SU741327A1 - Способ отбраковки резисторов - Google Patents
Способ отбраковки резисторов Download PDFInfo
- Publication number
- SU741327A1 SU741327A1 SU772522074A SU2522074A SU741327A1 SU 741327 A1 SU741327 A1 SU 741327A1 SU 772522074 A SU772522074 A SU 772522074A SU 2522074 A SU2522074 A SU 2522074A SU 741327 A1 SU741327 A1 SU 741327A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- resistors
- resistor
- conductivity
- capacitance
- rejecting
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к радиоэлектронике и может, в частности, быть использовано при производстве высоконелинейных резисторов дл разр дников и ограничителей перенапр жений .
Известен-способ обработки резисторов , включающий определение их пропускной способности, заключающийс в том, что выборка из партии резисторов испытываетс гарантированным или несколько большим током,понижающим или исчерпывающем ресурс пропускной способности 1.
Недостатком этого способа вл етс то, что резисторы после испытаний не пригодны к использованию Кроме того, веро тность по влени бракованных резисторов в партии остаетс и зависит от величины выборки .
Известен способ отбраковки резисторов , при котором пропускную способность резисторов определ ют по изменению падени напр жени между концом электрода и краем резистора при приложении коротковолнового длительностью от 10 до 20 МКС импульса тока номинальной величины (5 кА и выше) и подкученное значение сравнивают с предварительно определенной предельной дл данного типа резисторов величиной 2.
Недостатком данного способа- вл етс его трудоемкость и невозможность .обнаружени трещин в дисках резисторов, которые могут образовыватьс в процессе прессовани резисторов .
10
Цель изобретени - обеспечение возможности неразрушающего контрол и упрощение способа.
Указанна цель достигаетс тем, что в способе отбраковки резисторов,
15 включающемопределение пропускной способности резисторов путем измерени электрических параметров, определение пропускной способности производ т путем измерени емкости и про20 водимости при напр жении 8-10 В и частоте 0,9-1,1 кГц.
Измерение емкости вы вл ет такие технологические дефекты оксидноцинковых нелинейн-ых резисторов, как
25 трещинки, неплотности и слоистость структуры, не обнаруживаемые вне1иниМ осмотром и не про вл ющиес в вольт ,амперной характеристике, но резко снижающие токовую пропускную способ30 ность. Эти дефекты сказываютс на
величине емкости резисторов, потому что представл ют собой воздушные емкости , включенные последовательно с емкостью тела резистора.
Одновременно с измерением емкости на мосте переменного тока измер етс и проводимость резистора при малом напр жении, поскольку нелинейный резистор может быть представлен емкостью, шунтированной линейным резистором .
Если резистор имеет участки повышенной электропроводности, т.е. дефекты , по вившиес при случайном попадании в резистор провод щих окислов или при местном нарушении окислительного характера газовой среды в процессе спекани , то происходит существенное ухудшение нелинейности ег вольт-амперной характеристики.
Это ухудшение про вл етс в увеличении на пор док проводимости, измеренной на мосте переменного то.ка. Таким образом, измерени емкости и проводимости на мосте переменного тока позвол ют проводить отбраковку резисторов как по пропускной способности, так и по нелинейности .
Дл примера в табл. 1 приведены результаты измерени емкости и проводимости и итоги испытани пропускной способности. Резисторы 0 34 мм нагружались токами 200 и 240 А на пр моугольной волне, длительностью 2 МКС.
в таблице указано число импульсовнагрузки , которые диски выдержали. Импульс, который вызвал пробой, . помечен крестом. Коэффициент нелинейности вычислен дл диапазона токов 0,1 и 1,0 мА.
Резисторы 2944, 2949 и 2951, обладавшие малой емкостью;пробились на токе 200 А, в то врем как остальные резисторы выдержали нагрузху током и 200 и 240 А. Таким образом, уровень гарантированных токов в партии может быть подн т до 240 А.
В табл. 2 представлено вли ние проводимости на коэффициент нелинейности . Резисторы № 3318-3326 имеют проводимость более чем на пор док превышающую проводимость резисторов №№ 3167-3174. При этом у первых коэффициент нелинейности также почти в 6 раз больше, чем у резисторов 3167-3174.
Таким образом, измер емкость и проводимость резисторов на мосте переменного тока можно отбраковывать диски, обладающие как пониженной способностью , так и пониженной нелинейностью .
Использование предложенного способа контрол резисторов позвол ет проводить 100%-ный контроль производимых резисторов.Способ прост,измерени по данному способу производ тс с минимальной тратой времени и при этом не расходуетс ресурс резисторов . .
Таблица 1
2941 2942 2943 2944 2945 2946 2947 2948 2949 2950 2951 2952
240
20 20 20
20 20 20 20
240
20 20
240
240
Таблица 2
Claims (1)
- Формула изобретенияСпособ отбраковки резисторов,включающий определение пропускной способности резисторов путем измерения электрических параметров, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности неразрушающего контроля- резисторов и упрощения способа, определение пропускной способности производят путем измерения емкости и проводимости при напряжении 8-10 В и частоте 0,9-1,1 кГц.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772522074A SU741327A1 (ru) | 1977-08-31 | 1977-08-31 | Способ отбраковки резисторов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772522074A SU741327A1 (ru) | 1977-08-31 | 1977-08-31 | Способ отбраковки резисторов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU741327A1 true SU741327A1 (ru) | 1980-06-15 |
Family
ID=20723998
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772522074A SU741327A1 (ru) | 1977-08-31 | 1977-08-31 | Способ отбраковки резисторов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU741327A1 (ru) |
-
1977
- 1977-08-31 SU SU772522074A patent/SU741327A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU741327A1 (ru) | Способ отбраковки резисторов | |
Hasse et al. | Quality assessment of ZnO-based varistors by 1/f noise | |
US3414811A (en) | Method and apparatus for testing the resistance characteristics of selfheated electrical resistors | |
JPH0521429B2 (ru) | ||
RU2247365C1 (ru) | Устройство для измерения удельной электропроводности жидких сред | |
SU691954A2 (ru) | Способ определени потенциальноненадежного контакта | |
CN112326736B (zh) | 一种氧化锌避雷器阀片的无损检测方法 | |
Hasse et al. | Factors determining the production testing of high reliability interference supressor capacitors | |
Suits | Experiments with arcs at atmospheric pressure | |
JP2584093B2 (ja) | 絶縁膜の信頼性評価方法 | |
US3478260A (en) | Testing for the presence of a contaminant in an insulating or semiconducting medium | |
JPS63124437A (ja) | 半導体素子用絶縁体薄膜の評価装置 | |
SU930164A2 (ru) | Способ контрол контактных соединений | |
SU1337837A1 (ru) | Способ неразрушающего контрол качества изготовлени высоковольтной изол ции | |
SU411535A1 (ru) | ||
JPS60185174A (ja) | 絶縁体膜の評価方法 | |
Hasse et al. | Foil Capacitors Reliability Prediction Based On Fluctuation And Non‐Linear Phenomena | |
JP3807649B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサの選別方法 | |
JPH09138206A (ja) | ガスセンサの検査方法 | |
KR900006188Y1 (ko) | 중간주파_증폭 검파회로 | |
SU1177778A1 (ru) | Способ определени координат дефектов в электроизол ционных материалах | |
JPH0726977B2 (ja) | サージ分類回路 | |
SU1372252A1 (ru) | Устройство дл определени удельного объемного электрического сопротивлени полимерных материалов | |
JPH0669005A (ja) | サージアブソーバの試験方法 | |
RU2069405C1 (ru) | Способ контроля качества оксидно-полупроводниковых конденсаторов |