JP2829241B2 - プラント支援装置 - Google Patents

プラント支援装置

Info

Publication number
JP2829241B2
JP2829241B2 JP6174550A JP17455094A JP2829241B2 JP 2829241 B2 JP2829241 B2 JP 2829241B2 JP 6174550 A JP6174550 A JP 6174550A JP 17455094 A JP17455094 A JP 17455094A JP 2829241 B2 JP2829241 B2 JP 2829241B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inference
plant
knowledge base
equipment
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP6174550A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0844423A (ja
Inventor
正一 内原
道浩 石井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP6174550A priority Critical patent/JP2829241B2/ja
Priority to US08/505,818 priority patent/US5818713A/en
Priority to EP95111711A priority patent/EP0694825B1/en
Priority to DE69521172T priority patent/DE69521172T2/de
Publication of JPH0844423A publication Critical patent/JPH0844423A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2829241B2 publication Critical patent/JP2829241B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0259Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterized by the response to fault detection
    • G05B23/0267Fault communication, e.g. human machine interface [HMI]
    • G05B23/0272Presentation of monitored results, e.g. selection of status reports to be displayed; Filtering information to the user
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B13/00Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion
    • G05B13/02Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric
    • G05B13/0265Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric the criterion being a learning criterion
    • G05B13/028Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric the criterion being a learning criterion using expert systems only
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0218Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
    • G05B23/0243Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults model based detection method, e.g. first-principles knowledge model
    • G05B23/0245Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults model based detection method, e.g. first-principles knowledge model based on a qualitative model, e.g. rule based; if-then decisions
    • G05B23/0251Abstraction hierarchy, e.g. "complex systems", i.e. system is divided in subsystems, subsystems are monitored and results are combined to decide on status of whole system

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はプラントの異常発生時
での運転や運用を支援する装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】プラント支援装置はプラント系統図を活
用した知識ベースと推論機構を有してオンラインのリア
ルタイムで対象プラントのプロセスデータを収集して処
理することで各支援機能を実行する。例えば、発電プラ
ントへの適用には、プラントにおける各設備機器を示す
シンボル(図形記号)と各設備機器間を結ぶ配管や配線
などを示す接続線とからなるプラント系統図を画面表示
し、オンラインのリアルタイムでプラントの各設備機器
の状態やプラントを流れる媒体の状態および制御指令の
状態などの入力データを得て、このデータと推論の目的
ごとに分割された知識ベースとを用いることによって、
プラントの異常検知と異常設備の特定および異常原因の
特定などの推論を行い、プラントの異常発生時での運転
や運用を支援する。図12は従来のプラント支援装置を
示す構成図、図13は同従来例の推論処理を示すフロー
チャートである。図12において、1はプラントからの
オンライン入力値情報を収集して加工するプロセス入出
力装置、2はプロセス入出力装置1からのデータを計算
機に必要な形態に加工するデータ処理部、3はデータ処
理部2からのデータをサンプリングごとに推論処理に必
要な形態に加工する推論処理インターフェース部であ
る。4は推論部であって、これは異常検知部4aと異常
設備特定部4bと原因特定部4cおよび対応操作導出部
4dとを備え、異常検知部4aがサンプリングごとに推
論処理インターフェース部3から伝送されるプラント情
報に対して監視を常時行い、異常検知部4aがプラント
の異常を検知すると、異常設備特定部4bがプラントの
どの設備が異常を発生しているのかを特定し、原因特定
部4cが特定された異常設備内の原因候補を切り分けて
原因を特定し、対応操作部4dが特定された原因と対応
すべき操作内容を導出する。5は推論部4で推論された
結果を推論結果として出力するための処理を行う推論結
果処理部、6は推論結果処理部5やデータ処理部2から
のデータをグラフィック画面として生成し処理するグラ
フィックス処理部、7はグラフィックス処理部6や操作
部14を総合的に統括するマンマシンインターフェース
部である。8は推論部4で推論を実行するのに必要とな
る知識ベースであって、これは異常検知部4aでの推論
を実行するのに必要となる異常検知知識ベース8aと、
異常設備特定部4bや原因判定部4cおよび対応操作導
出部4dでの推論を実行するのに必要となる設備機器ご
との知識データおよび系統図の図面データを保有する知
識ベース8cとから構成される。12は推論部4で行っ
た推論結果を過去の履歴として保存する推論履歴ファイ
ル、14はマンマシンインターフェース部7やグラフィ
ックス処理部6を経由してきた操作指令を管理し各処理
部へ処理命令を伝達処理する操作部、19は出力装置の
一部であるCRT装置、19aはCRT装置19に出力
されるグラフィック系統図、19bは入出力部19のC
RT装置に出力される推論結果出力図である。
【0003】次に、従来のプラント支援装置の動作につ
いて図12および図13を参照しつつ説明する。プロセ
ス入出力装置1とデータ処理部2および推論処理インタ
ーフェース3で推論用に処理されたサンプリングnのプ
ロセスデータが入力され、推論処理が開始すると、異常
検知部4aによる異常検知推論処理が行われる(ステッ
プ601)。この異常検知推論処理においては、推論処
理インターフェース3からの入力データと異常検知知識
ベース8aに格納されたプラントの状態を表す諸条件と
を比較することにより、プラントに異常が発生している
かを推論する。そして、異常が発生していない場合は、
n回目のサンプリングに関する推論は終了し、n+1回
目のサンプリングデータに関する推論処理へと移行する
(ステップ602がNO、ステップ609)。また、異
常が発生している場合は、異常検知部4aが異常名(異
常現象名)やデータなどを推論結果処理部5を経由して
グラフィックス処理部6に送り、グラフィックス処理部
6が送られてきたデータから画面データを生成してマン
マシンインターフェース7を経由してCRT装置19に
送り、CRT装置19が異常名などのデータを画面表示
する(ステップ602がYES、ステップ603)。引
き続き、異常設備特定部4bによる異常設備特定推論処
理を行う(ステップ604)。この異常設備特定推論処
理においては、異常発生に関わるデータを出力している
設備機器を探索し、その設備機器の知識ベース8cのう
ち設備機器の正常状態に関する記述内容と推論処理イン
ターフェース3から入力されたデータとを比較し、探索
された該当設備機器が正常かを推論する。該当設備機器
が正常である場合は配管など接続された因果関係のある
設備機器の異常設備特定推論へと推論を継続する。そし
て、原因特定部4cによる原因特定推論処理へと推論を
進める(ステップ605)。この原因特定推論処理にお
いては、異常が発生していると特定された設備機器の知
識ベース8cと推論処理インターフェース3からの入力
データとを比較し、知識ベース8cの入力データと同内
容の記述部分を探索し、その探索木の分岐を繰り返すこ
とで、記述されている原因を最終的に推論し、その最終
的な推論結果を推論結果処理部5を経由してグラフィッ
クス処理部6に送り、グラフィックス処理部6が送られ
てきたデータから画面データを生成してマンマシンイン
ターフェース7を経由してCRT装置19に送り、CR
T装置19が異常原因を画面表示する(ステップ60
6)。さらに、対応操作導出部4dによる対応操作ガイ
ド導出推論処理へと推論を進める(ステップ607)。
この対応操作ガイド導出推論処理においては、設備機器
の知識ベース8cの記述内容から特定された原因名と同
じ名称が記述された部分を検索し、その原因に対してと
るべき対応操作内容が記述されている部分を導出する。
その対応操作ガイダンスを推論結果処理部5へ送り、グ
ラフィックス処理部6が送られてきた対応操作ガイダン
スを画面データとして生成してマンマシンインターフェ
ース7を通してCRT装置19に送り、CRT装置19
が異常対処操作を表示する(ステップ608)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のプラント支
援装置は、以上のように知識ベース8cがファイルの内
容をパターン化した一定の範囲のみをまとめられた構成
となっているため、対象プラントが大規模になれば、知
識ベース8cの量が膨大なものとなる。このような知識
ベース8cを構築する場合は、対象プラントのプラント
系統図を参考にプラント系統図の構成要素とその構成要
素の特性や動作状態などの知識との対応付けを行いなが
ら、知識ベース8cの構築を進めなければならず、多大
な労力と時間とを要し、構築を行う者の負担が大きくな
るという問題があった。また、膨大な量の知識ベース8
cを使用し推論を実行した場合、最終的に原因を特定
し、対応操作ガイダンスを導出するまでに係る処理効率
が悪く、推論実行に必要な時間が増大し、異常回復への
処置が遅くなるという障害もあった。また、プラント支
援装置として表示する情報には、推論結果や関連するデ
ータなどがあるが、推論の過程や使用している知識ベー
ス8cが操作者には理解し難いなどの理由もあり、異常
発生時に操作者が異常状態を確認、解析するには信頼性
が低いという問題も内在した。
【0005】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、その第1の目的は、知識ベースと
推論処理の階層化により、知識ベースの構築および推論
実行時の効率を向上することである。第2の目的は、推
論実行に関わる情報を統括し管理することにより、異常
発生時に異常内容を把握し、異常状態の解析および対処
容易な質の高い情報を提示することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載された第
1の発明に係るプラント支援装置は、上位階層と下位階
層との関係を保って多階層化された階層別知識ベースを
異常設備特定用の知識ベースとして設けたものである。
【0007】請求項2に記載された第2の発明に係るプ
ラント支援装置は、異常設備特定推論を階層化された上
位階層の知識ベースから順番に推論する構成としたもの
である。
【0008】請求項3に記載された第3の発明に係るプ
ラント支援装置は、段階的に異常設備が絞り込まれてい
く様子をCRT装置などの表示装置に描画された系統図
上へ色替えやフリッカによりリアルタイムで表示する構
成としたものである。
【0009】請求項4に記載された第4の発明に係るプ
ラント支援装置は、階層別知識ベースを合成する場合
に、最下位階層の知識ベースから上位階層の知識ベース
を生成する構成としたものである。
【0010】請求項5に記載された第5の発明に係るプ
ラント支援装置は、合成して生成され多階層化された知
識ベースを異常発生時の推論結果として出力する構成と
したものである。
【0011】請求項6に記載された第6の発明に係るプ
ラント支援装置は、異常発生時の画面表示としてプロセ
スデータやプロセスデータのトレンドを表示する構成と
したものである。
【0012】請求項7に記載された第7の発明に係るプ
ラント支援装置は、過去の異常発生時のデータを再帰処
理し使用して再度推論を行う構成としたものである。
【0013】請求項8に記載された第8の発明に係るプ
ラント支援装置は、推論結果を表示する場合に推論結果
として推論に適用した知識ベースと知識ベースで使用し
たプロセスデータの異常発生前後のデータを選択し関連
づけて表示する構成としたものである。
【0014】請求項9に記載された第9の発明に係るプ
ラント支援装置は、過去の異常発生時の推論履歴として
推論に適用した知識ベースと知識ベースで使用したプロ
セスデータを選択し関連づけて表示する構成としたもの
である。
【0015】
【作用】第1の発明のプラント支援装置は、階層別知識
ベースが推論実行時に適用する知識ベースの量を減少さ
せ、推論実行時間を短縮する。
【0016】第2の発明のプラント支援装置は、階層別
知識ベースの上位階層の知識から最下位階層へと順番に
推論を行う。
【0017】第3の発明のプラント支援装置は、階層別
知識ベースの上位階層の知識から最下位階層へと順番に
推論を行うときに、段階毎の推論過程、推論結果を、グ
ラフィック的に色替え表示やフリッカ表示などにより、
わかりやすい形でCRT装置などの出力装置に表示す
る。
【0018】第4の発明のプラント支援装置は、最下位
階層から上位階層の知識ベースへと順番に階層別知識ベ
ースを合成する。
【0019】第5の発明のプラント支援装置は、合成さ
れた上位階層の知識ベースを推論結果として表示するこ
とで、理解しやすい階層別知識ベースを提示する。
【0020】第6の発明のプラント支援装置は、プロセ
スデータを連続的に記録して保存するとともに、この保
存されたプロセス記録データをトレンド表示する。
【0021】第7の発明のプラント支援装置は、プロセ
ス記録データとして保存された過去のプラントプロセス
データを再帰し再度推論に使用する。
【0022】第8の発明のプラント支援装置は、推論に
使用した知識とプロセスデータを関連づけて出力し表示
する。
【0023】第9の発明のプラント支援装置は、過去の
異常発生時の推論結果として推論に使用した知識とプロ
セスデータを関連づけて出力し表示する。
【0024】
【実施例】以下、この発明の実施例1〜実施例8につい
て図1〜図11を用い、前記従来例と同一部分に同一符
号を付して説明する。 実施例1(請求項1、請求項2に対応).図1は実施例
1のプラント支援装置を示す構成図、図2は実施例1の
階層別知識ベースの階層化の概念を示す図、図3は実施
例1の推論処理を示すフローチャートである。
【0025】図1において、この実施例1のプラント支
援装置は、大まかには、前記従来例と同様のプロセス入
出力装置1、データ処理部2、推論処理インターフェー
ス部3、推論部4、推論結果処理部5、マンマシンイン
ターフェース部7、推論履歴ファイル12、操作部14
およびCRT装置19に加え、グラフィックス処理部6
A、知識ベース8A、階層知識管理部10、知識ベース
合成処理部11、時系列データ処理部16およびデータ
合成部20を備えている。推論部4は前記実施例と同様
の異常検知部4aと異常設備特定部4bと原因特定部4
cと対応操作導出部4dとから構成される。グラフィッ
クス処理部6Aは推論結果処理部5やデータ処理部2か
らのデータをグラフィック画面として生成し処理する一
方、異常設備特定推論で異常として特定される構成要素
が上位階層から下位階層へ向けて段階的に絞り込まれて
いく推論の過程を、異常設備の拡大ズーム表示や色替え
表示またはフリッカ表示としてCRT装置19へ出力す
る。知識ベース8Aは異常検知知識ベース8aと階層別
知識ベース8bとから構成される。この階層別知識ベー
ス8bはファイル管理をいくつかの層に分けて行うため
に、基準となる層の下にいくつかの層を作り、ファイル
の内容や用途によって保存する層を変えてあり、図2に
示すように、例えばツリー構造のような階層構造になっ
ている。よって、この階層別知識ベース8bの構造は従
来の図12に示すファイルの内容をパターン化した一定
の範囲のみをまとめた知識ベース8cの構造とは異な
る。階層知識管理部10は階層別知識ベース8bを統括
し、階層間の管理および処理、階層別知識ベース8bと
推論部4との間の情報を管理して処理する。この階層知
識管理部10での階層間の管理とは、上位・下位階層間
の関係を表す情報を管理することによって、上位階層の
設備機器と下位階層の設備機器との関係を管理すること
である。例えば、図2の例では、上位階層51における
燃料系統52gの下位階層55の内容である設備機器5
6a〜56iが含まれることを表す情報が階層知識管理
部10に格納され、階層知識管理部10が格納された情
報を管理する。上記階層知識管理部10での階層間の処
理とは、上記階層間の関係を表す情報を用いることによ
って、下位階層や上位階層を検索して設備機器に関する
情報を呼び出すことである。また、階層知識管理部10
での階層別知識ベース8bと推論部4との間の情報を管
理して処理することは、ある1つの階層において、例え
ばある1つの設備機器ともう1つの設備機器とがつなが
っているなどのように、複数存在する設備機器間の関係
を管理し、その関係を用いることによって、例えば異常
設備の可能性があり、推論する必要があるなどのよう
に、推論の段階に応じ必要となる設備機器の情報を階層
別知識ベース8bの中から抽出し推論部4へ引き渡すこ
とを意味する。知識ベース合成処理部11は操作部14
から指令があった場合に階層別知識ベース8bの情報を
操作し、上位階層の知識を生成(知識の合成)したり、
階層間の操作を処理する。この知識ベース合成処理部1
1での階層別知識ベース8bの情報を操作して上位階層
の知識を生成することは、後述の図5で示す実施例3に
おける階層別知識ベース8bの合成に関する事項であ
り、ある階層の設備機器の図面データの情報から設備機
器間の接続関係を判断して合成する範囲の設備機器の知
識ベースを選び出し、その知識ベースを合成することを
意味する。この知識ベース合成処理部11での階層別知
識ベース8bの情報を操作して階層間の操作を処理する
ことは、下位階層の設備機器と合成してできた上位階層
の設備機器との親子関係を表す情報を設備機器各々の図
面データに記述する処理のことであり、この親子関係を
表す情報を用いることによって、上位階層の設備機器に
探索の対象を変える、あるいは下位階層の設備機器に探
索の対象を変えるなどのように、階層間の探索や階層知
識管理部10での処理が可能になる。推論履歴管理部1
3は推論履歴ファイル12の情報を管理し、操作部14
からの操作指令により必要な推論履歴を検索し、その検
索結果を推論結果処理部5に出力する。時系列データ処
理部16はデータ処理部2で加工されたデータをプロセ
スデータとして時系列に保存する。CRT装置19はグ
ラフィック系統図19a、推論結果図19bに加えて、
時系列プロセスデータ19cを表示する。データ合成部
20は推論結果4や時系列データ処理部16からの情
報、推論履歴管理部13からの情報を合成し、異常発生
時に関係するデータを総合的に判断して出力する。
【0026】上記階層別知識ベース8bの階層化の概念
について図2を用い説明する。図2は例えば火力発電プ
ラントの例を表しており、51,55は複数の推論階層
であり、51が上位階層、55が下位階層を示してい
る。これらの推論階層を構成する上位・下位階層51,
55は基本的には図1の階層別知識ベース8bと同じで
あるが、図1はプラント支援装置中の知識ベースの位置
付けを示すのに対し、図2は知識ベースを階層知識管理
部10の操作と処理とを含めて各データ間の関係を示し
ている。つまり、上位・下位階層51,52はプラント
支援装置の対象プラントを構成している系統、設備、装
置および機器を1つのグループとしてまとめた構成物で
構成されることを表した階層である。上位階層51では
対象プラントを系統単位でまとめた階層であり、この上
位階層51は制御系統52a、蒸気系統52b、タービ
ン系統52c、復水系統52e、空気系統・排気系統5
2f、燃焼系統52d、燃料系統52gおよび、それら
構成要素同士を接続する配管または信号の流れを示す接
続線52hなどの構成要素を有する。この上位階層51
において、復水系統52e、空気系統・排気系統52
f、燃焼系統52d、燃料系統52gおよび接続線52
hの各構成要素には、各々のグラフィック画面を形成す
るのに必要な画面データファイル53e〜53hと、各
構成要素ごとの推論用知識が格納された知識ベースファ
イル54a〜54hとが個別に用意される。下位階層5
5は上位階層51中の制御系統52a、蒸気系統52
b、タービン系統52c、復水系統52e、空気系統・
排気系統52f、燃焼系統52d、燃料系統52gおよ
び接続線52hなどの各構成要素ごとに用意される。図
2では上位階層51中の燃料系統52gに対応する下位
階層55を例として図示してある。つまり、図2に例と
して図示した下位階層55は上位階層51中の燃料系統
52gを構成する設備を表している。この下位階層55
でも、上位階層51と同様に、設備と接続線などの構成
要素56a〜56iと、各構成要素56a〜56iごと
の図面データファイル57a〜57iと、各構成要素5
6a〜56iごとの推論用知識が格納された知識ベース
ファイル58a〜58iとが個別に用意される。これら
の各階層の構成要素について階層化の概念を実施するこ
とによって、ツリー構造のような階層構造の階層別知識
ベース8bを構成することが可能である。この階層化を
対象プラントの設備、機器群の機能ごとのまとまりでグ
ループ化することにより、階層別知識ベース8bがプラ
ントの機能的構成を反映した階層構成となり、階層別知
識ベース8bの所在や階層別知識ベース8bの内容が操
作者にとって理解しやすいものになる。また、この階層
別知識ベース8bの階層化は、ある一定の範囲で囲まれ
た下位階層55の構成要素ごとに保有している図面デー
タおよび推論用知識を、上位階層51では1つのものに
まとめて取り扱っている。よって、この実施例1の階層
別知識ベース8bは従来のパターン化などの手法で行わ
れている一定の範囲で囲まれた複数の構成要素の図面デ
ータおよび推論用知識を複数のまま継承しその範囲内を
パターン化し保有している知識ベース8cとは異なる。
【0027】次に、実施例1の動作について図1、図2
および図3を参照しながら説明する。プロセス入出力装
置1とデータ処理部2および推論処理インターフェース
3で推論用に処理されたサンプリングnのプロセスデー
タが入力され、推論処理が開始すると、異常検知部4a
による異常検知推論処理が行われる(ステップ10
1)。この異常検知推論処理においては、推論処理イン
ターフェース3からの入力データと異常検知知識ベース
8aに格納されたプラントの状態を表す諸条件を比較す
ることにより、プラントに異常が発生しているかを推論
する。そして、異常が発生していない場合は、n回目の
サンプリングに関する推論は終了し、n+1回目のサン
プリングデータに関する推論処理へと移行する(ステッ
プ102がNO、ステップ112)。また、異常が発生
している場合は、異常検知部4aが異常名(異常現象
名)やデータなどを推論結果処理部5を経由してグラフ
ィックス処理部6Aに送り、グラフィックス処理部6A
が送られてきたデータから画面データを生成してマンマ
シンインターフェース7を経由してCRT装置19に送
り、CRT装置19が異常名などのデータを画面表示す
る(ステップ102がYES、ステップ103)。引き
続き、階層知識管理部10が階層別知識ベース8bのう
ち最上位階層と位置づけられている推論階層を選択する
(ステップ104)。そして、異常設備特定部4bが選
択された推論階層の階層別知識ベース8bを用いて異常
設備特定推論処理を実施する(ステップ105)。この
推論階層の異常設備特定推論では、推論階層に蓄えられ
た各構成要素の知識ベースファイルのみを設備特定推論
用として使用して異常設備がどの構成要素であるかを推
論し特定する。さらに、階層知識管理部10がステップ
105の異常設備特定推論処理で特定された異常設備
(構成要素)に下位階層55が存在しているかを検索し
(ステップ106)、下位階層55が存在しない場合は
特定された異常設備について原因特定推論用知識ベース
を使用して原因特定推論を実行し(ステップ108)、
下位階層55が存在する場合はその下位階層55での異
常設備特定推論処理を実行して異常設備の特定を行う
(ステップ107、ステップ105)。このステップ1
05〜ステップ107の推論処理は最下位階層に到るま
で繰り返して行われる。そして、原因特定部4cによる
原因特定推論処理へと推論を進める(ステップ10
8)。この原因特定推論処理においては、異常が発生し
ていると特定された設備機器の階層別知識ベース8bと
推論処理インターフェース3からの入力データとを比較
し、階層別知識ベース8bの入力データと同内容の記述
部分を探索し、その探索木の分岐を繰り返すことで、記
述されている原因を最終的に推論し、その最終的な推論
結果を推論結果処理部5を経由してグラフィックス処理
部6Aに送り、グラフィックス処理部6Aが送られてき
たデータから画面データを生成してマンマシンインター
フェース7を経由してCRT装置19に送り、CRT装
置19が異常原因を画面表示する(ステップ109)。
さらに、対応操作導出部4dによる対応操作ガイド導出
推論処理へと推論を進める(ステップ110)。この対
応操作ガイド導出推論処理においては、設備機器の階層
別知識ベース8bの記述内容から特定された原因名と同
じ名称が記述された部分を検索し、その原因に対してと
るべき対応操作内容が記述されている部分を導出する。
その対応操作ガイダンスを推論結果処理部5へ送り、グ
ラフィックス処理部6Aが送られてきた対応操作ガイダ
ンスを画面データとして生成してマンマシンインターフ
ェース7を通してCRT装置19に送り、CRT装置1
9が異常対処操作を表示する(ステップ111)。
【0028】要するに、この実施例1の推論処理によれ
ば、図3のステップ105〜ステップ107の処理によ
って、異常設備の特定範囲を徐々に絞り込んで行く。よ
って、異常設備特定推論実行時には、上位階層51から
徐々に異常範囲を絞り込む推論を実行するが、最上位階
層の異常設備特定推論を終了した時点で、異常部位の大
まかな特定が行える。この実施例1では上位階層51ほ
ど知識ベースファイル54e〜54hの数は少なく、上
位階層51ほど大きな範囲が1つにまとめられた包括的
な知識であるので、大まかな異常設備特定を短時間で行
うことができる。また、この実施例1では上位階層51
から段階的に推論を行っていく過程で、異常設備として
特定された構成要素以外の下位階層については異常に関
連していないため、推論をする必要がなく、推論対象範
囲から異常に関連のない範囲を早期に除外することがで
きる。
【0029】図2を例に説明すると、上位階層51を用
いた異常設備特定推論において、燃料系統52gが異常
と特定された場合は、その他の制御系統52a、蒸気系
統52b、タービン系統52c、復水系統52e、空気
系統・排気系統52f、燃焼系統52dおよび接続線5
2hなどは異常設備特定推論の対象から除外されるた
め、その他の制御系統52a、蒸気系統52b、タービ
ン系統52c、復水系統52e、空気系統・排気系統5
2f、燃焼系統52dおよび接続線52hなどの下位階
層は推論実行ファイルから除外される。したがって、階
層化を多階層にわたって行うに伴い、対象範囲のうち推
論対象範囲から異常に関連のない範囲を、より一層早期
に除外できる。このことにより、従来例のような対象範
囲全ての推論用知識に関して推論を行うといった時間の
無駄が無くなり、実施例1によれば、推論時間が短縮
し、推論効率が向上できる。この効果は、大規模な対象
プラントを多階層化すればするほど、より顕著になって
くる。
【0030】さらに、この実施例1では、図3のステッ
プ105における異常設備特定処理が最終階層まで行わ
れた場合、ステップ108において最下位階層で異常と
特定された設備に関してのみ、その設備内の異常原因を
特定するための異常原因特定処理を行うので、最下位階
層では対象範囲がかなり狭い絞りこまれた範囲となって
おり、異常原因候補として取り扱う候補数が減少でき、
異常原因特定の知識ベースファイルのサイズを最小限に
押さえることができる。このことは、階層化に伴う分割
を行う割合分、従来例に比べ推論で使用するデータ量の
減少につながり、推論時間の短縮および推論効率の向上
が実現できる。
【0031】実施例2(請求項3に対応).図4は実施
例2の推論処理を示すフローチャートである。この実施
例2は実施例1に推論処理過程をグラフィック画面に表
示する機能を追加した点に特徴がある。具体的には、こ
の実施例2は図4のフローチャートのステップ206に
示す異常設備の色替えグラフィック処理を、実施例1に
おける図3のフローチャートに追加したものである。こ
のステップ206の色替えグラフィック処理は図1に示
すグラフィックス処理部6Aで行う処理である。この色
替えグラフィック処理は、異常設備特定の推論過程で階
層ごとに推論が終了した時点において、異常設備として
特定された設備、機器の範囲がCRT装置19のプラン
ト系統図上に例えば色替え表示やフリッカ表示または拡
大ズーム表示などで明確に表示される。また、推論を階
層化して行うことから、この色替えグラフィック処理に
よって、大まかな設備および機器の範囲から詳細な設備
および機器の範囲へと移行する推論に関する過程がCR
T装置19上に表示され、操作者が推論過程を目で見る
ことができる。
【0032】要するに、この実施例2によれば、グラフ
ィックス処理部6Aが異常設備特定推論で異常として特
定される構成要素が上位階層から下位階層へ向けて段階
的に絞り込まれていく推論の過程を、異常設備の拡大ズ
ーム表示や色替え表示またはフリッカ表示としてCRT
装置19へ出力する構成であるので、推論過程がそのま
ま異常設備範囲の絞り込み状態として目で見えて操作者
に理解しやすい形でCRT装置19に表示できる。結果
として、操作者が推論過程や推論根拠をオンラインのリ
アルタイムで参照することにより、プラント支援装置や
知識ベース8Aに対する信頼感を向上できる。
【0033】これに対し、従来の推論では異常設備特定
推論の結果として異常設備のみをCRT装置19で表示
していたので、推論過程および推論の根拠が理解でき
ず、プラント支援装置や知識ベース8の信頼性低下を内
在していた。
【0034】実施例3(請求項4に対応).図5は実施
例3の知識ベース合成の概念を示す図、図6は知識ベー
ス合成のフローチャートである。この実施例3は実施例
1に階層別知識ベース8bを合成して生成する機能を追
加した点に特徴がある。具体的には、この実施例3は、
図1の知識ベース合成処理部11の処理を適用する場合
の実施例である。この実施例3の知識ベース合成の概念
を図5を用いて説明する。図5において、図外のグラフ
ィックツールやグラフィックエディタなどを使用して下
位階層55Aの構成要素および推論用知識を構築する。
この下位階層55Aをまとめる単位として指定し区切っ
た範囲に含まれる構成要素とその推論用知識とを合成す
ることによって、上位階層51Aを生成する。その例と
して、図5では、弁aの図面データ200aとその知識
ベース201a、また弁bの図面データ200bとその
知識ベース201bとを考える。この下位階層55Aの
2つの弁a,bなる構成要素を範囲として指定し上位階
層51Aの1つの構成要素としてまとめる場合、この弁
a,bの2つの構成要素の図面データ200a,200
bを1つの流調弁部cなる構成要素の図面データ202
としてしてまとめるとともに、2つの知識ベース201
a,201bを構成要素間の流体(配管)204をキー
データとして合成し、上位階層51Aの図面データ20
2で表す構成要素の知識ベース203として1つにまと
め生成する。
【0035】次に、この実施例3の動作について図6を
参照しながら説明する。図6のステップ301とステッ
プ302は、操作者がCRT装置19に表示された内容
に対しキーボードやマウスなどを使用して処理内容を入
力し、この処理内容をマンマシンインターフェース7を
経由して操作部14に伝達し、操作部14が伝達された
処理内容を操作内容としてCRT装置19の画面に表示
するためにグラフィックス処理部16に伝達する、ま
た、操作部14が実際の知識ベースを合成する処理を伝
達するために階層知識管理部10および知識ベース合成
処理部11にも詳細処理内容を伝達する。図6のステッ
プ303〜ステップ313の処理は知識ベース合成処理
部11で処理される。その処理の中で、知識ベースファ
イルの検索と読み込みおよび書き込みを行う部分は、知
識ベース合成処理部11が階層知識管理部10を経由し
て階層別知識ベース8bを操作する。
【0036】具体的には、下位階層として図面データと
その構成要素の知識ベースとを構築する(ステップ30
1)。このステップ301では、図外のグラフィックツ
ールやグラフィックエディタを使用し、CRT装置19
の表示された系統図入力画面に図5に示す下位階層55
Aにおける構成要素205,200a,204,200
b,206などを含むグラフィック系統図を作成する。
この作成されたグラフィック系統図を表すデータは図面
データとして階層別知識ベース8bに格納される。グラ
フィックス系統図における各構成要素の知識ベース20
1a,201bなどは知識ベース201a,201bを
マウスで選ぶことによってCRT装置19に表示させる
ことができ、その知識ベース201a,201bの内容
を入力・編集することが可能である。また、このとき配
管や配線などの接続線の情報としては、その接続線20
4,205,206の媒体である流体の流れる方向や信
号の流れる方向などの経路指定の情報を入力しておく。
次に下位階層として作成した階層で、構成要素のうち合
成し1つにまとめる範囲を指定する(ステップ30
2)。CRT装置19に表示されたグラフィック系統図
上で図2の構成要素56a〜56iで示されているよう
な、アイコン(絵シンボル)を1つ1つ選ぶ(マウス操
作)。または、まとめる範囲を図面上に指定する(マウ
スで囲むなど)操作により上位階層として1つに合成す
る範囲を選ぶ。その指定された範囲内の設備機器とその
間を接続する媒体(配管系統)の接続情報を検索し範囲
内で最も上流に位置する媒体を検索する(ステップ30
3)。つまり、ステップ301で入力した設備機器間の
接続関係や配管、配線の媒体の経路指定などの情報を用
いてステップ302で選ばれた範囲のなかの設備機器を
流体の流れに沿って下流方向または上流方向へ設備機
器、配管(媒体)および設備機器へと順に探索すること
により、上流、下流の位置関係が決定し、上流側から設
備機器を並べることにより、ある媒体の上流に機器が存
在しなければ最上流と判断することができる(最下流も
同様)。検索された媒体箇所を起点とし、その媒体によ
って接続されている下流側に位置する構成要素を検索す
る(ステップ304)。そして並べられた上流からの流
れに沿って構成要素(設備機器、配管など)を順番に検
索し、その機器の知識ベースをストアする(ステップ3
05〜ステップ309)。つまり、下流に検索を行い、
1つ目の構成要素が選択できた時点で、その構成要素の
知識ベースをストアする。さらに、下流に検索を続け、
最下流になるまで構成要素の知識ベースをストアする。
このストアされた知識ベースを上流側から順番に2つを
選び合成を行う(ステップ310)。合成の手段として
は、対象となっている構成要素同士を接続している媒体
(配管系統)により伝えられる温度や圧力などの物理パ
ラメータの特性をキーデータとして上流側の知識の出力
データ部分(設備の出口側の物理パラメータの特性)と
下流側の知識ベースの入力データ部分(設備の入口側の
物理パラメータの特性)を相殺する。この方法をストア
された知識ベースが1つになるまで行うことで、知識ベ
ースを合成する。また、ステップ303で最上流にある
媒体箇所を検索する過程において配管に分岐または合流
の経路が構成されるときは、分岐の場合は分岐点を起
点、最下流を終点とし、合流の場合は流れ込む側の最上
流を起点、合流点を終点としてステップ304〜ステッ
プ310の処理を繰り返し行う。このようにして、指定
された範囲に含まれる1つの媒体(配管経路)について
関連する全ての設備の知識ベースが1つに合成され、媒
体(配管系統)が複数存在する場合には他の媒体(配管
系統)に関しても同様の処理を行い最終的に1つの知識
ベースとして合成される(ステップ311〜ステップ3
14)。
【0037】要するに、この実施例3は、最下位階層の
知識を構築し、上位階層の構成要素としてまとめる範囲
を指定することで、計算機により上位階層の知識を自動
的に生成できる。このことにより、従来の知識ベースを
1つ1つ構築し入力する場合に比べて、この実施例3に
よれば、知識ベースの構築に係る時間、手間を大幅に削
減できる。また、最下位階層の構成要素を機器単位など
の個々の特性や動作内容が一般的で標準的なもので構成
した場合、その機器単位の知識ベースは単純な内容とな
るため、標準知識ベースとして用意しているものを使用
して特徴の異なるプラントや設備の知識ベースを構築す
ることができる。このことにより、知識ベース構築にナ
レッジエンジニア等のプラント支援装置としての専門家
でないと知識ベースの構築が困難であるという従来のプ
ラント支援装置の障害を克服できる。
【0038】実施例4(請求項5に対応).この実施例
4は、上記実施例3で合成された階層別知識ベース8b
を使用した推論結果表示に特徴がある。図7は実施例4
の階層ごとの知識例を示す図である。上記実施例3で説
明したように下位階層55の知識を合成すると、まとま
った1つの上位階層51の構成要素の知識ベースが生成
できる。この知識ベースを推論結果表示に使用した場
合、図7の上位階層51の構成要素である燃料系統52
gの知識ベースの内容59gと下位階層55の構成要素
である圧力制御弁56fの知識ベースの内容59fを比
較してもわかるように、上位階層51に進む程、知識ベ
ースの内容がプラントの装置としての特徴が表れた知識
となっており、知識ベースの内容に関する直感的理解が
容易に可能である。異常設備特定推論を実行した場合
に、推論根拠として、この上位階層51の知識ベースか
ら下位階層55の知識ベースへ段階的に推論した内容を
出力すれば、推論過程の裏付け、推論の正当性の評価が
即座に行え知識ベース、システムの推論に関する信頼性
を向上することができる。
【0039】実施例5(請求項6に対応).図8は実施
例5のプラント支援装置を示す構成図である。図8にお
いて、16aは時系列データ記録部であり、16bはプ
ロセス記録データ、16cは時系列データ管理部であ
る。
【0040】この実施例5によれば、時系列データ記録
部16aがデータ処理部2のプロセス入力値をプロセス
記録データ16bとして記録する。操作部14から指令
があった場合に、時系列データ管理部16cは必要な時
刻、時間の必要なプロセス記録データ16bを検索し推
論結果処理部5へ出力する。このことにより、従来プロ
セスデータ処理としてリアルタイムでの現在値のみを使
用していた推論結果表示やデータ表示が、過去のデータ
との比較やある一定時間帯のデータのトレンド表示など
が可能になる。結果として、この実施例5では異常発生
時の解析が関連プロセスデータを参照することで容易と
なり、異常発生時の対応能力、対応時間を軽減すること
ができる。
【0041】実施例6(請求項7に対応).図9は実施
例6のプラント支援装置を示す構成図である。図9にお
いて、16dは再帰データ生成部である。この再帰デー
タ生成部16dは時系列データ管理部16cを経由して
プロセス記録データ16bのリクエストに応じた必要時
刻及び必要時間を検索して収集し、そのデータをオンラ
インで流れているデータと同様のサンプリングプロセス
データとして再帰処理を行う。この再帰データ生成部1
6dで再帰処理されたデータを推論部へ伝送すること
で、過去のデータを使用したシミュレーション推論が可
能になる。
【0042】このことにより、事故時のデータを使用し
た推論を再度行うことが可能であり、異常発生時の解
析、推論処理の確認を繰り返し行うことができ、異常発
生内容の把握、推論過程の検証、推論に関する学習など
が行える。また、階層別知識ベース8bを改訂した場合
の検証にも使用でき、プラントのプロセスデータを使用
した検証を繰り返し行うことで品質の高い知識ベースを
構築することができる。
【0043】実施例7(請求項8に対応).図10は実
施例7の推論処理を示すフローチャートである。この図
10は図3のフローチャートに示す推論が終了した後の
推論結果の処理について示したフローチャートであり、
このフローチャートは図1に示す推論結果処理部5とデ
ータ合成部20との動作内容である。
【0044】推論処理の過程で異常を検知した場合、そ
の異常名をCRT装置19へ出力処理を行い、その異常
検知推論で適用された知識ベースを推論履歴ファイル1
2から検索する(ステップ406)。また同時に、異常
検出時刻を検出し(ステップ401)、その時刻を起点
に異常発生前x分、異常発生後y分の時間について、プ
ラントプロセスデータを検索する(ステップ402)。
次に異常設備特定推論が終了した時点で、異常設備特定
推論で適用した知識ベースを推論履歴ファイル12から
検索する(ステップ407)。さらに、原因特定推論が
終了した時点で、原因特定推論で適用した知識ベースを
推論履歴ファイル12から検索する(ステップ40
8)。上記検索した、各推論に適用された知識ベースで
使用されているプラントプロセスデータの点番号をキー
データとして検索し(ステップ409)、あるx+y時
間のプラントプロセスデータ内から検索する(ステップ
403)。この検索されたデータをトレンド表示画面と
して合成し(ステップ404)、各推論で適用された知
識とともにCRT装置19へ出力する(ステップ40
5)。このことにより、異常が発生した場合に異常に関
するデータとそのデータを使用した推論過程が画面上で
確認することができ、異常発生という緊急状態での操作
者の負担を軽減し、かつ異常内容を容易に確認、把握す
ることができる。
【0045】実施例8(請求項9に対応).図11は実
施例8の推論処理を示すフローチャートである。図11
は上記実施例7の推論結果処理を操作者のリクエストに
より処理できるようにしたものである。この実施例8で
は、図11に示すように、操作部14からの要求によ
り、過去に発生した異常件名をキーデータとして過去の
異常発生時の推論に適用された階層別知識ベース8bと
その推論で使用されたデータのトレンド画面とをCRT
装置19へ表示させることが可能である。このことによ
り、過去の異常発生時の内容を確認、把握することがで
き、異常状態の解析、異常状態の学習、知識ベースの検
証に利用することができる。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように、第1の発明によれ
ば、階層別知識ベースが対象プラントの設備、機器群の
機能毎のまとまりでグループ化されたので、プラントの
機能的構成を反映した知識ベースファイル構成となり、
知識ベースの所在、内容が操作者にとって理解しやすい
ものになるという効果がある。
【0047】第2の発明によれば、推論実行時には上位
階層から徐々に異常範囲を絞り込むよう推論を実行する
ので、最上位階層の異常設備特定推論を終了した時点で
異常部位の大まかな特定が行える。また、上位階層ほど
知識ベースファイルの数は少なく、かつ上位階層ほどま
とめられた知識である。これらのことより、大まかな異
常設備特定を最短の時間で行えるという効果がある。さ
らに、上位階層から段階的に推論を行っていく過程で異
常設備として特定された構成要素以外の下位階層につい
ては異常に関連していないため、推論をする必要がな
く、推論対象範囲から異常に関連のない範囲を早期に除
外する。このことにより、最下位階層のみで推論を行う
場合のような対象範囲全ての知識ベースに関して推論を
行うといった知識ベースの推論への適用に関する無駄が
無くなり、推論時間の短縮として推論効率向上の効果が
ある。この効果は対象プラントが大規模になれば多階層
化することでより顕著になってくる。
【0048】第3の発明によれば、異常設備特定推論で
異常として特定される構成要素が上位階層から下位階層
へ向けて段階的に絞り込まれていく過程をグラフィック
ス処理部を経由して異常設備の拡大ズーム表示、色替え
表示、またはフリッカ表示するので、推論過程がそのま
ま、異常設備範囲の絞り込み状態としてビジブルな理解
しやすい形でCRT装置などの出力装置へ表示でき、推
論過程や推論根拠をオンライン、リアルタイムで参照す
ることにより、操作者にとって異常発生時の異常内容の
理解が容易になる効果がある。また、システムや知識ベ
ースに対する信頼感を向上する効果もある。
【0049】第4の発明によれば、下位階層から上位階
層へと知識を合成するので、従来の知識ベースを1つ1
つ構築し入力する方法に比べて知識ベースの構築に係る
時間、手間を大幅に削減する効果がある。
【0050】第5の発明によれば、異常設備特定推論を
実行した場合に、推論根拠として上位階層の知識ベース
から下位階層の知識ベースへ段階的に推論した内容を出
力するので、推論過程の裏付け、推論の正当性の評価が
即座に行え知識ベース、システムの推論に関する信頼性
を向上する効果がある。
【0051】第6の発明によれば、プロセスデータを時
系列で採集保存するので、異常発生時の解析が関連プロ
セスデータを参照することで容易となり、異常発生時の
対応能力、対応時間を軽減する効果がある。
【0052】第7の発明によれば、事故時のデータを使
用した推論を再度行うので、異常発生時の解析、推論処
理の確認を繰り返し行うことができ、異常発生内容の把
握、推論過程の検証、推論に関する学習の効果がある。
また、知識ベースを改訂した場合の検証にも使用でき、
プラントのプロセスデータを使用した検証を繰り返し行
うことで品質の高い知識ベースを構築することができる
という効果がある。
【0053】第8の発明によれば、異常が発生した場合
に異常に関するデータとそのデータを使用した推論過程
を表示するので、異常発生という緊急状態での操作者の
負担を軽減し、かつ異常内容を容易に確認、把握できる
効果がある。
【0054】第9の発明によれば、過去の異常発生時の
内容と推論データとを関連づけて表示するので、異常状
態の解析、異常状態の学習、知識ベースの検証に利用で
きる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施例1のプラント支援装置を示
す構成図である。
【図2】 この発明の実施例1の階層化の概念を示す図
である。
【図3】 この発明の実施例1のフローチャートであ
る。
【図4】 この発明の実施例2のフローチャートであ
る。
【図5】 この発明の実施例3の知識ベース合成の概念
を示す図である。
【図6】 この発明の実施例3のフローチャートであ
る。
【図7】 この発明の実施例4の階層毎の知識例を示す
図である。
【図8】 この発明の実施例5のプラント支援装置を示
す構成図である。
【図9】 この発明の実施例6のプラント支援装置を示
す構成図である。
【図10】 この発明の実施例7のフローチャートであ
る。
【図11】 この発明の実施例8のフローチャートであ
る。
【図12】 従来のプラント支援装置を示す構成図であ
る。
【図13】 従来のフローチャートである。
【符号の説明】
1 プロセス入出力装置、2 データ処理部、3 推論
処理インターフェース、4 推論部、4a 異常検知
部、4b 異常設備特定部、4c 原因特定部、4d
対応操作導出部、5 推論結果処理部、6,6A グラ
フィックス処理部、7 マンマシンインターフェース、
8 知識ベース、8a 異常検知知識ベース、8b 階
層別知識ベース、10 階層知識管理部、11 知識ベ
ース合成処理部、12 推論履歴ファイル、13 推論
履歴管理部、14 操作部、16 時系列データ処理
部、16a 時系列データ記録部、16b プロセス記
録データ、16c 時系列データ管理部、16d 再帰
データ生成部、20 データ合成部、51,51A 上
位階層、52a 制御系統、52b 蒸気系統、52c
タービン系統、52d 燃焼系統、52e 復水系
統、52f 空気系統・排気系統、52g 燃料系統、
53a〜53g 図面データファイル、54a〜54g
知識ベースファイル、55,55A 下位階層、56
a〜56i 構成要素、57a〜57i 図面データフ
ァイル、58a〜58i 知識ベースファイル。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平1−274209(JP,A) 特開 平6−137909(JP,A) 特開 平6−66607(JP,A) 特開 平2−155006(JP,A) 特開 平5−209816(JP,A) 特開 平4−366879(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G05B 23/02 G05B 13/02

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プラントの設備機器の状態やプラントを
    流れる媒体の状態及び制御指令などのプラント情報と
    プラントに発生した異常を検知する異常検知知識ベース
    プラント系統図を活用した階層別知識ベースとからな
    知識ベースとを用いることによって、プラントの異常
    検知と異常設備や異常原因の特定との推論を行い、その
    推論結果を表示するプラント支援装置において、プラント 系統図を活用した異常設備特定のための階層別
    知識ベースと、 この階層別知識ベースを統括管理して異常設備特定の処
    理を行う階層別知識管理部と、を備えたことを特徴とす
    るプラント支援装置。
  2. 【請求項2】 請求項第1項記載のプラント支援装置に
    おいて、異常設備を特定する推論を上位階層から下位階
    層へと段階的に行う手段を備えたことを特徴とするプラ
    ント支援装置。
  3. 【請求項3】 請求項第1項記載のプラント支援装置に
    おいて、異常設備が絞り込まれていく推論過程を表示さ
    れた系統図上へ色替えやフリッカにより表示するグラフ
    ィックス処理部を備えたことを特徴とするプラント支援
    装置。
  4. 【請求項4】 プラントの設備機器の状態やプラントを
    流れる媒体の状態および制御指令などのプラント情報と
    プラント系統図を活用した知識ベースとを用いることに
    よって、プラントの異常検知と異常設備や異常原因の特
    定との推論を行うプラント支援装置において、 系統図を活用した異常設備特定のための階層別知識ベー
    スの階層化に際し、知識の合成処理により下位階層の知
    識ベースから上位階層の知識ベースを生成する知識ベー
    ス合成処理部を備えたことを特徴とするプラント支援装
    置。
  5. 【請求項5】 請求項第4項記載のプラント支援装置に
    おいて、合成し生成された上位階層でまとまった内容と
    なっている知識ベースを推論根拠として提示する手段を
    備えたことを特徴とするプラント支援装置。
  6. 【請求項6】 プラントの設備機器の状態やプラントを
    流れる媒体の状態および制御指令などのプラント情報と
    プラント系統図を活用した知識ベースとを用いることに
    よって、プラントの異常検知と異常設備や異常原因の特
    定との推論を行い、その推論結果を表示するプラント支
    援装置において、 収集したプラントプロセスデータに対し保存、及び管
    理、時系列データへの加工の処理を行う手段を備えたこ
    とを特徴とするプラント支援装置。
  7. 【請求項7】 請求項第6項記載のプラント支援装置に
    おいて、収集したプラントプロセス記録データに対し再
    帰処理を行い、再帰されたデータを用いて推論を行う手
    段を備えたことを特徴とするプラント支援装置。
  8. 【請求項8】 プラントの設備機器の状態やプラントを
    流れる媒体の状態および制御指令などのプラント情報と
    プラント系統図を活用した知識ベースとを用いることに
    よって、プラントの異常検知と異常設備や異常原因の特
    定との推論を行い、その推論結果を表示するプラント支
    援装置において、 異常が発生し階層的な推論を実行した場合に、その推論
    結果や推論履歴と異常が発生した前後のデータのうち推
    論に関連したデータやそのデータのトレンド表示を関連
    づけて提示する手段を備えたことを特徴とするプラント
    支援装置。
  9. 【請求項9】 請求項第8項記載のプラント支援装置に
    おいて、要求があった場合に、過去の異常発生時の推論
    結果、推論履歴とその異常発生時に関する推論のデータ
    を関連づけて提示する手段を備えたことを特徴とするプ
    ラント支援装置。
JP6174550A 1994-07-26 1994-07-26 プラント支援装置 Expired - Fee Related JP2829241B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6174550A JP2829241B2 (ja) 1994-07-26 1994-07-26 プラント支援装置
US08/505,818 US5818713A (en) 1994-07-26 1995-07-21 Plant support system
EP95111711A EP0694825B1 (en) 1994-07-26 1995-07-25 Plant support system
DE69521172T DE69521172T2 (de) 1994-07-26 1995-07-25 Anlagenbetriebsunterstützungssystem

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6174550A JP2829241B2 (ja) 1994-07-26 1994-07-26 プラント支援装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0844423A JPH0844423A (ja) 1996-02-16
JP2829241B2 true JP2829241B2 (ja) 1998-11-25

Family

ID=15980522

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6174550A Expired - Fee Related JP2829241B2 (ja) 1994-07-26 1994-07-26 プラント支援装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5818713A (ja)
EP (1) EP0694825B1 (ja)
JP (1) JP2829241B2 (ja)
DE (1) DE69521172T2 (ja)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5786993A (en) * 1996-06-14 1998-07-28 Landis & Gyr Technology Innovation Corp. Apparatus for and method of controlling and/or regulating process parameters of an installation
US6049764A (en) * 1997-11-12 2000-04-11 City Of Hope Method and system for real-time control of analytical and diagnostic instruments
DE19751312A1 (de) * 1997-11-19 1999-05-27 Siemens Ag Verfahren zur Bestimmung der Verfügbarkeit einer technischen Anlage
WO1999054794A1 (de) * 1998-04-17 1999-10-28 Siemens Aktiengesellschaft Softwarekomponente für ein diagnosesystem mit assistentenunterstützter projektierung
EP0959398A1 (en) * 1998-05-01 1999-11-24 The Foxboro Company Alarm analysis tools method and apparatus
US6535122B1 (en) 1998-05-01 2003-03-18 Invensys Systems, Inc. Method and apparatus for extending processing mask/filtering, and displaying alarm information for a hierarchically categorizing alarm monitoring system
US6690274B1 (en) 1998-05-01 2004-02-10 Invensys Systems, Inc. Alarm analysis tools method and apparatus
EP1014242A1 (en) * 1998-12-21 2000-06-28 Nec Corporation Retrieval method and apparatus for a monitoring system
DE69921861T2 (de) * 1999-04-21 2005-03-17 Ivar Kvale Strukturverwaltung und steuerungssystem
AU2000225457A1 (en) * 2000-01-29 2001-08-07 Abb Research Ltd Method for the automated detection of failure events
DE10006455A1 (de) * 2000-02-14 2001-08-30 Siemens Ag Verfahren zum Betrieb einer technischen Anlage
WO2001069338A1 (fr) * 2000-03-14 2001-09-20 Yamatake Corporation Systeme de telegestion
US6826439B1 (en) 2000-05-23 2004-11-30 Advanced Micro Devices, Inc. Broadband distribution of SECS-II data
EP1331536B1 (en) * 2000-10-20 2008-12-24 Daicel Chemical Industries, Ltd. Plant control monitor
US7152068B2 (en) * 2001-12-21 2006-12-19 Honeywell International Inc. Method and apparatus for retrieving time series data related to an activity
US7225193B2 (en) * 2001-12-21 2007-05-29 Honeywell International Inc. Method and apparatus for retrieving event data related to an activity
US7027954B2 (en) * 2001-12-21 2006-04-11 Honeywell International Inc. Method and apparatus for retrieving activity data related to an activity
JP2003216238A (ja) * 2002-01-23 2003-07-31 Toshiba Corp 原因分析支援システムおよび原因分析支援方法
US6778873B1 (en) * 2002-07-31 2004-08-17 Advanced Micro Devices, Inc. Identifying a cause of a fault based on a process controller output
US7440932B2 (en) * 2003-10-02 2008-10-21 International Business Machines Corporation Method and system for automating issue resolution in manufacturing execution and material control systems
US20050165748A1 (en) * 2004-01-15 2005-07-28 Seagate Technology Llc Method and apparatus for querying a computerized database
US20070095281A1 (en) * 2005-11-01 2007-05-03 Stowell Michael W System and method for power function ramping of microwave liner discharge sources
US7902965B2 (en) * 2006-09-29 2011-03-08 Rockwell Automation Technologies, Inc. Subscribing to alarms and events in a hierarchy
US20090182442A1 (en) * 2008-01-14 2009-07-16 Gm Global Technology Operations, Inc. Framework for results interpretation and guided refinement of specifications for plc logic verification
JP2009176205A (ja) * 2008-01-28 2009-08-06 Gyoseiin Genshino Iinkai Kakuno Kenkyusho 桁探索木の初期危険因子解析装置
JP6368031B2 (ja) * 2015-03-16 2018-08-01 株式会社日立製作所 異常予知・回復支援システム、異常予知・回復支援方法及び水処理システム
US20230315081A1 (en) * 2022-03-30 2023-10-05 Yokogawa Electric Corporation Information processing apparatus, information output method, and computer-readable recording medium

Family Cites Families (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5671154A (en) * 1979-11-15 1981-06-13 Nec Corp Information processing device
IL74952A0 (en) * 1984-05-04 1985-08-30 Gould Inc Method and system for improving the operational reliability of electronic systems formed of subsystems which perform different functions
JPH0625930B2 (ja) * 1985-09-24 1994-04-06 株式会社東芝 プラント診断装置
EP0228559A1 (de) * 1985-12-17 1987-07-15 BBC Brown Boveri AG Fehlertolerante Mehrrechneranordnung
US4815014A (en) * 1987-02-27 1989-03-21 Westinghouse Electric Corp. Machine assisted execution of process operating procedures
US4926320A (en) * 1987-04-07 1990-05-15 Nec Corporation Information processing system having microprogram-controlled type arithmetic processing unit
US4828008A (en) * 1987-05-13 1989-05-09 Lanxide Technology Company, Lp Metal matrix composites
JPS6424719A (en) * 1987-07-20 1989-01-26 Komatsu Mfg Co Ltd Controlling apparatus for injection molding machine
US4920499A (en) * 1987-09-30 1990-04-24 E. I. Du Pont De Nemours And Company Expert system with natural-language rule updating
US4903194A (en) * 1987-11-12 1990-02-20 International Business Machines Corporation Storage addressing error detection circuitry
JPH06105401B2 (ja) * 1988-02-08 1994-12-21 日東電工株式会社 自動ワークハンドリング装置における多重エラー処理装置
JP2502122B2 (ja) * 1988-04-26 1996-05-29 三菱重工業株式会社 プラント故障診断装置
JPH01274210A (ja) * 1988-04-26 1989-11-02 Nippon Steel Corp 設備故障診断装置および同装置の作成支援装置
JPH0748180B2 (ja) * 1988-08-03 1995-05-24 株式会社日立製作所 知識ベース構築装置
JPH0293709A (ja) * 1988-09-30 1990-04-04 Nippon Atom Ind Group Co Ltd プロセスプラント運転支援装置
US4967337A (en) * 1988-10-11 1990-10-30 Texas Instruments Incorporated Automated diagnostic system
JPH06101079B2 (ja) * 1988-11-09 1994-12-12 三菱電機株式会社 プラント異常診断装置
US5193177A (en) * 1988-11-26 1993-03-09 Motorola, Inc. Fault indicating microcomputer interface units
JPH02155006A (ja) * 1988-12-07 1990-06-14 Mitsubishi Electric Corp 知識ベース型プロセス運用支援装置
US5058113A (en) * 1988-12-16 1991-10-15 Sprint International Communications Corporation Method and apparatus for correcting errors in a system
EP0375282B1 (en) * 1988-12-20 1996-04-17 Nippon Steel Corporation Blast furnace operation management method and apparatus
JPH0660826B2 (ja) * 1989-02-07 1994-08-10 動力炉・核燃料開発事業団 プラントの異常診断方法
JPH0769199B2 (ja) * 1989-04-24 1995-07-26 三菱電機株式会社 プラントの異常診断装置
US4975865A (en) * 1989-05-31 1990-12-04 Mitech Corporation Method and apparatus for real-time control
US5315502A (en) * 1989-06-09 1994-05-24 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Plant operation support apparatus and method using expert systems
US5293585A (en) * 1989-08-31 1994-03-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Industrial expert system
US5099412A (en) * 1989-09-29 1992-03-24 Honeywell, Inc Automatic control of a discrete system with redundancy management and prioritized conflict resolution
JP2752764B2 (ja) * 1990-03-08 1998-05-18 日本電気株式会社 障害処理方式
US5446851A (en) * 1990-08-03 1995-08-29 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Instruction supplier for a microprocessor capable of preventing a functional error operation
US5214577A (en) * 1990-10-24 1993-05-25 Osaka Gas Co., Ltd. Automatic test generation for model-based real-time fault diagnostic systems
JPH04218898A (ja) * 1990-12-19 1992-08-10 Toshiba Corp 災害復旧情報予測装置
JP3043897B2 (ja) * 1991-05-15 2000-05-22 株式会社東芝 プラント運転支援装置
JPH04343012A (ja) * 1991-05-20 1992-11-30 Mitsubishi Heavy Ind Ltd プラント故障診断装置
JPH04366879A (ja) * 1991-06-13 1992-12-18 Toshiba Corp プラント監視制御装置のシミュレータ装置
CA2071804A1 (en) * 1991-06-24 1992-12-25 Ronald G. Ward Computer system manager
JPH05209816A (ja) * 1992-01-30 1993-08-20 Mitsubishi Electric Corp プラントシステム解析装置
JPH05298105A (ja) * 1992-04-22 1993-11-12 Mitsubishi Electric Corp 故障原因推論装置
JP2556814B2 (ja) * 1993-08-25 1996-11-27 株式会社日立製作所 知識ベースの構築方法および知識ベースによる故障診断方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE69521172D1 (de) 2001-07-12
EP0694825A2 (en) 1996-01-31
EP0694825A3 (en) 1998-06-10
JPH0844423A (ja) 1996-02-16
EP0694825B1 (en) 2001-06-06
US5818713A (en) 1998-10-06
DE69521172T2 (de) 2002-02-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2829241B2 (ja) プラント支援装置
JP5133681B2 (ja) プロセスプラントで使用するための統合構成システム
JP5603316B2 (ja) プロセスプラントの構成を容易にするためのユーザインタフェース方法、システム及び方法
US9043003B2 (en) Graphical view sidebar for a process control system
US7587685B2 (en) Data exploration system
CN101617279A (zh) 分布式过程控制系统中的在线多元分析
Rasmussen et al. Information technology and work
JP3622302B2 (ja) プロセス安全性評価手順作成装置
JP3298391B2 (ja) 監視装置のシミュレータおよび監視装置のシミュレーション方法
Mohd Sahak et al. A Holistic Approach to the Development of Digital Twin Advisor for Upstream Production Process
JPS62192694A (ja) プラント診断装置
Vazquez et al. ModGen: a model generator for instrumentation analysis
JP2003150890A (ja) プラント動特性モデル構築システムと構築方法、及び、プラント動特性シミュレータ
JP2770228B2 (ja) 知識型プラント情報処理方式
JP3247582B2 (ja) 設備異常原因追跡方法
JPH0696234A (ja) 時系列データの処理システム
Frydman et al. The diagnosis approach used in SACHEM
JP3226582B2 (ja) システムのシミュレーション装置
Miller et al. Abstraction decomposition space analysis for NOVA’s E1 acetylene hydrogenation reactor
JPH04137044A (ja) 知識処理システム及びその構築方法
JPH01229331A (ja) 知識形情報処理装置
JPH03256196A (ja) プラント状態表示装置
JPH0774749B2 (ja) プロセス異常診断方法
JPH0981229A (ja) 異常診断モデル生成装置
JPH07261827A (ja) プラント運転管理装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080918

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080918

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090918

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090918

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100918

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110918

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110918

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120918

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130918

Year of fee payment: 15

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees