SU741327A1 - Способ отбраковки резисторов - Google Patents

Способ отбраковки резисторов Download PDF

Info

Publication number
SU741327A1
SU741327A1 SU772522074A SU2522074A SU741327A1 SU 741327 A1 SU741327 A1 SU 741327A1 SU 772522074 A SU772522074 A SU 772522074A SU 2522074 A SU2522074 A SU 2522074A SU 741327 A1 SU741327 A1 SU 741327A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
resistors
resistor
conductivity
capacitance
rejecting
Prior art date
Application number
SU772522074A
Other languages
English (en)
Inventor
Вера Ильинична Пружинина
Виктор Владимирович Александров
Зинаида Дмитриевна Куклина
Ирина Андреевна Натровская
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6517
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6517 filed Critical Предприятие П/Я Р-6517
Priority to SU772522074A priority Critical patent/SU741327A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU741327A1 publication Critical patent/SU741327A1/ru

Links

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к радиоэлектронике и может, в частности, быть использовано при производстве высоконелинейных резисторов дл  разр дников и ограничителей перенапр жений .
Известен-способ обработки резисторов , включающий определение их пропускной способности, заключающийс  в том, что выборка из партии резисторов испытываетс  гарантированным или несколько большим током,понижающим или исчерпывающем ресурс пропускной способности 1.
Недостатком этого способа  вл етс  то, что резисторы после испытаний не пригодны к использованию Кроме того, веро тность по влени  бракованных резисторов в партии остаетс  и зависит от величины выборки .
Известен способ отбраковки резисторов , при котором пропускную способность резисторов определ ют по изменению падени  напр жени  между концом электрода и краем резистора при приложении коротковолнового длительностью от 10 до 20 МКС импульса тока номинальной величины (5 кА и выше) и подкученное значение сравнивают с предварительно определенной предельной дл  данного типа резисторов величиной 2.
Недостатком данного способа-  вл етс  его трудоемкость и невозможность .обнаружени  трещин в дисках резисторов, которые могут образовыватьс  в процессе прессовани  резисторов .
10
Цель изобретени  - обеспечение возможности неразрушающего контрол  и упрощение способа.
Указанна  цель достигаетс  тем, что в способе отбраковки резисторов,
15 включающемопределение пропускной способности резисторов путем измерени  электрических параметров, определение пропускной способности производ т путем измерени  емкости и про20 водимости при напр жении 8-10 В и частоте 0,9-1,1 кГц.
Измерение емкости вы вл ет такие технологические дефекты оксидноцинковых нелинейн-ых резисторов, как
25 трещинки, неплотности и слоистость структуры, не обнаруживаемые вне1иниМ осмотром и не про вл ющиес  в вольт ,амперной характеристике, но резко снижающие токовую пропускную способ30 ность. Эти дефекты сказываютс  на
величине емкости резисторов, потому что представл ют собой воздушные емкости , включенные последовательно с емкостью тела резистора.
Одновременно с измерением емкости на мосте переменного тока измер етс  и проводимость резистора при малом напр жении, поскольку нелинейный резистор может быть представлен емкостью, шунтированной линейным резистором .
Если резистор имеет участки повышенной электропроводности, т.е. дефекты , по вившиес  при случайном попадании в резистор провод щих окислов или при местном нарушении окислительного характера газовой среды в процессе спекани , то происходит существенное ухудшение нелинейности ег вольт-амперной характеристики.
Это ухудшение про вл етс  в увеличении на пор док проводимости, измеренной на мосте переменного то.ка. Таким образом, измерени  емкости и проводимости на мосте переменного тока позвол ют проводить отбраковку резисторов как по пропускной способности, так и по нелинейности .
Дл  примера в табл. 1 приведены результаты измерени  емкости и проводимости и итоги испытани  пропускной способности. Резисторы 0 34 мм нагружались токами 200 и 240 А на пр моугольной волне, длительностью 2 МКС.
в таблице указано число импульсовнагрузки , которые диски выдержали. Импульс, который вызвал пробой, . помечен крестом. Коэффициент нелинейности вычислен дл  диапазона токов 0,1 и 1,0 мА.
Резисторы 2944, 2949 и 2951, обладавшие малой емкостью;пробились на токе 200 А, в то врем  как остальные резисторы выдержали нагрузху током и 200 и 240 А. Таким образом, уровень гарантированных токов в партии может быть подн т до 240 А.
В табл. 2 представлено вли ние проводимости на коэффициент нелинейности . Резисторы № 3318-3326 имеют проводимость более чем на пор док превышающую проводимость резисторов №№ 3167-3174. При этом у первых коэффициент нелинейности также почти в 6 раз больше, чем у резисторов 3167-3174.
Таким образом, измер   емкость и проводимость резисторов на мосте переменного тока можно отбраковывать диски, обладающие как пониженной способностью , так и пониженной нелинейностью .
Использование предложенного способа контрол  резисторов позвол ет проводить 100%-ный контроль производимых резисторов.Способ прост,измерени  по данному способу производ тс  с минимальной тратой времени и при этом не расходуетс  ресурс резисторов . .
Таблица 1
2941 2942 2943 2944 2945 2946 2947 2948 2949 2950 2951 2952
240
20 20 20
20 20 20 20
240
20 20
240
240
Таблица 2

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Способ отбраковки резисторов,включающий определение пропускной способности резисторов путем измерения электрических параметров, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности неразрушающего контроля- резисторов и упрощения способа, определение пропускной способности производят путем измерения емкости и проводимости при напряжении 8-10 В и частоте 0,9-1,1 кГц.
SU772522074A 1977-08-31 1977-08-31 Способ отбраковки резисторов SU741327A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772522074A SU741327A1 (ru) 1977-08-31 1977-08-31 Способ отбраковки резисторов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772522074A SU741327A1 (ru) 1977-08-31 1977-08-31 Способ отбраковки резисторов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU741327A1 true SU741327A1 (ru) 1980-06-15

Family

ID=20723998

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772522074A SU741327A1 (ru) 1977-08-31 1977-08-31 Способ отбраковки резисторов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU741327A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU741327A1 (ru) Способ отбраковки резисторов
Hasse et al. Quality assessment of ZnO-based varistors by 1/f noise
US3414811A (en) Method and apparatus for testing the resistance characteristics of selfheated electrical resistors
JPH0521429B2 (ru)
RU2247365C1 (ru) Устройство для измерения удельной электропроводности жидких сред
SU691954A2 (ru) Способ определени потенциальноненадежного контакта
CN112326736B (zh) 一种氧化锌避雷器阀片的无损检测方法
Hasse et al. Factors determining the production testing of high reliability interference supressor capacitors
Suits Experiments with arcs at atmospheric pressure
JP2584093B2 (ja) 絶縁膜の信頼性評価方法
US3478260A (en) Testing for the presence of a contaminant in an insulating or semiconducting medium
JPS63124437A (ja) 半導体素子用絶縁体薄膜の評価装置
SU930164A2 (ru) Способ контрол контактных соединений
SU1337837A1 (ru) Способ неразрушающего контрол качества изготовлени высоковольтной изол ции
SU411535A1 (ru)
JPS60185174A (ja) 絶縁体膜の評価方法
Hasse et al. Foil Capacitors Reliability Prediction Based On Fluctuation And Non‐Linear Phenomena
JP3807649B2 (ja) 積層セラミックコンデンサの選別方法
JPH09138206A (ja) ガスセンサの検査方法
KR900006188Y1 (ko) 중간주파_증폭 검파회로
SU1177778A1 (ru) Способ определени координат дефектов в электроизол ционных материалах
JPH0726977B2 (ja) サージ分類回路
SU1372252A1 (ru) Устройство дл определени удельного объемного электрического сопротивлени полимерных материалов
JPH0669005A (ja) サージアブソーバの試験方法
RU2069405C1 (ru) Способ контроля качества оксидно-полупроводниковых конденсаторов