JP2889979B2 - 集積回路用基板バイアス発生装置および基板バイアス制御方法 - Google Patents

集積回路用基板バイアス発生装置および基板バイアス制御方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ポンプ回路(チャージ
ポンプ)により基板に電荷を注入して基板電圧(バイア
ス)を制御するための集積回路用基板バイアス発生装置
および基板バイアス制御方法に係り、特に自由発振発振
器を用いることなく、小さい電流で駆動し少ない電力消
費量を示す集積回路用基板バイアス発生装置および基板
バイアス制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の基板バイアス発生装置で
は、ポンプ回路(チャージポンプ)により基板に電荷を
注入して基板電圧を下げるとともに、発振器を用いてポ
ンプ回路のクロックタイミングを取っている。典型的な
例では、発振器は自由発振を行っており、基板電圧が或
る値よりも高いときにポンプ回路が起動する。この自由
発振発振器は約100μAの電流を引き抜くことができ
る。
【0003】ところで、これまでこの定常的に発振する
自由発振発振器による電力損失は、回路がバックアップ
バッテリを使用していない限り問題とはなっていなかっ
た。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、最近は
携帯性に優れた電子機器が各種開発され、このような電
子機器では、電流や電力を如何に小さくするかが大きな
問題となっている。即ち、従来の自由発振発振器により
起動されるポンプ回路では、比較的大きな電流が流れる
と共に電力損失がかなりのものとなる。これを特に携帯
性の電子機器へ応用した場合、電池などで動作可能な稼
動時間を伸ばすというのが一般的な要請であり、ポンプ
の必要動作電力を小さくすることが、技術者に与えられ
た大きな課題であった。
【0005】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
ので、その目的は、従来の自由発振発振器を用いること
なく、回路に流れる電流を小さくし、消費電力を低減で
きる集積回路用基板バイアス発生装置を提供することに
ある。
【0006】本発明は、また、この集積回路用基板バイ
アス発生装置に用いて好適な基板バイアス制御方法を提
供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の集積回路
用基板バイアス発生装置は、集積回路基板に接続され、
集積回路基板の基板電圧が所定のレベルからずれた時に
クロック発生信号を出力する電圧レギュレータ回路と、
クロック発生信号を入力とし、このクロック発生信号に
応答して1周期のクロック信号を発生するように形成さ
れ、かつこの1周期の間に電圧レギュレータ回路からの
クロック発生信号の入力が終了しても1周期のクロック
信号を発生する状態を維持する自己タイミングクロック
回路と、クロック信号に応答して電荷を集積回路基板に
注入し、基板電圧を変化させると共に、後続の電荷注入
のための準備を行うポンプ回路とを備えている。
【0008】この集積回路用基板バイアス発生装置で
は、待機モードでの電力をかなりの量削減するために、
従来の自由発振発振回路の代わりに、電圧レギュレータ
回路および自己タイミングクロック回路を設けたもので
ある。電圧レギュレータ回路(DCレギュレータ回路)
は常に動作しており電力を消費する唯一の回路である
が、それ自体は小さい電流で駆動し電力消費が少ない。
そのためポンプ回路(チャージポンプ)が電荷注入(ポ
ンピング)を行っていない時には、回路を流れる電流は
数μA以下である。電圧レギュレータ回路は、基板電圧
が所定のレベルからずれ、高すぎる時のみ自己タイミン
グクロック回路を起動させる。これにより自己タイミン
グクロック回路はポンプ回路を制御して、基板電圧を更
に負の値へと降下させる。この自己タイミングクロック
回路は、基板電圧が所定のレベルに達し電圧レギュレー
タ回路が停止信号を出力するまでポンプ回路を駆動す
る。また、自己タイミングクロック回路は、ポンプ回路
を駆動するためのポンプ信号(クロック発生信号)に応
答して1周期のクロック信号を発生させ、且つポンプ回
路で電荷注入(ポンピング)の準備ができるまで、ポン
プ信号(クロック発生信号)を無視すると共に、1周期
の間に電圧レギュレータ回路からのクロック発生信号の
入力が終了しても1周期のクロック信号を発生する状態
を維持させる。
【0009】この集積回路用基板バイアス発生装置で
は、基板電圧が所定レベルにあるときは自己タイミング
クロック回路の発振は休止している。従って装置が起動
していても、必要な電力は最小限に抑えられる。
【0010】請求項2記載の集積回路用基板バイアス発
生装置は、請求項1記載のものにおいて、電圧レギュレ
ータ回路を、VCC信号に比例したVCCREF信号を
発生させる第1の抵抗ネットワークと、基板電圧VBB
相応したVBBREF信号を発生させる第2の抵抗ネ
ットワークと、VCCREF信号とVBBREF信号と
を比較する差動増幅回路と、この差動増幅回路に接続さ
れ、VCCREF信号がVBBREF信号よりも高くな
った時、クロック発生信号を出力するインバータ列と、
を含むように構成したものである。
【0011】請求項3記載の集積回路用基板バイアス発
生装置は、請求項2記載のものにおいて、差動増幅回路
を構成するトランジスタの各チャネル長を、回路を流れ
る電流を制限するよう長く設定したものである。
【0012】請求項4記載の集積回路用基板バイアス発
生装置は、請求項2記載のものにおいて、インバータ列
を構成するトランジスタの各チャネル長を、VCCレベル
から接地レベルへの電流損失を制限するよう選択して設
定したものである。
【0013】請求項5記載の集積回路用基板バイアス発
生装置は、請求項2記載のものにおいて、安定なクロッ
ク発生信号を出力するラッチ回路を更に付加したもので
ある。
【0014】請求項6記載の集積回路用基板バイアス発
生装置は、請求項1記載のものにおいて、自己タイミン
グクロック回路が、クロック発生信号を入力して第1お
よび第2の信号を出力する第1ステージと、第1および
第2の信号を入力して更に第3、第4および第5の信号
を出力する第2ステージとを含むと共に、ポンプ回路
が、第1ないし第5の信号に応答して集積回路基板の基
板電圧を下げるよう構成したものである。
【0015】請求項7記載の集積回路用基板バイアス発
生装置は、請求項記載のものにおいて、自己タイミン
グクロック回路を、クロック発生信号を入力した後、1
周期のクロック信号の生成が終了するまでは、後続の
ロック発生信号を無視するように構成したものである。
【0016】なお、請求項1乃至7記載の基板バイアス
発生装置において、ポンプ回路は、Pチャネルトランジ
スタからなる2ステージポンプにより構成することが好
ましい。
【0017】請求項8記載の集積回路用基板バイアス発
生装置は、集積回路基板に接続され、この基板の電圧を
監視し所定のレベルからずれた時にアクティブなクロッ
ク発生信号を出力する低電流電圧レギュレータ回路と、
アクティブなクロック発生信号を入力する第1ステージ
と、この第1ステージに接続された第2ステージとを有
し、これら第1ステージおよび第2ステージがアクティ
ブなクロック発生信号に応答して複数のクロック信号を
出力する、自由発振ではない低電流自己タイミングクロ
ック回路と、複数のクロック信号に応答して電荷を基板
に注入し、集積回路基板の基板電圧を下げるポンプ回路
とを備え、低電流自己タイミングクロック回路は、ポン
プ回路による電荷注入が終了した後は、クロック発生信
の変化を無視することを特徴とするものである。
【0018】また、請求項9記載の基板バイアス制御方
法は、 CC 信号に比例したV CCREF 信号を発生さ
せると共に、集積回路基板の基板電圧V BB に相応した
BBREF 信号を発生させ、V CCREF 信号とV
BBREF 信号とを比較して、V BBREF 信号がV
CCREF 信号よりも高くなった時、クロック発生信号
を出力させて基板電圧を監視するステップと、自己タイ
ミングクロック回路に、クロック発生信号のうちの第1
のクロック発生信号に応答して、第1のクロック発生信
号の入力の終了、後続の第2のクロック発生信号の入力
にかかわらず、ポンプ回路により電荷を集積回路基板に
注入させると共に、後続の電荷注入用のプリチャージを
行わせるための1周期のクロック信号を発生させるステ
ップとを含むものである。
【0019】請求項10記載の基板バイアス制御方法
は、集積回路基板への電荷の注入が必要な場合にクロッ
ク発生信号を出力するステップと、クロック発生信号を
自己タイミングクロック回路に入力するステップと、1
周期のクロック信号を発生している間のクロック発生信
号の状態に関係なく、クロック発生信号の入力に応答し
て1周期のクロック信号を発生するように自己タイミン
グクロック回路を動作させるステップと、クロック信号
を使ってポンプ回路を動作させて集積回路基板に電荷を
注入させると共に、ポンプ回路をプリチャージさせるス
テップと、後続のクロック発生信号に応答する準備を行
うステップとを含むものである。
【0020】請求項11記載の基板バイアス制御方法
は、第1のクロック発生信号を発生して、この第1のク
ロック発生信号を自己タイミングクロック回路に入力さ
せるステップと、第1のクロック発生信号に応答して、
自己タイミングクロック回路と、自己タイミングクロッ
ク回路からの信号を入力するポンプ回路とをポンピング
モードで動作させた後、プリチャージモードで動作さ
せ、その後、自己タイミングクロック回路を後続のクロ
ック発生信号に応答する準備を行うための休止状態にす
るステップと、プリチャージモード動作が終了する前に
第1のクロック発生信号が終了した場合であっても、プ
リチャージモードの動作が終了するまで自己タイミング
クロック回路およびポンプ回路を動作させ続けるステッ
プと、プリチャージモードの動作が終了する前には、第
1のクロック発生信号に続くクロック発生信号を無視す
るステップとを含むものである。 請求項12記載の基板
バイアス制御方法は、デマンド信号に応答して、デマン
ド信号の終了にかかわらず、複数の第1のクロック信号
と、複数の第1のクロック信号に続く複数の第2のクロ
ック信号を含む1周期のクロック信号の発生を開始させ
るステップと、第1のクロック信号を用いて、ポンプ回
路により集積回路基板に電荷を注入させるステップと、
第2のクロック信号を用いて、ポンプ回路をプリチャー
ジするステップとを含むものである。 請求項13記載の
基板バイアス制御方法は、電圧に関する要求を示した第
1のデマンド信号を得て、この第1のデマンド信号を自
己タイミングクロック回路に入力するステップと、第1
のデマンド信号に応答してクロック信号を発生させる自
己タイミングクロック回路を動作させるステップと、自
己タイミングクロック回路に接続されたポンプ回路を、
集積回路基板に電荷を注入するポンピングモードで動作
させた後、プリチャージモードで動作させるステップ
と、自己タイミングクロック回路を後続の第2のデマン
ド信号に応答する準備を行う休止状態にするステップ
と、プリチャージモードの動作が終了する前に第1のデ
マンド信号の入力が終了した場合には、プリチャージモ
ードの動作が終了するまでプリチャージモードの動作を
させ続けるステップと、プリチャージモードの動作が終
了する前に、第1のデマンド信号に続く第2のデマンド
信号が発生した場合、第2のデ マンド信号を無視させる
ステップとを含むものである。 請求項14記載の基板バ
イアス制御方法は、集積回路基板の基板電圧の調整が必
要であることを示すデマンド信号を発生させる基板電圧
監視用の回路と、デマンド信号を入力するように接続さ
れ、ポンプ回路により基板に電荷を注入させる第1のク
ロック信号とポンプ回路をプリチャージさせる第2のク
ロック信号を含む1組のクロック信号を発生させると共
に、デマンド信号の入力が終了した場合においても1組
のクロック信号を発生させる自己タイミングクロック回
路と、自己タイミングクロック回路に応答するように接
続され、集積回路基板に対して有効に電荷を注入すると
共に、第2のクロック信号によりプリチャージするポン
プ回路とを備えた基板バイアス制御装置における基板バ
イアス制御方法であって、クロック信号を発生させるこ
とにより、1組のクロック信号の1周期間は、デマンド
信号の変化に関係なく、ポンプ回路がデマンド信号の入
力に応答して、電荷注入およびプリチャージを行うよう
にしたものである。
【0021】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を具体
的に説明する。
【0022】図1は本発明の一実施例に係る、発振器を
用いない集積回路用基板バイアス発生装置の基本構成を
示すものである。この基板バイアス発生装置は、集積回
路基板に接続され、集積回路基板の電圧を監視し所定の
レベルからずれた時にクロック発生信号を出力する電圧
レギュレータ回路100と、クロック発生信号を入力と
し、このクロック発生信号に応答して1周期のクロック
信号を発生するように形成され、かつこの1周期の間に
電圧レギュレータ回路100からのクロック発生信号の
入力が終了しても1周期のクロック信号を発生する状態
を維持する自己タイミングクロック回路(以下、クロッ
ク回路という)200と、クロック信号に応答して電荷
を集積回路基板に注入し、基板電圧VBBを変化させる
と共に、後続の電荷注入のための準備を行うポンプ回路
(チャージポンプ)600とにより構成されている。
【0023】この基板バイアス発生装置では、基板電圧
BB相応した信号VBBREFが、電圧レギュレー
タ回路100に入力される。信号VBBREFは基準電
圧VCCREF(好ましくはVCC/2)と比較され、
基板電圧VBBが所定のレベル(たとえば約−2V)よ
り上昇しているか否かを判定する。もし基板電圧VBB
がこのレベルよりも上昇している場合には、電圧レギュ
レータ回路100はクロック回路200を起動する。ク
ロック回路200はクロック信号を出力し、ポンプ回路
600を制御して基板へ電荷(電子)を注入することに
よって、基板電圧VBBを所望のレベルまで下げる。
【0024】図2は図1に示した電圧レギュレータ回路
100の動作を更に説明する為のものである。前述のよ
うに、電圧レギュレータ回路100は基板電圧VBB
監視し、この基板電圧VBBが所望のレベルを越えてい
るか否かを判定する。ここで、抵抗122、124、1
26により構成される抵抗ネットワーク120は、差動
増幅器(比較器)130の負の入力(ノードN1)とし
ての、基板電圧VBB相応した信号VBBREFを生
成するために設けられている。抵抗ネットワーク110
は、抵抗112、114により構成されており、差動増
幅器130の正の入力(ノードN2)として基準電圧V
CCREFを生成するために設けられている。
【0025】図3は電圧レギュレータ回路100におけ
る入出力信号のタイミングを表す図であり、特に、ポン
プ信号196がいつハイレベルとロウレベルとの間で変
化し、クロック回路200およびポンプ回路600を起
動したり、動作を停止させたりするかを示している。
【0026】この図から理解されるように、基板電圧V
BBが高過ぎる場合には、VBBREFがVCCREF
を上回り、差動増幅器130は低レベルのVOUT信号
142を出力する。VOUT信号142は、後に図4を
参照して詳細に説明するインバータ列150、170、
180を通過して、ポンプ信号196を生成する。従っ
て、基板電圧VBBが十分に低くない場合には、基板電
圧レギュレータ回路100は高いポンプ信号196を発
生して、クロック回路200およびポンプ回路600そ
れぞれを起動する。また、基板電圧VBBが十分に低い
場合には、低いポンプ信号196を発生して、クロック
回路200およびポンプ回路600それぞれの動作を停
止させる。このように、ポンプ信号196は、集積回路
基板の基板電圧に関する要求を示した信号(デマンド信
号)であり、このポンプ信号196によって、集積回路
基板の基板電圧の調整が必要であることが示されること
になる。
【0027】なお、図3ではVCCを5Vとしている
が、本実施例では3VのVCCも同様に考慮されてい
る。ここで、VCCは一定であり、差動増幅器130の
正の入力VCCREFはほぼVCC/2(2.5V)に
固定されている。
【0028】しかし、VBBREFは基板電圧VBB
依存するので、VBBと共に変化する。基板電圧VBB
が最初0Vであれば、抵抗122、124、126の大
きさを同じとして、VBBREFは約3.3Vとなる。
従ってVBBREFはVCCREFよりも大きく、差動
増幅器130の出力はローレベルとなり、その結果ポン
プ信号196はハイレベルとなって、ポンプ回路600
を駆動する。ここで、基板への電子の注入により基板電
圧VBBが徐々に下がると、VBBREFも徐々に下が
り、図3のt1の時点でVCCREFより低下する。従
って、そのとき差動増幅器130の出力はハイレベルと
なり、その結果ポンプ信号196はロウレベルとなっ
て、ポンプ回路600へクロック信号を供給するための
クロック回路200をオフさせる。その後、V
BBREFがVCCREFを越えると、ポンプ回路60
0は再びオンして基板電圧VBBを引き下げる。
【0029】次に、電圧レギュレータ回路100の一般
的な動作を説明する。電流損失と電力消費を押さえる電
圧レギュレータ回路100の別の特徴を、図4の詳細な
回路図に示す。なお、表1〜4はそれぞれ図4および残
りの図面における各トランジスタの寸法(チャネル長お
よびチャネル幅)を具体的に示すものである。
【0030】
【表1】
【0031】
【表2】
【0032】
【表3】
【0033】
【表4】
【0034】図面に記載された各素子はそれぞれ当業者
には良く知られたものである。例えば、図4のトランジ
スタ124は、基板とソースが接続されたエンハンスメ
ント型のPチャネルトランジスタである。ここで、全て
のトランジスタはエンハンスメント型が好ましいが、デ
プレッション型トランジスタを用いることもできる。
【0035】本実施例では、基板バイアス発生装置での
電力消費を減らすために、図4の電圧ジェネレータ回路
100は、通常小さい電流で動作し、回路での電流損失
を抑えるように設計されている。ここで、抵抗ネットワ
ーク110、120ではそれぞれトランジスタを抵抗と
して用いている。即ち、トランジスタのゲートはソース
またはドレインに接続されている。トランジスタを流れ
る電流はチャネルの幅と長さの比の関数となっているの
で、これらエンハンスメント型抵抗のチャネル長は一般
に大きく、トランジスタネットワークを流れる電流を制
限する。
【0036】この好適な例では、差動増幅器130を構
成するトランジスタ132,134,136,138,
140によってVCCREF とVBBREF が比較され、出力信
号(VOuT )142が生成される。差動増幅器130の
動作は、良く知られた通りである。ここで、回路内の電
流を小さくし、電力消費を押さえるために、特に差動増
幅器130を構成するトランジスタ132,134,1
36,138,140のそれぞれの好ましい寸法が選ば
れている(表1〜4参照)。
【0037】特に、電流を小さく抑えるために、長いチ
ャネル長を選択することにより、差動増幅器130を構
成する各トランジスタのチャネルの幅と長さの比(幅/
長さ)が小さく設定されている。なお、ここでは、差動
増幅器130の構成を具体的に示しているが、本発明の
要旨を変更しない範囲で他の回路構成を用いて、2つの
信号を比較して出力信号を生成し、電流を小さく抑える
こともできる。
【0038】差動増幅器130を構成するトランジスタ
132,134,136,138,140の各長いチャ
ネル長は電流を小さく抑えるが、これにより一般的に回
路の反応は鈍り出力信号142の変化は遅くなる。即
ち、ハイレベルとロウレベル間の速やかな遷移が得られ
ない。この遅く変化する信号142は、特に2トランジ
スタ・インバータへの入力の際に、しばしば回路内での
電流損失をもたらす。特に、このインバータの両方のト
ランジスタは一定時間の間オンとなり、“スルーカレン
ト”や“クローバーカレント”がトランジスタ列を流れ
てしまう。従って、レベル遷移の間に、しばしばVCC
ら接地レベルへの電流損失が生じてしまう。
【0039】この遅く変化する信号を補償するために、
インバータ150、170とラッチ回路180は、イン
バータ内のスルーカレントを減らし、ポンプ信号が速や
かな遷移をするように、特に設計されている。一般的に
トランジスタのスイッチング時間は、チャネルの幅と長
さの比に依存する。従って、チャネル幅とチャネル長を
選択して、何時インバータ150、170を構成するト
ランジスタのスイッチングが行なわれるかを決めること
ができる。インバータ150を構成するトランジスタの
幅は同じなので、スイッチング時間はチャネル長の関数
となる。回路150のトランジスタのチャネル長は、適
当な時間でノードN4,N5の電圧が変化するように、
即ちインバータ170のトランジスタ172、174の
スイッチングが行われるように、特に選ばれている。
【0040】特に、出力信号142がハイレベルからロ
ウレベルへと遷移してノードN6がハイレベルからロウ
レベルへと変化する場合、トランジスタ174がオンす
る前にトランジスタ172をオフしておき、インバータ
170内でのVCCから接地レベルへのスルーカレントを
抑えることは有効である。この順序でトランジスタのス
イッチングを行うために、トランジスタ166のチャネ
ル長をトランジスタ154のそれよりも長くして、トラ
ンジスタ172がオフした後にトランジスタ174をオ
ンさせている。
【0041】反対に、出力信号142がロウレベルから
ハイレベルへと遷移する場合、トランジスタ172がオ
ンする前にトランジスタ174をオフさせておき、VCC
から接地レベルへのスルーカレントを押さえることは有
効である。トランジスタ156のチャネル長をトランジ
スタ168のそれよりも長くして、トランジスタ174
がオフした後にトランジスタ172をオンさせている。
従って、インバータ150を構成するトランジスタのチ
ャネル長の選択は、いずれの方向の遷移についても、イ
ンバータ170内でのVCCから接地レベルへの如何なる
径路も形成されない。
【0042】電圧レギュレータ回路100内でのスルー
カレントを更に抑えるために、トランジスタ158、1
64がインバータ150に設けられ、インバータ15
3、163内での如何なるスルーカレントも減少させて
いる。電流制御トランジスタ158、164は長いチャ
ネル長を持っており、ノードN4,N5での接地レベル
またはVCCレベルへの遷移は、それぞれ急激には行われ
ない。従って、VCCから接地レベルへの径路はトランジ
スタ172、174を駆動している間は存在する。しか
し、トランジスタ154、156、158、164、1
66、168内での電流は、トランジスタ158、16
4の長いチャネル長によって減少している。
【0043】また、トランジスタ158、164は、上
述したそれぞれのトランジスタのスイッチングタイミン
グが損なわれないように設けられている。ノードN3が
ハイレベルからロウレベルへと遷移する場合、インバー
タ153は、トランジスタ154をオンすることによっ
てノードN4を非常に素早くハイレベルへと引き上げ、
トランジスタ172をオフとすることが好ましい。電流
制御トランジスタ158は、ノードN3がロウレベルか
らハイレベルへ遷移する時、ノードN4をロウレベルヘ
駆動するタイミングを調整する一方、ノードN4とトラ
ンジスタ158との容量性結合は十分に大きく、ノード
N4を引き下げトランジスタ172を適切なタイミング
でオンとする。
【0044】同様に、ノードN3がロウレベルからハイ
レベルへと遷移する場合、インバータ163は、トラン
ジスタ168をオンすることによってノードN5を非常
に素早くロウレベルへと引き下げ、トランジスタ174
をオフとすることが好ましい。従って、電流制御トラン
ジスタ164は、インバータ163のPーチャネル側に
のみ設けられており、トランジスタ168に対するトラ
ンジスタ164の影響を押さえている。電流制御トラン
ジスタ164は、ノードN3がハイレベルからロウレベ
ルへ遷移するとき、ノードN5をハイレベルヘ駆動する
タイミングを調整する一方、ノードN5とトランジスタ
164との容量性結合は十分に大きく、ノードN5を引
き上げトランジスタ174を適切なタイミングでオンと
する。
【0045】最後に、ラッチ回路180も電圧レギュレ
ータ回路100に設けられ、上述のようにスルーカレン
トを防止するためにインバータ170を構成するトラン
ジスタ172とトランジスタ174のいずれもが駆動さ
れていないとき、ポンプ信号196の出力を維持する。
ポンプ信号196は信号線195を介してトランジスタ
ネットワーク182、184、186、188へフィー
ドバックされ、インバータ170がノードN6を駆動し
ノードN6の状態が変化するまで、ノードN6の最初の
状態を維持する。
【0046】回路の電力消費を押さえるために、ラッチ
回路180それ自体は、弱いラッチを行うと共に、スル
ーカレントを制限するように設計されている。一般的
に、トランジスタ172、174は、小さなトランジス
タ(狭いチャネル幅と短いチャネル長)であり、インバ
ータ170がスイッチングを行うために必要とされるイ
ンバータ150からの電流を小さく押さえている。しか
し、これらトランジスタは、そのサイズから、ノードN
6で大きな容量性の負荷を駆動することができない。ノ
ードN6での大きな容量は、このノードでの電圧の変化
を遅くしてしまうので好ましくない。このためトランジ
スタ184、186のチャネル幅とチャネル長を小さ
く、好ましくは1〜2μm程度に小さくして、ノードN
6でのラッチを弱くし、ノードN6での容量を押さえて
いる。
【0047】しかし、このラッチ回路180を構成する
トランジスタ184、186は、ほぼ等しい幅と長さを
持っているので、幅と長さの比は大きく電流駆動能力は
高い。そのために電流制御トランジスタ182、188
が設けられている。これらのトランジスタ182、18
8は長いチャネル長を、従って小さな幅と長さの比を持
っており、ラッチ回路180の電流を制限し、回路の電
力消費を抑えている。
【0048】電圧レギュレータ回路100では安定した
ポンプ信号196が発生しているので、高いポンプ信号
196はクロック回路200を駆動するために用いられ
る。クロック回路200はポンプ回路600を制御する
為のクロック信号を出力する。クロック回路200には
第1のステージ202および第2のステージ400が設
けられている。第1のステージ202ではクロック信号
CP1、CP1B(Bは "bar ”を意味し、反転信号で
あることを示す。)が生成される(図5参照)。
【0049】一方、クロック回路200の第2のステー
ジ400では、信号CP1、CP1Bを入力して信号C
P2、CP3、CP4を生成する。これらクロック回路
200のステージ202、400から生成される信号C
P1、CP1B、CP2〜CP4は、後述のように各々
ポンプ回路600を駆動するのに用いられる。
【0050】ポンプ回路600を参照すれば明らかなよ
うに、ポンプ回路は2種類のサイクル(モード)、即ち
ポンピングサイクル(ポンピングモード)とプリチャー
ジサイクル(プリチャージモード)で動作を行う。従っ
て、クロック回路200は2組の信号を生成しなければ
ならない。クロック回路200は両方のサイクルでほぼ
同じように動作するが、各々のサイクルで異なる信号を
生成するように、回路にはフィードバック線が設けられ
ている。
【0051】以下、ポンピングサイクルで生成されるク
ロック信号を最初に説明し、次にプリチャージサイクル
で生成されるクロック信号を説明する。
【0052】図5に示したクロック回路200のブロッ
ク図を参照すると、フィードバック信号V11、即ち第1
ステージ202へのフィードバック入力は、ポンプ回路
600のサイクルを決定する。最初の状態では、クロッ
ク回路200の出力は、プリチャージサイクルの後で回
路がポンプ信号196の入力を待っているときのもので
ある。従って、フィードバック信号V11はハイレベルで
トランジスタ208をオンし、クロック回路200はポ
ンプ信号196を入力する。ポンプ信号196がロウレ
ベルの時、クロック回路200とポンプ回路600は、
ハイレベルのポンプ信号196が入力するまで休止状態
に留まる。
【0053】ポンプ信号196がハイレベルの時、トラ
ンジスタ206がオンし、ポンピングサイクルの間クロ
ック信号を発生する。トランジスタ206がオンした
時、ラッチ213の入力側でノードN212はロウレベ
ルに引き下げられ、ノード229はハイレベルへ引き下
げられる。ナンドゲート230の2つの入力は共にハイ
レベルなので、ナンドゲート230の出力はロウレベル
である。従って、ポンピングサイクルでは、ナンドゲー
ト230の出力がインバータ240、260、270を
経て、その結果出力信号CP1はハイレベルとなる。更
にナンドゲート230の出力がインバータ240、25
0を経て、その結果出力信号CP1Bはロウレベルとな
る。
【0054】これらの信号の機能は、図8に示したポン
プ回路600の動作を参照することによって理解するこ
とができる。クロック回路200の第1ステージ202
で生成されたこれら電圧信号は、図9で示したように時
間の関数となっている。これについては、ポンプ回路6
00の動作と共に更に論じていく。
【0055】ポンプ回路600の駆動と共に、信号CP
1、CP1Bはクロック回路200の第2ステージ40
0を駆動して信号CP2、CP3、CP4を生成する。
信号CP1、CP1Bはインバータ410、460に入
力される。これらインバータ410、460は、付随す
るキャパシタ416、466と共に、クロック回路20
0の自己タイミング回路の一部を構成し、遅延回路とし
て利用される。インバータ410、460は、長いチャ
ネル長を持つトランジスタを有し、キャパシタ416、
466と共に信号遅延をもたらす。この遅延は、チャー
ジポンプの両方のサイクルで、すべての電荷を適切に注
入するために、図9のタイミング図に示した区間TPUMP
と区間TPRECHARGE とを形成するのに必要である。
【0056】キャパシタ416、466を充電する信号
は、シュミット・トリガード・インバータ420、47
0にそれぞれ入力される。シュミット・トリガード・イ
ンバータ420、470は、良く知られているように、
キャパシタ416、466を充電する信号のような動き
の緩慢な波形を、変化の速いシャープな波形に変換す
る。インバータ440、450を含んだラッチ回路45
1は、トランジスタ438とトランジスタ488のいず
れもが出力V02を駆動しない時に、出力がフローティン
グとならず安定な出力V02を生成するように設けられて
いる。
【0057】そして、ラッチ回路451の出力は、イン
バータ列500、506、512、518、524、5
30、536、542、546を介して転送される。こ
れらインバータ列500〜546は、信号に遅延と反転
をもたらし、前述の信号CP2、CP3、CP4を生成
する。ゲート550、562、574は、インバータ列
の幾つかの段階から中間信号を受けて、それぞれ信号C
P2、CP3、CP4を生成する。
【0058】図5の回路から明らかなように、信号CP
2、CP4は同一である。この同一信号の必要性は、図
8のポンプ回路600のポンピングサイクルの説明から
更に明確になるであろう。ナンドゲート550、562
を駆動する信号からもう1つのインバータによって分離
された信号によりナンドゲート574が駆動されるの
で、信号CP2、CP4と信号CP3は、互いに180
度位相がずれており、重ならないロウ・アクティブ信号
(ロウレベルでアクティブな信号)である。これら重な
らない信号は、信号CP1、CP1Bと共にポンプ回路
600を駆動するのに必要である。
【0059】インバータ列500、506、512、5
18、524、530、536、542、546に含ま
れるインバータの数は奇数なので、フィードバック信号
11は入力V02および最初の信号V11の反転信号
である。信号V11のフィードバックによって、本発明
の特徴であるクロック回路200の自己タイミングが実
現される。特に、ポンピングサイクルの後ロウレベルと
なる反転信号V11は、トランジスタ208をオフと
し、ポンプ信号196を無効とし、同時にプリチャージ
サイクルを開始する。即ち、プリチャージサイクルの
間、1周期のクロック信号CP1、CP1B、CP2、
CP3、CP4が生成される。結果として、クロック回
路200はポンプ信号196を無視し、ポンプ回路60
0は必要な時間プリチャージサイクルに留まり、後続の
ポンピングサイクルで注入すべき適当な電荷の転送が行
われる。
【0060】従って、プリチャージサイクルの間、フィ
ードバック信号V11はナンドゲート230とインバータ
310に入力される。インバータ310は、トランジス
タ316をオンし、ラッチをリセットする。これにより
ナンドゲート230の両方の入力はロウレベルとなり、
ナンドゲート230の出力はハイレベルとなる。プリチ
ャージサイクルでのクロック回路の動作は、夫々のゲー
トからの出力信号が反転されていることを除き、ポンピ
ングサイクルでのクロック回路200の動作と同じであ
る。従って、クロック回路200はポンピングサイクル
とプリチャージサイクルの両方のための信号を生成し、
ポンプ信号196がロウレベルにある場合は、プリチャ
ージサイクルの後アイドリング状態に留まる。
【0061】図6と図7は、それぞれ図5に示したクロ
ック回路200の第1のステージ202および第2ステ
ージ400各々の詳細を表すものである。これらの図に
は、図5のブロックで示されている幾つかのゲートを形
成するトランジスタの一般的に知られた構成が示されて
いる。例えば、ブロックで示されているインバータは、
良く知られているように2つのトランジスタから構成さ
れている。クロック回路200の動作は図5に適切に記
載されているが、図6と図7は夫々のトランジスタの寸
法と(表1〜5参照)、好適な回路の詳細を示すための
ものである。
【0062】図8は、図5に示したクロック回路200
で生成されたクロック信号に応答して充電を行うポンプ
回路600の構成を表すものである。ポンプ回路600
の一般的な構成を最初に説明し、次にポンピングサイク
ルとプリチャージサイクルの間のポンプ回路600の動
作の詳細を説明する。
【0063】このポンプ回路600は2ステージチャー
ジポンプであり、信号CP1、CP1Bを入力するよう
に接続されたキャパシタ610、620を備えている。
信号CP1、CP1Bは、キャパシタ610、620に
入力した際に、ノードN2,N1での電圧を変化させる
ために用いられる。キャパシタ610、620は、チャ
ージポンプの動作のために、ノードN2,N1を負の方
向に駆動せしめる。これらノードでの電圧を変えること
により、電荷(電子)は接地レベルから基板へトランジ
スタ630、632を介して輸送され、結果的に基板電
圧VBBを引き下げる。
【0064】本実施例におけるポンプ回路600は2ス
テージチャージポンプであるので、直前のポンピングサ
イクルで注入されたノードN2の電荷は、ポンピングサ
イクルで基板に注入される前に、プリチャージサイクル
の間にノードN1へ輸送される。信号CP2、CP3、
CP4は、ポンピングサイクルの間、トランジスタ63
0、632、634を制御して、接地レベルからN2お
よびN1からVBBヘの電荷の転送を行うために使用され
る。キャパシタ652、654、656は、ノードN
5,N3,N4を負のポテンシャルへ駆動して、チャー
ジポンプの動作を行うのに用いられる。
【0065】以下、ポンプ回路600の動作を、図9を
参照して更に詳しく説明する。
【0066】図9は、休止状態、即ち、直前のプリチャ
ージサイクル後回路がポンプ信号を待っているとき、ポ
ンピングサイクル、プリチャージサイクルそして後続の
休止状態のクロック回路600の出力信号のタイミング
図を表すものである。ここでクロック信号のハイレベル
およびロウレベルは、接地レベルとVCCのレベルである
ものとし、好適な例としてVCCは3Vまたは5Vであ
る。2つのサイクルでポンプ回路600のそれぞれのノ
ードの取る電圧も、図9のN1〜N5で示されており、
これにより2ステージチャージポンプの動作が良く理解
される。
【0067】休止区間TQUIESCENT 内の時間t0で、後
に休止区間TQUIESCENT と共に説明するように、クロッ
ク信号と各ノード電圧はプリチャージサイクルが終わっ
た後はそのままの状態に留まる。これらクロック信号と
ノード電圧は、クロック回路200がポンプ信号を受け
取るまでその状態に留まる。
【0068】時間t1では、クロック回路200はハイ
レベルのポンプ信号を受けて、ポンピングサイクルを開
始する。信号CP1、CP1Bは、ゆるやかにハイレベ
ルおよびロウレベルヘとそれぞれ遷移する。CP2とC
P4は、直前のプリチャージサイクルの後もロウレベル
となって、トランジスタ630、634をオンとする。
CP3はハイレベルで、トランジスタ632はオフなの
で、接地レベルから基板への直接の径路は形成されず、
不要な電荷の流出は起らない。CP1がハイレベルへ遷
移すると、ノードN2の電位は上がり負の電荷を接地レ
ベルからノードN2へトランジスタ630を介して引き
抜く。このトランジスタ630は、ロウレベルのCP2
でオンする。従って、ノードN2は徐々に接地レベルと
等しくなる。
【0069】同様に、CP1Bがロウレベルへ遷移する
と、直前のプリチャージサイクルの間ノードN2からノ
ードN1へ転送された電荷がノードN1から基板へ転送
され、区間TPUMPで示したようにVBBを下げる。ノード
N1の電位は減少してVBBと等しくなり、VBBの電位は
所定のレベル(好適な例としてー2V)まで下がる。
【0070】直前のプリチャージサイクルでは、トラン
ジスタ646をオンさせることによって、ノードN4と
ノードN1とを接続させる。トランジスタ646がオン
しているとき、トランジスタ634のゲート電圧は、そ
のソースに結び付けられており、トランジスタ634は
プリチャージの間オフに保たれている。ノードN4は、
トランジスタ646をオンすることにより、プリチャー
ジサイクルの間ノードN1に接続し、接地レベル以下の
電圧に保たれる。ノードN4が接地レベル以下の約ー1
Vに保たれると、トランジスタ634がオンし、CP4
がロウレベルに遷移し、プリチャージサイクルの間にす
べての電荷が基板へ移動する。
【0071】最後に、ノードN3に接続されたトランジ
スタ644が、ポンピングサイクルの間ノードN3を接
地レベルへ結び付ける。これによりトランジスタ632
がオフに保たれ、その結果ノードN2(または基板)か
らノードN1への電荷の移動はない。従ってポンピング
サイクルの間、電荷は接地レベルからノードN2へ、ま
たノードN1から基板へ移動する。
【0072】その後、少なくとも時間t2では、信号C
P1、CP1Bがクロック回路200の第2ステージ4
00を通過し、その結果CP2とCP4はロウレベルか
らハイレベルへ遷移する。従って、時間t2はポンピン
グステージの終りを示す。
【0073】時間t3では、信号CP3はハイレベルか
らロウレベルへ遷移して、回路はプリチャージサイクル
へ移行する。信号CP3は、信号CP2、CP4の遷移
の後で遷移するので、重なりの無いロウアクティブ信号
である。従って、トランジスタ632は、トランジスタ
630、634がオフする、即ち信号CP2、CP4が
前もって時間t2でロウレベルからハイレベルへ遷移す
る時までは、ノードN3を駆動するロウレベルの信号C
P3によってオンされない。このタイミングは、接地レ
ベルからノードN2へ、またはノードN1からVBBへの
間で、好ましくない電流が流れることを防止する。
【0074】時間t4では、フィードバック信号V11
低下し、プリチャージサイクルが開始される。クロック
回路200を参照して既に説明したように、図5に示し
たクロック回路200は、プリチャージサイクルの間ポ
ンプ信号を無視する。というのは、プリチャージサイク
ルの後にクロック回路200がポンプ信号を入力するな
ら、クロック回路200では後続のポンピングサイクル
の準備が必要だからである。これによりクロック回路2
00がポンプ信号を入力した時に、電荷注入を行うのに
十分の準備を可能とする自己タイミング機能が達成され
る。
【0075】プリチャージ区間TPRECHARGE では、信号
CP1はロウレベルへ遷移し、CP1Bはハイレベルへ
遷移する。これら信号が変化するにつれ、ノードN2の
電位は更に負の方向へ遷移し、ノードN1の電位は更に
正の方向へ遷移する。信号CP3のレベルは低いので、
トランジスタ632はオンし、電荷はノードN2からノ
ードN1へと移動する。しかし、トランジスタ630、
634はハイレベルのCP2とCP4によってオフし、
接地レベルからノードN2へ、またはノードN1から基
板へ好ましくない電荷の移動が起ることを防止する。
【0076】ポンプ回路600には、更にトランジスタ
646、650が設けられており、プリチャージサイク
ルの間トランジスタ630、634のオフ状態を保って
いる。特に、トランジスタ646、650は、トランジ
スタ630、634のゲート電位をノードN4,N5
で、それぞれそれらのソース電位へ接続することによっ
て、好ましくない電荷の移動が起ることを防止してい
る。CP3がロウレベルの時、トランジスタ650はオ
ンし、ノードN5を接地レベルへ接続し、プリチャージ
の間トランジスタ630をオフに保つ。また、プリチャ
ージサイクルの間、トランジスタ646もオンし、トラ
ンジスタ634をオフに保つ。トランジスタ646は、
ポンピングサイクルとの関係で既に説明したように、別
の機能も持っている。
【0077】トランジスタ646はノードN4の電位を
ノードN1(約ー1V)に接続し、ノードN4の電位を
十分低くして、トランジスタ634が後続のポンピング
サイクルの間オンするようにしている。従って、接地レ
ベルからノードN2へ、またはノードN1から基板へ電
荷の移動が起ることはない。プリチャージ区間T
PRECHARGE の終り近くで明らかなように、ノードN2,
N1での電圧は、最終電圧のー1Vで等しくなる。ノー
ドN2とノードN1とが等しくなると、チャージポンプ
は後続のポンピングサイクル(チャージポンプがポンプ
信号を入力する限り)のための安定状態となる。
【0078】信号CP1、CP1Bがクロック回路20
0の第2のステージ400を通過すると、CP3は時間
t5でハイレベルへ遷移して、トランジスタ632がオ
フしプリチャージサイクルが終了する。時間t6では、
CP2とCP4はロウレベルへ遷移し、次のポンピング
サイクルの準備のために、トランジスタ630、634
をオンする。CP2、CP3、CP4の遷移は、ここで
も接地レベルから基板へ好ましくない電荷の移動を防止
するように選ばれている。
【0079】最後に、時間t7で、フィードバック信号
11がハイレベルへ遷移して、クロック回路200がポ
ンプ信号196を読み込むことを可能とする。もしポン
プ信号196がハイレベルならば、クロック回路はT
PRECHARGE 区間に先立つTPUMP区間で、信号を生成す
る。もしポンプ信号196がローレベルならば、ハイレ
ベルのポンプ信号を入力するまで、クロック回路200
はTQUIESCENT 区間で示した休止状態に留まる。
【0080】このように、本実施例によれば、低電流で
電力消費の少ない基板バイアス発生装置が実現される。
また、この装置は、待機モードでクロック回路200と
ポンプ回路600を休止させることにより、電流を小さ
く抑えることができる。更に、この装置では、クロック
回路として自己タイミングクロック回路200が設けら
れているので、従来のように常に動作する発振器を設け
る必要がなくなる。このクロック回路200がアクティ
ブポンプ信号を受けた時には、クロック回路200は信
号を発生してポンプ回路600にポンプ動作を行わせ、
引き続きプリチャージステージでポンプの回復を行い、
次のポンピングサイクルでの適切なポンピング動作を可
能とする。クロック回路200の自己タイミング機能で
は、プリチャージサイクルが完了するまで、ポンプ信号
は無視される。
【0081】以上、具体的な実施例を参照しながら本発
明を説明したが、本発明はこれに限定されることはな
く、本発明の要旨の範囲内で如何なる変更も可能である
ことは言うまでもない。ここでの記載を参考にして、当
業者が多くの変形例や他の実施例を想到し得ることは自
明のことである。例えば、チャージポンプとしては、本
発明の趣旨に合う限りどのようなものを用いてもよい。
具体的には、単一ステージのチャージポンプや、Nーチ
ャネル型トランジスタを用いたポンプを採用することも
できる。また、本発明の電圧バイアス発生装置は、小さ
い電流を引いて、基板ではなく集積回路のノードへ電荷
を注入し、このノードを所定のポテンシャルに保つこと
も可能である。
【0082】
【発明の効果】以上説明したように本発明の集積回路用
基板バイアス発生装置および基板バイアス制御方法によ
れば、集積回路基板の電圧を監視し所定のレベルからず
れた時にクロック発生信号を出力するとともに、自己タ
イミングクロック回路によりクロック発生信号に応答し
1周期のクロック信号を発生させ、かつこの1周期の
間に電圧レギュレータ回路からのクロック発生信号の入
力が終了しても1周期のクロック信号を発生する状態を
維持するようにし、更に、ポンプ回路においてクロック
信号に応答して電荷を集積回路基板に注入し、基板電圧
を変化させると共に、後続の電荷注入のための準備を行
ようにしたので、駆動時の電流が小さくなり、また電
力損失を著しく抑えることができるという効果を奏す
る。従って、例えば携帯性の電子機器への応用した場
合、電池などの動作可能な稼動時間を大きく延長させる
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の好適な実施例による基板バイアス発生
装置の概略構成を表すブロック図である。
【図2】図1の電圧レギュレータ回路の具体的構成を表
す回路図である。
【図3】電圧レギュレータ回路における入出力信号のタ
イミング図である。
【図4】図2の電圧レギュレータ回路の詳細な構成を表
す回路図である。
【図5】図1のクロック回路の構成を表す回路図であ
る。
【図6】図5のクロック回路における第1ステージの詳
細な回路図である。
【図7】図5のクロック回路における第2ステージの詳
細な回路図である。
【図8】図1のポンプ回路の具体的構成を表す回路図で
ある。
【図9】図8のポンプ回路の動作を説明するためのタイ
ミング図である。
【符号の説明】
100 電圧レギュレータ回路 110、120 抵抗列 112、114、122、124、126 抵抗 130 差動増幅器 150、170、220〜270 インバータ 180、440 ラッチ回路 196 ポンプ信号 200 自己タイミングクロック回路 202 クロック回路の第1のステージ 400 クロック回路の第2のステージ 416、466 キャパシタ 420、470 シュミット・トリガード・インバータ 550、562、574 ナンドゲート 600 ポンプ回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ミヒャエル ブイ.コルドバ アメリカ合衆国 コロラド州 80917 コロラドスプリングス,ホウプフル デ ィーアール.,4070 (72)発明者 キム シー.ハーディ アメリカ合衆国 コロラド州 80920 コロラドスプリングス,キット カール ソン レイン, 9760 (56)参考文献 特開 昭63−307771(JP,A) 特開 昭57−85253(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H02M 3/07 H01L 21/822 H01L 27/04

Claims (14)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 集積回路基板に接続され、前記集積回路
    基板の基板電圧が所定のレベルからずれた時にクロック
    発生信号を出力する電圧レギュレータ回路と、 前記クロック発生信号を入力とし、このクロック発生信
    号に応答して1周期のクロック信号を発生するように形
    成され、かつこの1周期の間に前記電圧レギュレータ回
    路からのクロック発生信号の入力が終了しても前記1周
    期のクロック信号を発生する状態を維持する自己タイミ
    ングクロック回路と、 前記クロック信号に応答して電荷を前記集積回路基板に
    注入し、基板電圧を変化させると共に、後続の電荷注入
    のための準備を行うポンプ回路とを備えたことを特徴と
    する集積回路用基板バイアス発生装置。
  2. 【請求項2】 前記電圧レギュレータ回路が、VCC
    号に比例したVCCREFを発生させる第1の抵抗ネッ
    トワークと、 基板電圧VBB相応したVBBREF信号を発生させ
    る第2の抵抗ネットワークと、 VCCREF信号とVBBREF信号とを比較する差動
    増幅回路と、 この差動増幅回路に接続され、VBBREF信号がV
    CCREF信号よりも高くなった時、クロック発生信号
    を出力するインバータ列とを備えたことを特徴とする請
    求項1記載の集積回路用基板バイアス発生装置。
  3. 【請求項3】 前記差動増幅回路を構成するトランジス
    タの各チャネル長が、回路を流れる電流を制限するよう
    に長く設定されたことを特徴とする請求項2記載の集積
    回路用基板バイアス発生装置。
  4. 【請求項4】 前記インバータ列を構成するトランジス
    タの各チャネル長が、前記電圧レギュレータ回路内にお
    けるVCCレベルから接地レベルへの電流損失を制限す
    るように選択して設定されたことを特徴とする請求項2
    記載の集積回路用基板バイアス発生装置。
  5. 【請求項5】 安定なクロック発生信号を出力するラッ
    チ回路を更に備えたことを特徴とする請求項2記載の集
    積回路用基板バイアス発生装置。
  6. 【請求項6】 前記自己タイミングクロック回路が、ク
    ロック発生信号を入力して第1および第2の信号を出力
    する第1ステージと、前記第1および第2の信 号を入力
    して更に第3、第4および第5の信号を出力する第2ス
    テージとを含むと共に、前記ポンプ回路が、前記第1な
    いし第5の信号に応答して前記集積回路基板の基板電圧
    を下げるよう構成したことを特徴とする請求項1記載の
    集積回路用基板バイアス発生装置。
  7. 【請求項7】 前記自己タイミングクロック回路が、
    記クロック発生信号を入力した後、前記1周期のクロッ
    ク信号の生成が終了するまでは、後続のクロック発生信
    号を無視するように構成したことを特徴とする請求項1
    記載の集積回路用基板バイアス発生装置。
  8. 【請求項8】 集積回路基板に接続され、この基板の電
    圧を監視し所定のレベルからずれた時にアクティブなク
    ロック発生信号を出力する低電流電圧レギュレータ回路
    と、前記アクティブなクロック発生信号を入力する第1ステ
    ージと、この第1ステージに接続された第2ステージと
    を有し、これら第1ステージおよび第2ステージがアク
    ティブなクロック発生信号に応答して複数のクロック信
    号を出力する、 自由発振ではない低電流自己タイミング
    クロック回路と、前記複数のクロック信号に応答して 電荷を基板に注入
    し、前記集積回路基板の基板電圧を下げるポンプ回路と
    を備え、 前記低電流自己タイミングクロック回路は、前記ポンプ
    回路による電荷注入が終了した後は、クロック発生信号
    の変化を無視することを特徴とする集積回路用基板バイ
    アス発生装置。
  9. 【請求項9】 CC 信号に比例したV CCREF 信号
    を発生させると共に、集積回路基板の基板電圧V BB
    相応したV BBREF 信号を発生させ、V CCREF
    号とV BBREF 信号とを比較して、V BBREF 信号
    がV CCREF 信号よりも高くなった時、クロック発生
    信号を出力させて基板電圧を監視するステップと、 自己タイミングクロック回路に、前記クロック発生信号
    のうちの第1のクロック発生信号に応答して、前記第1
    のクロック発生信号の入力の終了、後続の第2のクロッ
    ク発生信号の入力にかかわらず、ポンプ回路により電荷
    を集積回路基板に注入させると共に、後続の電荷注入用
    のプリチャージを行わせるための1周期 のクロック信号
    を発生させるステップと を含むことを特徴とする基板バ
    イアス制御方法。
  10. 【請求項10】 集積回路基板への電荷の注入が必要な
    場合にクロック発生信号を出力するステップと、 前記クロック発生信号を自己タイミングクロック回路に
    入力するステップと、 1周期のクロック信号を発生して
    いる間の前記クロック発生信号の状態に関係なく、クロ
    ック発生信号の入力に応答して前記1周期のクロック信
    号を発生するように自己タイミングクロック回路を動作
    させるステップと、 前記クロック信号を使ってポンプ回路を動作させて前記
    集積回路基板に電荷を注入させると共に、ポンプ回路を
    プリチャージさせるステップと、 後続のクロック発生信号に応答する準備を行うステップ
    を含むことを特徴とする基板バイアス制御方法。
  11. 【請求項11】 第1のクロック発生信号を発生して、
    この第1のクロック発生信号を自己タイミングクロック
    回路に入力させるステップと、 前記第1のクロック発生信号に応答して、前記自己タイ
    ミングクロック回路と、前記自己タイミングクロック回
    路からの信号を入力するポンプ回路とをポンピングモー
    ドで動作させた後、プリチャージモードで動作させ、そ
    の後、自己タイミングクロック回路を後続のクロック発
    生信号に応答する準備を行うための休止状態にするステ
    ップと、 前記プリチャージモード動作が終了する前に前記第1の
    クロック発生信号が終了した場合であっても、前記プリ
    チャージモードの動作が終了するまで前記自己タイミン
    グクロック回路およびポンプ回路を動作させ続けるステ
    ップと、 前記プリチャージモードの動作が終了する前には、前記
    第1のクロック発生信号に続くクロック発生信号を無視
    するステップと を含むことを特徴とする基板バイアス制
    御方法。
  12. 【請求項12】 デマンド信号に応答して、デマンド信
    号の終了にかかわらず、複数の第1のクロック信号と、
    前記複数の第1のクロック信号に続く複数の第2のクロ
    ック信号を含む1周期のクロック信号の発生を開始させ
    るステップと、 前記第1のクロック信号を用いて、ポン
    プ回路により集積回路基板に電荷を注 入させるステップ
    と、 前記第2のクロック信号を用いて、前記ポンプ回路をプ
    リチャージするステップと を含むことを特徴とする基板
    バイアス制御方法。
  13. 【請求項13】 電圧に関する要求を示した第1のデマ
    ンド信号を得て、この第1のデマンド信号を自己タイミ
    ングクロック回路に入力するステップと、 前記第1のデマンド信号に応答してクロック信号を発生
    させる前記自己タイミングクロック回路を動作させるス
    テップと、 前記自己タイミングクロック回路に接続されたポンプ回
    路を、集積回路基板に電荷を注入するポンピングモード
    で動作させた後、プリチャージモードで動作させるステ
    ップと、 前記自己タイミングクロック回路を後続の第2のデマン
    ド信号に応答する準備を行う休止状態にするステップ
    と、 前記プリチャージモードの動作が終了する前に第1のデ
    マンド信号の入力が終了した場合には、前記プリチャー
    ジモードの動作が終了するまで前記プリチャージモード
    の動作をさせ続けるステップと、 前記プリチャージモードの動作が終了する前に、前記第
    1のデマンド信号に続く第2のデマンド信号が発生した
    場合、前記第2のデマンド信号を無視させるステップと
    を含むことを特徴とする基板バイアス制御方法。
  14. 【請求項14】 集積回路基板の基板電圧の調整が必要
    であることを示すデマンド信号を発生させる基板電圧監
    視用の回路と、 前記デマンド信号を入力するように接続され、ポンプ回
    路により基板に電荷を注入させる第1のクロック信号と
    ポンプ回路をプリチャージさせる第2のクロック信号を
    含む1組のクロック信号を発生させると共に、前記デマ
    ンド信号の入力が終了した場合においても前記1組のク
    ロック信号を発生させる自己タイミングクロック回路
    と、 前記自己タイミングクロック回路に応答するように接続
    され、前記集積回路基板に対して有効に電荷を注入する
    と共に、前記第2のクロック信号によりプリチ ャージす
    るポンプ回路とを備えた基板バイアス制御装置における
    基板バイアス制御方法であって、 前記クロック信号を発生させることにより、前記1組の
    クロック信号の1周期間は、前記デマンド信号の変化に
    関係なく、前記ポンプ回路が前記デマンド信号の入力に
    応答して、電荷注入およびプリチャージを行うことを特
    徴とする基板バイアス制御方法。
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Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6424202B1 (en) * 1994-02-09 2002-07-23 Lsi Logic Corporation Negative voltage generator for use with N-well CMOS processes
JP3292417B2 (ja) * 1994-02-15 2002-06-17 三菱電機株式会社 半導体装置
KR0149224B1 (ko) * 1994-10-13 1998-10-01 김광호 반도체 집적장치의 내부전압 승압회로
US5670907A (en) * 1995-03-14 1997-09-23 Lattice Semiconductor Corporation VBB reference for pumped substrates
US5973956A (en) * 1995-07-31 1999-10-26 Information Storage Devices, Inc. Non-volatile electrically alterable semiconductor memory for analog and digital storage
US5694072A (en) * 1995-08-28 1997-12-02 Pericom Semiconductor Corp. Programmable substrate bias generator with current-mirrored differential comparator and isolated bulk-node sensing transistor for bias voltage control
JPH09330590A (ja) * 1996-06-07 1997-12-22 Mitsubishi Electric Corp 内部電圧検出回路、および基板電圧検出回路
TW362277B (en) * 1996-07-29 1999-06-21 Hynix Semiconductor Inc Charge pump for a semiconductor substrate
US6188590B1 (en) 1996-12-18 2001-02-13 Macronix International Co., Ltd. Regulator system for charge pump circuits
WO1998027477A1 (en) * 1996-12-18 1998-06-25 Macronix International Co., Ltd. A regulator system for charge pump circuits
KR100273208B1 (ko) * 1997-04-02 2000-12-15 김영환 반도체메모리장치의고효율전하펌프회로
JP3135859B2 (ja) * 1997-04-11 2001-02-19 株式会社リコー 基板バイアス回路
FR2773012B1 (fr) 1997-12-24 2001-02-02 Sgs Thomson Microelectronics Dispositif a pompe de charges negatives
FR2772941B1 (fr) * 1998-05-28 2002-10-11 Sgs Thomson Microelectronics Circuit de regulation d'une pompe de charges negatives
US6310789B1 (en) 1999-06-25 2001-10-30 The Procter & Gamble Company Dynamically-controlled, intrinsically regulated charge pump power converter
WO2001001553A1 (en) 1999-06-25 2001-01-04 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Dynamically-switched power converter
US6370046B1 (en) 2000-08-31 2002-04-09 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Ultra-capacitor based dynamically regulated charge pump power converter
JP2001332696A (ja) 2000-05-24 2001-11-30 Nec Corp 基板電位検知回路及び基板電位発生回路
US6486727B1 (en) * 2001-10-11 2002-11-26 Pericom Semiconductor Corp. Low-power substrate bias generator disabled by comparators for supply over-voltage protection and bias target voltage
DE10162309A1 (de) * 2001-12-19 2003-07-03 Philips Intellectual Property Verfahren und Anordnung zur Erhöhung der Sicherheit von Schaltkreisen gegen unbefugten Zugriff
DE60218225T2 (de) * 2002-01-23 2007-10-31 Koninklijke Philips Electronics N.V. Integrierte schaltung und batteriebetriebenes elektronisches gerät
US6864664B2 (en) * 2003-06-06 2005-03-08 Sony Corporation Circuit for charging supplemental battery in portable electronic device
US7649402B1 (en) * 2003-12-23 2010-01-19 Tien-Min Chen Feedback-controlled body-bias voltage source
US7129771B1 (en) * 2003-12-23 2006-10-31 Transmeta Corporation Servo loop for well bias voltage source
US7012461B1 (en) 2003-12-23 2006-03-14 Transmeta Corporation Stabilization component for a substrate potential regulation circuit
KR100732756B1 (ko) * 2005-04-08 2007-06-27 주식회사 하이닉스반도체 전압 펌핑장치
KR100718037B1 (ko) * 2005-09-13 2007-05-14 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 기판 바이어스 전압 발생 회로
US8098089B2 (en) * 2006-07-28 2012-01-17 Stmicroelectronics S.R.L. Voltage booster
US9002447B2 (en) 2013-03-14 2015-04-07 Medtronic, Inc. Implantable medical device having power supply for generating a regulated power supply

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4142114A (en) * 1977-07-18 1979-02-27 Mostek Corporation Integrated circuit with threshold regulation
US4356412A (en) * 1979-03-05 1982-10-26 Motorola, Inc. Substrate bias regulator
JPS55162257A (en) * 1979-06-05 1980-12-17 Fujitsu Ltd Semiconductor element having substrate bias generator circuit
JPS5785253A (en) * 1980-11-17 1982-05-27 Toshiba Corp Semiconductor device
US4401897A (en) * 1981-03-17 1983-08-30 Motorola, Inc. Substrate bias voltage regulator
US4739191A (en) * 1981-04-27 1988-04-19 Signetics Corporation Depletion-mode FET for the regulation of the on-chip generated substrate bias voltage
US4553047A (en) * 1983-01-06 1985-11-12 International Business Machines Corporation Regulator for substrate voltage generator
US4585954A (en) * 1983-07-08 1986-04-29 Texas Instruments Incorporated Substrate bias generator for dynamic RAM having variable pump current level
US4581546A (en) * 1983-11-02 1986-04-08 Inmos Corporation CMOS substrate bias generator having only P channel transistors in the charge pump
NL8701278A (nl) * 1987-05-29 1988-12-16 Philips Nv Geintegreerde cmos-schakeling met een substraatvoorspanningsgenerator.
JPS6445157A (en) * 1987-08-13 1989-02-17 Toshiba Corp Semiconductor integrated circuit
US4883976A (en) * 1987-12-02 1989-11-28 Xicor, Inc. Low power dual-mode CMOS bias voltage generator
JP2568442B2 (ja) * 1989-07-14 1997-01-08 セイコー電子工業株式会社 半導体集積回路装置
US5220534A (en) * 1990-07-31 1993-06-15 Texas Instruments, Incorporated Substrate bias generator system
JP2870277B2 (ja) * 1991-01-29 1999-03-17 日本電気株式会社 ダイナミック型ランダムアクセスメモリ装置
JPH04255989A (ja) * 1991-02-07 1992-09-10 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置および内部電圧発生方法
US5126590A (en) * 1991-06-17 1992-06-30 Micron Technology, Inc. High efficiency charge pump

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