JPH0961159A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
- Publication number
- JPH0961159A JPH0961159A JP7214818A JP21481895A JPH0961159A JP H0961159 A JPH0961159 A JP H0961159A JP 7214818 A JP7214818 A JP 7214818A JP 21481895 A JP21481895 A JP 21481895A JP H0961159 A JPH0961159 A JP H0961159A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light receiving
- brightness
- distance measuring
- subject
- distance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
- G02B7/32—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Focusing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 三角測距タイプのパッシブ測距装置の受光部
を、測光処理の受光部に兼用すると共に、測距可能な輝
度レンジを拡大する。 【構成】 測距装置は、右側光学系１１と左側光学系１
２に対応して受光部２１、２２を配し、この間の光路中
に、受光部２１、２２の半分を覆うように、視感度補正
用の補正フィルター３０を設ける。まず、補正フィルタ
ー３０直下のフォトダイオード列で測光を行う。この結
果、高輝度の場合には、同じフォトダイオード列で検出
された光学像を用い三角測距処理を行う。低輝度の場合
には、受光処理を再起動させ、補正フィルター３０が存
在しない領域のフォトダイオード列で検出された光学像
を用い三角測距処理を行う。
を、測光処理の受光部に兼用すると共に、測距可能な輝
度レンジを拡大する。 【構成】 測距装置は、右側光学系１１と左側光学系１
２に対応して受光部２１、２２を配し、この間の光路中
に、受光部２１、２２の半分を覆うように、視感度補正
用の補正フィルター３０を設ける。まず、補正フィルタ
ー３０直下のフォトダイオード列で測光を行う。この結
果、高輝度の場合には、同じフォトダイオード列で検出
された光学像を用い三角測距処理を行う。低輝度の場合
には、受光処理を再起動させ、補正フィルター３０が存
在しない領域のフォトダイオード列で検出された光学像
を用い三角測距処理を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】被写体で反射される自然光を
基に、被写体までの距離を計測する三角測距タイプのパ
ッシブ方式の測距装置に関する。
基に、被写体までの距離を計測する三角測距タイプのパ
ッシブ方式の測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、部品点数の軽減を図るべく種
々の改良がなされており、このため１つの機能部品を異
なる目的に供用する場合がある。
々の改良がなされており、このため１つの機能部品を異
なる目的に供用する場合がある。
【０００３】この点、パッシブ測距装置における受光部
は、光の強度を測定する受光素子で構成されている。そ
こで、この受光素子の機能を利用することで、この受光
部を測光量を測定する際の受光部として兼用することも
可能である。
は、光の強度を測定する受光素子で構成されている。そ
こで、この受光素子の機能を利用することで、この受光
部を測光量を測定する際の受光部として兼用することも
可能である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、測光量を測定
する場合には、比視感度に近似した分光感度を有する受
光素子を用いる必要があり、測距用の受光部と測光用の
受光部とを単純に供用することはできない。通常、この
ように受光素子の分光感度を調整する場合には、受光素
子の比視感度を補正する目的で、受光素子に至る光路中
に感度補正フィルターを設けている。
する場合には、比視感度に近似した分光感度を有する受
光素子を用いる必要があり、測距用の受光部と測光用の
受光部とを単純に供用することはできない。通常、この
ように受光素子の分光感度を調整する場合には、受光素
子の比視感度を補正する目的で、受光素子に至る光路中
に感度補正フィルターを設けている。
【０００５】このように、パッシブ測距装置の受光素子
を測光用に用いる場合には、このような感度補正フィル
ターを受光素子に対して設けることが必要となる。しか
し、例えば外界輝度が低い場合などでは、当然に被写体
における自然光の反射光量も少なくなり、感度補正フィ
ルターを介して受光することで、被写体に微妙なコント
ラストがある場合には、その微妙な反射光の相異を良好
に受光できず、誤測距を発生させる要因にもなり得る。
を測光用に用いる場合には、このような感度補正フィル
ターを受光素子に対して設けることが必要となる。しか
し、例えば外界輝度が低い場合などでは、当然に被写体
における自然光の反射光量も少なくなり、感度補正フィ
ルターを介して受光することで、被写体に微妙なコント
ラストがある場合には、その微妙な反射光の相異を良好
に受光できず、誤測距を発生させる要因にもなり得る。
【０００６】本発明は、このような課題を解決すべくな
されたものであり、その目的は、パッシブ測距装置にお
ける受光素子を測光用に兼用した場合にも、良好に測距
を行い得る測距装置を提供することにある。
されたものであり、その目的は、パッシブ測距装置にお
ける受光素子を測光用に兼用した場合にも、良好に測距
を行い得る測距装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明にかかる
測距装置は、被写体で反射された光を受光し、この被写
体までの距離を計測するパッシブ方式の測距装置であっ
て、被写体で反射された光をそれぞれ集光させる２系統
の光学系に対応して配設する受光手段を次のように構成
する。すなわち、各受光手段に第１受光部と第２受光部
とを設け、それぞれの第１受光部は、複数のフォトセン
サを配列した第１フォトセンサ列で構成し、それぞれの
第２受光部は、複数のフォトセンサを配列した第２フォ
トセンサ列で構成し、かつ、この第２フォトセンサ列を
構成するフォトセンサの感度を補正する補正フィルタを
備えて構成する。このように構成することで、１つの受
光手段に対して、補正フィルタを設けた受光領域と、補
正フィルタを設けない受光領域が形成される。
測距装置は、被写体で反射された光を受光し、この被写
体までの距離を計測するパッシブ方式の測距装置であっ
て、被写体で反射された光をそれぞれ集光させる２系統
の光学系に対応して配設する受光手段を次のように構成
する。すなわち、各受光手段に第１受光部と第２受光部
とを設け、それぞれの第１受光部は、複数のフォトセン
サを配列した第１フォトセンサ列で構成し、それぞれの
第２受光部は、複数のフォトセンサを配列した第２フォ
トセンサ列で構成し、かつ、この第２フォトセンサ列を
構成するフォトセンサの感度を補正する補正フィルタを
備えて構成する。このように構成することで、１つの受
光手段に対して、補正フィルタを設けた受光領域と、補
正フィルタを設けない受光領域が形成される。
【０００８】また、請求項２にかかる測距装置では、さ
らに、補正フィルタを設けた２つの第２受光部によって
被写体の輝度を検出手段で検出し、検出された輝度が高
輝度か低輝度かを判断手段によって判断する。判断手段
によって高輝度と判断された場合には、補正フィルタを
設けた第２受光部で受光された光学像に基づいて被写体
までの距離を第１測距手段で計測する。また、判断手段
によって低輝度と判断された場合には、補正フィルタを
備えない第１受光部で受光された光学像に基づいて被写
体までの距離を第２測距手段で計測する。このようにし
て、被写体輝度に応じて好適に測距し得る第１受光部と
第２受光部とを適宜選択して使用する。
らに、補正フィルタを設けた２つの第２受光部によって
被写体の輝度を検出手段で検出し、検出された輝度が高
輝度か低輝度かを判断手段によって判断する。判断手段
によって高輝度と判断された場合には、補正フィルタを
設けた第２受光部で受光された光学像に基づいて被写体
までの距離を第１測距手段で計測する。また、判断手段
によって低輝度と判断された場合には、補正フィルタを
備えない第１受光部で受光された光学像に基づいて被写
体までの距離を第２測距手段で計測する。このようにし
て、被写体輝度に応じて好適に測距し得る第１受光部と
第２受光部とを適宜選択して使用する。
【０００９】請求項３にかかる測距装置では、請求項２
における検出手段を、各第２受光部を構成する各フォト
センサのセンサ出力の積分値のうち、最も速く所定の基
準レベルに到達したフォトセンサの応答時間を計時する
第１手段と、この第１手段で計時された応答時間を基
に、被写体の輝度を特定する第２手段とを備えて構成す
る。これにより、被写体の光学像の輝度のうち最も高い
輝度を検出し、この値を基に測光処理を簡易的に行う。
における検出手段を、各第２受光部を構成する各フォト
センサのセンサ出力の積分値のうち、最も速く所定の基
準レベルに到達したフォトセンサの応答時間を計時する
第１手段と、この第１手段で計時された応答時間を基
に、被写体の輝度を特定する第２手段とを備えて構成す
る。これにより、被写体の光学像の輝度のうち最も高い
輝度を検出し、この値を基に測光処理を簡易的に行う。
【００１０】請求項４にかかる測距装置では、請求項２
における検出手段を、各第２受光部を構成する前記各フ
ォトセンサのセンサ出力の積分値が所定の基準レベルを
越えた場合に検知信号を出力する手段であって、それぞ
れのフォトセンサに対応して個々に設けられた複数の第
３手段と、個々の第３手段から検知信号が出力されるま
での応答時間をそれぞれ計時する第４手段と、第４手段
で計時された応答時間データを基に、被写体の輝度を特
定する第５手段とを備えて構成する。このようにして、
第２受光部を構成する全てのフォトセンサの検出結果を
基にして、総合的に測光処理を行う。
における検出手段を、各第２受光部を構成する前記各フ
ォトセンサのセンサ出力の積分値が所定の基準レベルを
越えた場合に検知信号を出力する手段であって、それぞ
れのフォトセンサに対応して個々に設けられた複数の第
３手段と、個々の第３手段から検知信号が出力されるま
での応答時間をそれぞれ計時する第４手段と、第４手段
で計時された応答時間データを基に、被写体の輝度を特
定する第５手段とを備えて構成する。このようにして、
第２受光部を構成する全てのフォトセンサの検出結果を
基にして、総合的に測光処理を行う。
【００１１】請求項５にかかる測距装置では、この第５
手段で特定された輝度が判断手段で高輝度と判断された
場合、第１測距手段では、この測光処置の際に既に検出
された検出結果を利用して測距演算を実施する。すなわ
ち、第４手段で計時された全て或は一部の応答時間デー
タを基にして測距演算を実施する。
手段で特定された輝度が判断手段で高輝度と判断された
場合、第１測距手段では、この測光処置の際に既に検出
された検出結果を利用して測距演算を実施する。すなわ
ち、第４手段で計時された全て或は一部の応答時間デー
タを基にして測距演算を実施する。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
添付図面を参照して説明する。
添付図面を参照して説明する。
【００１３】図１に本実施形態にかかる測距装置を備え
たカメラの外観を示す。このカメラ１は、三角測距タイ
プのパッシブ方式の測距を実施すると共に、測光をも実
施し得る測距装置を備えている。
たカメラの外観を示す。このカメラ１は、三角測距タイ
プのパッシブ方式の測距を実施すると共に、測光をも実
施し得る測距装置を備えている。
【００１４】測距装置は、カメラ１の正面の上隅に設け
ており、被写体で反射される自然光を集光する２系統の
光学系として、右側光学系１１と左側光学系１２とを備
えている。
ており、被写体で反射される自然光を集光する２系統の
光学系として、右側光学系１１と左側光学系１２とを備
えている。
【００１５】図２（ａ）、（ｂ）に、右側光学系１１と
左側光学系１２の側面を示す。被写体やその背景で反射
された自然光は、両光学系前面の受光レンズ１３、１４
を介して集光され、その光学像が、両光学系１１、１２
内部に備えられた２つの受光部２１、２２上にそれぞれ
結ばれる。
左側光学系１２の側面を示す。被写体やその背景で反射
された自然光は、両光学系前面の受光レンズ１３、１４
を介して集光され、その光学像が、両光学系１１、１２
内部に備えられた２つの受光部２１、２２上にそれぞれ
結ばれる。
【００１６】各受光部２１、２２は、フォトダイオード
ＰＤ（図３参照）を一列に配列して構成したフォトダイ
オードアレイで構成されており、このフォトダイオード
アレイの半分を覆うように、受光レンズ１３、１４と各
受光部２１、２２との間の光路中には、視感度補正用の
補正フィルター３０を配設している。
ＰＤ（図３参照）を一列に配列して構成したフォトダイ
オードアレイで構成されており、このフォトダイオード
アレイの半分を覆うように、受光レンズ１３、１４と各
受光部２１、２２との間の光路中には、視感度補正用の
補正フィルター３０を配設している。
【００１７】図３に受光部２１、２２の構成をより具体
的に示す。前述したように、各受光部２１、２２は、フ
ォトダイオードＰＤを配列して構成しており、補正フィ
ルター３０に対応する領域には、フォトダイオード列２
１ａ、２２ａが位置し、補正フィルター３０で覆われて
いない領域には、フォトダイオード列２１ｂ、２２ｂが
位置している。前述した光学系１１、１２によって被写
体の光学像が受光部２１、２２上に結ばれた場合、右側
の光学系１１で集光された被写体の光学像は、フォトダ
イオード列２１ａ及びフォトダイオード列２１ｂにかけ
て形成され、同様に、左側の光学系１２で集光された被
写体の光学像は、フォトダイオード列２２ａ及びフォト
ダイオード列２２ｂにかけて形成される。
的に示す。前述したように、各受光部２１、２２は、フ
ォトダイオードＰＤを配列して構成しており、補正フィ
ルター３０に対応する領域には、フォトダイオード列２
１ａ、２２ａが位置し、補正フィルター３０で覆われて
いない領域には、フォトダイオード列２１ｂ、２２ｂが
位置している。前述した光学系１１、１２によって被写
体の光学像が受光部２１、２２上に結ばれた場合、右側
の光学系１１で集光された被写体の光学像は、フォトダ
イオード列２１ａ及びフォトダイオード列２１ｂにかけ
て形成され、同様に、左側の光学系１２で集光された被
写体の光学像は、フォトダイオード列２２ａ及びフォト
ダイオード列２２ｂにかけて形成される。
【００１８】また、受光部２１、２２に光学像が入射す
ると、個々のフォトダイオードＰＤからは、受光した光
の強度に応じた電流が出力される。この電流はフォトダ
イオードＰＤの接合容量で積分され、その積分値が信号
ｉとして出力される。また、各フォトダイオードＰＤに
対応して、コンパレータ４０が設けられており、各フォ
トダイオードＰＤからの出力信号は、コンパレータ４０
に与えられ、ここで基準電圧Ｖref と比較される。コン
パレータ４０では、出力信号ｉのレベルが基準電圧Ｖ
ref のレベルよりも大となった時点で信号Ｓを出力し、
この信号Ｓは量子化部（図示せず）に与えられる。この
量子化部では、各フォトダイオードＰＤから与えられる
信号Ｓの応答時間を検知しており、この信号Ｓの応答時
間は、積分値としての信号ｉのレベルが基準電圧Ｖref
に達するまでの時間であるため、各フォトダイオードＰ
Ｄで受光される光の強弱がこの信号Ｓの応答時間の長短
に変換されることになる。この信号Ｓの応答時間は、Ｃ
ＰＵから出力されるクロックをカウントすることによっ
て計測している。
ると、個々のフォトダイオードＰＤからは、受光した光
の強度に応じた電流が出力される。この電流はフォトダ
イオードＰＤの接合容量で積分され、その積分値が信号
ｉとして出力される。また、各フォトダイオードＰＤに
対応して、コンパレータ４０が設けられており、各フォ
トダイオードＰＤからの出力信号は、コンパレータ４０
に与えられ、ここで基準電圧Ｖref と比較される。コン
パレータ４０では、出力信号ｉのレベルが基準電圧Ｖ
ref のレベルよりも大となった時点で信号Ｓを出力し、
この信号Ｓは量子化部（図示せず）に与えられる。この
量子化部では、各フォトダイオードＰＤから与えられる
信号Ｓの応答時間を検知しており、この信号Ｓの応答時
間は、積分値としての信号ｉのレベルが基準電圧Ｖref
に達するまでの時間であるため、各フォトダイオードＰ
Ｄで受光される光の強弱がこの信号Ｓの応答時間の長短
に変換されることになる。この信号Ｓの応答時間は、Ｃ
ＰＵから出力されるクロックをカウントすることによっ
て計測している。
【００１９】ここで、この測距装置の動作を図４に基づ
いて説明する。まず、被写体にカメラを向けてレリーズ
スイッチがＯＮされると（＃１００）、電源電圧が読み
込まれて、電圧値のチェックが行われる（＃１０２、＃
１０４）。ここで、読み込まれた電圧値がしきい値に満
たない場合には（＃１０４で「ＮＯ」）、撮影処理が不
可能となるため、その旨を使用者に表示や警告音等で知
らせる等、所定のＮＧ処置に移行する（＃１０６）。
いて説明する。まず、被写体にカメラを向けてレリーズ
スイッチがＯＮされると（＃１００）、電源電圧が読み
込まれて、電圧値のチェックが行われる（＃１０２、＃
１０４）。ここで、読み込まれた電圧値がしきい値に満
たない場合には（＃１０４で「ＮＯ」）、撮影処理が不
可能となるため、その旨を使用者に表示や警告音等で知
らせる等、所定のＮＧ処置に移行する（＃１０６）。
【００２０】読み込まれた電圧値がしきい値をクリアし
ている場合には（＃１０４で「Ｙｅｓ」）、まず、受光
部２１、２２のフォトダイオード列２１ａ、２２ａのみ
を利用して測光処理を行う（＃１０８）。この場合、一
方の右側光学系１１を例に説明すると、右側光学系１１
で結ばれる被写体の光学像は、フォトダイオード列２１
ａからフォトダイオード列２１ｂにかけて形成される
が、測光を行う場合には、補正フィルター３０の下面に
位置するフォトダイオード列２１ａのみを選択し、ＣＰ
Ｕは、このフォトダイオード列２１ａのフォトダイオー
ドＰＤで検出される検出データ（各応答時間データ）の
みを選択する。他方の左側光学系１２でも同様に、補正
フィルター３０直下に位置するフォトダイオード列２２
ａのフォトダイオードＰＤで検出される検出データのみ
をＣＰＵが選択する。
ている場合には（＃１０４で「Ｙｅｓ」）、まず、受光
部２１、２２のフォトダイオード列２１ａ、２２ａのみ
を利用して測光処理を行う（＃１０８）。この場合、一
方の右側光学系１１を例に説明すると、右側光学系１１
で結ばれる被写体の光学像は、フォトダイオード列２１
ａからフォトダイオード列２１ｂにかけて形成される
が、測光を行う場合には、補正フィルター３０の下面に
位置するフォトダイオード列２１ａのみを選択し、ＣＰ
Ｕは、このフォトダイオード列２１ａのフォトダイオー
ドＰＤで検出される検出データ（各応答時間データ）の
みを選択する。他方の左側光学系１２でも同様に、補正
フィルター３０直下に位置するフォトダイオード列２２
ａのフォトダイオードＰＤで検出される検出データのみ
をＣＰＵが選択する。
【００２１】このように選択することで、測光の場合に
は、視感度用の補正フィルター３０を介して受光された
検出データのみが得られ、この検出データを用いて測光
処理を行う。具体的な測光手法としては、例えば、前述
の信号Ｓが最も速く検出された時間、すなわち、最も速
い応答時間を基に、被写体全体の輝度を簡易的に推測し
測光する方法を採用することもできる。なお、この場合
には、応答時間の最も速い信号Ｓが検出された時点で、
測光処理は中断する。
は、視感度用の補正フィルター３０を介して受光された
検出データのみが得られ、この検出データを用いて測光
処理を行う。具体的な測光手法としては、例えば、前述
の信号Ｓが最も速く検出された時間、すなわち、最も速
い応答時間を基に、被写体全体の輝度を簡易的に推測し
測光する方法を採用することもできる。なお、この場合
には、応答時間の最も速い信号Ｓが検出された時点で、
測光処理は中断する。
【００２２】次に、＃１０８で得られた値より、被写体
の輝度が高輝度か低輝度かを判断する（＃１１０）。例
えばＬｖ．６以上の場合を高輝度、Ｌｖ．６未満の場合
を低輝度と判断する。ここで、被写体輝度が高過ぎる場
合には、出力される各信号Ｓの検出タイミングの差が明
確に検知できない状況も起り得るが、このような場合に
は、被写体の微妙なコントラストが良好に検知できな
い。
の輝度が高輝度か低輝度かを判断する（＃１１０）。例
えばＬｖ．６以上の場合を高輝度、Ｌｖ．６未満の場合
を低輝度と判断する。ここで、被写体輝度が高過ぎる場
合には、出力される各信号Ｓの検出タイミングの差が明
確に検知できない状況も起り得るが、このような場合に
は、被写体の微妙なコントラストが良好に検知できな
い。
【００２３】そこで、被写体の輝度が高輝度であると判
断された場合には（＃１１０で「Ｙｅｓ」）、ＣＰＵ
は、まず、補正フィルター３０に対応して設けたフォト
ダイオード列２１ａ、２２ａを選択する。そして、これ
に対応する各フォトダイオードＰＤにおける検出処理を
再起動させ、かかるフォトダイオードＰＤから得られる
検出結果を基に測距処理を実施する。これにより、フォ
トダイオードＰＤに入射する光強度が低減され、微妙な
コントラストの差も良好に検出できる。なお、測距処理
も前述した測光処理と基本的には同じであるが、この場
合にはフォトダイオード列２１ａ、２２ａを構成する全
てまたは一部のフォトダイオードＰＤによる検出データ
（各信号Ｓの応答時間データ）に基づき、得られた２つ
の光学像の位相差等により被写体までの距離を演算する
（＃１１２）。
断された場合には（＃１１０で「Ｙｅｓ」）、ＣＰＵ
は、まず、補正フィルター３０に対応して設けたフォト
ダイオード列２１ａ、２２ａを選択する。そして、これ
に対応する各フォトダイオードＰＤにおける検出処理を
再起動させ、かかるフォトダイオードＰＤから得られる
検出結果を基に測距処理を実施する。これにより、フォ
トダイオードＰＤに入射する光強度が低減され、微妙な
コントラストの差も良好に検出できる。なお、測距処理
も前述した測光処理と基本的には同じであるが、この場
合にはフォトダイオード列２１ａ、２２ａを構成する全
てまたは一部のフォトダイオードＰＤによる検出データ
（各信号Ｓの応答時間データ）に基づき、得られた２つ
の光学像の位相差等により被写体までの距離を演算する
（＃１１２）。
【００２４】そして、得られた測距データに基づいて撮
影レンズをセットするなど（＃１１６）、以降の撮影処
理はこの測距値をもとに実施される（＃１１８）。
影レンズをセットするなど（＃１１６）、以降の撮影処
理はこの測距値をもとに実施される（＃１１８）。
【００２５】一方、被写体輝度が低いと判断された場合
には（＃１１０で「Ｎｏ」）、ＣＰＵは、まず、補正フ
ィルター３０を設けていない側のフォトダイオード列２
１ｂ、２２ｂを選択する。そして、これに対応する各フ
ォトダイオードＰＤにおける検出処理を再起動させ、か
かるフォトダイオードＰＤから得られる検出結果を基
に、測距処理を実施する（＃１１４）。
には（＃１１０で「Ｎｏ」）、ＣＰＵは、まず、補正フ
ィルター３０を設けていない側のフォトダイオード列２
１ｂ、２２ｂを選択する。そして、これに対応する各フ
ォトダイオードＰＤにおける検出処理を再起動させ、か
かるフォトダイオードＰＤから得られる検出結果を基
に、測距処理を実施する（＃１１４）。
【００２６】そして、得られた測距データに基づいて、
上記と同様に、＃１１６、＃１１８の処理が実行され
る。
上記と同様に、＃１１６、＃１１８の処理が実行され
る。
【００２７】このように、被写体輝度に応じて受光部す
るフォトダイオードを切換えて用いることで、この受光
部２１、２２で良好に検出できる被写体輝度の範囲が広
がる。なお、フォトダイオード列２１ａ、２２ａとフォ
トダイオード列２１ｂ、２２ｂとを切換えることで、厳
密には、対象となっている被写体の測距範囲も微妙に変
化する。しかし、この差を１．５°に設定すれば、３ｍ
先の被写体を想定すると、その測距範囲のズレは、わず
か７８ｍｍ程度であり、被写体が人物である場合が多い
ことも勘案すると、測距に際して実質的な支障はないと
考えられる。また、受光部２１、２２とフィルター３０
との位置関係を、図５（ａ）、（ｂ）に示すようにする
ことで、測距範囲のズレをより小さくすることが可能で
ある。
るフォトダイオードを切換えて用いることで、この受光
部２１、２２で良好に検出できる被写体輝度の範囲が広
がる。なお、フォトダイオード列２１ａ、２２ａとフォ
トダイオード列２１ｂ、２２ｂとを切換えることで、厳
密には、対象となっている被写体の測距範囲も微妙に変
化する。しかし、この差を１．５°に設定すれば、３ｍ
先の被写体を想定すると、その測距範囲のズレは、わず
か７８ｍｍ程度であり、被写体が人物である場合が多い
ことも勘案すると、測距に際して実質的な支障はないと
考えられる。また、受光部２１、２２とフィルター３０
との位置関係を、図５（ａ）、（ｂ）に示すようにする
ことで、測距範囲のズレをより小さくすることが可能で
ある。
【００２８】以上説明したフローチャートの中、＃１０
８で行う測光処理は、以下のようにして行うこともでき
る。例えば、選択されたフォトダイオード列を構成する
全てのフォトダイオードＰＤの検出データを利用し、こ
の値を平均化することで、いわゆる平均測光が実施でき
る。また、個々のフォトダイオードＰＤから得られる検
出結果のうち、特定のフォトダイオードＰＤから得られ
る検出結果に重み付けして加算することで、いわゆる中
央重点測光も実施でき、さらに、任意範囲のフォトダイ
オードＰＤに限定し検出結果を加算することで、測光範
囲を選定することも可能である。
８で行う測光処理は、以下のようにして行うこともでき
る。例えば、選択されたフォトダイオード列を構成する
全てのフォトダイオードＰＤの検出データを利用し、こ
の値を平均化することで、いわゆる平均測光が実施でき
る。また、個々のフォトダイオードＰＤから得られる検
出結果のうち、特定のフォトダイオードＰＤから得られ
る検出結果に重み付けして加算することで、いわゆる中
央重点測光も実施でき、さらに、任意範囲のフォトダイ
オードＰＤに限定し検出結果を加算することで、測光範
囲を選定することも可能である。
【００２９】また、以上説明した測距装置では、受光部
の受光素子としてフォトダイオードを例示したが、ＣＣ
Ｄなどの撮像素子を用いて受光部を構成することもでき
る。
の受光素子としてフォトダイオードを例示したが、ＣＣ
Ｄなどの撮像素子を用いて受光部を構成することもでき
る。
【００３０】また、受光部の一部に視感度補正フィルタ
ーを備え、受光部２１と受光部２２とを別々に設けたタ
イプを例示したが、図６（ａ）、（ｂ）に示すように、
受光部２１、２２を一体的に形成した受光部２１’を設
け、対応する光路中にフィルター３０を配設してもよ
い。さらに、視感度補正フィルターを備えたフォトダイ
オード列と、これとは別体のフォトダイオード列（補正
フィルターなし）を隣接させて、１つの受光部２１或は
２２を構成することも可能である。
ーを備え、受光部２１と受光部２２とを別々に設けたタ
イプを例示したが、図６（ａ）、（ｂ）に示すように、
受光部２１、２２を一体的に形成した受光部２１’を設
け、対応する光路中にフィルター３０を配設してもよ
い。さらに、視感度補正フィルターを備えたフォトダイ
オード列と、これとは別体のフォトダイオード列（補正
フィルターなし）を隣接させて、１つの受光部２１或は
２２を構成することも可能である。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように、各請求項にかかる
測距装置は、１つの受光手段に対して、補正フィルタを
設けた第２受光部と補正フィルタを設けない第１受光部
とが形成されるため、測距用の受光部と測光用の受光部
の２種の受光部を１つの受光手段に対して容易に形成で
きる。
測距装置は、１つの受光手段に対して、補正フィルタを
設けた第２受光部と補正フィルタを設けない第１受光部
とが形成されるため、測距用の受光部と測光用の受光部
の２種の受光部を１つの受光手段に対して容易に形成で
きる。
【００３２】特に、請求項２にかかる測距装置では、判
断手段で被写体が高輝度か低輝度かを判断し、第１受光
部と第２受光部とを切換えて使用することができるた
め、良好に測距し得る輝度範囲を拡大することが可能と
なる。
断手段で被写体が高輝度か低輝度かを判断し、第１受光
部と第２受光部とを切換えて使用することができるた
め、良好に測距し得る輝度範囲を拡大することが可能と
なる。
【００３３】また、このように兼用することで、結果的
に測光を行う第２受光部がフォトセンサ列で構成される
ため、請求項３〜５にかかる測距装置のように、種々の
測光処理を実施することも可能となる。
に測光を行う第２受光部がフォトセンサ列で構成される
ため、請求項３〜５にかかる測距装置のように、種々の
測光処理を実施することも可能となる。
【図１】測距装置を備えたカメラの外観を示す正面図で
ある。
ある。
【図２】（ａ）は２つの光学系とそれに対応した受光部
を示す側断面図、（ｂ）は受光部のみをとりだして示す
平面図である。
を示す側断面図、（ｂ）は受光部のみをとりだして示す
平面図である。
【図３】受光部を拡大して示すと共に、その周辺の素子
との接続及び信号等を概略的に示す説明図である。
との接続及び信号等を概略的に示す説明図である。
【図４】測光及び測距動作を示すフローチャートであ
る。
る。
【図５】（ａ）は２つの光学系とそれに対応した受光部
を示す側断面図、（ｂ）は受光部のみをとりだして示す
平面図である。
を示す側断面図、（ｂ）は受光部のみをとりだして示す
平面図である。
【図６】（ａ）は２つの光学系とそれに対応した受光部
を示す側断面図、（ｂ）は受光部のみをとりだして示す
平面図である。
を示す側断面図、（ｂ）は受光部のみをとりだして示す
平面図である。
１１…右側光学系、１２…左側光学系、２１、２２…受
光部、２１ａ、２２ａ…フォトダイオード列（第２フォ
トセンサ列）、２１ｂ、２２ｂ…フォトダイオード列
（第１フォトセンサ列）、３０…補正フィルター、ＰＤ
…フォトダイオード。
光部、２１ａ、２２ａ…フォトダイオード列（第２フォ
トセンサ列）、２１ｂ、２２ｂ…フォトダイオード列
（第１フォトセンサ列）、３０…補正フィルター、ＰＤ
…フォトダイオード。
Claims (5)
- 【請求項１】 被写体で反射された光を受光し、この被
写体までの距離を計測するパッシブ方式の測距装置であ
って、 前記被写体で反射された光をそれぞれ集光させる２系統
の光学系と、 前記２系統の光学系に対応してそれぞれ配設され、対応
する前記光学系で集光された光学像を検出する受光手段
とを備えており、 それぞれの前記受光手段は、第１受光部と第２受光部と
を有しており、 前記各第１受光部は、複数のフォトセンサを配列した第
１フォトセンサ列で構成され、 前記各第２受光部は、複数のフォトセンサを配列した第
２フォトセンサ列で構成され、かつ、この第２フォトセ
ンサ列を構成するフォトセンサの感度を補正する補正フ
ィルタを備えたことを特徴とする測距装置。 - 【請求項２】 ２つの前記第２受光部で受光された前記
被写体の光学像を基に、前記被写体の輝度を検出する検
出手段と、 前記検出手段で検出された輝度が高輝度か低輝度かを判
断する判断手段と、 前記判断手段によって高輝度と判断された場合に、２つ
の前記第２受光部で受光された光学像に基づき、前記被
写体までの距離を計測する第１測距手段と、 前記判断手段によって低輝度と判断された場合に、２つ
の前記第１受光部で受光された光学像に基づき、前記被
写体までの距離を計測する第２測距手段とを備えること
を特徴とする請求項１記載の測距装置。 - 【請求項３】 前記検出手段は、 前記各第２受光部を構成する前記各フォトセンサのセン
サ出力の積分値のうち、最も速く所定の基準レベルに到
達したフォトセンサの応答時間を計時する第１手段と、 前記第１手段で計時された応答時間を基に、前記被写体
の輝度を特定する第２手段とを備えることを特徴とする
請求項２記載の測距装置。 - 【請求項４】 前記検出手段は、 前記各第２受光部を構成する前記各フォトセンサのセン
サ出力の積分値が所定の基準レベルを越えた場合に検知
信号を出力する手段であって、それぞれの前記フォトセ
ンサに対応して個々に設けられた複数の第３手段と、 個々の前記第３手段から前記検知信号が出力されるまで
の応答時間をそれぞれ計時する第４手段と、 前記第４手段で計時された前記応答時間データを基に、
前記被写体の輝度を特定する第５手段とを備えることを
特徴とする請求項２記載の測距装置。 - 【請求項５】 前記第５手段で特定された輝度が前記判
断手段によって高輝度と判断された場合、前記第１測距
手段では、前記第４手段で既に計時された前記応答時間
データを基に測距演算を実施することを特徴とする請求
項４記載の測距装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21481895A JP3691124B2 (ja) | 1995-08-23 | 1995-08-23 | 測距装置 |
| US08/701,504 US5721978A (en) | 1995-08-23 | 1996-08-22 | Distance measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21481895A JP3691124B2 (ja) | 1995-08-23 | 1995-08-23 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0961159A true JPH0961159A (ja) | 1997-03-07 |
| JP3691124B2 JP3691124B2 (ja) | 2005-08-31 |
Family
ID=16662036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21481895A Expired - Fee Related JP3691124B2 (ja) | 1995-08-23 | 1995-08-23 | 測距装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5721978A (ja) |
| JP (1) | JP3691124B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100338440B1 (ko) * | 1999-12-15 | 2002-05-27 | 이중구 | 패시브 에이에프 모듈을 이용한 측광 방법 |
| JP2007171430A (ja) * | 2005-12-21 | 2007-07-05 | Chinontec Kk | オートフォーカス用カメラ、投射型表示装置、ｄｌｐプロジェクタ |
| CN103322974A (zh) * | 2012-03-21 | 2013-09-25 | 株式会社理光 | 多透镜摄像机系统、安装多透镜摄像机系统的交通工具，以及由多透镜摄像机系统执行的测距方法 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6215961B1 (en) * | 1996-01-29 | 2001-04-10 | Minolta Co., Ltd. | Camera |
| US6605330B2 (en) | 2001-11-13 | 2003-08-12 | Eastman Kodak Company | Phase-change recording element for write once applications |
| JP5901935B2 (ja) * | 2011-10-24 | 2016-04-13 | 株式会社東芝 | 固体撮像装置及びカメラモジュール |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0437936U (ja) * | 1990-07-30 | 1992-03-31 | ||
| JPH04336514A (ja) * | 1991-05-14 | 1992-11-24 | Mitsubishi Electric Corp | 距離測定装置 |
| JPH07115643A (ja) * | 1993-10-19 | 1995-05-02 | Toyota Motor Corp | 車載用撮像装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5420726A (en) * | 1977-07-18 | 1979-02-16 | Bell & Howell Japan | Automatic focus adjusting device |
| JPS6020111A (ja) * | 1983-07-14 | 1985-02-01 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 距離測定装置 |
-
1995
- 1995-08-23 JP JP21481895A patent/JP3691124B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-08-22 US US08/701,504 patent/US5721978A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0437936U (ja) * | 1990-07-30 | 1992-03-31 | ||
| JPH04336514A (ja) * | 1991-05-14 | 1992-11-24 | Mitsubishi Electric Corp | 距離測定装置 |
| JPH07115643A (ja) * | 1993-10-19 | 1995-05-02 | Toyota Motor Corp | 車載用撮像装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100338440B1 (ko) * | 1999-12-15 | 2002-05-27 | 이중구 | 패시브 에이에프 모듈을 이용한 측광 방법 |
| JP2007171430A (ja) * | 2005-12-21 | 2007-07-05 | Chinontec Kk | オートフォーカス用カメラ、投射型表示装置、ｄｌｐプロジェクタ |
| CN103322974A (zh) * | 2012-03-21 | 2013-09-25 | 株式会社理光 | 多透镜摄像机系统、安装多透镜摄像机系统的交通工具，以及由多透镜摄像机系统执行的测距方法 |
| US9420151B2 (en) | 2012-03-21 | 2016-08-16 | Ricoh Company, Ltd. | Multi-lens camera system, vehicle mounting the multi-lens camera system, and range-finding method executed by the multi-lens camera system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5721978A (en) | 1998-02-24 |
| JP3691124B2 (ja) | 2005-08-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2002244027A (ja) | 測距装置 | |
| US6243537B1 (en) | Distance measuring apparatus | |
| US6434332B1 (en) | Distance-measuring device, distance-measuring method and camera using the same | |
| US6718133B2 (en) | Measuring distance device | |
| JPH0961159A (ja) | 測距装置 | |
| US5655160A (en) | Distance measuring apparatus | |
| US6350976B1 (en) | Distance measuring apparatus | |
| US6411782B1 (en) | Multi-autofocus distance-measuring system with a wide distance-measuring area | |
| US7075578B1 (en) | Digital camera with flash emission control | |
| JPH09105974A (ja) | カメラ | |
| US6442345B1 (en) | Distance-measuring device and distance-measuring method | |
| JP4512173B2 (ja) | 測距装置 | |
| US6385402B1 (en) | Distance measuring apparatus | |
| JP3955201B2 (ja) | オートフォーカスカメラ | |
| US6438324B1 (en) | Multi-autofocus distance-measuring system with a wide distance-measuring area | |
| JPH07168090A (ja) | カメラの測距装置 | |
| JPH1096851A (ja) | カメラの測距装置 | |
| JP3326407B2 (ja) | 測距装置 | |
| JP2001154089A (ja) | 測距装置 | |
| JPH0246416A (ja) | 焦点検出装置 | |
| JPH10197337A (ja) | 光電変換装置 | |
| JPH11118476A (ja) | 測距装置 | |
| JPS63296477A (ja) | イメージセンシングシステム | |
| JP2950654B2 (ja) | カメラ | |
| JP3253681B2 (ja) | カメラの測距装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050516 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050615 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080624 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090624 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090624 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100624 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100624 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110624 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110624 Year of fee payment: 6 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110624 Year of fee payment: 6 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110624 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120624 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120624 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130624 Year of fee payment: 8 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |