JP2972993B2 - タイムデビエーション測定装置 - Google Patents
タイムデビエーション測定装置Info
- Publication number
- JP2972993B2 JP2972993B2 JP8354127A JP35412796A JP2972993B2 JP 2972993 B2 JP2972993 B2 JP 2972993B2 JP 8354127 A JP8354127 A JP 8354127A JP 35412796 A JP35412796 A JP 35412796A JP 2972993 B2 JP2972993 B2 JP 2972993B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- time
- tdev
- time deviation
- calculation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、クロック信号の位
相変動のうち１０Ｈｚ以下の位相変動成分をワンダー成
分として抽出し、このワンダー成分のタイムデビエーシ
ョン（以下、ＴＤＥＶ）の値を演算処理によって求めて
表示するＴＤＥＶ測定装置において、測定開始からＴＤ
ＥＶ表示までの待ち時間を短縮するための技術に関す
る。
相変動のうち１０Ｈｚ以下の位相変動成分をワンダー成
分として抽出し、このワンダー成分のタイムデビエーシ
ョン（以下、ＴＤＥＶ）の値を演算処理によって求めて
表示するＴＤＥＶ測定装置において、測定開始からＴＤ
ＥＶ表示までの待ち時間を短縮するための技術に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】網同期システム等のクロック信号の位相
変動を評価する一つの項目として、ＴＤＥＶがある。
変動を評価する一つの項目として、ＴＤＥＶがある。
【０００３】ＴＤＥＶは、基準クロック信号に対する被
測定クロック信号の位相変動成分のうちの１０Ｈｚ以下
の成分（これをワンダー成分と称する）を規定のサンプ
リング周期Ｔ（＜３０ミリ秒）で規定時間３０００秒以
上サンプリングして得た総数Ｎ個（１０００００以上）
のデータＸ（０）、Ｘ（１）、…、Ｘ（Ｎ−１）の累計
データＷ（０）〔＝Ｘ（０）〕、Ｗ（１）〔＝Ｘ（０）
＋Ｘ（１）〕、…、Ｗ（Ｎ−１）〔＝Ｘ（０）＋Ｘ
（１）…＋Ｘ（Ｎ−１）〕を用いて算出される。
測定クロック信号の位相変動成分のうちの１０Ｈｚ以下
の成分（これをワンダー成分と称する）を規定のサンプ
リング周期Ｔ（＜３０ミリ秒）で規定時間３０００秒以
上サンプリングして得た総数Ｎ個（１０００００以上）
のデータＸ（０）、Ｘ（１）、…、Ｘ（Ｎ−１）の累計
データＷ（０）〔＝Ｘ（０）〕、Ｗ（１）〔＝Ｘ（０）
＋Ｘ（１）〕、…、Ｗ（Ｎ−１）〔＝Ｘ（０）＋Ｘ
（１）…＋Ｘ（Ｎ−１）〕を用いて算出される。
【０００４】一般に、ＴＤＥＶの演算には、二重差分法
と三重差分法とがあり、三重差分法によるＴＤＥＶの演
算は、ｎを１〜Ｎ／３までの値、記号Σをｍ＝０からＮ
−３ｎまでの総和、Ｗ（−１）を０として、次式（１）
で定義されている。 ＴＤＥＶ（ｎＴ） ＝｛〔１／６ｎ2 （Ｎ−３ｎ＋１）〕Σｙn 2 （ｍ）｝1/2 ……（１） ただし、 ｙn （ｍ）＝Ｗ（ｍ＋３ｎ−１）−３Ｗ（ｍ＋２ｎ−
１）＋３Ｗ（ｍ＋ｎ−１）−Ｗ（ｍ−１）
と三重差分法とがあり、三重差分法によるＴＤＥＶの演
算は、ｎを１〜Ｎ／３までの値、記号Σをｍ＝０からＮ
−３ｎまでの総和、Ｗ（−１）を０として、次式（１）
で定義されている。 ＴＤＥＶ（ｎＴ） ＝｛〔１／６ｎ2 （Ｎ−３ｎ＋１）〕Σｙn 2 （ｍ）｝1/2 ……（１） ただし、 ｙn （ｍ）＝Ｗ（ｍ＋３ｎ−１）−３Ｗ（ｍ＋２ｎ−
１）＋３Ｗ（ｍ＋ｎ−１）−Ｗ（ｍ−１）
【０００５】即ち、ＴＤＥＶを計算するということは、
ｎ＝１のＴＤＥＶ（Ｔ）、ｎ＝２のＴＤＥＶ（２Ｔ）、
…、ｎ＝Ｎ／３のＴＤＥＶ（ＮＴ／３）をそれぞれ求め
るということであり、前記式（１）によってＴＤＥＶを
実際に求めるためには、各累計データを用いて〔ｙ
n （ｍ）〕2 の値を先に求める必要がある。
ｎ＝１のＴＤＥＶ（Ｔ）、ｎ＝２のＴＤＥＶ（２Ｔ）、
…、ｎ＝Ｎ／３のＴＤＥＶ（ＮＴ／３）をそれぞれ求め
るということであり、前記式（１）によってＴＤＥＶを
実際に求めるためには、各累計データを用いて〔ｙ
n （ｍ）〕2 の値を先に求める必要がある。
【０００６】即ち、ｎ＝１のＴＤＥＶ（Ｔ）を求めるた
めには、 ｙ1 2 （０）＝〔Ｗ（２）−３Ｗ（１）＋３Ｗ（０）−Ｗ（−１）〕2 ……（２−１） ｙ1 2 （１）＝〔Ｗ（３）−３Ｗ（２）＋３Ｗ（１）−Ｗ（０）〕2 ……（２−２） ｙ1 2 （２）＝〔Ｗ（４）−３Ｗ（３）＋３Ｗ（２）−Ｗ（１）〕2 ……（２−３） ……………… ｙ1 2 （Ｎ−３）＝〔Ｗ（Ｎ−１）−３Ｗ（Ｎ−２） ＋３Ｗ（Ｎ−３）−Ｗ（Ｎ−４）〕2 ……（２−Ａ） を求めて、これらの総和から算出する。
めには、 ｙ1 2 （０）＝〔Ｗ（２）−３Ｗ（１）＋３Ｗ（０）−Ｗ（−１）〕2 ……（２−１） ｙ1 2 （１）＝〔Ｗ（３）−３Ｗ（２）＋３Ｗ（１）−Ｗ（０）〕2 ……（２−２） ｙ1 2 （２）＝〔Ｗ（４）−３Ｗ（３）＋３Ｗ（２）−Ｗ（１）〕2 ……（２−３） ……………… ｙ1 2 （Ｎ−３）＝〔Ｗ（Ｎ−１）−３Ｗ（Ｎ−２） ＋３Ｗ（Ｎ−３）−Ｗ（Ｎ−４）〕2 ……（２−Ａ） を求めて、これらの総和から算出する。
【０００７】また、同様にｎ＝２のＴＤＥＶ（２Ｔ）を
求める場合には、 ｙ2 2 （０）＝〔Ｗ（５）−３Ｗ（３）＋３Ｗ（１）−Ｗ（−１）〕2 ……（３−１） ｙ2 2 （１）＝〔Ｗ（６）−３Ｗ（４）＋３Ｗ（２）−Ｗ（０）〕2 ……（３−２） ｙ2 2 （２）＝〔Ｗ（７）−３Ｗ（５）＋３Ｗ（３）−Ｗ（１）〕2 ……（３−３） ……………… ｙ2 2 （Ｎ−３）＝〔Ｗ（Ｎ−１）−３Ｗ（Ｎ−２） ＋３Ｗ（Ｎ−３）−Ｗ（Ｎ−４）〕2 ……（３−Ｂ） を求めて、これらの総和から算出する。
求める場合には、 ｙ2 2 （０）＝〔Ｗ（５）−３Ｗ（３）＋３Ｗ（１）−Ｗ（−１）〕2 ……（３−１） ｙ2 2 （１）＝〔Ｗ（６）−３Ｗ（４）＋３Ｗ（２）−Ｗ（０）〕2 ……（３−２） ｙ2 2 （２）＝〔Ｗ（７）−３Ｗ（５）＋３Ｗ（３）−Ｗ（１）〕2 ……（３−３） ……………… ｙ2 2 （Ｎ−３）＝〔Ｗ（Ｎ−１）−３Ｗ（Ｎ−２） ＋３Ｗ（Ｎ−３）−Ｗ（Ｎ−４）〕2 ……（３−Ｂ） を求めて、これらの総和から算出する。
【０００８】また、ｎ＝Ｎ／３のＴＤＥＶ（ＮＴ／３）
を求める場合には、 ｙN/3 2 （０）＝〔Ｗ（Ｎ−１）−３Ｗ（２Ｎ／３−１） ＋３Ｗ（Ｎ／３−１）−Ｗ（−１）〕2 ……（４） を求めて算出する。
を求める場合には、 ｙN/3 2 （０）＝〔Ｗ（Ｎ−１）−３Ｗ（２Ｎ／３−１） ＋３Ｗ（Ｎ／３−１）−Ｗ（−１）〕2 ……（４） を求めて算出する。
【０００９】上記した計算から明らかなように、各ＴＤ
ＥＶ（Ｔ）〜ＴＤＥＶ（ＮＴ／３）を求めるためには、
最終の累計データＷ（Ｎ−１）まで得られている必要が
ある。このために、従来のＴＤＥＶ測定装置では、Ｎ個
目のデータＸ（Ｎ−１）がサンプリングされてその累計
データＷ（Ｎ−１）が得られてから各ＴＤＥＶの演算を
開始して、その演算によって得られた各ＴＤＥＶ
（Ｔ）、ＴＤＥＶ（２Ｔ）、…、ＴＤＥＶ（ＮＴ／３）
を例えば、図５に示すように横軸を時間とする画面上に
表示して、その表示からＴＤＥＶの評価ができるように
している。
ＥＶ（Ｔ）〜ＴＤＥＶ（ＮＴ／３）を求めるためには、
最終の累計データＷ（Ｎ−１）まで得られている必要が
ある。このために、従来のＴＤＥＶ測定装置では、Ｎ個
目のデータＸ（Ｎ−１）がサンプリングされてその累計
データＷ（Ｎ−１）が得られてから各ＴＤＥＶの演算を
開始して、その演算によって得られた各ＴＤＥＶ
（Ｔ）、ＴＤＥＶ（２Ｔ）、…、ＴＤＥＶ（ＮＴ／３）
を例えば、図５に示すように横軸を時間とする画面上に
表示して、その表示からＴＤＥＶの評価ができるように
している。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
たような従来のＴＤＥＶ測定装置では、３０００秒（約
５０分）間のサンプリングが終了してから、全てのＴＤ
ＥＶの計算を行っているので、サンプリングを開始して
から各ＴＤＥＶの演算結果が得られるまでに非常に長い
時間がかかってしまい、しかも、その間表示画面上に何
も表示されず、測定の進行状態やＴＤＥＶの概略等を把
握することができないという不便さがあった。
たような従来のＴＤＥＶ測定装置では、３０００秒（約
５０分）間のサンプリングが終了してから、全てのＴＤ
ＥＶの計算を行っているので、サンプリングを開始して
から各ＴＤＥＶの演算結果が得られるまでに非常に長い
時間がかかってしまい、しかも、その間表示画面上に何
も表示されず、測定の進行状態やＴＤＥＶの概略等を把
握することができないという不便さがあった。
【００１１】本発明は、サンプリングの途中からＴＤＥ
Ｖの概略値の表示ができるようにして、サンプリング開
始からＴＤＥＶ表示までの待ち時間を短くしたタイムデ
ビエーション測定装置を提供することを目的としてい
る。
Ｖの概略値の表示ができるようにして、サンプリング開
始からＴＤＥＶ表示までの待ち時間を短くしたタイムデ
ビエーション測定装置を提供することを目的としてい
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明のタイムデビエーション測定装置は、基準ク
ロック信号に対する被測定クロック信号の位相変動成分
を検出し、該検出した位相変動成分から所定周波数以下
のワンダー成分を抽出し、該ワンダー成分を所定のサン
プリング周期でサンプリングしてディジタルのデータに
変換して出力するワンダー測定部（２１）と、前記ワン
ダー測定部から出力されるデータを該ワンダー測定部で
サンプリングが行われる毎に累計して累計された各累計
データを順次出力する累計データ算出手段（２５）と、
前記累計データ算出手段から出力される各累計データ記
憶する累計データメモリ（２７）と、前記累計データメ
モリに記憶された累計データの数を検出するデータ数検
出手段（２６）と、演算指令を受ける毎に、該演算指令
を受けた段階で検出されている累計データの数を仮の総
サンプル数としてその段階の累計データに基づいて三重
差分法による演算を行うことによってタイムデビエーシ
ョンの値を算出するタイムデビエーション演算手段（３
０）と、前記データ数検出手段によって検出される累計
データの数が３に達した時点からタイムデビエーション
測定の規定総サンプル数に達するまでの間に、前記タイ
ムデビエーション演算手段に対して演算指令を複数回出
力し、その最終の演算指令によって前記タイムデビエー
ション演算手段から前記規定総サンプル数によるタイム
デビエーションの値を出力させる演算指令手段（２９）
と、タイムデビエーションの値を表示するための表示器
（３６）と、前記タイムデビエーション演算手段によっ
て算出されるタイムデビエーションの値を新たに算出さ
れるタイムデビエーションの値で順次更新しながら前記
表示器に表示せしめる表示制御手段（３５）とを備えて
いる。
に、本発明のタイムデビエーション測定装置は、基準ク
ロック信号に対する被測定クロック信号の位相変動成分
を検出し、該検出した位相変動成分から所定周波数以下
のワンダー成分を抽出し、該ワンダー成分を所定のサン
プリング周期でサンプリングしてディジタルのデータに
変換して出力するワンダー測定部（２１）と、前記ワン
ダー測定部から出力されるデータを該ワンダー測定部で
サンプリングが行われる毎に累計して累計された各累計
データを順次出力する累計データ算出手段（２５）と、
前記累計データ算出手段から出力される各累計データ記
憶する累計データメモリ（２７）と、前記累計データメ
モリに記憶された累計データの数を検出するデータ数検
出手段（２６）と、演算指令を受ける毎に、該演算指令
を受けた段階で検出されている累計データの数を仮の総
サンプル数としてその段階の累計データに基づいて三重
差分法による演算を行うことによってタイムデビエーシ
ョンの値を算出するタイムデビエーション演算手段（３
０）と、前記データ数検出手段によって検出される累計
データの数が３に達した時点からタイムデビエーション
測定の規定総サンプル数に達するまでの間に、前記タイ
ムデビエーション演算手段に対して演算指令を複数回出
力し、その最終の演算指令によって前記タイムデビエー
ション演算手段から前記規定総サンプル数によるタイム
デビエーションの値を出力させる演算指令手段（２９）
と、タイムデビエーションの値を表示するための表示器
（３６）と、前記タイムデビエーション演算手段によっ
て算出されるタイムデビエーションの値を新たに算出さ
れるタイムデビエーションの値で順次更新しながら前記
表示器に表示せしめる表示制御手段（３５）とを備えて
いる。
【００１３】なお、本発明では、累計データの数がタイ
ムデビエーション測定で規定されている規定総サンプル
数に達する前の途中段階で、タイムデビエーション演算
手段が、その段階でのサンプル数を「仮の総サンプル
数」としてタイムデビエーションを算出しているが、前
記式（１）〜（４）について説明している通り、規定数
に満たないサンプル数では本来のＴＤＥＶを求めること
はできないが、この発明では、そのＴＤＥＶの概略値を
途中段階のサンプル数を用いて計算することから「仮の
総サンプル数」と称している。
ムデビエーション測定で規定されている規定総サンプル
数に達する前の途中段階で、タイムデビエーション演算
手段が、その段階でのサンプル数を「仮の総サンプル
数」としてタイムデビエーションを算出しているが、前
記式（１）〜（４）について説明している通り、規定数
に満たないサンプル数では本来のＴＤＥＶを求めること
はできないが、この発明では、そのＴＤＥＶの概略値を
途中段階のサンプル数を用いて計算することから「仮の
総サンプル数」と称している。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の一
実施形態を説明する。図１は、一実施形態のＴＤＥＶ測
定装置２０の構成を示す図である。
実施形態を説明する。図１は、一実施形態のＴＤＥＶ測
定装置２０の構成を示す図である。
【００１５】図１において、ワンダー測定部２１は、入
力端子２０ａから入力される被測定クロック信号Ｃと基
準クロック信号Ｒとの位相差を位相比較器２２で検出
し、その位相差成分から１０Ｈｚ以下の成分をローパス
フィルタ２３によって抽出し、抽出したワンダー成分を
Ａ／Ｄ変換器２４によって、３０ミリ秒以下のサンプリ
ング周期、例えば１２．５ミリ秒毎にサンプリングして
ディジタルのデータＸ（０）、Ｘ（１）、…に変換して
順次出力する。
力端子２０ａから入力される被測定クロック信号Ｃと基
準クロック信号Ｒとの位相差を位相比較器２２で検出
し、その位相差成分から１０Ｈｚ以下の成分をローパス
フィルタ２３によって抽出し、抽出したワンダー成分を
Ａ／Ｄ変換器２４によって、３０ミリ秒以下のサンプリ
ング周期、例えば１２．５ミリ秒毎にサンプリングして
ディジタルのデータＸ（０）、Ｘ（１）、…に変換して
順次出力する。
【００１６】ワンダー測定部２１から出力されるデータ
は、累計データ算出手段２５へ入力される。累計データ
算出手段２５は、バッファ２５ａに一時記憶されている
値（初期値は０）とワンダー測定部２１から出力される
データとを加算器２５ｂで加算し、その加算結果でバッ
ファ２５ａの記憶内容を更新して、そのバッファ２５ａ
の内容を累計データＷ（０）、Ｗ（１）、…として出力
する。
は、累計データ算出手段２５へ入力される。累計データ
算出手段２５は、バッファ２５ａに一時記憶されている
値（初期値は０）とワンダー測定部２１から出力される
データとを加算器２５ｂで加算し、その加算結果でバッ
ファ２５ａの記憶内容を更新して、そのバッファ２５ａ
の内容を累計データＷ（０）、Ｗ（１）、…として出力
する。
【００１７】データ数検出手段２６は、累計データ算出
手段２５から出力される累計データの数、即ち、ワンダ
ー測定部２１のＡ／Ｄ変換器２４がサンプリングしたデ
ータの数を計数しながらその計数値ｐを出力する。
手段２５から出力される累計データの数、即ち、ワンダ
ー測定部２１のＡ／Ｄ変換器２４がサンプリングしたデ
ータの数を計数しながらその計数値ｐを出力する。
【００１８】累計データ算出手段２５から順次出力され
る各累計データは、累計データメモリ２７に順次記憶さ
れる。累計データメモリ２７は、データ数検出手段２６
の計数値ｐに対応するアドレスに各累計データを順次記
憶する。
る各累計データは、累計データメモリ２７に順次記憶さ
れる。累計データメモリ２７は、データ数検出手段２６
の計数値ｐに対応するアドレスに各累計データを順次記
憶する。
【００１９】演算指令手段２９は、データ数検出手段２
６の計数値ｐを監視し、その計数値ｐが３に達してか
ら、ＴＤＥＶの測定で規定されている規定総サンプル数
Ｎ（例えば１０００００）に達するまでの間、計数値ｐ
が１つ増加する毎に後述するＴＤＥＶ演算手段３０に対
して演算指令を出力する。
６の計数値ｐを監視し、その計数値ｐが３に達してか
ら、ＴＤＥＶの測定で規定されている規定総サンプル数
Ｎ（例えば１０００００）に達するまでの間、計数値ｐ
が１つ増加する毎に後述するＴＤＥＶ演算手段３０に対
して演算指令を出力する。
【００２０】ＴＥＤＶ演算手段３０は、演算指令手段２
９からの演算指令を受ける毎に、その指令を受けた段階
でデータ数検出手段２６から出力されている計数値ｐを
仮の総サンプル数とするＴＥＤＶの計算を行う。
９からの演算指令を受ける毎に、その指令を受けた段階
でデータ数検出手段２６から出力されている計数値ｐを
仮の総サンプル数とするＴＥＤＶの計算を行う。
【００２１】この計算にあたって本発明では、前記定義
式（１）をもとに、計算しやすいように、次式（５）で
示す一般式を採用している。 ＴＤＥＶ′（ｎＴ）＝〔（１／６ｎ2 ）（１／ｋ）Σｙn 2 （ｍ）〕1/2 ……（５） ここで記号Σはｍ＝０〜ｋ−１の総和をとるものとす
る。
式（１）をもとに、計算しやすいように、次式（５）で
示す一般式を採用している。 ＴＤＥＶ′（ｎＴ）＝〔（１／６ｎ2 ）（１／ｋ）Σｙn 2 （ｍ）〕1/2 ……（５） ここで記号Σはｍ＝０〜ｋ−１の総和をとるものとす
る。
【００２２】上式（５）は、前記したＴＤＥＶの定義式
（１）の 〔１／（Ｎ−３ｎ＋１）〕Σｙn 2 （ｍ） ……（６） の項の（Ｎ−３ｎ＋１）をｋに置き換えたものである。
この項（６）はｙn 2 （０）〜ｙn 2 （Ｎ−３ｎ）の総
和をその個数（Ｎ−３ｎ＋１）で除算しているからｙn
2 （ｍ）の最終平均値を表したものであり、ここではそ
の平均化数（Ｎ−３ｎ＋１）をｋに置き換えことによっ
てその平均値が見かけ上規定総サンプル数Ｎに依存しな
い形式に変換して、少ない個数での平均値演算を可能に
したものである。このような式に置き換えることによっ
て、取得した現段階のデータ数を総サンプル数と仮定し
たＴＤＥＶの概略計算が可能になる。
（１）の 〔１／（Ｎ−３ｎ＋１）〕Σｙn 2 （ｍ） ……（６） の項の（Ｎ−３ｎ＋１）をｋに置き換えたものである。
この項（６）はｙn 2 （０）〜ｙn 2 （Ｎ−３ｎ）の総
和をその個数（Ｎ−３ｎ＋１）で除算しているからｙn
2 （ｍ）の最終平均値を表したものであり、ここではそ
の平均化数（Ｎ−３ｎ＋１）をｋに置き換えことによっ
てその平均値が見かけ上規定総サンプル数Ｎに依存しな
い形式に変換して、少ない個数での平均値演算を可能に
したものである。このような式に置き換えることによっ
て、取得した現段階のデータ数を総サンプル数と仮定し
たＴＤＥＶの概略計算が可能になる。
【００２３】上記のように、このＴＤＥＶ演算手段３０
は、データ数検出手段２６から出力されている計数値ｐ
を仮の総サンプル数としたときに算出可能なｙ
n 2 （ｍ）の値を求めて、前記式（５）の演算を行う。
は、データ数検出手段２６から出力されている計数値ｐ
を仮の総サンプル数としたときに算出可能なｙ
n 2 （ｍ）の値を求めて、前記式（５）の演算を行う。
【００２４】例えば、計数値ｐが３に達したとき、この
値３を総サンプル数Ｎと仮定すれば、前記各式（２−
１）〜（２−Ａ）のうち、有効な項は式（２−１）のｙ
1 2 （０）だけとなり、この計算に必要な累計データＷ
（０）〜Ｗ（２）は計数値ｐが３に達した段階で累計デ
ータメモリ２７に記憶されているので、ｙ1 2 （０）の
計算から第１回目のＴＤＥＶ′（Ｔ）を算出できる。
値３を総サンプル数Ｎと仮定すれば、前記各式（２−
１）〜（２−Ａ）のうち、有効な項は式（２−１）のｙ
1 2 （０）だけとなり、この計算に必要な累計データＷ
（０）〜Ｗ（２）は計数値ｐが３に達した段階で累計デ
ータメモリ２７に記憶されているので、ｙ1 2 （０）の
計算から第１回目のＴＤＥＶ′（Ｔ）を算出できる。
【００２５】また、計数値ｐが４に達したとき、この値
４を総サンプル数Ｎと仮定すれば、前記式（２−１）〜
（２−Ａ）のうち、有効な項は式（２−１）、式（２−
２）のｙ1 2 （０）、ｙ1 2 （１）のみとなり、ｙ1 2
（０）は前回の計算で求められており、ｙ1 2 （１）の
計算に必要な累計データＷ（３）は、ｐ＝４の段階で累
計データメモリ２７に記憶されているので、この２つの
項からｎ＝１に対する第２回目のＴＤＥＶ′（Ｔ）を算
出できる。
４を総サンプル数Ｎと仮定すれば、前記式（２−１）〜
（２−Ａ）のうち、有効な項は式（２−１）、式（２−
２）のｙ1 2 （０）、ｙ1 2 （１）のみとなり、ｙ1 2
（０）は前回の計算で求められており、ｙ1 2 （１）の
計算に必要な累計データＷ（３）は、ｐ＝４の段階で累
計データメモリ２７に記憶されているので、この２つの
項からｎ＝１に対する第２回目のＴＤＥＶ′（Ｔ）を算
出できる。
【００２６】以下、同様にして、計数値ｐが１つ増す毎
にｎ＝１に対する新たなＴＤＥＶ′（Ｔ）の値が求まる
ことになり、計数値ｐが規定の総サンプル数Ｎに達した
ときには、前記定義式（１）のｎ＝１におけるＴＤＥＶ
（Ｔ）が算出されることになる。
にｎ＝１に対する新たなＴＤＥＶ′（Ｔ）の値が求まる
ことになり、計数値ｐが規定の総サンプル数Ｎに達した
ときには、前記定義式（１）のｎ＝１におけるＴＤＥＶ
（Ｔ）が算出されることになる。
【００２７】また、計数値ｐが６に達した段階からは、
ｎ＝２に対するＴＤＥＶ′（２Ｔ）の算出が可能にな
る。即ち、計数値ｐ＝６のとき、この値６を総サンプル
数と仮定すれば、前記各式（３−１）〜（３−Ｂ）のう
ち、有効な項は、式（３−１）のｙ2 2 （０）だけとな
り、この計算に必要な６番目までの累計データＷ（０）
〜Ｗ（５）は得られているから、第１回目のＴＤＥＶ′
（２Ｔ）を求めることができる。そして、前記同様に、
計数値ｐが６から１つずつ増加する毎に新たなＴＤＥ
Ｖ′（２Ｔ）を求めることができ、計数値ｐが規定の総
サンプル数Ｎに達したときには、定義式（１）のｎ＝２
の真のＴＤＥＶ（２Ｔ）が求まる。また、計数値ｐが９
に達したときには、ＴＤＥＶ′（３Ｔ）の算出が可能と
なる。
ｎ＝２に対するＴＤＥＶ′（２Ｔ）の算出が可能にな
る。即ち、計数値ｐ＝６のとき、この値６を総サンプル
数と仮定すれば、前記各式（３−１）〜（３−Ｂ）のう
ち、有効な項は、式（３−１）のｙ2 2 （０）だけとな
り、この計算に必要な６番目までの累計データＷ（０）
〜Ｗ（５）は得られているから、第１回目のＴＤＥＶ′
（２Ｔ）を求めることができる。そして、前記同様に、
計数値ｐが６から１つずつ増加する毎に新たなＴＤＥ
Ｖ′（２Ｔ）を求めることができ、計数値ｐが規定の総
サンプル数Ｎに達したときには、定義式（１）のｎ＝２
の真のＴＤＥＶ（２Ｔ）が求まる。また、計数値ｐが９
に達したときには、ＴＤＥＶ′（３Ｔ）の算出が可能と
なる。
【００２８】つまり、計数値ｐが３の倍数に達した段階
で、次の時間軸のＴＤＥＶ′の計算を開始することがで
きる。なお、この演算手段では、前段階の計算結果を次
段階の計算に用いることによって計算の簡単化を図って
いる。
で、次の時間軸のＴＤＥＶ′の計算を開始することがで
きる。なお、この演算手段では、前段階の計算結果を次
段階の計算に用いることによって計算の簡単化を図って
いる。
【００２９】前記ＴＤＥＶ演算手段３０は、上記の演算
を行うために、図１に示しているように、第１の演算手
段３１と、第２の演算手段３２と、演算結果を記憶する
ための演算結果メモリ３３とを有している。
を行うために、図１に示しているように、第１の演算手
段３１と、第２の演算手段３２と、演算結果を記憶する
ための演算結果メモリ３３とを有している。
【００３０】第１の演算手段３１は、演算指令を受ける
毎にそのときの計数値ｐを仮の総サンプル数としたとき
に算出が可能となったｙn （ｍ）の値を求め、この値を
演算結果メモリ３３に順次記憶する。
毎にそのときの計数値ｐを仮の総サンプル数としたとき
に算出が可能となったｙn （ｍ）の値を求め、この値を
演算結果メモリ３３に順次記憶する。
【００３１】また、第２の演算手段３２は、第１の演算
手段３１によって算出されたｙn （ｍ）が演算結果メモ
リ３３に記憶される毎に、その演算結果メモリ３３に記
憶されている各ｙn （ｍ）の値から、前記式（５）にし
たがってＴＤＥＶ′（ｎＴ）を計算して、表示制御手段
３５へ出力する。
手段３１によって算出されたｙn （ｍ）が演算結果メモ
リ３３に記憶される毎に、その演算結果メモリ３３に記
憶されている各ｙn （ｍ）の値から、前記式（５）にし
たがってＴＤＥＶ′（ｎＴ）を計算して、表示制御手段
３５へ出力する。
【００３２】表示制御手段３５は、ＴＤＥＶ演算手段３
０から出力されるＴＤＥＶ′（ｎＴ）を受けると、その
ＴＤＥＶ′（ｎＴ）が新規の場合には、この値を表示器
３６の画面の時間軸の座標ｎＴの上にポイント表示し、
前回の値がある場合には、その前回の値に代えて新たな
ＴＤＥＶ′（ｎＴ）を表示器３６の画面の時間軸の座標
ｎＴの上にポイント表示して、時間の経過に対するＴＤ
ＥＶ′（ｎＴ）の推移をグラフ表示する。
０から出力されるＴＤＥＶ′（ｎＴ）を受けると、その
ＴＤＥＶ′（ｎＴ）が新規の場合には、この値を表示器
３６の画面の時間軸の座標ｎＴの上にポイント表示し、
前回の値がある場合には、その前回の値に代えて新たな
ＴＤＥＶ′（ｎＴ）を表示器３６の画面の時間軸の座標
ｎＴの上にポイント表示して、時間の経過に対するＴＤ
ＥＶ′（ｎＴ）の推移をグラフ表示する。
【００３３】図２は、ＴＤＥＶ演算手段３０の処理手順
を示すフローチャートである。以下、このフローチャー
トに基づいてこのＴＤＥＶ測定装置２０の動作を説明す
る。
を示すフローチャートである。以下、このフローチャー
トに基づいてこのＴＤＥＶ測定装置２０の動作を説明す
る。
【００３４】例えば、図示しない測定開始キー等が操作
されると、データ数検出手段２６の計数値ｐが０にリセ
ットされ、累計データメモリ２７の内容がクリアされて
から、ワンダー測定部２１によるワンダー成分のサンプ
リングが開始される。
されると、データ数検出手段２６の計数値ｐが０にリセ
ットされ、累計データメモリ２７の内容がクリアされて
から、ワンダー測定部２１によるワンダー成分のサンプ
リングが開始される。
【００３５】一方、ＴＤＥＶ演算手段３０は、図２に示
しているように、この測定の開始時に演算結果メモリ３
３の記憶内容をクリアし、変数ｍａｘを０にリセットし
てから、演算指令手段２９からの演算指令を待つ（Ｓ
１、Ｓ２）。
しているように、この測定の開始時に演算結果メモリ３
３の記憶内容をクリアし、変数ｍａｘを０にリセットし
てから、演算指令手段２９からの演算指令を待つ（Ｓ
１、Ｓ２）。
【００３６】そして、データ数検出手段２６の計数値ｐ
が３に達して演算指令手段２９から最初の演算指令が入
力されると、この計数値ｐが３の倍数であるか否かが判
定され、３の倍数のときには変数ｍａｘが１だけ増加更
新されてから変数ｉが１にセットされ、計数値ｐが３の
倍数でないときには、変数ｍａｘの更新がなされずに変
数ｉが１にセットされて、変数ｍａｘの値と変数ｉの値
とが比較される（Ｓ３〜Ｓ６）。
が３に達して演算指令手段２９から最初の演算指令が入
力されると、この計数値ｐが３の倍数であるか否かが判
定され、３の倍数のときには変数ｍａｘが１だけ増加更
新されてから変数ｉが１にセットされ、計数値ｐが３の
倍数でないときには、変数ｍａｘの更新がなされずに変
数ｉが１にセットされて、変数ｍａｘの値と変数ｉの値
とが比較される（Ｓ３〜Ｓ６）。
【００３７】そして、変数ｍａｘが変数ｉ以上のときに
は、ｙi （ｐ−３ｉ）の計算を行い、その結果を演算結
果メモリ３３のアドレスｉへ記憶する（Ｓ７、Ｓ８）。
は、ｙi （ｐ−３ｉ）の計算を行い、その結果を演算結
果メモリ３３のアドレスｉへ記憶する（Ｓ７、Ｓ８）。
【００３８】例えば、最初の演算指令を受けたときには
ｐ＝３であるから、ｍａｘ＝ｉ＝１となり、前述したよ
うに、ｙ1 （０）が現段階で得られている３つの累計デ
ータＷ（０）〜Ｗ（２）から算出され、演算結果メモリ
３３に記憶される。
ｐ＝３であるから、ｍａｘ＝ｉ＝１となり、前述したよ
うに、ｙ1 （０）が現段階で得られている３つの累計デ
ータＷ（０）〜Ｗ（２）から算出され、演算結果メモリ
３３に記憶される。
【００３９】ｙi （ｐ−３ｉ）の演算結果が演算結果メ
モリ３３に記憶されると、この演算結果からＴＤＥＶ′
（ｉＴ）が計算され、その計算結果が表示制御手段３５
に出力されて表示器３６の時間軸ｉＴの位置に表示さ
れ、変数ｉが１だけ更新されて、処理Ｓ６へ戻る（Ｓ
９、Ｓ１０）。
モリ３３に記憶されると、この演算結果からＴＤＥＶ′
（ｉＴ）が計算され、その計算結果が表示制御手段３５
に出力されて表示器３６の時間軸ｉＴの位置に表示さ
れ、変数ｉが１だけ更新されて、処理Ｓ６へ戻る（Ｓ
９、Ｓ１０）。
【００４０】例えば前記したようにｐ＝３のときには、
ｎ＝１についての第１回目のＴＤＥＶ1 ′（Ｔ）が算出
されることになり、この値が図３の（ａ）に示すように
ｔ＝Ｔの位置にポイント表示される。そして、変数ｉが
２に増加更新されて変数ｍａｘより大きくなると、ｐの
値が規定総サンプル数に達しているか否かが判定され、
達していなければ、処理Ｓ２へ戻って次の演算指令を待
つ（Ｓ１１）。
ｎ＝１についての第１回目のＴＤＥＶ1 ′（Ｔ）が算出
されることになり、この値が図３の（ａ）に示すように
ｔ＝Ｔの位置にポイント表示される。そして、変数ｉが
２に増加更新されて変数ｍａｘより大きくなると、ｐの
値が規定総サンプル数に達しているか否かが判定され、
達していなければ、処理Ｓ２へ戻って次の演算指令を待
つ（Ｓ１１）。
【００４１】以下、演算指令が入力される毎に、上記し
た一連の処理が繰り返されて、ＴＤＥＶ′（ｉＴ）の値
が算出されることになる。
た一連の処理が繰り返されて、ＴＤＥＶ′（ｉＴ）の値
が算出されることになる。
【００４２】例えば、計数値ｐが４に達した段階で演算
指令を受けると、ｙ1 （１）が算出されて演算結果メモ
リ３３に記憶され、このｙ1 （１）と前回算出したｙ1
（０）とから、第２回目のＴＤＥＶ2 ′（Ｔ）が算出さ
れ、この算出結果が第１回目のＴＤＥＶ′（Ｔ）に代わ
ってｔ＝Ｔの位置にポイント表示される。
指令を受けると、ｙ1 （１）が算出されて演算結果メモ
リ３３に記憶され、このｙ1 （１）と前回算出したｙ1
（０）とから、第２回目のＴＤＥＶ2 ′（Ｔ）が算出さ
れ、この算出結果が第１回目のＴＤＥＶ′（Ｔ）に代わ
ってｔ＝Ｔの位置にポイント表示される。
【００４３】また、計数値ｐが５に達したときには、ｙ
1 （２）が算出されて演算結果メモリ３３に記憶され、
このｙ1 （２）と前回までに算出したｙ1 （０）、ｙ1
（１）から、第３回目のＴＤＥＶ3 ′（Ｔ）が算出さ
れ、この算出結果が第２回目のＴＤＥＶ′（Ｔ）に代わ
ってｔ＝Ｔの位置にポイント表示される。
1 （２）が算出されて演算結果メモリ３３に記憶され、
このｙ1 （２）と前回までに算出したｙ1 （０）、ｙ1
（１）から、第３回目のＴＤＥＶ3 ′（Ｔ）が算出さ
れ、この算出結果が第２回目のＴＤＥＶ′（Ｔ）に代わ
ってｔ＝Ｔの位置にポイント表示される。
【００４４】そして、計数値ｐが３の倍数の６に達した
ときには、前記同様にｙ1 （３）が算出されて、第４回
目のＴＤＥＶ4 ′（Ｔ）が更新表示されるとともに、変
数ｍａｘが２に増えるのでｙ2 （０）が算出されて、ｎ
＝２に対応した第１回目のＴＤＥＶ1 ′（２Ｔ）が算出
され、この算出値が図３の（ｂ）に示すように、ｔ＝２
Ｔの位置にポイント表示される。以下、図４に示すよう
に、計数値ｐが１つ増える毎に同一のｎのｙn （ｍ）の
値が新たに算出されてＴＤＥＶ′の値が更新されて表示
されていき、計数値ｐが３の倍数に達する毎に次のｎに
ついてのｙn （ｍ）の値の算出が開始されて、そのｎに
対応した時間軸のＴＤＥＶ′が表示されていく。そし
て、計数値ｐが規定総サンプル数Ｎに達した段階で演算
指令がなされると、全てのｎについての規定総サンプル
数におけるＴＤＥＶが算出されて図３の（ｃ）に示すよ
うに表示される。
ときには、前記同様にｙ1 （３）が算出されて、第４回
目のＴＤＥＶ4 ′（Ｔ）が更新表示されるとともに、変
数ｍａｘが２に増えるのでｙ2 （０）が算出されて、ｎ
＝２に対応した第１回目のＴＤＥＶ1 ′（２Ｔ）が算出
され、この算出値が図３の（ｂ）に示すように、ｔ＝２
Ｔの位置にポイント表示される。以下、図４に示すよう
に、計数値ｐが１つ増える毎に同一のｎのｙn （ｍ）の
値が新たに算出されてＴＤＥＶ′の値が更新されて表示
されていき、計数値ｐが３の倍数に達する毎に次のｎに
ついてのｙn （ｍ）の値の算出が開始されて、そのｎに
対応した時間軸のＴＤＥＶ′が表示されていく。そし
て、計数値ｐが規定総サンプル数Ｎに達した段階で演算
指令がなされると、全てのｎについての規定総サンプル
数におけるＴＤＥＶが算出されて図３の（ｃ）に示すよ
うに表示される。
【００４５】このように、ワンダーに対するサンプリン
グが行われている間、そのサンプリングしたデータの累
計データに基づいてＴＤＥＶの概略値（ＴＤＥＶ′）が
表示画面に更新されながら表示されるので、測定者は、
測定の進行状態およびＴＤＥＶの大まかな評価をするこ
とができ、しかも、取得したデータの数が規定総サンプ
ル数に達した段階にはその規定総サンプル数におけるＴ
ＤＥＶの値が求まっていて、その値が表示器３６の画面
上に表示されるので、測定に要する総時間がほぼ規定の
サンプリング時間（３０００秒）だけで済み、規定総サ
ンプル数のデータを取得してからＴＤＥＶの演算を開始
する従来装置に比べて、サンプリング開始から計算終了
までの時間を大幅に短縮できる。
グが行われている間、そのサンプリングしたデータの累
計データに基づいてＴＤＥＶの概略値（ＴＤＥＶ′）が
表示画面に更新されながら表示されるので、測定者は、
測定の進行状態およびＴＤＥＶの大まかな評価をするこ
とができ、しかも、取得したデータの数が規定総サンプ
ル数に達した段階にはその規定総サンプル数におけるＴ
ＤＥＶの値が求まっていて、その値が表示器３６の画面
上に表示されるので、測定に要する総時間がほぼ規定の
サンプリング時間（３０００秒）だけで済み、規定総サ
ンプル数のデータを取得してからＴＤＥＶの演算を開始
する従来装置に比べて、サンプリング開始から計算終了
までの時間を大幅に短縮できる。
【００４６】また、キー等の操作でサンプリングを途中
で中断した場合でも、それまでサンプリングしたデータ
に基づく概略のＴＤＥＶを知ることができる。また、上
記のように、前回の計算結果を次段階の計算に用いるこ
とにより、計算が簡単化される。
で中断した場合でも、それまでサンプリングしたデータ
に基づく概略のＴＤＥＶを知ることができる。また、上
記のように、前回の計算結果を次段階の計算に用いるこ
とにより、計算が簡単化される。
【００４７】
【他の実施の形態】前記実施形態では、計数値ｐが３に
達したときから規定総サンプル数Ｎに達するまでの間、
計数値ｐが１つ増す毎に演算指令を行ってＴＤＥＶ′を
算出表示するようにしていたが、これは本発明を限定す
るものでない。
達したときから規定総サンプル数Ｎに達するまでの間、
計数値ｐが１つ増す毎に演算指令を行ってＴＤＥＶ′を
算出表示するようにしていたが、これは本発明を限定す
るものでない。
【００４８】例えば、計数値ｐが３の倍数に達する毎に
演算指令を行って各ＴＤＥＶ′の値を求め、この値の表
示を次にｐが３の倍数になるまで保持するようにしても
よく、また、３の倍数に限らずより大きな間隔、例えば
計数値ｐが１００の倍数や１０００の倍数に達する毎あ
るいは計数値ｐがＮ／３に達したときに演算指令を行っ
て各ＴＤＥＶを算出表示してもよい。
演算指令を行って各ＴＤＥＶ′の値を求め、この値の表
示を次にｐが３の倍数になるまで保持するようにしても
よく、また、３の倍数に限らずより大きな間隔、例えば
計数値ｐが１００の倍数や１０００の倍数に達する毎あ
るいは計数値ｐがＮ／３に達したときに演算指令を行っ
て各ＴＤＥＶを算出表示してもよい。
【００４９】また、ＴＤＥＶ′の算出とその表示を必ず
しも同期させる必要はなく、例えばＴＤＥＶ′の算出が
複数回行われる毎、あるいは所定時間毎に表示を更新す
るようにしてもよい。
しも同期させる必要はなく、例えばＴＤＥＶ′の算出が
複数回行われる毎、あるいは所定時間毎に表示を更新す
るようにしてもよい。
【００５０】また、測定状況に応じて、従来の一括演算
型の測定モードと、前記した逐次演算型の測定モードと
を切り換えられるようにしてもよい。
型の測定モードと、前記した逐次演算型の測定モードと
を切り換えられるようにしてもよい。
【００５１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のタイムデ
ビエーション測定装置では、検出されている累計データ
の数を仮の総サンプル数とするタイムデビエーションの
値を累計データメモリに記憶されている累計データに基
づいて算出するタイムデビエーション演算手段に対し、
取得データ数検出手段によって検出される累計データの
数が３に達した段階から規定総サンプル数に達するまで
の間に途中段階の演算指令を複数回出力して、最終の演
算指令によってタイムデビエーション演算手段から規定
総サンプル数によるタイムデビエーションの値を出力さ
せる構成とし、途中段階の演算指令に応じて算出された
タイムデビエーションの値を表示器の画面上に表示でき
るようにした。
ビエーション測定装置では、検出されている累計データ
の数を仮の総サンプル数とするタイムデビエーションの
値を累計データメモリに記憶されている累計データに基
づいて算出するタイムデビエーション演算手段に対し、
取得データ数検出手段によって検出される累計データの
数が３に達した段階から規定総サンプル数に達するまで
の間に途中段階の演算指令を複数回出力して、最終の演
算指令によってタイムデビエーション演算手段から規定
総サンプル数によるタイムデビエーションの値を出力さ
せる構成とし、途中段階の演算指令に応じて算出された
タイムデビエーションの値を表示器の画面上に表示でき
るようにした。
【００５２】このため、規定総サンプル数のデータが得
られる前にタイムデビエーションの概略値が判り測定の
進行状態を把握することができ、しかも最終の演算指令
が出力された時点、つまり規定総サンプル数のデータが
得られた時点で、その規定総サンプル数におけるタイム
デビエーションの算出を完了することができる。
られる前にタイムデビエーションの概略値が判り測定の
進行状態を把握することができ、しかも最終の演算指令
が出力された時点、つまり規定総サンプル数のデータが
得られた時点で、その規定総サンプル数におけるタイム
デビエーションの算出を完了することができる。
【図１】本発明の一実施形態の構成を示すブロック図
【図２】一実施形態の要部の処理手順を示すフローチャ
ート
ート
【図３】一実施形態の動作を説明するための表示画面
【図４】一実施形態の動作を説明するためのタイミング
チャート
チャート
【図５】従来装置の動作を説明するための表示画面
２０ ＴＤＥＶ測定装置 ２１ ワンダー測定部 ２５ 累計データ算出手段 ２６ データ数検出手段 ２７ 累計データメモリ ２９ 演算指令手段 ３０ ＴＤＥＶ演算手段 ３１ 第１の演算手段 ３２ 第２の演算手段 ３３ 演算結果メモリ ３５ 表示制御手段 ３６ 表示器
Claims (1)
- 【請求項１】基準クロック信号に対する被測定クロック
信号の位相変動成分を検出し、該検出した位相変動成分
から所定周波数以下のワンダー成分を抽出し、該ワンダ
ー成分を所定のサンプリング周期でサンプリングしてデ
ィジタルのデータに変換して出力するワンダー測定部
（２１）と、 前記ワンダー測定部から出力されるデータを該ワンダー
測定部でサンプリングが行われる毎に累計して累計され
た各累計データを順次出力する累計データ算出手段（２
５）と、 前記累計データ算出手段から出力される各累計データ記
憶する累計データメモリ（２７）と、 前記累計データメモリに記憶された累計データの数を検
出するデータ数検出手段（２６）と、 演算指令を受ける毎に、該演算指令を受けた段階で検出
されている累計データの数を仮の総サンプル数としてそ
の段階の累計データに基づいて三重差分法による演算を
行うことによってタイムデビエーションの値を算出する
タイムデビエーション演算手段（３０）と、 前記データ数検出手段によって検出される累計データの
数が３に達した時点からタイムデビエーション測定の規
定総サンプル数に達するまでの間に、前記タイムデビエ
ーション演算手段に対して演算指令を複数回出力し、そ
の最終の演算指令によって前記タイムデビエーション演
算手段から前記規定総サンプル数によるタイムデビエー
ションの値を出力させる演算指令手段（２９）と、 タイムデビエーションの値を表示するための表示器（３
６）と、 前記タイムデビエーション演算手段によって算出される
タイムデビエーションの値を新たに算出されるタイムデ
ビエーションの値で順次更新しながら前記表示器に表示
せしめる表示制御手段（３５）とを備えたタイムデビエ
ーション測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8354127A JP2972993B2 (ja) | 1996-12-17 | 1996-12-17 | タイムデビエーション測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8354127A JP2972993B2 (ja) | 1996-12-17 | 1996-12-17 | タイムデビエーション測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10178420A JPH10178420A (ja) | 1998-06-30 |
| JP2972993B2 true JP2972993B2 (ja) | 1999-11-08 |
Family
ID=18435482
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8354127A Expired - Fee Related JP2972993B2 (ja) | 1996-12-17 | 1996-12-17 | タイムデビエーション測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2972993B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB9911750D0 (en) * | 1999-05-21 | 1999-07-21 | Hewlett Packard Co | Method and apparatus for measuring parameters of an electrical system |
| JP3683779B2 (ja) * | 2000-06-20 | 2005-08-17 | アンリツ株式会社 | ワンダ発生器のｔｄｅｖマスク特性設定装置 |
-
1996
- 1996-12-17 JP JP8354127A patent/JP2972993B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10178420A (ja) | 1998-06-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS5875068A (ja) | 波形蓄積表示装置 | |
| JP4230027B2 (ja) | アナログ画像信号の信号処理方法 | |
| JP2972993B2 (ja) | タイムデビエーション測定装置 | |
| JPH1188722A (ja) | 位相調整装置、位相調整方法及び表示装置 | |
| JP3846330B2 (ja) | 収集データの同期化方法及びデータ処理システム | |
| JP2003319015A (ja) | 多機能測定システム及び波形測定方法 | |
| JP5066692B2 (ja) | テンポ検出装置 | |
| JP2000056752A (ja) | ディジタル形式信号の標本化中のクロック再生方法 | |
| JP4260344B2 (ja) | スペクトラムアナライザ | |
| KR930001445B1 (ko) | 고스트 제거장치 및 방법 | |
| JP3666863B2 (ja) | 波形観測装置 | |
| JPH10160507A (ja) | ピーク検出装置 | |
| JP2004301673A (ja) | ジッタ解析方法および装置 | |
| JP2971307B2 (ja) | 波形記録装置 | |
| JP4451750B2 (ja) | イベント記録装置 | |
| JPH05102953A (ja) | ビツト同期装置 | |
| JPH04207520A (ja) | 非同期クロックパルスの同期化方式 | |
| JP2002006823A (ja) | ディスプレイ装置 | |
| JPH021566A (ja) | 周期測定装置 | |
| JPH07307730A (ja) | フレーム同期装置 | |
| JPS61152169A (ja) | デイジタル化ゴ−スト除去装置 | |
| JPH05119070A (ja) | デイジタルオシロスコープ | |
| KR100548242B1 (ko) | 디스플레이 장치의 프레임 비율 변환 장치 및 방법 | |
| JP2003066072A (ja) | 周波数検出装置および方法 | |
| JPH0916560A (ja) | フーリエ変換解析装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313532 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080903 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080903 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090903 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |