JP3253681B2 - カメラの測距装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明はカメラのピント合せを
行うためのカメラの測距装置（ＡＦ）に関し、特に画面
中央以外に被写体が存在する場合にもピントの合わない
写真になることを防止するカメラの測距装置に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】従来より、被写体に自動でピントを合わ
せようとする、いわゆるオートフォーカス（ＡＦ）の技
術が発展してきている。これらのＡＦ装置では、撮影者
がピントを合わせようとする主要被写体が画面中央に存
在する確率が高いことより、画面中央部のみ測距できる
ものが一般的であった。つまり、このようなＡＦ装置を
用いたカメラでは、画面中央に主要被写体が存在しない
場合、ピントの合わない写真を撮影してしまうこととな
った。

【０００３】また、いわゆるコンパクトカメラに於いて
は、赤外光を投射して被写体からの反射信号光を受光
し、その結果に従って被写体距離を求める赤外アクティ
ブ方式が一般的であった。

【０００４】そこで、特開昭５８−９０１３号公報に
は、この赤外光投射部（ＩＲＥＤ）を可動とすることに
より、画面中央以外の測距が可能な装置を開示してい
る。しかしながら、この装置では、手動で測距ポイント
を選択しなければならず、操作が煩わしいことから実用
化されていないものである。

【０００５】このような装置に対し、特開昭５８−２０
１０１５号公報には、測距用ＩＲＥＤを複数の位置に設
け、これらを自動的に順次発光させて各ポイントの測距
データを入力するという技術が開示されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】図１１は、こうした測
距用ＩＲＥＤを複数の位置に設けた場合の投光素子と受
光素子との関係を示した図である。これは投光素子と受
光素子の位置関係から測距を行うものであり、同図の３
つの投光素子を同時に発光させると、各受光素子に同時
に測距用光が入射されてしまう。その結果、投受光間の
位置関係がわからず、測距不能となる。したがって、各
素子を順次投光させることが必要となるが、そのため、
独立した投光ドライブ回路が必要となるうえ、測距に時
間がかかってしまう。また、各投光素子と受光素子間に
厳密な位置関係が必要となり、調整も困難なものであっ
た。

【０００７】例えば、図１２（ａ）に示されるような配
置の測距ポイントでは、上述した特開昭５８−２０１０
１５号公報に開示された技術で対応できる。しかしなが
ら、図１２（ｂ）に示されたように測距ポイントを配置
すると、図１１に示されるような構成では対応すること
ができない。

【０００８】この発明は上記課題に鑑みてなされたもの
で、より簡単な構成、処理で画面中央部以外に存在する
被写体に対してもピント合わせが可能で、且つローコス
トのカメラに於いても、煩わしい操作をしなくともピン
トはずれの少ないカメラの測距装置を提供することを目
的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】すなわちこの発明は、画
面中央部の被写体に向けて光束を投光する第１投光手段
と、この第１投光手段による上記被写体からの反射光を
受光し、その受光位置に基いて上記画面中央部の被写体
までの距離を演算する第１測距手段と、画面周辺部の被
写体に向けて光束を投光する第２投光手段と、この第２
投光手段による上記被写体からの反射光を受光し、その
反射光量に応じた光量信号を出力する光量検出手段と、
この光量検出手段の出力する光量信号に基いて上記画面
周辺部の被写体までの距離を演算する第２測距手段と、
を具備し、上記第１測距手段の出力が所定値以上の場合
に上記第２投光手段を作動させ、その際に、上記光量検
出手段により検出された反射光量が所定光量値に達しな
い場合には、上記第１測距手段による演算結果に基きピ
ント位置を決定することを特徴とする。

【００１０】

【作用】この発明のカメラの測距装置にあっては、第１
投光手段により画面中央部の被写体に向けて光束が投光
され、第１測距手段により上記第１投光手段による上記
被写体からの反射光が受光されて、その受光位置に基い
て上記画面中央部の被写体までの距離が演算され、第２
投光手段により画面周辺部の被写体に向けて光束が投光
され、光量検出手段により上記第２投光手段による上記
被写体からの反射光が受光されて、その反射光量に応じ
た光量信号が出力され、第２測距手段により上記光量検
出手段の出力する光量信号に基いて上記画面周辺部の被
写体までの距離が演算される。そして、上記第１測距手
段の出力が所定値以上の場合に上記第２投光手段を作動
させ、その際に、上記光量検出手段により検出された反
射光量が所定光量値に達しない場合には、上記第１測距
手段による演算結果に基いてピント位置が決定される。

【００１１】

【実施例】以下図面を参照して、この発明の実施例を説
明する。尚、以下に述べる実施例では、主要被写体は最
も近い距離にいるという従来の最至近選択による主要被
写体判定方法を前提とする。図１はこの発明に従った第
１の実施例で、発明の基本となる概念を示したブロック
図である。

【００１２】同図に於いて、ＣＰＵ１は、中央測距部
２、周辺投光部３、光量検出部４と結合されると共に、
ピント合わせ部５と結合されている。上記中央測距部２
は、従来のカメラに搭載されている公知の画面中央測距
用の測距手段であり、その測距結果がＣＰＵ１に送られ
る。このＣＰＵ１は、画面周辺部の被写体に向けて光束
を投光する周辺投光部３を制御すると共に、この周辺投
光部３による被写体からの反射光を受光する光量検出部
４から反射光量に応じた光量信号を受ける。ここで、Ｃ
ＰＵ１は、中央測距部２による測距結果、または光量検
出部４の出力を用いてピント合わせ部５を制御して被写
体距離を決定する。

【００１３】一般的な写真撮影シーンの略８０％までは
画面中央部に主要被写体が存在するので、上記中央測距
部２だけで略８０％のシーンは正しくピント合わせをす
ることが可能である。しかし、この中央測距だけでは測
距しきれないので、残りの略２０％を簡単な手段で正確
なピント合わせをしようとするのが、この発明の目的で
ある。

【００１４】一般に、カメラのＡＦ装置は、被写体の輝
度分布に従って測距を行うパッシブタイプと、被写体に
対して信号光を投射し、その被写体からの反射信号光よ
り測距を行う、より廉価なアクティブタイプの２つがあ
る。また、このアクティブタイプのＡＦ装置では、上記
反射信号光のセンサへの入射位置により測距を行う三角
測距方式と、上記反射信号光のセンサへの入射光量より
測距を行う光量検出方式の２つが一般的である。

【００１５】このうち三角測距方式は、専用の光位置検
出素子（ＰＳＤ）を用いたり分割型のセンサを用いる必
要があり構成が複雑となる。一方、光量検出方式では被
写体の反射率の影響を受けやすいという欠点があった。
しかし、この光量検出方式は、一般的な光電変換素子と
その出力検出レベルを判定する回路で構成することがで
きるので、最も廉価なＡＦ装置を提供することができる
ものであった。

【００１６】ここでは、この光量検出方式のＡＦ装置を
周辺測距用に採用することにより、廉価なカメラに於い
ても、ピントの合わない状態が少ないＡＦ装置を提供し
ようとするものである。

【００１７】例えば、図２（ａ）に示されるように、投
光用レンズ６に対して、発光素子７ａ、７ｂ、７ｃを配
置すると、上述した図１２（ｂ）のポイントの測距が可
能となる。この場合、受光用レンズ８を介して、受光素
子（センサ）９上に、上記発光素子７ａ、７ｂ、７ｃの
被写体からの反射光スポット９ａ、９ｂ、９ｃができ
る。この出力を、光量検出回路１０にて判定すれば測距
ができる。何故なら、被写体距離が遠いと被写体から光
が返ってこず、近い程反射信号光量が大きくなるからで
ある。この方式では、反射光のスポットがセンサ９に入
射すればよく、上述した三角測距方式のように投受光素
子間の厳密な位置関係の調整を必要としない。更に重要
なことに、センサ９は、一般の光電変換素子１個で構成
することができ、ＰＳＤや分割センサのような特殊なも
ので構成する必要がない。

【００１８】この考え方を拡張すると、図１２に示され
るような画面内に点在するポイントだけでなく、画面内
くまなく光を照射して、より広い領域を測距することも
同様に可能となる。例えば、図２（ｂ）に示されるよう
に、光源としてカメラのストロボ１１を用いても同様の
方法で測距が可能となる。この方式では、画面のどの部
分に被写体があっても、被写体がカメラの近くに存在す
れば多くの光量がセンサ９に入射（スポット９ｄ）する
し、被写体が遠くに存在すればセンサ９に入射する光量
が減少するということから測距が可能となる。しかし、
このような単純な判定によるものだけでは、被写体の反
射率や大きさによって反射光量が変動するため、あまり
正確な測距は期待できない。

【００１９】したがって、この発明では、主要被写体が
存在する画面中央部は、被写体の反射率や大きさに依存
しない三角測距方式によって正確に測距するので、略８
０％の被写体に対して、従来どおりピントのよい写真を
撮影することができる。更に残りの略２０％について
も、上記光量検出方式の周辺測距によってピントの向上
を可能にしたものである。

【００２０】また、光量検出測距では、受光素子に入射
する光の量だけを評価するので、複数のポイントに同時
に投光測距した場合、単純にそれらからの反射光量の総
和が出力となる。一方、三角測距方式では、１つの受光
素子（ＰＳＤ）にて同時に投光測距を行うと、各々のポ
イントからの反射光入射位置が複雑に干渉してしまう。
このため、こうした点も利用して総合的に、画面のピン
ト合わせに於ける中抜け現象を防止するカメラの測距装
置を提供できるようにしたものである。図３は、この発
明の第２の実施例で、カメラの測距装置の測距光学系の
配置を示した図である。

【００２１】ＩＲＥＤ１２の測距用光は、投光用レンズ
６を介して画面中央の被写体１３に対して投射される。
ストロボ１１は、画面内のより広い領域に対して測距用
光を投射するためのもので、この場合被写体１３及び１
４に対して投射される。尚、このストロボ１１は、スト
ロボ撮影用のものと共用してもよい。そして、受光用レ
ンズ８を介して入射されてくるもので、ＩＲＥＤ１２ま
たはストロボ１１による測距用光が光位置検出素子（Ｐ
ＳＤ）１５で受光される。

【００２２】ＡＦＩＣ１６は、ＰＳＤ１５の出力を増幅
し、演算する機能を有するもので、ＣＰＵ１７に対し、
ＰＳＤ１５の受光光量及びＰＳＤ１５に入射された光の
位置の２つの信号を出力する。このような構成によるカ
メラの測距装置の動作の最も簡単な例を、図４のフロー
チャートを参照して説明する。

【００２３】先ず、ステップＳ１にてＩＲＥＤ１２が発
光され、ＰＳＤ１５に入射された信号光の位置から、Ａ
ＦＩＣ１６で公知の赤外投光三角測距が行われる。これ
により、画面中央の測距結果ｌ₀ がＣＰＵ１７に入力さ
れる。

【００２４】次いで、ステップＳ２に於いて、ＣＰＵ１
７はｌ₀ が３ｍ以上であるか否かを判定する。ここで、
ｌ₀ が３ｍ以上である場合は、中央測距用のＩＲＥＤ１
２のビームが主要被写体１３に当らず、いわゆる中抜け
現象が起こったと判断してステップＳ３に進んでストロ
ボ１１を発光させる。ＡＦＩＣ１６はこのときＰＳＤ１
５に入射された光量ｉ_P を検出する。

【００２５】そして、ステップＳ４にて、ＣＰＵ１７は
上記光量ｉ_P が予め求めておいた図示されないカメラＣ
ＰＵの記憶している３ｍの距離に被写体である人間１人
が立っていた場合の光量ｉ_P3（固定値）と比較判定す
る。このステップＳ４に於いて、上記光量ｉ_P が、上記
固定の光量ｉ_P3より少ない場合はステップＳ５に進む。
そして、ステップＳ５及びＳ７にて、ｌ₀ に対してピン
ト合せを行う。

【００２６】一方、上記ステップＳ４にて、光量ｉ_P が
３ｍの距離に人間が１人立っている場合の光量ｉ_P3より
多いと判定された場合は、ステップＳ６に進む。そし
て、ステップＳ６及びＳ７にて、ｌ_P に対してピント合
せを行う。被写体からの反射光が被写体距離の二乗に反
比例することより、このｌ_P は数１の関係式より求めら
れる。

【００２７】

【数１】

【００２８】このような構成によって、画面中央部測距
用のＩＲＥＤ１２の光が、画面中央に存在しない主要被
写体１４に当らなくても、被写体１４へのピントが著し
く合わない写真撮影を防止することができる。また、被
写体１３が３ｍより近い時には中抜け現象はないものと
してストロボ発光を行わないので、無駄なエネルギーの
消費、光量検出ＡＦによる副作用等を防止することがで
きる。図５は、この発明の第３の実施例を示すもので、
カメラの測距装置の測距光学系の配置を示した図であ
る。

【００２９】同図に於いて、ＩＲＥＤ１８及び１９は、
各々ＩＲＥＤ１２と同じ光量を有するものである。ＰＳ
Ｄ１５の２つの出力は、アナログのＡＦＩＣ１６に入力
されている。このＡＦＩＣ１６は、ＰＳＤ１５の両出力
を増幅するプリアンプ２０、２１、これらのプリアンプ
２０、２１の出力の和を演算する光量検出回路２２、更
にプリアンプ２０、２１の出力比より、ＰＳＤ１５に入
射された信号光位置を検出するための光位置検出回路２
３等で構成されている。ＣＰＵ１７は、これらの出力よ
りＡＦのシーケンスを決定し、カメラのピント合せ用レ
ンズを制御する。

【００３０】同実施例は、この発明の特徴である信号の
光量検出回路２２と、光位置検出回路２３を用いて、簡
単に中抜け現象が起っているか否かを検出できる測距装
置を実現したものである。この構成の特徴を示す例とし
て、図６のフローチャートを参照して説明する。

【００３１】初めに、ステップＳ１１では、ＩＲＥＤ１
２、１８、１９を同時に発光し、その時にＰＳＤ１５に
入射される信号光量ｉ_PALLを検出する。次に、ステップ
Ｓ１２で、画面中央測距用のＩＲＥＤ１２を発光させ、
信号光量ｉ_P0を検出する。この時、同時にＡＦＩＣ１６
は光位置検出回路２３によって、公知の赤外発光三角測
距の原理より被写体距離ｌ₀ を求めておく。ＩＲＥＤ１
２、１８、１９が、同じ発光光量を有していることか
ら、３つのＩＲＥＤで同じ距離のものを測距したとき、
ｉ_P0とｉ_PALLの関係は次のようになる。 ｉ_P0＝ｉ_PALL／３ この関係より、ステップＳ１３にて ｉ_P0＞ｉ_PALL／３ の関係を満たすとき、中央にいる被写体が最も近い距離
であることがわかる。つまり、このとき、ステップＳ１
４を経てステップＳ２０にて中央の測距結果ｌ₀にピン
トを合わせればよい。

【００３２】一方、上記ステップＳ１３に於いて上記関
係を満たさないとき、図７（ａ）、（ｂ）及び（ｃ）の
何れかのように、画面中央以外の部分にカメラから近い
被写体が存在する状態であることがわかる。

【００３３】このように、光量を判定する方式では、１
つの受光素子を用いて、２回の発光動作にて中抜け状態
か否かを判定することができる。一般の三角測距方式で
は、１つの受光素子で中抜け状態を検出するためには、
３点ＡＦでは３回の発光動作が必要となる。更に、測距
ポイントが増えて画面の５ポイントに投光できるＡＦシ
ステムの場合、一般の三角測距方式では５回の投光動作
が必要なのに対し、本方式では、中抜け状態か否か、２
回の投光で判別が可能である。このとき、ステップＳ１
５にて、所定時間、発音、ＬＥＤ表示等の警告を出した
後、ステップＳ１６に進む。このステップＳ１６以降
は、図７（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の何れの状態かを判定
し、最至近の被写体にピントを合わせるフローとなって
いる。

【００３４】ステップＳ１６にて、ＩＲＥＤ１８を発光
さてせ反射信号光量ｉ_P1を求める。この結果を、上述し
たステップＳ１３と同様にステップＳ１７にてｉ_PALLと
比較する。すると、ステップＳ１７からステップＳ１８
に分岐するとき、図７（ａ）の状態であると考えられ
る。したがって、このとき得られた光量を基に被写体距
離ｌ_P をステップＳ１８にて演算し、ステップＳ２０で
ピント合せを行う。

【００３５】上記ステップＳ１８の演算方法について説
明すると、被写体距離の２乗に反比例して反射信号光量
が変化するという原理に基いている。つまり、数２の関
係式で表されるような関係がある。

【００３６】

【数２】 ｌ₀ を基準としてｌ_P を求めるため、ＩＲＥＤのパワー
や、受光素子の感度ばらつきを打消した測距が可能とな
る。

【００３７】ところで、上記ステップＳ１７からステッ
プＳ１９に進むと、図７（ｂ）、若しくは同図（ｃ）の
状態であると考えられる。また、ＩＲＥＤ１９を発光さ
せなくても、ＩＲＥＤ１８を発光させたときに得られる
光量ｉ_P2は、次の関係より求められる。 ｉ_P2＝ｉ_PALL−ｉ_P0−ｉ_P1 したがって、ステップＳ１９に於いて、上記ステップＳ
１８の原理にてピント合せ距離ｌ_P が求められる。こう
して、ステップＳ２０にて、ピント合わせをｌ_P の距離
に対して行う。また、図６のフローチャートのステップ
Ｓ１５に於ける警告機能をより生かしたものとして、次
のような例がある。

【００３８】図８及び図９は、この発明の第４の実施例
を示したもので、図８は３つのＩＲＥＤと測距用スポッ
トの配置関係を示した図、図９（ａ）は中央の測距用ス
ポットが正しく被写体に照射されている状態を示した
図、図９（ｂ）は中央の測距用スポットが被写体に照射
されていない状態の例を示した図である。

【００３９】すなわち、図８に示されるように、３つの
ＩＲＥＤ１２、１８、１９を隣接させて構成することに
より、測距用のスポット１２ｓ、１８ｓ、１９ｓが正し
く被写体に当っているかどうかの判別が可能となる。

【００４０】つまり、図９（ａ）に示されるように、中
央の測距用スポット１２ｓが正しく被写体に照射されて
いる場合は、図６のステップＳ１３からステップＳ１４
に分岐するので、警告は行われない。しかしながら、図
９（ｂ）に示されるように、中央のスポット１２ｓが抜
けていたり欠けていたりすると、上記ステップＳ１５に
て警告が行われる。

【００４１】この場合、撮影者は、警告時に正しく被写
体をフレーミングしなおすことにより、正確にピントの
合った写真を撮影することができる。従来のカメラで
は、測距用光として、より効率が高く、外光ノイズの影
響も受けにくい赤外光を用いることが多かったので、こ
のようなスポットはずれ時の確認を行うことはできなか
った。図１０は、図５で示されたＰＳＤへの信号光入射
位置と、入射光量を測定する回路部分をより詳しく示し
た回路構成図である。

【００４２】同図に於いて、ＰＳＤ１５の２つの出力ｉ
₁ 、ｉ₂ は、プリアンプ２４、２５及び増幅用トランジ
スタ２６、２７によって低入力インピーダンスで吸いと
られて増幅される。上記ｉ₁ 、ｉ₂ は、トランジスタ２
６、２７のベースに流し込まれるので、トランジスタ２
８、２９、３０から成るカレントミラー回路のコレクタ
にはλ₁ のβ倍の電流が、一方トランジスタ３１、３
２、３３から成るカレントミラー回路のコレクタにはｉ
₂ のβ倍の電流が流れることとなる。

【００４３】実際には、これらの電流の他に、トランジ
スタ２６、２７の直流バイアス電流Ｉ_B が流れている。
したがって、このバイアス電流Ｉ_B をとり除くために、
電流源３４、３５、３６がある。電流源３６は、トラン
ジスタ２９及び３２の電流を加算したものを、スイッチ
４６を介して積分用アンプ４７と積分用コンデンサ４８
にて積分するために、２×Ｉ_B 分の電流を流す。

【００４４】また、電流源３４、３５はＩ_B と同じ電流
値を流すように設計されており、従って、圧縮ダイオー
ド３７、３８には、ＰＳＤ１５の出力信号ｉ₁ 、ｉ₂ を
β倍増幅したものが流し込まれる。バッファ３９、４０
は、この圧縮電位をトランジスタ４１、４２等から成る
伸張演算回路の入力に供給するために設けられている。
ここで、これらの圧縮、伸張演算動作について説明す
る。

【００４５】トランジスタ４１、４２に流れる電流をｉ
_a 、ｉ_b とすると、ｉ_c の電流を流す電流源４３に両ト
ランジスタのエミッタが接続されているので、 ｉ_a ＋ｉ_b ＝ｉ_c の関係が成り立つ。

【００４６】また、ダイオード３７、３８と、トランジ
スタ４１、４２のＶ_BEの特性をそろえておくと、 ｉ_a ／ｉ_b ＝βｉ₁ ／βｉ₂ ＝ｉ₁ ／ｉ₂ の関係が成立する。したがって、ｉ_a は、 ｉ_a ＝（ｉ₁ ／（ｉ₁ ＋ｉ₂ ））ｉ_c となる。一方、ＰＳＤ１５には、その特性より信号光入
射位置ｘとの間に数３の関係式の如く関係がある。

【００４７】

【数３】 したがって、投受光光学系の配置や光学定数電流ｉ_c が
一定とすると、ｉ_a を求めることにより、信号光入射位
置ｘを求めることができる。

【００４８】また、ｉ₁ ＋ｉ₂ はＰＳＤ１５に入射した
信号光量に比例するので、トランジスタ２９、３２のコ
レクタ電流を加算して積分回路に流し込むと、積分コン
デンサ４８には、信号光量に比例した電圧が出力され
る。

【００４９】シーケンスコントローラ５０は、ＣＰＵ１
７からの信号を受けてＡＦ回路用のシーケンスを制御す
るロジック回路である。このシーケンスコントローラ５
０は、ＣＰＵ１７の命令に従って、リセット回路４５、
リセット用アンプ４９を制御すると共に、ドライバ５２
を介してＩＲＥＤ１２、１８、１９を選択投光する。

【００５０】これらＩＲＥＤの発光に先立って、リセッ
ト回路４５は積分コンデンサ４４の電荷を放電する。ま
た、リセット用アンプ４９もイネーブルされ、光量積分
用コンデンサ４８が初期化される。

【００５１】また、シーケンスコントローラ５０は、上
述した初期化シーケンスを所定時間後に終了すると、Ｉ
ＲＥＤをパルス発光させるが、これと同期してスイッチ
４６をオンにし、更に電流源４３をオンにする。したが
って、積分コンデンサ４８にはβ（ｉ₁ ＋ｉ₂ ）が、積
分コンデンサＣ４４にはｉ_a が、それぞれ積分される。
これらの積分結果の出力電圧は、各々ＰＳＤ１５への入
射光量及びＰＳＤ１５への信号光入射位置に比例してい
る。したがって、ＣＰＵ１７がＡ／Ｄ変換器５１を介し
て順次これらの積分電圧を読込み、光学系の配置や定数
を加味して演算することによって、被写体からの反射信
号光の大きさと、ＰＳＤ１５への入射位置を求めること
ができる。

【００５２】

【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、より簡
単な構成、処理で画面中央部以外に存在する被写体に対
してもピント合わせが可能で、よりローコストのカメラ
においても、わずらわしい操作なく、ピントはずれの少
ないカメラを提供することができ、中抜け状態を短いタ
イムラグで検出することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明に従った第１の実施例で、発明の基本
となる概念を示したブロック図である。

【図２】（ａ）は３つの発光素子を使用した場合の発光
素子と受光素子上の反射光スポットの関係を示した図、
（ｂ）は発光素子にストロボを使用した場合の発光素子
と受光素子上の反射光スポットの関係を示した図であ
る。

【図３】この発明の第２の実施例で、カメラの測距装置
の測距光学系の配置を示した図である。

【図４】図３の構成によるカメラの測距装置の動作を説
明するフローチャートである。

【図５】この発明の第３の実施例を示すもので、カメラ
の測距装置の測距光学系の配置を示した図である。

【図６】図５の構成のカメラの測距装置の動作を説明す
るフローチャートである。

【図７】画面内の被写体の位置の例を示した図である。

【図８】この発明の第４の実施例を示したもので、図８
は３つのＩＲＥＤと測距用スポットの配置関係を示した
図である。

【図９】この発明の第４の実施例を示したもので、
（ａ）は中央の測距用スポットが正しく被写体に照射さ
れている状態を示した図、（ｂ）は中央の測距用スポッ
トが被写体に照射されていない状態の例を示した図であ
る。

【図１０】図５で示されたＰＳＤへの信号光入射位置
と、入射光量を測定する回路部分をより詳しく示した回
路構成図である。

【図１１】従来の測距装置で、測距用ＩＲＥＤを複数の
位置に設けた場合の投光素子と受光素子との関係を示し
た図である。

【図１２】測距用ＩＲＥＤによる測距ポイントの例を示
した図である。

【符号の説明】

１、１７…ＣＰＵ、２…中央測距部、３…周辺投光部、
４…光量検出部、５…ピント合わせ部、６…投光用レン
ズ、７ａ、７ｂ、７ｃ…発光素子、８…受光用レンズ、
９…受光素子（センサ）、９ａ、９ｂ、９ｃ、９ｄ…反
射光スポット、１０…光量検出回路、１１…ストロボ、
１２、１８、１９…赤外光投射部（ＩＲＥＤ）、１３、
１４…被写体、１５…光位置検出素子（ＰＳＤ）、１６
…ＡＦＩＣ、２０、２１…プリアンプ、２２…光量検出
回路、２３…光位置検出回路。

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−124408（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−187325（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−62013（ＪＰ，Ａ) 特開 昭51−22462（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−62412（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−46605（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−291043（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−201308（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−290507（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−291111（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−50610（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G02B 7/28 - 7/36

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 画面中央部の被写体に向けて光束を投光
   する第１投光手段と、 この第１投光手段による上記被写体からの反射光を受光
   し、その受光位置に基いて上記画面中央部の被写体まで
   の距離を演算する第１測距手段と、 画面周辺部の被写体に向けて光束を投光する第２投光手
   段と、 この第２投光手段による上記被写体からの反射光を受光
   し、その反射光量に応じた光量信号を出力する光量検出
   手段と、 この光量検出手段の出力する光量信号に基いて上記画面
   周辺部の被写体までの距離を演算する第２測距手段と、 を具備し、上記第１測距手段の出力が所定値以上の場合に上記第２
   投光手段を作動させ、その際に、上記光量検出手段によ
   り検出された反射光量が所定光量値に達しない場合に
   は、 上記第１測距手段による演算結果に基きピント位置
   を決定することを特徴とするカメラの測距装置。