JP2662100B2 - 光電変換素子の位置検出方法 - Google Patents
光電変換素子の位置検出方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、基準線を読み取って得
られる出力信号の分布から、前記基準線に対する光電変
換素子の位置を高精度に検出することのできる光電変換
素子の位置検出方法に関する。
られる出力信号の分布から、前記基準線に対する光電変
換素子の位置を高精度に検出することのできる光電変換
素子の位置検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、印刷、製版用のスキャナ等にお
いて、画像の撮像を行う場合に、複数の光電変換部をラ
イン状に配列した、いわゆる、ラインセンサが用いられ
ている。この場合、前記ラインセンサは、副走査搬送さ
れる原稿を主走査することで、その画像情報を二次元的
に読み取る。
いて、画像の撮像を行う場合に、複数の光電変換部をラ
イン状に配列した、いわゆる、ラインセンサが用いられ
ている。この場合、前記ラインセンサは、副走査搬送さ
れる原稿を主走査することで、その画像情報を二次元的
に読み取る。
【０００３】このようなラインセンサを用いてカラー画
像を読み取る場合には、例えば、各色毎にラインセンサ
を配設し、且つ、各ラインセンサの相対位置を高精度に
設定する必要がある。また、画像を高分解能で読み取る
ため、複数のラインセンサを主走査方向に接続し、画素
数を増大させる構成が採られているものもある。この場
合においても、接続されるラインセンサの相対位置を高
精度に設定する必要がある。
像を読み取る場合には、例えば、各色毎にラインセンサ
を配設し、且つ、各ラインセンサの相対位置を高精度に
設定する必要がある。また、画像を高分解能で読み取る
ため、複数のラインセンサを主走査方向に接続し、画素
数を増大させる構成が採られているものもある。この場
合においても、接続されるラインセンサの相対位置を高
精度に設定する必要がある。
【０００４】そこで、上述したラインセンサの配置を検
査するため、例えば、ラインセンサによって基準線を読
み取り、その出力画像における前記基準線のずれ等よ
り、ラインセンサの相対的な位置ずれ等を検出する手法
が採られている。
査するため、例えば、ラインセンサによって基準線を読
み取り、その出力画像における前記基準線のずれ等よ
り、ラインセンサの相対的な位置ずれ等を検出する手法
が採られている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た手法では、１つの光電変換部に対応する１画素または
１／２画素程度のレベルでのずれ量しか検出することが
できず、特にカラー画像の場合では色ずれが視認されて
しまうことになる。また、ラインセンサを主走査方向に
接続した場合では、線ずれや、すじの発生するおそれが
ある。
た手法では、１つの光電変換部に対応する１画素または
１／２画素程度のレベルでのずれ量しか検出することが
できず、特にカラー画像の場合では色ずれが視認されて
しまうことになる。また、ラインセンサを主走査方向に
接続した場合では、線ずれや、すじの発生するおそれが
ある。
【０００６】前記の課題を解決するために、本発明は、
読取原稿に対する光電変換素子の主走査方向における位
置あるいは副走査方向における位置を高精度に検出する
ことのできる光電変換素子の位置検出方法を提供するこ
とを目的とする。
読取原稿に対する光電変換素子の主走査方向における位
置あるいは副走査方向における位置を高精度に検出する
ことのできる光電変換素子の位置検出方法を提供するこ
とを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明は、複数の光電変換部が主走査方向に配列
されてなる光電変換素子により、前記主走査方向に対し
て直交する副走査方向に延在する基準線を読み取り、各
光電変換部の主走査方向の位置ｘn （ｎ＝１、２、…）
に対する極大信号または極小信号を含む複数の出力信号
Ｉn を得、前記位置ｘn および出力信号Ｉn から、 Ｉn ＝ｆ（ｘn ） の関係式を用いて、関数ｆの最大値または最小値に対応
する光電変換部の位置を、基準線に対する光電変換素子
の主走査方向の位置として求めることを特徴とする。
めに、本発明は、複数の光電変換部が主走査方向に配列
されてなる光電変換素子により、前記主走査方向に対し
て直交する副走査方向に延在する基準線を読み取り、各
光電変換部の主走査方向の位置ｘn （ｎ＝１、２、…）
に対する極大信号または極小信号を含む複数の出力信号
Ｉn を得、前記位置ｘn および出力信号Ｉn から、 Ｉn ＝ｆ（ｘn ） の関係式を用いて、関数ｆの最大値または最小値に対応
する光電変換部の位置を、基準線に対する光電変換素子
の主走査方向の位置として求めることを特徴とする。
【０００８】また、本発明は、複数の光電変換部が主走
査方向に配列されてなる光電変換素子により、前記主走
査方向に延在し、且つ、前記主走査方向に対して直交す
る副走査方向に相対的に移動する基準線を読み取り、所
定の光電変換部の所定の時刻における副走査方向の位置
ｙm （ｍ＝１、２、…）に対する極大信号または極小信
号を含む複数の出力信号Ｉm を得、前記位置ｙm および
出力信号Ｉm から、 Ｉm ＝ｇ（ｙm ） の関係式を用いて、関数ｇの最大値または最小値に対応
する当該光電変換部の位置を、基準線に対する光電変換
素子の副走査方向の位置として求めることを特徴とす
る。
査方向に配列されてなる光電変換素子により、前記主走
査方向に延在し、且つ、前記主走査方向に対して直交す
る副走査方向に相対的に移動する基準線を読み取り、所
定の光電変換部の所定の時刻における副走査方向の位置
ｙm （ｍ＝１、２、…）に対する極大信号または極小信
号を含む複数の出力信号Ｉm を得、前記位置ｙm および
出力信号Ｉm から、 Ｉm ＝ｇ（ｙm ） の関係式を用いて、関数ｇの最大値または最小値に対応
する当該光電変換部の位置を、基準線に対する光電変換
素子の副走査方向の位置として求めることを特徴とす
る。
【０００９】
【作用】本発明の第１の方法では、基準線を、それと直
交する主走査方向に配列された各光電変換部によって読
み取り、得られる出力信号の分布から当該分布に適応す
る関数の最大値または最小値を求める。そして、この最
大値または最小値に対応する位置が所定の光電変換部の
位置となるように光電変換素子の位置を主走査方向に修
正することにより、読取原稿に対する光電変換素子の主
走査方向に対する位置を高精度に調整することができ
る。
交する主走査方向に配列された各光電変換部によって読
み取り、得られる出力信号の分布から当該分布に適応す
る関数の最大値または最小値を求める。そして、この最
大値または最小値に対応する位置が所定の光電変換部の
位置となるように光電変換素子の位置を主走査方向に修
正することにより、読取原稿に対する光電変換素子の主
走査方向に対する位置を高精度に調整することができ
る。
【００１０】また、本発明の第２の方法では、副走査方
向に相対的に移動する基準線を、それと平行な主走査方
向に光電変換部を配列した光電変換素子によって読み取
り、所定の光電変換部より得られる出力信号の分布から
当該分布に適応する関数の最大値または最小値を求め
る。そして、この最大値または最小値に対応する位置が
所定の光電変換部の位置となるように光電変換素子の位
置を副走査方向に修正することにより、読取原稿に対す
る光電変換素子の副走査方向に対する位置を高精度に調
整することができる。
向に相対的に移動する基準線を、それと平行な主走査方
向に光電変換部を配列した光電変換素子によって読み取
り、所定の光電変換部より得られる出力信号の分布から
当該分布に適応する関数の最大値または最小値を求め
る。そして、この最大値または最小値に対応する位置が
所定の光電変換部の位置となるように光電変換素子の位
置を副走査方向に修正することにより、読取原稿に対す
る光電変換素子の副走査方向に対する位置を高精度に調
整することができる。
【００１１】
【実施例】本発明に係る光電変換素子の位置検出方法に
ついて、実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら以下
詳細に説明する。
ついて、実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら以下
詳細に説明する。
【００１２】図１は、本発明の第１の方法の一実施例が
適用されるカラー画像読取装置の要部構成を示したもの
である。当該装置では、矢印Ｙ方向に副走査搬送される
透過型原稿Ｆが照明光源１０によって主走査方向（矢印
Ｘ方向）に照明され、その透過光が集光レンズ１２およ
び分光プリズム１４を介して光電変換素子である各ＣＣ
Ｄ１６ａ、１６ｂ、１６ｃに導かれる。なお、前記分光
プリズム１４は、透過型原稿Ｆの透過光を赤（Ｒ）、緑
（Ｇ）、青（Ｂ）の三色に分光し、各ＣＣＤ１６ａ、１
６ｂ、１６ｃに導く。
適用されるカラー画像読取装置の要部構成を示したもの
である。当該装置では、矢印Ｙ方向に副走査搬送される
透過型原稿Ｆが照明光源１０によって主走査方向（矢印
Ｘ方向）に照明され、その透過光が集光レンズ１２およ
び分光プリズム１４を介して光電変換素子である各ＣＣ
Ｄ１６ａ、１６ｂ、１６ｃに導かれる。なお、前記分光
プリズム１４は、透過型原稿Ｆの透過光を赤（Ｒ）、緑
（Ｇ）、青（Ｂ）の三色に分光し、各ＣＣＤ１６ａ、１
６ｂ、１６ｃに導く。
【００１３】ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃは、透過型
原稿Ｆの主走査方向と平行に配列された複数の光電変換
部１８を有し、夫々治具１８ａ、１８ｂ、１８ｃによっ
て保持されている。各治具１８ａ、１８ｂ、１８ｃは、
調整ねじ２０によって主走査方向（透過型原稿Ｆを基準
として矢印Ｘ方向）、副走査方向（透過型原稿Ｆを基準
として矢印Ｙ方向）および分光プリズム１４方向に位置
調整可能である。透過型原稿Ｆの透過光は、ＣＣＤ１６
ａ、１６ｂ、１６ｃによって電気信号に変換され、信号
処理回路２２に導かれる。
原稿Ｆの主走査方向と平行に配列された複数の光電変換
部１８を有し、夫々治具１８ａ、１８ｂ、１８ｃによっ
て保持されている。各治具１８ａ、１８ｂ、１８ｃは、
調整ねじ２０によって主走査方向（透過型原稿Ｆを基準
として矢印Ｘ方向）、副走査方向（透過型原稿Ｆを基準
として矢印Ｙ方向）および分光プリズム１４方向に位置
調整可能である。透過型原稿Ｆの透過光は、ＣＣＤ１６
ａ、１６ｂ、１６ｃによって電気信号に変換され、信号
処理回路２２に導かれる。
【００１４】図２は、図１に示す信号処理回路２２の詳
細ブロック図である。ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃか
らの電気信号は、Ａ／Ｄ変換器２４ａ、２４ｂ、２４ｃ
を介して画像処理部２６およびデータ記憶部２８に供給
される。画像処理部２６では、前記電気信号に対して所
定の画像処理を施してこれを出力部３０に供給する。出
力部３０では、画像処理部２６からの電気信号に基づ
き、例えば、透過型原稿Ｆに対応する所望の再生画像を
出力する。一方、データ記憶部２８に記憶された画像信
号は、演算処理部３２において、後述する位置検出方法
に従って演算処理がなされ、必要に応じ、その演算結果
等がモニタ３４に表示される。
細ブロック図である。ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃか
らの電気信号は、Ａ／Ｄ変換器２４ａ、２４ｂ、２４ｃ
を介して画像処理部２６およびデータ記憶部２８に供給
される。画像処理部２６では、前記電気信号に対して所
定の画像処理を施してこれを出力部３０に供給する。出
力部３０では、画像処理部２６からの電気信号に基づ
き、例えば、透過型原稿Ｆに対応する所望の再生画像を
出力する。一方、データ記憶部２８に記憶された画像信
号は、演算処理部３２において、後述する位置検出方法
に従って演算処理がなされ、必要に応じ、その演算結果
等がモニタ３４に表示される。
【００１５】次に、以上のように構成されるカラー画像
読取装置を用いてＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃの主走
査方向に対する相対的な位置を検出する方法について説
明する。
読取装置を用いてＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃの主走
査方向に対する相対的な位置を検出する方法について説
明する。
【００１６】副走査搬送方向に延在し、主走査方向に平
行で所定距離離間して配設される基準線ＰおよびＱをス
リットとして形成した透過型原稿Ｆを用いる。
行で所定距離離間して配設される基準線ＰおよびＱをス
リットとして形成した透過型原稿Ｆを用いる。
【００１７】照明光源１０からの照明光は、前記透過型
原稿Ｆの基準線Ｐ、Ｑを透過した後、集光レンズ１２お
よび分光プリズム１４を介して各ＣＣＤ１６ａ、１６
ｂ、１６ｃに導かれ、電気信号に変換される。この電気
信号は、信号処理回路２２のＡ／Ｄ変換器２４ａ、２４
ｂ、２４ｃによってデジタル信号に変換された後、デー
タ記憶部２８に記憶される。次いで、演算処理部３２に
おいて、所定の演算処理が施される。
原稿Ｆの基準線Ｐ、Ｑを透過した後、集光レンズ１２お
よび分光プリズム１４を介して各ＣＣＤ１６ａ、１６
ｂ、１６ｃに導かれ、電気信号に変換される。この電気
信号は、信号処理回路２２のＡ／Ｄ変換器２４ａ、２４
ｂ、２４ｃによってデジタル信号に変換された後、デー
タ記憶部２８に記憶される。次いで、演算処理部３２に
おいて、所定の演算処理が施される。
【００１８】ここで、副走査方向に延在する基準線Ｐ、
Ｑを、主走査方向に配列された複数の光電変換部１８に
よって読み取った場合、主として集光レンズ１２の影響
等により、その出力信号の分布は正規分布に近い分布と
なる。一般に、線像を光学的に読み取った場合の光量分
布は、正規分布に近くなることが知られている。すなわ
ち、光電変換部１８の主走査方向の位置をｘ、光電変換
部１８からの仮想の出力信号をＩx とすると、 Ｉx ＝Ａ・ｅｘｐ｛−Ｂ・（ｘ−Ｃ）2 ｝…（１） と仮定することができる。なお、Ａ、Ｂ、Ｃは所定の係
数である。図３は（１）式の関係を示したものである。
Ｑを、主走査方向に配列された複数の光電変換部１８に
よって読み取った場合、主として集光レンズ１２の影響
等により、その出力信号の分布は正規分布に近い分布と
なる。一般に、線像を光学的に読み取った場合の光量分
布は、正規分布に近くなることが知られている。すなわ
ち、光電変換部１８の主走査方向の位置をｘ、光電変換
部１８からの仮想の出力信号をＩx とすると、 Ｉx ＝Ａ・ｅｘｐ｛−Ｂ・（ｘ−Ｃ）2 ｝…（１） と仮定することができる。なお、Ａ、Ｂ、Ｃは所定の係
数である。図３は（１）式の関係を示したものである。
【００１９】そこで、光電変換部１８の位置をｘn （ｎ
＝１、２、…）、各光電変換部１８からの実際の出力信
号をＩn とし、（１）式に対応した、 Ｉn ＝Ａ・ｅｘｐ｛−Ｂ・（ｘn −Ｃ）2 ｝…（２） の関係式を用いて、出力信号Ｉx の最大値を内包する３
つ（ｎ＝１、２、３）の光電変換部１８（位置ｘ1 、ｘ
2 、ｘ3 ）からの出力信号Ｉ1 、Ｉ2 、Ｉ3 を得、デー
タ記憶部２８に格納する。次に、前記光電変換部１８の
位置ｘ1 、ｘ2 、ｘ3 およびその出力信号Ｉ1 、Ｉ2 、
Ｉ3 から、 Ｉ1 ＝Ａ・ｅｘｐ｛−Ｂ・（ｘ1 −Ｃ）2 ｝…（３） Ｉ2 ＝Ａ・ｅｘｐ｛−Ｂ・（ｘ2 −Ｃ）2 ｝…（４） Ｉ3 ＝Ａ・ｅｘｐ｛−Ｂ・（ｘ3 −Ｃ）2 ｝…（５） の３式の連立方程式を演算処理部３２において解き、係
数Ａ、Ｂ、Ｃを求める。
＝１、２、…）、各光電変換部１８からの実際の出力信
号をＩn とし、（１）式に対応した、 Ｉn ＝Ａ・ｅｘｐ｛−Ｂ・（ｘn −Ｃ）2 ｝…（２） の関係式を用いて、出力信号Ｉx の最大値を内包する３
つ（ｎ＝１、２、３）の光電変換部１８（位置ｘ1 、ｘ
2 、ｘ3 ）からの出力信号Ｉ1 、Ｉ2 、Ｉ3 を得、デー
タ記憶部２８に格納する。次に、前記光電変換部１８の
位置ｘ1 、ｘ2 、ｘ3 およびその出力信号Ｉ1 、Ｉ2 、
Ｉ3 から、 Ｉ1 ＝Ａ・ｅｘｐ｛−Ｂ・（ｘ1 −Ｃ）2 ｝…（３） Ｉ2 ＝Ａ・ｅｘｐ｛−Ｂ・（ｘ2 −Ｃ）2 ｝…（４） Ｉ3 ＝Ａ・ｅｘｐ｛−Ｂ・（ｘ3 −Ｃ）2 ｝…（５） の３式の連立方程式を演算処理部３２において解き、係
数Ａ、Ｂ、Ｃを求める。
【００２０】この場合、係数Ｃは、（１）式における出
力信号Ｉx が最大となるときの位置ｘc である。そこ
で、 ｘ1 ＝ｘ2 −１…（６） ｘ3 ＝ｘ2 ＋１…（７） として、位置ｘc を求めると、 ｘc ＝ｘ2 ＋０．５＊ 〔ｌｎ（Ｉ3 ／Ｉ1 ）／ｌｎ｛Ｉ2 2／（Ｉ1 ・Ｉ3 ）｝〕…（８） となる。従って、これから、基準線Ｐ、Ｑの中心に対応
する光電変換部１８の位置ｘc を算出することができ
る。
力信号Ｉx が最大となるときの位置ｘc である。そこ
で、 ｘ1 ＝ｘ2 −１…（６） ｘ3 ＝ｘ2 ＋１…（７） として、位置ｘc を求めると、 ｘc ＝ｘ2 ＋０．５＊ 〔ｌｎ（Ｉ3 ／Ｉ1 ）／ｌｎ｛Ｉ2 2／（Ｉ1 ・Ｉ3 ）｝〕…（８） となる。従って、これから、基準線Ｐ、Ｑの中心に対応
する光電変換部１８の位置ｘc を算出することができ
る。
【００２１】図４に示す（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は、夫
々ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃの各光電変換部１８に
よって基準線Ｐ、Ｑを読み取ることで得られた出力信号
Ｉn を用いて、位置ｘと出力信号Ｉx との関係をモニタ
３４に表示させたものである。この場合、ｘRP、ｘRQ、
ｘGP、ｘGQ、ｘBP、ｘBQは、各ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、
１６ｃからの仮想の出力信号Ｉx が最大となるときの光
電変換部１８の位置を示す。そこで、これらの位置
ｘRP、ｘGP、ｘBPおよびｘRQ、ｘGQ、ｘBQが等しくなる
ようにＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃの位置を、例え
ば、調整ねじ２０を用いて主走査方向に調整する。この
場合、ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃ相互間の位置は、
（１）式の近似の程度および信号処理回路２２の分解能
の範囲内ではあるが、極めて高精度に調整されることに
なる。例えば、（１）式がＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６
ｃの正しい分布を表しているものと仮定すると、図４の
場合には１画素の１／１００の精度で位置調整ができる
ことになる。
々ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃの各光電変換部１８に
よって基準線Ｐ、Ｑを読み取ることで得られた出力信号
Ｉn を用いて、位置ｘと出力信号Ｉx との関係をモニタ
３４に表示させたものである。この場合、ｘRP、ｘRQ、
ｘGP、ｘGQ、ｘBP、ｘBQは、各ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、
１６ｃからの仮想の出力信号Ｉx が最大となるときの光
電変換部１８の位置を示す。そこで、これらの位置
ｘRP、ｘGP、ｘBPおよびｘRQ、ｘGQ、ｘBQが等しくなる
ようにＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃの位置を、例え
ば、調整ねじ２０を用いて主走査方向に調整する。この
場合、ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃ相互間の位置は、
（１）式の近似の程度および信号処理回路２２の分解能
の範囲内ではあるが、極めて高精度に調整されることに
なる。例えば、（１）式がＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６
ｃの正しい分布を表しているものと仮定すると、図４の
場合には１画素の１／１００の精度で位置調整ができる
ことになる。
【００２２】図５は、本発明の第１の方法の一実施例が
適用されるモノクロの画像読取装置を示す。この画像読
取装置では、照明光源３６によって照明された透過型原
稿Ｆの基準線Ｐからの透過光が、集光レンズ３８および
全反射ミラー４０を介してＣＣＤ４２ｂに導かれるとと
もに、前記集光レンズ３８を介してＣＣＤ４２ａ、４２
ｃに導かれる。この場合、ＣＣＤ４２ａ、４２ｂ、４２
ｃは、透過型原稿Ｆの主走査方向に対して光学的直線状
に配列されており、これによって分解能の向上が図られ
ている。
適用されるモノクロの画像読取装置を示す。この画像読
取装置では、照明光源３６によって照明された透過型原
稿Ｆの基準線Ｐからの透過光が、集光レンズ３８および
全反射ミラー４０を介してＣＣＤ４２ｂに導かれるとと
もに、前記集光レンズ３８を介してＣＣＤ４２ａ、４２
ｃに導かれる。この場合、ＣＣＤ４２ａ、４２ｂ、４２
ｃは、透過型原稿Ｆの主走査方向に対して光学的直線状
に配列されており、これによって分解能の向上が図られ
ている。
【００２３】そこで、この実施例では、例えば、図６に
示すように、ＣＣＤ４２ａの光電変換部に対する基準線
Ｐの中心位置ｘa （図６（ａ）参照）と、ＣＣＤ４２ｂ
の光電変換部に対する基準線Ｐの中心位置ｘb （図６
（ｂ）参照）とを求め、これらが所定の位置となるよう
に各ＣＣＤ４２ａ、４２ｂの位置修正を行う。同様に、
ＣＣＤ４２ｂ、４２ｃの位置も修正する。これによっ
て、ＣＣＤ４２ａ、４２ｂ、４２ｃを主走査方向に対し
て高精度に接続し、正確な再生画像を得ることができ
る。
示すように、ＣＣＤ４２ａの光電変換部に対する基準線
Ｐの中心位置ｘa （図６（ａ）参照）と、ＣＣＤ４２ｂ
の光電変換部に対する基準線Ｐの中心位置ｘb （図６
（ｂ）参照）とを求め、これらが所定の位置となるよう
に各ＣＣＤ４２ａ、４２ｂの位置修正を行う。同様に、
ＣＣＤ４２ｂ、４２ｃの位置も修正する。これによっ
て、ＣＣＤ４２ａ、４２ｂ、４２ｃを主走査方向に対し
て高精度に接続し、正確な再生画像を得ることができ
る。
【００２４】次に、ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃの副
走査方向の相対的な位置を検出するための本発明の第２
の方法の一実施例について説明する。この場合、透過型
原稿Ｆには、図７に示すように、主走査方向（矢印Ｘ方
向）に対して平行なスリットからなる基準線Ｒ、Ｓが形
成されており、この基準線Ｒ、Ｓを前述した第１の方法
の場合と同様の手順で読み取る。
走査方向の相対的な位置を検出するための本発明の第２
の方法の一実施例について説明する。この場合、透過型
原稿Ｆには、図７に示すように、主走査方向（矢印Ｘ方
向）に対して平行なスリットからなる基準線Ｒ、Ｓが形
成されており、この基準線Ｒ、Ｓを前述した第１の方法
の場合と同様の手順で読み取る。
【００２５】ここで、主走査方向に延在する基準線Ｒ、
ＳをＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃによって読み取った
場合、光電変換部１８の所定位置の素子によって得られ
る出力信号の分布は、前記の場合と同様に正規分布に近
い分布となる。そこで、光電変換部１８の副走査方向の
位置をｙ、光電変換部１８の所定位置の素子からの任意
の時刻における出力信号をＩt とすると、 Ｉt ＝Ｄ・ｅｘｐ｛−Ｅ・（ｙ−Ｆ）2 ｝…（９） と仮定することができる。なお、Ｄ、Ｅ、Ｆは所定の係
数である。
ＳをＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃによって読み取った
場合、光電変換部１８の所定位置の素子によって得られ
る出力信号の分布は、前記の場合と同様に正規分布に近
い分布となる。そこで、光電変換部１８の副走査方向の
位置をｙ、光電変換部１８の所定位置の素子からの任意
の時刻における出力信号をＩt とすると、 Ｉt ＝Ｄ・ｅｘｐ｛−Ｅ・（ｙ−Ｆ）2 ｝…（９） と仮定することができる。なお、Ｄ、Ｅ、Ｆは所定の係
数である。
【００２６】光電変換部１８の位置をｙm （ｍ＝１、
２、…）、この光電変換部１８の所定位置の素子からの
所定の時刻における出力信号をＩm とし、（９）式に対
応した、 Ｉm ＝Ｄ・ｅｘｐ｛−Ｅ・（ｙm −Ｆ）2 ｝…（１０） の関係式を用いて、出力信号Ｉt の最大値を内包する３
つの時刻における光電変換部１８の所定位置の素子から
の出力信号Ｉm （光電変換部１８に対する透過型原稿Ｆ
の相対位置ｙm に対する出力信号Ｉm ）を得、データ記
憶部２８に格納する。次に、前記第１の方法の場合と同
様にして３式の連立方程式を演算処理部３２において解
き、係数Ｄ、Ｅ、Ｆを求める。そして、これから、
（９）式における出力信号Ｉt が最大となるときの位置
ｙを、基準線Ｒ、Ｓの中心に対応する光電変換部１８の
位置として算出することができる。
２、…）、この光電変換部１８の所定位置の素子からの
所定の時刻における出力信号をＩm とし、（９）式に対
応した、 Ｉm ＝Ｄ・ｅｘｐ｛−Ｅ・（ｙm −Ｆ）2 ｝…（１０） の関係式を用いて、出力信号Ｉt の最大値を内包する３
つの時刻における光電変換部１８の所定位置の素子から
の出力信号Ｉm （光電変換部１８に対する透過型原稿Ｆ
の相対位置ｙm に対する出力信号Ｉm ）を得、データ記
憶部２８に格納する。次に、前記第１の方法の場合と同
様にして３式の連立方程式を演算処理部３２において解
き、係数Ｄ、Ｅ、Ｆを求める。そして、これから、
（９）式における出力信号Ｉt が最大となるときの位置
ｙを、基準線Ｒ、Ｓの中心に対応する光電変換部１８の
位置として算出することができる。
【００２７】このようにして得られた光電変換部１８の
位置が等しくなるように、例えば、調整ねじ２０を用い
て調整することで、各ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃの
副走査方向に対する位置を高精度に調整することが可能
となる。
位置が等しくなるように、例えば、調整ねじ２０を用い
て調整することで、各ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃの
副走査方向に対する位置を高精度に調整することが可能
となる。
【００２８】なお、本発明方法を用いた場合、例えば、
ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃと、集光レンズ１２との
間の距離を調整し、再生画像の３色の主走査方向の倍率
を高精度に調整することも可能である。
ＣＣＤ１６ａ、１６ｂ、１６ｃと、集光レンズ１２との
間の距離を調整し、再生画像の３色の主走査方向の倍率
を高精度に調整することも可能である。
【００２９】また、上述した実施例では、光電変換部が
主走査方向に配列された、いわゆる、ラインセンサの位
置修正について説明したが、前記光電変換部が主走査方
向および副走査方向に配列された、いわゆる、エリアセ
ンサの位置修正についても適用可能である。この場合、
例えば、基準線を主走査方向および副走査方向に夫々形
成しておけばよい。
主走査方向に配列された、いわゆる、ラインセンサの位
置修正について説明したが、前記光電変換部が主走査方
向および副走査方向に配列された、いわゆる、エリアセ
ンサの位置修正についても適用可能である。この場合、
例えば、基準線を主走査方向および副走査方向に夫々形
成しておけばよい。
【００３０】さらに、上述した実施例では、基準線を透
過した照明光を用いてラインセンサの位置検出を行って
いるが、例えば、透過型原稿に非透過の基準線を形成し
た場合であっても、同様にして位置検出を行うことがで
きる。
過した照明光を用いてラインセンサの位置検出を行って
いるが、例えば、透過型原稿に非透過の基準線を形成し
た場合であっても、同様にして位置検出を行うことがで
きる。
【００３１】
【発明の効果】本発明に係る光電変換素子の位置検出方
法によれば、以下の効果が得られる。
法によれば、以下の効果が得られる。
【００３２】すなわち、本発明方法では、基準線を読み
取って得られる光電変換部からの出力信号より、前記出
力信号の分布に対応した関数の最大値または最小値を求
め、この最大値、または、最小値に対する光電変換素子
と基準線との位置関係を求めている。この場合、光電変
換素子の位置は、光電変換部の間隔あるいは光電変換部
のサイズ以下で高精度に算出することができ、これによ
って前記光電変換素子を極めて正確に位置修正すること
ができる。この結果、例えば、カラー画像読取装置にお
いては、色ずれを防止することができる。また、複数の
光電変換素子を接続してなる画像読取装置においては、
再生画像における画素ずれ等の発生を最小限なものとす
ることができる。
取って得られる光電変換部からの出力信号より、前記出
力信号の分布に対応した関数の最大値または最小値を求
め、この最大値、または、最小値に対する光電変換素子
と基準線との位置関係を求めている。この場合、光電変
換素子の位置は、光電変換部の間隔あるいは光電変換部
のサイズ以下で高精度に算出することができ、これによ
って前記光電変換素子を極めて正確に位置修正すること
ができる。この結果、例えば、カラー画像読取装置にお
いては、色ずれを防止することができる。また、複数の
光電変換素子を接続してなる画像読取装置においては、
再生画像における画素ずれ等の発生を最小限なものとす
ることができる。
【図１】本発明方法の一実施例が適用されるカラー画像
読取装置の構成図である。
読取装置の構成図である。
【図２】図１に示す信号処理回路のブロック図である。
【図３】本発明方法の一実施例における出力分布の説明
図である。
図である。
【図４】図１に示す装置に対する出力結果の説明図であ
る。
る。
【図５】本発明方法の一実施例が適用されるモノクロ画
像読取装置の構成図である。
像読取装置の構成図である。
【図６】図５に示す装置に対する出力結果の説明図であ
る。
る。
【図７】本発明の第２の方法の一実施例が適用されるカ
ラー画像読取装置の構成図である。
ラー画像読取装置の構成図である。
１０…照明光源 １２…集光レンズ １４…分光プリズム １６ａ〜１６ｃ…ＣＣＤ ２２…信号処理回路
Claims (4)
- 【請求項１】複数の光電変換部が主走査方向に配列され
てなる光電変換素子により、前記主走査方向に対して直
交する副走査方向に延在する基準線を読み取り、各光電
変換部の主走査方向の位置ｘn （ｎ＝１、２、…）に対
する極大信号または極小信号を含む複数の出力信号Ｉn
を得、前記位置ｘn および出力信号Ｉn から、 Ｉn ＝ｆ（ｘn ） の関係式を用いて、関数ｆの最大値または最小値に対応
する光電変換部の位置を、基準線に対する光電変換素子
の主走査方向の位置として求めることを特徴とする光電
変換素子の位置検出方法。 - 【請求項２】請求項１記載の方法において、 Ｉn ＝Ａ・ｅｘｐ｛−Ｂ・（ｘn −Ｃ）2 ｝ の関係式における係数Ａ、Ｂ、Ｃを求め、次いで、前記
係数Ａ、Ｂ、Ｃに基づき、 ＩX ＝Ａ・ｅｘｐ｛−Ｂ・（ｘ−Ｃ）2 ｝ の関係式におけるＩX の最大値または最小値に対応する
ｘを、基準線に対する光電変換素子の主走査方向の位置
として求めることを特徴とする光電変換素子の位置検出
方法。 - 【請求項３】複数の光電変換部が主走査方向に配列され
てなる光電変換素子により、前記主走査方向に延在し、
且つ、前記主走査方向に対して直交する副走査方向に相
対的に移動する基準線を読み取り、所定の光電変換部の
所定の時刻における副走査方向の位置ｙm （ｍ＝１、
２、…）に対する極大信号または極小信号を含む複数の
出力信号Ｉm を得、前記位置ｙm および出力信号Ｉm か
ら、 Ｉm ＝ｇ（ｙm ） の関係式を用いて、関数ｇの最大値または最小値に対応
する当該光電変換部の位置を、基準線に対する光電変換
素子の副走査方向の位置として求めることを特徴とする
光電変換素子の位置検出方法。 - 【請求項４】請求項３記載の方法において、 Ｉm ＝Ｄ・ｅｘｐ｛−Ｅ・（ｙm −Ｆ）2 ｝ の関係式における係数Ｄ、Ｅ、Ｆを求め、次いで、前記
係数Ｄ、Ｅ、Ｆに基づき、 Ｉt ＝Ｄ・ｅｘｐ｛−Ｅ・（ｙ−Ｆ）2 ｝ の関係式におけるＩt の最大値または最小値に対応する
ｙを、基準線に対する光電変換素子の副走査方向の位置
として求めることを特徴とする光電変換素子の位置検出
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1878891A JP2662100B2 (ja) | 1991-02-12 | 1991-02-12 | 光電変換素子の位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1878891A JP2662100B2 (ja) | 1991-02-12 | 1991-02-12 | 光電変換素子の位置検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04258704A JPH04258704A (ja) | 1992-09-14 |
| JP2662100B2 true JP2662100B2 (ja) | 1997-10-08 |
Family
ID=11981353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1878891A Expired - Lifetime JP2662100B2 (ja) | 1991-02-12 | 1991-02-12 | 光電変換素子の位置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2662100B2 (ja) |
-
1991
- 1991-02-12 JP JP1878891A patent/JP2662100B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04258704A (ja) | 1992-09-14 |
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