JP2780895B2 - データ処理装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、通常運用の処理中に自
己の性能を測定する処理が行なわれるデータ処理装置に
関する。

【０００２】この種のデータ処理装置においては、ハー
ドウェア量の増大を回避するために、性能の測定がファ
ームウェアを利用して行なわれている。

【０００３】

【従来の技術】

・第１の従来技術 図４（Ａ）又は同図（Ｂ）のルーチンが同図（Ｃ）に示
された通常運用処理の開始時に予め実行され、同図
（Ｄ）に示された装置性能の測定ルーチンを行なうか否
かが予め決定される。

【０００４】同図（Ｃ）の通常運用処理では、装置の性
能測定を行なうか否かが逐次判定され、装置の性能測定
を行なう旨の判定が行なわれたときに、同図（Ｄ）の測
定ルーチンが起動される。

【０００５】しかしながら，装置の性能測定を行なうか
否かの判定には２命令が必要となるので、通常運用処理
の速度が低下する。また、メモリ容量が圧迫され、さら
に、プログラムが複雑化してその可読性も低下する。

【０００６】・第２の従来技術 第１の従来技術と同様にして第５図（Ａ），（Ｂ）に示
された処理のいずれかが予め行なわれるものの、同図
（Ｃ）の通常運用処理には該当の処理ルーチンを起動す
る内容の命令のみが埋め込まれ、同図（Ｄ）に示された
各処理ルーチンの側で性能測定を行なうべきか否かが判
定される。

【０００７】このように、装置の測定を行なうか否かを
判定する内容の命令が同図（Ｃ）のプログラムから同図
（Ｄ）の測定ルーチンへ移動されたので、その可読性を
高めることが可能となる。また、多くの測定データにお
いてはその処理内容が同一となることから、これらを共
通に使用してメモリの使用効率を高めることも可能とな
る。

【０００８】しかしながら、装置の測定を行なうか否か
を判定するための命令を含む測定ルーチンが通常運用の
処理中において頻繁に起動されるので、その通常運用処
理の速度がより低下する。

【０００９】・第３の従来技術 図６（Ａ）で示された通常運用処理において、各測定ル
ーチンを起動する命令の前へＢＲ（分岐）命令が挿入さ
れ、装置の性能を測定する場合には同図（Ｂ）のパッチ
当てルーチンで同図（Ａ）におけるＢＲ命令がＮＯＰ命
令へ変更される。また、装置の性能を測定しない場合に
はそのＮＯＰ命令が同図（Ｃ）のパッチ当てルーチンで
ＢＲ命令へ変更される。

【００１０】したがって第１及び第２の従来技術のよう
に条件判定の命令は実行されず、このため、図６（Ａ）
に示された通常運用の処理を極めて高速に実行すること
が可能となる。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら第３の従
来技術においては、各ＢＲ命令又はＮＯＰ命令をパッチ
当てで変更する図６（Ｂ），（Ｃ）のルーチン及びパッ
チアドレス格納用のテーブルが必要となるので、メモリ
容量が圧迫される。

【００１２】本発明は上記従来の事情に鑑みて為された
ものであり、その目的は、メモリ容量を圧迫することな
く通常運用の処理を高速に行なうことが可能となるデー
タ処理装置を提供することにある。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明にかかる装置は図１のように構成されてお
り、同図の装置は、装置性能の測定ルーチンを指定する
内容のデータが書き込まれるルーチン指定データ記憶回
路１０と、測定ルーチンが指定されるデータをルーチン
指定データ記憶回路１０へ書き込む命令が埋め込まれた
通常運用の処理を実行する通常運用処理実行手段１２
と、測定ルーチンの実行を許可する内容のデータが書き
込まれる実行許可データ記憶回路１４と、測定ルーチン
の実行が許可されていることを実行許可データ記憶回路
１２の記憶内容から確認しているときで、ルーチン指定
データ記憶回路１０に対する書き込みが行なわれたとき
に、測定ルーチンの実行を要求するルーチン実行要求回
路１６と、ルーチン指定データ記憶回路１０の記憶内容
で指定された測定ルーチンをルーチン実行要求回路１６
の要求に応じて割り込みで実行するルーチン割込実行手
段１８と、を有する。

【００１４】

【作用】本発明では、測定ルーチンを指定する内容と測
定ルーチンの実行を許可する内容のデータが各々書き込
まれるハードウェア（１０，１４）が予め用意され、測
定ルーチンの実行が許可されている場合であって、測定
ルーチンを指定するデータの書き込みが行なわれたとき
に、割り込みが発生して該当の測定ルーチンが実行され
る。

【００１５】

【実施例】以下、図面に基づいて本発明にかかるデータ
処理装置の好適な実施例を説明する。

【００１６】図２においては本実施例のハードウェア構
成が説明されており、ＭＵＰ２００ではメモリ２０２
（ＲＯＭまたはＲＡＭ）の記憶内容を用いた処理が行な
われる。

【００１７】そのＭＰＵ２０から送出されたアドレスデ
ータはデコーダ２０４へ供給されており、デコーダ２０
４のデコード信号Ｒ１−ＳＥＬ，Ｒ２−ＳＥＬ，Ｒ３−
ＳＥＬはゲート２０６，２０８，２１０へ各々出力され
る。

【００１８】これらのゲート２０６，２０８，２１０に
はＭＰＵ２００が送出したライトイネーブル信号も供給
されており、ゲート２０６，２０８の出力はゲート回路
２１２，２１４に各々与えられる。

【００１９】そして、ゲート回路２１２，２１４にはＭ
ＰＵ２００の送出したデータも与えられており、このデ
ータは、ＭＰＵ送出のアドレスデータによりフリップフ
ロップ２１６，レジスタ２１８がアクセス先として指定
された場合であって、ＭＰＵ２００からライトイネーブ
ル信号が送出されたときに、フリッププロップ２１６又
はレジスタ２１８へ書き込まれる。

【００２０】また、ゲート２０８，フリップフロップ２
１６の出力がゲート２２０に，ゲート２２０の出力がフ
リップフロップ２２２に与えられており、フリップフロ
ップ２１６の記憶値が”１”の場合であって、レジスタ
２１８へのデータ書き込みが行なわれたときに、フリッ
プフロップ２２２がゲート２２０の出力でセットされ
る。

【００２１】このフリップフロップ２２２の出力は割込
の要求信号ｉｎｔとして割込制御回路２２４へ与えられ
ており、その結果、ＭＰＵ２００で該当の割込処理ルー
チン（レジスタ２１８の記憶データにより示される）が
開始される。

【００２２】そして、割込処理ルーチンの終了時に前述
のゲート２１０へデコーダ２０４の出力Ｒ３−ＳＥＬと
ＭＰＵ２００のライトイネーブル信号が与えられ、この
ゲート２１０の出力でフリップフロップ２２２がリセッ
トされる。

【００２３】図３では本実施例における処理の内容がフ
ローチャートを用いて説明されており、フリップフロッ
プ２１６へ値”１”（性能測定を行なう）のデータを書
き込む同図（Ａ）のルーチン又は値”０”（性能測定を
行なわない）のデータを書き込む同図（Ｂ）のルーチン
が予め行なわれる。

【００２４】そして同図（Ｃ）の通常運用処理において
は、いずれかの測定ルーチンが指定される内容のデータ
をレジスタ２１８へ単なるＭＯＶＥ命令を用いて書き込
む内容が各測定ポイントに埋められている。

【００２５】ここで、フリップフロップ２１６へ値”
１”が書き込まれていた場合には、各ＭＯＶＥ命令が実
行される毎に、フリップフロップ２２２の出力でＭＰＵ
２００に対する割り込みが発生し、図３（Ｄ）のルーチ
ンが起動される。

【００２６】そのルーチンでは、レジスタ２１８の値が
最初にチェックされ、次いで同レジスタ２１８の値が指
定する性能測定の処理が実行され、測定処理の実行後に
フリップフロップ２２２がリセットされる。

【００２７】また、フリップフロップ２１６へ値”０”
が書き込まれていた場合には、図３（Ｃ）の通常運用処
理に埋め込まれていた各ＭＯＶＥ命令が実行されるのみ
となり、図３（Ｄ）のルーチンは全ての性能測定ポイン
トで起動されることがない。

【００２８】したがって本実施例によれば、図３（Ｃ）
の処理の実行が著しく高められ、このため、装置の処理
能力を大幅に向上させることが可能となる。また、条件
判定やパッチ当ての命令が省かれるので、メモリの圧迫
を回避してより広いメモリ空間を確保することも可能と
なる。

【００２９】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、プ
ログラムの内容を簡素化でき、プログラム容量を削減で
きるので、処理をより高速に行なうことが可能となり、
また、さらに広いメモリ空間を確保することも可能とな
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】発明の原理説明図である。

【図２】実施例のハードウェア構成説明図である。

【図３】実施例の処理内容を説明するフローチャートで
ある。

【図４】第１の従来技術を説明するフローチャートであ
る。

【図５】第２の従来技術を説明するフローチャートであ
る。

【図６】第３の従来技術を説明するフローチャートであ
る。

【符号の説明】

２００ ＭＰＵ ２０２ メモリ（ＲＯＭ／ＲＡＭ） ２０４ デコーダ ２０６，２０８，２１０，２２０ ゲート ２１２，２１４ ゲート回路 ２１６ フリップフロップ ２１８ レジスタ ２２２ フリップフロップ ２２４ 割込制御回路

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭59−3651（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−287637（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−139644（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−272647（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−102132（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G06F 9/46 G06F 11/34

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 装置性能の測定ルーチンを指定する内容
   のデータが書き込まれるルーチン指定データ記憶回路
   （１０）と、 測定ルーチンが指定されるデータをルーチン指定データ
   記憶回路（１０）へ書き込む命令が埋め込まれた通常運
   用の処理を実行する通常運用処理実行手段（１２）と、 測定ルーチンの実行を許可する内容のデータが書き込ま
   れる実行許可データ記憶回路（１４）と、 測定ルーチンの実行が許可されていることを実行許可デ
   ータ記憶回路（１２）の記憶内容から確認しているとき
   で、ルーチン指定データ記憶回路（１０）に対する書き
   込みが行なわれたときに、測定ルーチンの実行を要求す
   るルーチン実行要求回路（１６）と、 ルーチン指定データ記憶回路（１０）の記憶内容で指定
   された測定ルーチンをルーチン実行要求回路（１６）の
   要求に応じて割り込みで実行するルーチン割込実行手段
   （１８）と、 を有する、ことを特徴としたデータ処理装置。