JP2917703B2 - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JP2917703B2 JP4263362A JP26336292A JP2917703B2 JP 2917703 B2 JP2917703 B2 JP 2917703B2 JP 4263362 A JP4263362 A JP 4263362A JP 26336292 A JP26336292 A JP 26336292A JP 2917703 B2 JP2917703 B2 JP 2917703B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路に係わ
り、特にアナログ回路とディジタル回路の両者を具備し
た半導体集積回路装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の半導体集積回路におい
て、アナログ回路・ディジタル回路間の相互干渉による
特性劣化を小さくうるために、アナログ回路を動作させ
る電源電圧・電流(本明細書では単に、電源と称す)を
供給するパッドとディジタル回路を動作させる電源を供
給するパッドとを別々に設けていた。
【0003】図3は従来の半導体集積回路装置の例を説
明するための平面図であり、半導体基板1上に第1のア
ナログ回路30,第2のアナログ回路31,第1のディ
ジタル回路32,第2のディジタル回路33,第1のデ
ィジタル出力回路34,第2のディジタル出力回路35
が形成されている。アナログ回路を動作させるための第
1の電源(例えば低電位電源)は外部よりリード8,ボ
ンディングワイヤー24を介しパッド2に供給され、さ
らに第1のアナログ回路30へは配線14により、第2
のアナログ回路31へは配線15により供給されてい
る。又、アナログ回路を動作させるための第2の電源
(例えば高電位電源)は外部よりリード11,ボンディ
ングワイヤー27を介しパッド5に供給され、さらに第
1のアナログ回路30へは配線19により、第2のアナ
ログ回路31へは配線20により供給されている。一
方、ディジタル回路を動作させるための第1の電源(例
えば低電位電源)は外部よりリード8,ボンディングワ
イヤー25を介しパッド3に供給され、さらに第1のデ
ィジタル回路32へは配線17により、第2のディジタ
ル回路33へは配線16により、第1,第2のディジタ
ル出力回路34,35へは配線18により供給されてい
る。又、これらディジタル回路を動作させるための第2
の電源(例えば高電位電源)は外部よりリード11,ボ
ンディングワイヤー28を介しパッド6に供給され、さ
らに第1のディジタル回路32へは配線22により、第
2のディジタル回路33へは配線21により、第1,第
2のディジタル出力回路34,35へは配線23により
供給されている。
【0004】図4は従来の半導体集積回路装置の他の例
を説明するための平面図である。図4において図3と同
一箇所には同一符号を記し説明を省略する。
【0005】図4においては、アナログ回路に電源を供
給するためのリードとディジタル回路に電源を供給する
ためのリードを別々に設けている点で図3とは異なる。
すなわち、アナログ回路30を動作させるための第1の
電源はリード8,ボンディングワイヤー24を介しパッ
ド2に供給されているのに対し、ディジタル回路32を
動作させるための第1の電源はリード9,ボンディング
ワイヤー25を介しパッド3に供給されている。またア
ナログ回路31を動作させるための第2の電源はリード
11,ボンディングワイヤー27を介しパッド5に供給
されているのに対し、ディジタル回路33を動作させる
ための第2の電源はリード12,ボンディングワイヤー
28を介しパッド6に供給されている。
【0006】このように従来の半導体集積回路において
はアナログ回路を動作させるための電源が供給されるパ
ッドとディジタル回路を動作させるための電源が供給さ
れるパッドを別々に設けることによりアナログ回路・デ
ィジタル回路間の相互干渉による特性劣化を小さくしよ
うとしていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】半導体集積回路装置に
おけるアナログ回路・ディジタル回路間の相互干渉によ
る特性劣化の最大の原因は、ディジタル出力回路のスイ
ッチング時の雑音であることが発明者の調査により明ら
かになった。
【0008】一般にディジタル出力回路の出力トランジ
スタは、外部に接続される負荷を駆動しなければならな
いため、内部のディジタル回路のトランジスタと比較し
てはるかに駆動力の高いトランジスタとなる。この駆動
力の高いトランジスタはスイッチング時に急激な電源電
流変化を生じさせ、この電源電流変化とリードの自己イ
ンダクタンスにより、電源が供給されるパッド部に電位
変化を生じさせる。この電源電位の変化がアナログ回路
の特性に悪影響を与える。
【0009】このことを図3,図4により詳細に説明す
る。図3において、第1のディジタル回路34あるいは
第2のディジタル出力回路35の出力トランジスタのス
イッチング時に第1の電源を供給するラインすなわちリ
ード8,ボンディングワイヤー25,パッド3および配
線18と、第2の電源電圧を供給するラインすなわちリ
ード11,ボンディングワイヤー28,パッド6および
配線23に電流変化が生じる。
【0010】この電流変化とリード8あるいは11の自
己インダクタンスにより、パッド3及び6の電位が変化
する。さらに、パッド2,5の電位も変化する。これら
のパッドの電位変化は、第1,第2のアナログ回路3
0,31の電源電位の変化となり特性劣化に結び付く。
また第1,第2のディジタル回路32,33に電源を供
給する配線16,17,21,22の電位変化は、特に
図示していないが、これらの配線とアナログ信号ライン
とが交差する場合そこに生じるカップリング容量を介
し、アナログ信号ラインに重量され特性劣化に結び付
く。
【0011】次に図4においては、アナログ回路に電源
を供給するためのリードとディジタル回路に電源を供給
するためのリードが別々に設けられているため、ディジ
タル回路のスイッチング時にアナログ回路の電源電位が
変化することはない。しかしながら、第1,第2のディ
ジタル回路32,33に電源を供給する配線の電位変化
は生じるため、図3の場合と同様これらの配線とアナロ
グ信号ラインとが交差することによる特性劣化は生じ
る。
【0012】尚、この電位変化は、電流変化とリードの
自己インダクタンスとの積で表わされるが、電流変化は
例えば2×107 A/sec程度でありリードの自己イ
ンダクタンスは20nH程度であり、この場合電位変化
は0.4Vとなる。これは、数mV程度の電位を扱うア
ナログ回路にとって非常に大きなものである。
【0013】
【0014】
【課題を解決するための手段】 本発明の特徴は、アナロ
グ回路と、ディジタル回路と、ディジタル出力回路と、
複数のパッドとを半導体基板に形成し、半導体基板の周
囲に複数のリードを有する半導体集積回路装置におい
て、 第1のリードから第1および第2のパッドを通して
第1の電源を前記アナログ回路および前記ディジタル回
路にそれぞれ供給し、第2のリードから第3のパッドを
通して前記第1の電源を前記ディジタル出力回路に供給
する半導体集積回路装置にある。ここで、第3のリード
から第4および第5のパッドを通して第2の電源を前記
アナログ回路および前記ディジタル回路にそれぞれ供給
し、第4のリードから第6のパッドを通して前記第2の
電源を前記ディジタル出力回路に供給することができ
る。
【0015】
【0016】
【実施例】次に本発明の図面を参照して説明する。
【0017】図1は本発明の第1の実施例を説明するた
めの平面図であり、図3に示した従来例に本発明を適用
した例である。この図において従来例を示した図3と同
一の箇所には同一の符号を記しその説明は省略する。
【0018】図1では第1,第2のディジタル出力回路
34,35を動作させるための電源を供給するためのリ
ード及びパッドを他の回路を動作させるための電源を供
給するためのリード及びパッドとは別に設けており、第
1,第2のディジタル出力回路34,35を動作させる
ための第1の電源(例えば低電位電源)は外部よりリー
ド9,ボンディングワイヤー26を介しパッド4に供給
され、さらに配線18により供給されている。ディジタ
ル出力回路34,35を動作させるための第2の電源
(例えば電位電源)は外部よりリード12,ボンディン
グワイヤー29を介しパッド7に供給され、さらに配線
23により供給されている、という点で従来例を示した
図3とは異なる。
【0019】図1において、ディジタル出力回路34,
35のスイッチング時に電源電流変化を生じ、この電流
変化とリード9あるいは12の自己インダクタンスによ
りパッド4及び7部に電位変化を生じる。しかし他の回
路30,31,32,33を動作させるための電源を供
給するためのリードとは別であるためこの電位変化によ
り他の回路の電源電位すなわち配線14,15,16,
17,19,20,21,22の電位が変化することは
ない。さらにディジタル回路33,34は一般に半導体
集積回路装置の周辺部に置かれるためディジタル出力回
路を動作させるための電源を供給する配線とアナログ信
号ラインを交差させないようにすることは容易にでき、
アナログ信号ラインにこの電位変化が重量されないよう
にすることは容易にできる。
【0020】次に本発明の第2の実施例を図2を参照し
て説明する。図2は本発明の第2の実施例を説明するた
めの平面図であり、図4に示した従来例に本発明を適用
した例である。この図において従来例を示した図4と同
一の箇所には同一の符号を記しその説明は省略する。
【0021】図2では第1,第2のディジタル出力回路
34,35を動作させるための電源を供給するためのリ
ード及びパッドを他の回路30,31,32,33を動
作させるためのリード及びパッドとは別に設けており、
第1,第2のディジタル出力回路34,35を動作させ
るため第1の電源(例えば低電位電源)は外部よりリー
ド10ボンディングワイヤー26を介しパッド4に供給
され、さらに配線18により供給されている。ディジタ
ル出力回路34,35を動作させるための第2の電源
(例えば高電位電源)は外部よりリード13,ボンディ
ングワイヤー29を介しパッド7に供給されさらに配線
23により供給されている、という点で従来例を示した
図4とは異なる。
【0022】図2においても、ディジタル出力回路のス
イッチング時に生じる電源電流変化がアナログ回路の特
性に影響を与えないことは図1の場合と全く同様であ
る。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように本発明による半導体
集積回路装置は、ディジタル出力回路に電源を供給する
ためのリード及びパッドを他の回路に電源を供給するた
めのリード,パッドとは別に設けているので、ディジタ
ル出力回路のスイッチング時に生じる雑音が特性に影響
を与えないという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体集積回路装置の第1の実施例を
説明するための平面図。
【図2】本発明の半導体集積回路装置の第2の実施例を
説明するための平面図。
【図3】従来の半導体集積回路装置の一例を説明するた
めの平面図。
【図4】従来の半導体集積回路装置の他の例を説明する
ための平面図。
【符号の説明】
1 半導体基板 2〜7 パッド 8〜13 リード 14〜23 電源供給用配線 24〜29 ボンディングワイヤー 30 第1のアナログ回路ブロック 31 第2のアナログ回路ブロック 32 第1のディジタル回路ブロック 33 第2のディジタル回路ブロック 34 第1のディジタル出力回路ブロック 35 第2のディジタル出力回路ブロック

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アナログ回路と、ディジタル回路と、デ
    ィジタル出力回路と、複数のパッドとを半導体基板に形
    成し、半導体基板の周囲に複数のリードを有する半導体
    集積回路において、第1のリードから第1および第2の
    パッドを通して第1の電源を前記アナログ回路および前
    記ディジタル回路にそれぞれ供給し、第2のリードから
    第3のパッドを通して前記第1の電源を前記ディジタル
    出力回路に供給することを特徴とする半導体集積回路装
    置。
  2. 【請求項2】 第3のリードから第4および第5のパッ
    ドを通して第2の電源を前記アナログ回路および前記デ
    ィジタル回路にそれぞれ供給し、第4のリードから第6
    のパッドを通して前記第2の電源を前記ディジタル出力
    回路に供給することを特徴とする請求項1に記載の半導
    体集積回路装置。
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