JP2825713B2 - 反射型液晶表示装置およびその製造方法 - Google Patents

反射型液晶表示装置およびその製造方法

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JP2825713B2
JP2825713B2 JP24093592A JP24093592A JP2825713B2 JP 2825713 B2 JP2825713 B2 JP 2825713B2 JP 24093592 A JP24093592 A JP 24093592A JP 24093592 A JP24093592 A JP 24093592A JP 2825713 B2 JP2825713 B2 JP 2825713B2
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insulating film
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display device
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精一 三ツ井
直史 木村
久和 中村
誠 神戸
康憲 島田
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、外部からの入射光を反
射することによって表示を行う反射型液晶表示装置およ
びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、ワードプロセッサ、ラップトップ
型パーソナルコンピュータ、ポケットテレビなどへの液
晶表示装置の応用が急速に進展している。特に、液晶表
示装置の中でも外部から入射した光を反射させて表示を
行う反射型液晶表示装置は、バックライトが不要である
ため消費電力が低く、薄形であり、軽量化が可能である
ため注目されている。
【0003】従来から、反射型液晶表示装置にはTN
(ツイステッドネマティック)方式、ならびにSTN
(スーパツイステッドネマティック)方式が用いられて
いるけれども、これらの方式では偏光板によって必然的
に自然光の光強度の1/2が表示に利用されないことに
なり、表示が暗くなるという問題がある。
【0004】このような問題に対して、偏光板を用い
ず、自然光の全ての光線を有効に利用しようとする表示
モードが提案されている。このようなモードの例とし
て、相転移型ゲスト・ホスト方式が挙げられる(D.
L.White and G.N.Taylor:J.Appl.Phys.45
4718 1974)。このモードでは、電界によるコ
レステリック・ネマティック相転移現象が利用されてい
る。この方式に、さらにマイクロカラーフィルタを組合
わせた反射型マルチカラーディスプレイも提案されてい
る(Tohru Koizumi and Tatsuo Uchida Proceedings of
the SID,Vol.29/2,157,1988)。
【0005】このような偏光板を必要としないモードで
さらに明るい表示を得るためには、あらゆる角度からの
入射光に対し、表示画面に垂直な方向へ散乱する光の強
度を増加させる必要がある。そのためには、最適な反射
特性を有する反射板を作成することが必要となる。上述
の文献には、ガラスなどから成る基板の表面を研磨剤で
粗面化し、フッ化水素酸でエッチングする時間を変える
ことによって表面の凹凸を制御し、その凹凸上に銀の薄
膜を形成した反射板について記載されている。
【0006】しかしながら、上記文献に記載の反射板に
は、ガラス基板に研磨剤によって傷をつけることによっ
て凹凸が形成されるため、均一な形状の凹凸が形成され
ない。また、凹凸の形状の再現性が悪いという問題があ
るため、このようなガラス基板を用いると再現性よく良
好な反射特性を有する反射型液晶表示装置を提供するこ
とができない。
【0007】図25は、アクティブマトリクス方式に用
いられるスイッチング素子である薄膜トランジスタ(以
下、「TFT」と記す。)1を有する基板2の平面図で
あり、図26は図25に示す切断面線X26−X26か
ら見た断面図である。ガラスなどの絶縁性の基板2上
に、クロム、タンタルなどから成る複数のゲートバス配
線3が互いに平行に設けられ、ゲートバス配線3からは
ゲート電極4が分岐して設けられている。ゲートバス配
線3は、走査線として機能している。
【0008】ゲート電極4を覆って基板2上の全面に窒
化シリコン(SiNx)、酸化シリコン(SiOx)など
から成るゲート絶縁膜5が形成されている。ゲート電極
4の上方のゲート絶縁膜5上には、非晶質シリコン(以
下、「a−Si」と記す。)、多結晶シリコン、CdS
eなどから成る半導体層6が形成されている。半導体層
6の一方の端部には、チタン、モリブデン、アルミニウ
ムなどから成るソース電極7が重畳形成されている。ま
た、半導体層6の他方の端部には、ソース電極7と同様
にチタン、モリブデン、アルミニウムなどから成るドレ
イン電極8が重畳形成されている。ドレイン電極8の半
導体層6とは反対側の端部には、ITO(Indium Tin O
xide)から成る絵素電極9が重畳形成されている。
【0009】図25に示すように、ソース電極7にはゲ
ートバス配線3と前述のゲート絶縁膜5を挟んで交差す
るソースバス配線10が接続されている。ソースバス配
線10は、信号線として機能している。ソースバス配線
10も、ソース電極7と同様な金属で形成されている。
ゲート電極4、ゲート絶縁膜5、半導体層6、ソース電
極7およびドレイン電極8は、TFT1を構成し、該T
FT1はスイッチング素子の機能を有している。
【0010】図25および図26に示すTFT1を有す
る基板2を反射型液晶表示装置に適用しようとすれば、
絵素電極9をアルミニウム、銀などの光反射性を有する
金属で形成するばかりでなく、ゲート絶縁膜5あるいは
その上に凹凸を形成する必要がある。一般に、無機物か
ら成る絶縁膜にテーパのついた凹凸を均一に形成するこ
とは困難である。
【0011】図27は、アクティブマトリクス方式に用
いられるTFT11を有する基板12の平面図であり、
図28は図27に示される切断面線X28−X28から
見た断面図である。ガラスなどの絶縁性の基板12上に
クロム、タンタルなどから成る複数のゲートバス配線1
3が互いに平行に設けられ、ゲートバス配線13からは
ゲート電極14が分岐して設けられている。ゲートバス
配線13は、走査線として機能している。
【0012】ゲート電極14を覆って基板12上の全面
に窒化シリコン、酸化シリコンなどから成るゲート絶縁
膜15が形成されている。ゲート電極14の上方のゲー
ト絶縁膜15上には、a−Siなどから成る半導体層1
6が形成されている。半導体層16の両端部には、a−
Siなどから成るコンタクト層17が形成されている。
一方のコンタクト電極17上にはソース電極18が重畳
形成され、他方のコンタクト層17上には、ドレイン電
極19が重畳形成されている。ソース電極18には、ゲ
ートバス配線13と前述のゲート絶縁膜15を挟んで交
差する信号線として機能するソースバス配線23が接続
されている。ゲート電極14、ゲート絶縁膜15、半導
体層16、コンタクト層17、ソース電極18およびド
レイン電極19は、TFT11を構成する。
【0013】さらにその上に複数の凸部20aを有し、
ドレイン電極19上にコンタクトホール21を有する有
機絶縁膜20が形成される。有機絶縁膜20上には、反
射電極22が形成され、反射電極22はコンタクトホー
ル21を介してドレイン電極19と接続されている。
【0014】以上のように、TFT11を形成した基板
12上に有機絶縁膜20を形成する場合は、エッチング
法を用いて有機絶縁膜20の表面に凸部20aを容易に
形成することができ、凸部20aを有する有機絶縁膜2
0上に反射電極22を形成することによって、容易に凹
凸を有する反射電極22を形成することができる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】図25および図26に
示されるように、反射電極9とソースバス配線10とを
ゲート絶縁膜5上に形成する際には、反射電極9とソー
スバス配線10とが導通しないように間隙9aが形成さ
れる。しかしながら、図27および図28に示されるよ
うに、ソースバス配線23をゲート絶縁膜15上に、反
射電極22を有機絶縁膜20上にそれぞれ形成すれば、
前述のような間隙9aは不要である。
【0016】表示の輝度を向上するためには、反射電極
22はその表面積が大きいほど好ましい。したがって、
図27および図28では反射電極22端部は、有機絶縁
膜20を介してソースバス配線23上に形成されてい
る。
【0017】有機絶縁膜20は、凸部20aを有してい
るため、隣り合う凸部20a間の底部20b部分がソー
スバス配線23上に接触するエッチング不良が生じた場
合、有機絶縁膜20による絶縁が行われず、有機絶縁膜
20上に形成される反射電極22とソースバス配線23
との絶縁不良が生じるという問題がある。
【0018】また、基板12上の全面に凸部20aを有
する有機絶縁膜20を形成するため、反射電極22をパ
ターニングする際、凸部20aによって反射電極22の
周縁部に凹凸が生じ、反射電極22のパターニング不良
が生じるという問題がある。
【0019】さらに、反射電極22が、基板12上に形
成された引回し電極であるゲート電極14上の接続部分
の半導体層16の上に有機絶縁膜20を介して形成され
た場合、反射電極22にかかる信号が半導体層16にか
かり、疑似的に反射電極22がゲート電極14と同じよ
うな機能を果たし、反射電極22と半導体層16との界
面にチャネルを形成してしまい、TFT11の特性を低
下させる。また、ゲート電極14と反射電極22との間
に、大きな寄生容量が発生することになる。これらの現
象は、表示品位を低下させる原因となる。
【0020】本発明の目的は、上述の問題を解決し、良
好な反射特性を有する反射板を容易に、かつ再現性よく
作成することができ、表示品位が向上する反射型液晶表
示装置およびその製造方法を提供することである。
【0021】
【課題を解決するための手段】本発明は、液晶層を介在
して対向配置される一対の基板のうちの一方側の基板上
に、複数のスイッチング素子と、該スイッチング素子に
電圧を与える第1のバス配線と、第1の絶縁膜を介して
該第1のバス配線と直交する第2のバス配線と、第2の
絶縁膜を介して該スイッチング素子と導通する反射電極
とを備えた反射型液晶表示装置において、前記反射電極
は、前記第2の絶縁膜を介して少なくとも前記第2のバ
ス配線の一部分と重なりをもって形成されて成り、前記
第2の絶縁膜は、前記反射電極と前記第2のバス配線と
が重なる領域以外の領域に凹凸を有する有機樹脂から成
ることを特徴とする反射型液晶表示装置である。
【0022】また本発明は、前記凹凸は、不規則に配列
されることを特徴とする。
【0023】また本発明は、前記凹凸のうちの凸部は、
先細状に、かつ先端部は球面状に形成されることを特徴
とする。
【0024】また本発明は、前記凹凸は、1種類あるい
は大きさの異なる2種類以上の形状から成ることを特徴
とする。
【0025】また本発明は、前記凹凸の高さは、10μ
m以下であることを特徴とする。
【0026】また本発明は、液晶層を介在して対向配置
される一対の基板のうちの一方の基板上に、他方の基板
側からの入射光を反射する反射電極を有して成り、該反
射電極と該他方の基板上に形成された電極とが重なる領
域で形成される画素部がマトリックス状に配列されて成
る反射型液晶表示装置において、前記反射電極は、前記
一方基板上の液晶層側に配列された複数の凹凸上に形成
された電気絶縁膜上に形成されているとともに、該複数
の凹凸は、該反射電極の周縁部に対応する領域以外の領
域に形成されていることを特徴とする反射型液晶表示装
置である。
【0027】また本発明は、液晶層を介在して対向配置
される一対の基板の一方基板上に、他方基板側からの入
射光を反射する反射電極を有する反射型液晶表示装置の
製造方法において、前記一方基板上の液晶層側に感光性
樹脂を塗布する工程と、前記感光性樹脂を略円形のパタ
ーンが不規則に配列された遮光手段を介して露光および
現像した後に熱処理を行い、複数の凹凸を形成する工程
と、前記複数の凹凸上に該複数の凹凸に沿うように絶縁
膜を形成する工程と、前記絶縁膜上に金属膜から成る前
記反射電極を形成する工程とを含むことを特徴とする反
射型液晶表示装置の製造方法である。
【0028】
【0029】
【0030】
【0031】
【0032】
【0033】
【0034】
【0035】
【0036】
【作用】本発明に従えば、反射型液晶表示装置は、対向
する一対の透明基板間に液晶層を介在して形成される。
このとき、一方の基板の液晶層側表面には、スイッチン
グ素子と第1のバス配線と第1の絶縁膜と第2のバス配
線と第2の絶縁膜と反射電極とがこの順序で形成され、
他方の基板の液晶層側表面にはたとえば共通電極が形成
される。前記反射電極は表示絵素であり、前述の他方基
板および共通電極を介して入射する入射光を反射するこ
とによって表示が行われる。第1のバス配線は、後述の
実施例ではゲートバス配線32であり、第1の絶縁膜は
ゲート絶縁膜34であり、第2のバス配線はソースバス
配線39であり、第2の絶縁膜は有機絶縁膜42であ
る。スイッチング素子と第1のバス配線と第2のバス配
線とによって、各反射電極に表示のための電圧を印加す
る。他方基板上に形成される前記共通電極は、他方基板
のほぼ全面にわたって形成されている。
【0037】本発明の反射型液晶表示装置においては、
反射電極は第2の絶縁膜を介して少なくとも第2のバス
配線の一部分と重なりを持っており、したがってたとえ
ば後述の実施の形態におけるようにコンタクトホール4
3によって反射電極と第2のバス配線とが電気的に接続
されることができる。この反射電極が形成される第2の
絶縁膜は、反射電極と第2のバス配線とが重なる領域以
外の領域に凹凸を有する。このように反射電極は、前記
凹凸上に形成されるため、反射電極表面にもまた前記凹
凸に対応する凹凸が形成される。光反射面に凹凸を形成
することによって、あらゆる角度からの入射光に対し、
表示画面に垂直な方向へ散乱する光の強度が増加して表
示輝度が向上し、表示のコントラストが向上する。前述
のように、前記絶縁膜に形成されている凹凸は、反射電
極のみが形成される領域のみに形成されており、引回し
電極上には形成されないので、凸部間の凹所が深く形成
されることがあっても、反射電極と第2のバス配線とが
接触する絶縁不良は生じない。また、第2のバス配線上
には、凹凸が形成されていないので、前記反射電極の周
縁部には凹凸がなく、前記反射電極のパターニングを良
好に行うことができる。第2絶縁膜は有機樹脂であるの
で、たとえば後述の実施例のように、ホトリソグラフ法
およびドライエッチング法などによって加工することが
容易であり、その形状を、容易に、かつ均一に再現性良
く制御することができる。
【0038】また本発明に従えば、前記凹凸が不規則に
配列されており、前記凸部の形状が先細状であり、かつ
先端部は球面状に形成されており、また前記凹凸は1種
類あるいは大きさの異なる2種類以上の形状から成る。
これらは、いずれもあらゆる角度からの入射光に対し、
表示画面に垂直な方向へ散乱する光の強度を増加する前
述と同様な作用を有している。
【0039】また本発明に従えば、前記凹凸の高さは1
0μm以下に選ばれる。通常、反射型液晶表示装置の液
晶層の厚さは10μm以下であるため、前記凹凸の高さ
を液晶層の厚さよりも小さくすることによって、液晶表
示素子を均一に作成することができる。また、あらゆる
角度からの入射光に対し、表示画面に垂直な方向へ散乱
する光の強度を増加する前述と同様な作用を有してい
る。
【0040】また本発明に従えば、反射電極が形成され
る電気絶縁膜の凹凸は、反射電極の周縁部に対応する領
域には形成されておらず、この凹凸は、反射電極の周縁
部に対応する領域以外の領域に形成されているので、反
射電極のパターニングを良好に行うことができる。
【0041】
【0042】
【0043】
【0044】
【0045】
【0046】また本発明に従えば、液晶層を介在して対
向配置される一対の基板の一方基板上に、他方基板から
の入射光を反射する反射電極を有する反射型液晶表示装
置を製造する場合、先ず、一方の基板上の液晶層側に感
光性樹脂が塗布される。前記感光性樹脂は、略円形のパ
ターンが不規則に配列されて形成された遮光手段を介し
て露光および現像された後に熱処理が行われる。これに
よって一方基板上に感光性樹脂から成る不規則な複数の
滑らかな凹凸が形成される。前記凹凸上に一方基板を覆
うように絶縁膜が形成され、絶縁膜は前記凹凸に対応し
たさらに滑らかな形状となる。さらにその上に、金属薄
膜から成る反射電極が絶縁膜表面の凹凸に沿って形成さ
れる。
【0047】反射電極表面の凹凸は、感光性樹脂によっ
て形成される凹凸に対応している。感光性樹脂の形状
は、容易に、かつ均一に再現性よく制御することが可能
である。このように、容易に形成される絶縁膜の不規則
な凹凸に対応して反射電極の凹凸が形成されるため、反
射特性の良好な反射電極を形成することができる。この
ように熱処理を施した感光性樹脂から成る凹凸上に絶縁
膜を形成することによって、さらに滑らかな面を形成す
ることができ、正反射成分がより少なくなり、散乱特性
が良好な反射電極を効率良く製造することができる。以
下の説明では、凹凸を、凸部と表現することもある。
【0048】
【0049】
【実施例】図1は、本発明の一実施例である反射型液晶
表示装置30の断面図であり、図2は図1に示される基
板31の平面図である。ガラスなどから成る絶縁性の基
板31上に、クロム、タンタルなどから成る複数のゲー
トバス配線32が互いに平行に設けられ、ゲートバス配
線32からはゲート電極33が分岐している。ゲートバ
ス配線32は、走査線として機能している。
【0050】ゲート電極33を覆って基板31上の全面
に、窒化シリコン(SiNx )、酸化シリコン(SiO
x)などから成るゲート絶縁膜34が形成されている。
ゲート電極33の上方のゲート絶縁膜34上には、非晶
質シリコン(以下、「a−Si」と記す。)、多結晶シ
リコン、CdSeなどから成る半導体層35が形成され
ている。半導体層35の両端部には、a−Siなどから
成るコンタクト電極41が形成されている。一方のコン
タクト電極41上には、チタン、モリブデン、アルミニ
ウムなどから成るソース電極36が重畳形成され、他方
のコンタクト電極41上には、ソース電極36と同様に
チタン、モリブデン、アルミニウムなどから成るドレイ
ン電極37が重畳形成されている。
【0051】図2に示すようにソース電極36には、ゲ
ートバス配線32に前述のゲート絶縁膜34を挟んで交
差するソースバス配線39が接続されている。ソースバ
ス配線39は、信号線として機能している。ソースバス
配線39も、ソース電極36と同様の金属で形成されて
いる。ゲート電極33、ゲート絶縁膜34、半導体層3
5、ソース電極36およびドレイン電極37は、薄膜ト
ランジスタ(以下、「TFT」と記す。)40を構成
し、該TFT40はスイッチング素子の機能を有する。
【0052】ゲートバス配線32、ソースバス配線39
およびTFT40を覆って、基板31上全面に有機絶縁
膜42が形成されている。有機絶縁膜42の反射電極4
3が形成される領域には、先細状で先端部が球面状に形
成された、高さHの凸部42aが形成されており、ドレ
イン電極37の部分にはコンタクトホール43が形成さ
れている。有機絶縁膜42の形成方法や、これにコンタ
クトホール43を形成する工程上の問題、および液晶表
示装置30を作成する際の液晶層厚のバラツキを小さく
するため、凸部42aの高さHは10μm以下が好まし
い。一般に、液晶層の厚さは10μm以下である。有機
絶縁膜42の凸部42a形成領域上にアルミニウム、銀
などから成る反射電極38が形成され、反射電極38は
コンタクトホール43において、ドレイン電極37と接
続される。さらにその上には、配向膜44が形成され
る。
【0053】基板45上には、カラーフィルタ46が形
成される。カラーフィルタ46は、基板31の反射電極
38に対向する領域には、マゼンタまたは緑色のフィル
タ46aが形成され、反射電極38に対向しない領域に
は黒色のフィルタ46bが形成される。カラーフィルタ
46上の全面には、ITO(Indium Tin Oxide)などか
ら成る透明電極47が形成され、さらにその上には配向
膜48が形成される。
【0054】前記両基板31,45は、反射電極38と
フィルタ46aとが一致するように対向して貼合わせら
れ、基板間に液晶49が注入されて反射型液晶表示装置
30が完成する。
【0055】図3は、図1および図2に示される凹凸を
有する反射電極38を基板31上に形成する形成方法を
説明する工程図であり、図4は図3に示す形成方法を説
明する断面図であり、図5は図3の工程s7で用いられ
るマスク51の平面図である。図4(1)は図3の工程
s4を示し、図4(2)は図3の工程s7を示し、図4
(3)は図3の工程s8を示し、図4(4)は図3の工
程s9を示している。
【0056】工程s1では、ガラスなどから成る絶縁性
の基板31上にスパッタリング法によって3000Åの
厚さのタンタル金属層を形成し、この金属層をホトリソ
グラフ法およびエッチングによってパターニングを行
い、ゲートバス配線32およびゲート電極33を形成す
る。工程s2では、プラズマCVD法によって4000
Åの厚さの窒化シリコンから成るゲート絶縁膜34を形
成する。
【0057】工程s3では、半導体層35となる厚さ1
000Åのa−Si層と、コンタクト層41となる厚さ
400Åのn+ 型a−Si層とをこの順で連続的に形成
する。形成されたn+ 型a−Si層およびa−Si層の
パターニングを行い、半導体層35およびコンタクト層
41を形成する。工程s4では、基板31の全面に厚さ
2000Åのモリブデン金属をスパッタ法によって形成
し、このモリブデン金属層のパターニングを行って、ソ
ース電極36、ドレイン電極37およびソースバス配線
39を形成し、TFT40が完成する。図4(1)は、
工程s4までの処理終了後のTFT40が形成された基
板31の断面図である。
【0058】工程s5では、TFT40を形成した基板
31上の全面にポリイミド樹脂を2μmの厚さに形成
し、有機絶縁膜42を形成する。工程s6では、ホトリ
ソグラフ法およびドライエッチング法を用いて有機絶縁
膜42にコンタクトホール43を形成する。工程s7で
は、有機絶縁膜42上にホトレジスト50を塗布し、図
5に示されるマスク51を用いて反射電極38形成領域
に凸部50aをパターニングする。さらに、凸部50a
の角をとるために、120℃〜250℃の範囲で熱処理
を行う。本実施例では、200℃、30分の熱処理を行
った。図4(2)に、工程s7までの処理終了後の基板
31の断面図を示す。マスク51には、反射電極38形
成領域に、図5に示されるように斜線で示す円形の遮光
領域51aが不規則に形成されている。
【0059】工程s8では、図4(3)に示されるよう
に、ホトレジスト50を覆って有機絶縁膜42をエッチ
ングして高さHが0.5μmの凸部42aを形成する。
このとき、ホトレジスト52に熱処理を行い、凸部50
aの角をとってあるため、凸部42aもまた角がとれた
形に形成される。また、コンタクトホール43およびT
FT40上の有機絶縁膜42は、ホトレジスト50によ
って保護されており、エッチングは行われない。
【0060】工程s9では、有機絶縁膜42上全面にア
ルミニウム層を形成し、図4(4)に示されるように凸
部42a上に反射電極38を形成する。この状態の基板
31を、反射電極38を有する基板52とする。反射電
極38は、有機絶縁膜42に形成されたコンタクトホー
ル43を介してTFT40のドレイン電極37と接続さ
れている。
【0061】有機絶縁膜42上の凸部42aの形状は、
マスク51の形状、ホトレジスト50の厚さ、ドライエ
ッチングの時間によって制御することができることが確
認されている。
【0062】以上の工程によって、反射電極38を有す
る基板52を得た。また、上述の製造工程において、有
機絶縁膜42のドライエッチング時間を長くして、凸部
42aの高さHを1μmとした基板31を得ることがで
き、高さHが1μmである反射電極38を有する基板3
1を基板59とする。
【0063】図1に示される他方の基板45に形成され
る電極47は、たとえばITOから成り、厚さは100
0Åである。配向膜44,48は、ポリイミドなどを塗
布後、焼成することによって形成されている。基板3
1,45間には、たとえば7μmのスペーサを混入した
図示しない接着性シール剤をスクリーン印刷することに
よって液晶49を封入する空間が形成され、前記空間を
真空脱気することによって、液晶49が注入される。液
晶49としては、たとえば黒色色素を混入したゲストホ
スト液晶(メルク社製、商品名 ZLI2327)に、
光学活性物質(メルク社製、商品名 S811)を4.
5%混入したものを用いる。
【0064】図6は、反射電極38を有する基板52,
59の反射特性の測定法を示す断面図である。反射電極
38を有する基板52,59上に紫外線硬化接着樹脂5
3を介してガラス基板54を密着し、測定用装置55を
形成する。反射型液晶表示装置30において、基板45
と液晶49との屈折率のいずれも約1.5であるので、
紫外線硬化接着樹脂53および基板54の屈折率は約
1.5のものを用いている。基板54の上部に、光の強
度を測定するホトマルチメータ56が配置されている。
ホトマルチメータ56は、反射電極38に基板31に対
して入射角θで入射する入射光57のうち、基板31の
法線方向に反射する散乱光58を検出するように、基板
31の法線方向に固定されている。
【0065】測定用装置55に入射される入射光57の
入射角θを変化させて反射電極38による散乱光58を
測定することによって、反射電極38の反射特性が得ら
れる。この測定結果は、反射型液晶表示装置30内の反
射電極38と液晶49層などとの境界における反射特性
と同様の結果が得られることが確認されている。
【0066】図7は、本実施例の反射電極38を有する
基板52,59の反射特性を示すグラフである。基板5
2の反射特性は曲線60で示され、基板59の反射特性
は曲線61で示される。図7において、入射角θをもっ
て入射する光の反射強度は、θ=0°の線に対する角θ
の方向に、原点0からの距離として表されている。ま
た、図7に破線で示す曲線62は、標準白色板(酸化マ
グネシウム)について測定した反射特性を示す。基板5
2の反射特性を示す曲線60は、入射角は小さい場合に
は基板の法線方向の反射率が大きく、入射角が大きい場
合には法線方向の反射率が小さいという指向性を持って
いる。それに対して、基板59の反射特性を示す曲線6
1は、標準反射板の反射特性を示す曲線62と同様の反
射特性を示す曲線61を有していることが判る。
【0067】このように、ドライエッチング時間を制御
することによって反射特性60,61を制御することが
できる。また、マスク51の遮光領域51aの占める割
合を変化させることによって、正反射成分の大きさを制
御することができる。
【0068】反射型液晶表示装置30上にホトマルチメ
ータ56を配置して、反射率を測定した。反射率は、入
射光57の入射角θが30°のときの標準白色板におけ
る法線方向への拡散光58の強度に対する、反射型液晶
表示装置30の法線方向への拡散光58の強度の比率を
求めることによって得られる。電圧を印加した場合、入
射角θ=30°の入射光に対する反射型液晶表示装置3
0の反射率は、約20%とかなり明るく、コントラスト
比は5であった。
【0069】図8は、本発明の一実施例である反射型液
晶表示装置30の白色光源光に対する反射光の色をCI
E色度図に示したグラフである。点W1は白色光源光を
示し、点W2は反射型液晶表示装置30によって表示さ
れる白色を示し、点Gは反射型液晶表示装置30によっ
て表示される緑色を示し、点Mは反射型液晶表示装置3
0によって表示されるマゼンタを示している。反射型液
晶表示装置30の白色を示す点W2は、白色光源光を示
す点W1に近いことが判る。
【0070】本実施例の反射型液晶表示装置30では、
反射電極38を形成した面が液晶49側に位置している
ため、視差がなくなり、良好な表示画面が得られる。ま
た、本実施例では、凹凸を有する反射電極38が液晶4
9層側、すなわち液晶49層にほぼ隣接する位置に配置
されている構成となるため、凸部42aの高さHは、液
晶層厚よりも小さく、凸部の傾斜角度は液晶の配向を乱
さない程度に穏やかにすることが望ましい。
【0071】さらに、本実施例では、有機絶縁膜42の
パターニングをドライエッチング法によって行ったが、
有機絶縁膜42がポリイミド樹脂の場合には、アルカリ
溶液によるウエットエッチング法によって行ってもよ
い。また、有機絶縁膜42としてポリイミド樹脂を用い
たが、アクリル樹脂などの他の有機材料を用いてもよ
い。さらに本実施例では、基板31,45として、ガラ
スなどから成る透明な材料を用いたが、シリコン基板の
ような不透明な材料でも同様な効果が発揮され、この場
合には回路を基板上に集積できる利点がある。
【0072】なお、前記実施例においては、表示モード
として相転移型ゲスト・ホストモードを取上げたけれど
も、これに限定されることはなく、たとえば2層式ゲス
ト・ホストのような他の光吸収モード、高分子分散型液
晶表示装置のような光散乱型表示モード、強誘電性液晶
表示装置で使用される複屈折表示モードなどでも同様の
効果が得られる。また本実施例では、スイッチング素子
としてTFT40を用いた場合について説明したけれど
も、たとえばMIM(Metal−Insulator−Metal)素
子、ダイオード、バリスタなどを用いたアクティブマト
リクス基板にも適用することができる。
【0073】図9は、本発明の他の実施例を示す基板3
1の平面図である。反射電極38上には、有機絶縁膜4
0に形成される凸部42aを介して凸部38aが不規則
に形成されている。しかしながら、反射電極38の凸部
38aの不規則さは、どの反射電極38をとっても同様
である。これは、有機絶縁膜42上に凸部42aを形成
する際に用いられるホトマスク51の各反射電極38に
対応する領域に、同じ配列パターンで遮光領域51aを
形成しているためである。
【0074】凸部42aを形成するためのホトマスク5
1の各反射電極38に対応する領域に、それぞれ異なる
配列パターンの遮光領域51aを設計することもできる
けれども、このような方法を採ると、配列パターンの形
成に必要とされるデータ量が増大し、ホトマスク51の
作成が困難となる。しかしながら本実施例によれば、各
反射電極38に対応する領域のホトマスク51上には、
それぞれ同じ配列パターンで遮光領域51aが形成され
るため、1反射電極38に対応する配列パターンを形成
するだけでよく、ホトマスク51の作成が容易となる。
【0075】また図9に示される凸部42aは、2種類
の円形の遮光領域が不規則に配列されているホトマスク
を用いて形成されている。凸部38aの大きさは、たと
えば断面形状の最大直径を5μmと10μmとし、高さ
は0.6μmとし、それらが1反射電極38に対応する
領域のみランダムに形成し、残りの絵素はその配列パタ
ーンを繰返している。たとえば、絵素の大きさは、30
0μm×300μm、絵素数320×240、対角サイ
ズ5インチであるようなモノクロ反射型液晶表示装置を
作成した。
【0076】なお、反射型液晶表示装置30の構成、凸
部42aの作成方法、表示モードなどは前述の実施例と
同様である。全面点灯させたときの表示は、隣の絵素と
の干渉による色は見えず、良好な白色が得られた。
【0077】反射電極38の数が多くなり、反射電極3
9のピッチが小さくなったときに、特に隣の反射電極3
8が形成する絵素との干渉色が問題となる場合には、2
種類以上の配列パターンを組合せてホトマスク51を形
成すればよい。
【0078】以上のように本実施例によれば、反射電極
38部分のみに凹凸を形成するため、ソースバス配線3
9と反射電極38との絶縁不良が生じず、また反射電極
38周縁部の有機絶縁膜42上は凹凸がなく平坦である
ためパターニング不良は生じず、反射型液晶表示装置3
0の表示品位が向上する。また、反射電極38部分に形
成される凸部42aは不規則に配置され、また先細状に
かつ先端部は球面状に形成され、1種類あるいは大きさ
の異なる2種類以上の形状から成るため、反射型液晶表
示装置30の法線方向への拡散光の強度が向上する。
【0079】また本実施例によれば、前記凸部42aの
配列パターンが各反射電極38において同一であるた
め、容易に凸部の形成を行うことができる。
【0080】図10は、本発明のさらに他の実施例であ
る反射型液晶表示装置130の断面図であり、図11は
図10に示される基板131の平面図である。ガラスな
どから成る絶縁性の基板131上に、クロム、タンタル
などから成る複数のゲートバス配線132が互いに平行
に設けられ、ゲートバス配線132からはゲート電極1
33が分岐している。ゲートバス配線130には、走査
線として機能している。
【0081】ゲート電極133を覆って基板131上の
全面に、窒化シリコン(SiNx )、酸化シリコン(S
iOx )などから成るゲート絶縁膜134が形成されて
いる。ゲート電極133の上方のゲート絶縁膜134上
には、非晶質シリコン(以下、「a−Si」と記
す。)、多結晶シリコン、CdSeなどから成る半導体
層135が形成されている。半導体層135の両端部に
は、a−Siなどから成るコンタクト電極141が形成
されている。一方のコンタクト電極141上には、チタ
ン、モリブデン、アルミニウムなどから成るソース電極
136が重畳形成され、他方のコンタクト電極141上
には、ソース電極136と同様にチタン、モリブデン、
アルミニウムなどから成るドレイン電極137が重畳形
成されている。
【0082】図11に示すように、ソース電極136に
は、ゲートバス配線132と前述のゲート絶縁膜134
を挟んで交差するソースバス配線139が接続されてい
る。ソースバス配線139は、信号線として機能してい
る。ソースバス配線139も、ソース電極136と同様
の金属で形成されている。ゲート電極133、ゲート絶
縁膜134、半導体層135、ソース電極136および
ドレイン電極137は、薄膜トランジスタ(以下、「T
FT」と記す。)140を構成し、該TFT140は、
スイッチング素子の機能を有する。
【0083】反射電極138が形成される領域には、複
数の凸部142aが不規則に形成されている。ゲートバ
ス配線132、ソースバス配線139、TFT140お
よび凸部142aを覆って、基板131上全面に有機絶
縁膜142が形成されている。有機絶縁膜142には、
凸部142aに応じた凸部142bが生じる。ドレイン
電極137部分には、コンタクトホール143が形成さ
れている。液晶表示装置130を作成する際の液晶層厚
のバラツキを小さくするため、凸部142bの高さH1
は液晶層の厚さより小さい10μm以下が好ましい。一
般に、液晶層の厚さは10μm以下であるためである。
また、凸部142aのピッチは、100μm以下が好ま
しい。凸部142aが形成されている領域上の有機絶縁
膜142上にアルミニウム、銀などから成る反射電極1
38が形成され、反射電極138はコンタクトホール1
43においてドレイン電極137と接続される。さら
に、その上に配向膜144が形成される。
【0084】反射電極138は、図11に示されるよう
に、ゲートバス配線132の一部およびソースバス配線
139の一部に有機絶縁膜142を介して重畳されるよ
うに形成されている。このため、反射電極138の面積
を大きくすることができ、表示画面の開口率が大きくな
り、明るい表示が可能となる。反射電極138のパター
ニング不良をなくすためには、反射電極138の周縁部
には、凸部142aを形成しない構成とすればよい。ま
た、反射電極138とゲートバス配線132およびソー
スバス配線139との絶縁不良が生じるときには、重畳
する部分には凸部142aを形成しない構成とすればよ
い。
【0085】基板145上には、カラーフィルタ146
が形成される。カラーフィルタ146は、基板131の
反射電極138に対向する領域には、マゼンタまたは緑
色のフィルタ146aが形成され、反射電極138に対
向しない領域には、黒色のフィルタ146bが形成され
る。カラーフィルタ146上の全面には、ITOなどか
ら成る透明電極147、さらにその上に配向膜148が
形成される。
【0086】両基板131,145は、反射電極138
とフィルタ146aとが一致するように間隔をあけて対
向して貼合わせられ、基板間に液晶149が注入されて
反射型液晶表示装置130が完成する。
【0087】図12は、図11および図12に示される
凸部を有する反射電極138を基板131上に形成する
形成方法を説明する工程図であり、図13は図12に示
す形成方法を説明する断面図であり、図14は図12の
工程a5で用いられるマスク151の平面図である。図
13(1)は図12の工程a4を示し、図13(2)は
図12の工程a5を示し、図13(3)は図12の工程
a6を示し、図13(4)は図12の工程a8を示し、
図13(5)は図12の工程a9を示している。
【0088】工程a1では、ガラスなどから成る絶縁性
の基板131上にスパッタリング法によって3000Å
の厚さのタンタル金属層を形成し、この金属層をホトリ
ソグラフ法およびエッチングによってパターニングを行
い、ゲートバス配線132およびゲート電極133を形
成する。工程a2では、プラズマCVD法によって40
00Åの厚さの窒化シリコンから成るゲート絶縁膜13
4を形成する。
【0089】工程a3では、半導体層135となる厚さ
1000Åのa−Si層と、コンタクト層141となる
厚さ400Åのn+ 型a−Si層とをこの順で連続的に
形成する。形成されたn+ 型a−Si層およびa−Si
層のパターニングを行い、半導体層135およびコンタ
クト層141を形成する。工程a4では、基板131の
全面に厚さ2000Åのモリブデン金属をスパッタ法に
よって形成し、このモリブデン金属層のパターニングを
行って、ソース電極136、ドレイン電極137および
ソースバス配線139を形成し、TFT140が完成す
る。図13(1)は、工程a4までの処理終了後のTF
T140が形成された基板131の断面図である。
【0090】工程a5では、TFT140を形成した基
板131上全面にホトレジスト(商品名:OFPR−8
00)を1200Åの厚さに塗布し、図14に示される
マスク151を用いて、図13(2)に示されるよう
に、凸部142aを形成する。マスク151には、反射
電極138の形成領域に図14に示されるように、斜線
で示す円形の遮光領域151a,151bが不規則に形
成されている。遮光領域151aの直径D1は、遮光領
域151bの直径D2よりも大きく形成されている。た
とえば、直径D1は10μmであり、直径D2は5μm
である。直径D1,D2は、それぞれ20μm以下が好
ましい。本実施例では、2種類の遮光領域151a,1
51bを有するマスク151を用いたけれども、マスク
151はこれには限定されない。遮光領域は1種類の円
形でもよく、また3種類以上の円形でもよい。その後、
熱処理を行い、図13(2)に示されるように、凸部1
42aを角がとれた形状に形成する。
【0091】工程a6では、基板131上全面にポリイ
ミド樹脂を1μmの厚さに塗布し、図13(3)に示さ
れるように、有機絶縁膜142を形成する。工程a7で
は、ホトリソグラフ法およびドライエッチング法を用い
て有機絶縁膜142にコンタクトホール143を形成す
る。
【0092】工程a8では、凸部142bを有する有機
絶縁膜142上全面に図13(4)に示されるようにア
ルミニウムから成る金属薄膜を形成し、工程a9では図
13(5)に示されるように凸部142b上に反射電極
138をパターニングする。反射電極138は、有機絶
縁膜142に形成されたコンタクトホール143を介し
てTFT140のドレイン電極137と接続されてい
る。反射電極138のパターニング時に、有機絶縁膜1
42の下のホトレジストから成る凸部142aは、露
光、現像、アルミニウムのエッチング、レジストの剥離
の工程を通しても、何の変化も見られないことを確認し
ている。
【0093】凸部142aの形状は、マスク151の形
状、凸部142aとなるホトレジストの厚さによって制
御することができることが確認されている。また、凸部
142aの角は、凸部142aの形成後、熱処理をする
ことによって容易にとることができる。
【0094】図10に示される他方の基板145に形成
される電極147は、たとえばITOから成り、厚さは
1000Åである。電極138,147上の配向膜14
4,148は、ポリイミドなどを塗布後、焼成すること
によって形成されている。基板131,145間には、
たとえば7μmのスペーサを混入した図示しない接着性
シール剤をスクリーン印刷することによって、液晶14
9を封入する空間が形成され、前記空間を真空脱気する
ことによって液晶149が注入される。液晶149とし
ては、たとえば黒色色素を混入したゲストホスト液晶
(メルク社製、商品名 ZLI2327)に、光学活性
物質(メルク社製、商品名 S811)を4.5%混入
したものを用いる。
【0095】図15は、本発明の反射型液晶表示装置1
30の反射特性の測定に用いられる反射板170の製造
工程を説明する工程図であり、図16は図15の各工程
を説明する断面図である。工程b1では、図16(1)
に示すように、厚さ1.1mmのガラス(商品名 70
59 コーニング社製)171の一方表面に、レジスト
材料として、たとえばOFTR−800(東京応化社
製)を好ましくは500rpm〜3000rpmでスピ
ンコートによって塗布する。本実施例では、3000r
pmで30秒間塗布し、レジスト172を1.2μm成
膜した。
【0096】工程b2では、レジスト172を100℃
で30分間プリベークし、工程b3では、図16(2)
に示すように、レジスト172上に円形の遮光領域15
1a,151bを有するホトマスク151を配置して露
光を行い、工程b4では、図16(3)に示すように、
レジスト172を現像し、基板171表面に不規則な略
円柱形の凸部174を形成した。現像液として、2.3
8%のNMD−3(東京応化社製)を用いた。
【0097】工程b5では、ガラス基板171上の凸部
174を好ましくは120℃〜250℃で熱処理する
と、図16(4)に示されるように角はとれて球面状の
滑らかな凸部174が形成される。本実施例では、18
0℃で30分間熱処理を行った。工程b6では、図16
(5)に示すように凸部174を形成した基板171上
に有機絶縁膜174aを形成した。有機絶縁膜174a
としては、ポリイミド樹脂を好ましくは920rpm〜
3500rpmで20秒間スピンコートによって塗布す
る。本実施例では、2200rpmで20秒間塗布し、
1μmの厚さの有機絶縁膜74aを成膜した。有機絶縁
膜174aには、凸部174に応じた凸部が生じるが、
凸部174よりは滑らかである。
【0098】工程b7では、図16(6)に示すように
有機絶縁膜174a上に金属薄膜175を形成した。金
属薄膜175としては、アルミニウム、ニッケル、クロ
ム、銀、銅などが挙げることができる。金属薄膜175
の厚さは、0.01μm〜1.0μm程度が適してい
る。本実施例では、アルミニウムを真空蒸着することに
よって金属薄膜175を形成した。金属薄膜175は、
凸部174に沿って形成された有機絶縁膜174a上に
形成されているため、凸部174に応じた不規則な円形
の凸部175aを有している。以上によって反射板17
0を得た。
【0099】図17は、反射板170の反射特性の測定
法を説明する側面図である。通常、液晶表示装置130
に用いられる基板131,145および液晶149層の
屈折率は、それぞれ約1.5である。反射板170の表
面と、液晶149層とが接する構成を想定し、本実施例
では屈折率1.5の紫外線硬化樹脂177を用いてガラ
ス基板176を反射板170に密着させて、反射板17
0の反射特性を測定した。この測定結果は、反射板17
5の表面と液晶149層の境界における反射特性と同様
の結果を与えることを確認している。
【0100】図17に示すように、反射特性の測定は、
反射板170に入射する入射光179の散乱光180を
ホトマルチメータ178で検出することによって行われ
る。反射板170には、その法線に対し角度θをもって
入射光179が入射する。ホトマルチメータ178は、
金属薄膜175上の入射光179が照射される点を通る
反射板170の法線方向に固定されている。入射光17
9の入射角度θを代えて入射光179の金属薄膜175
による散乱光180の強度を測定することによって反射
特性が得られた。
【0101】図18は、入射角度θと反射強度との関係
を示すグラフである。入射角度θである入射光179の
反射強度は、θ=0°の線に対する角度θの方向に、原
点0からの距離として表されている。θ=70°の反射
強度をP1、θ=60°の反射強度をP2、θ=40°
の反射強度をP3、θ=30°の反射強度をP4、θ=
−30°の反射強度をP5、θ=−40°の反射強度を
P6、θ=−60°の反射強度をP7、θ=−70°の
反射強度をP8で示している。
【0102】図18では、酸化マグネシウムの標準白色
板の反射特性曲線を破線81で示している。θ=30°
の反射強度P4は、θ=30°の酸化マグネシウムの反
射強度P10よりも優れており、θ=−30°の反射強
度もまたθ=−30°の酸化マグネシウムの反射強度P
11よりも優れていることが判る。
【0103】以上のように本実施例によれば、形状の制
御が容易であり、再現性を有するホトレジストから成る
凸部142a上に凸部142aに沿って形成された凸部
142bを有する有機絶縁膜142上に、凸部142b
に沿った反射電極138を形成する。凸部142aの形
状を制御することによって、良好な反射特性を有する反
射電極138が得られ、反射型液晶表示装置130の表
示品位が向上する。
【0104】前述のホトマスク151は、図19に示す
ようなものを用いるのが好ましい。図19(1)では、
遮光領域151a,151bの総面積がマスク151の
総面積の約47%であり、図19(2)では遮光領域1
51a,151bの総面積がマスク151の総面積の4
1%である。
【0105】図20は、遮光領域151a,151bが
総面積の40%以上を占めるマスク51,151を用い
て形成された反射薄膜75,175における入射角度θ
と反射強度との関係を示すグラフである。入射角度θで
ある入射光78,178の反射強度は、θ=0°の線に
対する角度θの方向に、原点0からの距離として表され
ている。θ=70°の反射強度をP21、θ=60°の
反射強度をP22、θ=40°の反射強度をP23、θ
=30°の反射強度をP24、θ=25°の反射強度を
P25、θ=−25°の反射強度をP26、θ=−30
°の反射強度をP27、θ=−40°の反射強度をP2
8、θ=−60°の反射強度をP29、θ=−70°の
反射強度をP30で示している。
【0106】図20では、また酸化マグネシウムの標準
白色板の反射特性曲線を破線181で示している。θ=
30°の反射強度P24は、θ=30°の酸化マグネシ
ウムの反射強度P34よりも優れており、θ=−30°
の反射強度P27もまたθ=−30°の酸化マグネシウ
ムの反射強度P37よりも優れていることが判る。
【0107】これに対し、遮光領域151a,151b
が総面積の40%未満、たとえば35%のホトマスク1
51を用いて同様の方法で反射板の反射特性を図21に
示す。θ=30°の反射強度P54は、θ=30°の酸
化マグネシウムの反射強度P44よりも劣っており、θ
=−30°の反射強度P57もまたθ=−30°の酸化
マグネシウムの反射強度P47よりも劣っていることが
判る。これは、凸部が40%未満であると、正反射成分
が非常に多く、散乱が少ないため視野が狭められていた
と考えられる。
【0108】図22は、遮光領域151a,151bの
マスクの総面積に占める割合を変化させたホトマスク1
51を用いて作成した反射板のθ=30°での反射率を
示す。図22から凸部の割合を40%以上とすることに
よって高い反射率の反射板が得られることが判る。この
他に、ホトレジストの種類や、膜厚、熱処理温度を選択
することによって、凸部の傾斜角度を自由に制御するこ
とができ、これによって反射特性を制御できる。また、
有機絶縁膜の種類や膜厚によっても反射特性を制御でき
る。
【0109】本実施例の反射型液晶表示装置130で
は、反射電極138を形成した面が液晶149側に位置
しているため視差がなくなり、良好な表示画面が得られ
る。また本実施例では、凹凸を有する反射電極138が
液晶149層側、すなわち液晶149層にほぼ隣接する
位置に配置されている構成となるため、凸部142bの
高さH1は、液晶層厚よりも小さく、凸部の傾斜角度は
液晶分子の配向を乱さない程度に穏やかにすることがで
きる。また本実施例では、反射電極138形成領域のみ
に凸部142aを形成したけれども、基板131全面に
凸部142aを形成してもよい。また、反射電極138
を透明電極として、別に反射板を設けてもよく、この場
合にも同様に、不規則な複数の凸部上に形成された有機
絶縁膜上に反射板が形成される。また、スイッチング素
子としてTFT140を用いるアクティブマトリクス駆
動方式の反射型液晶表示装置130について説明したけ
れども、これに限られるものではなく、単純マトリクス
駆動方式などの反射型液晶表示装置でも同様の効果が得
られる。
【0110】さらに、本実施例では有機絶縁膜142の
パターニングをドライエッチング法によって行ったが、
有機絶縁膜142がポリイミド樹脂の場合には、アルカ
リ溶液によるウエットエッチング法によって行ってもよ
い。また、有機絶縁膜142としてポリイミド樹脂を用
いたが、アクリル樹脂などの他の有機材料を用いてもよ
い。さらに本実施例では、基板131として、ガラスな
どから成る透明な材料を用いたが、シリコン基板のよう
な不透明な材料でも同様な効果が発揮され、この場合に
は回路を基板上に集積できる利点がある。
【0111】なお、前記実施例においては、表示モード
として相転移型ゲスト・ホストモードをとりあげたけれ
ども、これに限定されることはなく、たとえば2層式ゲ
スト・ホストのような他の光吸収モード、高分子分散型
液晶表示装置のような光散乱型表示モード、強誘電性液
晶表示装置で使用される複屈折表示モードなどでも同様
の効果が得られる。また本実施例では、スイッチング素
子としてTFTを用いた場合について説明したが、たと
えばMIM(Metal−Insulator−Metal)素子、ダイオー
ド、バリスタなどを用いたアクティブマトリクス基板に
適用することができる。
【0112】図23は、本発明のさらに他の実施例を説
明するための平面図である。本実施例の特徴は、前述の
図2に示すように凹凸を形成した反射型アクティブマト
リクス基板31上に、電気絶縁性材料から成る黒色遮光
層71を形成したことである。黒色遮光層71は、図2
3において斜線を付した領域、すなわち、反射電極38
以外の領域とTFT40を構成する半導体層35の形成
領域とに形成される。なお、前述の図10および図11
に示される反射型アクティブマトリクス基板131上に
黒色遮光層71を形成してもよい。
【0113】図24は、黒色遮光層71の形成方法を説
明するための断面図である。ここでは、図6に示される
アクティブマトリクス基板31を例にとり説明するが、
アクティブマトリクス基板131の場合も同様である。
【0114】先ず、基板31の全面に、図24(1)に
示すように、可視光を吸収するように赤色、青色、緑色
の顔料をそれぞれ分散させた感光性アクリル樹脂、たと
えば富士ハント社製、商品名 カラーモザイクCR,C
G,CBを3種類混ぜ合わせて黒色を呈した樹脂71を
スピンナを用いて塗布する。
【0115】続いて、図24(2)に示すように、所定
のマスク72を用いて露光し、現像した後に、反射電極
38以外の領域と、TFT41を構成する半導体層35
の形成領域と完全に覆うように、不要な部分をエッチン
グによって取除いて、図24(3)に示すように、黒色
遮光層71を形成した。その後、200℃で1時間加熱
し、黒色遮光層71を硬化させた。
【0116】以上のように本実施例によれば、黒色遮光
層71を形成して反射電極38以外の部分の反射光(散
乱光)を遮るようにしたので、表示に不必要な光の漏れ
を防止することができ、コントラストの優れた反射型液
晶表示装置を実現することができる。また、対向する基
板45上に黒色遮光層71を形成する場合に比べて、基
板貼合わせ時のマージンを大きくとることができ、基板
貼合わせのずれによる開口率の低下を少なくした明るい
表示を実現することができる。
【0117】本実施例では、黒色遮光層71の材料とし
て、顔料を分散させたアクリル樹脂を用いたが、カーボ
ンを分散させたアクリル樹脂、たとえば富士ハント社
製、商品名 カラーモザイクBKのような有機材料や、
アモルファスシリコンゲルマニウム(a−SiGe;
H)、あるいは銀の無電界メッキなどの無機物も適用可
能である。また、黒色遮光層71の厚みは、用いる材料
の吸収係数を考慮して、好ましくは透過率を少なくとも
5%以下に、より好ましくは1%以下になるように設定
する必要がある。
【0118】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、反射電極
と第2バス配線とが重ならない反射電極形成領域のみに
複数の凹凸を有する第2絶縁膜が形成される。第2絶縁
膜上に反射電極が形成される。第2絶縁膜上の凹凸の形
成不良が生じても、第2バス配線上には凹凸が形成され
ないので、反射電極と第2バス配線との絶縁不良は生じ
ない。本発明によれば、前記凹凸は不規則に形成され、
凸部の形状は先細状で、かつ先端が球面状であり、また
前記凹凸は1種類あるいは大きさの異なる2種類以上の
形状から成るので、あらゆる角度からの入射光に対する
表示画面へ垂直な方向に散乱する光の強度が増加して表
示機能が向上し、表示のコントラストが向上するため、
表示品位が向上する。
【0119】また、前述のように反射電極周縁部の絶縁
膜には凹凸は形成されておらず、平坦なため、反射電極
のパターニングが良好となる。したがって、表示品位が
向上する。
【0120】
【0121】
【0122】また本発明によれば、感光性樹脂を露光、
現像し、熱処理を行って得られた複数の略円形パターン
の不規則な凹凸上に形成された滑らかな絶縁膜上に、金
属薄膜から成る反射電極を絶縁膜の凹凸に沿って形成す
る。反射電極の形状は、感光性樹脂の形状によって決定
される。感光性樹脂は、容易に、かつ均一に再現性よく
制御することが可能であるため、良好な反射特性を有す
る反射電極を容易に形成することができ、反射型液晶表
示装置の表示品位が向上する。
【0123】また不規則に配列された複数の凹凸に沿っ
て反射電極を形成するため、良好な反射特性が得られ、
反射型液晶表示装置の表示品位を向上する。
【0124】さらに、前記反射電極が表示絵素となる電
極であるので、視差がなくなることによって、反射型液
晶表示装置の表示品位がさらに向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である反射型液晶表示装置3
0の断面図である。
【図2】図1に示される基板31の平面図である。
【図3】図1および図2に示される基板31上に凹凸を
有する反射電極38を形成する形成方法を説明する工程
図である。
【図4】図3に示す形成方法を説明する断面図である。
【図5】図3の工程s7で用いるマスク51の平面図で
ある。
【図6】反射電極38を有する基板52の反射特性の測
定法を示す断面図である。
【図7】本発明の反射型アクティブマトリクス基板5
2,59の反射特性60,61を示すグラフである。
【図8】本発明の一実施例である反射型液晶表示装置3
0の白色光源光に対する反射光の色をCIE色度図に示
したグラフである。
【図9】本発明の他の実施例を示す基板31の平面図で
ある。
【図10】本発明のさらに他の実施例である反射型液晶
表示装置130の断面図である。
【図11】図10に示される基板131の平面図であ
る。
【図12】図10および図11に示される凸部を有する
反射電極138を形成する形成方法を説明する工程図で
ある。
【図13】図12に示す形成方法を説明する断面図であ
る。
【図14】図12の工程a5で用いるマスク151の平
面図である。
【図15】本発明の反射型液晶表示装置130の反射特
性の測定に用いられる反射板170の製造工程を説明す
る工程図である。
【図16】図15の工程を説明する断面図である。
【図17】反射板170の反射特性の測定法を説明する
斜視図である。
【図18】入射角度θと反射強度との関係を示すグラフ
である。
【図19】マスク51を示す平面図である。
【図20】遮光領域51a,151aの総面積がマスク
の総面積の40%以上であるマスク51を用いて形成さ
れた反射薄膜75における入射角度θと反射強度との関
係を示すグラフである。
【図21】遮光領域151aの総面積が全体の35%を
占めるマスク151を用いて形成された反射薄膜75に
おける入射角度θと反射強度との関係を示すグラフであ
る。
【図22】遮光領域の割合と反射率との関係を示すグラ
フである。
【図23】本発明のさらに他の実施例を説明するための
平面図である。
【図24】黒色遮光層71の形成方法を説明するための
断面図である。
【図25】アクティブマトリクス方式に用いられるスイ
ッチング素子である薄膜トランジスタ1を有する基板2
の平面図である。
【図26】図25に示される切断面線X26−X26か
ら見た断面図である。
【図27】アクティブマトリクス方式に用いられるスイ
ッチング素子である薄膜トランジスタ11を有する基板
12の平面図である。
【図28】図27に示される切断面線X28−X28か
ら見た断面図である。
【符号の説明】
30,130 反射型液晶表示装置 31,45,131,145 基板 38,138 反射電極 42,142 有機絶縁膜 42a,142a 凸部 49,149 液晶 51,151 ホトマスク
フロントページの続き (72)発明者 神戸 誠 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (72)発明者 島田 康憲 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャープ株式会社内 (56)参考文献 特開 昭57−102680(JP,A) 特開 昭58−116575(JP,A) 特開 昭58−125084(JP,A) 特開 昭59−71081(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G02F 1/1343 G02F 1/1333 505 G02F 1/1335 520 G02F 1/136 500

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 液晶層を介在して対向配置される一対の
    基板のうちの一方側の基板上に、複数のスイッチング素
    子と、該スイッチング素子に電圧を与える第1のバス配
    線と、第1の絶縁膜を介して該第1のバス配線と直交す
    る第2のバス配線と、第2の絶縁膜を介して該スイッチ
    ング素子と導通する反射電極とを備えた反射型液晶表示
    装置において、 前記反射電極は、前記第2の絶縁膜を介して少なくとも
    前記第2のバス配線の一部分と重なりをもって形成され
    て成り、 前記第2の絶縁膜は、前記反射電極と前記第2のバス配
    線とが重なる領域以外の領域に凹凸を有する有機樹脂か
    ら成ることを特徴とする反射型液晶表示装置。
  2. 【請求項2】 前記凹凸は、不規則に配列されることを
    特徴とする請求項1記載の反射型液晶表示装置。
  3. 【請求項3】 前記凹凸のうちの凸部は、先細状に、か
    つ先端部は球面状に形成されることを特徴とする請求項
    1または2記載の反射型液晶表示装置。
  4. 【請求項4】 前記凹凸は、1種類あるいは大きさの異
    なる2種類以上の形状から成ることを特徴とする請求項
    1、2または3記載の反射型液晶表示装置。
  5. 【請求項5】 前記凹凸の高さは、10μm以下である
    ことを特徴とする請求項1、2、3または4記載の反射
    型液晶表示装置。
  6. 【請求項6】 液晶層を介在して対向配置される一対の
    基板のうちの一方の基板上に、他方の基板側からの入射
    光を反射する反射電極を有して成り、該反射電極と該他
    方の基板上に形成された電極とが重なる領域で形成され
    る画素部がマトリックス状に配列されて成る反射型液晶
    表示装置において、 前記反射電極は、前記一方基板上の液晶層側に配列され
    た複数の凹凸上に形成された電気絶縁膜上に形成されて
    いるとともに、該複数の凹凸は、該反射電極の周縁部に
    対応する領域以外の領域に形成されていることを特徴と
    する反射型液晶表示装置。
  7. 【請求項7】 液晶層を介在して対向配置される一対の
    基板の一方基板上に、他方基板側からの入射光を反射す
    る反射電極を有する反射型液晶表示装置の製造方法にお
    いて、 前記一方基板上の液晶層側に感光性樹脂を塗布する工程
    と、 前記感光性樹脂を略円形のパターンが不規則に配列され
    た遮光手段を介して露光および現像した後に熱処理を行
    い、複数の凹凸を形成する工程と、 前記複数の凹凸上に該複数の凹凸に沿うように絶縁膜を
    形成する工程と、 前記絶縁膜上に金属膜から成る前記反射電極を形成する
    工程とを含むことを特徴とする反射型液晶表示装置の製
    造方法。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6943856B2 (en) 2000-11-08 2005-09-13 Nec Corporation Reflection plate, reflection type liquid crystal display apparatus, and method of manufacturing the same
US7015995B2 (en) 2001-08-22 2006-03-21 Nec Lcd Technologies, Ltd. Liquid crystal display having undulated anisotropic reflection electrodes and openings therein
US7042539B2 (en) 2001-06-22 2006-05-09 Nec Lcd Technologies, Ltd. Reflection plate, manufacturing method thereof, liquid crystal display device and manufacturing method thereof
US7092051B2 (en) 2001-02-28 2006-08-15 Nec Lcd Technologies, Ltd. Reflection-type LCD device using the same
US7106400B1 (en) 1998-09-28 2006-09-12 Sharp Kabushiki Kaisha Method of making LCD with asperities in insulation layer under reflective electrode
US7652733B2 (en) 2001-11-08 2010-01-26 Nec Lcd Technologies, Ltd. Liquid crystal display device with reflector having alternating rugged patterns

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5610741A (en) * 1994-06-24 1997-03-11 Sharp Kabushiki Kaisha Reflection type liquid crystal display device with bumps on the reflector
GB9416841D0 (en) * 1994-08-19 1994-10-12 Finnfeeds Int Ltd An enzyme feed additive and animal feed including it
JP3256407B2 (ja) * 1995-05-19 2002-02-12 シャープ株式会社 反射型カラー液晶表示装置
US6069674A (en) * 1995-05-19 2000-05-30 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display apparatus
JP3112393B2 (ja) * 1995-05-25 2000-11-27 シャープ株式会社 カラー表示装置
JPH08328031A (ja) * 1995-06-02 1996-12-13 Sharp Corp フルカラー液晶表示装置およびその製造方法
JP2990046B2 (ja) * 1995-08-16 1999-12-13 日本電気株式会社 反射型液晶表示装置及びその製造方法
TW409194B (en) 1995-11-28 2000-10-21 Sharp Kk Active matrix substrate and liquid crystal display apparatus and method for producing the same
JPH09292504A (ja) * 1996-02-27 1997-11-11 Sharp Corp 反射板及びその作製方法及びその反射板を用いた反射型液晶表示装置
JP3213242B2 (ja) 1996-10-23 2001-10-02 シャープ株式会社 反射板、反射型液晶表示装置およびその製造方法
JP3297372B2 (ja) * 1997-06-17 2002-07-02 シャープ株式会社 反射型液晶表示装置の製造方法
JP3019831B2 (ja) 1998-03-11 2000-03-13 日本電気株式会社 反射型液晶表示装置及びその製造方法
US6965422B2 (en) 1998-07-24 2005-11-15 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device
TW538279B (en) 1998-10-23 2003-06-21 Hitachi Ltd A reflective color liquid crystal display apparatus
JP3490375B2 (ja) * 1999-06-28 2004-01-26 シャープ株式会社 液晶表示装置の製造方法
JP4531164B2 (ja) * 1999-08-23 2010-08-25 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP3488681B2 (ja) 1999-10-26 2004-01-19 シャープ株式会社 液晶表示装置
JP2001194662A (ja) 2000-01-14 2001-07-19 Nec Corp 反射型液晶表示装置及びその製造方法
US6924876B2 (en) 2000-02-25 2005-08-02 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device
JP4827984B2 (ja) * 2000-05-29 2011-11-30 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置の作製方法
KR100684578B1 (ko) * 2000-06-13 2007-02-20 엘지.필립스 엘시디 주식회사 반사투과형 액정표시장치용 어레이기판과 그 제조방법
US7292300B2 (en) 2000-10-31 2007-11-06 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display with radially-inclined liquid crystal in unit solid portions arranged in a single direction
JP3467246B2 (ja) 2000-11-10 2003-11-17 Nec液晶テクノロジー株式会社 反射型液晶表示装置
JP4088042B2 (ja) 2001-01-16 2008-05-21 株式会社日立製作所 液晶表示装置
US6891194B2 (en) 2001-02-07 2005-05-10 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate, electromagnetic detector, and liquid crystal display apparatus
JP5181317B2 (ja) * 2001-08-31 2013-04-10 Nltテクノロジー株式会社 反射型液晶表示装置およびその製造方法
KR100849771B1 (ko) 2002-05-30 2008-07-31 샤프 가부시키가이샤 액정 표시 장치용 기판 및 그것을 구비한 액정 표시 장치및 그 제조 방법
US20040164299A1 (en) * 2003-02-24 2004-08-26 Gem Line Technology Co., Ltd. Reflective type thin film transistor display device and methods for fabricating the same
JP4338511B2 (ja) 2003-12-24 2009-10-07 シャープ株式会社 液晶表示装置
KR100680103B1 (ko) 2004-02-02 2007-02-28 샤프 가부시키가이샤 액정 표시 장치
JP4215690B2 (ja) 2004-07-29 2009-01-28 Nec液晶テクノロジー株式会社 液晶表示装置及びその設計方法
US7995170B2 (en) 2005-03-23 2011-08-09 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7106400B1 (en) 1998-09-28 2006-09-12 Sharp Kabushiki Kaisha Method of making LCD with asperities in insulation layer under reflective electrode
US6943856B2 (en) 2000-11-08 2005-09-13 Nec Corporation Reflection plate, reflection type liquid crystal display apparatus, and method of manufacturing the same
US7092051B2 (en) 2001-02-28 2006-08-15 Nec Lcd Technologies, Ltd. Reflection-type LCD device using the same
US7196755B2 (en) 2001-02-28 2007-03-27 Nec Lcd Technologies, Ltd. Reflector and reflection-type LCD device using the same
US7042539B2 (en) 2001-06-22 2006-05-09 Nec Lcd Technologies, Ltd. Reflection plate, manufacturing method thereof, liquid crystal display device and manufacturing method thereof
US7015995B2 (en) 2001-08-22 2006-03-21 Nec Lcd Technologies, Ltd. Liquid crystal display having undulated anisotropic reflection electrodes and openings therein
US7652733B2 (en) 2001-11-08 2010-01-26 Nec Lcd Technologies, Ltd. Liquid crystal display device with reflector having alternating rugged patterns

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