JP2881455B2 - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JP2881455B2 JP2881455B2 JP27635389A JP27635389A JP2881455B2 JP 2881455 B2 JP2881455 B2 JP 2881455B2 JP 27635389 A JP27635389 A JP 27635389A JP 27635389 A JP27635389 A JP 27635389A JP 2881455 B2 JP2881455 B2 JP 2881455B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は測距装置に係わり、特に受光素子に位置検出
素子を用いた測距装置に関する。
素子を用いた測距装置に関する。
［従来技術］ 従来の位置検出素子を用いた測距装置は第３図に示す
ように被写体（図示してない）に投光ビームｆ1、ｆ2、
ｆ3を照射する複数の発光素子LED1、LED2、LED3を基線
長Ｌの一方側（外側）から他方の側へ順次配置し、投光
レンズLNS1から被写体を照射する。被写体から反射した
反射ビームｆ1′、ｆ2′、ｆ3′は受光レンズLNS2から
基線長Ｌの他方の側（内側）から一方の側（外側）へ順
次配置された位置検出素子PSD1、PSD2、PSD3で受光す
る。位置検出素子PSD1、PSD2、PSD3のそれぞれの内端相
互、外端相互をワイヤボンディングし、外端相互を自動
焦点ロジック１のピン1aと、内端相互を1bと接続する。
ように被写体（図示してない）に投光ビームｆ1、ｆ2、
ｆ3を照射する複数の発光素子LED1、LED2、LED3を基線
長Ｌの一方側（外側）から他方の側へ順次配置し、投光
レンズLNS1から被写体を照射する。被写体から反射した
反射ビームｆ1′、ｆ2′、ｆ3′は受光レンズLNS2から
基線長Ｌの他方の側（内側）から一方の側（外側）へ順
次配置された位置検出素子PSD1、PSD2、PSD3で受光す
る。位置検出素子PSD1、PSD2、PSD3のそれぞれの内端相
互、外端相互をワイヤボンディングし、外端相互を自動
焦点ロジック１のピン1aと、内端相互を1bと接続する。
また発光素子LED1、LED2、LED3の一端は発光素子駆動
回路10のピン10d、10e、10fと接続され、他端は基準電
位点に接続する。発光素子駆動回路10のピン10a、10b、
10cは制御回路９のピン9a、9b、9cと、発光素子制御線L
C1、LC2、LC3で結線する。発光素子LED1、LED2、LED3は
制御回路９から発光素子制御線LC1、LC2、LC3を介して
制御される発光素子駆動回路10により発光し、発光に応
じて投光レンズLNS1から投光ビームｆ1、ｆ2、ｆ3で被
写体を照射する。
回路10のピン10d、10e、10fと接続され、他端は基準電
位点に接続する。発光素子駆動回路10のピン10a、10b、
10cは制御回路９のピン9a、9b、9cと、発光素子制御線L
C1、LC2、LC3で結線する。発光素子LED1、LED2、LED3は
制御回路９から発光素子制御線LC1、LC2、LC3を介して
制御される発光素子駆動回路10により発光し、発光に応
じて投光レンズLNS1から投光ビームｆ1、ｆ2、ｆ3で被
写体を照射する。
被写体から反射した反射ビームｆ1′、ｆ2′、ｆ3′
は受光レンズLNS2を介し位置検出素子PSD1、PSD2、PSD3
を照射するので自動焦点ロジック１のピン1a、1bに外端
位置電流ｉ1と内端位置電流ｉ2を送出する。
は受光レンズLNS2を介し位置検出素子PSD1、PSD2、PSD3
を照射するので自動焦点ロジック１のピン1a、1bに外端
位置電流ｉ1と内端位置電流ｉ2を送出する。
自動焦点ロジック１のピン1a、1bにはそれぞれ外端ア
ンプ２と内端アンプ３が接続してあるので、内、外端ア
ンプ３、２で増幅された内、外端位置電流ｉ2、ｉ1は、
内、外端圧縮回路５、４を介して演算回路６へ送出され
る。演算回路６から出力されるアナログ演算データはA/
D変換回路７でデジタル演算データに変換され、ピン1d
を介してAFデータ線LF1から制御回路９のピン9eへ送出
される。自動焦点ロジック１のピン1cは制御回路９のピ
ン9dとAF制御線LC4で接続され、内、外端圧縮回路５、
４、演算回路６及びA/D変換回路７は制御回路９の制御
を受け複数の被写体の遠近に対する各種自動フォーカス
モードを実現する。また、最遠距離判定回路８で測距値
∞が判定されたときはピン1eからAFデータ線LF2を介し
て制御回路９のピン9fへ無限大AFデータが出力される。
ンプ２と内端アンプ３が接続してあるので、内、外端ア
ンプ３、２で増幅された内、外端位置電流ｉ2、ｉ1は、
内、外端圧縮回路５、４を介して演算回路６へ送出され
る。演算回路６から出力されるアナログ演算データはA/
D変換回路７でデジタル演算データに変換され、ピン1d
を介してAFデータ線LF1から制御回路９のピン9eへ送出
される。自動焦点ロジック１のピン1cは制御回路９のピ
ン9dとAF制御線LC4で接続され、内、外端圧縮回路５、
４、演算回路６及びA/D変換回路７は制御回路９の制御
を受け複数の被写体の遠近に対する各種自動フォーカス
モードを実現する。また、最遠距離判定回路８で測距値
∞が判定されたときはピン1eからAFデータ線LF2を介し
て制御回路９のピン9fへ無限大AFデータが出力される。
［発明が解決しようとする課題］ 上記構成の測距装置では反射ビームｆ1′、ｆ2′、ｆ
3′による位置検出素子PSD1、PSD2、PSD3上のスポット
が、例えば位置検出素子PSD1の最外端近傍附近を照射す
ると位置検出素子PSD1では外端位置電流ｉ1の増加、位
置検出素子PSD2では内端位置電流ｉ2の増加となり、外
端アンプ２と内端アンプ３で増幅された内、外端位置電
流ｉ2、ｉ1による精度の高い測距ができない。このよう
な位置検出素子PSD1、PSD2、PSD3の最内、外端近傍附近
のスポットに対し、精度の高い測距を行うには位置検出
素子PSD1、PSD2、PSD3に対し、それぞれ１対の内、外端
アンプ３、２……を３組設け、３組のそれぞれの内、外
端アンプ３、２……を制御する制御手段を設けなければ
ならない難点がある。また、内、外端アンプ３、２……
と制御手段を組込んだ自動焦点ロジックを開発すると、
内、外端アンプ３、２……を多数持つためコストが高く
なる難点がある。
3′による位置検出素子PSD1、PSD2、PSD3上のスポット
が、例えば位置検出素子PSD1の最外端近傍附近を照射す
ると位置検出素子PSD1では外端位置電流ｉ1の増加、位
置検出素子PSD2では内端位置電流ｉ2の増加となり、外
端アンプ２と内端アンプ３で増幅された内、外端位置電
流ｉ2、ｉ1による精度の高い測距ができない。このよう
な位置検出素子PSD1、PSD2、PSD3の最内、外端近傍附近
のスポットに対し、精度の高い測距を行うには位置検出
素子PSD1、PSD2、PSD3に対し、それぞれ１対の内、外端
アンプ３、２……を３組設け、３組のそれぞれの内、外
端アンプ３、２……を制御する制御手段を設けなければ
ならない難点がある。また、内、外端アンプ３、２……
と制御手段を組込んだ自動焦点ロジックを開発すると、
内、外端アンプ３、２……を多数持つためコストが高く
なる難点がある。
［発明の目的］ 本発明は精度の高い測距ができる測距装置を提供する
ことを目的とする。
ことを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 本発明による測距装置は、投光レンズを介して被写体
へ投光ビームを照射する発光素子と、前記発光素子とそ
れぞれ所定の基線長を隔てて配置され受光レンズを介し
て入射する反射ビームを受光する複数の位置検出素子
と、前記複数の位置検出素子にそれぞれ供給される電源
電圧をそれぞれスイッチングする複数のスイッチと、前
記電源が供給された位置検出素子からの出力に基づき距
離を検出する距離検出手段とを備えている。
へ投光ビームを照射する発光素子と、前記発光素子とそ
れぞれ所定の基線長を隔てて配置され受光レンズを介し
て入射する反射ビームを受光する複数の位置検出素子
と、前記複数の位置検出素子にそれぞれ供給される電源
電圧をそれぞれスイッチングする複数のスイッチと、前
記電源が供給された位置検出素子からの出力に基づき距
離を検出する距離検出手段とを備えている。
［実施例］ 以下、本発明による測距装置の一実施例を第１図に従
って詳述する。
って詳述する。
第１図と第３図で同一のものには同一符号を付してあ
るから説明を省略する。
るから説明を省略する。
第１図において、SW1、SW2、SW3は切換スイッチであ
る。切換スイッチSW1、SW2、SW3はＣ−MOS等の半導体で
形成され、それぞれの制御電極は制御回路９のピン
Ｐ1、Ｐ2、Ｐ3と切換スイッチ制御線LC6、LC7、LC8（以
下、単にスイッチ制御線という）に接続され、制御回路
９の制御により導通したチャネルを介して位置検出素子
PSD1、PSD2、PSD3のサブストレートにVccを印加する。
制御回路９のスイッチ制御線LC6、LC7、LC8にはスイッ
チ制御信号1/nの制御でしか送られないので位置検出素
子PSD1、PSD2、PSD3の内、外端位置電流ｉ2、ｉ1が互に
合成されない。
る。切換スイッチSW1、SW2、SW3はＣ−MOS等の半導体で
形成され、それぞれの制御電極は制御回路９のピン
Ｐ1、Ｐ2、Ｐ3と切換スイッチ制御線LC6、LC7、LC8（以
下、単にスイッチ制御線という）に接続され、制御回路
９の制御により導通したチャネルを介して位置検出素子
PSD1、PSD2、PSD3のサブストレートにVccを印加する。
制御回路９のスイッチ制御線LC6、LC7、LC8にはスイッ
チ制御信号1/nの制御でしか送られないので位置検出素
子PSD1、PSD2、PSD3の内、外端位置電流ｉ2、ｉ1が互に
合成されない。
位置検出素子PSD1、PSD2、PSD3のそれぞれの内端相
互、外端相互をワイヤボンディングし、外端相互を自動
焦点１ロジック１のピン1aと、内端相互を1bと接続す
る。
互、外端相互をワイヤボンディングし、外端相互を自動
焦点１ロジック１のピン1aと、内端相互を1bと接続す
る。
また、自動焦点ロジック１のピン1a、1bにはそれぞれ
外端アンプ２と内端アンプ３が接続してあるので、内、
外端アンプ３、２で増幅された内、外端位置電流ｉ2、
ｉ1は、内、外端圧縮回路５、４を介して距離検出手段
を構成する演算回路６へ送出される。演算回路６から出
力されるアナログ演算データはA/D変換回路７でデジタ
ル演算データに変換され、ピン1dを介してAFデータ線LF
1から制御回路９のピン9eへ送出される。自動焦点ロジ
ック１のピン1cは制御回路９のピン9dとAF制御線LC4で
接続され、内、外端圧縮回路５、４、演算回路６及びA/
D変換回路７は制御回路９の制御を受け複数の被写体の
遠近に対する各種自動フォーカスモードを実現する。ま
た、内端圧縮回路５が接続された最遠距離判定回路８で
測距値∞が判定されたときはピン1eからAFデータ線LF2
を介して制御回路９のピン9fへ無限大AFデータが出力さ
れる。なお、最内端における最大内端電流ｉ2のときが
距離∞である。
外端アンプ２と内端アンプ３が接続してあるので、内、
外端アンプ３、２で増幅された内、外端位置電流ｉ2、
ｉ1は、内、外端圧縮回路５、４を介して距離検出手段
を構成する演算回路６へ送出される。演算回路６から出
力されるアナログ演算データはA/D変換回路７でデジタ
ル演算データに変換され、ピン1dを介してAFデータ線LF
1から制御回路９のピン9eへ送出される。自動焦点ロジ
ック１のピン1cは制御回路９のピン9dとAF制御線LC4で
接続され、内、外端圧縮回路５、４、演算回路６及びA/
D変換回路７は制御回路９の制御を受け複数の被写体の
遠近に対する各種自動フォーカスモードを実現する。ま
た、内端圧縮回路５が接続された最遠距離判定回路８で
測距値∞が判定されたときはピン1eからAFデータ線LF2
を介して制御回路９のピン9fへ無限大AFデータが出力さ
れる。なお、最内端における最大内端電流ｉ2のときが
距離∞である。
発光素子駆動回路10のピン10a、10b、10cは制御回路
９のピン9a、9b、9cと、発光素子制御線LC1、LC2、LC3
で結線する。発光素子LED1、LED2、LED3は制御回路９か
ら発光素子制御線LC1、LC2、LC3を介して制御される発
光素子駆動回路10により発光し、発光に応じて投光ビー
ムｆ1、ｆ2、ｆ3で被写体を照射する。
９のピン9a、9b、9cと、発光素子制御線LC1、LC2、LC3
で結線する。発光素子LED1、LED2、LED3は制御回路９か
ら発光素子制御線LC1、LC2、LC3を介して制御される発
光素子駆動回路10により発光し、発光に応じて投光ビー
ムｆ1、ｆ2、ｆ3で被写体を照射する。
［発明の作用］ 上記構成の測距装置で切換スイッチSW1、SW2、SW3（S
Wn）が順次動作すれば発光素子LED1、LED2、LED3（LED
n）から発光された投光ビームｆ1、ｆ2、ｆ3（fn）が被
写体から反射し、反射ビームｆ1′、ｆ2′、ｆ3′（f
n′）となって位置検出素子PSD1、PSD2、PSD3（PSDn）
に照射される。このとき、第２図、に示すPSDnのスポ
ットが小さいSP1のときで切換スイッチSW1、SW2、SW
3（SWn）の動作時は、A/D変換回路９へ入力されるアナ
ログ演算データがに示すほぼ直線で示す特性となる。
スポットが大きいSP2のときは点線で示す特性となり若
干測定精度が低下する。に示す切換スイッチSWnが動
作しない従来の回路に相当する場合で反射ビームfn′の
スポットがSP2となると、点線て示す特性となり測定精
度が低下する。
Wn）が順次動作すれば発光素子LED1、LED2、LED3（LED
n）から発光された投光ビームｆ1、ｆ2、ｆ3（fn）が被
写体から反射し、反射ビームｆ1′、ｆ2′、ｆ3′（f
n′）となって位置検出素子PSD1、PSD2、PSD3（PSDn）
に照射される。このとき、第２図、に示すPSDnのスポ
ットが小さいSP1のときで切換スイッチSW1、SW2、SW
3（SWn）の動作時は、A/D変換回路９へ入力されるアナ
ログ演算データがに示すほぼ直線で示す特性となる。
スポットが大きいSP2のときは点線で示す特性となり若
干測定精度が低下する。に示す切換スイッチSWnが動
作しない従来の回路に相当する場合で反射ビームfn′の
スポットがSP2となると、点線て示す特性となり測定精
度が低下する。
上記実施例では複数の発光素子と位置検出素子をそれ
ぞれ３組設けたが、これに限定しない。また、位置検出
素子のワイヤボンディングを変更することなく従来の自
動焦点ロジック用ICを適用できる効果がある。
ぞれ３組設けたが、これに限定しない。また、位置検出
素子のワイヤボンディングを変更することなく従来の自
動焦点ロジック用ICを適用できる効果がある。
［発明の効果］ 本発明によれば、複数の位置検出素子にそれぞれ供給
される電源電圧をそれぞれスイッチングする複数のスイ
ッチを設け、距離検出手段が電源を供給された位置検出
素子からの出力に基づき距離を検出するので、精度の高
い測距を行うことができる。また、複数の位置検出素子
に供給される電源電圧をスイッチングするスイッチを備
えているので省電力化が図れる。
される電源電圧をそれぞれスイッチングする複数のスイ
ッチを設け、距離検出手段が電源を供給された位置検出
素子からの出力に基づき距離を検出するので、精度の高
い測距を行うことができる。また、複数の位置検出素子
に供給される電源電圧をスイッチングするスイッチを備
えているので省電力化が図れる。
第１図は本発明による測距装置の一実施例を示すブロッ
ク図、第２図は第１図の特性図、第３図は従来の測距装
置のブロック図である。 ６…距離検出手段 LNS1……投光レンズ LNS2……受光レンズ LED1〜LED3……発光素子 PSD1〜PSD3……位置検出素子 SW1〜SW2……切換スイッチ
ク図、第２図は第１図の特性図、第３図は従来の測距装
置のブロック図である。 ６…距離検出手段 LNS1……投光レンズ LNS2……受光レンズ LED1〜LED3……発光素子 PSD1〜PSD3……位置検出素子 SW1〜SW2……切換スイッチ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平１−250813（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−196510（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−9013（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01C 3/00 - 3/32 G02B 7/32 G03B 13/36
Claims (1)
- 【請求項１】投光レンズを介して被写体へ投光ビームを
照射する発光素子と、 前記発光素子とそれぞれ所定の基線長を隔てて配置され
受光レンズを介して入射する反射ビームを受光する複数
の位置検出素子と、 前記複数の位置検出素子にそれぞれ供給される電源電圧
をそれぞれスイッチングする複数のスイッチと、 前記電源が供給された位置検出素子からの出力に基づき
距離を検出する距離検出手段と を含むことを特徴とする測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27635389A JP2881455B2 (ja) | 1989-10-24 | 1989-10-24 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27635389A JP2881455B2 (ja) | 1989-10-24 | 1989-10-24 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03137510A JPH03137510A (ja) | 1991-06-12 |
| JP2881455B2 true JP2881455B2 (ja) | 1999-04-12 |
Family
ID=17568252
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27635389A Expired - Fee Related JP2881455B2 (ja) | 1989-10-24 | 1989-10-24 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2881455B2 (ja) |
-
1989
- 1989-10-24 JP JP27635389A patent/JP2881455B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03137510A (ja) | 1991-06-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |