JP2961900B2 - 電力用mos形トランジスタの電流測定回路 - Google Patents

電力用mos形トランジスタの電流測定回路

Info

Publication number
JP2961900B2
JP2961900B2 JP3011660A JP1166091A JP2961900B2 JP 2961900 B2 JP2961900 B2 JP 2961900B2 JP 3011660 A JP3011660 A JP 3011660A JP 1166091 A JP1166091 A JP 1166091A JP 2961900 B2 JP2961900 B2 JP 2961900B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
mos transistor
current
power
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP3011660A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05223887A (ja
Inventor
キニ カルロ
ロッシ ドメニコ
シモン マルク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ETSUSE JI ETSUSE TOMUSON MIKUROERETSUTORONIKA SpA
SHIIMENSU OOTOMOOTEIU SA
Original Assignee
ETSUSE JI ETSUSE TOMUSON MIKUROERETSUTORONIKA SpA
SHIIMENSU OOTOMOOTEIU SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ETSUSE JI ETSUSE TOMUSON MIKUROERETSUTORONIKA SpA, SHIIMENSU OOTOMOOTEIU SA filed Critical ETSUSE JI ETSUSE TOMUSON MIKUROERETSUTORONIKA SpA
Publication of JPH05223887A publication Critical patent/JPH05223887A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2961900B2 publication Critical patent/JP2961900B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/145Indicating the presence of current or voltage
    • G01R19/15Indicating the presence of current
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2621Circuits therefor for testing field effect transistors, i.e. FET's
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2644Adaptations of individual semiconductor devices to facilitate the testing thereof
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0092Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring current only

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は多数の平行な基本セル
により構成されている電力用トランジスタ、より詳細に
は電力用MOS形トランジスタの電流の測定に関する。
【0002】
【従来の技術】第1図には電力用トランジスタM0の電
流を測定する最も一般的な回路の1つを示す。この回路
は基準電圧(電源)に接続された電力用トランジスタの
端子とこの基準電圧の間に測定抵抗RS を配置すること
からなっている。電力用トランジスタの他の端子は負荷
L を通して高電圧に接続されており、この負荷RL
流れる電流IL は電力用トランジスタの電流と同じであ
る。抵抗RS 間の電圧VS を測定することにより電流値
の指示が得られる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この回路には欠点がい
くつかある。1番目の欠点は、抵抗RS が常に電力用M
OS形トランジスタと直列であり、この抵抗により無視
できない消費電力が増加するということであり、それは
抵抗RS の端子間の電圧を検出できるようにするため抵
抗RS が十分大きな値でなければならないからである。
【0004】この回路の他の欠点は抵抗RS が温度によ
り、または製造ロット毎に電力用MOS形トランジスタ
の特性が取りうる変化と異なるような変化を生じやすい
ということである。
【0005】1番目の欠点を避けるために、従来の技術
として第2図のような1例の回路に頼ることができる。
この図には電力用MOS形トランジスタM0を再掲して
ある。トランジスタM0の上部端子(ドレイン)は負荷
L を通して、正極電源端子に接続されており、負荷の
電源が制御されている。トランジスタM1と抵抗RS
直列接続は電力用トランジスタM0と並列になってお
り、トランジスタM0とM1のゲートは電圧VGSに相互
に接続されている。1番目の欠点を避けることができる
ことは明らかであるが、2番目の欠点、すなわち抵抗R
S の変動を回路の他の素子の変更から独立させることは
除去できない。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明は、温度また
は、抵抗特性とMOS形トランジスタ特性の間の製造工
程から生ずることがありうる変更を除去できる電力用ト
ランジスタの電流測定方法を与えることである。
【0007】この目的およびその他の目的を達成するた
め、この発明が与える電力用MOS形トランジスタの電
流測定回路には、電力用トランジスタよりも表面が小さ
いがそれと種類が同じであり更に技術が同じものと直列
であり、しかも電力用トランジスタと並列に配置されて
いる2番目と3番目のトランジスタから構成され、これ
ら2つの直列トランジスタには電力用トランジスタのゲ
ートに接続されているゲートがあり、更に電力用トラン
ジスタの基準電極に接続されているトランジスタ内の電
流を測定するための装置から構成されている。
【0008】この発明の実施態様によれば、電流を測定
する装置には4番目のMOS形トランジスタがあり3番
目のMOS形トランジスタに対し電流鏡として接続され
ている。
【0009】この発明の実施態様によれば、3番目のM
OS形トランジスタのドレインは演算増幅器の非反転入
力に接続されており、演算増幅器の反転入力は4番目の
MOS形トランジスタのドレインに接続されており、4
番目のMOS形トランジスタのゲートは3番目のMOS
形トランジスタのゲートに接続されており、演算増幅器
の出力は電流供給源の端子にある4番目のトランジスタ
と直列に接続された5番目のトランジスタのゲートに接
続されており、4番目のトランジスタの低圧端子は基準
電圧に接続されている。
【0010】
【実施例】以下、図面に基づいてこの発明を更に詳しく
説明する。
【0011】第3図の回路には、2つの直列トランジス
タM1とM2がトランジスタM0に並列に配置されてい
る。トランジスタM0、M1、M2のゲートは互いに接
続されている。トランジスタM0とM1のドレインは、
例えば接地のような基準電圧に接続されたトランジスタ
M0とM2のソースと同様に接続されている。
【0012】トランジスタM1とM2は電力用トランジ
スタM0と種類が同じである。トランジスタがマルチセ
ルのDMOS形トランジスタならば、トランジスタM1
とM2はトランジスタM0を構成しているセルの数より
少ないセルにより構成されている。実際の例では、トラ
ンジスタM0には3600個のセルが含まれており、ト
ランジスタM1には7個のセルが、またトランジスタM
2には14個のセルが含まれている場合がある。
【0013】各トランジスタが線形領域で動作するよう
に、電圧VGSが十分に高いと考えられるならば、これら
の全てのトランジスタが導通状態の時有する抵抗は、そ
れらのゲート/ソース電圧が等しいとした場合のセルの
数に正確に比例する。実際には、トランジスタM1のソ
ース電圧が他のトランジスタのソース電圧より高いの
で、トランジスタM1のゲート/ソース電圧は他のトラ
ンジスタのゲート/ソース電圧より若干低いことが判る
であろう。トランジスタM1のソースは基準電圧(接
地)に直接接続されるかわり、トランジスタM2を通し
てその基準電圧に接続されている。このように、トラン
ジスタM1のゲート/ソース電圧は実際にはVGS(M
0)からトランジスタM2の端子間のドレイン/ソース
電圧降下を差引いたものとなる。しかしながら、この電
圧降下は実際には約数100ミリボルトであるが、電圧
GSは約10ボルトになるように選択されている。それ
故、MOS形トランジスタが導通状態の内部抵抗の値と
セルの数との間の比例関係は1次近似であると考えられ
る。全ての場合、使用者が行うシミュレーションにより
誤りが5%未満である結果が得られ、温度がどのように
変化し、どのような技術であってもこの範囲内にあると
いう結果が示されるが、それは3つのトランジスタM
0、M1,M2が温度の変化および技術と同様に変化す
るからである。
【0014】電圧VS が例えば負荷の短絡に対応した予
め決められたしきい値を越えるならば、上述の回路を検
出器として使用することができる。
【0015】更には、この回路を電流測定用にも使用す
ることができる。この目的のためには、第3図の右側の
部分に示すように演算増幅器OAと付加のMOS形トラ
ンジスタM3とM4から構成される付加回路を使用する
ことが好ましい。
【0016】増幅器OAにはその非反転入力に測定され
る電圧、すなわちトランジスタM2のドレイン電圧が入
力される。演算増幅器OAの反転入力は、トランジスタ
M0,M1,M2と種類が同じ付加MOS形トランジス
タM3を通して基準電圧に接続されている。増幅器OA
の出力はMOS形トランジスタM4のゲートに接続され
ており、そのドレインは供給電圧VCCに接続され、その
ソースは増幅器OAの反転入力に接続されている。
【0017】この回路により、反転入力の電圧は非反転
入力の電圧に等しくなる傾向を示し、それ故、トランジ
スタM3とトランジスタM2が等しければ、トランジス
タM3の電流(それはまた、トランジスタM4を通過す
る電流になる)はトランジスタM2を通過する電流に等
しくなる。これらの電流は、トランジスタが個別になっ
ているなればそれらのトランジスタを構成するセルの数
に比例している。トランジスタM4とM3を通過する電
流の測定値IM は次の通りになる; IM /I0 =(R0 /R3 )(R2 /R1 +R2 ) ここにR0 からR3 は導通状態のトランジスタM0から
M3の抵抗値を示している。
【0018】このように、測定電流と電力用トランジス
タの電流の比は、同一のセルにより構成されているトラ
ンジスタの導通抵抗の比のみに依存している。それ故、
この比は一定であり、しかも各トランジスタを構成する
セルの数の比に実質上等しい。
【0019】この発明に、当業者に明らかな種々の変形
および変更がありうるのは勿論である。特にこの発明に
よる回路は他の従来の回路、例えば演算増幅器OAのオ
フセットを打消すように設計された回路と組み合わせる
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の技術を示すための説明図である。
【図2】従来の技術の説明図である。
【図3】この発明による回路の概略を示すための説明図
である。
【符号の説明】
0 ,I1 ,IL ,IM 電流 M0,M1,M2,M3,M4 トランジスタ OA 演算増幅器 RL 負荷 RS 抵抗 VCC,VGS,VS 電圧
フロントページの続き (73)特許権者 591020205 シーメンス オートムーティブ エスエ イ SEIMENS AUTOMOTIVE SOCIETE ANONYME フランス国,31036 トゥールーズ セ デックス アベニュ デュ ミライユ− ベーペー1149(番地なし) (72)発明者 カルロ キニ イタリー国, ( エム アイ) コル ナレド 20010カセラ ポスタレ, 176 番地 (72)発明者 ドメニコ ロッシ イタリー国, ( エム アイ) コル ナレド 20010カセラ ポスタレ, 176 番地 (72)発明者 マルク シモン フランス国, 31170 トゥルヌフュイ ール シュマン デュ ラムレ−ムーン ディ, 210番地 (56)参考文献 特開 昭58−178684(JP,A) 特開 昭62−67473(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 31/26

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電力用トランジスタよりも表面が小さい
    が、それと種類が同じであり更に技術が同じものと直列
    であり、しかも電力用トランジスタと並列に配置されて
    いる2番目(M1)と3番目(M)のトランジスタから
    構成され、これら2つの直列トランジスタには電力用ト
    ランジスタのゲートに接続されているゲートがあり、更
    に電力用トランジスタの基準電極に接続されているトラ
    ンジスタ(M2)内の電流を測定するための装置から構
    成されている電力用MOS形トランジスタ(M0)の電
    流測定回路。
  2. 【請求項2】 前記の電流を測定するための装置が、前
    記3番目のMOS形トランジスタと電流鏡となるように
    接続された4番目のMOS形トランジスタ(M3)から
    構成される請求項1に記載の電流測定回路。
  3. 【請求項3】 3番目のMOS形トランジスタ(M2)
    のドレインが演算増幅器(OA)の非反転入力に接続さ
    れており、演算増幅器の反転入力が4番目のMOS形ト
    ランジスタ(M3)のドレインに接続されており、4番
    目のMOS形トランジスタのゲートが3番目のMOS形
    トランジストのゲートに接続されており、演算増幅器の
    出力が電源供給源の端子にある4番目のトランジスタと
    直列に接続された5番目のトランジスタ(M4)のゲー
    トに接続されており、4番目のトランジスタの低圧端が
    基準電圧に接続されている請求項2に記載の電流測定回
    路。
JP3011660A 1990-01-09 1991-01-09 電力用mos形トランジスタの電流測定回路 Expired - Fee Related JP2961900B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR90/00401 1990-01-09
FR9000401A FR2656932B1 (fr) 1990-01-09 1990-01-09 Circuit de mesure du courant dans un transistor mos de puissance.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05223887A JPH05223887A (ja) 1993-09-03
JP2961900B2 true JP2961900B2 (ja) 1999-10-12

Family

ID=9392771

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3011660A Expired - Fee Related JP2961900B2 (ja) 1990-01-09 1991-01-09 電力用mos形トランジスタの電流測定回路

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5287055A (ja)
EP (1) EP0438363B1 (ja)
JP (1) JP2961900B2 (ja)
KR (1) KR100193212B1 (ja)
DE (1) DE69101386T2 (ja)
ES (1) ES2051575T3 (ja)
FR (1) FR2656932B1 (ja)

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19520735C2 (de) * 1995-06-07 1999-07-01 Siemens Ag Schaltungsanordnung zum Erfassen des Laststroms eines Leistungs-Halbleiterbauelementes mit sourceseitiger Last
JP2822951B2 (ja) * 1995-08-28 1998-11-11 日本電気株式会社 絶縁ゲート電界効果トランジスタの評価素子とそれを用いた評価回路および評価方法
EP0869370B1 (en) * 1997-04-01 2003-07-02 STMicroelectronics S.r.l. Means for testing a gate oxide
DE19722872B4 (de) * 1997-05-31 2006-09-28 Robert Bosch Gmbh Schaltung zur Messung des Elektrodenstroms eines keramischen Gassensors
DE19729904A1 (de) * 1997-07-12 1999-02-11 Kammerer Gmbh M Schaltungsanordnung zur Überwachung von durch eine Last fließenden Strömen
US6949916B2 (en) * 2002-11-12 2005-09-27 Power-One Limited System and method for controlling a point-of-load regulator
US7394445B2 (en) * 2002-11-12 2008-07-01 Power-One, Inc. Digital power manager for controlling and monitoring an array of point-of-load regulators
US7456617B2 (en) * 2002-11-13 2008-11-25 Power-One, Inc. System for controlling and monitoring an array of point-of-load regulators by a host
US7266709B2 (en) * 2002-12-21 2007-09-04 Power-One, Inc. Method and system for controlling an array of point-of-load regulators and auxiliary devices
US7249267B2 (en) * 2002-12-21 2007-07-24 Power-One, Inc. Method and system for communicating filter compensation coefficients for a digital power control system
US7836322B2 (en) * 2002-12-21 2010-11-16 Power-One, Inc. System for controlling an array of point-of-load regulators and auxiliary devices
US7737961B2 (en) * 2002-12-21 2010-06-15 Power-One, Inc. Method and system for controlling and monitoring an array of point-of-load regulators
US7743266B2 (en) * 2002-12-21 2010-06-22 Power-One, Inc. Method and system for optimizing filter compensation coefficients for a digital power control system
US7882372B2 (en) * 2002-12-21 2011-02-01 Power-One, Inc. Method and system for controlling and monitoring an array of point-of-load regulators
US7673157B2 (en) 2002-12-21 2010-03-02 Power-One, Inc. Method and system for controlling a mixed array of point-of-load regulators through a bus translator
US7373527B2 (en) * 2002-12-23 2008-05-13 Power-One, Inc. System and method for interleaving point-of-load regulators
US7710092B2 (en) * 2003-02-10 2010-05-04 Power-One, Inc. Self tracking ADC for digital power supply control systems
US7080265B2 (en) * 2003-03-14 2006-07-18 Power-One, Inc. Voltage set point control scheme
US7372682B2 (en) 2004-02-12 2008-05-13 Power-One, Inc. System and method for managing fault in a power system
DE102004014731B4 (de) * 2004-03-25 2007-05-03 Infineon Technologies Ag Mess-Schaltung für den Ausgang eines Leistungsverstärkers sowie ein die Mess-Schaltung umfassender Leistungsverstärker
US7554310B2 (en) * 2005-03-18 2009-06-30 Power-One, Inc. Digital double-loop output voltage regulation
US7141956B2 (en) * 2005-03-18 2006-11-28 Power-One, Inc. Digital output voltage regulation circuit having first control loop for high speed and second control loop for high accuracy
US7327149B2 (en) * 2005-05-10 2008-02-05 Power-One, Inc. Bi-directional MOS current sense circuit
JP4542972B2 (ja) * 2005-09-12 2010-09-15 セイコーNpc株式会社 過電流検出回路及びそれを用いた電源装置
KR100836900B1 (ko) * 2007-02-09 2008-06-11 한양대학교 산학협력단 전류 감지 회로
US7834613B2 (en) * 2007-10-30 2010-11-16 Power-One, Inc. Isolated current to voltage, voltage to voltage converter
EP2515126A1 (en) * 2011-04-19 2012-10-24 Dialog Semiconductor GmbH Bidirectional current sense
US10041982B2 (en) * 2012-08-15 2018-08-07 Texas Instruments Incorporated Switch mode power converter current sensing apparatus and method
US9429598B2 (en) * 2014-06-30 2016-08-30 Infineon Technologies Ag Current measurement and control of a semiconductor element based on the current measurement in a power semiconductor arrangement
FR3034873B1 (fr) 2015-04-10 2017-04-07 Nexter Electronics Dispositif de mesure d'un courant dans un circuit electrique
CN114325062B (zh) * 2022-03-10 2022-06-10 杭州飞仕得科技有限公司 一种功率模组的电流测试方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54101679A (en) * 1978-01-27 1979-08-10 Nec Corp Inspection unit for life of semiconductor device
JPS5950943B2 (ja) * 1978-12-11 1984-12-11 沖電気工業株式会社 電子部品の動作試験回路
US4518869A (en) * 1982-12-21 1985-05-21 Motorola, Inc. Resistance comparator for switch detection
US4588950A (en) * 1983-11-15 1986-05-13 Data Probe Corporation Test system for VLSI digital circuit and method of testing
JPS6164135A (ja) * 1984-09-05 1986-04-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体解析装置
JPS6215475A (ja) * 1985-07-15 1987-01-23 Oki Electric Ind Co Ltd トランジスタの破壊検出表示回路
US4789825A (en) * 1986-05-14 1988-12-06 American Telephone And Telegraph Co., At&T Bell Laboratories Integrated circuit with channel length indicator
DE3761711D1 (de) * 1986-05-14 1990-03-15 American Telephone & Telegraph Integrierte schaltung mit anzeige der kanallaenge.
JPH0234076A (ja) * 1988-07-25 1990-02-05 Toshiba Corp 留守番電話装置
JPH0770572B2 (ja) * 1988-10-13 1995-07-31 松下電器産業株式会社 信号試験回路
US5013935A (en) * 1989-12-18 1991-05-07 Motorola, Inc. CMOS level detctor circuit

Also Published As

Publication number Publication date
DE69101386T2 (de) 1994-10-20
FR2656932B1 (fr) 1992-05-07
US5287055A (en) 1994-02-15
KR910014712A (ko) 1991-08-31
FR2656932A1 (fr) 1991-07-12
JPH05223887A (ja) 1993-09-03
EP0438363B1 (fr) 1994-03-16
KR100193212B1 (ko) 1999-06-15
ES2051575T3 (es) 1994-06-16
EP0438363A1 (fr) 1991-07-24
DE69101386D1 (de) 1994-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2961900B2 (ja) 電力用mos形トランジスタの電流測定回路
KR0128731B1 (ko) 차동 증폭기와 전류 감지 회로 및 직접 회로
US5867014A (en) Current sense circuit having multiple pilot and reference transistors
EP0814395A2 (en) Overcurrent sensing circuit for power mos field effect transistor
TW495658B (en) Current-limited switch with fast transient response
USRE34290E (en) Constant voltage generating circuit
JPH0278962A (ja) 補償型電流検出回路
US20090315532A1 (en) Very low power analog compensation circuit
JP3168571B2 (ja) Mosトランジスタの電流を検出する装置及び方法
GB2122830A (en) Threshold amplifiers
US6686789B2 (en) Dynamic low power reference circuit
JPH039411A (ja) 半導体装置のための電圧発生回路
US4097844A (en) Output circuit for a digital correlator
US6549029B1 (en) Circuit and method for measuring capacitance
US4068140A (en) MOS source follower circuit
US3746893A (en) Field effect transistor impedance coupling network whose output voltage equals the input voltage
JPH02181663A (ja) 電流センス回路
US8344779B2 (en) Comparator circuit with hysteresis, test circuit, and method for testing
JP2893738B2 (ja) 電圧検出回路
RU2083990C1 (ru) Устройство для измерения электростатических потенциалов
JPH04213713A (ja) 基準電圧回路
JPS59122225A (ja) 基準電圧検出回路
JPH1125201A (ja) 半導体集積回路
JPH05129920A (ja) 電圧検出回路
Buakaew et al. A Simple and Compact Transimpedance Mode dc Bridge Readout

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19990706

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees