JP2741638B2 - 無定形シリコン太陽電池の製造方法 - Google Patents
無定形シリコン太陽電池の製造方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、相異なる導電型
の無定形半導体材料で形成された互いに隣接する層をグ
ロー放電法により連続的に被着する無定形シリコン太陽
電池の製造方法に関する。 【0002】 【従来の技術】太陽放射線を使用可能な電気エネルギー
に変換する構造の光電装置が知られている。この種の装
置の一つとして不純物が添加された無定形シリコンの多
層本体を持つシリコン太陽電池がある。このような太陽
電池および電池構造を作製するために不純物添加層をグ
ロー放電チャンバ内で連続的に被着する方法が米国特許
第4226898号に記載されている。この特許による
と、無定形材料からなる不純物添加層および真性層はハ
ウジング内の単一の真空チャンバ内で形成される。そし
て、複数個の導管によって種々の不純物を含む反応ガス
混合物(不純物添加層を形成する場合)および不純物を
含まない反応ガス混合物(真性層を形成する場合)が該
チャンバ内に順次導入される。 【0003】単一チャンバ内におけるバッチ処理方式で
は、最終電池構造の最適化および生産速度が望みの場合
よりも制限されてしまう。相異なるタイプの材料で形成
された隣接層(真性層も含む)を有する多層構造の太陽
電池を単一のグロー放電チャンバ内で作製する場合、複
雑な制御装置や時間のかかる手法が必要となる。特に、
一つ一つの電池を製造するために減圧および加熱をいち
いちおこない、各層を被着した後に冷却をおこなうこと
は電池を作製するための平均時間を大幅に長びかせるこ
ととなる。 【0004】さらに、不所望な処理や他の要因によって
相異なるタイプの材料で形成された層ごとに真性層が汚
染されることは電池を最適に動作させるためには避けな
ければならない。そうするためには、単一チャンバ方式
では、交叉汚染を避けるために中途で排気をおこなう必
要がある。 【0005】 【発明が解決しようとする課題】この発明の目的は、連
続的に無定形半導体材料を被着しても相異なる電気特性
を有する無定形半導体材料よりなる隣接層のそれぞれが
交差汚染を受けることがなく、かつ生産速度を制限され
ることなく製造することができる無定形シリコン太陽電
池の製造方法を提供することにある。 【0006】 【課題を解決するための手段】この発明に従って、相異
なる電気特性を有する無定形半導体材料よりなる隣接層
を別々の環境的に離隔されたグロー放電領域内で基板上
に被着することによって克服することができる。これら
隔離された領域はそれぞれ所定の反応ガス混合物を収容
し、交叉汚染を避けるために相互に分離された複数個の
隣接するチャンバであってよい。基板は隔離された領域
あるいはチャンバ内を順次進行ないし運搬され、個々の
電池構成に必要とされる異なる電気特性を持つ隣接層が
被着される。該基板はステンレス鋼のような連続ウェブ
であってよく、これは実質的に連続的に隔離された領域
ないしチャンバ内に供給され、所望電池構造を得るべく
各層が被着される。特定の電池形状に必要な場合、マス
クを用いてもよい。 【0007】すなわち、この発明の無定形シリコン太陽
電池の製造方法は、ガス導入口とガス排気口とを含みP
型半導体層を被着するためのチャンバと、ガス導入口と
ガス排気口とを含みI型半導体層を被着するためのチャ
ンバと、ガス導入口とガス排気口とを含みN型半導体層
を被着するためのチャンバとを有し、各チャンバが導電
性表面を有する帯状基板の搬入および搬出口に設けられ
たスリットを含む隔離通路を介して分離配置されている
被着装置に、前記基板を搬入し、前記P型半導体層、前
記I型半導体層および前記N型半導体層を積層させてグ
ロー放電により無定形シリコン太陽電池を製造する方法
であって、 第1の真空チャンバ内に前記帯状基板をロー
ル状にして配置する工程と、 前記第1の真空チャンバか
ら前記帯状基板を搬出し、前記スリットを通じて各 チャ
ンバ内に搬入し、前記帯状基板の被着面を下方かつグロ
ー放電を生じるための電極の平坦な面に向けて配置する
工程と、 前記帯状基板を加熱手段により加熱する工程
と、 前記帯状基板と前記電極との間に反応ガスを導入す
ることにより、グロー放電を生ぜしめて前記帯状基板上
に各半導体層を被着せしめる工程と、 隣接する前記チャ
ンバ間の雰囲気を分離するために前記スリットにチャン
バ外部から掃気用ガスを導入する工程と、 各半導体層が
被着された前記帯状基板を第2の真空チャンバ内でロー
ル状に巻き取る工程とを含むことを特徴とする。 【0008】この発明によれば、上述のようにスリット
を含む隔離通路によって各半導体層被着用のチャンバが
分離されており、しかもスリットには外部から掃気用の
ガスが導入されるので、各チャンバ内のガスが隣接する
チャンバ内に混入し難くなる。また、成膜前後のロール
状の基板は、スリットによって半導体層被着用のチャン
バから分離された真空チャンバから搬入あるいは真空チ
ャンバへ搬出され(巻き取られ)るので、異物が付着し
難く、こうして特性のよい大面積無定形シリコン太陽電
池を製造することができる。 【0009】 【発明の実施の形態】以下、図面に沿ってこの発明をさ
らに詳しく説明する。 【0010】図1には、この発明に従う太陽電池の連続
製造システムの一態様における様々な工程が示されてい
る。基板10はその上に無定形シリコンが被着し得るな
らばいずれの所望材料で形成されてもよく、また入射太
陽放射線に対して透明であっても不透明であってもよ
い。また、基板10は搬送機構によって運ばれるウェブ
もしくは個々のプレート例えば金属箔、金属、ガラスま
たはポリマーであってもよい。ステンレス鋼やアルミニ
ウムのような金属またはポリマーである場合、該ウェブ
は大きなロールのような半連続給源から供給できる。連
続ウェブから供給された場合、該基板を穿孔機12に通
し、以後の工程を長手方向に統合させるように基板10
を進行させかつ長手方向の参照印を提供するために該ウ
ェブの両側端部に沿ってスプロケット孔を穿ってもよ
い。もちろん、穿孔およびスプロケット孔は用いなくと
もよく、エッジガイドその他の整合装置を用いてもよ
い。穿孔後、基板10はそれがアルミニウムで形成され
ている場合および所望の場合、陽極酸化浴中に搬送され
そこで基板上、特に、被着がおこなわれる表面上に酸化
アルミニウム絶縁層16(図4参照)が形成される。基
板としてステンレス鋼を用いかつ絶縁層を望む場合、例
えばSiO2 ,Si3 N4 等を被着させることができ
る。 【0011】次に、一連のベースコンタクトを絶縁層上
に所望により形成する。このベースコンタクトはスプロ
ケット孔に対して長手方向に整列させることができ、そ
の結果、ベースコンタクトの適切な位置決めがおこなえ
る。図4には、これらベースコンタクトのうちの2つが
符号18および20で示されている。ベースコンタクト
の配列は図1に示すように選ぶことができ、あるいはそ
の他所定の電池に要求される直列または並列接続配置に
応じて選ぶことができる。このベースコンタクトを形成
するための装置22は通常のものであり、典型的に、機
械的もしくはリトグラフ的マスクの適用、その後のベー
スコンタクトの形成およびその後のマスク除去をおこな
うものである。実際のベースコンタクトの形成は当該分
野で知られた方法例えば蒸着、スパッタ、シルクスクリ
ーニング、プリント等によっておこなうことができ、そ
の詳細は当業者には不要であろう。 【0012】導電性基板は絶縁層およびベースコンタク
トを形成することなくそのまま共通電極として用いるこ
とができ、したがって絶縁層およびベースコンタクトの
形成工程およびマスク工程を省くことができる。この場
合、全ての電池は共通電極となる基板と並列に接続する
(図5参照)。ガラス基板またはポリマー基板を用いる
と、絶縁層を形成しないでよい。 【0013】穿孔、陽極酸化およびベースコンタクトの
形成は、これらがおこなわれる場合、同じ移動する基板
に対して動作し、順次配置された装置を用いて連続的に
おこなってもよいが、これら工程は別々の装置を用い、
各工程後に連続ウェブ基板を巻き取っておこなってもよ
い。重要な、無定形シリコンの基板10への被着は図1
および図2に示す被着チャンバ24,26および28内
でおこなわれる。チャンバ24の内部の一例が図3に示
されている。図2には、3つの別々のチャンバが示され
ているが、一つの大きなチャンバを適当に個々の被着領
域に仕切り、その各領域を個々の導電形(例えば、n
形,P形または真性)の無定形シリコンを被着するため
にのみ用いるようにしてもよい。 【0014】各被着領域は被着層の厚さおよび被着速度
に応じてチャンバの長さまたは複数個の別々のチャンバ
によって規定される。全ての図示の被着領域は互いに分
離されている。この被着系は個々の反応ガス混合物のプ
ラズマから無定形シリコンのP形層、真性層およびn形
層(または、その逆の順序)をグロー放電によって被着
するものである。各層を別々に被着することによって電
気特性の良好な無定形シリコン層を持つ電池が得られ
る。 【0015】無定形シリコン層を被着した後、最上層の
シリコン層上に、光電池によって発生した電流を集める
ためのトップコンタクト層30を被着する(図4)。こ
の層30は、基板10が不透明の場合、放射線エネルギ
ーを各シリコン層に通すために透明な材料で形成され
る。 【0016】普通用いられる透明な導電材料は酸化イン
ジウム−スズ、酸化スズまたは酸化インジウムである。
透明基板上に形成された電池の場合、該構造は基板上に
トップ導電性酸化物(TCO)を、そして最上層上に不
透明コンタクトを形成したものであってよい。殆どの場
合、トップコンタクト層は大きな領域の電池から電流を
集めるに充分な導電性がないので、当業者によく知られ
ているように、TCOとともに適当な金属で形成された
電流収集用グリッドが用いられる。各電池が電気的に絶
縁されている(共通層によって並列接続されていない)
場合、金属接続31をさらに被着して個々の電池を直列
もしくは並列接続することができる(図 4)。 【0017】無定形シリコン層は可視太陽放射線を非常
に反射させるものであるから、入射エネルギーの多くは
反射されてしまう。このエネルギー損失を防止するため
に、反射防止(AR)層32を形成する(図6)。この
AR層は反射する光の量を減少させる。AR層は硫化亜
鉛、酸化ジルコニウム、窒化シリコンおよび酸化チタン
のような誘電材料で形成することができる。しかし、T
COをトップコンタクト層として用いた場合、該TCO
層の厚さをそれがトップコンタクトおよびAR層として
作用するように選ぶことができる。こうすると、電池構
造および製造工程が簡略化される。図1に示す被着装置
34はトップコンタクト層30およびAR層32を、こ
れらが用いられる場合、被着するものである。これらの
被着によって太陽電池構造は完結するが、これを物理的
損傷から保護するために、ラミネートをおこなうことが
望ましい。ラミネータ36によって、太陽電池構造の全
要素が形成されている基板の表面および裏面に保護ウェ
ブ38および40が適用される。このラミネート工程が
終ったならば、太陽電池を外部と接続することができ、
ウェブ基板は、それが用いられた場合、所望電圧および
電流を供給するために要求される通りに切断される。こ
うして、連続帯状体が提供され、太陽電池の経済的な製
造が達成される。 【0018】この発明において重要な点は図2に概略的
に示す被着チャンバ24,26および28内における無
定形シリコンの被着である。三つの分離された被着チャ
ンバはP形無定形シリコン層42、真性無定形シリコン
層44およびn形無定形シリコン層46(図4)を順次
被着するためのものとして示されている。既述のよう
に、チャンバ24,26および28は個々の反応ガス混
合物の成分が混入し合うのを避けるために相互に隔離さ
れている。被着は逆の順序でおこなってもよい。図4に
示す層配置は頂部から入射する光に対するものである。
不透明基板10の代りに透明な基板を用いた場合、入射
光は基板側から受け取られる(図6)。さらに、所望に
応じて、ショットキ障壁すなわちM−I−Sを用いるこ
とができる(図7)。すなわち、被着チャンバあるいは
領域の数および長さ、その位置および被着する材料は所
望の太陽電池構造に従って選択することができるのであ
る。 【0019】図3には、被着チャンバ24の一例がより
詳しく示されている。図3において、基板10は該図面
を見る者に向って移動する。ハウジング48は被着チャ
ンバを囲包し、以後述べるように、実質的に連続的に基
板10を進入・退出させる。加熱器50は基板10の近
傍に位置する大面積赤外線ヒータであってよい(図
3)。被着は基板10の反対側表面で生じる。基板の加
熱およびその温度制御は本件と同時に米国にロバート・
エフ・エジャートン(Robert F・Edgert
on)によって出願された「アパラタス・フォー・レギ
ュレイティング・サブストレート・テンパラチャー・イ
ン・ア・コンティニュアス・プラズマ・デポジション・
プロセス」という名称の米国出願に記載された方法およ
び装置によっておこなうことができる。 【0020】処理用仕込みガスは例えばガスを基板10
の表面に沿って基板の進行方向に直交する方向におよび
基板の中心に向う流れとして案内する開口(図示しな
い)を有する一対のマニホールド52および54から、
基板10の被着側に供給される。あるいは、反応ガスは
例えば本件と同時に米国にマサツグ・イズ、チモシー・
ジェイ・バーナード(Timothy・J・Barna
rd)およびデイビット・エイ・ガッツソ(David
A・Guttuso)によって出願された「カソード
・フォー・ジェネレイティング・ア・プラズマ」という
名称の米国出願に記載されている装置によって均一に案
内することができる。 【0021】反応チャンバに供給されるガスは好ましく
はSiF4 および水素であり、アルゴンあるいは他のガ
ス例えば米国特許第4226898号もしくは本件と同
時に米国にビンセント・デー・カネラ(Vincent
D・Cannella)およびマサツグ・イズによっ
て出願された「インプルーブド・メソッド・フォー・プ
ラズマ・デポジション・オブ・アモルファス・マテリア
ル」という名称の米国出願に記載されている不活性ガス
のような不活性希釈ガスを含んでいてもよい。均一なガ
ス流が望ましく、したがって多数の開口部がマニホール
ドに形成されており、これらは基板の被着側と実質的に
平行におよび隣接して設けることができる。 【0022】排気ポート56が真空ポンプ(図示しな
い)に接続しており、これによって消費されたガスが排
出され圧力平衡を維持する。電極58が基板10から離
れて設置されており、それらの間でプラズマが発生す
る。ガスは電極58を通って、好ましくは複数個の開口
60を通って排出され均一流を維持する。プラズマ中に
おいて、処理用ガスは主にフッ化シリコン−水素ガス混
合物であり、種々の種例えばSiF4 ,SiF3 ,Si
F2 ,SiFや水素を含む他の種例えばSiHF,Si
HF2 ,SiHF3 等さらに当該分野でよく知られたド
ープ成分を含む。当業者にわかるように、これら種のい
くつかは遷移性のものである。排気ポート56の所で達
成される真空ないし減圧はグロー放電プラズマが基板1
0の面で維持されうるような圧力を提供するものであ
る。0.1ないし3トルの範囲の圧力が好ましい。 【0023】基板10は接地されているが、電極58
は、無定形シリコン層が被着されるグロー放電プラズマ
を基板10の近傍に発生させ維持するための電気エネル
ギを供給する電源62に接続している。電源62はラジ
オ周波領域で動作するAC電源であるのが典型である
が、グロー放電プラズマを発生させる電圧で動作するD
C電源であってもよい。ラジオ周波電力を望む場合、電
源は例えば前記三番目に記した米国出願に記載されてい
る通り低電力で50ないし200キロヘルツで動作し得
る。グロー放電プラズマを発生させる供給電力に加え
て、電源62は電極と基板10間にDCバイアスを印加
して基板バイアスを制御することができる。プラズマと
交叉して印加されるDCバイアスによってプラズマから
の無定形シリコンの被着工程がよりよく制御される。デ
ィスクリートタイプのまたは帯状の電池を作製する場
合、プラズマによって無定形シリコンを所望部分にのみ
被着させるように基板面をマスクする必要があるかもし
れない。このマスクは基板10の面に近接して共に移動
するマスクベルト64(図2)によっておこなえる。位
置合せは基板の端部に形成された孔によっておこなうこ
とができ、マスク64は基板に対して適切に位置するよ
うになる。帯状電池は各チャンバを通る基板の進行方向
と平行に配置することもでき、その場合、長手方向の位
置合せは不要となる。マスク64は連続帯状マスクであ
り、ハウジング48内の案内ロール65(図2)の回り
を動く。マスクベルト64の下側の作用しない部分63
(図2)は電極58の下に位置していてもよい。マスク
ベルトは開放領域が大きいので、排気ポート56から真
空ポンプに至る排出ガスの流れを妨害することはない。
各被着チャンバ24,26および28は互いに類似のも
ので、被着チャンバ26と28はそれぞれ基板10の前
進方向に移動するマスクベルト66と58を備えてい
る。 【0024】各被着チャンバ24,26および28は同
じ構造であってよいが、それぞれが被着する層のタイプ
によってそれぞれの中で発生するプラズマの成分はやや
異なる。マニホールドに供給されるガスは各被着チャン
バに応じて異なるものであってよいが、各チャンバ内へ
の供給ガスを同一とし、別の処でドープガス例えばn導
電形を与えるホスフィン(PH3 )またはp導電形を与
えるジボラン(B2 H6 )を供給するようにしてもよ
い。例えば、アルゴンのような不活性ガス中のドープガ
ス源を別に設けることができる。基板10の被着表面に
供給されるガスの流れは均一であることが望ましいの
で、ドープガスと不活性ガスとの混合ガス源を別に設け
た場合、ガスがマニホールド52および54中に供給さ
れマニホールドの開口から放出される前に混合しておく
ことが好ましい。各被着チャンバ24,26および28
内における基板10の滞留時間は被着すべき層の被着速
度および厚さに応じて異なる。例えば、P−I−N装置
を作る場合、それぞれの層の厚さは50〜200Å、2
000〜6000Åおよび100〜500Åであり得
る。すなわち、連続ウェブ系では異なる被着領域は被着
すべき厚さに比例した長さのものである。被着層の厚さ
は例えば本件と同時に米国にロバート・エフ・エジャー
トン(Robert F・Edgerton)によって
「オプチカル・メソッズ・フォー・コントローリング・
レイヤー・シックネス」という名称で出願された米国出
願に記載された方法および装置によって監視し制御する
ことができる。 【0025】無定形シリコンのプラズマ被着用供給ガス
およびドープガス等各被着チャンバ24,26および2
8内の工程可変因子を制御するためにそれぞれに制御装
置70,72および74が接続されている。また、適切
なプラズマ放電の平衡を維持する適切な圧力レベルを維
持するために真空ポンプも制御され、加熱器の温度も制
御される。こうして、連続製造がおこなえる。この装置
系は基板をゆっくりと連続的に進行させて、あるいは基
板の所要部分を一工程から次の工程へと循環させて動作
させることができる。 【0026】各被着チャンバは無定形シリコン被着の正
確な条件を提供しかつ適切な不純物添加レベルもしくは
ドープレベルを達成するために制御されたガス雰囲気を
持つ必要がある。基板10が各チャンバに入りあるいは
そこから退出するスリットは狭いが、相互混合・汚染を
防止する手段が要求される。この手段は基板10が通過
し得る狭いスリットを持ち基板を囲包する分離部材76
および78によって提供される。各分離部材中のスリッ
トは排気されてもあるいはアルゴンその他の不活性ガス
を流して、分離部材を通る基板10から全ての反応ガス
を除去してもよい。 【0027】上記分離部材は例えば本件と同時に米国に
マサツグ・イズおよびディビッド・エイ・ガッツソ(D
avid A・Gattuso)によって「アイソレー
ション・バルブ」という名称で出願された米国特許に記
載された分離弁であってもよい。図2において、供給お
よび引取りは真空チャンバ内でおこなうものとして示さ
れているが、完全な連続系では基板は他の工程から進入
し、他の工程へと退出するであろうから、チャンバ24
の入口およびチャンバ28の出口にも分離部材は必要と
なろう。こうして、チャンバの分離が達成され無定形シ
リコン被着用供給ガスの連続流入およびドープガスの制
御された流入並び消費された反応ガスの真空除去を伴な
って各チャンバ内で制御され平衡を保った操作が維持さ
れ、その結果各チャンバ内に安定なプラズマおよび被着
条件が維持される。 【0028】図4ないし図7にはこの発明によって作製
された太陽電池の4つの例が示されている。図4には複
数個のP−I−N電池80を持つ太陽電池が示されてい
る。基板10は金属であっても絶縁体であってもよい。
電池80は既述のマスクによって相互に分離された帯状
体に形成されたものであってよい。絶縁層16が金属基
板10上に被着されているが、これは基板が絶縁体の場
合は省いてもよい。 【0029】複数個のベースコンタクト(そのうち2つ
が18と20で示されている)が絶縁層16上に被着さ
れている。以後の被着は各コンタクト上で同じであり、
P形層42、ついで真性層44およびn形層46が被着
されている。酸化インジウムースズのようなトップコン
タクト層30が被着され、必要に応じて、AR層が被着
されている。電池は電流を集めるためのグリッド82を
含んでいてもよく、このグリッド82は所望に応じて例
えば接続金層31によって他の電池に電気的に接続され
ていてもよい。そして、電池全体がラミネート層38お
よび40によって保護され囲包されている。 【0030】図5には第二の態様に従うP−I−Nタイ
プの太陽電池装置84が示されている。この装置では、
金属基板10全体にわたってp形層42、真性層44お
よびn形層46が被着されている。個々の電池86は並
列接続され、マスクまたはTCO層30のホトリトグラ
フィーによって規定されている。電池86は電流収集用
のグリッド82´を含んでいてもよく、このグリッドは
所望に応じて接続し得る。 【0031】図6にはガラスのような透明基板を持つ第
三の態様に従うP−I−Nタイプの電池装置88が示さ
れている。この場合、太陽光は基板10から入射するよ
うに示されている。基板にはAR層32が形成され、つ
いで所望によりグリッド90が形成されている。その次
に、p形層42、真性層44およびn形層46が形成さ
れいる。p形層を光の入射側に用いているので、TCO
とp形層の間に中間層を設けてそれらの間の電気的適合
性ないし相容性を改善することが望ましい。ついで、平
行な底部導電体92が最上層46上に所望パターンで被
着される。 【0032】図7には、M−I−Sタイプの装置94が
示されている。金属基板10上にはn形層46および真
性層44が形成されている。層44上に絶縁層96が形
成され、ついで良作用性金属コンタクト98が個々の電
池に形成されている。コンタクト98にAR層32を形
成できる。 【0033】 【発明の効果】この発明の無定形シリコン太陽電池の製
造方法によれば、スリットを含む分離通路によって各半
導体層被着用のチャンバを分離し、しかもスリットには
外部から掃気用のガスを導入することにより、各チャン
バ内のガスが隣接するチャンバ内に混入することを防止
している。また、成膜前後のロール状の基板を、スリッ
トによって半導体層被着用のチャンバから分離された真
空チャンバから搬入あるいは真空チャンバへ搬出する
(巻き取る)ようにしたことにより、異物の付着を防止
している。これらにより、本発明によれば、特性のよい
大面積無定形シリコン太陽電池を製造することができ
る。
の無定形半導体材料で形成された互いに隣接する層をグ
ロー放電法により連続的に被着する無定形シリコン太陽
電池の製造方法に関する。 【0002】 【従来の技術】太陽放射線を使用可能な電気エネルギー
に変換する構造の光電装置が知られている。この種の装
置の一つとして不純物が添加された無定形シリコンの多
層本体を持つシリコン太陽電池がある。このような太陽
電池および電池構造を作製するために不純物添加層をグ
ロー放電チャンバ内で連続的に被着する方法が米国特許
第4226898号に記載されている。この特許による
と、無定形材料からなる不純物添加層および真性層はハ
ウジング内の単一の真空チャンバ内で形成される。そし
て、複数個の導管によって種々の不純物を含む反応ガス
混合物(不純物添加層を形成する場合)および不純物を
含まない反応ガス混合物(真性層を形成する場合)が該
チャンバ内に順次導入される。 【0003】単一チャンバ内におけるバッチ処理方式で
は、最終電池構造の最適化および生産速度が望みの場合
よりも制限されてしまう。相異なるタイプの材料で形成
された隣接層(真性層も含む)を有する多層構造の太陽
電池を単一のグロー放電チャンバ内で作製する場合、複
雑な制御装置や時間のかかる手法が必要となる。特に、
一つ一つの電池を製造するために減圧および加熱をいち
いちおこない、各層を被着した後に冷却をおこなうこと
は電池を作製するための平均時間を大幅に長びかせるこ
ととなる。 【0004】さらに、不所望な処理や他の要因によって
相異なるタイプの材料で形成された層ごとに真性層が汚
染されることは電池を最適に動作させるためには避けな
ければならない。そうするためには、単一チャンバ方式
では、交叉汚染を避けるために中途で排気をおこなう必
要がある。 【0005】 【発明が解決しようとする課題】この発明の目的は、連
続的に無定形半導体材料を被着しても相異なる電気特性
を有する無定形半導体材料よりなる隣接層のそれぞれが
交差汚染を受けることがなく、かつ生産速度を制限され
ることなく製造することができる無定形シリコン太陽電
池の製造方法を提供することにある。 【0006】 【課題を解決するための手段】この発明に従って、相異
なる電気特性を有する無定形半導体材料よりなる隣接層
を別々の環境的に離隔されたグロー放電領域内で基板上
に被着することによって克服することができる。これら
隔離された領域はそれぞれ所定の反応ガス混合物を収容
し、交叉汚染を避けるために相互に分離された複数個の
隣接するチャンバであってよい。基板は隔離された領域
あるいはチャンバ内を順次進行ないし運搬され、個々の
電池構成に必要とされる異なる電気特性を持つ隣接層が
被着される。該基板はステンレス鋼のような連続ウェブ
であってよく、これは実質的に連続的に隔離された領域
ないしチャンバ内に供給され、所望電池構造を得るべく
各層が被着される。特定の電池形状に必要な場合、マス
クを用いてもよい。 【0007】すなわち、この発明の無定形シリコン太陽
電池の製造方法は、ガス導入口とガス排気口とを含みP
型半導体層を被着するためのチャンバと、ガス導入口と
ガス排気口とを含みI型半導体層を被着するためのチャ
ンバと、ガス導入口とガス排気口とを含みN型半導体層
を被着するためのチャンバとを有し、各チャンバが導電
性表面を有する帯状基板の搬入および搬出口に設けられ
たスリットを含む隔離通路を介して分離配置されている
被着装置に、前記基板を搬入し、前記P型半導体層、前
記I型半導体層および前記N型半導体層を積層させてグ
ロー放電により無定形シリコン太陽電池を製造する方法
であって、 第1の真空チャンバ内に前記帯状基板をロー
ル状にして配置する工程と、 前記第1の真空チャンバか
ら前記帯状基板を搬出し、前記スリットを通じて各 チャ
ンバ内に搬入し、前記帯状基板の被着面を下方かつグロ
ー放電を生じるための電極の平坦な面に向けて配置する
工程と、 前記帯状基板を加熱手段により加熱する工程
と、 前記帯状基板と前記電極との間に反応ガスを導入す
ることにより、グロー放電を生ぜしめて前記帯状基板上
に各半導体層を被着せしめる工程と、 隣接する前記チャ
ンバ間の雰囲気を分離するために前記スリットにチャン
バ外部から掃気用ガスを導入する工程と、 各半導体層が
被着された前記帯状基板を第2の真空チャンバ内でロー
ル状に巻き取る工程とを含むことを特徴とする。 【0008】この発明によれば、上述のようにスリット
を含む隔離通路によって各半導体層被着用のチャンバが
分離されており、しかもスリットには外部から掃気用の
ガスが導入されるので、各チャンバ内のガスが隣接する
チャンバ内に混入し難くなる。また、成膜前後のロール
状の基板は、スリットによって半導体層被着用のチャン
バから分離された真空チャンバから搬入あるいは真空チ
ャンバへ搬出され(巻き取られ)るので、異物が付着し
難く、こうして特性のよい大面積無定形シリコン太陽電
池を製造することができる。 【0009】 【発明の実施の形態】以下、図面に沿ってこの発明をさ
らに詳しく説明する。 【0010】図1には、この発明に従う太陽電池の連続
製造システムの一態様における様々な工程が示されてい
る。基板10はその上に無定形シリコンが被着し得るな
らばいずれの所望材料で形成されてもよく、また入射太
陽放射線に対して透明であっても不透明であってもよ
い。また、基板10は搬送機構によって運ばれるウェブ
もしくは個々のプレート例えば金属箔、金属、ガラスま
たはポリマーであってもよい。ステンレス鋼やアルミニ
ウムのような金属またはポリマーである場合、該ウェブ
は大きなロールのような半連続給源から供給できる。連
続ウェブから供給された場合、該基板を穿孔機12に通
し、以後の工程を長手方向に統合させるように基板10
を進行させかつ長手方向の参照印を提供するために該ウ
ェブの両側端部に沿ってスプロケット孔を穿ってもよ
い。もちろん、穿孔およびスプロケット孔は用いなくと
もよく、エッジガイドその他の整合装置を用いてもよ
い。穿孔後、基板10はそれがアルミニウムで形成され
ている場合および所望の場合、陽極酸化浴中に搬送され
そこで基板上、特に、被着がおこなわれる表面上に酸化
アルミニウム絶縁層16(図4参照)が形成される。基
板としてステンレス鋼を用いかつ絶縁層を望む場合、例
えばSiO2 ,Si3 N4 等を被着させることができ
る。 【0011】次に、一連のベースコンタクトを絶縁層上
に所望により形成する。このベースコンタクトはスプロ
ケット孔に対して長手方向に整列させることができ、そ
の結果、ベースコンタクトの適切な位置決めがおこなえ
る。図4には、これらベースコンタクトのうちの2つが
符号18および20で示されている。ベースコンタクト
の配列は図1に示すように選ぶことができ、あるいはそ
の他所定の電池に要求される直列または並列接続配置に
応じて選ぶことができる。このベースコンタクトを形成
するための装置22は通常のものであり、典型的に、機
械的もしくはリトグラフ的マスクの適用、その後のベー
スコンタクトの形成およびその後のマスク除去をおこな
うものである。実際のベースコンタクトの形成は当該分
野で知られた方法例えば蒸着、スパッタ、シルクスクリ
ーニング、プリント等によっておこなうことができ、そ
の詳細は当業者には不要であろう。 【0012】導電性基板は絶縁層およびベースコンタク
トを形成することなくそのまま共通電極として用いるこ
とができ、したがって絶縁層およびベースコンタクトの
形成工程およびマスク工程を省くことができる。この場
合、全ての電池は共通電極となる基板と並列に接続する
(図5参照)。ガラス基板またはポリマー基板を用いる
と、絶縁層を形成しないでよい。 【0013】穿孔、陽極酸化およびベースコンタクトの
形成は、これらがおこなわれる場合、同じ移動する基板
に対して動作し、順次配置された装置を用いて連続的に
おこなってもよいが、これら工程は別々の装置を用い、
各工程後に連続ウェブ基板を巻き取っておこなってもよ
い。重要な、無定形シリコンの基板10への被着は図1
および図2に示す被着チャンバ24,26および28内
でおこなわれる。チャンバ24の内部の一例が図3に示
されている。図2には、3つの別々のチャンバが示され
ているが、一つの大きなチャンバを適当に個々の被着領
域に仕切り、その各領域を個々の導電形(例えば、n
形,P形または真性)の無定形シリコンを被着するため
にのみ用いるようにしてもよい。 【0014】各被着領域は被着層の厚さおよび被着速度
に応じてチャンバの長さまたは複数個の別々のチャンバ
によって規定される。全ての図示の被着領域は互いに分
離されている。この被着系は個々の反応ガス混合物のプ
ラズマから無定形シリコンのP形層、真性層およびn形
層(または、その逆の順序)をグロー放電によって被着
するものである。各層を別々に被着することによって電
気特性の良好な無定形シリコン層を持つ電池が得られ
る。 【0015】無定形シリコン層を被着した後、最上層の
シリコン層上に、光電池によって発生した電流を集める
ためのトップコンタクト層30を被着する(図4)。こ
の層30は、基板10が不透明の場合、放射線エネルギ
ーを各シリコン層に通すために透明な材料で形成され
る。 【0016】普通用いられる透明な導電材料は酸化イン
ジウム−スズ、酸化スズまたは酸化インジウムである。
透明基板上に形成された電池の場合、該構造は基板上に
トップ導電性酸化物(TCO)を、そして最上層上に不
透明コンタクトを形成したものであってよい。殆どの場
合、トップコンタクト層は大きな領域の電池から電流を
集めるに充分な導電性がないので、当業者によく知られ
ているように、TCOとともに適当な金属で形成された
電流収集用グリッドが用いられる。各電池が電気的に絶
縁されている(共通層によって並列接続されていない)
場合、金属接続31をさらに被着して個々の電池を直列
もしくは並列接続することができる(図 4)。 【0017】無定形シリコン層は可視太陽放射線を非常
に反射させるものであるから、入射エネルギーの多くは
反射されてしまう。このエネルギー損失を防止するため
に、反射防止(AR)層32を形成する(図6)。この
AR層は反射する光の量を減少させる。AR層は硫化亜
鉛、酸化ジルコニウム、窒化シリコンおよび酸化チタン
のような誘電材料で形成することができる。しかし、T
COをトップコンタクト層として用いた場合、該TCO
層の厚さをそれがトップコンタクトおよびAR層として
作用するように選ぶことができる。こうすると、電池構
造および製造工程が簡略化される。図1に示す被着装置
34はトップコンタクト層30およびAR層32を、こ
れらが用いられる場合、被着するものである。これらの
被着によって太陽電池構造は完結するが、これを物理的
損傷から保護するために、ラミネートをおこなうことが
望ましい。ラミネータ36によって、太陽電池構造の全
要素が形成されている基板の表面および裏面に保護ウェ
ブ38および40が適用される。このラミネート工程が
終ったならば、太陽電池を外部と接続することができ、
ウェブ基板は、それが用いられた場合、所望電圧および
電流を供給するために要求される通りに切断される。こ
うして、連続帯状体が提供され、太陽電池の経済的な製
造が達成される。 【0018】この発明において重要な点は図2に概略的
に示す被着チャンバ24,26および28内における無
定形シリコンの被着である。三つの分離された被着チャ
ンバはP形無定形シリコン層42、真性無定形シリコン
層44およびn形無定形シリコン層46(図4)を順次
被着するためのものとして示されている。既述のよう
に、チャンバ24,26および28は個々の反応ガス混
合物の成分が混入し合うのを避けるために相互に隔離さ
れている。被着は逆の順序でおこなってもよい。図4に
示す層配置は頂部から入射する光に対するものである。
不透明基板10の代りに透明な基板を用いた場合、入射
光は基板側から受け取られる(図6)。さらに、所望に
応じて、ショットキ障壁すなわちM−I−Sを用いるこ
とができる(図7)。すなわち、被着チャンバあるいは
領域の数および長さ、その位置および被着する材料は所
望の太陽電池構造に従って選択することができるのであ
る。 【0019】図3には、被着チャンバ24の一例がより
詳しく示されている。図3において、基板10は該図面
を見る者に向って移動する。ハウジング48は被着チャ
ンバを囲包し、以後述べるように、実質的に連続的に基
板10を進入・退出させる。加熱器50は基板10の近
傍に位置する大面積赤外線ヒータであってよい(図
3)。被着は基板10の反対側表面で生じる。基板の加
熱およびその温度制御は本件と同時に米国にロバート・
エフ・エジャートン(Robert F・Edgert
on)によって出願された「アパラタス・フォー・レギ
ュレイティング・サブストレート・テンパラチャー・イ
ン・ア・コンティニュアス・プラズマ・デポジション・
プロセス」という名称の米国出願に記載された方法およ
び装置によっておこなうことができる。 【0020】処理用仕込みガスは例えばガスを基板10
の表面に沿って基板の進行方向に直交する方向におよび
基板の中心に向う流れとして案内する開口(図示しな
い)を有する一対のマニホールド52および54から、
基板10の被着側に供給される。あるいは、反応ガスは
例えば本件と同時に米国にマサツグ・イズ、チモシー・
ジェイ・バーナード(Timothy・J・Barna
rd)およびデイビット・エイ・ガッツソ(David
A・Guttuso)によって出願された「カソード
・フォー・ジェネレイティング・ア・プラズマ」という
名称の米国出願に記載されている装置によって均一に案
内することができる。 【0021】反応チャンバに供給されるガスは好ましく
はSiF4 および水素であり、アルゴンあるいは他のガ
ス例えば米国特許第4226898号もしくは本件と同
時に米国にビンセント・デー・カネラ(Vincent
D・Cannella)およびマサツグ・イズによっ
て出願された「インプルーブド・メソッド・フォー・プ
ラズマ・デポジション・オブ・アモルファス・マテリア
ル」という名称の米国出願に記載されている不活性ガス
のような不活性希釈ガスを含んでいてもよい。均一なガ
ス流が望ましく、したがって多数の開口部がマニホール
ドに形成されており、これらは基板の被着側と実質的に
平行におよび隣接して設けることができる。 【0022】排気ポート56が真空ポンプ(図示しな
い)に接続しており、これによって消費されたガスが排
出され圧力平衡を維持する。電極58が基板10から離
れて設置されており、それらの間でプラズマが発生す
る。ガスは電極58を通って、好ましくは複数個の開口
60を通って排出され均一流を維持する。プラズマ中に
おいて、処理用ガスは主にフッ化シリコン−水素ガス混
合物であり、種々の種例えばSiF4 ,SiF3 ,Si
F2 ,SiFや水素を含む他の種例えばSiHF,Si
HF2 ,SiHF3 等さらに当該分野でよく知られたド
ープ成分を含む。当業者にわかるように、これら種のい
くつかは遷移性のものである。排気ポート56の所で達
成される真空ないし減圧はグロー放電プラズマが基板1
0の面で維持されうるような圧力を提供するものであ
る。0.1ないし3トルの範囲の圧力が好ましい。 【0023】基板10は接地されているが、電極58
は、無定形シリコン層が被着されるグロー放電プラズマ
を基板10の近傍に発生させ維持するための電気エネル
ギを供給する電源62に接続している。電源62はラジ
オ周波領域で動作するAC電源であるのが典型である
が、グロー放電プラズマを発生させる電圧で動作するD
C電源であってもよい。ラジオ周波電力を望む場合、電
源は例えば前記三番目に記した米国出願に記載されてい
る通り低電力で50ないし200キロヘルツで動作し得
る。グロー放電プラズマを発生させる供給電力に加え
て、電源62は電極と基板10間にDCバイアスを印加
して基板バイアスを制御することができる。プラズマと
交叉して印加されるDCバイアスによってプラズマから
の無定形シリコンの被着工程がよりよく制御される。デ
ィスクリートタイプのまたは帯状の電池を作製する場
合、プラズマによって無定形シリコンを所望部分にのみ
被着させるように基板面をマスクする必要があるかもし
れない。このマスクは基板10の面に近接して共に移動
するマスクベルト64(図2)によっておこなえる。位
置合せは基板の端部に形成された孔によっておこなうこ
とができ、マスク64は基板に対して適切に位置するよ
うになる。帯状電池は各チャンバを通る基板の進行方向
と平行に配置することもでき、その場合、長手方向の位
置合せは不要となる。マスク64は連続帯状マスクであ
り、ハウジング48内の案内ロール65(図2)の回り
を動く。マスクベルト64の下側の作用しない部分63
(図2)は電極58の下に位置していてもよい。マスク
ベルトは開放領域が大きいので、排気ポート56から真
空ポンプに至る排出ガスの流れを妨害することはない。
各被着チャンバ24,26および28は互いに類似のも
ので、被着チャンバ26と28はそれぞれ基板10の前
進方向に移動するマスクベルト66と58を備えてい
る。 【0024】各被着チャンバ24,26および28は同
じ構造であってよいが、それぞれが被着する層のタイプ
によってそれぞれの中で発生するプラズマの成分はやや
異なる。マニホールドに供給されるガスは各被着チャン
バに応じて異なるものであってよいが、各チャンバ内へ
の供給ガスを同一とし、別の処でドープガス例えばn導
電形を与えるホスフィン(PH3 )またはp導電形を与
えるジボラン(B2 H6 )を供給するようにしてもよ
い。例えば、アルゴンのような不活性ガス中のドープガ
ス源を別に設けることができる。基板10の被着表面に
供給されるガスの流れは均一であることが望ましいの
で、ドープガスと不活性ガスとの混合ガス源を別に設け
た場合、ガスがマニホールド52および54中に供給さ
れマニホールドの開口から放出される前に混合しておく
ことが好ましい。各被着チャンバ24,26および28
内における基板10の滞留時間は被着すべき層の被着速
度および厚さに応じて異なる。例えば、P−I−N装置
を作る場合、それぞれの層の厚さは50〜200Å、2
000〜6000Åおよび100〜500Åであり得
る。すなわち、連続ウェブ系では異なる被着領域は被着
すべき厚さに比例した長さのものである。被着層の厚さ
は例えば本件と同時に米国にロバート・エフ・エジャー
トン(Robert F・Edgerton)によって
「オプチカル・メソッズ・フォー・コントローリング・
レイヤー・シックネス」という名称で出願された米国出
願に記載された方法および装置によって監視し制御する
ことができる。 【0025】無定形シリコンのプラズマ被着用供給ガス
およびドープガス等各被着チャンバ24,26および2
8内の工程可変因子を制御するためにそれぞれに制御装
置70,72および74が接続されている。また、適切
なプラズマ放電の平衡を維持する適切な圧力レベルを維
持するために真空ポンプも制御され、加熱器の温度も制
御される。こうして、連続製造がおこなえる。この装置
系は基板をゆっくりと連続的に進行させて、あるいは基
板の所要部分を一工程から次の工程へと循環させて動作
させることができる。 【0026】各被着チャンバは無定形シリコン被着の正
確な条件を提供しかつ適切な不純物添加レベルもしくは
ドープレベルを達成するために制御されたガス雰囲気を
持つ必要がある。基板10が各チャンバに入りあるいは
そこから退出するスリットは狭いが、相互混合・汚染を
防止する手段が要求される。この手段は基板10が通過
し得る狭いスリットを持ち基板を囲包する分離部材76
および78によって提供される。各分離部材中のスリッ
トは排気されてもあるいはアルゴンその他の不活性ガス
を流して、分離部材を通る基板10から全ての反応ガス
を除去してもよい。 【0027】上記分離部材は例えば本件と同時に米国に
マサツグ・イズおよびディビッド・エイ・ガッツソ(D
avid A・Gattuso)によって「アイソレー
ション・バルブ」という名称で出願された米国特許に記
載された分離弁であってもよい。図2において、供給お
よび引取りは真空チャンバ内でおこなうものとして示さ
れているが、完全な連続系では基板は他の工程から進入
し、他の工程へと退出するであろうから、チャンバ24
の入口およびチャンバ28の出口にも分離部材は必要と
なろう。こうして、チャンバの分離が達成され無定形シ
リコン被着用供給ガスの連続流入およびドープガスの制
御された流入並び消費された反応ガスの真空除去を伴な
って各チャンバ内で制御され平衡を保った操作が維持さ
れ、その結果各チャンバ内に安定なプラズマおよび被着
条件が維持される。 【0028】図4ないし図7にはこの発明によって作製
された太陽電池の4つの例が示されている。図4には複
数個のP−I−N電池80を持つ太陽電池が示されてい
る。基板10は金属であっても絶縁体であってもよい。
電池80は既述のマスクによって相互に分離された帯状
体に形成されたものであってよい。絶縁層16が金属基
板10上に被着されているが、これは基板が絶縁体の場
合は省いてもよい。 【0029】複数個のベースコンタクト(そのうち2つ
が18と20で示されている)が絶縁層16上に被着さ
れている。以後の被着は各コンタクト上で同じであり、
P形層42、ついで真性層44およびn形層46が被着
されている。酸化インジウムースズのようなトップコン
タクト層30が被着され、必要に応じて、AR層が被着
されている。電池は電流を集めるためのグリッド82を
含んでいてもよく、このグリッド82は所望に応じて例
えば接続金層31によって他の電池に電気的に接続され
ていてもよい。そして、電池全体がラミネート層38お
よび40によって保護され囲包されている。 【0030】図5には第二の態様に従うP−I−Nタイ
プの太陽電池装置84が示されている。この装置では、
金属基板10全体にわたってp形層42、真性層44お
よびn形層46が被着されている。個々の電池86は並
列接続され、マスクまたはTCO層30のホトリトグラ
フィーによって規定されている。電池86は電流収集用
のグリッド82´を含んでいてもよく、このグリッドは
所望に応じて接続し得る。 【0031】図6にはガラスのような透明基板を持つ第
三の態様に従うP−I−Nタイプの電池装置88が示さ
れている。この場合、太陽光は基板10から入射するよ
うに示されている。基板にはAR層32が形成され、つ
いで所望によりグリッド90が形成されている。その次
に、p形層42、真性層44およびn形層46が形成さ
れいる。p形層を光の入射側に用いているので、TCO
とp形層の間に中間層を設けてそれらの間の電気的適合
性ないし相容性を改善することが望ましい。ついで、平
行な底部導電体92が最上層46上に所望パターンで被
着される。 【0032】図7には、M−I−Sタイプの装置94が
示されている。金属基板10上にはn形層46および真
性層44が形成されている。層44上に絶縁層96が形
成され、ついで良作用性金属コンタクト98が個々の電
池に形成されている。コンタクト98にAR層32を形
成できる。 【0033】 【発明の効果】この発明の無定形シリコン太陽電池の製
造方法によれば、スリットを含む分離通路によって各半
導体層被着用のチャンバを分離し、しかもスリットには
外部から掃気用のガスを導入することにより、各チャン
バ内のガスが隣接するチャンバ内に混入することを防止
している。また、成膜前後のロール状の基板を、スリッ
トによって半導体層被着用のチャンバから分離された真
空チャンバから搬入あるいは真空チャンバへ搬出する
(巻き取る)ようにしたことにより、異物の付着を防止
している。これらにより、本発明によれば、特性のよい
大面積無定形シリコン太陽電池を製造することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の太陽電池製造工程を示す図である。
【図2】この発明の被着チャンバを示す図である。
【図3】図2に示すチャンバの構成を一部切欠して示す
図である。 【図4】この発明に従って得た太陽電池構造を示す断面
図である。 【図5】この発明に従って得た太陽電池構造を示す断面
図である。 【図6】この発明に従って得た太陽電池構造を示す断面
図である。 【図7】この発明に従って得た太陽電池構造を示す断面
図である。 【符号の説明】10 基板 14 陽極酸化浴 16 絶縁層 18,20 ベースコンタクト 24,26,28 被着チャンバ 30 トップコンタクト層 32 反射防止層 38,40 保護ウェブ 42 p形無定形シリコン層 44 真性無定形シリコン層 46 n形無定形シリコン層 56 排気ポート 58 電極 60 開口 62 電源 64,66,68 マスク 52,54 マニホールド 76,78 分離部材 82,82´,90 グリッド
図である。 【図4】この発明に従って得た太陽電池構造を示す断面
図である。 【図5】この発明に従って得た太陽電池構造を示す断面
図である。 【図6】この発明に従って得た太陽電池構造を示す断面
図である。 【図7】この発明に従って得た太陽電池構造を示す断面
図である。 【符号の説明】10 基板 14 陽極酸化浴 16 絶縁層 18,20 ベースコンタクト 24,26,28 被着チャンバ 30 トップコンタクト層 32 反射防止層 38,40 保護ウェブ 42 p形無定形シリコン層 44 真性無定形シリコン層 46 n形無定形シリコン層 56 排気ポート 58 電極 60 開口 62 電源 64,66,68 マスク 52,54 マニホールド 76,78 分離部材 82,82´,90 グリッド
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 マサツグ・イズ
アメリカ合衆国,ミシガン州,バーミン
ガム,ベルバイン・トレイル 31515
(72)発明者 ビンセント・デビツド・キヤネラ
アメリカ合衆国,ミシガン州,デトロイ
ト,シユリユースベリー 19961
(72)発明者 スタンフオード・ロバート・オブシンス
キー
アメリカ合衆国,ミシガン州,ブルーム
フイールド・ヒルズ,スクワイレル・ロ
ード 2700
(56)参考文献 特開 昭55−59783(JP,A)
特開 昭54−91048(JP,A)
特開 昭54−109767(JP,A)
特開 昭55−4994(JP,A)
特開 昭51−141587(JP,A)
特開 昭56−78416(JP,A)
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 1.ガス導入口とガス排気口とを含みP型半導体層を被
着するためのチャンバと、ガス導入口とガス排気口とを
含みI型半導体層を被着するためのチャンバと、ガス導
入口とガス排気口とを含みN型半導体層を被着するため
のチャンバとを有し、各チャンバが導電性表面を有する
帯状基板の搬入および搬出口に設けられたスリットを含
む隔離通路を介して分離配置されている被着装置に、前
記基板を搬入し、前記P型半導体層、前記I型半導体層
および前記N型半導体層を積層させてグロー放電により
無定形シリコン太陽電池を製造する方法であって、 第1の真空チャンバ内に前記帯状基板をロール状にして
配置する工程と、 前記第1の真空チャンバから前記帯状基板を搬出し、前
記スリットを通じて各チャンバ内に搬入し、前記帯状基
板の被着面を下方かつグロー放電を生じるための電極の
平坦な面に向けて配置する工程と、 前記帯状基板を加熱手段により加熱する工程と、 前記帯状基板と前記電極との間に反応ガスを導入するこ
とにより、グロー放電を生ぜしめて前記帯状基板上に各
半導体層を被着せしめる工程と、 隣接する前記チャンバ間の雰囲気を分離するために前記
スリットにチャンバ外部から掃気用ガスを導入する工程
と、 各半導体層が被着された前記帯状基板を第2の真空チャ
ンバ内でロール状に巻き取る工程とを含むことを特徴と
する無定形シリコン太陽電池の製造方法。 2.前記P型またはN型半導体層を被着せしめる段階に
おいて、 不純物を反応ガス中に導入することを特徴とする特許請
求の範囲第1項に記載の無定形シリコン太陽電池の製造
方法。 3.前記電極にACを印加するとともに基板に対するD
Cバイアスを前記電極に対して印加することを特徴とす
る特許請求の範囲第1項に記載の無定形シリコン太陽電
池の製造方法。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US151301 | 1980-05-19 | ||
US06/151,301 US4400409A (en) | 1980-05-19 | 1980-05-19 | Method of making p-doped silicon films |
US06/240,493 US4410558A (en) | 1980-05-19 | 1981-03-16 | Continuous amorphous solar cell production system |
US240493 | 1981-03-16 |
Related Parent Applications (1)
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ID=26848504
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Families Citing this family (92)
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EP0087479A4 (en) * | 1981-09-11 | 1985-04-24 | Konishiroku Photo Ind | METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING AN AMORPHON SILICONE SUN BATTERY. |
EP0078541B1 (en) * | 1981-11-04 | 1991-01-16 | Kanegafuchi Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Flexible photovoltaic device |
JPH06188443A (ja) * | 1981-12-28 | 1994-07-08 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 可撓性光起電力装置 |
US4485125A (en) * | 1982-03-19 | 1984-11-27 | Energy Conversion Devices, Inc. | Method for continuously producing tandem amorphous photovoltaic cells |
US4423701A (en) * | 1982-03-29 | 1984-01-03 | Energy Conversion Devices, Inc. | Glow discharge deposition apparatus including a non-horizontally disposed cathode |
GB2117971A (en) * | 1982-04-05 | 1983-10-19 | Hitachi Ltd | Amorphous silicon photovoltaic device |
US4440107A (en) * | 1982-07-12 | 1984-04-03 | Energy Conversion Devices, Inc. | Magnetic apparatus for reducing substrate warpage |
EP0103168A3 (en) * | 1982-09-10 | 1986-07-02 | Hitachi, Ltd. | Amorphous silicon solar battery |
US4574733A (en) * | 1982-09-16 | 1986-03-11 | Energy Conversion Devices, Inc. | Substrate shield for preventing the deposition of nonhomogeneous films |
IN161171B (ja) | 1982-09-16 | 1987-10-10 | Energy Conversion Devices Inc | |
IL69756A0 (en) * | 1982-09-24 | 1983-12-30 | Energy Conversion Devices Inc | System and method for making large area photovoltaic devices |
US4517223A (en) * | 1982-09-24 | 1985-05-14 | Sovonics Solar Systems | Method of making amorphous semiconductor alloys and devices using microwave energy |
JPS5961077A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-04-07 | Nippon Denso Co Ltd | アモルフアスシリコン太陽電池 |
US4462333A (en) * | 1982-10-27 | 1984-07-31 | Energy Conversion Devices, Inc. | Process gas introduction, confinement and evacuation system for glow discharge deposition apparatus |
US4520757A (en) * | 1982-10-27 | 1985-06-04 | Energy Conversion Devices, Inc. | Process gas introduction, confinement and evacuation system for glow discharge deposition apparatus |
DE3239676A1 (de) * | 1982-10-27 | 1984-05-03 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren zur herstellung von solargeneratoren |
US4485264A (en) * | 1982-11-09 | 1984-11-27 | Energy Conversion Devices, Inc. | Isolation layer for photovoltaic device and method of producing same |
AU2095083A (en) * | 1982-11-09 | 1984-05-17 | Energy Conversion Devices Inc. | Laminated strip of large area solar cells |
US4515107A (en) * | 1982-11-12 | 1985-05-07 | Sovonics Solar Systems | Apparatus for the manufacture of photovoltaic devices |
US4529829A (en) * | 1982-11-24 | 1985-07-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Photoelectric conversion device |
JPS59201471A (ja) * | 1983-04-29 | 1984-11-15 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光電変換半導体装置 |
JPS60119784A (ja) * | 1983-12-01 | 1985-06-27 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 絶縁金属基板の製法およびそれに用いる装置 |
JPH0614552B2 (ja) * | 1983-02-02 | 1994-02-23 | 富士ゼロックス株式会社 | 光電変換素子の製造方法 |
JPS59143362A (ja) * | 1983-02-03 | 1984-08-16 | Fuji Xerox Co Ltd | パツシベ−シヨン膜 |
JPS59217378A (ja) * | 1983-05-25 | 1984-12-07 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光電変換装置 |
US4696885A (en) * | 1983-09-06 | 1987-09-29 | Energy Conversion Devices, Inc. | Method of forming a large surface area integrated circuit |
DE3400843A1 (de) * | 1983-10-29 | 1985-07-18 | VEGLA Vereinigte Glaswerke GmbH, 5100 Aachen | Verfahren zum herstellen von autoglasscheiben mit streifenfoermigen blendschutzfiltern durch bedampfen oder sputtern, und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
US4514579A (en) * | 1984-01-30 | 1985-04-30 | Energy Conversion Devices, Inc. | Large area photovoltaic cell and method for producing same |
DE3418078A1 (de) * | 1984-05-16 | 1985-11-21 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren zur herstellung eines traegermaterials fuer die solarzellen eines solargenerators |
DE3528087C2 (de) * | 1984-08-06 | 1995-02-09 | Showa Aluminum Corp | Substrat für Solarzellen aus amorphem Silicium |
US4624862A (en) * | 1984-11-05 | 1986-11-25 | Energy Conversion Devices, Inc. | Boron doped semiconductor materials and method for producing same |
JPS61136220A (ja) * | 1984-12-07 | 1986-06-24 | Fuji Electric Co Ltd | 微結晶シリコン膜の形成方法 |
US4566403A (en) * | 1985-01-30 | 1986-01-28 | Sovonics Solar Systems | Apparatus for microwave glow discharge deposition |
EP0189976A3 (en) * | 1985-01-30 | 1987-12-02 | Energy Conversion Devices, Inc. | Extremely lightweight, flexible semiconductor device arrays and method of making same |
US4759993A (en) * | 1985-04-25 | 1988-07-26 | Ovonic Synthetic Materials Co., Inc. | Plasma chemical vapor deposition SiO2-x coated articles and plasma assisted chemical vapor deposition method of applying the coating |
CA1289512C (en) * | 1985-07-29 | 1991-09-24 | Vincent D. Cannella | Depositing an electrical insulator with unidirectional gas flow in series of chambers |
US4664951A (en) * | 1985-07-31 | 1987-05-12 | Energy Conversion Devices, Inc. | Method provided for corrective lateral displacement of a longitudinally moving web held in a planar configuration |
US4663829A (en) * | 1985-10-11 | 1987-05-12 | Energy Conversion Devices, Inc. | Process and apparatus for continuous production of lightweight arrays of photovoltaic cells |
US4663828A (en) * | 1985-10-11 | 1987-05-12 | Energy Conversion Devices, Inc. | Process and apparatus for continuous production of lightweight arrays of photovoltaic cells |
US4874631A (en) * | 1986-06-23 | 1989-10-17 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Multi-chamber deposition system |
US4841908A (en) * | 1986-06-23 | 1989-06-27 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Multi-chamber deposition system |
IL82673A0 (en) * | 1986-06-23 | 1987-11-30 | Minnesota Mining & Mfg | Multi-chamber depositions system |
US4766500A (en) * | 1986-07-15 | 1988-08-23 | Ovonic Imaging Systems, Inc. | Method of replicating images on a contoured image-bearing surface |
US4725890A (en) * | 1986-07-15 | 1988-02-16 | Ovonic Imaging Systems, Inc. | Flexible array of photosensitive elements |
US5155565A (en) * | 1988-02-05 | 1992-10-13 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Method for manufacturing an amorphous silicon thin film solar cell and Schottky diode on a common substrate |
US5001939A (en) * | 1988-08-04 | 1991-03-26 | Minnesota Mining And Manufacturing Co. | Surface characterization apparatus and method |
US5053625A (en) * | 1988-08-04 | 1991-10-01 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Surface characterization apparatus and method |
US4888061A (en) * | 1988-09-01 | 1989-12-19 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Thin-film solar cells resistant to damage during flexion |
US5180686A (en) * | 1988-10-31 | 1993-01-19 | Energy Conversion Devices, Inc. | Method for continuously deposting a transparent oxide material by chemical pyrolysis |
DE4324320B4 (de) * | 1992-07-24 | 2006-08-31 | Fuji Electric Co., Ltd., Kawasaki | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung einer als dünne Schicht ausgebildeten fotovoltaischen Umwandlungsvorrichtung |
DE4225385C2 (de) * | 1992-07-31 | 1994-09-29 | Siemens Solar Gmbh | Verfahren zur kostengünstigen Herstellung einer Schicht eines ternären Verbindungshalbleiters |
US5946587A (en) * | 1992-08-06 | 1999-08-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Continuous forming method for functional deposited films |
EP0584722A1 (de) * | 1992-08-22 | 1994-03-02 | HOESCH SIEGERLANDWERKE GmbH | Verfahren zur Herstellung von mit Fotovoltaikmodulen versehenen Bauelementen |
US6720576B1 (en) | 1992-09-11 | 2004-04-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Plasma processing method and photoelectric conversion device |
US5821597A (en) * | 1992-09-11 | 1998-10-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Photoelectric conversion device |
US5563095A (en) * | 1994-12-01 | 1996-10-08 | Frey; Jeffrey | Method for manufacturing semiconductor devices |
US5674325A (en) * | 1995-06-07 | 1997-10-07 | Photon Energy, Inc. | Thin film photovoltaic device and process of manufacture |
JP3017422B2 (ja) * | 1995-09-11 | 2000-03-06 | キヤノン株式会社 | 光起電力素子アレー及びその製造方法 |
US5920078A (en) * | 1996-06-20 | 1999-07-06 | Frey; Jeffrey | Optoelectronic device using indirect-bandgap semiconductor material |
DE19731853A1 (de) * | 1997-07-24 | 1999-03-04 | Kti Kirstein Ges Fuer Innovati | Solarzelleneinheit sowie Verfahren zu deren Herstellung |
US6287888B1 (en) | 1997-12-26 | 2001-09-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Photoelectric conversion device and process for producing photoelectric conversion device |
US6017585A (en) * | 1998-02-24 | 2000-01-25 | National Semiconductor Corporation | High efficiency semiconductor wafer coating apparatus and method |
US6316283B1 (en) * | 1998-03-25 | 2001-11-13 | Asulab Sa | Batch manufacturing method for photovoltaic cells |
JP2002520818A (ja) | 1998-07-02 | 2002-07-09 | アストロパワー | シリコン薄膜,集積化された太陽電池,モジュール,及びその製造方法 |
EP1014426A3 (en) * | 1998-12-22 | 2004-02-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for processing a substrate |
JP4841023B2 (ja) * | 2000-02-10 | 2011-12-21 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 成膜装置及び太陽電池の作製方法 |
DE50114283D1 (de) * | 2000-03-09 | 2008-10-16 | Isovolta | Verfahren zum herstellen eines photovoltaischen dünnfilm-moduls |
JP4316767B2 (ja) | 2000-03-22 | 2009-08-19 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 基板処理装置 |
JP4439665B2 (ja) | 2000-03-29 | 2010-03-24 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | プラズマcvd装置 |
FR2818442B1 (fr) * | 2000-12-20 | 2003-10-17 | Energy Systems Internat Bv | Dispositif photovoltaique formant vitrage |
JP2002208563A (ja) * | 2001-01-09 | 2002-07-26 | Ebara Corp | 被加工物の加工装置及び加工方法 |
JP2003031823A (ja) * | 2001-07-11 | 2003-01-31 | Toppan Printing Co Ltd | 薄膜太陽電池 |
JP3504940B2 (ja) * | 2002-05-17 | 2004-03-08 | 沖電気工業株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
US20090277502A1 (en) * | 2006-04-14 | 2009-11-12 | Atsushi Yoshida | Solar cell, solar cell module using the solar cell and method for manufacturing the solar cell module |
US7982127B2 (en) * | 2006-12-29 | 2011-07-19 | Industrial Technology Research Institute | Thin film solar cell module of see-through type |
EP2118929A2 (en) * | 2007-02-01 | 2009-11-18 | Corus UK LTD. | A power generating element for conversion of light into electricity and process for manufacturing thereof |
US20090023274A1 (en) * | 2007-07-07 | 2009-01-22 | Xinmin Cao | Hybrid Chemical Vapor Deposition Process Combining Hot-Wire CVD and Plasma-Enhanced CVD |
JP2010538475A (ja) * | 2007-08-31 | 2010-12-09 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 多サイズの光起電デバイスを形成するための生産ラインモジュール |
US20100047954A1 (en) * | 2007-08-31 | 2010-02-25 | Su Tzay-Fa Jeff | Photovoltaic production line |
EP2053663A1 (en) * | 2007-10-25 | 2009-04-29 | Applied Materials, Inc. | Hover cushion transport for webs in a web coating process |
US20090188603A1 (en) * | 2008-01-25 | 2009-07-30 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for controlling laminator temperature on a solar cell |
FR2936241B1 (fr) * | 2008-09-24 | 2011-07-15 | Saint Gobain | Electrode avant pour cellule solaire avec revetement antireflet. |
WO2010078022A2 (en) * | 2008-12-17 | 2010-07-08 | Alta Devices, Inc. | Tape-based epitaxial lift off apparatuses and methods |
US20100229938A1 (en) * | 2009-03-11 | 2010-09-16 | Fujifilm Corporation | Aluminum alloy substrate and solar cell substrate |
JP2010232454A (ja) * | 2009-03-27 | 2010-10-14 | Fujifilm Corp | 基板とその位置決め方法、光電変換素子とその製造方法及び製造装置、及び太陽電池 |
JP4629153B1 (ja) * | 2009-03-30 | 2011-02-09 | 富士フイルム株式会社 | 太陽電池および太陽電池の製造方法 |
JP5498221B2 (ja) * | 2009-04-08 | 2014-05-21 | 富士フイルム株式会社 | 半導体装置及びそれを用いた太陽電池 |
US20100273279A1 (en) * | 2009-04-27 | 2010-10-28 | Applied Materials, Inc. | Production line for the production of multiple sized photovoltaic devices |
US20110065227A1 (en) * | 2009-09-15 | 2011-03-17 | Applied Materials, Inc. | Common laser module for a photovoltaic production line |
CN102859034B (zh) * | 2010-04-30 | 2015-04-29 | 应用材料公司 | 垂直直列cvd系统 |
EP2395567B1 (en) | 2010-06-10 | 2018-10-03 | Solarwave AB | A method for producing a solar cell module |
US8101245B1 (en) * | 2010-08-12 | 2012-01-24 | Ovshinsky Innovation, Llc | Plasma deposition of amorphous semiconductors at microwave frequencies |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3367304A (en) * | 1967-03-13 | 1968-02-06 | Dow Corning | Deposition chamber for manufacture of refractory coated filaments |
FR2133498B1 (ja) * | 1971-04-15 | 1977-06-03 | Labo Electronique Physique | |
US4058418A (en) * | 1974-04-01 | 1977-11-15 | Solarex Corporation | Fabrication of thin film solar cells utilizing epitaxial deposition onto a liquid surface to obtain lateral growth |
US3969163A (en) * | 1974-09-19 | 1976-07-13 | Texas Instruments Incorporated | Vapor deposition method of forming low cost semiconductor solar cells including reconstitution of the reacted gases |
JPS51141587A (en) * | 1975-05-30 | 1976-12-06 | Sharp Kk | Method of producing solar battery |
US4064521A (en) * | 1975-07-28 | 1977-12-20 | Rca Corporation | Semiconductor device having a body of amorphous silicon |
US4152535A (en) * | 1976-07-06 | 1979-05-01 | The Boeing Company | Continuous process for fabricating solar cells and the product produced thereby |
US4226897A (en) * | 1977-12-05 | 1980-10-07 | Plasma Physics Corporation | Method of forming semiconducting materials and barriers |
JPS54109767A (en) * | 1978-02-16 | 1979-08-28 | Sony Corp | Forming method of amorphous semiconductor layer |
US4226898A (en) * | 1978-03-16 | 1980-10-07 | Energy Conversion Devices, Inc. | Amorphous semiconductors equivalent to crystalline semiconductors produced by a glow discharge process |
DE2827049A1 (de) * | 1978-06-20 | 1980-01-10 | Siemens Ag | Solarzellenbatterie und verfahren zu ihrer herstellung |
JPS5559783A (en) * | 1978-10-27 | 1980-05-06 | Canon Inc | Electronic device with solar battery |
DE2900724C2 (de) * | 1979-01-10 | 1986-05-28 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Vorrichtung zur Beschichtung von Substraten im Vakuum |
JPS5934421B2 (ja) * | 1979-11-29 | 1984-08-22 | 住友電気工業株式会社 | 薄膜製造法 |
-
1981
- 1981-03-16 US US06/240,493 patent/US4410558A/en not_active Expired - Lifetime
- 1981-05-07 EP EP81302029A patent/EP0041773B1/en not_active Expired
- 1981-05-07 DE DE8181302029T patent/DE3172482D1/de not_active Expired
- 1981-05-15 BR BR8103024A patent/BR8103024A/pt not_active IP Right Cessation
- 1981-05-19 MX MX187392A patent/MX155842A/es unknown
-
1991
- 1991-02-21 JP JP3112649A patent/JP2741638B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
BR8103024A (pt) | 1982-02-09 |
MX155842A (es) | 1988-05-11 |
EP0041773B1 (en) | 1985-10-02 |
DE3172482D1 (en) | 1985-11-07 |
JPH0738125A (ja) | 1995-02-07 |
EP0041773A1 (en) | 1981-12-16 |
US4410558A (en) | 1983-10-18 |
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