JPS6150709B2 - - Google Patents

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JPS6150709B2
JPS6150709B2 JP18625080A JP18625080A JPS6150709B2 JP S6150709 B2 JPS6150709 B2 JP S6150709B2 JP 18625080 A JP18625080 A JP 18625080A JP 18625080 A JP18625080 A JP 18625080A JP S6150709 B2 JPS6150709 B2 JP S6150709B2
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JP
Japan
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welding
voltage
circuit
current
resistance
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JP18625080A
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JPS57112981A (en
Inventor
Keiji Nishizawa
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MYACHI DENSHI KK
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MYACHI DENSHI KK
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は抵抗溶接機に於て、電極間電圧の測
定によつて溶接の良否判定を行なうことができる
抵抗溶接制御装置に関する。
従来の抵抗溶接機に於ける良否判定装置につき
第1図に基づいて述べると、1は溶接制御装置、
4は溶接トランス、2,3は溶接トランスの1次
側リード線、5,6は溶接トランスの2次側リー
ド線、7,8は電極、9は電極に挟持された被溶
接体、10は溶接トランスの2次側リード線の電
流検出を行なうカレント・トランス、11は電極
間に接続され電極間電圧を検出するリード線、1
3は電極間電圧と溶接トランスの2次側の電流に
基づいて溶接抵抗を演算する低抗演算回路を表わ
す。この抵抗演算回路13にて出力される溶接抵
抗値の変化は第2図の様に示される。この第2図
に於てtiは溶接初期の数サイクルの時間、teは
溶接終了時間、Rpはピーク抵抗値、REは溶接終
了時の抵抗値を表わす。この抵抗値の変化に於
て、O〜ti間の抵抗値を無視した状態の抵抗の
最大値Rpと抵抗終了時の抵抗値REとの抵抗変化
量△Rは、抵抗溶接の良否に密接な関連がある事
は良く知られている事実である。そして低抗変化
量△Rが一定値以上であれば抵抗溶接は良好と判
断される。しかし、この第1図に示された溶接抵
抗を測定して溶接の良否を判定する装置では回路
が複雑になる欠点が存在した。
その為に、この第1図に示された溶接抵抗を測
定して溶接の良否を判定する装置に代わる簡単な
方法として、電極間電圧を検出して抵抗溶接の良
否を判定する方法は存在する。この方法は抵抗溶
接の場合の電極間電圧は、電極間電圧V=電極間
抵抗R×電極間電流Iで表わすことができるの
で、電極間電流Iが一定であると仮定すれば電極
間抵抗Rを検出した場合と同様に第3図に示され
る電圧波形を示すことになる。この第3図に於て
iは溶接初期の数サイクルの時間、teは溶接終
了時間、Vpはピーク電極間電圧、Veは溶接終了
時の電極間電圧を表わす。この電極間電圧値の変
化に於て、O〜ti間の電極電圧を無視した状態
の電極間電圧のピーク電極間電圧Vpと溶接終了
時の電極間電圧Veとの変化量△Vは、抵抗溶接
の良否に密接な関連があることになる。そして電
極間電圧の変化量△Vが一定値以上であれば抵抗
溶接は良好と判断することができる。しかし、多
数台の抵抗溶接機が同時にあるいは任意の組合せ
で溶接作業を行なつている工場等の場合には、供
給電源の変動を直接に受け、溶接電流が変動して
低下する。この状態を第4図及び第5図に基づい
て述べると、第4図は測定中の抵抗溶接機の溶接
電流を表わし、第5図は隣接した抵抗溶接機の溶
接電流を表わす。この第4図に表わされた抵抗溶
接機の溶接電流の測定中の途中で、隣接した溶接
機が作動すると、第4図に表わされた抵抗溶接機
の溶接電流が途中から大きく変動して低下する。
その為に第4図に表わされた測定中の抵抗溶接機
の電極間電圧の電圧波形は第6図に示された電圧
波形の様に隣接した抵抗溶接機が作動した時点か
ら歪を生じることとなる。この為に、この第6図
に示された電極間電圧の電圧波形の場合は、抵抗
溶接が不良にもかかわらず、ピーク電極間電圧
V′pと溶接終了時の電極間電圧V′eの変化量△
V′は溶接が良好な場合と同じ値を示すことがあ
る。従つて抵抗溶接は不良にも係わらず溶接の良
否判定装置は溶接良好の判定を行なつてしまう欠
点が存在した。
そこで本発明は前述の欠点が解消した抵抗溶接
機の制御装置を提供することを目的とする。
この発明の実施例につき第7図に基づいて説明
する。まず最初に実施例の構成につき述べると、
20は溶接制御装置、24は溶接トランス、2
1,22は溶接トランスの1次側リード線、2
5,26は溶接トランスの2次側リード線、27
は溶接トランスの2次側リード線の電流検出を行
なうカレント・トランス、このカレント・トラン
ス27は溶接トランスの1次側のリード線の電流
検出を行なう様に配設することも可能である。2
8,29は電極、30は被溶接体、31はカレン
ト・トランスで検出した溶接電流の変動を除去す
る為の定電流回路、この定電流回路31はカレン
ト・トランス27よりのフイードバツクで応答速
度が半サイクル以内で、定電流化するものであ
る。23は溶接トランスの1次側リード線に挿入
され、定電流回路にて駆動されて溶接電流を一定
に制御する為のサイリスタ、32は電極間の電圧
を検出する為のリード線、33は入力調整回路、
34は電極間の電圧を検出する為のリード線に発
生する溶接電流による誘導起電圧除去回路であ
り、この回路は積分回路で構成され、溶接電流の
各半波の時間にわたつて電極間電圧を積分するこ
とにより、溶接電流の磁束によつて電圧検出用の
リード線に誘起した電圧を除去して真の電極間電
圧をとり出すものである。35は絶対値化回路、
36は比較ホールド回路であり、この比較ホール
ド回路36は、例えば、第10図に図示するよう
に、サンプルホールド回路50,52と比較回路
54とスイツチ56,58とから構成されてお
り、定電流回路31より2つのサンプルホールド
回路50,52に、半サイクル通電直後に交互に
印加されるサンプル信号で絶対値化回路35から
の電圧信号をサンプリングし、1サイクル毎にそ
れらの大小を比較してより大きい方をピーク値ホ
ールド回路37に印加する。37は電圧信号のピ
ーク値ホールド回路、38は電圧信号のピーク値
と検出された電圧信号とを比較して電圧信号の変
化量△Vを検出する差動演算回路、40は予め抵
抗溶接の良否を判定する為の電圧変化量△Vを設
定する為の可変抵抗器、39は設定電圧と電圧変
化量△Vを比較する比較回路で、この比較回路で
電圧信号の変化量△Vが予め設定された値に達す
ると、この比較回路の出力信号で溶接電流を停止
させる。
次にこの実施例に係る抵抗溶接制御装置の作用
につき述べると、供給電源の変動によつて溶接電
流が変動して低下すると、カレント・トランス2
7が溶接電流の変化を検出し、この検出に基づい
て定電流回路31を作動させ、そして溶接トラン
ス24の1次側リード線22に配設されているサ
イリスタ23を駆動して溶接電流を一定に保持す
るものである。この定電流回路31に於ては溶接
電流の低下を検出してからサイリスタ23を駆動
して定電流化する迄に半サイクルの遅れを生じ
る。その為に第8図に示される様に溶接開始後ta
にて定電流回路31が作動すると、その半サイク
ル分だけ電極電圧が低下し、ピーク電極間電圧
Vpを溶接開始後taにて発生する電極間電圧の降
下にて、電圧変化量が予め設定された変化量△V
に達してしまう為に、良好な抵抗溶接を行なう為
には溶接電流をさらに流さなければならないの
に、良好な抵抗溶接が行なわれたとして溶接電流
を停止してしまう。その為に電極間電圧の測定回
路に於ては、定電流回路31の動作した半サイク
ル部分の影響を除去する為に構成されている。す
なわち電極間電圧(第9図A)は入力調整回路3
3によつて適宜な入力電圧に調整され、誘導起電
圧除去回路34にてリード線32に発生する溶接
電流(第9図i)による誘導起電圧を除去し、電
極間電圧のみの電圧信号として(第9図B)、絶
対値化回路35にて全波整流して電圧信号を絶対
値化し(第9図C)、この絶対値化された電圧信
号を比較ホールド回路36に印加する。
比較ホールド回路36では前述のように、その
2つのサンプルホールド回路50,52に定電流
回路31から各々サンプル信号S1,S3が印加さ
れ、またサンプル信号S2の直前の1サイクル毎に
リセツト信号S1がサンプルホールド回路50,5
2に印加される。このため、絶対値化電圧信号C
は、比較ホールド回路36のサンプルホールド回
路50と52とに入り、サンプル信号S2とS3とに
応じてそれぞれサンプリングされ、ホールドされ
る。比較回路54にホールドされた電圧信号X,
Yが取り込まれ、電圧信号XがYより大きい時に
はスイツチ56をONにし、電圧信号XがYより
小さい時にはスイツチ58をONにする。第9図
において説明すると、リセツト信号S1aによりサ
ンプルホールド回路50,52の電圧信号X,Y
がOとなる。サンプル信号S2aがサンプルホール
ド回路50に印加されると、電圧信号Cを取り込
みホールドする。このとき(t1)、電圧信号Xは
C1で電圧信号YはOであるので、比較ホールド
回路36からの電圧信号DはC1となる。次にサ
ンプル信号S3aがサンプルホールド回路52に印
加されると、電圧信号Cを取り込みホールドす
る。このとき(t2)、電圧信号XはC1で電圧信号
YはC2(C1>C2)であるので、比較ホールド回路
36からの電圧信号DはかわらずC1となる。
このように、比較ホールド回路36では、絶対
値化回路35からの電圧信号Cを半サイクル毎に
サンプリングし、1サイクル毎に大小を比較して
大きい方を電圧信号Dとしてピーク値ホールド回
路37に印加するものである(第9図D)。
ピーク値ホールド回路37では印加されてきた
電圧信号のうちでピーク値をホールドする(第9
図E)。また差動演算回路38ではピーク値ホー
ルド回路37よりのピーク電極間電圧Vpと、サ
ンプルホールド回路36よりの現在の電圧信号V
との差を演算し変化量△Vを出力し(第9図
F)、この差動演算回路38よりの出力信号△V
と、可変抵抗40で予め設定された溶接良否の判
定の為の設定電圧△Vとを、一致回路39にて対
比し、両電圧が一致した時点で溶接制御回路20
を一致回路39の出力信号で動作させて溶接を終
了させる。なお、第7図のAないしFは測定点で
あり、各測定点の波形は第9図に表わす。
この発明は以上に述べた実施例に基づいて特許
請求の範囲の様に構成したので、抵抗溶接機に於
て、電極間電圧の測定によつて明確に溶接の良否
を判定することが可能になつた。
また、この抵抗溶接制御装置を使用すると、良
好な溶接が行なわれた時点で、溶接電流を停止す
るので、溶接時に無駄な電力を、消費することが
なくなつた。
さらに、抵抗溶接時に不必要な溶接電流を流さ
ないので、抵抗溶接時に発生する金属微細片が発
生しなくなつた。この溶接時に発生する金属微細
片は溶接が終了した後もさらに溶接電流を流し続
けることによつて生じる。この金属微細片が発生
しない結果、近時多くなつてきた溶接ロボツトの
機械的回転及び摺動部分に有害な影響を与えるこ
とがなく、また他の機械設備及び工場の環境に有
害な影響を与えることがなくなつた。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の抵抗溶接機に於ける電極間抵抗
測定回路、第2図は電極間抵抗の波形図、第3図
は電極間電圧の波形図、第4図は溶接電流の波形
図、第5図は隣接する抵抗溶接機の溶接電流の波
形図、第6図は隣接する抵抗溶接機の影響を受け
た電極間電圧の波形図、第7図は本実施例に係る
抵抗溶接制御装置のブロツク図、第8図は定電流
回路の影響を受けた電極間電圧の波形図、第9図
は第7図の各部の波形図、第10図は比較ホール
ド回路の回路図を表わす。 20……抵抗溶接制御回路、23……サイリス
タ、24……溶接トランス、27……カレント・
トランス、28,29……電極、30……被溶接
体、31……定電流回路、33……入力調整回
路、34……誘導起電圧除去回路、35……絶対
値化回路、36……比較ホールド回路、37……
ピーク値ホールド回路、38……差動演算回路、
39……一致回路、40……可変抵抗器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 抵抗溶接機に於て、溶接電流を一定にする定
    電流回路と、電極間電圧を測定して溶接の良否を
    判定し、溶接電流を停止させる電極間電圧測定回
    路と、を有することを特徴とする抵抗溶接制御装
    置。 2 電極間電圧測定回路に於て、定電流回路の作
    動直後の半サイクル間の溶接電流変動の影響を除
    去する手段36を配設した特許請求の範囲第1項
    記載の抵抗溶接制御装置。 3 電極間電圧測定回路に於て、電極に接続され
    たリード線に発生する溶接電流による誘導起電圧
    を除去する手段34を配設した特許請求の範囲第
    2項記載の抵抗溶接制御装置。
JP18625080A 1980-12-29 1980-12-29 Controller for resistance welding Granted JPS57112981A (en)

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