JPH01294318A

JPH01294318A - リードスイッチ検査装置

Info

Publication number: JPH01294318A
Application number: JP24910888A
Authority: JP
Inventors: Isao Kudo; 勲工藤
Original assignee: Oki Electric Industry Co Ltd
Current assignee: Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date: 1988-02-16
Filing date: 1988-10-04
Publication date: 1989-11-28

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明はリードスイッチの不良検出回路に関するもので
ある。

（従来の技術）一般的なリードスイッチの構成は、例えば、第３図に示
すようになっている。即ち、一対の磁性材料を各々が弾
性的に撓むことができる様にその一部をプレス加工した
線材（リード）１を適当な重なり　（オーバーラツプ）
２と間隔（ギャップ）３を持たせて不活性ガス４と共に
ガラスチューブ５に封入した磁気駆動型のスイッチであ
る。

また、そのリードスイッチの製造においては、ターンテ
ーブル上に封着ヘンドを有するターンテ−プル方式の自
動封着機による製造方法が、大量に生産を行う場合には
よく用いられる。

この場合、各封着ヘッドの特性や設定位置にはズレがあ
り、製造されるリードスイッチの製品感動値にバラツキ
を生じさせたり、不良の原因となっている。

リードスイッチの特性については、他に開′放値及び接
触抵抗値があり、各項目について検査が行われるが、タ
ーンテーブル方式の自動封着機によるリードスイッチの
製造の場合、封着機の製造のタクトタイムに対し、各特
性の測定検査に要する時間が長くなり、封着時の全数検
査は不可能であった。

即ち、従来は、第４図に示すように、■リードスイッチ
の封着を行う。次に、■ガラスチューブの密封度検査を
行う。次に、■リードスイッチの外部リードへの貴金属
メツキを行う、その後、■最終検査（ランク分け、不良
品選別）を行うようにしている。

従って、従来、封着終了後、抜き取り検査により各封着
ヘッドの特性傾向や不良率を調べて、各へ、２ドの調整
を行い、特性検査は最終工程で実施されていた。

（発明が解決しようとする課！ｉ！ｉ）しかしながら、
以上述べた最終工程での特性検査によれば、封着工程で
発生した不良品が特性検査工程において測定されるまで
検出不可能であり、資源及び時間が無駄になるといった
問題があった。

本発明は、上記問題点を除去し、測定を簡略化すると共
に、以上述べた封着工程における不良品をその工程の終
了時に検出可能とするリードスイッチ検査装置を提供す
ることを目的とする。

（課題を解決するための手段）本発明は、リードスイッチ検査装置において、リードス
イッチの動作磁界の上限及び下彫の磁界を発生する回路
と、リードスイッチの封着工程の最終段階で用いられる
リードチャックからなる測定用接触子と、該測定用接触
子に接続されるリードスイッチの接点閉時に接点間を流
れる電流値を一定電流以内に制限し得る第１の定電圧回
路と、該第１の定電圧回路に前記測定用接触子を介して
接続され、かつ入力の電圧の制御が可能な第２の定電圧
印加回路が接続されるリードスイッチの接点電圧測定用
電圧バッファと、該バッファの出力電圧を監視してリー
ドスイッチの接点の開閉を検出する回路と、前記バッフ
ァの出力電圧を監視してリードスイッチの測定用接触子
の接触不良を検出する回路とを設けるようにしたもので
ある。

また、前記リードスイッチの測定用接触子の接触不良を
検出する回路における比較器の基準電圧を、前記リード
スイッチへの供試電圧より偏向させてなるようにしたも
のである。

（作用）本発明によれば、従来最終工程で行われている接触抵抗
の測定や感動値／開放値の測定に代わり、リードスイッ
チの封着工程の最終段階のリードチャックを測定用接触
子となして、リードスイッチの動作範囲の磁界の上下限
の磁界を印加し、リードスイッチの開閉状態を測定して
いるので、スイッチの不良を早い時期に迅速に検出する
ことができる。また、リードスイッチの開閉状態を検出
すると共に、リードスイッチの測定用接触子の接触状態
も検出することができ、正確な測定を行うことができる
。

（実施例）以下、本発明の実施例について図面を参照しながら詳細
に説明する。

まず、本発明のリードスイッチの製造工程の概略につい
て第２図を用いて説明する。

■まず、リードスイッチの封着を行い、■その封着工程
の最終段階、つまり、ガラスチューブの冷却を行うため
のリードチャックを測定用接触子として用いて、リード
スイッチのオン・オフ検査を行い、０リードスイツチの
ガラスチューブの密封度検査を行い、［相］リードスイ
ッチの外部リードへのＡｕ等の貴金属のメツキを行い、
■その後、最終検査を行う。

このように、本発明においては、上記■のリードスイッ
チの封着工程の最終段階で、リードスイッチのリード部
分を把持するリードチャックを測走用接触子（金属端子
）とすることにより、リードスイッチの封着工程で同時
に、リードスイッチの接点の開閉検査を行うことができ
る。

従って、リードスイッチの検査を迅速、かつ前便に行う
ことができる。

第１図は本発明の実施例を示すリードスイッチ検査装置
の構成図である。

図中、１１．１２は分圧抵抗、１３は分圧された点に接
続される定電圧ダイオード、１４　ａ　、　１４　ｂ　
、　１４　ｃ　。

１４ｄはリードスイッチのリード部分を把持するリード
チャックからなる測定用接触子、１５は特性検査用励磁
コイル、１６は被検査リードスイッチ、１７は電圧Ｖａ
を供給する電池、１８は電圧ｖｂを供給する電池である
。１９は電圧バッファ　（差動入カバノファ）、２０は
リードスイッチ１６の接点開閉検出を行う比較器、２１
．２３は基準電圧を発生する電池、２２は測定用接触子
１４　ａ　、　１４　ｂ　、　１４　ｃ　、　１４　ｄ
の接触状態を検出する比較器、２４ａ、２４ｂはアナロ
グスイッチ、２５．２６は抵抗、２７はＤ／Ａ変換器、
２８は定電流回路である。

まず、Ｄ／Ａ変換器２７によって制御される定電流回路
２８の出力電流が特性検査用励磁コイル１５に供給され
る。なお、前記Ｄ／Ａ変換器２７は単に電流値を決める
ことができればよいものであり、必ずしもＤ／Ａ変換器
でなくとも、スイッチ、他の回路でも良い。

ここで、以下の説明においては、Ｖａ　＝２Ｖ、Ｖａ＝
＋３Ｖ、ｖｂ＝−１ｖとする。

（Ａ）まず、被検査リードスイッチの接点の開閉の検出
について説明する。

（１）測定用接触子１４　ａ　、　１４　ｂ　、　１４
　ｃ　、　１４　ｄが接触不良なく接続された場合、 ■被検査リードスイッチの接点が開の場合電圧Ｖ、ｌの
駆動能力を電圧Ｖａ、Ｖｂの駆動能力より十分大きくし
ておくことにより、スイッチ２４ａ、２４ｂを閉じても
影響を受けることはなく、電圧バッファ１９はＶ＊＝２
Ｖを出力する。すると、これを比較器２０により、基準
電圧（１／２）Ｖａと比較すれば、比較器２０の出力は
“Ｈ″となり被検査リードスイッチ１６の接点の“開”
が検出され■被検査リードスイッチの接点が閉の場合リ
ードスイッチ１６の接点の閉により、電圧ｖ１１の影響
がなくなりＯＶとなる。よって、比較器２０ば“Ｌ”と
なり、“閉”が検出される。

ＣＢ）次に、測定用接触子の接触不良の有無の検出につ
いて説明する。

まず、接触不良のため被検査リードスイッチが開いてい
る場合について考察する。

（２）測定用接触子１４ｃ、１４ｄは接触不良でなく、
測定用接触子１４ａ、１４ｂが接触不良の場合は、測定
用接触子１４　ｃ　、　１４　ｄは接地される。従って
、アナログスイッチ２４ａ、２４ｂが閉じられると、Ｖ
ａ　−（ＧＮＤ）”３Ｖ＋０Ｖ＝３Ｖとなり、電圧バッ
ファ１９は３ｖを出力する。すると、比較器２２はその
３ｖと電池２３の基ｙＪ雷電圧１との比較により“Ｈ”
を出力する。

（３）測定用接触子１４ａ、１４ｂは接触不良でなく、
測定用接触子１４ｃ、１４ｄが接触不良である場合は、
アナログスイッチ２４ａ、２４ｂが閉じられると、Ｖ、
−Ｖｂ＝２■−（−１Ｖ）＝３Ｖとなり、電圧バッファ
１９は３ｖを出力する。すると、比較器２２はその３■
と電池２３の基準電圧ｖｌとの比較により“Ｈ”を出力
する。

（４）全ての測定用接触子１４ａ、　１４ｂ、　１４ｃ
、　１４ｄが接触不良である場合は、アナログスイッチ
２４ａ。

２４ｂが閉じられると、Ｖａ−ｖｂ＝＋３ｖ　　　（ＩＶ）＝４Ｖとなり、電圧
バッファ１９は４■を出力する。すると、比較器２２は
その４■と電池２３の基ｉＪ＝電圧■、との比較により
“Ｈ”を出力する。

従って、上記（２）〜（４）の場合はいずれも電圧バッ
ファ１９の出力電圧が基準電圧Ｖヮの２ｖより大きくな
り、比較器２２　　は“Ｈ″を出力することになる。

一方、上記（１）の場合は電圧バッファ１９の出力電圧
が２■或いはＯｖとなるなので、比較器２２は“Ｌ”を
出力することになる。

ここで、電圧バッファ１９により出力される電圧は２ｖ
よりもわずかに低いイ直（トランジスタ回路網による電
圧降下のため）のため、電圧■□と比較した場合の比較
器２２の出力は“Ｌ”となる。

なお、通常は、被検査リードスイッチ１６の接点開閉検
査時においては、アナログスイッチ２４ａ。

２４ｂは開の状態であるが、被検査リードスイッチ１６
の特性検査開始時にはアナログスイッチ２４ａ。

２４ｂを閉とすることにより、検査を行うこと示できる
。

以上の回路構成により、手順としてはスイッチの怒動上
限値で被検査スイッチの接点が閉であること、逆にスイ
ッチの感動下限値で接点が開であることを検査すること
ができる。また、接点の状態が逆の場合は、該リードス
イッチは不良と判定される。

第５図は本発明の他の実施例を示すリードスイッチ検査
装置の構成図である。

この実施例においては、比較器２２の電池２３の基準電
圧をｖ１＋αに設定するようにした点が前記実施例と相
違するのみで、その他の点は変わらない。

従って、（Ａ）まず、被検査リードスイッチの接点の開閉の検出
の動作は前記実施例の動作と同様である。

（Ｂ）次に、測定用接触子の接触不良の有無の検出につ
いて説明する。

（２）測定用接触子１４ｃ、１４ｄは接触不良でなく、
測定用接触子１４ａ、１４ｂが接触不良の場合は、測定
用接触子１４ｃ、１４ｄは接地される。従って、アナロ
グスイッチ２４ａ、２４ｂが閉じられると、Ｖａ　−（
ＧＮＤ）＝３Ｖ＋０Ｖ＝３Ｖとなり、電圧バッファ１９
は３■を出力する。すると、比較器２２はその３■と電
池２３の基準電圧Ｖ、＋αとの比較により“Ｈ”を出力
する。

（３）測定用接触子１４ａ、１４ｂは接触不良でなく、
測定用接触子１４ｃ、１４ｄが接触不良である場合は、
アナログスイッチ２４ａ、２４ｂが閉じられると、ＶＲ
−Ｖｂ＝２Ｖ−（−１Ｖ）＝３Ｖとなり、電圧バッファ
１９は３ｖを出力する。すると、比較器２２はその３ｖ
と電池２３の基準電圧ｖＲ＋αとの比較により“Ｈ”を
出力する。

（４）全ての測定用接触子１４　ａ　、　１４　ｂ　、
　１４　ｃ　、　１４　ｄが接触不良である場合は、ア
ナログスイッチ２４ａ。

２４ｂが閉じられると、Ｖａ−Ｖｂ＝＋３Ｖ−（−１Ｖ）”４Ｖとなり、電圧バ
ッファ１９は４ｖを出力する。すると、比較器２２はそ
の４ｖと電池２３の基準電圧■、＋αとの比較により“
Ｈ”を出力する。

従って、上記（２）〜（４）の場合はいずれも電圧バシ
フプ１９の出力電圧が基準電圧■６＋αの２．５Ｖより
大きくなり、比較器２２　　は“Ｈ”を出力することに
なる。

一方、上記（１）の場合は電圧バッファ１９の出力電圧
が２ｖ或いはＯｖとなるなので、比較器２２は“Ｌ”を
出力することになる。

ここで、電圧バッファ１９により出力される電圧は２ｖ
よりもわずかに低い値（トランジスタ回路網による電圧
降下のため）のため、電圧Ｖ、＋αと比較した場合の比
較器２２の出力は“Ｌ”となる。

上記したように、リードスイッチに測定用接触子１４２
〜１４ｄが接触不良なく接続されると、リードスイッチ
の接点は励磁なしの場合には、オープンになるので、比
較器２２の出力は、定電圧ダイオード１３の接点間印加
電圧（＝■ｌｌ）と比較器２２の電池２３の基準電圧（
＝Ｖえ）の電圧値とが比較されることになる。

従って、両者の電圧値をどちらもｖｌｌに設定する場合
、その差は非常に小さくなり、経時変化により比較器出
力の極性が反転して誤判定を招く恐れがある。

そのため、上記の場合においても、誤判定を招く恐れが
ないように、比較器２２の電池２３の基ｒ＃主電圧電圧
値を設定しておくことにより、判定の信頼性の向上を図
るようにしたものである。

なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能であり、これ
らを本発明の範囲から排除するものではない。

（発明の効果）以上、詳細に説明したように、本発明によれば、従来最
終工程で行われていた感動値の測定や、接触抵抗値の測
定の代わりに、リードスイッチの封着工程の最終段階で
リードスイッチの感動上下限値を設定し、接点の開閉の
検査だけを行って、スイッチの不良を早期段階で迅速に
検出し、製造工程から除くことができる。従って、（１
）ガラスチューブの密封度検査や外部リード部への貴金
属のメツキを、従来のように不良品に対して施すことが
なくなり、その分、資源及び時間の無駄をなくすことが
できる。（２）リードスイッチの封着工程における不良
率が高い場合には、直ちに封着ヘッドの調整などを行い
、不良率の低減化を図ることができる。（３）最終検査
でそれだけ不良品が低減することになり、検査工数を削
減できる。

また、自動機とこの検査装置が組み合わせられるので、
リードスイッチの封着工程においてリードスイッチの全
数検査が可能となる。

更に、リードスイッチの開閉検査と共に、リードスイッ
チに対する測定接触子の接触状態も同時検出することが
できるので、正確な測定を行うことができる。

また、その回路構成は簡単なもので済ますことができる
。

加えるに、リードスイッチの測定用接触子の接触不良を
検出する回路における比較器の基準電圧を、リードスイ
ッチへの供試電圧より偏向させるようにしたので、経時
変化による比較器出力の極性が反転して誤判定を招く恐
れもなくなり、判定の信頼性の向上を図ることができる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例を示すリードスイッチ検査装置
の構成図、第２図は本発明のリードスイッチの概略製造
工程図、第３図は一般的なリードスイッチの構成図、第
４図は従来のリードスイッチの概略製造工程図、第５図
は本発明の他の実施例を示すリードスイッチ検査装置の
構成図である。１１、１２・・・分圧抵抗、１３・・・定電圧ダイオー
ド、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、１４ｄ・−・測定用接触
子（リードチャック）、Ｉ５・・・特性検査用励磁コイ
ル、工６・・・被検査リードスイッチ、１７．１８．２
１．２３・・・電池、１９・・・電圧バッファ、２０・
・・、２２・・・比較器、２４ａ、２４ｂ・・・アナロ
グスイッチ、２５．２６・・・抵抗、２７・・・Ｄ／Ａ
変換器、２８・・・定電流回路。特許出願人　沖電気工業株式会社代理人　弁理士　　清　水　　守（外１名）耕５弓シリ
ード人イアｆのス既［５８ヰ芝衣［工呵＝Ｖへ　　　　
　　　　右も♀クリート又不ｌテ慰引〒モＬｆＬ１〒ｉ
し１第２図　　　　第４図 −８１６なリードスイッチの１緯ル１口第３図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）（ａ）リードスイッチの動作磁界の上限及び下限の磁界
を発生する回路と、（ｂ）リードスイッチの封着工程の最終段階で用いられ
るリードチャックからなる測定用接触子と、（ｃ）該測定用接触子に接続されるリードスイッチの接
点閉時に接点間を流れる電流値を一定電流以内に制限し
得る第１の定電圧回路と、（ｄ）該第１の定電圧回路に前記測定用接触子を介して
接続され、かつ入力の電圧の制御が可能な第２の定電圧
印加回路が接続されるリードスイッチの接点電圧測定用
電圧バッファと、（ｅ）該バッファの出力電圧を監視してリードスイッチ
の接点の開閉を検出する回路と、（ｆ）前記バッファの
出力電圧を監視してリードスイッチの測定用接触子の接
触不良を検出する回路とを具備するリードスイッチ検査
装置。
（２）前記リードスイッチの測定用接触子の接触不良を
検出する回路における比較器の基準電圧を前記リードス
イッチへの供試電圧より偏向させてなる請求項１記載の
リードスイッチ検査装置。