JP2778491B2 - Cad部品ライブラリのチェックシステム - Google Patents
Cad部品ライブラリのチェックシステムInfo
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- JP2778491B2 JP2778491B2 JP6288508A JP28850894A JP2778491B2 JP 2778491 B2 JP2778491 B2 JP 2778491B2 JP 6288508 A JP6288508 A JP 6288508A JP 28850894 A JP28850894 A JP 28850894A JP 2778491 B2 JP2778491 B2 JP 2778491B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はCAD(Compute
r Aded Design)部品ライブラリのチェッ
クシステムに関し、特に互いに異なるCADシステムに
より作成された論理部品ライブラリと物理部品ライブラ
リとの差異をチェックするためのCAD部品ライブラリ
のチェックシステムに関するものである。
r Aded Design)部品ライブラリのチェッ
クシステムに関し、特に互いに異なるCADシステムに
より作成された論理部品ライブラリと物理部品ライブラ
リとの差異をチェックするためのCAD部品ライブラリ
のチェックシステムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】この様なCAD部品ライブラリとして
は、電気回路を描画する際に必要となる回路部品名やピ
ンの種別等を示す論理部品情報を格納した論理部品ライ
ブラリと、これ等論理部品情報に加えて、電気回路のプ
リント基板設計の際に必要となる当該部品のピンの相対
位置座標等の物理部品情報を格納した物理部品ライブラ
リとがある。
は、電気回路を描画する際に必要となる回路部品名やピ
ンの種別等を示す論理部品情報を格納した論理部品ライ
ブラリと、これ等論理部品情報に加えて、電気回路のプ
リント基板設計の際に必要となる当該部品のピンの相対
位置座標等の物理部品情報を格納した物理部品ライブラ
リとがある。
【0003】これ等両部品ライブラリは一般に異なるC
ADプログラムシステムにより作成されることが多く、
よって両部品ライブラリが互いに矛盾なく正しく作成さ
れているかどうかをチェックすることが必要となる。こ
のCAD部品ライブラリのチェック方法としては図7に
示すような人間による目視チェックである。
ADプログラムシステムにより作成されることが多く、
よって両部品ライブラリが互いに矛盾なく正しく作成さ
れているかどうかをチェックすることが必要となる。こ
のCAD部品ライブラリのチェック方法としては図7に
示すような人間による目視チェックである。
【0004】論理部品ライブラリ101は、前述した如
く、電気回路を描画する際に必要となる論理部品情報を
格納したものであり、具体的には図7において符号73
で示すように、部品名(LS○○○)や、ピン番号(1
〜8),ピン種別(D0,D1,E0,E1,S0,S
1,GND,Vcc)等が予め全ての回路部品に関して
格納されている。
く、電気回路を描画する際に必要となる論理部品情報を
格納したものであり、具体的には図7において符号73
で示すように、部品名(LS○○○)や、ピン番号(1
〜8),ピン種別(D0,D1,E0,E1,S0,S
1,GND,Vcc)等が予め全ての回路部品に関して
格納されている。
【0005】物理部品ライブラリ105は、前述した如
く、電気回路のプリント基板の設計の際に必要となる物
理部品情報を格納したものであり、具体的には、図7に
おいて符号76で示すように、部品名(LS○○○),
ピン番号(1〜8),ピンの相対的座標やピッチ等の物
理情報がすべての回路部品に関し予め格納されている。
く、電気回路のプリント基板の設計の際に必要となる物
理部品情報を格納したものであり、具体的には、図7に
おいて符号76で示すように、部品名(LS○○○),
ピン番号(1〜8),ピンの相対的座標やピッチ等の物
理情報がすべての回路部品に関し予め格納されている。
【0006】これ等論理部品ライブラリ101及び物理
部品ライブラリ105を夫々入力して、論理部品プロッ
ト72及び物理部品プロット75により、論理部品登録
管理シート73及び物理部品登録管理シート76として
出力せしめ、こうして出力された両登録管理シート73
と76とを人手により付き合せて各部品の1ピン毎に夫
々目視チェックを行い、作成ミスの有無の検査を行って
いる。
部品ライブラリ105を夫々入力して、論理部品プロッ
ト72及び物理部品プロット75により、論理部品登録
管理シート73及び物理部品登録管理シート76として
出力せしめ、こうして出力された両登録管理シート73
と76とを人手により付き合せて各部品の1ピン毎に夫
々目視チェックを行い、作成ミスの有無の検査を行って
いる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】この様に、従来のCA
D部品ライブラリのチェック方法では、人間の目視に依
存しているために、チェック漏れが絶対ないとは言い切
れず、よって設計の後工程においてCAD部品ライブラ
リのミスが発見されたり、最悪の場合には製品の検査段
階で製品不良として結果的に発見されるという問題点が
ある。
D部品ライブラリのチェック方法では、人間の目視に依
存しているために、チェック漏れが絶対ないとは言い切
れず、よって設計の後工程においてCAD部品ライブラ
リのミスが発見されたり、最悪の場合には製品の検査段
階で製品不良として結果的に発見されるという問題点が
ある。
【0008】本発明の目的は、互いに異なるCADプロ
グラムシステムにより生成された論理部品ライブラリと
物理部品ライブラリとの間の同一性のチェックを確実に
自動的に行うようにしたCAD部品ライブラリのチェッ
クシステムを提供することである。
グラムシステムにより生成された論理部品ライブラリと
物理部品ライブラリとの間の同一性のチェックを確実に
自動的に行うようにしたCAD部品ライブラリのチェッ
クシステムを提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、電気回
路を描画する際に必要となる回路部品名やピンの種別を
示す論理部品情報を回路部品対応に格納した論理部品ラ
イブラリと、この論理部品ライブラリの作成CADプロ
グラムとは異なるCADプログラムにより作成され、か
つ前記論理部品情報に加えて、前記電気回路のプリント
基板設計の際に必要となる当該部品のピン座標の物理部
品情報を格納した物理部品ライブラリとを含むCAD部
品ライブラリにおけるチェックシステムであって、前記
論理部品ライブラリと物理部品ライブラリとから抽出す
べき部品を指定すると共にこの指定部品の各ピンの座標
を算出するための座標算出情報とを指定する指定手段
と、この指定手段により指定された部品に関する情報を
前記論理部品ライブラリ及び前記物理部品ライブラリと
から夫々抽出する抽出手段と、前記抽出手段により前記
論理部品ライブラリから抽出された部品の各ピン座標を
前記座標算出情報を用いて算出するピン座標算出手段
と、この算出されたピン座標と前記指定手段により指定
されて抽出された物理部品情報のピン座標とを夫々比較
チェックするピン座標比較手段と、を含むことを特徴と
するCAD部品ライブラリのチェックシステムが得られ
る。
路を描画する際に必要となる回路部品名やピンの種別を
示す論理部品情報を回路部品対応に格納した論理部品ラ
イブラリと、この論理部品ライブラリの作成CADプロ
グラムとは異なるCADプログラムにより作成され、か
つ前記論理部品情報に加えて、前記電気回路のプリント
基板設計の際に必要となる当該部品のピン座標の物理部
品情報を格納した物理部品ライブラリとを含むCAD部
品ライブラリにおけるチェックシステムであって、前記
論理部品ライブラリと物理部品ライブラリとから抽出す
べき部品を指定すると共にこの指定部品の各ピンの座標
を算出するための座標算出情報とを指定する指定手段
と、この指定手段により指定された部品に関する情報を
前記論理部品ライブラリ及び前記物理部品ライブラリと
から夫々抽出する抽出手段と、前記抽出手段により前記
論理部品ライブラリから抽出された部品の各ピン座標を
前記座標算出情報を用いて算出するピン座標算出手段
と、この算出されたピン座標と前記指定手段により指定
されて抽出された物理部品情報のピン座標とを夫々比較
チェックするピン座標比較手段と、を含むことを特徴と
するCAD部品ライブラリのチェックシステムが得られ
る。
【0010】
【作用】物理部品ライブラリにはプリント基板設計用の
ために各部品の相対ピン座標が予め格納されているが、
論理部品ライブラリにはこの相対ピン座標は格納されて
いない。そこで、この論理部品ライブラリ内から指定さ
れた論理部品情報を抽出してこの論理部品情報に加えて
更に物理部品情報であるピン座標を、外部から制御情報
を与えて算出させ、この算出結果のピン座標と物理部品
ライブラリ内から指定された物理部品情報のピン座標と
を比較チェックするようにしている。
ために各部品の相対ピン座標が予め格納されているが、
論理部品ライブラリにはこの相対ピン座標は格納されて
いない。そこで、この論理部品ライブラリ内から指定さ
れた論理部品情報を抽出してこの論理部品情報に加えて
更に物理部品情報であるピン座標を、外部から制御情報
を与えて算出させ、この算出結果のピン座標と物理部品
ライブラリ内から指定された物理部品情報のピン座標と
を比較チェックするようにしている。
【0011】
【実施例】以下に本発明の実施例について図面を用いて
説明する。
説明する。
【0012】図1は本発明の実施例のシステムの処理動
作を機能的に表記した図であり、図2はその処理内容の
詳細を示すフローチャートである。
作を機能的に表記した図であり、図2はその処理内容の
詳細を示すフローチャートである。
【0013】まず、CADシステム“A”により作成さ
れた論理部品ライブラリ101と制御指示部104から
の指示情報とを入力し、中間ファイル変換処理部A10
2により対象部品の論理情報を抽出した中間ファイルA
103を作成する(ステップ201〜203)。
れた論理部品ライブラリ101と制御指示部104から
の指示情報とを入力し、中間ファイル変換処理部A10
2により対象部品の論理情報を抽出した中間ファイルA
103を作成する(ステップ201〜203)。
【0014】その際の制御指示部104からの指示情報
の内容を示すものが図3である。図3において、1行目
の/PARTSは抽出処理対象部品名を指示するもので
あるが、この例ではLS〇〇〇を指示している。2行目
の/UNITmmは部品の単位系がミリメートルである
ことを示している。3行目の/PITCH X=2.5
4 Y=7.62はX方向,Y方向のピン間隔を示して
いる。4行目の/PINは、論理部品ライブラリ101
中には各ピンの相対的x座標,y座標が存在しないた
め、各ピンの相対的x座標,y座標を算出生成するため
の情報を指示している。
の内容を示すものが図3である。図3において、1行目
の/PARTSは抽出処理対象部品名を指示するもので
あるが、この例ではLS〇〇〇を指示している。2行目
の/UNITmmは部品の単位系がミリメートルである
ことを示している。3行目の/PITCH X=2.5
4 Y=7.62はX方向,Y方向のピン間隔を示して
いる。4行目の/PINは、論理部品ライブラリ101
中には各ピンの相対的x座標,y座標が存在しないた
め、各ピンの相対的x座標,y座標を算出生成するため
の情報を指示している。
【0015】この指示例では、1から4番ピンまではx
座標が0から始まり、以後、/PITCHで指示したX
の値2,54ずつ増加し、y座標は常に0であることを
示している。即ち、(0,0),(2.54,0),
…,(7.62,0)が各ピンに対応して、後のバウン
ダリテーブル作成処理部108で作成される。
座標が0から始まり、以後、/PITCHで指示したX
の値2,54ずつ増加し、y座標は常に0であることを
示している。即ち、(0,0),(2.54,0),
…,(7.62,0)が各ピンに対応して、後のバウン
ダリテーブル作成処理部108で作成される。
【0016】5から8番については、x座標が3X,即
ち7.62から始まり、以後、2.54ずつ減算され、
y座標は常にY即ち7.62であることを示している。
その結果各ピンに対応して(7.62,7.62),
(5.08,7.62),…,(0,7.62)が、後
のバウンダリテーブル作成処理部108で同様に作成さ
れる。7行目の/ENDは制御指示情報の終了を示して
いる。
ち7.62から始まり、以後、2.54ずつ減算され、
y座標は常にY即ち7.62であることを示している。
その結果各ピンに対応して(7.62,7.62),
(5.08,7.62),…,(0,7.62)が、後
のバウンダリテーブル作成処理部108で同様に作成さ
れる。7行目の/ENDは制御指示情報の終了を示して
いる。
【0017】ここで再び図1に戻ると、次に物理部品ラ
イブラリ105と制御指示部104を入力し、中間ファ
イル変換処理部B106により対象部品の論理情報と物
理情報を抽出した中間ファイルB107を作成する(ス
テップ204〜205)。
イブラリ105と制御指示部104を入力し、中間ファ
イル変換処理部B106により対象部品の論理情報と物
理情報を抽出した中間ファイルB107を作成する(ス
テップ204〜205)。
【0018】こうして作成された中間ファイルA10
3,中間ファイルB107の内容を示したものが図4で
ある。中間ファイルA103と中間ファイルB107は
形式的には同じであるが、内容的に中間ファイルB10
7には各ピンの相対的x,y座標等の物理情報が含まれ
る。
3,中間ファイルB107の内容を示したものが図4で
ある。中間ファイルA103と中間ファイルB107は
形式的には同じであるが、内容的に中間ファイルB10
7には各ピンの相対的x,y座標等の物理情報が含まれ
る。
【0019】図4において、1行目のPARTSは指定
された抽出部品名を示し、2行目のPARTS No.
はその部品番号を示し、PKGは部品のパッケージ種別
を示す。4行目のTOTAL PINはピン総数を、5
行目のORGはこの部品の相対原点座標を、6行目のP
IN NAMEはピン種別を夫々示している。
された抽出部品名を示し、2行目のPARTS No.
はその部品番号を示し、PKGは部品のパッケージ種別
を示す。4行目のTOTAL PINはピン総数を、5
行目のORGはこの部品の相対原点座標を、6行目のP
IN NAMEはピン種別を夫々示している。
【0020】次にこれら中間ファイルA103と中間フ
ァイルB107及び制御指示部104からの指示情報を
入力し、バウンダリテーブル作成処理部108により、
まずバウンダリテーブルA109が作成される。この
時、中間ファイルA103より得られたピン番号,論理
ピン名の論理情報に加えて、制御指示部104で指示さ
れた/PIN情報に基づき、前述の如く各ピンの相対的
x,y座標が生成されバウンダリテーブルA109に付
加される。
ァイルB107及び制御指示部104からの指示情報を
入力し、バウンダリテーブル作成処理部108により、
まずバウンダリテーブルA109が作成される。この
時、中間ファイルA103より得られたピン番号,論理
ピン名の論理情報に加えて、制御指示部104で指示さ
れた/PIN情報に基づき、前述の如く各ピンの相対的
x,y座標が生成されバウンダリテーブルA109に付
加される。
【0021】こうしてバウンダリテーブルA109が作
成された後にピン番号,論理ピン名の論理情報とピンの
x座標,y座標の物理情報を含むバウンダリテーブルB
110が作成される。その状態を示すものが図5であ
り、図5(A)はバウンダリテーブルA109の型式を
示し、(B)はその具体的例を示している。図5(C)
はバウンダリテーブルB110を示している(ステップ
206,207)。
成された後にピン番号,論理ピン名の論理情報とピンの
x座標,y座標の物理情報を含むバウンダリテーブルB
110が作成される。その状態を示すものが図5であ
り、図5(A)はバウンダリテーブルA109の型式を
示し、(B)はその具体的例を示している。図5(C)
はバウンダリテーブルB110を示している(ステップ
206,207)。
【0022】かくして作成されたバウンダリテーブルA
109とバウンダリテーブルB110の全ピンにつきピ
ン番号,論理ピン名,ピンのx座標,y座標を最終的に
比較処理部111により内容比較を行い、その結果何ら
かの差異がある場合には比較結果情報112として差異
部分が明確に分かるレポートを出力する。
109とバウンダリテーブルB110の全ピンにつきピ
ン番号,論理ピン名,ピンのx座標,y座標を最終的に
比較処理部111により内容比較を行い、その結果何ら
かの差異がある場合には比較結果情報112として差異
部分が明確に分かるレポートを出力する。
【0023】その出力レポート112の例を示すものが
図6である。この例では部品名LS〇〇〇につき論理部
品ライブラリと物理部品ライブラリで3,4ピンの論理
ピン名が入れ替っているミスがある場合に出力されるレ
ポートを示したものである。
図6である。この例では部品名LS〇〇〇につき論理部
品ライブラリと物理部品ライブラリで3,4ピンの論理
ピン名が入れ替っているミスがある場合に出力されるレ
ポートを示したものである。
【0024】尚、図1に示した論理部品ライブラリ10
1を生成するCADシステム“A”の例としては“VI
STAS”プログラムがあり、物理部品ライブラリ10
5を生成するCADシステム“B”の例としては“PL
ANET”プログラムがあるが、これらに限定されるも
のではない。
1を生成するCADシステム“A”の例としては“VI
STAS”プログラムがあり、物理部品ライブラリ10
5を生成するCADシステム“B”の例としては“PL
ANET”プログラムがあるが、これらに限定されるも
のではない。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、そ
れぞれ異なるCADシステムで作成された論理部品ライ
ブラリと物理部品ライブラリの各部品に対し行っていた
目視での正当性チェックを極力自動化することにより、
CAD部品ライブラリの品質向上と設計の早い段階での
不具合検出が可能となり、後戻り工程の削減、開発期間
の短縮等が期待でき、大幅な設計効率改善が計れるとい
う効果がある。
れぞれ異なるCADシステムで作成された論理部品ライ
ブラリと物理部品ライブラリの各部品に対し行っていた
目視での正当性チェックを極力自動化することにより、
CAD部品ライブラリの品質向上と設計の早い段階での
不具合検出が可能となり、後戻り工程の削減、開発期間
の短縮等が期待でき、大幅な設計効率改善が計れるとい
う効果がある。
【図1】本発明の実施例の概略機能及び処理フロー図で
ある。
ある。
【図2】図1の処理の詳細を示す処理フロー図である。
【図3】制御指示部の指示情報の例を示す図である。
【図4】中間ファイルの内容を示す図である。
【図5】(A)はバウンダリテーブルの型式を示す図、
(B)はバウンダリテーブルAの具体例を示す図、
(C)はバウンダリテーブルBの具体例を示す図であ
る。
(B)はバウンダリテーブルAの具体例を示す図、
(C)はバウンダリテーブルBの具体例を示す図であ
る。
【図6】比較チェック後の比較結果情報のレポート出力
例を示す図である。
例を示す図である。
【図7】従来のCAD部品ライブラリのチェック方法を
示す図である。
示す図である。
101 論理部品ライブラリ 102,106 中間ファイル変換処理部 103,107 中間ファイル 104 制御指示部 105 物理部品ライブラリ 108 バウンダリテーブル作成処理部 109,110 バウンダリテーブル 111 比較処理部 112 比較結果情報
Claims (2)
- 【請求項1】 電気回路を描画する際に必要となる回路
部品名やピンの種別を示す論理部品情報を回路部品対応
に格納した論理部品ライブラリと、この論理部品ライブ
ラリの作成CADプログラムとは異なるCADプログラ
ムにより作成され、かつ前記論理部品情報に加えて、前
記電気回路のプリント基板設計の際に必要となる当該部
品のピン座標の物理部品情報を格納した物理部品ライブ
ラリとを含むCAD部品ライブラリにおけるチェックシ
ステムであって、 前記論理部品ライブラリと物理部品ライブラリとから抽
出すべき部品を指定すると共にこの指定部品の各ピンの
座標を算出するための座標算出情報とを指定する指定手
段と、 この指定手段により指定された部品に関する情報を前記
論理部品ライブラリ及び前記物理部品ライブラリとから
夫々抽出する抽出手段と、 前記抽出手段により前記論理部品ライブラリから抽出さ
れた部品の各ピン座標を前記座標算出情報を用いて算出
するピン座標算出手段と、 この算出されたピン座標と前記指定手段により指定され
て抽出された物理部品情報のピン座標とを夫々比較チェ
ックするピン座標比較手段と、 を含むことを特徴とするCAD部品ライブラリのチェッ
クシステム。 - 【請求項2】 前記抽出手段は、前記論理部品ライブラ
リ及び前記物理部品ライブラリとから夫々抽出された各
抽出情報を中間ファイルとして夫々一時保持するよう構
成されており、ピン座標算出手段は、前記論理部品ライ
ブラリからの抽出情報に対応する中間ファイルの部品に
対してピン座標を算出するよう構成されていることを特
徴とする請求項1記載のCAD部品ライブラリのチェッ
クシステム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6288508A JP2778491B2 (ja) | 1994-11-24 | 1994-11-24 | Cad部品ライブラリのチェックシステム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6288508A JP2778491B2 (ja) | 1994-11-24 | 1994-11-24 | Cad部品ライブラリのチェックシステム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08147348A JPH08147348A (ja) | 1996-06-07 |
JP2778491B2 true JP2778491B2 (ja) | 1998-07-23 |
Family
ID=17731140
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6288508A Expired - Fee Related JP2778491B2 (ja) | 1994-11-24 | 1994-11-24 | Cad部品ライブラリのチェックシステム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2778491B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100325201B1 (ko) * | 1999-12-30 | 2002-02-25 | 이계안 | 부품 가공 방법 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04329474A (ja) * | 1991-05-01 | 1992-11-18 | Fujitsu Ltd | 論理回路のチェック方法および論理回路のチェック装置 |
JP3002066B2 (ja) * | 1992-11-27 | 2000-01-24 | 富士通株式会社 | 機能図と回路図との対応関係保存方法 |
-
1994
- 1994-11-24 JP JP6288508A patent/JP2778491B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08147348A (ja) | 1996-06-07 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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