JP2778491B2 - Ｃａｄ部品ライブラリのチェックシステム - Google Patents
Ｃａｄ部品ライブラリのチェックシステムInfo
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- JP2778491B2 JP2778491B2 JP6288508A JP28850894A JP2778491B2 JP 2778491 B2 JP2778491 B2 JP 2778491B2 JP 6288508 A JP6288508 A JP 6288508A JP 28850894 A JP28850894 A JP 28850894A JP 2778491 B2 JP2778491 B2 JP 2778491B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＣＡＤ（Ｃｏｍｐｕｔｅ
ｒ Ａｄｅｄ Ｄｅｓｉｇｎ）部品ライブラリのチェッ
クシステムに関し、特に互いに異なるＣＡＤシステムに
より作成された論理部品ライブラリと物理部品ライブラ
リとの差異をチェックするためのＣＡＤ部品ライブラリ
のチェックシステムに関するものである。
ｒ Ａｄｅｄ Ｄｅｓｉｇｎ）部品ライブラリのチェッ
クシステムに関し、特に互いに異なるＣＡＤシステムに
より作成された論理部品ライブラリと物理部品ライブラ
リとの差異をチェックするためのＣＡＤ部品ライブラリ
のチェックシステムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】この様なＣＡＤ部品ライブラリとして
は、電気回路を描画する際に必要となる回路部品名やピ
ンの種別等を示す論理部品情報を格納した論理部品ライ
ブラリと、これ等論理部品情報に加えて、電気回路のプ
リント基板設計の際に必要となる当該部品のピンの相対
位置座標等の物理部品情報を格納した物理部品ライブラ
リとがある。
は、電気回路を描画する際に必要となる回路部品名やピ
ンの種別等を示す論理部品情報を格納した論理部品ライ
ブラリと、これ等論理部品情報に加えて、電気回路のプ
リント基板設計の際に必要となる当該部品のピンの相対
位置座標等の物理部品情報を格納した物理部品ライブラ
リとがある。
【０００３】これ等両部品ライブラリは一般に異なるＣ
ＡＤプログラムシステムにより作成されることが多く、
よって両部品ライブラリが互いに矛盾なく正しく作成さ
れているかどうかをチェックすることが必要となる。こ
のＣＡＤ部品ライブラリのチェック方法としては図７に
示すような人間による目視チェックである。
ＡＤプログラムシステムにより作成されることが多く、
よって両部品ライブラリが互いに矛盾なく正しく作成さ
れているかどうかをチェックすることが必要となる。こ
のＣＡＤ部品ライブラリのチェック方法としては図７に
示すような人間による目視チェックである。
【０００４】論理部品ライブラリ１０１は、前述した如
く、電気回路を描画する際に必要となる論理部品情報を
格納したものであり、具体的には図７において符号７３
で示すように、部品名（ＬＳ○○○）や、ピン番号（１
〜８），ピン種別（Ｄ０，Ｄ１，Ｅ０，Ｅ１，Ｓ０，Ｓ
１，ＧＮＤ，Ｖｃｃ）等が予め全ての回路部品に関して
格納されている。
く、電気回路を描画する際に必要となる論理部品情報を
格納したものであり、具体的には図７において符号７３
で示すように、部品名（ＬＳ○○○）や、ピン番号（１
〜８），ピン種別（Ｄ０，Ｄ１，Ｅ０，Ｅ１，Ｓ０，Ｓ
１，ＧＮＤ，Ｖｃｃ）等が予め全ての回路部品に関して
格納されている。
【０００５】物理部品ライブラリ１０５は、前述した如
く、電気回路のプリント基板の設計の際に必要となる物
理部品情報を格納したものであり、具体的には、図７に
おいて符号７６で示すように、部品名（ＬＳ○○○），
ピン番号（１〜８），ピンの相対的座標やピッチ等の物
理情報がすべての回路部品に関し予め格納されている。
く、電気回路のプリント基板の設計の際に必要となる物
理部品情報を格納したものであり、具体的には、図７に
おいて符号７６で示すように、部品名（ＬＳ○○○），
ピン番号（１〜８），ピンの相対的座標やピッチ等の物
理情報がすべての回路部品に関し予め格納されている。
【０００６】これ等論理部品ライブラリ１０１及び物理
部品ライブラリ１０５を夫々入力して、論理部品プロッ
ト７２及び物理部品プロット７５により、論理部品登録
管理シート７３及び物理部品登録管理シート７６として
出力せしめ、こうして出力された両登録管理シート７３
と７６とを人手により付き合せて各部品の１ピン毎に夫
々目視チェックを行い、作成ミスの有無の検査を行って
いる。
部品ライブラリ１０５を夫々入力して、論理部品プロッ
ト７２及び物理部品プロット７５により、論理部品登録
管理シート７３及び物理部品登録管理シート７６として
出力せしめ、こうして出力された両登録管理シート７３
と７６とを人手により付き合せて各部品の１ピン毎に夫
々目視チェックを行い、作成ミスの有無の検査を行って
いる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】この様に、従来のＣＡ
Ｄ部品ライブラリのチェック方法では、人間の目視に依
存しているために、チェック漏れが絶対ないとは言い切
れず、よって設計の後工程においてＣＡＤ部品ライブラ
リのミスが発見されたり、最悪の場合には製品の検査段
階で製品不良として結果的に発見されるという問題点が
ある。
Ｄ部品ライブラリのチェック方法では、人間の目視に依
存しているために、チェック漏れが絶対ないとは言い切
れず、よって設計の後工程においてＣＡＤ部品ライブラ
リのミスが発見されたり、最悪の場合には製品の検査段
階で製品不良として結果的に発見されるという問題点が
ある。
【０００８】本発明の目的は、互いに異なるＣＡＤプロ
グラムシステムにより生成された論理部品ライブラリと
物理部品ライブラリとの間の同一性のチェックを確実に
自動的に行うようにしたＣＡＤ部品ライブラリのチェッ
クシステムを提供することである。
グラムシステムにより生成された論理部品ライブラリと
物理部品ライブラリとの間の同一性のチェックを確実に
自動的に行うようにしたＣＡＤ部品ライブラリのチェッ
クシステムを提供することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、電気回
路を描画する際に必要となる回路部品名やピンの種別を
示す論理部品情報を回路部品対応に格納した論理部品ラ
イブラリと、この論理部品ライブラリの作成ＣＡＤプロ
グラムとは異なるＣＡＤプログラムにより作成され、か
つ前記論理部品情報に加えて、前記電気回路のプリント
基板設計の際に必要となる当該部品のピン座標の物理部
品情報を格納した物理部品ライブラリとを含むＣＡＤ部
品ライブラリにおけるチェックシステムであって、前記
論理部品ライブラリと物理部品ライブラリとから抽出す
べき部品を指定すると共にこの指定部品の各ピンの座標
を算出するための座標算出情報とを指定する指定手段
と、この指定手段により指定された部品に関する情報を
前記論理部品ライブラリ及び前記物理部品ライブラリと
から夫々抽出する抽出手段と、前記抽出手段により前記
論理部品ライブラリから抽出された部品の各ピン座標を
前記座標算出情報を用いて算出するピン座標算出手段
と、この算出されたピン座標と前記指定手段により指定
されて抽出された物理部品情報のピン座標とを夫々比較
チェックするピン座標比較手段と、を含むことを特徴と
するＣＡＤ部品ライブラリのチェックシステムが得られ
る。
路を描画する際に必要となる回路部品名やピンの種別を
示す論理部品情報を回路部品対応に格納した論理部品ラ
イブラリと、この論理部品ライブラリの作成ＣＡＤプロ
グラムとは異なるＣＡＤプログラムにより作成され、か
つ前記論理部品情報に加えて、前記電気回路のプリント
基板設計の際に必要となる当該部品のピン座標の物理部
品情報を格納した物理部品ライブラリとを含むＣＡＤ部
品ライブラリにおけるチェックシステムであって、前記
論理部品ライブラリと物理部品ライブラリとから抽出す
べき部品を指定すると共にこの指定部品の各ピンの座標
を算出するための座標算出情報とを指定する指定手段
と、この指定手段により指定された部品に関する情報を
前記論理部品ライブラリ及び前記物理部品ライブラリと
から夫々抽出する抽出手段と、前記抽出手段により前記
論理部品ライブラリから抽出された部品の各ピン座標を
前記座標算出情報を用いて算出するピン座標算出手段
と、この算出されたピン座標と前記指定手段により指定
されて抽出された物理部品情報のピン座標とを夫々比較
チェックするピン座標比較手段と、を含むことを特徴と
するＣＡＤ部品ライブラリのチェックシステムが得られ
る。
【００１０】
【作用】物理部品ライブラリにはプリント基板設計用の
ために各部品の相対ピン座標が予め格納されているが、
論理部品ライブラリにはこの相対ピン座標は格納されて
いない。そこで、この論理部品ライブラリ内から指定さ
れた論理部品情報を抽出してこの論理部品情報に加えて
更に物理部品情報であるピン座標を、外部から制御情報
を与えて算出させ、この算出結果のピン座標と物理部品
ライブラリ内から指定された物理部品情報のピン座標と
を比較チェックするようにしている。
ために各部品の相対ピン座標が予め格納されているが、
論理部品ライブラリにはこの相対ピン座標は格納されて
いない。そこで、この論理部品ライブラリ内から指定さ
れた論理部品情報を抽出してこの論理部品情報に加えて
更に物理部品情報であるピン座標を、外部から制御情報
を与えて算出させ、この算出結果のピン座標と物理部品
ライブラリ内から指定された物理部品情報のピン座標と
を比較チェックするようにしている。
【００１１】
【実施例】以下に本発明の実施例について図面を用いて
説明する。
説明する。
【００１２】図１は本発明の実施例のシステムの処理動
作を機能的に表記した図であり、図２はその処理内容の
詳細を示すフローチャートである。
作を機能的に表記した図であり、図２はその処理内容の
詳細を示すフローチャートである。
【００１３】まず、ＣＡＤシステム“Ａ”により作成さ
れた論理部品ライブラリ１０１と制御指示部１０４から
の指示情報とを入力し、中間ファイル変換処理部Ａ１０
２により対象部品の論理情報を抽出した中間ファイルＡ
１０３を作成する（ステップ２０１〜２０３）。
れた論理部品ライブラリ１０１と制御指示部１０４から
の指示情報とを入力し、中間ファイル変換処理部Ａ１０
２により対象部品の論理情報を抽出した中間ファイルＡ
１０３を作成する（ステップ２０１〜２０３）。
【００１４】その際の制御指示部１０４からの指示情報
の内容を示すものが図３である。図３において、１行目
の／ＰＡＲＴＳは抽出処理対象部品名を指示するもので
あるが、この例ではＬＳ〇〇〇を指示している。２行目
の／ＵＮＩＴｍｍは部品の単位系がミリメートルである
ことを示している。３行目の／ＰＩＴＣＨ Ｘ＝２．５
４ Ｙ＝７．６２はＸ方向，Ｙ方向のピン間隔を示して
いる。４行目の／ＰＩＮは、論理部品ライブラリ１０１
中には各ピンの相対的ｘ座標，ｙ座標が存在しないた
め、各ピンの相対的ｘ座標，ｙ座標を算出生成するため
の情報を指示している。
の内容を示すものが図３である。図３において、１行目
の／ＰＡＲＴＳは抽出処理対象部品名を指示するもので
あるが、この例ではＬＳ〇〇〇を指示している。２行目
の／ＵＮＩＴｍｍは部品の単位系がミリメートルである
ことを示している。３行目の／ＰＩＴＣＨ Ｘ＝２．５
４ Ｙ＝７．６２はＸ方向，Ｙ方向のピン間隔を示して
いる。４行目の／ＰＩＮは、論理部品ライブラリ１０１
中には各ピンの相対的ｘ座標，ｙ座標が存在しないた
め、各ピンの相対的ｘ座標，ｙ座標を算出生成するため
の情報を指示している。
【００１５】この指示例では、１から４番ピンまではｘ
座標が０から始まり、以後、／ＰＩＴＣＨで指示したＸ
の値２，５４ずつ増加し、ｙ座標は常に０であることを
示している。即ち、（０，０），（２．５４，０），
…，（７．６２，０）が各ピンに対応して、後のバウン
ダリテーブル作成処理部１０８で作成される。
座標が０から始まり、以後、／ＰＩＴＣＨで指示したＸ
の値２，５４ずつ増加し、ｙ座標は常に０であることを
示している。即ち、（０，０），（２．５４，０），
…，（７．６２，０）が各ピンに対応して、後のバウン
ダリテーブル作成処理部１０８で作成される。
【００１６】５から８番については、ｘ座標が３Ｘ，即
ち７．６２から始まり、以後、２．５４ずつ減算され、
ｙ座標は常にＹ即ち７．６２であることを示している。
その結果各ピンに対応して（７．６２，７．６２），
（５．０８，７．６２），…，（０，７．６２）が、後
のバウンダリテーブル作成処理部１０８で同様に作成さ
れる。７行目の／ＥＮＤは制御指示情報の終了を示して
いる。
ち７．６２から始まり、以後、２．５４ずつ減算され、
ｙ座標は常にＹ即ち７．６２であることを示している。
その結果各ピンに対応して（７．６２，７．６２），
（５．０８，７．６２），…，（０，７．６２）が、後
のバウンダリテーブル作成処理部１０８で同様に作成さ
れる。７行目の／ＥＮＤは制御指示情報の終了を示して
いる。
【００１７】ここで再び図１に戻ると、次に物理部品ラ
イブラリ１０５と制御指示部１０４を入力し、中間ファ
イル変換処理部Ｂ１０６により対象部品の論理情報と物
理情報を抽出した中間ファイルＢ１０７を作成する（ス
テップ２０４〜２０５）。
イブラリ１０５と制御指示部１０４を入力し、中間ファ
イル変換処理部Ｂ１０６により対象部品の論理情報と物
理情報を抽出した中間ファイルＢ１０７を作成する（ス
テップ２０４〜２０５）。
【００１８】こうして作成された中間ファイルＡ１０
３，中間ファイルＢ１０７の内容を示したものが図４で
ある。中間ファイルＡ１０３と中間ファイルＢ１０７は
形式的には同じであるが、内容的に中間ファイルＢ１０
７には各ピンの相対的ｘ，ｙ座標等の物理情報が含まれ
る。
３，中間ファイルＢ１０７の内容を示したものが図４で
ある。中間ファイルＡ１０３と中間ファイルＢ１０７は
形式的には同じであるが、内容的に中間ファイルＢ１０
７には各ピンの相対的ｘ，ｙ座標等の物理情報が含まれ
る。
【００１９】図４において、１行目のＰＡＲＴＳは指定
された抽出部品名を示し、２行目のＰＡＲＴＳ Ｎｏ．
はその部品番号を示し、ＰＫＧは部品のパッケージ種別
を示す。４行目のＴＯＴＡＬ ＰＩＮはピン総数を、５
行目のＯＲＧはこの部品の相対原点座標を、６行目のＰ
ＩＮ ＮＡＭＥはピン種別を夫々示している。
された抽出部品名を示し、２行目のＰＡＲＴＳ Ｎｏ．
はその部品番号を示し、ＰＫＧは部品のパッケージ種別
を示す。４行目のＴＯＴＡＬ ＰＩＮはピン総数を、５
行目のＯＲＧはこの部品の相対原点座標を、６行目のＰ
ＩＮ ＮＡＭＥはピン種別を夫々示している。
【００２０】次にこれら中間ファイルＡ１０３と中間フ
ァイルＢ１０７及び制御指示部１０４からの指示情報を
入力し、バウンダリテーブル作成処理部１０８により、
まずバウンダリテーブルＡ１０９が作成される。この
時、中間ファイルＡ１０３より得られたピン番号，論理
ピン名の論理情報に加えて、制御指示部１０４で指示さ
れた／ＰＩＮ情報に基づき、前述の如く各ピンの相対的
ｘ，ｙ座標が生成されバウンダリテーブルＡ１０９に付
加される。
ァイルＢ１０７及び制御指示部１０４からの指示情報を
入力し、バウンダリテーブル作成処理部１０８により、
まずバウンダリテーブルＡ１０９が作成される。この
時、中間ファイルＡ１０３より得られたピン番号，論理
ピン名の論理情報に加えて、制御指示部１０４で指示さ
れた／ＰＩＮ情報に基づき、前述の如く各ピンの相対的
ｘ，ｙ座標が生成されバウンダリテーブルＡ１０９に付
加される。
【００２１】こうしてバウンダリテーブルＡ１０９が作
成された後にピン番号，論理ピン名の論理情報とピンの
ｘ座標，ｙ座標の物理情報を含むバウンダリテーブルＢ
１１０が作成される。その状態を示すものが図５であ
り、図５（Ａ）はバウンダリテーブルＡ１０９の型式を
示し、（Ｂ）はその具体的例を示している。図５（Ｃ）
はバウンダリテーブルＢ１１０を示している（ステップ
２０６，２０７）。
成された後にピン番号，論理ピン名の論理情報とピンの
ｘ座標，ｙ座標の物理情報を含むバウンダリテーブルＢ
１１０が作成される。その状態を示すものが図５であ
り、図５（Ａ）はバウンダリテーブルＡ１０９の型式を
示し、（Ｂ）はその具体的例を示している。図５（Ｃ）
はバウンダリテーブルＢ１１０を示している（ステップ
２０６，２０７）。
【００２２】かくして作成されたバウンダリテーブルＡ
１０９とバウンダリテーブルＢ１１０の全ピンにつきピ
ン番号，論理ピン名，ピンのｘ座標，ｙ座標を最終的に
比較処理部１１１により内容比較を行い、その結果何ら
かの差異がある場合には比較結果情報１１２として差異
部分が明確に分かるレポートを出力する。
１０９とバウンダリテーブルＢ１１０の全ピンにつきピ
ン番号，論理ピン名，ピンのｘ座標，ｙ座標を最終的に
比較処理部１１１により内容比較を行い、その結果何ら
かの差異がある場合には比較結果情報１１２として差異
部分が明確に分かるレポートを出力する。
【００２３】その出力レポート１１２の例を示すものが
図６である。この例では部品名ＬＳ〇〇〇につき論理部
品ライブラリと物理部品ライブラリで３，４ピンの論理
ピン名が入れ替っているミスがある場合に出力されるレ
ポートを示したものである。
図６である。この例では部品名ＬＳ〇〇〇につき論理部
品ライブラリと物理部品ライブラリで３，４ピンの論理
ピン名が入れ替っているミスがある場合に出力されるレ
ポートを示したものである。
【００２４】尚、図１に示した論理部品ライブラリ１０
１を生成するＣＡＤシステム“Ａ”の例としては“ＶＩ
ＳＴＡＳ”プログラムがあり、物理部品ライブラリ１０
５を生成するＣＡＤシステム“Ｂ”の例としては“ＰＬ
ＡＮＥＴ”プログラムがあるが、これらに限定されるも
のではない。
１を生成するＣＡＤシステム“Ａ”の例としては“ＶＩ
ＳＴＡＳ”プログラムがあり、物理部品ライブラリ１０
５を生成するＣＡＤシステム“Ｂ”の例としては“ＰＬ
ＡＮＥＴ”プログラムがあるが、これらに限定されるも
のではない。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、そ
れぞれ異なるＣＡＤシステムで作成された論理部品ライ
ブラリと物理部品ライブラリの各部品に対し行っていた
目視での正当性チェックを極力自動化することにより、
ＣＡＤ部品ライブラリの品質向上と設計の早い段階での
不具合検出が可能となり、後戻り工程の削減、開発期間
の短縮等が期待でき、大幅な設計効率改善が計れるとい
う効果がある。
れぞれ異なるＣＡＤシステムで作成された論理部品ライ
ブラリと物理部品ライブラリの各部品に対し行っていた
目視での正当性チェックを極力自動化することにより、
ＣＡＤ部品ライブラリの品質向上と設計の早い段階での
不具合検出が可能となり、後戻り工程の削減、開発期間
の短縮等が期待でき、大幅な設計効率改善が計れるとい
う効果がある。
【図１】本発明の実施例の概略機能及び処理フロー図で
ある。
ある。
【図２】図１の処理の詳細を示す処理フロー図である。
【図３】制御指示部の指示情報の例を示す図である。
【図４】中間ファイルの内容を示す図である。
【図５】（Ａ）はバウンダリテーブルの型式を示す図、
（Ｂ）はバウンダリテーブルＡの具体例を示す図、
（Ｃ）はバウンダリテーブルＢの具体例を示す図であ
る。
（Ｂ）はバウンダリテーブルＡの具体例を示す図、
（Ｃ）はバウンダリテーブルＢの具体例を示す図であ
る。
【図６】比較チェック後の比較結果情報のレポート出力
例を示す図である。
例を示す図である。
【図７】従来のＣＡＤ部品ライブラリのチェック方法を
示す図である。
示す図である。
１０１ 論理部品ライブラリ １０２，１０６ 中間ファイル変換処理部 １０３，１０７ 中間ファイル １０４ 制御指示部 １０５ 物理部品ライブラリ １０８ バウンダリテーブル作成処理部 １０９，１１０ バウンダリテーブル １１１ 比較処理部 １１２ 比較結果情報
Claims (2)
- 【請求項１】 電気回路を描画する際に必要となる回路
部品名やピンの種別を示す論理部品情報を回路部品対応
に格納した論理部品ライブラリと、この論理部品ライブ
ラリの作成ＣＡＤプログラムとは異なるＣＡＤプログラ
ムにより作成され、かつ前記論理部品情報に加えて、前
記電気回路のプリント基板設計の際に必要となる当該部
品のピン座標の物理部品情報を格納した物理部品ライブ
ラリとを含むＣＡＤ部品ライブラリにおけるチェックシ
ステムであって、 前記論理部品ライブラリと物理部品ライブラリとから抽
出すべき部品を指定すると共にこの指定部品の各ピンの
座標を算出するための座標算出情報とを指定する指定手
段と、 この指定手段により指定された部品に関する情報を前記
論理部品ライブラリ及び前記物理部品ライブラリとから
夫々抽出する抽出手段と、 前記抽出手段により前記論理部品ライブラリから抽出さ
れた部品の各ピン座標を前記座標算出情報を用いて算出
するピン座標算出手段と、 この算出されたピン座標と前記指定手段により指定され
て抽出された物理部品情報のピン座標とを夫々比較チェ
ックするピン座標比較手段と、 を含むことを特徴とするＣＡＤ部品ライブラリのチェッ
クシステム。 - 【請求項２】 前記抽出手段は、前記論理部品ライブラ
リ及び前記物理部品ライブラリとから夫々抽出された各
抽出情報を中間ファイルとして夫々一時保持するよう構
成されており、ピン座標算出手段は、前記論理部品ライ
ブラリからの抽出情報に対応する中間ファイルの部品に
対してピン座標を算出するよう構成されていることを特
徴とする請求項１記載のＣＡＤ部品ライブラリのチェッ
クシステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6288508A JP2778491B2 (ja) | 1994-11-24 | 1994-11-24 | Ｃａｄ部品ライブラリのチェックシステム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6288508A JP2778491B2 (ja) | 1994-11-24 | 1994-11-24 | Ｃａｄ部品ライブラリのチェックシステム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08147348A JPH08147348A (ja) | 1996-06-07 |
| JP2778491B2 true JP2778491B2 (ja) | 1998-07-23 |
Family
ID=17731140
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6288508A Expired - Fee Related JP2778491B2 (ja) | 1994-11-24 | 1994-11-24 | Ｃａｄ部品ライブラリのチェックシステム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2778491B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100325201B1 (ko) * | 1999-12-30 | 2002-02-25 | 이계안 | 부품 가공 방법 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04329474A (ja) * | 1991-05-01 | 1992-11-18 | Fujitsu Ltd | 論理回路のチェック方法および論理回路のチェック装置 |
| JP3002066B2 (ja) * | 1992-11-27 | 2000-01-24 | 富士通株式会社 | 機能図と回路図との対応関係保存方法 |
-
1994
- 1994-11-24 JP JP6288508A patent/JP2778491B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08147348A (ja) | 1996-06-07 |
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