JP2890580B2 - X線顕微鏡用試料カプセル - Google Patents

X線顕微鏡用試料カプセル

Info

Publication number
JP2890580B2
JP2890580B2 JP1336473A JP33647389A JP2890580B2 JP 2890580 B2 JP2890580 B2 JP 2890580B2 JP 1336473 A JP1336473 A JP 1336473A JP 33647389 A JP33647389 A JP 33647389A JP 2890580 B2 JP2890580 B2 JP 2890580B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
capsule
observation
spacer
ray
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP1336473A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH03197836A (ja
Inventor
隆 松原
肇 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP1336473A priority Critical patent/JP2890580B2/ja
Publication of JPH03197836A publication Critical patent/JPH03197836A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2890580B2 publication Critical patent/JP2890580B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、生体の高倍率観察に威力を発揮する軟X線
の透過観察を行うX線顕微鏡に用いられて好適な試料カ
プセル、特に観察視野における微細な観察対象の移動の
防止機構に関する。
[従来の技術] 医学や生物工学等における、生体の高倍率観察に対す
る要求の高まりに対応して、波長2〜5nm程度の軟X線
を用いるX線顕微鏡が注目されており、このX線顕微鏡
を用いて生体観察を行うための試料カプセルとしては、
特開昭63−263500号や同63−298200号に示されるものが
知られている。
第4図は、軟X線を用いるX線顕微鏡の一例の構造を
簡単に示し、また、第5図(a)、(b)は、種々の材
料における軟X線の波長と線吸収係数の関係を示す。
軟X線は、X線と呼ばれる波長1pm〜10nmの領域の電
磁波のうち、通常は、200pm以上の波長を有するものと
され、波長400〜800nmの可視光線よりも2桁以上も短い
波長の電磁波である。また、この軟X線は、透過する物
質に良く吸収され、種々の物質内における光路単位長さ
当りの吸収率、すなわち線吸収係数は、物質の密度に比
例し、一般的には波長が長くなるほど高くなるが、第5
図(a)、(b)にも示されるように、各物質の分子構
造に応じた波長の、低い線吸収係数の領域をいくつか有
する。
第4図において、コンデンサー光学系Cと試料ホルダ
Hと結像光学系Iと撮像装置Kは、X線発生器Gの出力
光軸上に直列に配置され、X線発生器Gから撮像装置K
までのX線光学系の光路長は約2mである。また、この光
学系全体は、排気系Vを有する真空槽R内に納められて
いる。
さて、観察試料を装填した試料カプセルBを試料ホル
ダHにセットした後、排気系Vを作動して真空槽R内を
真空排気し、真空度を4.8×10-2Pa以下に維持した状態
で観察を行う。X線発生器Gから射出された軟X線ビー
ムは、コンデンサー光学系Cにより収束され、試料ホル
ダHにセットされた試料カプセルBを透過する。透過し
た軟X線は、結像光学系Iにより撮像装置K上に結像し
て真空槽R外のモニタ装置Mに観察像を与える。
軟X線を用いたX線顕微鏡は、軟X線に対し1気圧下
で2×10-3μm-1程度の吸収率を有する大気による吸収
を避けるために、光学系全体をその光路長に応じた高い
真空度に保つ必要があり、軟X線の収束に係るレンズ素
子に性能の良いものが得にくい等の欠点を有するが、可
視光線より格段に短い波長のX線を用いるため、従来の
光学顕微鏡よりも高い解像度を期待できる。また、生体
の直接観察を透過材料越しに行うことが可能で、組成培
養液とともに生体を液封した試料カプセルを用いれば、
生体試料を損傷することなく長時間にわたるその生理観
察を実行できる。従って、電子ビームを試料表面に対し
て直接照射する電子顕微鏡の場合のような、試料の乾燥
や金属蒸着等、観察物にダメージを与える前処理を不要
とすることができる。
また、第5図(a)の水に対する線吸収係数において
V字状に示されている、水の窓と呼ばれる水に対し同係
数が低い波長領域(2.3nm〜4.4nm)においては、第5図
(a)に示されるように、軟X線の水に対する吸収率
と、生体を構成する蛋白質等に対する吸収率との差が大
きい。従って、この波長領域の軟X線を使用すれば、例
えば細胞内に浮遊小器官等を観察する場合に、その観察
する画像のコントラストが良いという利点もある。
ところで、上述したように軟X線は、種々の物質によ
り簡単に吸収されてしまうから、軟X線光路中に挿入さ
れる、観察試料を気密封入した試料カプセルにおいて
は、その試料層の厚さを薄く採るとともに、密閉を兼ね
た観察窓材の軟X線の吸収量を極力小さくする必要があ
る。従って、この窓材には、軟X線に対する線吸収係数
が低くて膜強度も高い材料、例えば第5図(b)の窒化
シリコンSi3N4等を薄膜形成したものが一般的に採用さ
れている。
第3図は、従来の試料カプセルの構造を説明するため
のもので、(a)は試料カプセルにの試料封入部分の平
面構造を、また(b)は試料カプセルの断面構造をその
試料容器とともに示す。本従来例は、X線透過窓1c、2c
を形成した2枚のチップ1、2の間にリング状のスペー
サ3を挿入し、スペーサ3の内側の密閉空間に観察試料
を保持するものである。
第3図(a)、(b)において、チップ1、2は、シ
リコン板1a、2a上に窒化シリコン薄膜1b、2bを形成した
後に、X線透過窓1c、2cに相当する部分のシリコン層を
エッチングにより除去したものである。ここで、薄膜1
b、2bの張られたX線透過窓1c、2cは200μm角の正方形
であり、その膜厚は、0.05〜0.1μmである。また、チ
ップ1、2の対向する薄膜面の間に挿入される円環状の
スペーサ3は、試料層の厚さを保持するもので、用途に
応じて1〜15μmの範囲で適切な厚さのものが選択され
る。例えば、軟X線の波長を2.3nmに選択して、窒化シ
リコン薄膜1b、2b膜厚をそれぞれ0.1μm、試料層
(水)の厚さを10μmとすれば、それぞれの軟X線透過
率は39%、27.3%となり、全体では約11%の透過率が確
保される。
一方、スペーサ3は、表裏両面にシール面を有し、2
枚のチップ1、2と密着して円環の内側の試料空間の密
封を行う機能を兼ね備えている。また、試料容器4、5
は、ねじ6により相互に固定されるとともに、Oリング
8を介して、その内部に納めたチップ1、2を対向方向
に押圧するもので、この押圧力によりスペーサ3とチッ
プ1、2の接触面に、試料カプセルを真空中で保持する
ために必要な密着力が付与される。
[発明が解決しようとする課題] 従来例の試料カプセルにおいては、チップ1上にスペ
ーサ3を載置して、その内側に液状の観察試料、例えば
培養液中に浮遊させた細胞を滴定した後、チップ2をか
ぶせ、試料容器4、5に納めねじ6で固定して試料準備
を完了する。次に、この試料カプセルを第4図のX線顕
微鏡にセットして真空引きを行った後、中央の矢印のよ
うに軟X線を透過させて観察を行うが、観察中、および
真空引き等の準備期間におる観察対象の移動が問題とさ
れる。
すなわち、スペーサ3内の試料空間よりも格段に狭い
観察窓1c、2cを通して、この観察窓1c、2cよりさらに格
段に小さな観察対象を視野に捕えるX線顕微鏡において
は、その観察視野が狭いため、観察対象のわずかな移動
も観察の阻害となる。例えば、培養液の対流や細胞の活
動に伴う移動に加えて、第4図のX線顕微鏡のように試
料カプセルを縦型に保持する場合には、重力や浮力によ
る観察対象の移動とそれに伴う観察対象の混入が発生す
るため、一個の対象物の長時間の連続観察は困難であっ
た。
本発明は、観察視野内における微細な観察試料の移動
を制限するとともに、観察試料の装填が容易で、しかも
観察窓に対する負担の少ない試料支持枠を備えた試料カ
プセルを提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明の請求項第1項に係るX線顕微鏡用試料カプセ
ルは、対向させた2枚のX線透過窓付平板と、両平面間
の距離を保持するスペーサとからなる試料カプセルにお
いて、 平板間の、窓内に相当する位置に、観察対象の通過を
阻害するが、試料液を通過させる逃げ道を有する試料保
持枠を配置したものである。
本発明の請求項第2項に係るX線顕微鏡用試料カプセ
ルは、請求項第1項の試料カプセルにおいて、保持枠を
平板のいずれかの透過窓上に予め接合させたものであ
る。
[作用] 本発明の請求項第1項に係るX線顕微鏡用試料カプセ
ルにおいては、スペーサにより対向間隔を維持した平板
間の空間に、微小な観察対象を含む試料液を保持した状
態で、X線による観察対象のX線透過窓越しの観察を行
う。このとき、平板間に配置された試料保持枠は、その
貫通孔または窪みの内部に小体積の試料液を蓄え、観察
対象の移動範囲をこの小体積の範囲に制限する。一方、
この試料保持枠の貫通孔または窪みには、試料液の逃げ
口、例えば個々の貫通孔を連通する溝が設けられている
から、これらの貫通孔は袋小路を形成せず、試料液の装
填の際や局所的な試料液の圧縮状態が発生した際には、
試料保持枠高さ内における試料液の横の流れが形成され
る。従って、局所的な圧力上昇はこの流れに沿って分散
し、また試料保持枠を越えて貫通孔から試料液があふれ
出すことも無い。
この試料保持枠としては種々の材料を応用できるがポ
リカーボネイトやポリエステルといった透明材料を採用
すれば、透過型の光学顕微鏡による観察にも併用できる
ので便利である。
本発明の請求項第2項に係るX線顕微鏡用試料カプセ
ルにおいては、試料保持枠は、例えばフォトリソグラフ
ィ法により多数の貫通孔を形成した平板上の感光性ガラ
ス層、または感光性樹脂(レジスト)層として、予め平
板上に接合されているから、試料カプセルの部品点数お
よびその組立て手順は試料保持枠を持たないものと同じ
である。また、この試料保持枠は単独では取り扱われ
ず、それ自身では自己形状を保持する必要が無い。ま
た、試料空間内における接触面が減るから、異物の挟み
込みの可能性が減る。
[本発明の実施例] 本発明の実施例を図面を参照して説明する。ここで、
第3図(a)、(b)の従来例の場合と同様な構造と機
能を有する部材には同一の符号を付してその説明を省略
する。
第1図は、本発明の実施例に係る試料カプセルの構造
を説明するためのもので、(a)は、試料カプセルの試
料封入部分の平面構造、また(b)は、試料カプセルの
断面構造をその試料容器とともに示す。本実施例は、チ
ップ1、2(平板)とスペーサ3とで構成される従来例
の試料カプセルにおいて、溝付きのレジスト層7(試料
保持枠)を備えさせたものである。
第1図(a)において、チップ1の窒化シリコン薄膜
1b上には、X線透過窓1cに相当する部分に、フォトリソ
グラフィ法により幅10μmの多数の平行溝を形成した疎
水性でない、または好ましくは親水性のレジスト層7が
形成され、これらの各溝は一方の端が共通に開放されて
いる。レジスト層7は、スペーサ3よりわずかに薄く、
チップ2をかぶせた際には、レジスト層7とチップ2と
の間に極く薄い試料液層を形成する。また、チップ1上
に載置されたスペーサ3とレジスト層7との間の空間が
大きな試料液の貯留空間を形成する。
さて、レジスト層7を形成したチップ1上にスペーサ
3を載置して、その内側に観察対象の細胞を含む培養液
を滴定し、チップ2をかぶせ、これを試料容器4、5に
納めてねじ6で締付けると、スペーサ3によりその厚さ
を保たれ、また周囲からは密閉された試料液空間が形成
されるが、X線透過窓1c、2c部では、微細な観察対象を
含んだ試料液は層状に区分され、各層を越えた移動が制
限される。また、ねじ6の締付けに伴って、チップ2と
レジスト層7との間の余分な試料液は各溝に流れ込み、
溝に沿って流れて、溝の開放端から排水されるから、チ
ップ2とレジスト層7との間の異物の挟み込みや局所的
な圧力上昇が回避される。
第2図(a)〜(c)は、本発明の別の実施例に係る
試料カプセルに用いられる試料保持枠の平面構造をチッ
プやスペーサとともに示す。
第2図(a)の試料カプセルは、9個の貫通孔を相互
に浅い溝で連結したレジスト層7aをチップ1上に形成し
たもので、溝の幅を細胞よりも小さくすれば、各貫通孔
内からの細胞の流出や細胞同士の混合が阻止される。
また、第2図(b)の試料カプセルは、チップ1上に
試料保持枠として、1本の折曲げた溝を形成したレジス
ト層7bを用いるもので、浮遊性、沈降性の細胞に対して
もの拘束が容易であり、各細胞の溝内に自主的に、列状
に整列する。
また、第2図(c)の試料カプセルは、レジスト層7c
でスペーサ機能を兼用させたもので、スペーサ部分の外
側に達する排出路を設けてある。この試料カプセルで
は、さらに外側に気密を維持するためのシールを設ける
必要があるが、内圧が上昇した分、シール面の外へ試料
液が排出させるので内圧上昇は最小となる。
なお、このような考えは第1図(a)、および第2図
(a)、(b)の試料カプセルにも応用が可能である。
スペーサ3に同様な溝部を設けることで、余分な試料液
を逃がすことができ、内圧上昇は最小となる。ここで、
この溝部を十分に細く形成すれば、圧力がかかった場合
以外には液体の流動が無いから、スペーサ3の内側には
適当な量の試料液が保存され、細胞は養分の補給が可能
となる。
また、スペーサ3を多孔性の材料にして圧力上昇分の
液体を吸収させたり、スペーサ3の一部分をダイヤフラ
ム状に形成して圧力上昇分を外部にふくらませる構造と
したりする等の変形も可能である。
ただし、いずれの場合においても、スペーサを越えて
(通過して)その外側に試料液が逃げるような場合に
は、試料容器は第6図に示すようにOリング8を備えて
シーリングを行う。
[発明の効果] 本発明の請求項第1項に係る試料カプセルにおいて
は、試料保持枠が試料液および試料液中の観察対象の移
動を制限するから、観察中、視野からの観察対象の離脱
や、他の細胞等との混入の確率を著しく下がる。従っ
て、同一の観察対象を長時間に渡り追跡することが容易
となる。また、微細な観察対象を含む試料液のうち、余
分なものは試料の逃げ道を通じて支持枠外部に流出する
から、気泡の追い出しや試料の装填が容易であり、試料
枠と平板との間の異物の挟み込みや局所的な圧力上昇が
減少して、X線透過窓の破裂事故が防止される。
本発明の請求項第2項に係る試料カプセルにおいて
は、試料支持枠それ自身には形状保持能力を必要としな
いから、開口形状を複雑化したり、厚みを薄くする等、
支持枠の材質、厚さ、開口の形状や大きさ等を必要に応
じて自由自在に選択できる。また試料カプセルの総部品
点数を増すことなく試料支持枠の効果を得られ、試料カ
プセルの組立ても容易である。さらに、試料空間内にお
ける接触面が減るから、異物の挟み込みによる試料の汚
染や観察窓への負担が減る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施例に係る試料カプセルを説明す
るための図で、(a)はこの試料カプセルの試料封入部
分の構造を示す平面図、また(b)はこの試料カプセル
を試料容器とともに示した断面図である。 第2図(a)〜(c)は、本発明の別の実施例に係る試
料カプセルにおける、それぞれの試料封入部分の構造を
示す平面図である。 第3図は、従来例の試料カプセルを説明するための図
で、(a)はこの試料カプセルの試料封入部分の構造を
示す平面図、また(b)はこの試料カプセルを試料容器
とともに示した断面図である。 第4図は、一般的な、軟X線を用いるX線顕微鏡の構成
を示す模式図である。 第5図(a)(b)は、各種物質の軟X線に対する線吸
収係数を示す線図である。 第6図は、試料容器にシーリング機構を設けたものの断
面図である。 [主要部分の符号の説明] 1、2……チップ、3……スペーサ 4、5……試料容器、7……レジスト層 1c、2c……X線透過窓
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 1/28 G21K 7/00 G01N 23/04

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】対向させた2枚のX線透過窓付平板と、両
    平板間の距離を保持するスペーサとからなるX線顕微鏡
    用試料カプセルにおいて、 前記平板間であって、前記窓内に相当する位置に、観察
    対象の通過を阻害するが、試料液を通過させる逃げ道を
    有する試料保持枠を配置したことを特徴とする試料カプ
    セル。
  2. 【請求項2】前記保持枠を前記平板のいずれかの前記透
    過窓上に予め接合させたことを特徴とする請求項第1項
    記載の試料カプセル。
JP1336473A 1989-12-27 1989-12-27 X線顕微鏡用試料カプセル Expired - Fee Related JP2890580B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1336473A JP2890580B2 (ja) 1989-12-27 1989-12-27 X線顕微鏡用試料カプセル

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1336473A JP2890580B2 (ja) 1989-12-27 1989-12-27 X線顕微鏡用試料カプセル

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03197836A JPH03197836A (ja) 1991-08-29
JP2890580B2 true JP2890580B2 (ja) 1999-05-17

Family

ID=18299500

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1336473A Expired - Fee Related JP2890580B2 (ja) 1989-12-27 1989-12-27 X線顕微鏡用試料カプセル

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2890580B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5528646A (en) * 1992-08-27 1996-06-18 Olympus Optical Co., Ltd. Sample vessel for X-ray microscopes
EP2158967A1 (en) * 2008-08-26 2010-03-03 F. Hoffmann-La Roche AG Sample carrier
WO2016037328A1 (zh) * 2014-09-10 2016-03-17 閤康生物科技股份有限公司 液态样品干燥装置、干燥样本试片及其制备方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5737446U (ja) * 1980-08-12 1982-02-27
JPH07113680B2 (ja) * 1987-04-22 1995-12-06 株式会社ニコン 顕微鏡観察用試料容器
JPH083560B2 (ja) * 1987-05-29 1996-01-17 株式会社ニコン 軟x線顕微鏡観察用試料容器
JPH0726923B2 (ja) * 1987-10-19 1995-03-29 財団法人石油産業活性化センター けい光x線分析装置の液体試料用容器

Also Published As

Publication number Publication date
JPH03197836A (ja) 1991-08-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9508527B2 (en) Sample base, charged particle beam device and sample observation method
JP5215701B2 (ja) 試料検査装置及び試料検査方法
JPH07260646A (ja) 試料容器
JP2890580B2 (ja) X線顕微鏡用試料カプセル
JP2642907B2 (ja) X線露光装置
JPH03197838A (ja) X線顕微鏡用試料カプセル
US5528646A (en) Sample vessel for X-ray microscopes
JP3359703B2 (ja) X線顕微鏡用試料容器及び試料保持方法
JP2890579B2 (ja) X線顕微鏡用の試料ホルダ
JPH0587707A (ja) X線顕微鏡用の試料カプセル
JPS63263500A (ja) 顕微鏡観察用試料容器
JPH03295440A (ja) X線顕微鏡用試料容器
JPS63298200A (ja) 軟x線顕微鏡観察用試料容器
JPH06180400A (ja) X線顕微鏡用試料カプセル
JPH0784100A (ja) X線顕微鏡用試料容器
JP3668776B2 (ja) X線顕微鏡
JPH08327511A (ja) X線顕微鏡用試料カプセル
JPH07333117A (ja) X線顕微鏡用試料容器
JP2988058B2 (ja) X線顕微鏡用の試料ホルダ
JPH0674879A (ja) X線顕微鏡用試料容器
JPH0588000A (ja) X線顕微鏡
Goncz et al. An environmental sample chamber for X‐ray microscopy
JPH05107400A (ja) 位置合わせの簡単なx線顕微鏡用の試料ホルダ
JPH07333118A (ja) X線顕微鏡用試料カプセル
JP2954969B2 (ja) 顕微鏡用試料容器

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees