JPH043686A - イメージセンサ用テスタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明はテレビカメラ等に用いられるイメージセンサ
を試験するイメージセンサ用テスタに関する。

「従来の技術」 第３図にイメージセンサ用テスタの概略の構成を示す。

図中１００はテスタ本体、２００は被試験イメ−ジセン
サ、３００はこの被試験イメージセンサ２００をテスタ
本体１００に電気的に接続するＤＵＴボードを示す。

テスタ本体１００は被試験イメージセンサ２００に走査
駆動信号ＤＳを与える信号源１１０と、被試験イメージ
センサ２００から出力された画像信号を取込んで被試験
イメージセンサ２００の良否を判定する判定装置１２０
とによって構成される。

信号ｆｉｌｌＯにはタイミングジェネレータ１１１と、
このタイミングジェネレータ１１０から与えられるタイ
ミング信号に従って所定のパターン信号を生成するパタ
ーン発生器１１２と、このパターン発生器１１２から出
力されるパターンデータに従って実際の走査駆動波形を
生成する波形発生器１１３と、パターン発生器１１２か
ら波形発生器群１１３に与えるパターンデータのタイミ
ングを調整する可変遅延素子群１１４と、ＤＵＴボード
３００に設けられているクランプ回路３０４及びサンプ
ルホールド回路３０５にそれぞれ与えルストローブバル
スＳＰのタイミングを調整する可変遅延素子群１１５と
によって構成される。

ＤＵＴボード３００は駆動回路群３０１と、ＤＵＴソケ
ット３０２と、バッファ増幅器３０３と、クランプ回路
３０４、サンプルホールド回路３０５、バッファ増幅器
３０６とによって構成される。

クランプ回路３０４は被試験イメージセンサ２００の暗
電流による信号成分を除去するために設けられており、
暗電流成分が除去された画像信号をサンプルホールド回
路３０５でサンプルホールドし、そのサンプルホールド
出力をバッファ増幅器３０６を通じてテスタ本体１００
の判定装置１２０に入力する。

判定装置１２０は増幅器１２１と、ＡＤ変換器１２２と
、画像処理装置１２３とによって構成される。

被試験イメージセンサ２００の試験は次の如くして行な
われる。

ＤＵＴボード３００に設けられたＤＵＴソケット３０２
に被試験イメージセンサ２００を装着し、被試験イメー
ジセンサ２００に均一な例えば白色光を与え、この状態
で信号′ａ１１０から被試験イメージセンサ２００の各
端子に走査駆動信号ＤＳを与える。

走査駆動信号ＤＳが与えられることによって被試験イメ
ージセンサ２００は線走査と面走査を繰返し、画像信号
を出力する。

この画像信号をバッファ増幅器３０３を通じてクランプ
回路３０４に入力し、例えば垂直ブランキング区間にお
いて所定レベルにクランプし、被試験イメージセンサ２
００の暗電流成分を除去する。

暗ｉｔ流成分が除去された画像信号はサンプルホールド
回ｌ１ｓ３０５で各画素のタイミングでサンプルホール
ドされ、そのサンプルホールド値を判定装置１２０に入
力する。

判定装置１２０では線順次に入力される画像信号のサン
プルホールド値を順次ＡＤ変換し、そのＡＤ変換した画
像データを画像処理装置１２３に入力し、各画素位置に
画素データを書込む。

画像処理装置１２３は各画素間の画像データの値の差等
を求め、輝度のムラ等を検出し、そのムラが成る範囲内
に収まれば良、範囲から外れると不良と判定し、被試験
イメージセンサ２００の良否を判定する。

上述したイメージセンサ用テスタにおいて、駆動回路群
３０１から被試験イメージセンサ２００に与える走査駆
動信号相互間の位相が所定の関係となるように調整する
必要がある。

つまり各駆動回路には遅延時間にバラツキを有するため
、そのバラツキを揃えるために可変遅延素子群１１４が
設けられ、この可変遅延素子群１１４の各可変遅延素子
の遅延時間を調整して各駆動回路の遅延時間が一致する
ように調整する必要がある。

従来は良品として判定した標準となるイメージセンサを
用意し、このイメージセンサをＤＵＴソケット３０２に
装着し、この標準となるイメージセンサに走査駆動信号
ＤＳを与え、このイメージセンサから出力される画像信
号をＤＵＴボード３００の出力側に接続したオシロスコ
ープ４００で観測し、この波形が正常な波形となるよう
に可変遅延素子群１１４の遅延時間を調整している。

「発明が解決しようとする課題」 被試験イメージセンサ２００の撮像出力信号（白色画像
信号）が正規の波形となるように走査駆動信号の相互の
位相を調整することはむずかしい。また正確な調整は困
難である。

この発明の目的は簡単に然も正確に走査駆動信号の位相
を正規の位相となるように調整することができる機能を
具備したイメージセンサ用テスタを提供しようとするも
のである。

「課題を解決するための手段」 この発明では被試験イメージセンサを装着するＤＵＴソ
ケットに複数の走査駆動信号を与える複数の駆動回路と
、 ＤＵＴソケットの被試験イメージセンサの出力端子に接
触した端子から出力される画像信号を所定の周期でサン
プルホールドするサンプルホールド回路と、 このサンプルホールド回路の各サンプルホールド値をＡ
Ｄ変換するＡＤ変換器と、 このＡＤ変換でＡＤ変換した画像信号を取込んで画像処
理し、被試験イメージセンサの良否を判定する画像処理
装置とを具備して構成されるイメージセンサ用テスタに
おいて、 調整的にＤＵＴソケットにマルチプレクサを装着し、こ
のマルチプレクサによってＤＵＴソケットに与えられる
走査駆動信号を順次選択して取出し、この取出した走査
駆動信号をサンプルホールド回路に与え走査駆動信号の
立上り及び立下りのタイミングをサンプルホールド回路
でとらえ、このサンプルホールド回路でとらえた走査駆
動信号の立上り及び立下りのタイミングから走査駆動信
号の遅延時間差を遅延時間測定手段によって測定し、こ
の測定結果に応じて駆動回路の遅延時間差がゼロになる
ように可変遅延素子の遅延時間を調整する。

このように構成することにより、被試験イメージセンサ
に与えられる走査駆動信号の位相を合致させることがで
き、その調整は容易に行なうことができる。

然も各走査駆動信号の立上り及び立下りのタイミングを
とらえてその遅延時間差つまり位相差を測定して各駆動
回路に設けて可変遅延時間を調整して走査駆動信号の位
相差をゼロの状態となるように調整するから、各走査駆
動信号のタイミングを正確に合致させることができる。

「実施例」 第１図にこの発明の一実施例を示す。第１図において、
１００はテスタ本体、２００は被試験イメージセンサ、
３００はＤＵＴボードを示す点は従来の技術の説明と同
じである。

この発明においては調整時にＤＵＴソケット３０２にマ
ルチプレクサ５００を装着する。このマルチプレクサ５
００は被試験イメージセンサ２００と同一の端子の配列
を有し、ＤＵＴソケット３０２に装着できる形状とする
。

マルチプレクサ５００はＤＵＴソケットの走査駆動信号
が与えられる端子を入力端子とし、出力端子は被試験イ
メージセンサ２００の画像出力端子と同一の端子に選定
する。

このようにＤＵＴソケット３０２にマルチプレクサ５０
０を装着することによって駆動回路群３０１から与えら
れる走査駆動信号の何れが一つを選択して出力端子に取
出すことができる。

よって各走査駆動信号を選択してサンプルホールド回路
３０５に与えることができる。

尚この例ではクランプ回路３０４の前と後に切替スイッ
チ３０７Ａ、３０７Ｂを設け、調整時はこの切替スイッ
チ３０７Ａ、３０７Ｂを接点Ａに倒し、これによりクラ
ンプ回路３０４を除去し、マルチプレクサ５００によっ
て選択した走査駆動をサンプルホールド回路３０５に直
接入力できるように構成している。

第２図に走査駆動信号ＤＳとサンプリングパルスＳＰの
タイミングの一例を示す、走査駆動信号の立上り及び立
下りの中央を基準タイミングに採り、この基準タイミン
グにサンプリングパルスＳＰを与える。

従って走査駆動信号ＤＳが第２図に実線で示すように立
上り及び立下りの中央が基準タイミング１、．１２に存
在する場合は第２図Ｃに示すようにサンプリング回路３
０５から出力されるサンプルホールド値はＥｏに固定さ
れ、変化しない。

これに対し、第２図Ａに点線Ｆ又はＤで示すように走査
駆動信号の遅延時間に進み、遅れが有る場合はサンプル
ホールド回路３０５のサンプルホールド値はサンプリン
グパルスＳＰが供給される毎に変化する。

よってこのサンプリング値をバンファ増幅器３０６と増
幅器１２１で増幅し、ＡＤ変換器１２２でＡＤ変換し、
遅延誤差測定手段１２４に供給する。

遅延誤差測定手段１２４は第３図で説明した画像処理装
置１２３をそのまま流用することができる。

つまり画像処理装置１２３はコンピュータによって構成
される。

このコンピュータを画像処理の外にＡＤ変換された信号
の値の変化を調べる装置として動作させることによって
走査駆動信号の遅延時間が基準値に合致しているか否か
を測定することができる。

「発明の効果」 以上説明したように、この発明によればＤＵＴソケット
３０２にマルチプレクサ５００を装着し、このマルチプ
レクサ５００によってＤＵＴソケット３０２に与えられ
る走査駆動信号ＤＳを選択し、この選択した走査駆動信
号をサンプルホールド回路３０５で立上り及び立下りの
中央をサンプリングし、そのサンプルホールド値が変動
するとき遅延誤差を持つと判定することができる。

よってこの変動が最小となるように可変遅延素子群１１
４の対応ある素子を調整することにより走査駆動信号Ｄ
Ｓの位相を各駆動回路毎に合致させることができる。

この調整は容易に行なうことができ、然も調整後の各駆
動信号の位相は正確に合致する。

従ってこの発明によれば調整が容易で精度の高い調整を
行なうことができ、その効果は実用に供して頗る大であ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
はこの発明の詳細な説明するための波形図、第３図は従
来の技術を説明するためのブロック図である。 １００：テスタ本体、１２４：遅延誤差測定装置、２０
０：被試験イメージセンサ、３００：ＤＵＴボード、３
０１：駆動回路群、３０２：ＤＵＴソケット、３０５：
サンプルホールド回路、５００：マルチプレクサ。 オ　２　図 Ｓ 特許出願人　株式会社アトパンテスト

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）Ａ、被試験イメージセンサを装着するＤＵＴソケ
   ットに複数の走査駆動信号を与える複数の駆動回路と、 上記ＤＵＴソケットの被試験イメージセンサの出力端子
   に接触した端子から出力される画像信号を所定の周期で
   サンプルホールドするサンプルホールド回路と、 このサンプルホールド回路の各サンプルホールド値をＡ
   Ｄ変換するＡＤ変換器と、 このＡＤ変換器でＡＤ変換した画像信号を取込んで画像
   処理し、上記被試験イメージセンサの良否を判定する画
   像処理装置と、 によって構成されるイメージセンサ用テスタにおいて、 Ｂ、調整時に上記ＤＵＴソケットに装着され上記複数の
   駆動回路から与えられる走査駆動信号を順次選択し、被
   試験イメージセンサの出力端子に接触する端子にその選
   択した走査駆動信号を出力するマルチプレクサと、 Ｃ、このマルチプレクサで選択した走査駆動信号の立上
   り及び立下のタイミングを上記サンプルホールド回路で
   とらえて上記複数の駆動回路の位相差を求める位相誤差
   測定手段と、 Ｄ、この位相誤差測定手段で測定した位相誤差がゼロに
   なるように各駆動回路の位相を調整する可変遅延素子と
   、 を設けて成るイメージセンサ用テスタ。