JP2885605B2 - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置

Info

Publication number
JP2885605B2
JP2885605B2 JP5105788A JP10578893A JP2885605B2 JP 2885605 B2 JP2885605 B2 JP 2885605B2 JP 5105788 A JP5105788 A JP 5105788A JP 10578893 A JP10578893 A JP 10578893A JP 2885605 B2 JP2885605 B2 JP 2885605B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
island
resin
semiconductor device
type semiconductor
lead frame
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP5105788A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH06318663A (ja
Inventor
雅博 伊部
健 深町
恵子 園田
元秋 松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NEC Kyushu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Kyushu Ltd filed Critical NEC Kyushu Ltd
Priority to JP5105788A priority Critical patent/JP2885605B2/ja
Publication of JPH06318663A publication Critical patent/JPH06318663A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2885605B2 publication Critical patent/JP2885605B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/43Manufacturing methods
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/43Manufacturing methods
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4554Coating
    • H01L2224/45565Single coating layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4554Coating
    • H01L2224/45599Material
    • H01L2224/456Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4554Coating
    • H01L2224/45599Material
    • H01L2224/456Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45638Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45655Nickel (Ni) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48095Kinked
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01028Nickel [Ni]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01077Iridium [Ir]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Sealing Material Composition (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は樹脂封止型半導体装置に
関し、特にリードフレーム及び金線に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の樹脂封止型半導体装置は図6
(a)に示すように半導体チップ1を搭載するアイラン
ド2と、外部との電気的導通をとるための外部リード4
及び内部リード3を有している。またアイランド2を支
持する吊りピン5を有している。さらに、図6(b)に
示すように半導体チップ1と内部リード3との電気的導
通をとるための金線6を有している。
【0003】この従来の樹脂封止型半導体装置は、樹脂
封止と内部リード3もしくは吊りピン5との界面からの
水分の侵入を防ぐための内部リード3の形状を直線では
なくジグザグ形状にしたり、吊りピン5にハーフエッチ
を設けたりしている。また、封止樹脂内の水分を逃がす
ために、アイランド2よりつながるウイングリードを設
けたりしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この従来の樹脂封止型
半導体装置では、水分が封止樹脂と内部リード及び封止
樹脂と吊りピン及び封止樹脂と金線の界面から、毛細菅
現象により侵入し、半導体チップの電極パッドを腐触す
るという問題点があった。
【0005】さらに、侵入した水分がアイランド裏面に
回り込み、その水分がIRリフロー等で加熱されて水分
が膨張し、封止樹脂にクラックが入るという問題点があ
った。
【0006】本発明の目的は、侵入した水分による電極
パッドの腐触及び封止樹脂のクラックを防ぐことが出来
る封止樹脂型半導体装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、半導体
チップを搭載するアイランドと該アイランドに先端部が
対面する複数の内部リードを有するリードフレームを具
備した樹脂型半導体装置において、前記アイランド及び
前記複数の内部リードのうち前記アイランドを除く前記
複数の内部リードのみの全域にニッケルとフッ素系ポリ
マー粒子を共析させた撥水性めっきを施した樹脂型半導
体装置にある。 本発明の他の特徴は、半導体チップを搭
載するアイランドと該アイランドに先端部が対面する複
数の内部リードを有するリードフレームを具備した樹脂
型半導体装置において、前記アイランド及び前記複数の
内部リードのうち前記アイランドを除く前記複数の内部
リードのみのそれぞれの端部から離間した一部にニッケ
ルとフッ素系ポリマー粒子を共析させた撥水性めっきを
施した樹脂型半導体装置にある。 本発明の別の特徴は、
半導体チップを搭載する長方形のアイランドと該アイラ
ンドの短辺に接続して該アイランドを支持する吊りピン
を有するリードフレームを具備した樹脂型半導体装置に
おいて、前記アイランド及び前記吊りピンのうち前記ア
イランドを除く前記吊りピンのみにニッケルとフッ素系
ポリマー粒子を共析させた撥水性めっきを施した樹脂型
半導体装置にある。 本発明のさらに別の特徴は、半導体
チップとリードフレームの内部リードを金線で接続する
樹脂型半導体装置において、前記金線にニッケルとフッ
素系ポリマー粒子を共析させた撥水性めっきを施した樹
脂型半導体装置にある。
【0008】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例の樹脂封止型半導体装置に
使用されるリードフレームの平面図である。図において
半導体チップ1がアイランド2に搭載され、外部との電
気的導通をとるための外部リード4及び内部リード3を
有し、アイランド2を支持するための吊りピン5を有し
ているのは図6の従来例と同じである。しかし本実施例
では、内部リード3の全域に撥水性めっき8を施してい
る。この撥水性めっき8はニッケルとフッ素系ポリマー
粒子が均一に混ざった構造になっている。その作製方法
は、まずポリテトラフルオロエチレンと呼ばれるフッ素
系ポリマーにフッ素ガスを加え、フッ素をさらに含む直
径4μmのポリマー粒子を作る。これをニッケルのめっ
き液中に混合し、超音波振動で均一に分散させる。この
中で電気めっきすると、めっきされる物質の上にフッ素
系ポリマー粒子とニッケルが一定の割合で同時に析出
し、ニッケルの中に10%程度のテトラフルオロエチレ
ンが含まれる撥水性めっき8が作られる。このめっきの
接触角は173度に達する事より、内部リード3の界面
より水分が侵入し、半導体チップ1の電極パッドが腐触
される事が防止される。
【0009】図2は本発明の実施例2に関する樹脂封止
型半導体装置に使用されるリードフレームの平面図であ
る。図において内部リード3の一部に前記撥水性めっき
8を施している。これにより内部リード3の界面から水
分が侵入する事が防止され、かつ前記撥水性めっきが一
部分であるため封止樹脂と内部リード3の密着強度の低
下が防止される。
【0010】図3は本発明の実施例3に関する樹脂封止
型半導体装置に使用されるリードフレームの平面図であ
る。図において吊りリード5に前記撥水性めっきを施し
ている。これにより吊りリード5の界面から水分が侵入
する事が防止される。
【0011】図4は本発明の実施例4に関する樹脂封止
型半導体装置の断面図である。図において金線6も前記
撥水性めっきを施している。これにより金線6の界面か
ら水分が侵入し、半導体チップ1の電極パッドが腐触さ
れることが防止される。
【0012】図5は本発明に関連する技術の樹脂封止型
半導体装置の断面図である。図においてアイランド2
裏面に前記撥水性めっき8を施している。これにより水
分がアイランド2の裏面に回り込み、IRリフロー等で
加熱され水分が膨張し、封止樹脂にクラックが入ること
が防止される。
【0013】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、樹脂封止
型半導体装置において、ニッケルとフッ素系ポリマー粒
子を共析させた撥水性めっきを配線もしくは配線周囲の
金属部分に施したので、封止樹脂と内部リード及び封止
樹脂と吊りピン及び封止樹脂と金線の界面から水分が侵
入することを防止するという結果を有する。
【0014】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に使用されるリードフレーム
の平面図である。
【図2】本発明の実施例2に使用されるリードフレーム
の平面図である。
【図3】本発明の実施例3に使用されるリードフレーム
の平面図である。
【図4】本発明の実施例4の断面図である。
【図5】本発明に関連する技術の断面図である。
【図6】従来技術を説明するためのリードフレームの平
面図及び樹脂封止型半導体装置の断面図である。
【符号の説明】
1 半導体チップ 2 アイランド 3 内部リード 4 外部リード 5 吊りピン 6 金線 7 封止樹脂 8 撥水性めっき
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松田 元秋 熊本県熊本市八幡町100番地九州日本電 気株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−288051(JP,A) 特開 平4−285199(JP,A) 特開 平5−259362(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 23/50

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップを搭載するアイランドと該
    アイランドに先端部が対面する複数の内部リードを有す
    るリードフレームを具備した樹脂型半導体装置におい
    て、前記アイランド及び前記複数の内部リードのうち前
    記アイランドを除く前記複数の内部リードのみの全域に
    ニッケルとフッ素系ポリマー粒子を共析させた撥水性め
    っきを施したことを特徴とする樹脂型半導体装置。
  2. 【請求項2】 半導体チップを搭載するアイランドと該
    アイランドに先端部が対面する複数の内部リードを有す
    るリードフレームを具備した樹脂型半導体装置におい
    て、前記アイランド及び前記複数の内部リードのうち前
    記アイランドを除く前記複数の内部リードのみのそれぞ
    れの端部から離間した一部にニッケルとフッ素系ポリマ
    ー粒子を共析させた撥水性めっきを施したことを特徴と
    する樹脂型半導体装置。
  3. 【請求項3】 半導体チップを搭載する長方形のアイラ
    ンドと該アイランドの短辺に接続して該アイランドを支
    持する吊りピンを有するリードフレームを具備した樹脂
    型半導体装置において、前記アイランド及び前記吊りピ
    ンのうち前記アイランドを除く前記吊りピンのみにニッ
    ケルとフッ素系ポリマー粒子を共析させた撥水性めっき
    を施したこと特徴とする樹脂型半導体装置。
  4. 【請求項4】 半導体チップとリードフレームの内部リ
    ードを金線で接続する樹脂型半導体装置において、前記
    金線にニッケルとフッ素系ポリマー粒子を共析させた撥
    水性めっきを施したこと特徴とする樹脂型半導体装置。
JP5105788A 1993-05-07 1993-05-07 樹脂封止型半導体装置 Expired - Lifetime JP2885605B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5105788A JP2885605B2 (ja) 1993-05-07 1993-05-07 樹脂封止型半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5105788A JP2885605B2 (ja) 1993-05-07 1993-05-07 樹脂封止型半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06318663A JPH06318663A (ja) 1994-11-15
JP2885605B2 true JP2885605B2 (ja) 1999-04-26

Family

ID=14416879

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5105788A Expired - Lifetime JP2885605B2 (ja) 1993-05-07 1993-05-07 樹脂封止型半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2885605B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4624170B2 (ja) * 2005-04-25 2011-02-02 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH06318663A (ja) 1994-11-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100371567B1 (ko) Ag 선도금을 이용한 반도체 패키지용 리드프레임
JPH0484449A (ja) Tabテープ
JPH0629439A (ja) 樹脂用インサート部材
US8786084B2 (en) Semiconductor package and method of forming
JP2885605B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPS5864056A (ja) 半導体装置
JPH11168169A (ja) リードフレームおよびそれを用いた半導体装置ならびにその製造方法
JPS62150836A (ja) 半導体装置
US6404216B1 (en) Test contact
KR940008340B1 (ko) 반도체 장치용 리이드 프레임
JP3003653B2 (ja) ボールグリッドアレイ型半導体装置
JPS6035552A (ja) 半導体装置
JPS61242051A (ja) 半導体装置
JP2871575B2 (ja) リードフレームおよびその製造方法ならびに樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP2005150294A5 (ja)
KR20090043907A (ko) 리드 프레임, 그를 구비한 반도체 패키지 및 그 제조방법
JPS59107547A (ja) 半導体装置
JP2845002B2 (ja) 半導体装置用複合リードフレーム
JPH0362959A (ja) リードフレームの製造方法
JPS61125028A (ja) 半導体装置
JP2577879B2 (ja) 半導体装置
JPH05136221A (ja) プローブおよびそれを用いた検査方法
JPH05166871A (ja) 半導体装置
JPH01286345A (ja) 樹脂封止半導体装置
JPH0637123A (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19990119