JP2742545B2 - 抵抗溶接制御方法 - Google Patents
抵抗溶接制御方法Info
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- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K11/00—Resistance welding; Severing by resistance heating
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K11/00—Resistance welding; Severing by resistance heating
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- B23K11/25—Monitoring devices
- B23K11/252—Monitoring devices using digital means
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
- Generation Of Surge Voltage And Current (AREA)
- Resistance Welding (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、抵抗溶接制御方法に関
する。
する。
【０００２】
【従来の技術】抵抗溶接の通電では、一定の電流を被溶
接材に流すようにフィードバックをかける定電流制御が
最も多く用いられており、最近普及しているインバータ
式の抵抗溶接機でも定電流制御が主流になっている。そ
の主な理由としては、加圧力および溶接通電とともに溶
接電流が抵抗溶接の三大溶接条件とされていること、ト
ロイダルコイルやカレントトランス等によって電流を測
定できるためフィードバックループを構成しやすいこと
等が挙げられる。
接材に流すようにフィードバックをかける定電流制御が
最も多く用いられており、最近普及しているインバータ
式の抵抗溶接機でも定電流制御が主流になっている。そ
の主な理由としては、加圧力および溶接通電とともに溶
接電流が抵抗溶接の三大溶接条件とされていること、ト
ロイダルコイルやカレントトランス等によって電流を測
定できるためフィードバックループを構成しやすいこと
等が挙げられる。
【０００３】定電流制御方式では、溶接電流の設定値が
最適な値に選ばれているかどうかが重要である。一般
に、抵抗溶接が行われる度に、溶接電極の先端が摩耗
し、被溶接材との接触面積が広くなる。このため、溶接
電流の設定値が固定されたままだと、溶接打点数が増え
るにしたがって被溶接材に供給される溶接電流の電流密
度が低下し、そのうち溶接はがれ等の溶接不良が起き
る。そこで、所定の溶接打点数たとえば１０００回毎に
溶接電流の設定値を所定の割合だけ上げる制御（ステッ
プアップ制御）が行われている。
最適な値に選ばれているかどうかが重要である。一般
に、抵抗溶接が行われる度に、溶接電極の先端が摩耗
し、被溶接材との接触面積が広くなる。このため、溶接
電流の設定値が固定されたままだと、溶接打点数が増え
るにしたがって被溶接材に供給される溶接電流の電流密
度が低下し、そのうち溶接はがれ等の溶接不良が起き
る。そこで、所定の溶接打点数たとえば１０００回毎に
溶接電流の設定値を所定の割合だけ上げる制御（ステッ
プアップ制御）が行われている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のス
テップアップ制御は、所定の溶接打点数毎に溶接電流設
定値を段階的に上げるという大まかな制御であり、通常
は溶接はがれを防止するために溶接電流設定値ないしス
テップアッブ率を高めに選んでいる。しかし、溶接電流
が必要以上に大きいときは、被溶接部でのジュール熱が
過大になり、被溶接材からスプラッシュが飛ぶおそれが
ある。スプラッシュは、少量であればさほど問題にはな
らないが、発生量が多いと溶接品質を下げるだけでなく
溶接電極を傷めたり作業環境の悪化を招くため、出来る
限り抑制すべきものである。また、従来は、ステップア
ップ率の設定を現場作業者の経験や勘に頼っているた
め、熟練した者でないと的確な設定を行うのが難しく、
溶接品質が安定しないという問題があった。
テップアップ制御は、所定の溶接打点数毎に溶接電流設
定値を段階的に上げるという大まかな制御であり、通常
は溶接はがれを防止するために溶接電流設定値ないしス
テップアッブ率を高めに選んでいる。しかし、溶接電流
が必要以上に大きいときは、被溶接部でのジュール熱が
過大になり、被溶接材からスプラッシュが飛ぶおそれが
ある。スプラッシュは、少量であればさほど問題にはな
らないが、発生量が多いと溶接品質を下げるだけでなく
溶接電極を傷めたり作業環境の悪化を招くため、出来る
限り抑制すべきものである。また、従来は、ステップア
ップ率の設定を現場作業者の経験や勘に頼っているた
め、熟練した者でないと的確な設定を行うのが難しく、
溶接品質が安定しないという問題があった。
【０００５】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
もので、溶接通電毎に所定のモニタ値を基に推論演算を
行って次回の溶接のために溶接電流設定値を自動的に補
正するようにして、現場作業者の熟練度に依らずに常に
良好な溶接品質を得るようにした抵抗溶接制御方法を提
供することを目的とする。
もので、溶接通電毎に所定のモニタ値を基に推論演算を
行って次回の溶接のために溶接電流設定値を自動的に補
正するようにして、現場作業者の熟練度に依らずに常に
良好な溶接品質を得るようにした抵抗溶接制御方法を提
供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の第１の抵抗溶接制御方法は、定電流制御
による溶接通電中の溶接電極間の抵抗値変化についてそ
の度合別に複数の条件部メンバーシップ関数を設定する
こと、定電流制御による溶接電流設定値の増減率につい
てその度合別に前記条件部メンバーシップ関数に対応す
る複数の結論部メンバーシップ関数を設定すること、定
電流制御による１回分の溶接の溶接通電中に溶接電極間
の抵抗値変化を検出し、その抵抗値変化の検出値を基に
前記条件部メンバーシップ関数および前記結論部メンバ
ーシップ関数から次回の溶接に対する溶接電流設定値を
補正することの諸段階を有する方法とした。
めに、本発明の第１の抵抗溶接制御方法は、定電流制御
による溶接通電中の溶接電極間の抵抗値変化についてそ
の度合別に複数の条件部メンバーシップ関数を設定する
こと、定電流制御による溶接電流設定値の増減率につい
てその度合別に前記条件部メンバーシップ関数に対応す
る複数の結論部メンバーシップ関数を設定すること、定
電流制御による１回分の溶接の溶接通電中に溶接電極間
の抵抗値変化を検出し、その抵抗値変化の検出値を基に
前記条件部メンバーシップ関数および前記結論部メンバ
ーシップ関数から次回の溶接に対する溶接電流設定値を
補正することの諸段階を有する方法とした。
【０００７】また、本発明の第２の抵抗溶接制御方法
は、溶接通電中の溶接電極間の抵抗値変化についてその
度合別に複数の第１の条件部メンバーシップ関数を設定
すること、溶接通電中の溶接電流値についてその度合別
に複数の第２の条件部メンバーシップ関数を設定するこ
と、溶接電流設定値の増減率についてその度合別に前記
第１および第２の条件部メンバーシップ関数に対応する
複数の結論部メンバーシップ関数を設定すること、各溶
接通電中に溶接電極間の抵抗値の変化分を検出するこ
と、各溶接通電中に溶接電流を測定すること、前記抵抗
値変化の検出値および前記溶接電流の測定値を基に前記
第１および第２の条件部メンバーシップ関数ならびに前
記結論部メンバーシップ関数から次回に溶接に対する溶
接電流設定値を補正することの諸段階を有する方法とし
た。
は、溶接通電中の溶接電極間の抵抗値変化についてその
度合別に複数の第１の条件部メンバーシップ関数を設定
すること、溶接通電中の溶接電流値についてその度合別
に複数の第２の条件部メンバーシップ関数を設定するこ
と、溶接電流設定値の増減率についてその度合別に前記
第１および第２の条件部メンバーシップ関数に対応する
複数の結論部メンバーシップ関数を設定すること、各溶
接通電中に溶接電極間の抵抗値の変化分を検出するこ
と、各溶接通電中に溶接電流を測定すること、前記抵抗
値変化の検出値および前記溶接電流の測定値を基に前記
第１および第２の条件部メンバーシップ関数ならびに前
記結論部メンバーシップ関数から次回に溶接に対する溶
接電流設定値を補正することの諸段階を有する方法とし
た。
【０００８】また、本発明の第３の抵抗溶接制御方法
は、溶接通電中の溶接電極間の抵抗値変化についてその
度合別に複数の第１の条件部メンバーシップ関数を設定
すること、当該溶接電極の溶接打点数についてその度合
別に複数の第２の条件部メンバーシップ関数を設定する
こと、溶接電流設定値の増減率についてその度合別に前
記第１および第２の条件部メンバーシップ関数に対応す
る複数の結論部メンバーシップ関数を設定すること、各
溶接通電中に溶接電極間の抵抗値変化を検出すること、
当該溶接電極の溶接打点数を計数すること、前記抵抗値
変化の検出値および前記溶接打点数の計数値を基に前記
第１および第２の条件部メンバーシップ関数ならびに前
記結論部メンバーシップ関数から次回の溶接に対する溶
接電流設定値を補正することの諸段階を有する方法とし
た。
は、溶接通電中の溶接電極間の抵抗値変化についてその
度合別に複数の第１の条件部メンバーシップ関数を設定
すること、当該溶接電極の溶接打点数についてその度合
別に複数の第２の条件部メンバーシップ関数を設定する
こと、溶接電流設定値の増減率についてその度合別に前
記第１および第２の条件部メンバーシップ関数に対応す
る複数の結論部メンバーシップ関数を設定すること、各
溶接通電中に溶接電極間の抵抗値変化を検出すること、
当該溶接電極の溶接打点数を計数すること、前記抵抗値
変化の検出値および前記溶接打点数の計数値を基に前記
第１および第２の条件部メンバーシップ関数ならびに前
記結論部メンバーシップ関数から次回の溶接に対する溶
接電流設定値を補正することの諸段階を有する方法とし
た。
【０００９】また、本発明の第４の抵抗溶接制御方法
は、溶接通電中の溶接電極間の抵抗値変化についてその
度合別に複数の第１の条件部メンバーシップ関数を設定
すること、溶接通電中の溶接電流値についてその度合別
に複数の第２の条件部メンバーシップ関数を設定するこ
と、当該溶接電極の溶接打点数についてその度合別に複
数の第３の条件部メンバーシップ関数を設定すること、
溶接電流設定値の増減率についてその度合別に前記第
１、第２および第３の条件部メンバーシップ関数に対応
する複数の結論部メンバーシップ関数を設定すること、
各溶接通電中に溶接電極間の抵抗値変化を検出するこ
と、各溶接通電中に溶接電流を測定すること、当該溶接
電極の溶接打点数を計数すること、前記抵抗値変化の検
出値および前記溶接電流の測定値ならびに前記溶接打点
数の計数値を基に前記第１、第２および第３の条件部メ
ンバーシップ関数ならびに前記結論部メンバーシップ関
数から次回の溶接に対する溶接電流設定値を補正するこ
との諸段階を有する方法とした。
は、溶接通電中の溶接電極間の抵抗値変化についてその
度合別に複数の第１の条件部メンバーシップ関数を設定
すること、溶接通電中の溶接電流値についてその度合別
に複数の第２の条件部メンバーシップ関数を設定するこ
と、当該溶接電極の溶接打点数についてその度合別に複
数の第３の条件部メンバーシップ関数を設定すること、
溶接電流設定値の増減率についてその度合別に前記第
１、第２および第３の条件部メンバーシップ関数に対応
する複数の結論部メンバーシップ関数を設定すること、
各溶接通電中に溶接電極間の抵抗値変化を検出するこ
と、各溶接通電中に溶接電流を測定すること、当該溶接
電極の溶接打点数を計数すること、前記抵抗値変化の検
出値および前記溶接電流の測定値ならびに前記溶接打点
数の計数値を基に前記第１、第２および第３の条件部メ
ンバーシップ関数ならびに前記結論部メンバーシップ関
数から次回の溶接に対する溶接電流設定値を補正するこ
との諸段階を有する方法とした。
【００１０】
【作用】本発明では、溶接通電が行われる度毎にファジ
イ推論演算が行われ、次回の溶接のための溶接電流設定
値が最適な値になるような補正が行われる。このファジ
イ推論演算における条件部の入力変数またはモニタ値
は、第１の方法では溶接電極間の抵抗値変化の検出値で
あり、第２の方法では溶接電極間の抵抗値変化の検出値
と溶接電流の測定値であり、第３の方法では溶接電極間
の抵抗値変化の検出値と溶接打点数の値であり、第４の
方法では溶接電極間の抵抗値変化の検出値と溶接電流の
測定値と溶接打点数の値である。また、結論部の出力変
数または制御値は溶接電流設定値であり、たとえばＭＡ
Ｘ−ＭＩＮ推論法によって溶接電流設定値の増減率が求
められる。
イ推論演算が行われ、次回の溶接のための溶接電流設定
値が最適な値になるような補正が行われる。このファジ
イ推論演算における条件部の入力変数またはモニタ値
は、第１の方法では溶接電極間の抵抗値変化の検出値で
あり、第２の方法では溶接電極間の抵抗値変化の検出値
と溶接電流の測定値であり、第３の方法では溶接電極間
の抵抗値変化の検出値と溶接打点数の値であり、第４の
方法では溶接電極間の抵抗値変化の検出値と溶接電流の
測定値と溶接打点数の値である。また、結論部の出力変
数または制御値は溶接電流設定値であり、たとえばＭＡ
Ｘ−ＭＩＮ推論法によって溶接電流設定値の増減率が求
められる。
【００１１】
【実施例】以下、添付図を参照して本発明の実施例を説
明する。
明する。
【００１２】図１は、本発明の一実施例による抵抗溶接
制御方法を実施する抵抗溶接制御装置の回路構成および
この制御装置を用いる単相交流式抵抗溶接機の回路構成
を示す。図２は、図１の各部の信号の波形を表す。
制御方法を実施する抵抗溶接制御装置の回路構成および
この制御装置を用いる単相交流式抵抗溶接機の回路構成
を示す。図２は、図１の各部の信号の波形を表す。
【００１３】この抵抗溶接機において、溶接通電中は、
入力端子１０，１２に入力された商用周波数の交流電源
電圧Ｅ（図２の(A) ）が、一対のサイリスタ１４，１６
からなるコンタクタを介して溶接トランス１８の一次コ
イルに供給される。溶接トランス１８の二次コイルに発
生した交流の誘導起電力（二次電圧）は二次導体および
一対の溶接電極２０，２２を介して被溶接材２４，２６
に印加され、二次回路に溶接電流Ｉ（図２の(B) ）が流
れる。
入力端子１０，１２に入力された商用周波数の交流電源
電圧Ｅ（図２の(A) ）が、一対のサイリスタ１４，１６
からなるコンタクタを介して溶接トランス１８の一次コ
イルに供給される。溶接トランス１８の二次コイルに発
生した交流の誘導起電力（二次電圧）は二次導体および
一対の溶接電極２０，２２を介して被溶接材２４，２６
に印加され、二次回路に溶接電流Ｉ（図２の(B) ）が流
れる。
【００１４】二次回路には、溶接電流Ｉを検出するため
のトロイダルコイル３０が設けられている。溶接電流Ｉ
が流れると、トロイダルコイル３０より溶接電流Ｉの微
分波形を表す信号ｄｉが出力される。このトロイダルコ
イル出力信号ｄｉは積分回路からなる波形復元回路３２
に入力され、波形復元回路３２の出力端子より溶接電流
ｉの波形または瞬時値を表す溶接電流検出信号ｑｉ（図
２の(B) ）が出力される。この溶接電流検出信号ｑｉ
は、Ａ／Ｄ変換器３４によりディジタル信号［Ｄｑｉ］
に変換されたうえでＣＰＵ１００に与えられる。
のトロイダルコイル３０が設けられている。溶接電流Ｉ
が流れると、トロイダルコイル３０より溶接電流Ｉの微
分波形を表す信号ｄｉが出力される。このトロイダルコ
イル出力信号ｄｉは積分回路からなる波形復元回路３２
に入力され、波形復元回路３２の出力端子より溶接電流
ｉの波形または瞬時値を表す溶接電流検出信号ｑｉ（図
２の(B) ）が出力される。この溶接電流検出信号ｑｉ
は、Ａ／Ｄ変換器３４によりディジタル信号［Ｄｑｉ］
に変換されたうえでＣＰＵ１００に与えられる。
【００１５】ＣＰＵ１００は、設定部３６より与えられ
ている溶接電流設定値Ｉs に溶接電流測定値ｑｉが一致
するように点弧回路３８を介してサイリスタ１４，１６
の点弧タイミングを制御する。
ている溶接電流設定値Ｉs に溶接電流測定値ｑｉが一致
するように点弧回路３８を介してサイリスタ１４，１６
の点弧タイミングを制御する。
【００１６】このサイリスタ点弧制御のためゼロ電圧検
出回路４１およびゼロ電流検出回路４０よりＣＰＵ１０
０にタイミング信号Ｔz （図２の(D) ）が与えられる。
ゼロ電圧検出回路４１は、電源電圧のゼロクロスを検出
し、極性を反転するパルス信号でサイリスタ点弧制御用
タイミング信号Ｔc を発生する。ゼロ電流検出回路４０
は、電流が流れるとサイリスタ電圧が下がり、電流が止
まるとサイリスタ電圧が上がるという現象に基づいて、
サイリスタ電圧の変化から各半サイクル毎の溶接電流の
導通開始時点および終了時点を検出し、後述する溶接通
電制御部に対してサンプリングホールド用のタイミング
信号ＴSH（図２の(G) ）および積分リセット用のタイミ
ング信号ＴR （図２の(H) ）を発生する。
出回路４１およびゼロ電流検出回路４０よりＣＰＵ１０
０にタイミング信号Ｔz （図２の(D) ）が与えられる。
ゼロ電圧検出回路４１は、電源電圧のゼロクロスを検出
し、極性を反転するパルス信号でサイリスタ点弧制御用
タイミング信号Ｔc を発生する。ゼロ電流検出回路４０
は、電流が流れるとサイリスタ電圧が下がり、電流が止
まるとサイリスタ電圧が上がるという現象に基づいて、
サイリスタ電圧の変化から各半サイクル毎の溶接電流の
導通開始時点および終了時点を検出し、後述する溶接通
電制御部に対してサンプリングホールド用のタイミング
信号ＴSH（図２の(G) ）および積分リセット用のタイミ
ング信号ＴR （図２の(H) ）を発生する。
【００１７】このように、本実施例の抵抗溶接制御装置
では、トロイダルコイル３０、波形復元回路３２、Ａ／
Ｄ変換器３４、設定部３６、ＣＰＵ１００、ゼロ電流検
出回路４０、点弧回路３８、ゼロ電圧検出回路４１およ
びサイリスタ１４，１６により、被溶接材２０，２２に
定電流を流すためのフィードバック制御が行われる。
では、トロイダルコイル３０、波形復元回路３２、Ａ／
Ｄ変換器３４、設定部３６、ＣＰＵ１００、ゼロ電流検
出回路４０、点弧回路３８、ゼロ電圧検出回路４１およ
びサイリスタ１４，１６により、被溶接材２０，２２に
定電流を流すためのフィードバック制御が行われる。
【００１８】本実施例の抵抗溶接制御装置では、溶接通
電中に、上記のような定電流制御を行いながら、溶接電
流Ｉの実効値を測定すると同時に、溶接電極２０，２２
間の抵抗値変化△Ｒを検出する。溶接電流Ｉの実効値
は、トロイダルコイル３０、波形復元回路３２およびＡ
／Ｄ変換器３４より得られる溶接電流検出信号［ｑｉ］
を基にＣＰＵ１００における演算によって求められる。
溶接電極２０，２２間の抵抗値変化は、以下に述べる抵
抗値変化検出部によって検出される。
電中に、上記のような定電流制御を行いながら、溶接電
流Ｉの実効値を測定すると同時に、溶接電極２０，２２
間の抵抗値変化△Ｒを検出する。溶接電流Ｉの実効値
は、トロイダルコイル３０、波形復元回路３２およびＡ
／Ｄ変換器３４より得られる溶接電流検出信号［ｑｉ］
を基にＣＰＵ１００における演算によって求められる。
溶接電極２０，２２間の抵抗値変化は、以下に述べる抵
抗値変化検出部によって検出される。
【００１９】抵抗値変化検出部は、被溶接材２４，２６
を挟む溶接電極２０，２２間の抵抗値変化を１サイクル
または半サイクル毎に測定するために、電流積分回路４
２，電圧積分回路４４およびサンプルホールド回路４
６，４８、Ａ／Ｄ変換器５０，５２およびＣＰＵ１００
を有している。
を挟む溶接電極２０，２２間の抵抗値変化を１サイクル
または半サイクル毎に測定するために、電流積分回路４
２，電圧積分回路４４およびサンプルホールド回路４
６，４８、Ａ／Ｄ変換器５０，５２およびＣＰＵ１００
を有している。
【００２０】波形復元回路３２より得られた溶接電流検
出信号ｑｉは、電流積分回路４２に入力される。電流積
分回路４２は、ゼロ電流検出回路４０からのタイミング
信号ＴR に応動して１サイクル毎に正極性の溶接電流検
出信号ｑｉを時間積分し、その時間積分値を表す電流積
分値信号Ｓｉを出力する（図２の(E) ）。サンプルホー
ルド回路４６は、ゼロ電流検出回路４０からのタイミン
グ信号ＴSHに応動して各サイクル毎に正極性の溶接電流
ｉが止まった時の電流積分値信号Ｓｉの値［Ｓｉn ］
（ｎ＝１，２，…）をサンプリングしてホールドする
（図２の(E) ）。この電流サンプリングホールド値［Ｓ
ｉn ］は、Ａ／Ｄ変換器５０でディジタル信号［ＤＳｉ
n ］に変換されたうえでＣＰＵ１００に入力される。
出信号ｑｉは、電流積分回路４２に入力される。電流積
分回路４２は、ゼロ電流検出回路４０からのタイミング
信号ＴR に応動して１サイクル毎に正極性の溶接電流検
出信号ｑｉを時間積分し、その時間積分値を表す電流積
分値信号Ｓｉを出力する（図２の(E) ）。サンプルホー
ルド回路４６は、ゼロ電流検出回路４０からのタイミン
グ信号ＴSHに応動して各サイクル毎に正極性の溶接電流
ｉが止まった時の電流積分値信号Ｓｉの値［Ｓｉn ］
（ｎ＝１，２，…）をサンプリングしてホールドする
（図２の(E) ）。この電流サンプリングホールド値［Ｓ
ｉn ］は、Ａ／Ｄ変換器５０でディジタル信号［ＤＳｉ
n ］に変換されたうえでＣＰＵ１００に入力される。
【００２１】溶接電極２０，２２は電圧検出線４３，４
５を介して電圧積分回路４４の入力端子に接続されてい
る。これにより、通電中は、溶接電極２０，２２間の電
圧ｖ（図２の(C) ）が電圧積分回路４４に入力される。
電圧積分回路４４は、ゼロ電流検出回路４０からのタイ
ミング信号ＴR に応動して、１サイクル毎に正極性の溶
接電流検出信号ｑｉが流れている時間にわたって溶接電
極間電圧ｖを時間積分し、その時間積分値を表す電圧積
分値信号Ｓｖを出力する（図２の(F) ）。
５を介して電圧積分回路４４の入力端子に接続されてい
る。これにより、通電中は、溶接電極２０，２２間の電
圧ｖ（図２の(C) ）が電圧積分回路４４に入力される。
電圧積分回路４４は、ゼロ電流検出回路４０からのタイ
ミング信号ＴR に応動して、１サイクル毎に正極性の溶
接電流検出信号ｑｉが流れている時間にわたって溶接電
極間電圧ｖを時間積分し、その時間積分値を表す電圧積
分値信号Ｓｖを出力する（図２の(F) ）。
【００２２】サンプルホールド回路４８は、ゼロ電流検
出回路４０からのタイミング信号ＴSHに応動して、各サ
イクル毎に正極性の溶接電流ｉが止まった時の電流積分
値信号Ｓｖの値［Ｓｖn ］（ｎ＝１，２，…）をサンプ
リングし、かつホールドする（図２の(F) ）。この電圧
サンプリングホールド値［Ｓｖn ］は、Ａ／Ｄ変換器５
２でディジタル信号［ＤＳｖn ］に変換されたうえでＣ
ＰＵ１００に入力される。なお、各半波の通電サイクル
の後半で電極間電圧ｖの極性が反転するのは、抵抗溶接
機のインダクタンスによる誘導起電力である。この誘導
起電力は両極性でほぼ均等に発生している。したがっ
て、逆極性の分も積分されることで、結果的には両極性
で誘導成分がキャンセルされ、電圧サンプリングホール
ド値［Ｓｖn ］は正味の電極間電圧に対応した値となっ
ている。
出回路４０からのタイミング信号ＴSHに応動して、各サ
イクル毎に正極性の溶接電流ｉが止まった時の電流積分
値信号Ｓｖの値［Ｓｖn ］（ｎ＝１，２，…）をサンプ
リングし、かつホールドする（図２の(F) ）。この電圧
サンプリングホールド値［Ｓｖn ］は、Ａ／Ｄ変換器５
２でディジタル信号［ＤＳｖn ］に変換されたうえでＣ
ＰＵ１００に入力される。なお、各半波の通電サイクル
の後半で電極間電圧ｖの極性が反転するのは、抵抗溶接
機のインダクタンスによる誘導起電力である。この誘導
起電力は両極性でほぼ均等に発生している。したがっ
て、逆極性の分も積分されることで、結果的には両極性
で誘導成分がキャンセルされ、電圧サンプリングホール
ド値［Ｓｖn ］は正味の電極間電圧に対応した値となっ
ている。
【００２３】ＣＰＵ１００は、メモリ５４に格納されて
いる演算プログラムにしたがい、各サイクル毎に電圧サ
ンプリングホールド値［Ｓｖn ］を電流サンプリングホ
ールド値［Ｓｉn ］で割算して電極間抵抗値ＲN を求
め、この電極間抵抗値ＲN と前サイクルの電極間抵抗値
ＲN-1 との差分△Ｒ（ＲN −ＲN-1 ）を求める。一般に
スプラッシュが発生する時は、電極間抵抗値が急激に低
下し、差分△Ｒも大きな値になる。本実施例では、各サ
イクルで得られる差分△Ｒの中から最大値のものを選ん
で、それを今回の溶接通電における電極間抵抗値変化の
代表値とする。
いる演算プログラムにしたがい、各サイクル毎に電圧サ
ンプリングホールド値［Ｓｖn ］を電流サンプリングホ
ールド値［Ｓｉn ］で割算して電極間抵抗値ＲN を求
め、この電極間抵抗値ＲN と前サイクルの電極間抵抗値
ＲN-1 との差分△Ｒ（ＲN −ＲN-1 ）を求める。一般に
スプラッシュが発生する時は、電極間抵抗値が急激に低
下し、差分△Ｒも大きな値になる。本実施例では、各サ
イクルで得られる差分△Ｒの中から最大値のものを選ん
で、それを今回の溶接通電における電極間抵抗値変化の
代表値とする。
【００２４】さらに、ＣＰＵ１００は、溶接電極２０，
２２が装着されてから現時点までの溶接打点数Ｎを計数
し、各溶接通電の終了後に計数値Ｎを＋１だけカウント
アップ（Ｎ＝Ｎ＋１）する。
２２が装着されてから現時点までの溶接打点数Ｎを計数
し、各溶接通電の終了後に計数値Ｎを＋１だけカウント
アップ（Ｎ＝Ｎ＋１）する。
【００２５】このように、本実施例では、各溶接通電に
際して、溶接電極２０，２２間の抵抗値変化△Ｒの検出
と、溶接電流Ｉの実効値の測定と、溶接打点数Ｎの計数
とを行う。そして、後述するように、これらの３つのフ
ァクタ△Ｒ，Ｉ，Ｎの値を基にファジイ推論演算によっ
て次回の溶接に対する溶接電流設定値を補正する。
際して、溶接電極２０，２２間の抵抗値変化△Ｒの検出
と、溶接電流Ｉの実効値の測定と、溶接打点数Ｎの計数
とを行う。そして、後述するように、これらの３つのフ
ァクタ△Ｒ，Ｉ，Ｎの値を基にファジイ推論演算によっ
て次回の溶接に対する溶接電流設定値を補正する。
【００２６】以下、本実施例におけるファジィ推論演算
を説明する。本実施例では、ファジィ推論演算の中で代
表的なＭＡＸ−ＭＩＮ推論方法を用いる。
を説明する。本実施例では、ファジィ推論演算の中で代
表的なＭＡＸ−ＭＩＮ推論方法を用いる。
【００２７】この推論演算を行うため、図３に示すよう
に、溶接電流値Ｉについて、その度合別にたとえば
「小」、「中」、「大」の３グループに大別して、各グ
ループのメンバーシップ関数ＩL ，ＩM ，ＩH を設定す
る。
に、溶接電流値Ｉについて、その度合別にたとえば
「小」、「中」、「大」の３グループに大別して、各グ
ループのメンバーシップ関数ＩL ，ＩM ，ＩH を設定す
る。
【００２８】また、図４に示すように、溶接電極２０，
２２の抵抗値変化△Ｒについても、その度合別にたとえ
ば「低」、「中」、「高」の３グループに大別し、各グ
ループのメンバーシップ関数△ＲL ，△ＲM ，△ＲH を
設定する。被溶接材２４，２６の板厚や材質等に応じ
て、これらのメンバーシップ関数は変更されてよい。
２２の抵抗値変化△Ｒについても、その度合別にたとえ
ば「低」、「中」、「高」の３グループに大別し、各グ
ループのメンバーシップ関数△ＲL ，△ＲM ，△ＲH を
設定する。被溶接材２４，２６の板厚や材質等に応じ
て、これらのメンバーシップ関数は変更されてよい。
【００２９】そして、図５に示すように、当該溶接電極
２０，２２が装着されてから現在までの溶接打点数Ｎに
ついても、その度合別にたとえば「少」、「中」、
「多」の３グループに大別し、各グループのメンバーシ
ップ関数ＮL ，ＮM ，ＮH を設定する。以上は、条件部
（前件部）メンバーシップ関数の設定である。
２０，２２が装着されてから現在までの溶接打点数Ｎに
ついても、その度合別にたとえば「少」、「中」、
「多」の３グループに大別し、各グループのメンバーシ
ップ関数ＮL ，ＮM ，ＮH を設定する。以上は、条件部
（前件部）メンバーシップ関数の設定である。
【００３０】また、図６に示すように、溶接電流設定値
ＩS の増減（補正）についてもその度合別にたとえば
「上げる」、「そのまま」、「下げる」の３グループに
大別して、各グループのメンバーシップ関数Ｄ，Ｓ，Ｕ
を設定する。これらのメンバーシップ関数Ｄ，Ｓ，Ｕは
結論部メンバーシップ関数である。
ＩS の増減（補正）についてもその度合別にたとえば
「上げる」、「そのまま」、「下げる」の３グループに
大別して、各グループのメンバーシップ関数Ｄ，Ｓ，Ｕ
を設定する。これらのメンバーシップ関数Ｄ，Ｓ，Ｕは
結論部メンバーシップ関数である。
【００３１】上記の条件部メンバーシップ関数と結論部
メンバーシップ関数は、図８に示すような制御ルール表
によって関係付けられている。図８において、条件部の
変数（入力値）は３種類ΔＲ，Ｉ，Ｎあり、各種類毎に
３つの状態または度合（ΔＲＬ，ΔＲＭ，ΔＲＨ）、
（ＩＬ，ＩＭ，ＩＨ）、（ＮＬ，ＮＭ，ＮＨ）が定義さ
れているため、全部で２７通りの制御ルールｗ１〜ｗ２
７が成立し、各制御ルール毎に結論部のファジィ値Ｕ
（上げる）、Ｓ（そのまま）、Ｄ（下げる）が設定され
ている。たとえば、第１の制御ルールｗ１は、「電極間
抵抗値ΔＲが低くて（ΔＲＬ）、溶接電流Ｉが小さく
（ＩＬ）、かつ溶接打点数Ｎが少なければ（ＮＬ）、溶
接電流設定値ＩＳを上げる（Ｕ）」と規定されている。
また、第２５の制御ルールｗ２５は、「電極間抵抗値Δ
Ｒが低くて（ΔＲＬ）、溶接電流Ｉが大きく（ＩＨ）、
かつ溶接打点数Ｎが多ければ（ＮＨ）、溶接電流設定値
ＩＳをそのままにする（Ｓ）」と規定されている。
メンバーシップ関数は、図８に示すような制御ルール表
によって関係付けられている。図８において、条件部の
変数（入力値）は３種類ΔＲ，Ｉ，Ｎあり、各種類毎に
３つの状態または度合（ΔＲＬ，ΔＲＭ，ΔＲＨ）、
（ＩＬ，ＩＭ，ＩＨ）、（ＮＬ，ＮＭ，ＮＨ）が定義さ
れているため、全部で２７通りの制御ルールｗ１〜ｗ２
７が成立し、各制御ルール毎に結論部のファジィ値Ｕ
（上げる）、Ｓ（そのまま）、Ｄ（下げる）が設定され
ている。たとえば、第１の制御ルールｗ１は、「電極間
抵抗値ΔＲが低くて（ΔＲＬ）、溶接電流Ｉが小さく
（ＩＬ）、かつ溶接打点数Ｎが少なければ（ＮＬ）、溶
接電流設定値ＩＳを上げる（Ｕ）」と規定されている。
また、第２５の制御ルールｗ２５は、「電極間抵抗値Δ
Ｒが低くて（ΔＲＬ）、溶接電流Ｉが大きく（ＩＨ）、
かつ溶接打点数Ｎが多ければ（ＮＨ）、溶接電流設定値
ＩＳをそのままにする（Ｓ）」と規定されている。
【００３２】この制御ルール表の設定値は、上記条件部
メンバーシップ関数および結論部メンバーシップ関数の
設定値とともに、設定部３６よりＣＰＵ１００に設定入
力され、メモリ５４に格納される。
メンバーシップ関数および結論部メンバーシップ関数の
設定値とともに、設定部３６よりＣＰＵ１００に設定入
力され、メモリ５４に格納される。
【００３３】図９は、本実施例におけるＣＰＵ１００の
演算制御動作を示すフローチャートである。溶接通電中
には、上記のように、定電流制御を実行しながら、溶接
電流Ｉの実効値および溶接電極間抵抗値△Ｒの代表値
（最大値）を求め、溶接打点数Ｎを１つカウントアップ
する（）。
演算制御動作を示すフローチャートである。溶接通電中
には、上記のように、定電流制御を実行しながら、溶接
電流Ｉの実効値および溶接電極間抵抗値△Ｒの代表値
（最大値）を求め、溶接打点数Ｎを１つカウントアップ
する（）。
【００３４】溶接通電終了後に、それら△Ｒ，Ｉ，Ｎの
値からそれぞれのメンバーシップ関数における適合度を
求める（）。たとえば、Ｉの測定値が７ｋＡ、△Ｒの
検出値が１２μΩ、Ｎが６００回であったとする。この
場合、Ｉのメンバーシップ関数（図３）においては、Ｉ
Ｌの適合度が０．３、ＩＭの適合度が０．５、ＩＨの適
合度が０である。△Ｒのメンバーシップ関数（図４）に
おいては、△ＲＬの適合度が０、△ＲＭの適合度が０．
７、ＩＨの適合度が０．２５である。Ｎのメンバーシッ
プ関数（図５）においては、ＮＬの適合度が０．８、Ｎ
Ｍの適合度が０．１、ＮＨの適合度が０である。
値からそれぞれのメンバーシップ関数における適合度を
求める（）。たとえば、Ｉの測定値が７ｋＡ、△Ｒの
検出値が１２μΩ、Ｎが６００回であったとする。この
場合、Ｉのメンバーシップ関数（図３）においては、Ｉ
Ｌの適合度が０．３、ＩＭの適合度が０．５、ＩＨの適
合度が０である。△Ｒのメンバーシップ関数（図４）に
おいては、△ＲＬの適合度が０、△ＲＭの適合度が０．
７、ＩＨの適合度が０．２５である。Ｎのメンバーシッ
プ関数（図５）においては、ＮＬの適合度が０．８、Ｎ
Ｍの適合度が０．１、ＮＨの適合度が０である。
【００３５】次に、△Ｒ，Ｉ，Ｎの各メンバーシップ関
数での適合度（０，０．７，０．２５）、（０．３，
０．５，０）、（０．８，０．１，０）を基に各制御ル
ール毎の結論部メンバーシップ関数（図６）の適合度を
求める（）。これは、ＭＡＸ−ＭＩＮ推論法により各
制御ルール（図８）の条件部の適合度の中で小さい方を
選択する。たとえば、第１の制御ルールｗ１では、次の
ようになる。
数での適合度（０，０．７，０．２５）、（０．３，
０．５，０）、（０．８，０．１，０）を基に各制御ル
ール毎の結論部メンバーシップ関数（図６）の適合度を
求める（）。これは、ＭＡＸ−ＭＩＮ推論法により各
制御ルール（図８）の条件部の適合度の中で小さい方を
選択する。たとえば、第１の制御ルールｗ１では、次の
ようになる。
【００３６】Ｕ＝ＩL ＊△ＲL ＊ＮL ＝０．３＊０＊０．８ ＝０
【００３７】また、第５の制御ルールでは、次のように
なる。 Ｓ＝ＩM ＊△ＲM ＊ＮL ＝０．５＊０．７＊０．８ ＝０．５
なる。 Ｓ＝ＩM ＊△ＲM ＊ＮL ＝０．５＊０．７＊０．８ ＝０．５
【００３８】他の制御ルールｗ2 〜ｗ4 ，ｗ6 〜ｗ27に
ついても同様の論理演算が行われ、それぞれの結論部メ
ンバーシップ関数の適合度が求められる。
ついても同様の論理演算が行われ、それぞれの結論部メ
ンバーシップ関数の適合度が求められる。
【００３９】次に、結論部メンバーシップ関数Ｕ，Ｓ，
Ｄの適合度をとりまとめる（）。これは、ＭＡＸ−Ｍ
ＩＮ推論法により各結論部メンバーシップ関数Ｕ，Ｓ，
Ｄの最大値ＵMAX ，ＳMAX ，ＤMAX をとる。そうする
と、次の値が得られる。
Ｄの適合度をとりまとめる（）。これは、ＭＡＸ−Ｍ
ＩＮ推論法により各結論部メンバーシップ関数Ｕ，Ｓ，
Ｄの最大値ＵMAX ，ＳMAX ，ＤMAX をとる。そうする
と、次の値が得られる。
【００４０】 ＵＭＡＸ＝０ ＳＭＡＸ＝０．５ ＤＭＡＸ＝０．２５
【００４１】次に、結論部メンバーシップ関数Ｕ，Ｓ，
Ｄにおいて、上記の適合度を基に、重心法により操作値
つまり溶接電流設定値の増減率を求める（）。このた
めには、結論部メンバーシップ関数Ｕ，Ｓ，Ｄをそれぞ
れの適合度０，０．５，０．２５で頭切りすると、図７
に斜線で示すような面積が得られるので、この面積の横
軸上の重心位置を求めればよい。この例の場合、約１％
の増加率が得られる。
Ｄにおいて、上記の適合度を基に、重心法により操作値
つまり溶接電流設定値の増減率を求める（）。このた
めには、結論部メンバーシップ関数Ｕ，Ｓ，Ｄをそれぞ
れの適合度０，０．５，０．２５で頭切りすると、図７
に斜線で示すような面積が得られるので、この面積の横
軸上の重心位置を求めればよい。この例の場合、約１％
の増加率が得られる。
【００４２】次に、上記のようにして得られた電流増減
率で溶接電流設定値ＩS を補正し、この補正された溶接
電流設定値ＩS をメモリ５４に格納して、次回の溶接に
用いる（）。
率で溶接電流設定値ＩS を補正し、この補正された溶接
電流設定値ＩS をメモリ５４に格納して、次回の溶接に
用いる（）。
【００４３】以上のように、本実施例では、溶接電流
Ｉ、溶接電極間抵抗値変化△Ｒおよび溶接打点数Ｎを変
数またはモニタ値とし、これらのモニタ値に基づいてフ
ァジイ推論演算により次回の溶接のために溶接電流設定
値を補正するようにしている。条件部メンバーシップ関
数または結論部メンバーシップ関数の特性あるいは制御
ルールを変更することで、制御部（ＣＰＵ１００）にお
いて溶接電流設定値ＩSを精細に自動補正することが可
能であり、熟練作業者がいなくても溶接はがれやスプラ
ッシュ等を起こさずに、良好な溶接品質を得ることがで
きる。
Ｉ、溶接電極間抵抗値変化△Ｒおよび溶接打点数Ｎを変
数またはモニタ値とし、これらのモニタ値に基づいてフ
ァジイ推論演算により次回の溶接のために溶接電流設定
値を補正するようにしている。条件部メンバーシップ関
数または結論部メンバーシップ関数の特性あるいは制御
ルールを変更することで、制御部（ＣＰＵ１００）にお
いて溶接電流設定値ＩSを精細に自動補正することが可
能であり、熟練作業者がいなくても溶接はがれやスプラ
ッシュ等を起こさずに、良好な溶接品質を得ることがで
きる。
【００４４】上記モニタ値Ｉ，△Ｒ，Ｎの中でも、△Ｒ
が最も重要な変数であることが確認されている。したが
って、△Ｒの検出値だけから、あるいは△Ｒの検出値と
Ｉの測定値とから、あるいは△Ｒの検出値とＮの値とか
ら上記と同様のファジイ推論演算を用いて溶接電流設定
値の増減率を求めることも可能である。また、溶接通電
中に溶接電極間に印加される加圧力や溶接電極の変位等
も変数に加えて、それらのメンバーシップ関数を設定し
てもよい。上記したＭＡＸ−ＭＩＮ推論法および重心法
は一例であり、代数積−加算推論法などの他の推論法や
面積法、平均高さ法などの他の演算法を用いてもよい。
が最も重要な変数であることが確認されている。したが
って、△Ｒの検出値だけから、あるいは△Ｒの検出値と
Ｉの測定値とから、あるいは△Ｒの検出値とＮの値とか
ら上記と同様のファジイ推論演算を用いて溶接電流設定
値の増減率を求めることも可能である。また、溶接通電
中に溶接電極間に印加される加圧力や溶接電極の変位等
も変数に加えて、それらのメンバーシップ関数を設定し
てもよい。上記したＭＡＸ−ＭＩＮ推論法および重心法
は一例であり、代数積−加算推論法などの他の推論法や
面積法、平均高さ法などの他の演算法を用いてもよい。
【００４５】上記した実施例は単相交流式抵抗溶接機に
おける抵抗溶接制御方法に係るものであったが、本発明
は図１０に示すようなインバータ式抵抗溶接機における
抵抗溶接制御方法にも適用可能なものである。図中、図
１のものと実質的に共通する部分には同一の符号を付し
てある。この抵抗溶接制御装置では、一次回路および二
次回路のいずれでも溶接電流を検出することができるよ
うになっている。電極間抵抗値変化は、二次電流検出回
路６０の出力信号Ｓi およびチップ間電圧検出回路６２
の出力信号Ｓv を基にＣＰＵ１００の演算によって求め
られる。溶接打点数Ｎの計数もＣＰＵ１００が行う。
おける抵抗溶接制御方法に係るものであったが、本発明
は図１０に示すようなインバータ式抵抗溶接機における
抵抗溶接制御方法にも適用可能なものである。図中、図
１のものと実質的に共通する部分には同一の符号を付し
てある。この抵抗溶接制御装置では、一次回路および二
次回路のいずれでも溶接電流を検出することができるよ
うになっている。電極間抵抗値変化は、二次電流検出回
路６０の出力信号Ｓi およびチップ間電圧検出回路６２
の出力信号Ｓv を基にＣＰＵ１００の演算によって求め
られる。溶接打点数Ｎの計数もＣＰＵ１００が行う。
【００４６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の抵抗溶接
制御方法によれば、定電流制御による各溶接の溶接通電
が行われる度毎に制御部でファジイ推論演算を行って次
回の溶接のための溶接電流設定値を自動的に補正するよ
うにしたので、従来のような大まかなステップアップ制
御を行うことなく、また現場作業者の熟練度に依らずに
常に良好な溶接品質を得ることができる。
制御方法によれば、定電流制御による各溶接の溶接通電
が行われる度毎に制御部でファジイ推論演算を行って次
回の溶接のための溶接電流設定値を自動的に補正するよ
うにしたので、従来のような大まかなステップアップ制
御を行うことなく、また現場作業者の熟練度に依らずに
常に良好な溶接品質を得ることができる。
【図１】本発明の一実施例による抵抗溶接制御方法を実
施する抵抗溶接制御装置の回路構成を示すブロック図で
ある。
施する抵抗溶接制御装置の回路構成を示すブロック図で
ある。
【図２】図１の各部の信号の波形を表す波形図である。
【図３】実施例のファジイ推論演算における溶接電流の
メンバーシップ関数の設定例を示す図である。
メンバーシップ関数の設定例を示す図である。
【図４】実施例のファジイ推論演算における溶接電極間
の抵抗値変化のメンバーシップ関数の設定例を示す図で
ある。
の抵抗値変化のメンバーシップ関数の設定例を示す図で
ある。
【図５】実施例のファジイ推論演算における溶接打点数
のメンバーシップ関数の設定例を示す図である。
のメンバーシップ関数の設定例を示す図である。
【図６】実施例のファジイ推論演算における溶接電流増
加率の結論部メンバーシップ関数の設定例を示す図であ
る。
加率の結論部メンバーシップ関数の設定例を示す図であ
る。
【図７】実施例のファジイ推論演算におけるＭＡＸ−Ｍ
ＩＮ推論法の重心計算を示す図である。
ＩＮ推論法の重心計算を示す図である。
【図８】実施例のファジイ推論演算における制御ルール
表を示す図である。
表を示す図である。
【図９】実施例のファジイ推論演算における制御部（Ｃ
ＰＵ）の演算処理動作を示すフローチャートである。
ＰＵ）の演算処理動作を示すフローチャートである。
【図１０】本発明の適用可能なインバータ式抵抗溶接機
における抵抗溶接制御装置の構成を示すブロック図であ
る。
における抵抗溶接制御装置の構成を示すブロック図であ
る。
２０，２２ 溶接電極 ２４，２６ 被溶接材 ３０ トロイダルコイル ３２ 波形復元回路 ３６ 設定部 ４４ 積分回路 ５４ メモリ １００ ＣＰＵ
Claims (4)
- 【請求項１】 定電流制御による溶接通電中の溶接電極
間の抵抗値変化についてその度合別に複数の条件部メン
バーシップ関数を設定すること、定電流制御による 溶接電流設定値の増減率についてその
度合別に前記条件部メンバーシップ関数に対応する複数
の結論部メンバーシップ関数を設定すること、定電流制御による１回分の溶接の 溶接通電中に溶接電極
間の抵抗値変化を検出し、その抵抗値変化の検出値を基
に前記条件部メンバーシップ関数および前記結論部メン
バーシップ関数から次回の溶接に対する溶接電流設定値
を補正することの諸段階を有する抵抗溶接制御方法。 - 【請求項２】 溶接通電中の溶接電極間の抵抗値変化に
ついてその度合別に複数の第１の条件部メンバーシップ
関数を設定すること、 溶接通電中の溶接電流値についてその度合別に複数の第
２の条件部メンバーシップ関数を設定すること、 溶接電流設定値の増減率についてその度合別に前記第１
および第２の条件部メンバーシップ関数に対応する複数
の結論部メンバーシップ関数を設定すること、 各溶接通電中に溶接電極間の抵抗値の変化分を検出する
こと、 各溶接通電中に溶接電流を測定すること、 前記抵抗値変化の検出値および前記溶接電流の測定値を
基に前記第１および第２の条件部メンバーシップ関数な
らびに前記結論部メンバーシップ関数から次回の溶接に
対する溶接電流設定値を補正すること、の諸段階を有す
る抵抗溶接制御方法。 - 【請求項３】 溶接通電中の溶接電極間の抵抗値変化に
ついてその度合別に複数の第１の条件部メンバーシップ
関数を設定すること、 当該溶接電極の溶接打点数についてその度合別に複数の
第２の条件部メンバーシップ関数を設定すること、 溶接電流設定値の増減率についてその度合別に前記第１
および第２の条件部メンバーシップ関数に対応する複数
の結論部メンバーシップ関数を設定すること、 各溶接通電中に溶接電極間の抵抗値変化を検出するこ
と、 当該溶接電極の溶接打点数を計数すること、 前記抵抗値変化の検出値および前記溶接打点数の計数値
を基に前記第１および第２の条件部メンバーシップ関数
ならびに前記結論部メンバーシップ関数から次回の溶接
に対する溶接電流設定値を補正すること、の諸段階を有
する抵抗溶接制御方法。 - 【請求項４】 溶接通電中の溶接電極間の抵抗値変化に
ついてその度合別に複数の第１の条件部メンバーシップ
関数を設定すること、 溶接通電中の溶接電流値についてその度合別に複数の第
２の条件部メンバーシップ関数を設定すること、 当該溶接電極の溶接打点数についてその度合別に複数の
第３の条件部メンバーシップ関数を設定すること、 溶接電流設定値の増減率についてその度合別に前記第
１、第２および第３の条件部メンバーシップ関数に対応
する複数の結論部メンバーシップ関数を設定すること、 各溶接通電中に溶接電極間の抵抗値変化を検出するこ
と、 各溶接通電中に溶接電流を測定すること、 当該溶接電極の溶接打点数を計数すること、 前記抵抗値変化の検出値および前記溶接電流の測定値な
らびに前記溶接打点数の計数値を基に前記第１、第２お
よび第３の条件部メンバーシップ関数ならびに前記結論
部メンバーシップ関数から次回の溶接に対する溶接電流
設定値を補正すること、の諸段階を有する抵抗溶接制御
方法。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6053034A JP2742545B2 (ja) | 1994-02-25 | 1994-02-25 | 抵抗溶接制御方法 |
| KR1019940031784A KR950024830A (ko) | 1994-02-25 | 1994-11-29 | 저항용접 제어방법 |
| US08/386,090 US5591355A (en) | 1994-02-25 | 1995-02-09 | Method for controlling resistance welding using fuzzy reasoning |
| EP95300973A EP0669182B1 (en) | 1994-02-25 | 1995-02-15 | Method for controlling resistance welding using fuzzy reasoning |
| DE69504727T DE69504727T2 (de) | 1994-02-25 | 1995-02-15 | Steuerverfahren vom Wiederstandschweissen mit unscharften Logik |
| CN95102915A CN1081105C (zh) | 1994-02-25 | 1995-02-25 | 使用模糊推理控制电阻焊接的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6053034A JP2742545B2 (ja) | 1994-02-25 | 1994-02-25 | 抵抗溶接制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07232280A JPH07232280A (ja) | 1995-09-05 |
| JP2742545B2 true JP2742545B2 (ja) | 1998-04-22 |
Family
ID=12931613
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6053034A Expired - Lifetime JP2742545B2 (ja) | 1994-02-25 | 1994-02-25 | 抵抗溶接制御方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5591355A (ja) |
| EP (1) | EP0669182B1 (ja) |
| JP (1) | JP2742545B2 (ja) |
| KR (1) | KR950024830A (ja) |
| CN (1) | CN1081105C (ja) |
| DE (1) | DE69504727T2 (ja) |
Families Citing this family (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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