JPH1062159A - 光学センサの受光レンズ位置調整方法 - Google Patents
光学センサの受光レンズ位置調整方法Info
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- JPH1062159A JPH1062159A JP21463496A JP21463496A JPH1062159A JP H1062159 A JPH1062159 A JP H1062159A JP 21463496 A JP21463496 A JP 21463496A JP 21463496 A JP21463496 A JP 21463496A JP H1062159 A JPH1062159 A JP H1062159A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】短時間で受光レンズの位置調整を行うことがで
きる光学センサの受光レンズ位置調整方法を提供する。 【解決手段】受光レンズ６は、反射板７の反射光を受光
素子５に集光させる。受光素子５は反射光の集光位置か
ら反射板７の位置を検出し、この光学センサは反射板７
と基準距離Ａとの遠近に応じてオン／オフ信号を出力す
る。受光レンズ６の位置を調整する場合、まず、反射板
７を基準距離Ａよりも遠い距離Ｂの位置に移動させた状
態で、センサ出力がオンからオフに切り替わるまで、調
整手段は受光レンズ６を初期送り位置Ｐ0 から１５αμ
ｍずつ移動させる。センサ出力がオフになると、反射板
７を基準距離Ａに移動させた状態で、再び、センサ出力
がオンからオフになるまで、調整手段は受光レンズ６を
αμｍずつ移動させて、受光レンズ６を所定位置Ｐ2 ま
で移動させる。
きる光学センサの受光レンズ位置調整方法を提供する。 【解決手段】受光レンズ６は、反射板７の反射光を受光
素子５に集光させる。受光素子５は反射光の集光位置か
ら反射板７の位置を検出し、この光学センサは反射板７
と基準距離Ａとの遠近に応じてオン／オフ信号を出力す
る。受光レンズ６の位置を調整する場合、まず、反射板
７を基準距離Ａよりも遠い距離Ｂの位置に移動させた状
態で、センサ出力がオンからオフに切り替わるまで、調
整手段は受光レンズ６を初期送り位置Ｐ0 から１５αμ
ｍずつ移動させる。センサ出力がオフになると、反射板
７を基準距離Ａに移動させた状態で、再び、センサ出力
がオンからオフになるまで、調整手段は受光レンズ６を
αμｍずつ移動させて、受光レンズ６を所定位置Ｐ2 ま
で移動させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、測定物体の位置を
検出するための三角測距方式の光学センサの受光レンズ
位置調整方法に関するものである。
検出するための三角測距方式の光学センサの受光レンズ
位置調整方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、投光素子から測定物体に光を
照射し、測定物体の反射光を受光レンズを用いて受光素
子上に集光して、その集光位置から測定物体の位置を検
出する三角測距方式の光学センサがあり、以下のような
方法で受光レンズの位置を調整していた。
照射し、測定物体の反射光を受光レンズを用いて受光素
子上に集光して、その集光位置から測定物体の位置を検
出する三角測距方式の光学センサがあり、以下のような
方法で受光レンズの位置を調整していた。
【０００３】光学センサは、図３及び図４に示すよう
に、投光素子３と、投光素子３の照射光を測定物体に投
光させる投光レンズ４と、測定物体からの反射光の集光
位置から測定物体の位置を検出するＰＳＤ素子からなる
受光素子５と、測定物体からの反射光を受光素子５に集
光させる受光レンズ６と、投光素子３及び受光素子５が
実装されたプリント基板２と、プリント基板２上に被着
されるボディ１とを備えており、測定物体が所定の基準
距離よりも近くにある場合、オン信号を出力し、測定物
体が基準距離よりも遠くにある場合、オフ信号を出力し
ている。
に、投光素子３と、投光素子３の照射光を測定物体に投
光させる投光レンズ４と、測定物体からの反射光の集光
位置から測定物体の位置を検出するＰＳＤ素子からなる
受光素子５と、測定物体からの反射光を受光素子５に集
光させる受光レンズ６と、投光素子３及び受光素子５が
実装されたプリント基板２と、プリント基板２上に被着
されるボディ１とを備えており、測定物体が所定の基準
距離よりも近くにある場合、オン信号を出力し、測定物
体が基準距離よりも遠くにある場合、オフ信号を出力し
ている。
【０００４】ここで、投光レンズ４はボディ１の取付面
１ａに配設されており、投光レンズ４を取付面１ａの奥
まで押し込むことによって、投光レンズ４は位置決めさ
れる。一方、受光レンズ６はボディ１の取付面１ｂに配
設され、突起リブ６ａにて取付面１ｂに圧入されてい
る。ところで、受光素子５の両端電極に流れる電流
Ｉ1 ，Ｉ2 は、受光素子５上の反射光の集光位置によっ
て異なっている。受光レンズ６が所定位置Ｐ3 にあり、
測定物体たる反射板７が投光レンズ４から基準距離Ａの
位置にある場合、反射光の集光位置は受光素子５の略中
央となり、電流Ｉ1 ，Ｉ2 は略等しくなる。一方、反射
板７が基準距離Ａよりも近くに移動すると、反射光の集
光位置が受光素子５の図中Ｉ1 側となり、電流Ｉ1 が大
きくなる。また、反射板７が基準距離Ａよりも遠くに移
動すると、反射光の集光位置が受光素子５の図中Ｉ2 側
となり、電流Ｉ2 が大きくなる。ここで、電流Ｉ1 が電
流Ｉ2 よりも大きくなると（Ｉ1 ＞Ｉ2 ）、光学センサ
のセンサ出力はオンとなるので、反射板７が基準距離Ａ
よりも近くにあると、センサ出力はオンとなり、基準距
離Ａよりも遠くにあるとセンサ出力はオフになる。
１ａに配設されており、投光レンズ４を取付面１ａの奥
まで押し込むことによって、投光レンズ４は位置決めさ
れる。一方、受光レンズ６はボディ１の取付面１ｂに配
設され、突起リブ６ａにて取付面１ｂに圧入されてい
る。ところで、受光素子５の両端電極に流れる電流
Ｉ1 ，Ｉ2 は、受光素子５上の反射光の集光位置によっ
て異なっている。受光レンズ６が所定位置Ｐ3 にあり、
測定物体たる反射板７が投光レンズ４から基準距離Ａの
位置にある場合、反射光の集光位置は受光素子５の略中
央となり、電流Ｉ1 ，Ｉ2 は略等しくなる。一方、反射
板７が基準距離Ａよりも近くに移動すると、反射光の集
光位置が受光素子５の図中Ｉ1 側となり、電流Ｉ1 が大
きくなる。また、反射板７が基準距離Ａよりも遠くに移
動すると、反射光の集光位置が受光素子５の図中Ｉ2 側
となり、電流Ｉ2 が大きくなる。ここで、電流Ｉ1 が電
流Ｉ2 よりも大きくなると（Ｉ1 ＞Ｉ2 ）、光学センサ
のセンサ出力はオンとなるので、反射板７が基準距離Ａ
よりも近くにあると、センサ出力はオンとなり、基準距
離Ａよりも遠くにあるとセンサ出力はオフになる。
【０００５】したがって、反射板７が投光レンズ４から
基準距離Ａの位置にある時に、反射板７の反射光が受光
素子５の略中央に集光して、電流Ｉ1 ，Ｉ2 が略等しく
なるように受光レンズ６の位置を調整すれば、反射板７
が基準距離Ａの位置を前後に移動すると、センサ出力の
オン／オフが切り換わる。ここで、受光レンズ６の位置
を、例えば調整手段（図示せず）を用いて調整する方法
について、図４及び図５を用いて説明する。
基準距離Ａの位置にある時に、反射板７の反射光が受光
素子５の略中央に集光して、電流Ｉ1 ，Ｉ2 が略等しく
なるように受光レンズ６の位置を調整すれば、反射板７
が基準距離Ａの位置を前後に移動すると、センサ出力の
オン／オフが切り換わる。ここで、受光レンズ６の位置
を、例えば調整手段（図示せず）を用いて調整する方法
について、図４及び図５を用いて説明する。
【０００６】まず、調整手段が、反射板７を基準距離Ａ
の位置に置いて、受光レンズ６を初期送り位置Ｐ0 に置
く（ステップ３１）。次に、調整手段は、外部スタート
信号及び電源を光学センサに印加し（ステップ３２）、
センサ出力を得て、センサ出力がオンかオフかを判定す
る（ステップ３３）。
の位置に置いて、受光レンズ６を初期送り位置Ｐ0 に置
く（ステップ３１）。次に、調整手段は、外部スタート
信号及び電源を光学センサに印加し（ステップ３２）、
センサ出力を得て、センサ出力がオンかオフかを判定す
る（ステップ３３）。
【０００７】ここで、受光レンズ６を初期送り位置Ｐ0
に置いた場合、反射板７の反射光は受光素子５の図中Ｉ
1 側に集光されるので、電流Ｉ1 が電流Ｉ2 よりも大き
くなり、センサ出力はオンとなっている。センサ出力が
オンの場合、調整手段は、調整ピン８を用いて、受光レ
ンズ６を図中Ｄ方向にαμｍ（例えば、１μｍ程度）ず
つ移動させた後（ステップ３４）、再度、外部スタート
信号及び電源を印加し（ステップ３２）、センサ出力を
得て、センサ出力がオンか、オフかを判定する（ステッ
プ３３）。
に置いた場合、反射板７の反射光は受光素子５の図中Ｉ
1 側に集光されるので、電流Ｉ1 が電流Ｉ2 よりも大き
くなり、センサ出力はオンとなっている。センサ出力が
オンの場合、調整手段は、調整ピン８を用いて、受光レ
ンズ６を図中Ｄ方向にαμｍ（例えば、１μｍ程度）ず
つ移動させた後（ステップ３４）、再度、外部スタート
信号及び電源を印加し（ステップ３２）、センサ出力を
得て、センサ出力がオンか、オフかを判定する（ステッ
プ３３）。
【０００８】この処理を繰り返した後、受光レンズ６が
所定位置Ｐ3 まで移動すると、反射光の集光位置が受光
素子５の略中央となって、センサ出力がオフになり、調
整手段は調整ピン８を開放して（ステップ３５）、受光
レンズ６の位置調整を終了する。このように、受光レン
ズ６が所定位置Ｐ3 まで移動すると、センサ出力がオン
からオフに切り換わるので、反射板７の反射光が受光素
子５の略中央に集光するように、受光レンズ６の位置を
調整することができた。
所定位置Ｐ3 まで移動すると、反射光の集光位置が受光
素子５の略中央となって、センサ出力がオフになり、調
整手段は調整ピン８を開放して（ステップ３５）、受光
レンズ６の位置調整を終了する。このように、受光レン
ズ６が所定位置Ｐ3 まで移動すると、センサ出力がオン
からオフに切り換わるので、反射板７の反射光が受光素
子５の略中央に集光するように、受光レンズ６の位置を
調整することができた。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上述した光学センサで
は、プリント基板２に実装された投光素子３と受光素子
５の取り付け精度や、ボディ１とプリント基板２との位
置決め精度や、投光レンズ４のボディ１への位置決め精
度によって、受光レンズ６の位置ずれが数ｍｍにもな
る。したがって、上述の受光レンズ位置調整方法では、
受光レンズ６をαμｍずつ押し込んで、受光レンズ６の
位置を調整しているので、受光レンズ６の位置調整に数
分間かかるという問題点があった。
は、プリント基板２に実装された投光素子３と受光素子
５の取り付け精度や、ボディ１とプリント基板２との位
置決め精度や、投光レンズ４のボディ１への位置決め精
度によって、受光レンズ６の位置ずれが数ｍｍにもな
る。したがって、上述の受光レンズ位置調整方法では、
受光レンズ６をαμｍずつ押し込んで、受光レンズ６の
位置を調整しているので、受光レンズ６の位置調整に数
分間かかるという問題点があった。
【００１０】本発明は上記問題点に鑑みて為されたもの
であり、短時間で受光レンズの位置調整が行える光学セ
ンサの受光レンズ位置調整方法を提供することを目的と
するものである。
であり、短時間で受光レンズの位置調整が行える光学セ
ンサの受光レンズ位置調整方法を提供することを目的と
するものである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明では、上記目的を
達成するために、測定物体に光を照射する投光素子と、
測定物体によって反射された投光素子の照射光を受光素
子上に集光させる受光レンズとを備え、受光素子上の集
光位置から測定物体の位置を検出して、測定物体と基準
距離との遠近に応じてオン／オフ信号を出力する光学セ
ンサの受光レンズの位置を調整する際に、先ず測定物体
を基準距離よりも遠い位置に移動させた状態で、受光レ
ンズを初期送り位置から一定距離ずつ移動させて、セン
サ出力のオン／オフが切り替わる近似位置まで粗調整し
た後に、測定物体を基準距離に移動させた状態で、粗調
整時よりも短い一定距離ずつ受光レンズを近似位置から
移動させて、センサ出力のオン／オフが切り替わる所定
位置まで微調整しているので、粗調整を行う際に、微調
整時の数〜数十倍の速さで受光レンズを移動させて、受
光レンズの位置調整を行うことができる。
達成するために、測定物体に光を照射する投光素子と、
測定物体によって反射された投光素子の照射光を受光素
子上に集光させる受光レンズとを備え、受光素子上の集
光位置から測定物体の位置を検出して、測定物体と基準
距離との遠近に応じてオン／オフ信号を出力する光学セ
ンサの受光レンズの位置を調整する際に、先ず測定物体
を基準距離よりも遠い位置に移動させた状態で、受光レ
ンズを初期送り位置から一定距離ずつ移動させて、セン
サ出力のオン／オフが切り替わる近似位置まで粗調整し
た後に、測定物体を基準距離に移動させた状態で、粗調
整時よりも短い一定距離ずつ受光レンズを近似位置から
移動させて、センサ出力のオン／オフが切り替わる所定
位置まで微調整しているので、粗調整を行う際に、微調
整時の数〜数十倍の速さで受光レンズを移動させて、受
光レンズの位置調整を行うことができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】本実施形態の光学センサの受光レ
ンズ位置調整方法を図１及び図２を用いて説明する。こ
の光学センサは、従来技術で説明した光学センサと同様
に、測定物体が所定の基準距離よりも近くにある場合、
オン信号を出力し、測定物体が基準距離よりも遠くにあ
る場合、オフ信号を出力している。尚、従来技術で説明
した同一の要素には、図４と同一の符号を付し、その説
明を省略する。
ンズ位置調整方法を図１及び図２を用いて説明する。こ
の光学センサは、従来技術で説明した光学センサと同様
に、測定物体が所定の基準距離よりも近くにある場合、
オン信号を出力し、測定物体が基準距離よりも遠くにあ
る場合、オフ信号を出力している。尚、従来技術で説明
した同一の要素には、図４と同一の符号を付し、その説
明を省略する。
【００１３】例えば、調整手段（図示せず）が反射板７
を基準距離Ａよりも遠い距離Ｂの位置にロボット又はシ
リンダーで移動させる（ステップ１１）。調整手段は調
整ピン８を用いて、受光レンズ６を初期送り位置Ｐ0 に
移動させる（ステップ１２）。ここで、受光レンズ６の
一回当たりの送り量を１５αμｍとすると、距離Ｂは次
式で表される。
を基準距離Ａよりも遠い距離Ｂの位置にロボット又はシ
リンダーで移動させる（ステップ１１）。調整手段は調
整ピン８を用いて、受光レンズ６を初期送り位置Ｐ0 に
移動させる（ステップ１２）。ここで、受光レンズ６の
一回当たりの送り量を１５αμｍとすると、距離Ｂは次
式で表される。
【００１４】Ｂ＝Ａ＋（Ｘ×１５）／α＋Ｂ0 尚、αは微調整時の受光レンズ６の送り量、Ｘは受光レ
ンズ６をαμｍずつ移動させた時の、反射板７の基準距
離Ａからの変位量を示し、余裕値Ｂ0 は受光レンズ６の
位置調整の繰り返しによる基準距離Ａのばらつきの最大
値を示している。
ンズ６をαμｍずつ移動させた時の、反射板７の基準距
離Ａからの変位量を示し、余裕値Ｂ0 は受光レンズ６の
位置調整の繰り返しによる基準距離Ａのばらつきの最大
値を示している。
【００１５】次に、調整手段は外部スタート信号及び電
源を光学センサに印加し（ステップ１３）、光学センサ
のセンサ出力を得て、センサ出力がオンか、オフかを判
定する（ステップ１４）。ここで、受光レンズ６が初期
送り位置Ｐ0 にあり、反射板７が距離Ｂの位置にある場
合、反射板７の反射光はＰＳＤ素子からなる受光素子５
の図中Ｉ1 側に集光されるので、電流Ｉ1 が電流Ｉ2 よ
りも大きくなり、センサ出力はオンとなっている。
源を光学センサに印加し（ステップ１３）、光学センサ
のセンサ出力を得て、センサ出力がオンか、オフかを判
定する（ステップ１４）。ここで、受光レンズ６が初期
送り位置Ｐ0 にあり、反射板７が距離Ｂの位置にある場
合、反射板７の反射光はＰＳＤ素子からなる受光素子５
の図中Ｉ1 側に集光されるので、電流Ｉ1 が電流Ｉ2 よ
りも大きくなり、センサ出力はオンとなっている。
【００１６】光学センサのセンサ出力がオンの場合、調
整手段は調整ピン８を用いて受光レンズ６の位置を図中
Ｄ方向に例えば１５αμｍずつ移動させて（ステップ１
５）、再度、外部スタート信号及び電源を光学センサに
印加し（ステップ１３）、センサ出力を得て、センサ出
力がオンか、オフかを判定する（ステップ１４）。とこ
ろで、受光レンズ６の送り量１５αμｍは、微調整時の
送り量αμｍ（例えば、約１μｍ）に対して、約１５倍
に設定されているので、受光レンズ６を短時間で近似位
置Ｐ1 まで移動させることができる。
整手段は調整ピン８を用いて受光レンズ６の位置を図中
Ｄ方向に例えば１５αμｍずつ移動させて（ステップ１
５）、再度、外部スタート信号及び電源を光学センサに
印加し（ステップ１３）、センサ出力を得て、センサ出
力がオンか、オフかを判定する（ステップ１４）。とこ
ろで、受光レンズ６の送り量１５αμｍは、微調整時の
送り量αμｍ（例えば、約１μｍ）に対して、約１５倍
に設定されているので、受光レンズ６を短時間で近似位
置Ｐ1 まで移動させることができる。
【００１７】そして、調整手段が受光レンズ６を近似位
置Ｐ1 まで移動させると、反射光の集光位置が受光素子
５の略中央となって、光学センサのセンサ出力がオフに
なり、距離Ｂの位置での粗調整が完了し、調整手段は調
整ピン８を一旦停止させる（ステップ１６）。次に、調
整手段は反射板７を基準距離Ａの位置に移動させて（ス
テップ１７）、受光レンズ６の位置を微調整する。反射
板７を距離Ｂから基準距離Ａの位置に移動させると、受
光レンズ６によって集光される反射光の集光位置が、受
光素子５の図中Ｉ1 側に移動するので、電流Ｉ1 が電流
Ｉ2 よりも大きくなり、光学センサのセンサ出力は再び
オンになる。
置Ｐ1 まで移動させると、反射光の集光位置が受光素子
５の略中央となって、光学センサのセンサ出力がオフに
なり、距離Ｂの位置での粗調整が完了し、調整手段は調
整ピン８を一旦停止させる（ステップ１６）。次に、調
整手段は反射板７を基準距離Ａの位置に移動させて（ス
テップ１７）、受光レンズ６の位置を微調整する。反射
板７を距離Ｂから基準距離Ａの位置に移動させると、受
光レンズ６によって集光される反射光の集光位置が、受
光素子５の図中Ｉ1 側に移動するので、電流Ｉ1 が電流
Ｉ2 よりも大きくなり、光学センサのセンサ出力は再び
オンになる。
【００１８】調整手段は、外部スタート信号及び電源を
光学センサに印加し（ステップ１８）、センサ出力を得
て、センサ出力がオンか、オフかを判定する（ステップ
１９）。センサ出力がオンの場合、調整手段は受光レン
ズ６を図中Ｄ方向にαμｍずつ移動させ（ステップ２
０）、再度、外部スタート信号及び電源を光学センサに
印加し（ステップ１８）、センサ出力を得て、センサ出
力がオンか、オフかを判定する（ステップ１９）。
光学センサに印加し（ステップ１８）、センサ出力を得
て、センサ出力がオンか、オフかを判定する（ステップ
１９）。センサ出力がオンの場合、調整手段は受光レン
ズ６を図中Ｄ方向にαμｍずつ移動させ（ステップ２
０）、再度、外部スタート信号及び電源を光学センサに
印加し（ステップ１８）、センサ出力を得て、センサ出
力がオンか、オフかを判定する（ステップ１９）。
【００１９】そして、調整手段が受光レンズ６を所定位
置Ｐ2 まで移動させると、反射光の集光位置が受光素子
５の略中央となって、光学センサのセンサ出力がオフに
なり、調整手段は調整ピン８を開放して（ステップ２
１）、受光レンズ６の微調整を終了する。このように、
粗調整時（ステップ１１〜１６）、調整手段は受光レン
ズ６を１５αμｍずつ移動させ、微調整時（ステップ１
７〜２１）、受光レンズ６をαμｍずつ移動させている
ので、粗調整時は微調整時に比べて約１５倍の速さで受
光レンズ６を移動させている。従って、受光レンズ６を
αμｍずつ移動させた場合に比べて、短時間で受光レン
ズ６の位置を近似位置Ｐ1 まで粗調整でき、数秒程度で
受光レンズ６の位置調整を行うことができる。また、微
調整時は、受光レンズ６をαμｍずつ移動させているの
で、粗調整時に比べて、受光レンズ６の位置を精度良く
調整することができる。
置Ｐ2 まで移動させると、反射光の集光位置が受光素子
５の略中央となって、光学センサのセンサ出力がオフに
なり、調整手段は調整ピン８を開放して（ステップ２
１）、受光レンズ６の微調整を終了する。このように、
粗調整時（ステップ１１〜１６）、調整手段は受光レン
ズ６を１５αμｍずつ移動させ、微調整時（ステップ１
７〜２１）、受光レンズ６をαμｍずつ移動させている
ので、粗調整時は微調整時に比べて約１５倍の速さで受
光レンズ６を移動させている。従って、受光レンズ６を
αμｍずつ移動させた場合に比べて、短時間で受光レン
ズ６の位置を近似位置Ｐ1 まで粗調整でき、数秒程度で
受光レンズ６の位置調整を行うことができる。また、微
調整時は、受光レンズ６をαμｍずつ移動させているの
で、粗調整時に比べて、受光レンズ６の位置を精度良く
調整することができる。
【００２０】尚、本実施形態では、粗調整時に微調整時
の約１５倍の速さで受光レンズ６を移動させているが、
受光レンズ６の速度を１５倍に限定する趣旨のものでは
なく、１５倍以外の速度で受光レンズ６を移動させても
よい。さらに、受光レンズ６の速度を粗調整時と微調整
時の２段階に切り換えて調整しているが、受光レンズ６
の速度を２段階に限定する趣旨のものではなく、速度を
３段階以上切り換えて位置調整を行ってもよい。
の約１５倍の速さで受光レンズ６を移動させているが、
受光レンズ６の速度を１５倍に限定する趣旨のものでは
なく、１５倍以外の速度で受光レンズ６を移動させても
よい。さらに、受光レンズ６の速度を粗調整時と微調整
時の２段階に切り換えて調整しているが、受光レンズ６
の速度を２段階に限定する趣旨のものではなく、速度を
３段階以上切り換えて位置調整を行ってもよい。
【００２１】尚、光学センサの構成は、図３及び図４に
示す従来の光学センサの構成と同様であるので、その説
明は省略する。
示す従来の光学センサの構成と同様であるので、その説
明は省略する。
【００２２】
【発明の効果】本発明は、上述のように、測定物体に光
を照射する投光素子と、測定物体によって反射された投
光素子の照射光を受光素子上に集光させる受光レンズと
を備え、受光素子上の集光位置から測定物体の位置を検
出して、測定物体と基準距離との遠近に応じてオン／オ
フ信号を出力する光学センサの受光レンズの位置を調整
する際に、先ず測定物体を基準距離よりも遠い位置に移
動させた状態で、受光レンズを初期送り位置から一定距
離ずつ移動させて、センサ出力のオン／オフが切り替わ
る近似位置まで粗調整した後に、測定物体を基準距離に
移動させた状態で、粗調整時よりも短い一定距離ずつ受
光レンズを近似位置から移動させて、センサ出力のオン
／オフが切り替わる所定位置まで微調整しており、粗調
整を行う際に、微調整時の数〜数十倍の速さで受光レン
ズを移動させて、受光レンズの位置調整を行うことがで
きるので、短時間で受光レンズの位置調整が行えるとい
う効果がある。
を照射する投光素子と、測定物体によって反射された投
光素子の照射光を受光素子上に集光させる受光レンズと
を備え、受光素子上の集光位置から測定物体の位置を検
出して、測定物体と基準距離との遠近に応じてオン／オ
フ信号を出力する光学センサの受光レンズの位置を調整
する際に、先ず測定物体を基準距離よりも遠い位置に移
動させた状態で、受光レンズを初期送り位置から一定距
離ずつ移動させて、センサ出力のオン／オフが切り替わ
る近似位置まで粗調整した後に、測定物体を基準距離に
移動させた状態で、粗調整時よりも短い一定距離ずつ受
光レンズを近似位置から移動させて、センサ出力のオン
／オフが切り替わる所定位置まで微調整しており、粗調
整を行う際に、微調整時の数〜数十倍の速さで受光レン
ズを移動させて、受光レンズの位置調整を行うことがで
きるので、短時間で受光レンズの位置調整が行えるとい
う効果がある。
【図１】本実施形態の光学センサの受光レンズ位置調整
方法を示す概念図である。
方法を示す概念図である。
【図２】同上のフローチャートである。
【図３】従来の光学センサを示す分解斜視図である。
【図４】同上の受光レンズ位置調整方法を示す概念図で
ある。
ある。
【図５】同上のフローチャートである。
５ 受光素子 ６ 受光レンズ ７ 反射板 Ａ 基準距離 Ｂ 距離 Ｐ0 初期送り位置 Ｐ2 所定位置
Claims (1)
- 【請求項１】測定物体に光を照射する投光素子と、前記
測定物体によって反射された前記投光素子の照射光を受
光素子上に集光させる受光レンズとを備え、前記受光素
子上の集光位置から前記測定物体の位置を検出して、前
記測定物体と基準距離との遠近に応じてオン／オフ信号
を出力する光学センサの前記受光レンズの位置を調整す
る際に、先ず前記測定物体を前記基準距離よりも遠い位
置に移動させた状態で、前記受光レンズを初期送り位置
から一定距離ずつ移動させて、センサ出力のオン／オフ
が切り替わる近似位置まで粗調整した後に、前記測定物
体を前記基準距離に移動させた状態で、粗調整時よりも
短い一定距離ずつ前記受光レンズを前記近似位置から移
動させて、センサ出力のオン／オフが切り替わる所定位
置まで微調整することを特徴とする光学センサの受光レ
ンズ位置調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21463496A JPH1062159A (ja) | 1996-08-14 | 1996-08-14 | 光学センサの受光レンズ位置調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21463496A JPH1062159A (ja) | 1996-08-14 | 1996-08-14 | 光学センサの受光レンズ位置調整方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1062159A true JPH1062159A (ja) | 1998-03-06 |
Family
ID=16658997
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21463496A Withdrawn JPH1062159A (ja) | 1996-08-14 | 1996-08-14 | 光学センサの受光レンズ位置調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1062159A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10302542A1 (de) * | 2003-01-23 | 2004-07-29 | Conti Temic Microelectronic Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur optomechanischen Entfernungsmessung |
| US7119912B2 (en) | 2002-06-26 | 2006-10-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Ranging sensor and electronic device using the same |
| JP2017122711A (ja) * | 2015-11-13 | 2017-07-13 | ジック アーゲー | 光電センサ及び物体検出方法 |
| WO2017212648A1 (ja) * | 2016-06-10 | 2017-12-14 | 富士通フロンテック株式会社 | 撮像装置 |
-
1996
- 1996-08-14 JP JP21463496A patent/JPH1062159A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7119912B2 (en) | 2002-06-26 | 2006-10-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Ranging sensor and electronic device using the same |
| DE10302542A1 (de) * | 2003-01-23 | 2004-07-29 | Conti Temic Microelectronic Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur optomechanischen Entfernungsmessung |
| JP2017122711A (ja) * | 2015-11-13 | 2017-07-13 | ジック アーゲー | 光電センサ及び物体検出方法 |
| WO2017212648A1 (ja) * | 2016-06-10 | 2017-12-14 | 富士通フロンテック株式会社 | 撮像装置 |
| JPWO2017212648A1 (ja) * | 2016-06-10 | 2018-11-29 | 富士通フロンテック株式会社 | 撮像装置 |
| US10921684B2 (en) | 2016-06-10 | 2021-02-16 | Fujitsu Frontech Limited | Imaging apparatus |
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| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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