発生器９の間を校正パルス注入
用リード線８，８’により接続して校正用パルスを注入
しているが、測定用リード線４，４’および校正用パル
ス注入用リード線８，８’の長さが長くなると、リアク
タンス分が大きくなり、周波数特性が低下するという問
題があった。
来の部分放電測定方法においては、検出用箔電極３，
３’と検出器５の間を測定用リード線４，４’により接
続して部分放電を測定し、また、校正パルス注入用箔電
極７，７’と校正パルス発生器９の間を校正パルス注入
用リード線８，８’により接続して校正用パルスを注入
しているが、測定用リード線４，４’および校正用パル
ス注入用リード線８，８’の長さが長くなると、リアク
タンス分が大きくなり、周波数特性が低下するという問
題があった。
【０００７】また、保護用金属管２ａ，２ａ’には、同
図に示すように、アレスタ端子１０、クロスボンド端子
１１が設けられているほか、テービング部やその他の部
分の温度を測定するための図示しない光ファイバ、相表
示器等が設けられている。このため、上記リード線を短
くするため、検出用箔電極３，３’および校正パルス注
入用箔電極７，７’の大きさを大きくしたり、箔電極を
シース絶縁部２ｂの近傍に設置しようとしても、上記端
子に邪魔され、また、上記光ファイバ等の上に箔電極が
かかり、金属保護管２ａへの箔電極の密着性が悪くな
り、カップリングの静電容量が低下し、所定の特性が得
られないといった問題が生じていた。
図に示すように、アレスタ端子１０、クロスボンド端子
１１が設けられているほか、テービング部やその他の部
分の温度を測定するための図示しない光ファイバ、相表
示器等が設けられている。このため、上記リード線を短
くするため、検出用箔電極３，３’および校正パルス注
入用箔電極７，７’の大きさを大きくしたり、箔電極を
シース絶縁部２ｂの近傍に設置しようとしても、上記端
子に邪魔され、また、上記光ファイバ等の上に箔電極が
かかり、金属保護管２ａへの箔電極の密着性が悪くな
り、カップリングの静電容量が低下し、所定の特性が得
られないといった問題が生じていた。
【０００８】本発明は上記した従来技術の問題点を解決
するためになされたものであって、検出用箔電極、校正
パルス用箔電極のシース絶縁部２ｂに対向する位置に突
出部を設け、その突出部の端部に測定用リード線、校正
パルス注入用リード線を接続することにより、測定用リ
ード線、校正パルス注入用リードの長さを短くして、そ
のリアクタンス分を低下させてその周波数特性を向上さ
せ、測定感度の向上を図ることを目的とする。
するためになされたものであって、検出用箔電極、校正
パルス用箔電極のシース絶縁部２ｂに対向する位置に突
出部を設け、その突出部の端部に測定用リード線、校正
パルス注入用リード線を接続することにより、測定用リ
ード線、校正パルス注入用リードの長さを短くして、そ
のリアクタンス分を低下させてその周波数特性を向上さ
せ、測定感度の向上を図ることを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の請求項１の発明は、電力ケーブル接続部の
絶縁部を挟んで設けられた一対の保護金属管の外側にそ
れぞれ検出用箔電極を設置し、測定用リードの一端を上
記箔電極に接続し、該測定用リード線の他端を部分放電
測定器に接続して、電力ケーブルもしくは接続部に発生
する部分放電を測定する電力ケーブルの部分放電測定方
法において、上記一対の検出用箔電極の絶縁部に対向す
る側を突出させて突出部を形成し、該突出部に測定用リ
ード線を接続して部分放電を測定するようにしたもので
ある。
め、本発明の請求項１の発明は、電力ケーブル接続部の
絶縁部を挟んで設けられた一対の保護金属管の外側にそ
れぞれ検出用箔電極を設置し、測定用リードの一端を上
記箔電極に接続し、該測定用リード線の他端を部分放電
測定器に接続して、電力ケーブルもしくは接続部に発生
する部分放電を測定する電力ケーブルの部分放電測定方
法において、上記一対の検出用箔電極の絶縁部に対向す
る側を突出させて突出部を形成し、該突出部に測定用リ
ード線を接続して部分放電を測定するようにしたもので
ある。
【００１０】本発明の請求項２の発明は、電力ケーブル
接続部の絶縁部を挟んで設けられた一対の保護金属管の
外側にそれぞれ校正パルス注入用箔電極を設置し、該箔
電極をリード線により校正パルス発生器に接続し、校正
用パルス発生器から発生する校正用パルスを上記箔電極
を介して電力ケーブル接続部に注入し、部分放電電荷量
を校正する電力ケーブルの部分放電測定方法において、
上記一対の校正パルス注入用箔電極の絶縁部に対向する
側を突出させて突出部を形成し、該突出部にリード線を
接続して校正用パルスを注入するようにしたものであ
る。
接続部の絶縁部を挟んで設けられた一対の保護金属管の
外側にそれぞれ校正パルス注入用箔電極を設置し、該箔
電極をリード線により校正パルス発生器に接続し、校正
用パルス発生器から発生する校正用パルスを上記箔電極
を介して電力ケーブル接続部に注入し、部分放電電荷量
を校正する電力ケーブルの部分放電測定方法において、
上記一対の校正パルス注入用箔電極の絶縁部に対向する
側を突出させて突出部を形成し、該突出部にリード線を
接続して校正用パルスを注入するようにしたものであ
る。
【００１１】
【作用】測定用リード線および校正用パルス注入用リー
ド線の長さが長くなると、そのリアクタンス分が大きく
なり、高周波域における信号の減衰量が大きくなり周波
数特性が低下する。本発明の請求項１の発明において
は、検出用箔電極の絶縁部に対向する側を突出させて突
出部を形成し、該突出部に測定用リード線を接続してい
るので、測定用リード線の長さを短くできるとともに、
測定用リード線の一部が箔電極に置きかわり、低リアク
タンス化を図ることができる。このため、高周波域にお
ける信号の減衰量が低減化し、周波数特性を向上させる
ことができる。
ド線の長さが長くなると、そのリアクタンス分が大きく
なり、高周波域における信号の減衰量が大きくなり周波
数特性が低下する。本発明の請求項１の発明において
は、検出用箔電極の絶縁部に対向する側を突出させて突
出部を形成し、該突出部に測定用リード線を接続してい
るので、測定用リード線の長さを短くできるとともに、
測定用リード線の一部が箔電極に置きかわり、低リアク
タンス化を図ることができる。このため、高周波域にお
ける信号の減衰量が低減化し、周波数特性を向上させる
ことができる。
【００１２】本発明の請求項２の発明においは、校正パ
ルス注入用箔電極の絶縁部に対向する側を突出させて突
出部を形成し、該突出部にリード線を接続しているの
で、校正パルス注入用リード線の長さを短くできるとと
もに、校正パルス注入用リード線の一部が箔電極に置き
かわり、請求項１の発明と同様、高周波域における信号
の減衰量が低減化させ、周波数特性を向上させることが
できる。
ルス注入用箔電極の絶縁部に対向する側を突出させて突
出部を形成し、該突出部にリード線を接続しているの
で、校正パルス注入用リード線の長さを短くできるとと
もに、校正パルス注入用リード線の一部が箔電極に置き
かわり、請求項１の発明と同様、高周波域における信号
の減衰量が低減化させ、周波数特性を向上させることが
できる。
【００１３】
【実施例】図１は本発明の実施例を示す図である。同図
は従来例と同様、２７５ｋＶＣＶケーブルの中間絶縁接
続部を示す図であり、同図において、図３に示したもの
と同一のものには同一の符号が付されており、本実施例
においては、検出用箔電極３１，３１’および校正パル
ス注入用箔電極７１，７１’にそれぞれ、突出部３１
ａ，３１ａ’および７１ａ，７１ａ’を設け、突出部３
１ａ，３１ａ’に測定用リード線４，４’を接続し、ま
た、突出部７１ａ，７１ａ’に校正パルス注入用リード
線８，８’を接続したものである。
は従来例と同様、２７５ｋＶＣＶケーブルの中間絶縁接
続部を示す図であり、同図において、図３に示したもの
と同一のものには同一の符号が付されており、本実施例
においては、検出用箔電極３１，３１’および校正パル
ス注入用箔電極７１，７１’にそれぞれ、突出部３１
ａ，３１ａ’および７１ａ，７１ａ’を設け、突出部３
１ａ，３１ａ’に測定用リード線４，４’を接続し、ま
た、突出部７１ａ，７１ａ’に校正パルス注入用リード
線８，８’を接続したものである。
【００１４】本実施例においては、上記のように、箔電
極３１，３１’および７１，７１’に突出部を設け、突
出部に測定用リード線４，４’および校正パルス注入用
リード線８，８’を接続しているので、箔電極の大きさ
を大きくしたり、箔電極の取り付け位置をずらしたりす
ることなく、測定用リード線４，４’および校正パルス
注入用リード線８，８’の長さを短くすることができ、
また、リード線の一部が箔電極に置きかわるため、リア
クタンス分が大きくなることもない。したがって、リー
ド線による高周波域における信号の減衰量が低減化し、
周波数特性を向上させることができる。
極３１，３１’および７１，７１’に突出部を設け、突
出部に測定用リード線４，４’および校正パルス注入用
リード線８，８’を接続しているので、箔電極の大きさ
を大きくしたり、箔電極の取り付け位置をずらしたりす
ることなく、測定用リード線４，４’および校正パルス
注入用リード線８，８’の長さを短くすることができ、
また、リード線の一部が箔電極に置きかわるため、リア
クタンス分が大きくなることもない。したがって、リー
ド線による高周波域における信号の減衰量が低減化し、
周波数特性を向上させることができる。
【００１５】図２は従来の箔電極を用いた場合と箔電極
に突出部を設け箔電極の突出部にリード線を接続した場
合の周波数特性の実測値を示す図である。同図におい
て、同図（ａ）は従来の箔電極を用いた場合、同図
（ｂ）は箔電極に突出部を設け箔電極の突出部にリード
線を接続した場合を示しており、横軸は周波数（ＭＨz
）、縦軸は信号強度（ｄＢｍ）である。
に突出部を設け箔電極の突出部にリード線を接続した場
合の周波数特性の実測値を示す図である。同図におい
て、同図（ａ）は従来の箔電極を用いた場合、同図
（ｂ）は箔電極に突出部を設け箔電極の突出部にリード
線を接続した場合を示しており、横軸は周波数（ＭＨz
）、縦軸は信号強度（ｄＢｍ）である。
【００１６】なお、上記周波数特性は、校正パルス発生
器９より電荷を注入し、検出器５の出力を増幅により増
幅してスペクトルアナライザに入力して測定した。その
際、校正パルス発生器９より３０ｐＣの電荷量を注入し
たときを信号、注入していない時をノイズとした。箔電
極としては、３００ｍｍ×３００ｍｍの大きさの電極を
使用し、同図（ａ）の従来例においては、箔電極に８０
０ｍｍのリード線を直接接続し、同図（ｂ）の本実施例
においては、上記箔電極に接続部周方向の幅１５０ｍ
ｍ、接続部軸方向の長さ１００ｍｍの突起部を設け、上
記突起部にリード線を接続した。その結果、同図（ｂ）
の本実施例においては、リード線の長さは５００ｍｍと
なった。また、測定した接続部の静電容量は５００ｐｃ
以上を目安としたが、同図（ｂ）の本実施例において
は、６００ｐＣ〜８００ｐＣであった。
器９より電荷を注入し、検出器５の出力を増幅により増
幅してスペクトルアナライザに入力して測定した。その
際、校正パルス発生器９より３０ｐＣの電荷量を注入し
たときを信号、注入していない時をノイズとした。箔電
極としては、３００ｍｍ×３００ｍｍの大きさの電極を
使用し、同図（ａ）の従来例においては、箔電極に８０
０ｍｍのリード線を直接接続し、同図（ｂ）の本実施例
においては、上記箔電極に接続部周方向の幅１５０ｍ
ｍ、接続部軸方向の長さ１００ｍｍの突起部を設け、上
記突起部にリード線を接続した。その結果、同図（ｂ）
の本実施例においては、リード線の長さは５００ｍｍと
なった。また、測定した接続部の静電容量は５００ｐｃ
以上を目安としたが、同図（ｂ）の本実施例において
は、６００ｐＣ〜８００ｐＣであった。
【００１７】同図から明らかなように、従来の箔電極を
用いた場合（同図（ａ））には、周波数が約２５ＭＨz
から信号レベルが低下し、Ｓ／Ｎ比が小さくなるのに対
し、本発明のように箔電極に突出部を設け、箔電極の突
出部にリード線を接続した場合（同図（ｂ））には、周
波数が３５ＭＨz 近くまで信号レベルは低下せず、良好
な特性を得ることができた。
用いた場合（同図（ａ））には、周波数が約２５ＭＨz
から信号レベルが低下し、Ｓ／Ｎ比が小さくなるのに対
し、本発明のように箔電極に突出部を設け、箔電極の突
出部にリード線を接続した場合（同図（ｂ））には、周
波数が３５ＭＨz 近くまで信号レベルは低下せず、良好
な特性を得ることができた。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、箔電極に突出部を設け、箔電極の突出部にリード線
を接続したので、従来の箔電極を使用した場合と比較し
て、より広範囲の測定周波数を確保することができると
ともに検出感度の上昇を期待することができる。
は、箔電極に突出部を設け、箔電極の突出部にリード線
を接続したので、従来の箔電極を使用した場合と比較し
て、より広範囲の測定周波数を確保することができると
ともに検出感度の上昇を期待することができる。
【００１９】また、一般には、高周波域の方がノイズが
少ないことが多いので、上記のような特性が得られこと
により、Ｓ／Ｎ比の大きい帯域を選択して部分放電測定
を行うことが可能となった。
少ないことが多いので、上記のような特性が得られこと
により、Ｓ／Ｎ比の大きい帯域を選択して部分放電測定
を行うことが可能となった。
【図１】本発明の実施例を示す図である。
【図２】従来例と本発明の実施例の周波数特性を示す図
である。
である。
【図３】従来例を示す図である。
１ 電力ケーブル ２ 中間絶縁接続
部 ２ａ 保護用金属管 ２ｂ シース絶縁部 ３１，３１’ 検出用箔電極 ３１ａ，３１ａ’，７１ａ，７１ａ’ 突出部 ４，４’ 測定用リード
線 ５ 検出器 ６ 部分放電測定
装置 ７１，７１’ 校正パルス注
入用箔電極 ８，８’ 校正パルス注
入用リード線 ９ 校正パルス発
生器 １０ アレスタ端子 １１ クロスボンド
端子
部 ２ａ 保護用金属管 ２ｂ シース絶縁部 ３１，３１’ 検出用箔電極 ３１ａ，３１ａ’，７１ａ，７１ａ’ 突出部 ４，４’ 測定用リード
線 ５ 検出器 ６ 部分放電測定
装置 ７１，７１’ 校正パルス注
入用箔電極 ８，８’ 校正パルス注
入用リード線 ９ 校正パルス発
生器 １０ アレスタ端子 １１ クロスボンド
端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 丸山 義雄 東京都千代田区丸の内２丁目６番１号 古河電気工業株式会社内 (56)参考文献 特開 平３−101149（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/12
Claims (2)
- 【請求項１】 電力ケーブル接続部の絶縁部を挟んで設
けられた一対の保護金属管の外側にそれぞれ検出用箔電
極を設置し、測定用リードの一端を上記箔電極に接続
し、該測定用リード線の他端を部分放電測定器に接続し
て、電力ケーブルもしくは接続部に発生する部分放電を
測定する電力ケーブルの部分放電測定方法において、 上記一対の検出用箔電極の絶縁部に対向する側を突出さ
せて突出部を形成し、該突出部に測定用リード線を接続
して部分放電を測定することを特徴とする電力ケーブル
の部分放電測定方法。 - 【請求項２】 電力ケーブル接続部の絶縁部を挟んで設
けられた一対の保護金属管の外側にそれぞれ校正パルス
注入用箔電極を設置し、該箔電極をリード線により校正
パルス発生器に接続し、校正用パルス発生器から発生す
る校正用パルスを上記箔電極を介して電力ケーブル接続
部に注入し、部分放電電荷量を校正する電力ケーブルの
部分放電測定方法において、 上記一対の校正パルス注入用箔電極の絶縁部に対向する
側を突出させて突出部を形成し、該突出部にリード線を
接続して校正用パルスを注入することを特徴とする電力
ケーブルの部分放電測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05121495A JP3072946B2 (ja) | 1993-05-24 | 1993-05-24 | 電力ケーブルの部分放電測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05121495A JP3072946B2 (ja) | 1993-05-24 | 1993-05-24 | 電力ケーブルの部分放電測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06331687A JPH06331687A (ja) | 1994-12-02 |
| JP3072946B2 true JP3072946B2 (ja) | 2000-08-07 |
Family
ID=14812590
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05121495A Expired - Fee Related JP3072946B2 (ja) | 1993-05-24 | 1993-05-24 | 電力ケーブルの部分放電測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3072946B2 (ja) |
-
1993
- 1993-05-24 JP JP05121495A patent/JP3072946B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06331687A (ja) | 1994-12-02 |
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