JP2807038B2 - イメージセンサ用テスタ - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明はテレビカメラ等に用いられるイメージセン
サを試験するイメージセンサ用テスタに関する。

「従来の技術」 第３図にイメージセンサ用テスタの概略の構成を示
す。

図中100はテスタ本体、200は被試験イメージセンサ、
300はこの被試験イメージセンサ200をテスタ本体100に
電気的に接続するDUTボードを示す。

テスタ本体100は被試験イメージセンサ200に走査駆動
信号DSを与える信号源110と、被試験イメージセンサ200
から出力された画像信号を取込んで被試験イメージセン
サ200の良否を判定する判定装置120とによって構成され
る。

信号源110にはタイミングジェネレータ111と、このタ
イミングジェネレータ110から与えられるタイミング信
号に従って所定をパターン信号を発生するパターン発生
器112と、このパターン発生器112から出力されるパター
ンデータに従って実際の走査駆動波形を生成する波形発
生器113と、パターン発生器112から波形発生器群113に
与えるパターンデータのタイミングを調整する可変遅延
素子群114と、DUTボード300に設けられているクランプ
回路304及びサンプルホールド回路305にそれぞれ与える
ストローブパルスSPのタイミングを調整する可変遅延素
子群115とによって構成される。

DUTボード300は駆動回路群301と、DUTソケット302
と、バッファ増幅器303と、クランプ回路304、サンプル
ホールド回路305、バッファ増幅器306とによって構成さ
れる。

クランプ回路304は被試験イメージセンサ200の暗電流
による信号成分を除去するために設けられており、暗電
流成分が除去された画像信号をサンプルホールド回路30
5でサンプルホールドし、そのサンプルホールド出力を
バッファ増幅器306を通じてテスタ本体100の判定装置12
0に入力する。

判定装置120は増幅器121と、AD変換器122と、画像処
理装置123とによって構成される。

被試験イメージセンサ200の試験は次の如くして行な
われる。

DUTボード300に設けられたDUTソケット302に被試験イ
メージセンサ200を装着し、被試験イメージセンサ200に
均一な例えば白色光を与え、この状態で信号源110から
被試験イメージセンサ200の各端子に走査駆動信号DSを
与える。

走査駆動信号DSが与えられることによって被試験イメ
ージセンサ200は線走査と面走査を繰返し、画像信号を
出力する。

この画像信号をバッファ増幅器303を通じてクランプ
回路304に入力し、例えば垂直ブランキング区間におい
て所定レベルにクランプし、被試験イメージセンサ200
の暗電流成分を除去する。

暗電流成分が除去された画像信号はサンプルホールド
回路305で各画素のタイミングでサンプルホールドさ
れ、そのサンプルホールド値を判定装置120に入力す
る。

判定装置120では線順次に入力される画像信号のサン
プルホールド値を順次AD変換し、そのAD変換した画像デ
ータを画像処理装置123に入力し、各画素位置に画素デ
ータを書込む。

画像処理装置123は各画素間の画像データの値の差等
を求め、輝度のムラ等を検出し、そのムラが或る範囲内
に収まれば良、範囲から外れると不良と判定し、被試験
イメージセンサ200の良否を判定する。

上述したイメージセンサ用テスタにおいて、駆動回路
群301から被試験イメージセンサ200に与える走査駆動信
号相圧間の位相が所定の関係となるように調整する必要
がある。

つまり各駆動回路には遅延時間にバラツキを有するた
め、そのバラツキを揃えるために可変遅延素子群114が
設けられ、この可変遅延素子群114の各可変遅延素子の
遅延時間を調整して各駆動回路の遅延時間が一致するよ
うに調整する必要がある。

従来は良品として判定した標準となるイメージセンサ
を用意し、このイメージセンサをDUTソケット302に装着
し、この標準となるイメージセンサに走査駆動信号DSを
与え、このイメージセンサから出力される画像信号をDU
Tボード300の出力側に接続したオシロスコープ400で観
測し、この波形が正常な波形となるように可変遅延素子
群144の遅延時間を調整している。

「発明が解決しようとする課題」 被試験イメージセンサ200の撮像出力信号（白色画像
信号）が正規の波形となるように走査駆動信号の相互の
位相を調整することはむずかしい。また正確な調整は困
難である。

この発明の目的は簡単に然も正確に走査駆動信号の位
相を正規の位相となるように調整することができる機能
を具備したイメージセンサ用テスタを提供しようとする
ものである。

「課題を解決するための手段」 この発明では被試験イメージセンサを装着するDUTソ
ケットに複数の走査駆動信号を与える複数の駆動回路
と、 DUTソケットの被試験イメージセンサの出力端子に接
触した端子から出力される画像信号を所定の周期でサン
プルホールドするサンプルホールド回路と、 このサンプルホールド回路の各サンプルホールド値を
AD変換するAD変換器と、 このAD変換器でAD変換した画像信号を取込んで画像処
理し、被試験イメージセンサの良否を判定する画像処理
装置とを具備して構成されるイメージセンサ用テスタに
おいて、 調整的にDUTソケットにマルチプレクサを装着し、こ
のマルチプレクサによってDUTソケットに与えられる走
査駆動信号を順次選択して取出し、この取出した走査駆
動信号をサンプルホールド回路に与え走査駆動信号の立
上り及び立下りのタイミングをサンプルホールド回路で
とらえ、このサンプルホールド回路でとらえた走査駆動
信号の立上り及び立下りのタイミングから走査駆動信号
の遅延時間差を遅延時間測定手段によって測定し、この
測定結果に応じて駆動回路の遅延時間差がゼロになるよ
うに可変遅延素子の遅延時間を調整する。

このように構成することにより、被試験イメージセン
サに与えられる走査駆動信号の位相を合致させることが
でき、その調整は容易に行なうことができる。

然も各走査駆動信号の立上り及び立下りのタイミング
をとらえてその遅延時間差つまり位相差を測定して各駆
動回路に設けて可変遅延時間を調整して走査駆動信号の
位相差をゼロの状態となるように調整するから、各走査
駆動信号のタイミングを正確に合致させることができ
る。

「実施例」 第１図にこの発明の一実施例を示す。第１図におい
て、100はテスタ本体、200は被試験イメージセンサ、30
0はDUTボードを示す点は従来の技術の説明と同じであ
る。

この発明においては調整時にDUTソケット302にマルチ
プレクサ500を装着する。このマルチプレクサ500は被試
験イメージセンサ200と同一の端子の配列を有し、DUTソ
ケット302に装着できる形状とする。

マルチプレクサ500はDUTソケットの走査駆動信号が与
えられる端子を入力端子とし、出力端子は被試験イメー
ジセンサ200の画像出力端子と同一の端子に選定する。

このようにDUTソケット302にマルチプレクサ500を装
着することによって駆動回路群301から与えられる走査
駆動信号の何れか一つを選択して出力端子に取出すこと
ができる。

よって各走査駆動信号を選択してサンプルホールド回
路305に与えることができる。

尚この例ではクランプ回路304の前と後に切替スイッ
チ307A,307Bを設け、調整時はこの切替スイッチ307A,30
7Bを接点Ａに倒し、これによりクランプ回路304を除去
し、マルチプレクサ500によって選択した走査駆動をサ
ンプルホールド回路305に直接入力できるように構成し
ている。

第２図に走査駆動信号DSとサンプリングパルスSPのタ
イミングの一例を示す。走査駆動信号の立上り及び立下
りの中央を基準タイミングに採り、この基準タイミング
にサンプリングパルスSPを与える。

従って走査駆動信号DSが第２図に実線で示すように立
上り及び立下りの中央が基準タイミングt₁,t₂に存在す
る場合は第２図Ｃに示すようにサンプリング回路305か
ら出力されるサンプルホールド値はE₀に固定され、変化
しない。

これに対し、第２図Ａに点線Ｆ又はＤで示すように走
査駆動信号の遅延時間に進み、遅れが有る場合はサンプ
ルホールド回路305のサンプルホールド値はサンプリン
グパルスSPが供給される毎に変化する。

よってこのサンプリング値をバッファ増幅器306と増
幅器121で増幅し、AD変換器122でAD変換し、遅延誤差測
定手段124に供給する。

遅延誤差測定手段124は第３図で説明した画像処理装
置123をそのまま流用することができる。

つまり画像処理装置123はコンピュータによって構成
される。

このコンピュータを画像処理の外にAD変換された信号
の値の変化を調べる装置として動作させることによって
走査駆動信号の遅延時間が基準値に合致しているか否か
を測定することができる。

「発明の効果」 以上説明したように、この発明によればDUTソケット3
02にマルチプレクサ500を装着し、このマルチプレクサ5
00によってDUTソケット302に与えられる走査駆動信号DS
を選択し、この選択した走査駆動信号をサンプルホール
ド回路305で立上り及び立下りの中央をサンプリング
し、そのサンプルホールド値が変動するとき遅延誤差を
持つと判定することができる。

よってこの変動が最小となるように可変遅延素子群11
4の対応ある素子を調整することにより走査駆動信号DS
の位相を各駆動回路毎に合致させることができる。

この調整は容易に行なうことができ、然も調整後の各
駆動信号の位相は正確に合致する。

従ってこの発明によれば調整が容易で精度の高い調整
を行なうことができ、その効果は実用に供して頗る大で
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
はこの発明の動作を説明するための波形図、第３図は従
来の技術を説明するためのブロック図である。 100:テスタ本体、124:遅延誤差測定装置、200:被試験イ
メージセンサ、300:DUTボード、301:駆動回路群、302:D
UTソケット、305:サンプルホールド回路、500:マルチプ
レクサ。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】A.被試験イメージセンサを装着するDUTソ
   ケットに複数の走査駆動信号を与える複数の駆動回路
   と、 上記DUTソケットの被試験イメージセンサの出力端子に
   接触した端子から出力される画像信号を所定の周期でサ
   ンプルホールドするサンプルホールド回路と、 このサンプルホールド回路の各サンプルホールド値をAD
   変換するAD変換器と、 このAD変換器でAD変換した画像信号を取込んで画像処理
   し、上記被試験イメージセンサの良否を判定する画像処
   理装置と、 によって構成されるイメージセンサ用テスタにおいて、 B.調整時に上記DUTソケットに装着され上記複数の駆動
   回路から与えられる走査駆動信号を順次選択し、被試験
   イメージセンサの出力端子に接触する端子にその選択し
   た走査駆動信号を出力するマルチプレクサと、 C.このマルチプレクサで選択した走査駆動信号の立上り
   及び立下のタイミングを上記サンプルホールド回路でと
   らえて上記複数の駆動回路の位相差を求める位相誤差測
   定手段と、 D.この位相誤差測定手段で測定した位相誤差がゼロにな
   るように各駆動回路の位相を調整する可変遅延素子と、 を設けて成るイメージセンサ用テスタ。