KR960024435A - 티에프티 엘씨디 모듈(tft-lcd module)의 탭(tab) 자동 검사 장치 - Google Patents
티에프티 엘씨디 모듈(tft-lcd module)의 탭(tab) 자동 검사 장치 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 티에프티 엘씨디 모듈(TFT-LCD MODULE)의 탭(TAB) 자동 검사 장치에 관한 것으로서 특히, OA용 TFT LCD의 TAB 불량 여부를 테스트 패턴 화상 정보를 취득하여 자동적으로 양ㆍ불량을 판정할 수 있도록 한 TFT-LCD 모듈의 탭 자동 검사 장치에 관한 것이다.
종래의 티에프티 엘씨디 모듈(TFT-LCD MODULE)의 탭(TAB) 검사 장치는 육안으로 탭의 불량 여부를 판정하기 때문에 판정 결과에 신뢰성이 저하되고, 검사 작업에 소요되는 시간이 길어져서 생산성이 저하되며, 다수의 멀티미터를 사용하기 때문에 시스템의 유지와 보수가 어렵게 되는 등의 문제점이 있다.
본 발명은, 파레트에 실려서 이송되어온 LCD모듈(33)의 패턴 정보를 비디오 보드(44)에서 발생시켜 프로브를 통해 LCD에 인가하고, 그 패턴의 화상은 CCD카메라(37)로 촬영하여 화상처리보드(49)에서 분석하고, 또한 그 전압의 측정값을 신호 변환기(48)에서 측정, 분석하여, 상기 분석 결과에 따라 자동적으로 불량 여부의 판정을 실행함으로써, 티에프티엘씨디 모듈(TFT-LCD MODULE)의 탭(TAB) 검사 작업을 자동화 할 수 있도록 한 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 자동 검사장치의 외관 구성을 도시한 도면, 제4도는 본 발명의 자동 검사장치의 회로구성을 도시한 블록도.
Claims (1)
- 검사를 위한 장비 전체를 제어하는 중앙처리부(42)와, 상기 중앙처리부(42)의 제어를 받아 입출력포트(43)를 통해 제공되는 패턴 발생신호에 따라 OA용 패턴을 발생시켜 출력하는 비디오 보드(44)와, 상기 비디오 보드(44)에서 출력된 패턴 신호를 증폭하여 한도 샘플(39)와 프로브 프레스(35)에 공급하는 비디오 신호 버퍼(45)와, 상기 비디오 신호 버퍼(45)에서 LCD모듈(33)에 인가되는 전원단자의 전류 및 전압을 측정하기 위하여 입력된 전류 및 전압값을 디지탈 신호로 변환하여 측정하고, 이를 상기 중앙처리부(42)에 입력하는 신호 변환부(48)와, 상기 LCD모듈(33)의 패턴 화상 정보를 획득하는 CCD카메라(37)와, 상기 CCD카메라(37)에서 취득한 화상신호를 입력받아 화면 상태 판정을 위한 흑백 화상 처리를 실행하는 화상 처리보드(49)로 구성된 것을 특징으로 하는 티에프티 엘씨디 모듈(TFT-LCD MODULE)의 탭(TAB) 자동 검사 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940039785A KR960024435A (ko) | 1994-12-30 | 1994-12-30 | 티에프티 엘씨디 모듈(tft-lcd module)의 탭(tab) 자동 검사 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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KR960024435A true KR960024435A (ko) | 1996-07-20 |
Family
ID=66647998
Family Applications (1)
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KR1019940039785A KR960024435A (ko) | 1994-12-30 | 1994-12-30 | 티에프티 엘씨디 모듈(tft-lcd module)의 탭(tab) 자동 검사 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR960024435A (ko) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100424292B1 (ko) * | 2001-04-26 | 2004-03-24 | 엘지전자 주식회사 | 검사 장비 |
KR100728092B1 (ko) * | 2005-10-04 | 2007-06-14 | 한국생산기술연구원 | 토크컨버터 탭홀의 탭가공불량 검사장치 |
KR100769691B1 (ko) * | 2006-02-16 | 2007-10-24 | (주)코미 | 탭 검사장치 및 이를 이용한 탭 검사방법 |
KR100810047B1 (ko) * | 2007-01-12 | 2008-03-05 | (주)구일엔지니어링 | 엘씨디 패널 탭 검사장치 |
KR101034923B1 (ko) * | 2004-05-31 | 2011-05-17 | 엘지디스플레이 주식회사 | 오토 프로브 검사장비 및 이를 이용한 검사방법 |
-
1994
- 1994-12-30 KR KR1019940039785A patent/KR960024435A/ko not_active Application Discontinuation
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