JP2903686B2 - Ledパネルの検査方法 - Google Patents
Ledパネルの検査方法Info
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Led Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はLEDパネルの検査方法に係り、詳しくは相隣
るLED間のブリッジの有無を検出する為の方法に関す
る。
るLED間のブリッジの有無を検出する為の方法に関す
る。
(従来の技術) 表示パネルとして多用されるLEDパネルは、LEDをマト
リクス状に配線して構成されている。
リクス状に配線して構成されている。
第2図はこのようなLEDパネルの従来の検査方法を示
すものである。まずその端子間の両側部の端子(X1,Y
1)を導通させて、LED1を流れる順電流値と順電圧値を
検出することにより、このLED1の特性を検査する。次に
同様にしてLED2の両側部の端子(X2,Y1)を導通させ
て、順電流値を順電圧値を検出し、このLED2の特性を検
査する。以下、同様にして、LED3,LED4・・・を順に導
通させながら、その特性を検査していく。Tは検査装置
のプローブ部である。
すものである。まずその端子間の両側部の端子(X1,Y
1)を導通させて、LED1を流れる順電流値と順電圧値を
検出することにより、このLED1の特性を検査する。次に
同様にしてLED2の両側部の端子(X2,Y1)を導通させ
て、順電流値を順電圧値を検出し、このLED2の特性を検
査する。以下、同様にして、LED3,LED4・・・を順に導
通させながら、その特性を検査していく。Tは検査装置
のプローブ部である。
(発明が解決しようとする課題) 図示するように、相隣るLED1,LED2がブリッジSによ
り、ショートしている場合がある。このようなブリッジ
Sが生じている状態で、上記のように端子(X1,Y1)や
端子(X2,Y1)を導通させた場合、LED1,LED2はブリッジ
Sのために並列であるが、ダイオード特性の為に、順電
圧値はショートしていない場合と殆ど変わらず、1/2に
ならないことから、ブリッジSの有無を検出することは
きわめて困難であった。
り、ショートしている場合がある。このようなブリッジ
Sが生じている状態で、上記のように端子(X1,Y1)や
端子(X2,Y1)を導通させた場合、LED1,LED2はブリッジ
Sのために並列であるが、ダイオード特性の為に、順電
圧値はショートしていない場合と殆ど変わらず、1/2に
ならないことから、ブリッジSの有無を検出することは
きわめて困難であった。
そこで本発明は、上記のようなブリッジの有無を簡単
に検出できる方法を提供することを目的とする。
に検出できる方法を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段) 本発明は、LEDがマトリクス状に配線されたLEDパネル
の端子を検査装置のプローブ部に導通させる工程と、各
LEDに対して順方向の電圧を順次印加して、各LEDの特性
を検査する工程とを含む検査方法において、LEDパネル
の相隣る端子間の抵抗値を計測することにより、LEDパ
ネルの端子間のブリッジの有無を検出する工程を含む構
成でなる。
の端子を検査装置のプローブ部に導通させる工程と、各
LEDに対して順方向の電圧を順次印加して、各LEDの特性
を検査する工程とを含む検査方法において、LEDパネル
の相隣る端子間の抵抗値を計測することにより、LEDパ
ネルの端子間のブリッジの有無を検出する工程を含む構
成でなる。
(作用) 上記構成において、相隣るLEDの端子間を導通させる
と、ブリッジがある場合には、端子間の抵抗値はほぼ0
であり、またブリッジがない場合には、両端子間の抵抗
値は極大になることから、ブリッジの有無を簡単に判別
できる。
と、ブリッジがある場合には、端子間の抵抗値はほぼ0
であり、またブリッジがない場合には、両端子間の抵抗
値は極大になることから、ブリッジの有無を簡単に判別
できる。
(実施例) 次に、図面を参照しながら本発明の実施例を説明す
る。
る。
第1図はLEDパネルの配線図であって、多数のLED1,LE
D2,LED3・・・がマトリクス状に配線されている。X1,X2
・・・XnはX方向の端子、Y1,Y2・・・YnはY方向の端
子、CRX1,CRX2・・・CRXnはX方向のリレー、CRY1,CRY2
・・・CRYnはY方向のリレー、Tは検査装置のプローブ
部である。次に検査方法を説明する。
D2,LED3・・・がマトリクス状に配線されている。X1,X2
・・・XnはX方向の端子、Y1,Y2・・・YnはY方向の端
子、CRX1,CRX2・・・CRXnはX方向のリレー、CRY1,CRY2
・・・CRYnはY方向のリレー、Tは検査装置のプローブ
部である。次に検査方法を説明する。
プローブ部TをX方向の端子X1〜XnとY方向の端子Y1
〜Ynに接続し、リレーCRX1〜CRXn,CRY1〜CRYnを次々に
切替えて、各々のLEDを順次導通させていく。すなわ
ち、例えばLED1を導通させるときは、端子X1と端子Y1の
リレーCRX1,CRY1をONに切り替え、またLED2を導通させ
るときは、リレーCRX2とリレーCRY1をONに切り替える。
〜Ynに接続し、リレーCRX1〜CRXn,CRY1〜CRYnを次々に
切替えて、各々のLEDを順次導通させていく。すなわ
ち、例えばLED1を導通させるときは、端子X1と端子Y1の
リレーCRX1,CRY1をONに切り替え、またLED2を導通させ
るときは、リレーCRX2とリレーCRY1をONに切り替える。
このように各々のリレーCRX1〜CRXn,CRY1〜CRYnを順
次切り替えていくことにより、LED1,LED2・・・を順次
導通させ、各々の端子間を流れる順電流値と順電圧値を
求めることにより、各々のLEDの特性を検査する。
次切り替えていくことにより、LED1,LED2・・・を順次
導通させ、各々の端子間を流れる順電流値と順電圧値を
求めることにより、各々のLEDの特性を検査する。
ところで、本実施例では、端子X1,X2間にブリッジS
が生じているが、上述したように、このようなリレーの
切替えによっては、このブリッジSの有無は検出できな
い。そこで、相隣る端子X1、X2のリレーCRX1とリレーCR
X2をONに切り替えて、端子間X1,X2を導通させる。する
と、両端子X1,X2はブリッジSによりショートしている
ので、両端子X1,X2間の抵抗値はほぼ0である。これに
対し、ブリッジSが生じていない端子間の抵抗値は極大
であるから、ブリッジSの有無を簡単に検出できる。特
に本手段によれば、検査装置のプローブ部Tを端子に接
続したまま、リレーの切替え操作を行うだけで、通常の
LEDの特性検査と、ブリッジの有無の検査を行える利点
がある。
が生じているが、上述したように、このようなリレーの
切替えによっては、このブリッジSの有無は検出できな
い。そこで、相隣る端子X1、X2のリレーCRX1とリレーCR
X2をONに切り替えて、端子間X1,X2を導通させる。する
と、両端子X1,X2はブリッジSによりショートしている
ので、両端子X1,X2間の抵抗値はほぼ0である。これに
対し、ブリッジSが生じていない端子間の抵抗値は極大
であるから、ブリッジSの有無を簡単に検出できる。特
に本手段によれば、検査装置のプローブ部Tを端子に接
続したまま、リレーの切替え操作を行うだけで、通常の
LEDの特性検査と、ブリッジの有無の検査を行える利点
がある。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、LEDがマトリクス状に
配線されたLEDパネルの端子を検査装置のプローブ部に
導通させる工程と、各LEDに対して順方向の電圧を順次
印加して、各LEDの特性を検査する工程とを含む検査方
法において、LEDパネルの相隣る端子間の抵抗値を計測
することにより、LEDパネルの端子間のブリッジの有無
を検出する工程を含むので、相隣るLED間のブリッジの
有無で簡単に検出することができる。
配線されたLEDパネルの端子を検査装置のプローブ部に
導通させる工程と、各LEDに対して順方向の電圧を順次
印加して、各LEDの特性を検査する工程とを含む検査方
法において、LEDパネルの相隣る端子間の抵抗値を計測
することにより、LEDパネルの端子間のブリッジの有無
を検出する工程を含むので、相隣るLED間のブリッジの
有無で簡単に検出することができる。
第1図は本発明の実施例のLEDパネルの配線図、第2図
は従来手段の説明図である。 X1〜Xn,Y1〜Yn……端子 S……ブリッジ
は従来手段の説明図である。 X1〜Xn,Y1〜Yn……端子 S……ブリッジ
Claims (1)
- 【請求項1】LEDがマトリクス状に配線されたLEDパネル
の端子を検査装置のプローブ部に導通させる工程と、各
LEDに対して順方向の電圧を順次印加して、各LEDの特性
を検査する工程とを含む検査方法において、 LEDパネルの相隣る端子間の抵抗値を計測することによ
り、LEDパネルの端子間のブリッジの有無を検出する工
程を含むことを特徴とするLEDパネルの検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27108890A JP2903686B2 (ja) | 1990-10-09 | 1990-10-09 | Ledパネルの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27108890A JP2903686B2 (ja) | 1990-10-09 | 1990-10-09 | Ledパネルの検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04146676A JPH04146676A (ja) | 1992-05-20 |
JP2903686B2 true JP2903686B2 (ja) | 1999-06-07 |
Family
ID=17495198
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27108890A Expired - Fee Related JP2903686B2 (ja) | 1990-10-09 | 1990-10-09 | Ledパネルの検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2903686B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101823930B1 (ko) * | 2011-08-29 | 2018-01-31 | 삼성전자주식회사 | 발광소자 패키지 어레이 및 발광소자 패키지 제조 방법 |
-
1990
- 1990-10-09 JP JP27108890A patent/JP2903686B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101823930B1 (ko) * | 2011-08-29 | 2018-01-31 | 삼성전자주식회사 | 발광소자 패키지 어레이 및 발광소자 패키지 제조 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04146676A (ja) | 1992-05-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |