JP2828920B2 - テストレジスタを備えるディジタル処理回路 - Google Patents

テストレジスタを備えるディジタル処理回路

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JP2828920B2
JP2828920B2 JP7017683A JP1768395A JP2828920B2 JP 2828920 B2 JP2828920 B2 JP 2828920B2 JP 7017683 A JP7017683 A JP 7017683A JP 1768395 A JP1768395 A JP 1768395A JP 2828920 B2 JP2828920 B2 JP 2828920B2
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register
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    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
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    • G01R31/3181Functional testing
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はテストレジスタを備える
ディジタル処理回路に関する。本発明はより詳細には前
記ディジタル回路のバスから外部データ処理システムへ
のアクセスを提供するホストインタフェースを有するデ
ィジタル回路に関する。
【0002】
【従来の技術】テストレジスタはディジタル処理回路に
広く使用され、前記回路の開発及び生産テスト期間中に
回路の動作、特にあるブロックの動作をチェックするの
を可能にする。今までに、これらの回路は一般的には回
路動作データへのアクセスを提供していただけであり、
回路の異なるレジスタを個々にアクセスすることを可能
にしていなかった。
【0003】さらに、これの周知のテストレジスタは、
要求されたテストによれば一定のブロックに所定データ
を提供することを可能にしていない。ディジタル化され
た画像を伝送しかつ格納する技術は、アナログ伝送に比
較し、得られた最終画像の品質を有意義に改善すること
を可能にする。これらの技術の応用はそのため増加し得
る。
【0004】しかしながら、動くディジタル化画像の直
接の伝送及び格納は、極端な高ビット率を要求し、実際
にはこれらの画像を圧縮し、符号化することを要求す
る。ディジタル化された画像はそのため伝送前に符号化
されて画像が表すデータ量を減少させ、伝送後に復号さ
れる。符号及び復号技術は、もちろん、得られた最終画
像品質にとってきわめて重大である。これらの技術を使
用する異なる装置間の両立性を確保するためにある表示
を要求することは明らかになった。
【0005】したがって、専門家のグループ(動く画像
の専門家グループ−MPEG)は、ISO標準1117
2を作成した。この標準は、しばしば符号MPEGによ
り指定されるが、音響信号と多分関連して、動画像の符
号及び復号条件を形成し、画像を格納しメモリから画像
を呼び出し、画像を伝送するために使用され得る。
【0006】このMPEG標準はコンパクトディスク、
対話形コンパクトディスク、磁気テープに画像を格納す
るために、ローカルエリアネットワーク及び電話線に画
像を伝送するために、同様に空中を経てTV画像を伝送
するために使用され得る。全技術の十分で詳細な記載に
関し、読者に、標準組織から得ることができるMPEG
標準を読むように、要請する。
【0007】MPEG標準による圧縮データはいくつか
の異なる手順に従ってもよい。連続画像は、集められ
て、シーケンスを形成する像のグループを構成する。シ
ーケンスは像のグループに細分化される。各像はセクシ
ョンに分割され、各セクションは移動補償を適用するた
めに、必要ならば量子化規模を変化させるために使用さ
れる基体要素を構成するマクロ−ブロックに分割され
る。
【0008】マクロ−ブロックは、16×16マトリッ
クスの画像要素(ピクセル)から形成される。各マクロ
−ブロックは6つのブロックに分割され、第1の4つの
ブロックは輝度信号を搬送し、他の2つのブロックはク
ロミナンス信号、それぞれ、青及び赤を搬送する。これ
らの6つのブロックのそれぞれは8×8マトリックスの
画像要素(ピクセル)として規定される。一定シーケン
スで異なる像に含まれる情報間に存在する類似が与えら
れるならば、そして、格納され又は伝送される情報量を
減少させるために、異なる種類の像は各シーケンス内に
規定される。
【0009】I画像(Intra frames(内フレーム))は
静止画像としてそして別の像を参照せずに符号される画
像である。P像(Predicated(基づく))は以前に再構
成されたI又はP像から出発して推論される。B像(Bi
-directional frames(2方向フレーム))は、直前の
一方にまた直後の他方に、2つの再構成像、1つのI及
び1つのP又は2つのPから推論される。
【0010】一連の像が復号の順序で、取得又は返還時
に像が与えられる順序ではなく、伝送されることは強調
されるべきである。この離散コサイン変換(DCT)は
ブロックレベルに用いられる。このDCT変換は空間ブ
ロックを、8×8マトリックスのピクセルとして上記に
示されるように規定されるが、空間周波数の、8×8マ
トリックスとして形成される時間ブロックに変換する。
【0011】時間ブロックの8×8のマトリックスにお
いて、マトリックスの上左側コーナに配置される連続背
景係数(DC)は、異なる周波数に対応する他の成分の
より、得られた視覚的印象の点でより重要である。より
正確には、周波数が高いほど、目は感度が周波数に対し
て感度が鈍くなる。
【0012】これは、特に周波数が高いので、周波数の
レベルが量子化されるからである。この量子化は標準に
より課されないアルゴリズムにより確実にされ、量子化
及び可変長さ符号動作である。DCT変換により得られ
る周波数領域のマトリックスは「量子化マトリックス」
と呼ばれるマトリックスによって処理される。これは時
間領域のマトリックスの各期間を値の位置に関連されて
いる値で割るために使用され、これらの係数により与え
られる異なる周波数の重みが可変であるという事実を斟
酌する。
【0013】各値が最も近い整数値に丸められた後に、
この動作は0に等しい多数の係数に帰着する。内マクロ
−ブロックに対してDC係数の量子化値は、例8に対し
て一定である。非−零周波数係数はジグザグタイプの走
査に従ってフフマンテーブル(Huffman table)を参照
して符号化され、これは可変長符号値をマトリックスの
係数のそれぞれに与え、データのボリュームを減少させ
ている。
【0014】好ましくは、連続背景を表す係数は量子化
後に伝送され、なお、量子化マトリックスは、伝送され
る情報の品質にいかなる重大な減縮なしに、データのボ
リュームが最大格納又は伝送可能性に対応する所定レベ
ル以下になるように、最適化される。タイプIフレーム
は移動ベクトルの使用なしに符号化される。
【0015】逆に、P及ぶBフレームは、移動ベクトル
を、少なくとも、これらのフレームを構成するあるマク
ロ−ブロックに対して、使用し、符号化効率を増加する
のを可能にし、そして参照像のどの部分から検討される
フレームの特別のマクロブロックが推論されたかを示
す。移動ベクトルの検索は符号化時の最適化の対象であ
り、DPCM技術を用いてそれ自体符号化される。これ
は一定像の異なるマクロ−ブロックの移動ベクトル間の
既存関係を最もよく開発している。移動ベクトルは最終
的に可変長符号化(VLC)の対象となる。
【0016】符号化シーケンスに関する全てのデータは
記録されるか又は伝送されるかのいずれかであるビット
流れを形成する。このようなビット流れは情報及びパラ
メータであってその値がシーケンスを通して維持される
もののある量を含むシーケンスヘッダで始まる。同様
に、シーケンスはフレームのグループに分割され、これ
らのグループのそれそれはグループヘッダにより先行さ
れ、各フレームを表すデータはそれ自体フレームヘッダ
により先行される。
【0017】テストレジスタの実現は特に複雑な回路、
MPEG標準により予想される種類の画像の再構成に対
してビット流れを復号化するのに使用されるものにおい
て、得に重要である。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】本発明の第1の目的
は、ブロックを、ディジタル処理回路内で、入力データ
を選択することによりテストすることを可能にすること
であり、このブロックからの出力データを審査すること
である。本発明の別の目的は、テストを、システムが使
用にあるとき透過的であり得るレジスタを使用して、行
うことを可能にすることである。
【0019】本発明のさらなる目的は、テストレジスタ
を、MPEG復号化回路の開発の情況内で、使用するこ
とを可能にするが、この回路はシステムの動作環境を表
すパラメータ、像の大きさ及び他の代表的なパラメータ
のようなものを設定することを可能にする。
【0020】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明は、ディ
ジタル処理回路のバスから外部データ処理システムへの
ホストインタフェースシステムを有するディジタル処理
回路に関し、前記処理回路はブロックに分割され、上流
ブロック及び下流ブロック間に設けられるテストレジス
タを有する。
【0021】本発明によれば、テストレジスタはバスに
接続され、データをテストレジスタに送ることを又はテ
ストレジスタが含むデータを読み出すことを可能にする
アドレスにより特定される。異なる好ましい実施例にお
いて、本発明の装置は任意の技術的実行可能な組み合わ
せを取り入れられる下記特徴を具備する。
【0022】−各レジスタはアクティブ状態及び静止状
態を有し、前記バスはコントロールライン、アドレスラ
イン及びデータラインを有し、テストレジスタはこれら
のラインに存在する信号に従ってリード又はライト信号
の発生を可能にし、前記ディジタル処理回路をアクティ
ブ状態に変化させる手段と、このライト又はリード動作
を認める付加的手段とを具備する; −テストレジスタは静止状態で透過である; −各テストレジスタはリード信号によりコマンドされる
第1のマルチプレクサを具備し、この一方の入力はバス
を横切るデータを受け、前記第1のマルチプレクサの出
力は論理オペレータの出力によりコマンドされる第2の
マルチプレクサに接続され、前記論理オペレータはその
入力でライト信号及びライト認可信号を受け、前記第2
のマルチプレクサの第2の入力は上流ブロックに接続さ
れ、そして前記第2のマルチプレクサの出力は下流ブロ
ックに接続される; −静止状態において、テストレジスタはDタイプフリッ
プ−フロップのように振る舞う; −各テストレジスタはブロック間に配設されたDタイプ
フリップ−フロップを具備し、前記ブロックはレジスタ
が静止状態にある時レジスタにより分離される; −ディジタル処理回路はブロックnで公称速度で動作テ
ストを行うことを可能にし、入力テストベクトルは、上
流レジスタに、第1のクロックパルスの正に進む遷移で
書き込まれ、そして下流レジスタから、第1のクロック
パルスに直接続く第2のクロックパルスの正に進む遷移
で読み出す; −データバスのインピーダンスはリード又はライトサイ
クルの出発前に高い; −ディジタル処理回路はMPEG標準に応じて画像を表
すビット流れを復号する装置に含まれる; −一定のテストレジスタが、同時に他のテストレジスタ
へのアクセスを認める間に、アクティブ状態を無期限に
維持することができる; −少なくとも1つのテストレジスタがそれ自体の情報
(アクティブ又は静止)を具備する; −テストレジスタが、関連されない回路の全ての他のブ
ロックが通常的に振る舞い続ける間、アプリケーション
環境のプログラムにより活性化される。
【0023】
【実施例】ディジタル処理回路9は、図1に示されるよ
うに、上流機能ブロック2が前置しかつ下流機能ブロッ
ク3が従う機能ブロック1に分割されている。テストレ
ジスタnは、上流レジスタと呼ばれるが、上流ブロック
2及び被テストブロック1との間に置かれ、n+1レジ
スタは、下流レジスタと呼ばれるが、被テストブロック
1及び下流ブロック3の間に置かれる。
【0024】バス6はホストインタフェース7を有し、
これはデータバス8が表す外部データ処理システムにバ
ス6を横切るデータを送りかつ受けるのを可能にする。
バス6は通常のコントロールライン61、アドレスライ
ン62、及びデータライン63を具備する。各テストレ
ジスタ4、5は復号ユニット40を有する。その入力は
コントロールライン61及びアドレスライン62に接続
され、復号ユニット40は前記ラインで受ける信号に依
存してライト信号又はリード信号を出力する。論理オペ
レータ41は、一方の入力で、ライト信号を受け、そし
てその他方の入力で、テストコントロールレジスタ又は
テスト中のレジスタ自体のいずれかから始まるコマンド
信号を受けて、ライト動作を可能にする。この論理オペ
レータ41からの出力は第2のマルチプレクサ42のコ
マンドゲートに接続される。
【0025】上流レジスタテストの場合、この第2のマ
ルチプレクサ42はその入力で上流ブロックから始まる
データを受け、その出力はテストに対してブロック1の
データ入力に接続される。もちろん、もしマルチプレク
サ42が下流レジスタを構成するならば、マルチプレク
サ42はその入力の一方にテストされるべきブロックか
ら始まるデータを受け、その出力は下流ブロックのデー
タ入力に接続される。
【0026】第1のマルチプレクサ43はその入力の一
方にバス6のデータライン63から始まるデータを受
け、その他方の入力は第2のマルチプレクサからの出力
信号に接続される。この出力信号はバス6のデータライ
ン63に、復号器40により送られるリード信号により
トリガされるゲート44を経由して接続される。この第
1の記載は第1の実施例に正確に対応する。
【0027】第2の実施例によれば、Dタイプ−フリッ
プフロップ45は第2のマルチプレクサ42とテストレ
ジスタであってこれに続くブロックにデータを通信する
ものの出力間に設けられる。この最後の場合に、ゲート
44はフリップフロップ45の出力に接続される。バス
6に流れるコントロール及びアドレス信号はレジスタで
ライト及びリード動作を形成させることが可能である。
【0028】レジスタ(4、5のレジスタへのア
クセスを妨げることなく、無期限にアクティブ状態を維
持することができる。第4図に示される第3の実施例に
よれば、前記レジスタは有利には、その状態(アクティ
ブ又は静止)に、例えば、ラッチングレジスタ46にお
いて、関する情報を含み、外部データ処理システムか
ら、すなわち、アプリケーション環境から始まるプログ
ラムによって、回路の他のブロックの振る舞いに影響を
与えることなく、活性化される。
【0029】ラッチングレジスタ46はレジスタ(4、
5)の状態に関する情報を維持し、論理オペレータ41
の入力の1つにかつデータライン63に接続される。ラ
ッチングレジスタ46はリセット入力47を具備し、こ
れはレジスタを、回路の一般的なリセット信号によりリ
セットする。なお、レジスタは特別のレジスタに格納さ
れ得るコントロール信号により透過になり得る。
【0030】図5〜7に示されるリード及びライトタイ
ミング図において、アドレス信号は71と参照符号を付
けられ、ライト及びリードコマンド信号は72及び73
とそれぞれ参照符号を付けられ、データ信号は74と、
クロック信号は75と参照符号を付けられる。第2の実
施例をさらに詳細に説明する。テストの動作は、下記の
ようである:−バス6のアドレス及びコントロールフィ
ールドの復号がライトコマンドを生成するとき、データ
はレジスタにより認識されかつ時間どおりに得られる。
【0031】リードサイクルは、テストが本発明の第1
の実施例の応じて行われる時、同様に追従される。 −ライトサイクルは、内部バスのアドレス及びコントロ
ールフィールドの復号がライトパルスを発生するとき
に、始まる。透過的テストレジスタに対して、第1の実
施例に対応して、データは、ライトコマンドが立ち下が
る時、サンプルされる。Dタイプフリップ−フロップ付
きのテストレジスタに対して、データは、ライト信号に
より認められた時、クロックパルスの各正に進む遷移で
サンプルされる。
【0032】「フリップ−フロップ」として知られてい
る第2のタイプのレジスタはテストを公称速度で行うこ
とを可能にする。これを達成するために、入力テストに
対応するデータは上流レジスタに書き込まれ、そして、
クロックパルスの二つの正に進む遷移が生じた後に、出
力テストベクトルは下流レジスタから読み出される。
【0033】第1の正に進む遷移は入力テストのデータ
値のサンプリングを可能にし、そして第2の正に進む遷
移は下流テストレジスタから出力データ用の同一のサン
プリングを可能にする。各テストレジスタに対するリー
ド及びライト信号のコマンドがホストインタフェース7
を経由して外部データ処理システム8の支援を得て、テ
ストされるべきディジタル回路ブロックのそれぞれを急
速に充分にテストすることが可能になる。
【0034】回路がより複雑になるとますます急速なテ
スト値が大きくなることに注目せよ。
【0035】
【発明の効果】このようにして、本発明は、どんなその
実施例でも、回路に又は同一のバスに接続される回路す
べてに含まれる異なるテストレジスタに独立にアクセス
することを可能にする。各レジスタは上流ブロックの出
力状態に関する情報を得ることを可能にし、下流ブロッ
クの入力状態を選択することを可能にする。
【0036】唯一の書き込みステップがテストレジスタ
での情報を書き込むために、もし必要とされるならば、
このレジスタをラッチするために進められる。テストレ
ジスタがラッチされている時でさえ、テストレジスタで
の新情報を書き込むことが可能になる。レジスタがラッ
チされている時、レジスタはクロックが活性化される時
でさえその値を、さらに回路作業を維持する。
【0037】テストレジスタへのアクセスは、ライトに
対して又はリードに対しても同様に、回路の作業さらに
機能的クロックから独立している。各テストレジスタは
ラッチされ又はラッチをはずされることもある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るディジタル処理回路の全体ブロッ
ク図である。
【図2】本発明の第1の実施例のブロック図である。
【図3】本発明の第2の実施例のブロック図である。
【図4】本発明の第3の実施例のブロック図である。
【図5】本発明の第2の実施例におけるリード動作のタ
イミング図である。
【図6】本発明の第2の実施例におけるライト動作のタ
イミング図である。
【図7】本発明の第2の実施例に係る、一定ブロックの
入力及び出力データのライト及びリード動作のタイミン
グ図である。
【符号の説明】
1、2、3…ブロック 4、5…テストレジスタ 6…処理回路バス 7…ホストインタフェース 8…外部データ処理システム
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−38949(JP,A) 特開 昭62−124470(JP,A) 特開 昭63−188782(JP,A) 特開 平3−252570(JP,A) 特開 昭64−59540(JP,A) 特開 昭64−48139(JP,A) 加藤雅浩,“マルチメディア国際標準 方式MPEG固まる、動画圧縮チップ /ソフトが登場”,日経エレクトロニク ス、日経BP社,平成4年1月6日,第 544号,p.147−154 (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G06F 11/22 - 11/26 G01R 31/28 - 31/30

Claims (13)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ディジタル処理回路のバスから外部デー
    タ処理システムへのホストインタフェースシステムを有
    するディジタル処理回路において、前記ディジタル処理
    回路はブロックに分割され、上流ブロック及び下流ブロ
    ック間に設けられるテストレジスタを有し、バスはコントロールライン、アドレスライン及びデータ
    ラインを有し、各テストレジスタに接続され、 各テストレジスタはデータをテストレジスタに送らせ又
    はテストレジスタが含むデータを読み出させるアドレス
    により特定され、他のテストレジスタと独立にアクセス
    され、 各テストレジスタはアクティブ状態及び静止状態を有
    し、コントロールライン、アドレスライン及びデータラ
    インに存在する信号に従ってリード又はライト信号の発
    生を可能にし且つ前記ディジタル処理回路をアクティブ
    状態に変化させる手段と、このライト又はリード動作を
    認める付加的手段とを備える ディジタル処理回路。
  2. 【請求項2】 各テストレジスタは上流ブロックの出力
    状態を監視し且つ下流ブロックの入力状態を選択する請
    求項1に記載のディジタル処理回路。
  3. 【請求項3】 各テストレジスタはバスのコントロール
    ライン、アドレスライン及びデータラインに接続される
    請求項1に記載のディジタル処理回路。
  4. 【請求項4】 テストレジスタは静止状態で透過であ
    る、請求項に記載のテストレジスタを備えるディジタ
    ル処理回路。
  5. 【請求項5】 各テストレジスタはリード信号によりコ
    マンドされる第1のマルチプレクサを具備し、この一方
    の入力はバスを横切るデータを受け、前記第1のマルチ
    プレクサの出力は論理オペレータの出力によりコマンド
    される第2のマルチプレクサに接続され、前記論理オペ
    レータはその入力でライト信号及びライト認可信号を受
    け、前記第2のマルチプレクサの第2の入力は上流ブロ
    ックに接続され、そして前記第2のマルチプレクサの出
    力は下流ブロックに接続される、請求項1又はに記載
    のテストレジスタを備えるディジタル処理回路。
  6. 【請求項6】 静止状態において、テストレジスタはD
    タイプフリップ− ロップのように振る舞う、請求項1
    乃至のいずれか一つに記載のテストレジスタを備える
    ディジタル処理回路。
  7. 【請求項7】 各テストレジスタはブロック間に配設さ
    れたDタイプフリップ−フロップを具備し、前記ブロッ
    クはレジスタが静止状態にある時レジスタにより分離さ
    れる、請求項に記載のテストレジスタを備えるディジ
    タル処理回路。
  8. 【請求項8】 ディジタル処理回路はブロックnで公称
    速度で動作テストを行うことを可能にし、入力テスト
    クトルは、上流レジスタに、第1のクロックパルスの正
    に進む遷移で書き込まれ、そして下流レジスタから、第
    1のクロックパルスに直接続く第2のクロックパルスの
    正に進む遷移で読み出す、請求項に記載のテストレジ
    スタを備えるディジタル処理回路。
  9. 【請求項9】 データバスのインピーダンスはリード又
    はライトサイクルの出発前に高い、請求項1乃至のい
    ずれか一つに記載のテストレジスタを備えるディジタル
    処理回路。
  10. 【請求項10】 ディジタル処理回路はMPEG標準に
    応じて画像を表すビット流れを復号する装置に含まれ
    る、請求項1乃至のいずれか一つに記載のテストレジ
    スタを備えるディジタル処理回路。
  11. 【請求項11】 一定のテストレジスタが、同時に他の
    テストレジスタへのアクセスを認める間に、アクティブ
    状態を無期限に維持することができる、請求項1乃至
    のいずれか一つに記載のテストレジスタを備えるディ
    ジタル処理回路。
  12. 【請求項12】 少なくとも1つのテストレジスタがそ
    れ自体の情報(アクティブ又は静止)を具備する、請求
    項1乃至11のいずれか一つに記載のテストレジスタを
    具備するディジタル処理回路。
  13. 【請求項13】 テストレジスタが、関連されない回路
    の全ての他のブロックが通常的に振る舞い続ける間、ア
    プリケーション環境のプログラムにより活性化される、
    請求項1乃至12のいずれか一つに記載のテストレジス
    タを備えるディジタル処理回路。
JP7017683A 1994-02-04 1995-02-06 テストレジスタを備えるディジタル処理回路 Expired - Lifetime JP2828920B2 (ja)

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FR9401302A FR2716019B1 (fr) 1994-02-04 1994-02-04 Circuit de traitement numérique comportant des registres de test.

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JPH07319727A JPH07319727A (ja) 1995-12-08
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