JP2830304B2 - リードスイッチの試験方法 - Google Patents
リードスイッチの試験方法Info
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- JP2830304B2 JP2830304B2 JP3885990A JP3885990A JP2830304B2 JP 2830304 B2 JP2830304 B2 JP 2830304B2 JP 3885990 A JP3885990 A JP 3885990A JP 3885990 A JP3885990 A JP 3885990A JP 2830304 B2 JP2830304 B2 JP 2830304B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 リード片封入型リードスイッチの試験方法に関し、 接触抵抗の測定とスクリーニングを効率的に行って生
産性の向上を図ることを目的とし、 リードスイッチの接触抵抗測定工程とスクリーニング
工程とからなるリードスイッチの試験方向であって、感
動時と開放時それぞれのアンペアターンと接触抵抗を測
定する工程と、前記感動時のアンペアターンと前記開放
時のアンペアターン間の該開放時側で前記開放時のアン
ペアターンを含む領域に、複数の接触抵抗測定点を設け
る工程と、前記各接触抵抗測定点におけるアンペアター
ンの付与で接触抵抗を測定する工程と、前記各接触抵抗
測定点で得られた接触抵抗値間のバラツキ幅を所定のバ
ラツキ幅基準値と比較してスクリーニングする工程、を
含んで構成する。
産性の向上を図ることを目的とし、 リードスイッチの接触抵抗測定工程とスクリーニング
工程とからなるリードスイッチの試験方向であって、感
動時と開放時それぞれのアンペアターンと接触抵抗を測
定する工程と、前記感動時のアンペアターンと前記開放
時のアンペアターン間の該開放時側で前記開放時のアン
ペアターンを含む領域に、複数の接触抵抗測定点を設け
る工程と、前記各接触抵抗測定点におけるアンペアター
ンの付与で接触抵抗を測定する工程と、前記各接触抵抗
測定点で得られた接触抵抗値間のバラツキ幅を所定のバ
ラツキ幅基準値と比較してスクリーニングする工程、を
含んで構成する。
本発明はリード片封入型リードスイッチの製造工程に
係り、特に接触抵抗の測定とスクリーニングを効果的且
つ効率的に行なうことで生産性の向上を図ったリードス
イッチの試験方法に関する。
係り、特に接触抵抗の測定とスクリーニングを効果的且
つ効率的に行なうことで生産性の向上を図ったリードス
イッチの試験方法に関する。
一般にリードスイッチは、先端に接点が被着形成され
た一対の磁性材料からなるリード片を、上記接点が微小
間隔を保って対向するように不活性ガスと共に直状のガ
ラス管の両端に封入固定して形成したもので、該ガラス
管の周囲から適当な外部磁界を付与することでリード片
の上記接点間でスイッチング動作を行わしめるものであ
る。
た一対の磁性材料からなるリード片を、上記接点が微小
間隔を保って対向するように不活性ガスと共に直状のガ
ラス管の両端に封入固定して形成したもので、該ガラス
管の周囲から適当な外部磁界を付与することでリード片
の上記接点間でスイッチング動作を行わしめるものであ
る。
かかるリードスイッチは大気中の塵埃や有害ガス等に
影響されず接触信頼性が高いことと高速に動作するため
各分野に大量に利用されているが、製造工程におけるリ
ード片の寸法や接点間隔等のバラツキで生ずる特性の僅
かな変動を避けることができず、また接点部分に異物付
着等の凹凸があると特性を低下させることになる。
影響されず接触信頼性が高いことと高速に動作するため
各分野に大量に利用されているが、製造工程におけるリ
ード片の寸法や接点間隔等のバラツキで生ずる特性の僅
かな変動を避けることができず、また接点部分に異物付
着等の凹凸があると特性を低下させることになる。
そこで該リードスイッチの試験工程では、個々のリー
ドスイッチ毎に接触抵抗値の測定とスクリーニング工程
を併用することでこれらの不良要因を除去するようにし
ているが、工数が掛かることと安定した品質レベルが得
られないことからその解決が望まれている。
ドスイッチ毎に接触抵抗値の測定とスクリーニング工程
を併用することでこれらの不良要因を除去するようにし
ているが、工数が掛かることと安定した品質レベルが得
られないことからその解決が望まれている。
第２図は従来の接触抵抗測定方法の一例を説明する図
であり、（２−１）は測定回路概念図，（２−２）は測
定状態を示す図である。
であり、（２−１）は測定回路概念図，（２−２）は測
定状態を示す図である。
また第３図はスクリーニング方法の一例を説明する図
であり、第４図は磁界強さと接触抵抗値との関係を示す
図である。
であり、第４図は磁界強さと接触抵抗値との関係を示す
図である。
第２図（２−１）で、被測定リードスイッチ１はコイ
ル２に装着された状態にある。
ル２に装着された状態にある。
なお図の３は該コイル２の電源であり、４は上記リー
ドスイッチに繋がる接触抵抗計である。
ドスイッチに繋がる接触抵抗計である。
そこで縦軸Ｙにアンペア・ターン（以下ATとする）を
とり，また横軸Ｘに時間ｔをとった図（２−２）に示す
ように、接点が開離した状態（以下OFFとする）にある
リードスイッチに該リードスイッチ１の感動値（図示の
）より充分に大きい例えば75ATが確保できる電流を電
源３から上記コイル２に流してリードスイッチ１を完全
に動作（以下ONとする）させた後、該リードスイッチ１
の開放値（図示の）より充分大きくかつ上記感動値
（図示の）より充分に小さい例えば45ATが確保できる
電流まで該電流を減少させる。
とり，また横軸Ｘに時間ｔをとった図（２−２）に示す
ように、接点が開離した状態（以下OFFとする）にある
リードスイッチに該リードスイッチ１の感動値（図示の
）より充分に大きい例えば75ATが確保できる電流を電
源３から上記コイル２に流してリードスイッチ１を完全
に動作（以下ONとする）させた後、該リードスイッチ１
の開放値（図示の）より充分大きくかつ上記感動値
（図示の）より充分に小さい例えば45ATが確保できる
電流まで該電流を減少させる。
この場合該リードスイッチ１はONしたままの状態にあ
るのでこの時点（図ではＡで示す時点）で該リードスイ
ッチ１に繋がる接触抵抗計４で該リードスイッチ１の接
触抵抗値を測定するようにしている。
るのでこの時点（図ではＡで示す時点）で該リードスイ
ッチ１に繋がる接触抵抗計４で該リードスイッチ１の接
触抵抗値を測定するようにしている。
一方、接点部分の異物付着等による凹凸を検出するス
クリーニング方法を示す第３図で、（３−１）は測定回
路概念図，（３−２）は測定状態を示す図である。
クリーニング方法を示す第３図で、（３−１）は測定回
路概念図，（３−２）は測定状態を示す図である。
なお第２図同様のリードスイッチ１にはオシロスコー
プ５と該リードスイッチ１に対する電源負荷部６が並列
に接続されている。
プ５と該リードスイッチ１に対する電源負荷部６が並列
に接続されている。
なお図の７は該リードスイッチ１をON,OFFさせるため
の磁界を付与するマグネットである。
の磁界を付与するマグネットである。
そこでリードスイッチ１を該マグネット７でONさせた
状態で、電源負荷部６から該リードスイッチ１に５〜10
V,1〜20mA程度の負荷を与えながら上記マグネット７を
例えば回転させる等移動させて該リードスイッチ１をOF
Fにすると、該リードスイッチ１に繋がるオシロスコー
プ５には（３−２）に示す如き波形が現出する。
状態で、電源負荷部６から該リードスイッチ１に５〜10
V,1〜20mA程度の負荷を与えながら上記マグネット７を
例えば回転させる等移動させて該リードスイッチ１をOF
Fにすると、該リードスイッチ１に繋がるオシロスコー
プ５には（３−２）に示す如き波形が現出する。
なお該図（３−２）は縦軸Ｙが電圧Ｖで，また横軸Ｘ
が時間ｔで表示されているが、に示す位置がリードス
イッチ１の接点がONしたときを表わし、はOFFしたと
きの状態を表わしている。
が時間ｔで表示されているが、に示す位置がリードス
イッチ１の接点がONしたときを表わし、はOFFしたと
きの状態を表わしている。
この場合、リードスイッチ１の接点部分が異物付着等
がなく平坦で清浄なときには、リードスイッチ１のOFF
の時点t1でリード片の接点部分が瞬時に開離するため図
（３−２）の（イ）で示す波形のように変形のない矩形
状となる。
がなく平坦で清浄なときには、リードスイッチ１のOFF
の時点t1でリード片の接点部分が瞬時に開離するため図
（３−２）の（イ）で示す波形のように変形のない矩形
状となる。
しかし該接点部分に異物付着等による凹凸があって清
浄でないと、リードスイッチ１の上述したOFFの時点t1
で該凹凸によって瞬時の開離がなされず、結果的に
（ロ）に示すＳのように波形に乱れが生じ完全にOFFと
なる時点t2までにΔｔの遅れが生ずる。
浄でないと、リードスイッチ１の上述したOFFの時点t1
で該凹凸によって瞬時の開離がなされず、結果的に
（ロ）に示すＳのように波形に乱れが生じ完全にOFFと
なる時点t2までにΔｔの遅れが生ずる。
従って、全数のリードスイッチ１の該オシロスコープ
５による波形を目視観察することで、該リードスイッチ
の良否判断が可能となり、スクリーニングすることがで
きる。
５による波形を目視観察することで、該リードスイッチ
の良否判断が可能となり、スクリーニングすることがで
きる。
そこで従来のリードスイッチの試験工程では、第２図
で説明した接触抵抗値の測定と第３図で説明したスクリ
ーニングを併用することで品質レベルを確保するように
している。
で説明した接触抵抗値の測定と第３図で説明したスクリ
ーニングを併用することで品質レベルを確保するように
している。
しかし、第２図で説明した接触抵抗値の測定方法で
は、リードスイッチによってで示す感動値とで示す
開放値にはバラツキがあるためリードスイッチ毎に異な
った条件で接触抵抗値を測定していることになり、結果
的に安定した接触抵抗品質を得ることができない欠点が
ある。
は、リードスイッチによってで示す感動値とで示す
開放値にはバラツキがあるためリードスイッチ毎に異な
った条件で接触抵抗値を測定していることになり、結果
的に安定した接触抵抗品質を得ることができない欠点が
ある。
また第３図で説明したクリーニング工程では、オシロ
スコープによる波形の目視観察で良否判断しているた
め、判定に熟練技術を要すると共に工数が掛かる欠点が
ある。
スコープによる波形の目視観察で良否判断しているた
め、判定に熟練技術を要すると共に工数が掛かる欠点が
ある。
従来のリードスイッチの試験方法では、接触抵抗測定
の工程では安定した接触抵抗品質を得ることができない
言う問題があり、またクリーニング工程では目視観察に
よる判定に熟練技術を要すると共に工数が掛かるという
問題があった。
の工程では安定した接触抵抗品質を得ることができない
言う問題があり、またクリーニング工程では目視観察に
よる判定に熟練技術を要すると共に工数が掛かるという
問題があった。
上記問題点は、リードスイッチの接触抵抗測定工程と
スクリーニング工程とからなるリードスイッチの試験方
法であって、感動時と開放時それぞれのアンペアターン
と接触抵抗を測定する工程と、前記感動時のアンペアタ
ーンと前記開放時のアンペアターン間の該開放時側で前
記開放時のアンペアターンを含む領域に、複数の接触抵
抗測定点を設ける工程と、前各接触抵抗測定点における
アンペアターンの付与で接触抵抗を測定する工程と、前
記各接触抵抗測定点で得られた接触抵抗値間のバラツキ
幅を所定のバラツキ幅基準値と比較してスクリーニング
する工程、を含むリードスイッチの試験方法によって解
決される。
スクリーニング工程とからなるリードスイッチの試験方
法であって、感動時と開放時それぞれのアンペアターン
と接触抵抗を測定する工程と、前記感動時のアンペアタ
ーンと前記開放時のアンペアターン間の該開放時側で前
記開放時のアンペアターンを含む領域に、複数の接触抵
抗測定点を設ける工程と、前各接触抵抗測定点における
アンペアターンの付与で接触抵抗を測定する工程と、前
記各接触抵抗測定点で得られた接触抵抗値間のバラツキ
幅を所定のバラツキ幅基準値と比較してスクリーニング
する工程、を含むリードスイッチの試験方法によって解
決される。
リードスイッチに付与する磁界換言すればATと接触抵
抗値との関係は、一般に第４図で示すように表わすこと
ができる。
抗値との関係は、一般に第４図で示すように表わすこと
ができる。
すなわち縦軸Ｙに接触抵抗値をRcで取り横軸Ｘに磁界
強さをATでとった第４図で、（４−１）は接点部が清浄
なリードスイッチの場合を示し（４−２）は接点部に異
物等による凹凸がある場合を示している。
強さをATでとった第４図で、（４−１）は接点部が清浄
なリードスイッチの場合を示し（４−２）は接点部に異
物等による凹凸がある場合を示している。
ここで（４−１）に付いて説明すると、例えば第２図
のリードスイッチ１を装着したコイル２に流す電流を徐
々に増加させて該リードスイッチ１の感動値を満足す
るATが確保されると、その瞬間に該リードスイッチ１が
ONするためそのときの接触抵抗値Rc1が測定できる（図
示p1点）。
のリードスイッチ１を装着したコイル２に流す電流を徐
々に増加させて該リードスイッチ１の感動値を満足す
るATが確保されると、その瞬間に該リードスイッチ１が
ONするためそのときの接触抵抗値Rc1が測定できる（図
示p1点）。
次いで磁界強さすなわちATを更に上げると、リードス
イッチ１の接点部の接触力が増大するため接触性がよく
なり徐々に接触抵抗値が低下するが、飽和磁界に到達し
た時点p2で該接触抵抗値は最低値となる。なお図ではこ
の時点の接触抵抗値をRc2としている。
イッチ１の接点部の接触力が増大するため接触性がよく
なり徐々に接触抵抗値が低下するが、飽和磁界に到達し
た時点p2で該接触抵抗値は最低値となる。なお図ではこ
の時点の接触抵抗値をRc2としている。
そこでコイル２の電流を下げて磁界強さすなわちATを
低くすると、該リードスイッチ１の開放値に到達した
瞬間（図示p3点）に該リードスイッチがOFFとなる。な
おこの時点での接触抵抗値はRc3である。
低くすると、該リードスイッチ１の開放値に到達した
瞬間（図示p3点）に該リードスイッチがOFFとなる。な
おこの時点での接触抵抗値はRc3である。
この場合上述の如く接点部が清浄なリードスイッチで
は、カーブp1→p2→p3は滑らかな曲線状を呈する。
は、カーブp1→p2→p3は滑らかな曲線状を呈する。
一方接点部に異物等による凹凸があるリードスイッチ
で（４−１）と同様のカーブ描かせると、（４−２）に
示すようなカーブp1′→p2′→p3′を得ることができ
る。
で（４−１）と同様のカーブ描かせると、（４−２）に
示すようなカーブp1′→p2′→p3′を得ることができ
る。
すなわちかかるリードスイッチの場合では、開放値
′に到達する直前の接触圧力が弱い領域（図示Ｂ領
域）では接触抵抗値が不安定となってバラツキが生じ、
結果的に（４−２）に示すような凹凸波形を呈する。
′に到達する直前の接触圧力が弱い領域（図示Ｂ領
域）では接触抵抗値が不安定となってバラツキが生じ、
結果的に（４−２）に示すような凹凸波形を呈する。
なおこの場合のp1′,p2′,p3′および′，′は個
々のリードスイッチ特有のものであるため必ずしも（４
−１）におけるp1,p2,p3および，とは同一ではな
い。
々のリードスイッチ特有のものであるため必ずしも（４
−１）におけるp1,p2,p3および，とは同一ではな
い。
そこで、開放値に到達する直前の接触抵抗値のバラツ
キひいては総てのリードスイッチのカーブp1→p2→p3ま
たはp1′→p2′→p3′を得ることで、接触抵抗値の入手
とスクリーニングとしての良否判断を同時に行うことが
できる。
キひいては総てのリードスイッチのカーブp1→p2→p3ま
たはp1′→p2′→p3′を得ることで、接触抵抗値の入手
とスクリーニングとしての良否判断を同時に行うことが
できる。
本発明ではコイルの電源と接触抵抗計との両方に繋が
る制御部を配置することで、各リードスイッチ毎に感動
値と開放値を測定した後、コイルに付与する励磁条件す
なわちATを既に得られた上記開放値の直前近傍領域の複
数点に設定して各点での接触抵抗値を入手することで該
領域における接触抵抗値のバラツキを知るようにしてい
る。
る制御部を配置することで、各リードスイッチ毎に感動
値と開放値を測定した後、コイルに付与する励磁条件す
なわちATを既に得られた上記開放値の直前近傍領域の複
数点に設定して各点での接触抵抗値を入手することで該
領域における接触抵抗値のバラツキを知るようにしてい
る。
従って、接触抵抗測定とスクリーニングとしての良否
判定とを同時に行なうことができて効率のよいリードス
イッチの試験方法を実現することができる。
判定とを同時に行なうことができて効率のよいリードス
イッチの試験方法を実現することができる。
第１図は本発明のリードスイッチの試験方法を示す図
であり、（Ａ）は本発明を実現する測定回路概念図，
（Ｂ）は試験方法を説明する図である。
であり、（Ａ）は本発明を実現する測定回路概念図，
（Ｂ）は試験方法を説明する図である。
図（Ａ）で、１がリードスイッチ,2がコイル,3が電
源,4が接触抵抗計を示していることは第３図と同様であ
り、また10は該電源３と接触抵抗計４に繋がるパソコン
機能を備えた制御部である。
源,4が接触抵抗計を示していることは第３図と同様であ
り、また10は該電源３と接触抵抗計４に繋がるパソコン
機能を備えた制御部である。
そこで、リードスイッチ１をコイル２に装着した状態
で電源３から付与する電流で該リードスイッチ１に磁界
を与え、第４図で説明した方法で（Ｂ）に示すように該
リードスイッチ１に対応するカーブP1→P2→P3と該各
P1,P2,P3時点における接触抵抗値,RC1,RC2,RC3とを入手
する。
で電源３から付与する電流で該リードスイッチ１に磁界
を与え、第４図で説明した方法で（Ｂ）に示すように該
リードスイッチ１に対応するカーブP1→P2→P3と該各
P1,P2,P3時点における接触抵抗値,RC1,RC2,RC3とを入手
する。
この（Ｂ）に示す図は第４図同様に縦軸Ｙに接触抵抗
をRCでとり、また横軸Ｘには磁界の強さをATでとったも
のであり、図の″と″が該リードスイッチ１の感動
値と開放値をそれぞれ示していることは第４図の場合と
同様である。
をRCでとり、また横軸Ｘには磁界の強さをATでとったも
のであり、図の″と″が該リードスイッチ１の感動
値と開放値をそれぞれ示していることは第４図の場合と
同様である。
なおこの場合の電源３と接触抵抗計４に対する指示は
上記の制御部10で容易に行うことができる。
上記の制御部10で容易に行うことができる。
次いで、開放値″の近傍で該開放値″より僅かに
大きい領域Ｃに複数（図では３箇所としている）の互い
に近接した接触抵抗測定点a,b,cを設定し、各測定点に
対応する励磁条件すなわち磁界の強さひいてはATをセッ
ティングしてそのときの接触抵抗値RCa,RCb,RCcをそれ
ぞれ測定する。
大きい領域Ｃに複数（図では３箇所としている）の互い
に近接した接触抵抗測定点a,b,cを設定し、各測定点に
対応する励磁条件すなわち磁界の強さひいてはATをセッ
ティングしてそのときの接触抵抗値RCa,RCb,RCcをそれ
ぞれ測定する。
なおこの場合の各接触抵抗測定点a,b,cの設定と該各
測定点a,b,cに対応するATの付与および該各時点での接
触抵抗の測定は上記制御部10からの指示で容易に行うこ
とができる。
測定点a,b,cに対応するATの付与および該各時点での接
触抵抗の測定は上記制御部10からの指示で容易に行うこ
とができる。
この場合、得られた各接触抵抗値RCa,RCb,RCc間のバ
ラツキ幅（図の場合では“|RCa−RCb|"）が大きい程該
リードスイッチ１の接点が不安定であることを示してい
る。
ラツキ幅（図の場合では“|RCa−RCb|"）が大きい程該
リードスイッチ１の接点が不安定であることを示してい
る。
従って上記バラツキ幅の基準値を例えば最大接触抵抗
値（図の場合ではRC3）の1/10程度に設定し、各接触抵
抗測定点で得られた接触抵抗値間のバラツキ幅“|RCa−
RCb|"を該基準値と比較することで該リードスイッチ１
の良否判断を容易に行うことができる。
値（図の場合ではRC3）の1/10程度に設定し、各接触抵
抗測定点で得られた接触抵抗値間のバラツキ幅“|RCa−
RCb|"を該基準値と比較することで該リードスイッチ１
の良否判断を容易に行うことができる。
特にこの場合には、ディジタルな数値比較で良否が判
断できることから上記の制御部10で自動的に行わせるこ
とができる。
断できることから上記の制御部10で自動的に行わせるこ
とができる。
更にかかる試験方法の場合では、個々のリードスイッ
チに対応した励磁条件すなわちATでの接触抵抗値のバラ
ツキが入手できるため、安定した接触抵抗品質レベルで
スクリーニングすることができる。なお、上述した接触
抵抗測定点ａを上記開放値″に0.1ATを加えた位置に
設定し、また上述した接触抵抗測定点ｃを上記開放値
″と上記感動値″間の中心位置に設定することで、
効果的なクリーニングが実現できることを確認してい
る。
チに対応した励磁条件すなわちATでの接触抵抗値のバラ
ツキが入手できるため、安定した接触抵抗品質レベルで
スクリーニングすることができる。なお、上述した接触
抵抗測定点ａを上記開放値″に0.1ATを加えた位置に
設定し、また上述した接触抵抗測定点ｃを上記開放値
″と上記感動値″間の中心位置に設定することで、
効果的なクリーニングが実現できることを確認してい
る。
上述の如く本発明により、接触抵抗の測定とスクリー
ニングを効果的且つ効率的に行なうことで生産性の向上
を図ったリードスイッチの試験方法を提供することがで
きる。
ニングを効果的且つ効率的に行なうことで生産性の向上
を図ったリードスイッチの試験方法を提供することがで
きる。
第１図は本発明のリードスイッチの試験方法を示す図、 第２図は従来の接触抵抗測定方法の一例を説明する図、 第３図はスクリーニング方法の一例を説明する図、 第４図は磁界強さと接触抵抗値との関係を示す図、 である。 図において、 １はリードスイッチ、２はコイル、 ３は電源、４は接触抵抗計、 10は制御部、 をそれぞれ表わす。
フロントページの続き (72)発明者 近藤 幸一 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (56)参考文献 実開 平２−25877（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】リードスイッチの接触抵抗測定工程とスク
リーニング工程とからなるリードスイッチの試験方法で
あって、 感動時と開放時それぞれのアンペアターンと接触抵抗を
測定する工程と、 前記感動時のアンペアターンと前記開放時のアンペアタ
ーン間の該開放時側で前記開放時のアンペアターンを含
む領域に、複数の接触抵抗測定点を設ける工程と、前記
各接触抵抗測定点におけるアンペアターンの付与で接触
抵抗を測定する工程と、 前記各接触抵抗測定点で得られた接触抵抗値間のバラツ
キ幅を所定のバラツキ幅基準値と比較してスクリーニン
グする工程、 を含むことを特徴とするリードスイッチの試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3885990A JP2830304B2 (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | リードスイッチの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3885990A JP2830304B2 (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | リードスイッチの試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03242564A JPH03242564A (ja) | 1991-10-29 |
| JP2830304B2 true JP2830304B2 (ja) | 1998-12-02 |
Family
ID=12536929
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3885990A Expired - Fee Related JP2830304B2 (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | リードスイッチの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2830304B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105093106A (zh) * | 2015-09-08 | 2015-11-25 | 吉林大学 | 基于单片机的数字安匝仪 |
-
1990
- 1990-02-20 JP JP3885990A patent/JP2830304B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105093106A (zh) * | 2015-09-08 | 2015-11-25 | 吉林大学 | 基于单片机的数字安匝仪 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03242564A (ja) | 1991-10-29 |
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