KR890005938Y1 - 인쇄회로 기판에 삽입된 다이오드 측정회로 - Google Patents

인쇄회로 기판에 삽입된 다이오드 측정회로 Download PDF

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Abstract

내용 없음.

Description

인쇄회로 기판에 삽입된 다이오드 측정회로
제1도는 본 고안에 따른 블럭도.
제2도는 상기 제1도의 블럭도의 일실시예의 구체회로도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 신호변환부 20 : 완충부
30 : 멀티플렉서부 40 : 피측정회로부
50 : 완충증폭부 60 : 중앙처리 장치
70 : 메모리부
본 고안은 인쇄회로 기판(Printed Circuit Board 이하 PCB라함)에 삽입된 다이오드 (Diode)측정회로에 관한 것으로, 특히 PCB에 삽입되어 다른 소자(저항, 캐패시터)와 접속되었을때 소자의 영향을 제거하여 다이오드 불량 여부를 정확히 측정할 수 있는 회로에 관한 것이다.
PCB에 삽입된 다이오드를 측정하기 위한 종래의 방법은 멀티테스터(Multiteser)를 사용하여 PCB에 삽입된 개개의 다이오드를 측정하여 왔다.
그러나 PCB에 삽입된 다이오드에 병렬로 저항 또는 캐패시터 또는 코일등과 같은 소자가 접속되어 있는 경우에는 상기와 같이 멀티테스터를 사용하여 측정하는 방법으로서는 다이오드의 정확한 측정이 되저않는 물제가 대두되어, 다이오드를 정확히 측정하기 위해서는 PCB로 부터 다이오드 탈거하여 측정하는 불편한 이점이 있어왔다.
따라서 본 고안의 목적은 PCB에 다른소자 및 주변 회로에 접속된 상태에서 주변회로의 영향을 제거하여 다이오드를 신속정확하게 측정하는 회로를 제공함에 있다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 고안은 소정의 디지탈 신호를 입력하여 아나로그 신호로 변환출력하며 아나로그 측정전압을 입력하여 디지탈 신호로 변환출력하는 신호변환부와, 상기 신호변환부에서 출력되는 아나로그 신호를 입력하여 완충출력하는 완충부와, 상기 완충부에서 출력되는 아나로그신호와 아나로그 측정값을 소정데이터의 제어에 의해 아나로그 신호와 아나로그 측정값을 멀티플렉싱하는 멀티플렉서와, 상기 멀티플렉서에서 출력되는 아나로그신호에 의해 측정되는 피측정회로와, 상기 멀티플렉서에서 출력하는 아나로그 측정값을 입력하고 증폭하여 출력하는 완충증폭부와, 상기 신호변환부로 측정 디지탈 데이터를 출력하고 상기 신호변환부에서 출력되는 디지탈 측정값과 양품의 데이터를 입력 비교하여 피측정회로 내의 다이오드의 정부를 판단하는 동시에 시스템을 제어하는 중앙처리 장치(Central Processon Unit 이하 CPU라함)와, 상기 CPU에서 출력되는 어드레스 및 콘트롤신호에 의해 양품의 데이터를 출력하는 메모리부로 구성함을 특징으로한다.
이하 본 고안을 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
제1도는 본 고안에 따른 블럭도로서 디지탈신호를 아나로그 신호로, 아나로그 신호를 디지탈신호로 변환출력하는 신호 변환부 (10)와, 아나로그 신호를 완충출력하는 완충부 (20)와, 소정데이터의 제어에 의해 아나로그신호를 출력하고 아나로그 측정값을 멀티플렉싱하는 멀티플렉서 (30)와, 소정아나로그 신호에 의해 측정되는 피측정회로 (40)와, 상기 멀티플렉서 (30)에서 출력되는 아나로그 측정값을 입력하여 완충증폭 출력하는 완충증폭부 (50)와, 피측정회로 (40)를 측정하기 위한 디지탈데이터를 출력하며 측정된 디지탈데이터값과 양품의 데이터값을 입력하여 피측정 회로의 불량여부를 판단하여 시스템을 제어하는 CPU (60)와, 상기 CPU (60)에서 출력하는 어드레스 및 제어신호를 입력하여 양품의 데이터를 CPU (60)로 입력시키는 메모리부 (70)로 구성된다.
지금 CPU (70)에서 피측정회로 (40)내의 다이오드를 측정하기 위한 디지탈데이터를 신호변환부 (10)와 멀티플렉서 (30)로 출력하면, 신호변환부 (10)는 디지탈신호를 아나로그 전압으로 변환하여 완충부 (20)로 출력한다.
상기 신호 변환부(10)에서 출력되는 아나로그신호를 입력한 완충부 (20)는 이 신호를 완충하여 멀티플렉서 (30)로 출력하며, 아나로그 신호를 입력한 멀티플렉서(30)는 CPU (60)에서 출력되는 데이터의 제어에 의해 입력된 아나로그 신호를 피측정 회로 (40)로 출력하며, 아나로그 신호를 입력한 피측정회로 (40)는 아나로그 신호에 의해 측정되어진 아나로그 측정값을 멀티 플렉서 (30)로 출력한다.
따라서 피측정회로 (40)로 부터 아나로그 측정값을 입력한 멀티플렉서 (30)는 CPU (60)에서 출력되는 데이터의 제어에 의해서 셀렉팅되어 완충증폭기 (50)로 이를 출력한다.
한편 신호변환부 (10)에 피측정회로 (40)내의 다이오드를 측정하기 위한 디지탈데이터와 멀티플렉서 (30)에 제어데이터를 출력한 CPU (60)는 양품의 데이터를 기억하고 있는 메모리부 (70)로 어드레스 및 제어 신호를 출력하여 양품의 데이터를 리이드 (Read)한다.
이때 상기 멀티플렉서 (30)에서 셀렉링되어 출력한 아나로그 측정값을 입력한 완충증폭부(50)는 측정된 아나로그 신호를 증폭하여 신호변환부 (10)로 출력하면, 신호 변환부 (10)는 증폭된 아나로그 신호를 디지탈신호로 변환하여 CPU (60)로 출력한다.
상기 신호변환부 (10)에서 출력하는 디지탈데이터 즉 측정된 값을 입력한 CPU (60)는 메모리부 (70)에서 읽어들인 양품의 데이터와 비교하여 허용범위 내의 값이면 양품으로 판정하고 허용범위를 벗어나면 불량으로 판정하여 도시되지 않을 모니터 또는 프린터등을 통하여 디스플레이한다.
제2도는 상기 제1도의 일실시예의 구체회로도로서 디지탈/아나로그 변환기 (Digital Analog Converter : 이하 A/D 변환기라함)(11)과 아나로그/디지탈 변환기 (Analog to Digital Converter : 이하 A/D변환기라칭함)(12)로 구성된 신호변환기 (10)와 연산증폭기 (OP1)(OP5)와 저항(R1)으로 구성된 완충부 (20)와, 스위치 (SW1-SW6)로 구성되어 제어데이터의 입력데이터에 의해 스위칭하는 멀티플렉서 (30)와, 다이오드 (Dx)와 저항(Rx)와 캐패시터 (Cx)가 직병렬 접속된 피측정회로 (40)와, 양품의 데이터가 내장된 메모리부 (70)와 소정의 측정 데이터를 출력하고 양품의 데이터와 측정된 데이터값을 비교하여 측정된 다이오드가 불량, 양품인지를 판단하는 CPU (60)로 구성된다.
지금 CPU(60)에 다이오드를 측정하기 위한 디지탈 신호를 D/A변환기 (11)로 출력하면, D/A변환기(11)는 입력디지탈 데이터를 아나로그 전압으로 변환하여 연산증폭기 (OP1)과 저항(R1)을 통해 멀티플레서 (30)의 스위치(SW2)로 출력된다.
이때 상기 멀티플렉서 (30)는 CPU (60)에서 출력하는 데이터에 의해 제어되는 내부 스위치 (SW1-SW3)와 (SW5-SW6)가 "온"되어진다.
따라서 연산증폭기 (OP1)는 볼테지플러워 (Voltage Flower)로 동작하여 D/A 변환기(11)에서 출력되는 아나로그 신호는 멀티플렉서 (30)내의 스위치 (SW2)를 통해 다이오드 (Dx)의 애노우드와 저항 (Rx)로 입력되고 스위치 (SW1)를 통해 궤환된 아나로그신호는 볼테지 플러워 (OP2)를 통해 연산증폭기 (OP5)의 비반전 단자 (+)로 입력된다.
이때 멀티플렉서 (30)내의 스위치 (SW5)와 (SW6)가 CPU (60)에서 출력하는 데이터의 제어에 의해 "온"되어지면 연산증폭기 (OP5)도 볼테지 풀러위로 동작함으로써 궤환된 아나로그 신호는 저항 (R4QI오 직렬로 연결된HCX)의 마디점 (Node point) (G)로 입력된다.
따라서 피측정 다이오드 (DX)의 애노우드측의 전압과 상기 마디점 (G)의 전압은 같게되고 이로인해 다이오드(DX)에는 일정한 전류가 흐르게되며, 다이오드 (DX)의 캐소우등로부터 흐르는 전류 (i2)는 스위치 (SW3)를 통해 볼레지풀러워 (OP3)의 비반전단자 (+)로 입력되어진다.
상기 피측정다이오드 (DX)의 캐소우드로 부터 출력되는 아나로그 전압을 입력한 볼테지풀러워 (OP3)는 입력된 아나로그 신호를 완충하여 저항 (R4)으로 출력되며, 상기 볼테지풀러워 (OP3)에서 출력된 전압은 저항 (R4)와 (R5)에 의해 분압되어 연산증폭기 (OP4)의 비반전 단자에 입력된다.
한편 볼테지풀러워 (OP3)를 통해 다이오드 (DX)의 출력을 입력한 연산증폭기 (OP4)의 반전단자 (-)에는 전술한 연산증폭기(OP1)의 궤환신호를 입력하여 완충출력하는 볼테지풀러워 (OP2)의 출력신호를 저항 (R2)을 통해 입력함으로써 연산증폭기 (OP4)는 증폭저항 (R3)을 매개하여 반전, 비반전 단자 (-)(+)로 입력되는 신호를 차동증폭하여 A/D변환기 (12)로 이를 출력한다.
상기 연산 증폭기 (OP4)에서 증폭출력되는 아나로그 신호를 입력한 아나로그 디지탈 변환기 (12)는 증폭된 아나로그 신호를 디지탈신호로 변환하여 데이터버스 (DB)를 통해 CPU (60)로 입력된다.
또 한편 상기 A/D변환기 (12)에 의해서 디지탈 데이터로 변환된 다이오드 (D4QI의 출력전압과 입력전압의 차전압을 입력한 CPUH60I는 메모리부H70I로 부터 읽어들인 양품의 데이터와 비교하여 허용범위내의 값갑이면 양품으로 판정하고 허용범위를 벗어나면 불량품으로 판정하며L판정된 데이터를 도시하지 않은 프린터HRrinterI나 모니터HMoneterI등을 통해 작업자에게 불량내역을 출력한다N
상술한 바와같이 본 고안은 인쇄회로 기판에 삽입된 다이오드의 주변영향을 제거하여 다이오드를 정확하게 측정할 수 있어 인쇄회로 기판에 부품이 삽입된 상태에서도 고속으로 다이오드를 정확히 측정함으로서 제품의 검사 공정 시간을 줄일수 있는 동시에 생산성 및 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 이점이 있다N

Claims (1)

  1. 인쇄회기 기판에 삽입되어 있는 다이오드를 측정하는 회로에 있어서, 소정의 디지탈신호를 입력하여 아나로그 신호로 변환출력하며 아나로그 측정전압을 입력하여 디지탈 신호로 변환출력하는 신호변환부 (10)와, 상기 신호변환부 (10)에서 출력되는 아나로그 신호를 입력하여 완충출력하는 완충부 (20)와, 상기 완충부 (20)에서 출력되는 아나로그 신호와 아나로그 측정값과 소정의 데이터를 입력하여 소정데이터의 제어에 의해 아나로그 신호와 피측정 다이오드의 출력전류인 아나로그 측정값을 멀티플렉싱하는 멀티플렉서 (30)와, 상기 멀티플렉서 (30)에서 출력하는 아나로그 측정값을 증폭하여 출력하는 완충증폭부 (50)와, 상기 신호변환부 (10)로 측정디지탈 데이터를 출력하고 상기 신호변환부 (10)에서 출력되는 디지탈 측정값과 양품의 데이터를 입력비교하여 피측정회로 내의 다이오드의 정부를 판단하는 동시에 시스템을 제어하는 중앙처리장치 (60)와, 상기 중앙처리 장치 (60)에서 출력되는 어드레스 및 콘트롤 신호에 의해 양품의 데이터를 출력하는 메모리부 (70)로 구성함을 특징으로 하는 회로.
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